JP6608522B2 - 改善された空間的な正確さを有するイメージング検出器 - Google Patents
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 11
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 72
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 52
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 30
- 238000013480 data collection Methods 0.000 claims description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 2
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
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- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
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- H03M1/38—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
- H03M1/46—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter
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- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
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- Molecular Biology (AREA)
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Description
Claims (10)
- イメージングシステムの検出器アレイであって、
放射線を検出し、検出された放射線を表す信号を生成する放射線感受性検出器と、
前記放射線感受性検出器と電気的に通信する電子装置と、
を有し、前記電子装置は、
積分期間中に収集された電荷を表す周波数をもつパルストレインに、前記信号を変換する電流周波数コンバータであって、前記電流周波数コンバータは、増幅器と積分キャパシタとを有する積分器であって、前記積分期間中に前記放射線感受性検出器の或るピクセルからの入力電荷を積分する積分器と、前記増幅器の出力を予め決められた閾値と比較し、前記予め決められた閾値を満たす出力に応じてパルスを生成する比較器であって、前記比較器の出力が前記パルストレインを生成する、比較器と、を有する電流周波数コンバータと、
前記電流周波数コンバータに電気的に結合された残存電荷収集回路であって、前記残存電荷収集回路は、前記積分期間の終了部分の間に積分器によって収集される電荷を記憶し、前記電荷は前記パルストレインのパルスを生じさせない、残存電荷収集回路と、
前記比較器による前記パルストレインのパルスの生成に応じて、各積分期間中、前記積分器をリセットするリセット回路であって、リセットキャパシタと、少なくとも2つのスイッチと、を有し、前記リセットキャパシタは、リセット中、第1のスイッチを通じて前記積分キャパシタに電気接続し、第2のスイッチを通じて電気的グラウンドに電気接続する、リセット回路と、
複数キャパシタの単一のバンクであって、前記複数キャパシタの第1のサブセットは、前記積分キャパシタを有し、前記複数キャパシタの別の第2のサブセットは、前記リセットキャパシタを有し、前記複数キャパシタの別の第3のサブセットは、残存電荷キャパシタを有する、単一のバンクと、
を有し、
前記残存電荷収集回路は前記残存電荷キャパシタを有し、前記残存電荷キャパシタは、スイッチを通じて前記積分キャパシタに並列に電気接続され、
前記電流周波数コンバータは、前記積分キャパシタを有する、
検出器アレイ。 - 前記積分期間中の全体の電荷を生成し、前記全体の電荷を表す出力信号を生成するために、前記パルストレインによって表される電荷及び前記残存電荷収集回路によって記憶される残存電荷を統合する論理を更に有する、請求項1に記載の検出器アレイ。
- 前記積分キャパシタによって収集される残存電荷を記憶するために、積分信号パルスの終了に応じて少なくとも2つのスイッチを閉じるように構成される論理を更に有する、請求項1又は2に記載の検出器アレイ。
- 前記論理は更に、前記積分期間中に前記比較器によって生成されるパルスを受け取ることに応じて、前記積分器をリセットするように前記リセット回路を活性化するよう構成される、請求項3に記載の検出器アレイ。
- 前記論理は更に、前記積分期間中、前記放射線感受性検出器及び前記電子装置を電気接続するためにデータ収集スイッチを閉じ、前記積分期間の終了時に、前記放射線感受性検出器及び前記電子装置を電気的に切断するために前記データ収集スイッチを開く、請求項3又は4に記載の検出器アレイ。
- 前記積分キャパシタ、前記リセットキャパシタ及び前記残存電荷キャパシタが、前記単一のバンクのキャパシタの全てを含む、請求項1乃至5のいずれか1項に記載の検出器アレイ。
- 前記積分キャパシタ、前記リセットキャパシタ及び前記残存電荷キャパシタが、前記単一のバンクのキャパシタのサブセットのみを含む、請求項6に記載の検出器アレイ。
- 前記単一のバンクは、各キャパシタごとに少なくとも1つのスイッチを有し、前記キャパシタの第1のサブセットは、スイッチの対応する第1の組を通じて、並列に電気接続され、前記キャパシタの第2のサブセットは、スイッチの対応する第2の組を通じて、並列に電気接続され、前記キャパシタの第3のサブセットは、スイッチの対応する第3の組を通じて、並列に電気的に接続される、請求項1乃至7のいずれか1項に記載の検出器アレイ。
- 前記キャパシタの単一のバンクは、前記電子装置の第1の領域に配置され、前記残存電荷キャパシタを伴って又は前記残存電荷キャパシタを伴わずに前記第1の領域を占有する、請求項1乃至8のいずれか1項に記載の検出器アレイ。
- 放射線を放出する放射線源と、
請求項1乃至9のいずれか1項に記載の検出器アレイであって、放出された放射線を検出し、検出された放射線を表す信号を生成する検出器アレイと、
を有するイメージングシステム。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US201562202429P | 2015-08-07 | 2015-08-07 | |
| US62/202,429 | 2015-08-07 | ||
| PCT/IB2016/054495 WO2017025844A1 (en) | 2015-08-07 | 2016-07-28 | Imaging detector with improved spatial accuracy |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2018530741A JP2018530741A (ja) | 2018-10-18 |
| JP2018530741A5 JP2018530741A5 (ja) | 2019-08-22 |
| JP6608522B2 true JP6608522B2 (ja) | 2019-11-20 |
Family
ID=56787647
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2018505000A Active JP6608522B2 (ja) | 2015-08-07 | 2016-07-28 | 改善された空間的な正確さを有するイメージング検出器 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10261195B2 (ja) |
| EP (1) | EP3332270B1 (ja) |
| JP (1) | JP6608522B2 (ja) |
| CN (1) | CN107923983B (ja) |
| WO (1) | WO2017025844A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6776024B2 (ja) * | 2016-06-30 | 2020-10-28 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | X線検出器、x線検出器モジュール、支持部材及びx線ct装置 |
| FR3058230B1 (fr) * | 2016-10-27 | 2019-03-15 | Detection Technology Sas | Dispositif de spectrometrie |
| WO2019121728A1 (en) * | 2017-12-21 | 2019-06-27 | Ams International Ag | Method to operate an optical sensor arrangement with improved conversion accuracy and optical sensor arrangement |
| EP3536243A1 (en) * | 2018-03-07 | 2019-09-11 | Koninklijke Philips N.V. | Improved image acquisition |
| CN111093043B (zh) * | 2018-10-24 | 2021-10-22 | 宁波飞芯电子科技有限公司 | 一种辐射接收系统及方法、传感阵列 |
| CN120584305A (zh) * | 2023-08-07 | 2025-09-02 | 深圳帧观德芯科技有限公司 | 具有氧化铟锌晶体管的辐射检测器 |
Family Cites Families (26)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US4052620A (en) * | 1975-11-28 | 1977-10-04 | Picker Corporation | Method and apparatus for improved radiation detection in radiation scanning systems |
| JPS60206324A (ja) * | 1984-03-30 | 1985-10-17 | Seiko Instr & Electronics Ltd | アナログデジタル変換器 |
| FR2622375B1 (fr) * | 1987-10-21 | 1990-02-02 | Commissariat Energie Atomique | Convertisseur analogique numerique a grande dynamique |
| US5949483A (en) * | 1994-01-28 | 1999-09-07 | California Institute Of Technology | Active pixel sensor array with multiresolution readout |
| DE19945757A1 (de) * | 1999-09-24 | 2001-03-29 | Philips Corp Intellectual Pty | Röntgendetektor |
| US6366231B1 (en) * | 2000-04-10 | 2002-04-02 | General Electric Company | Integrate and fold analog-to-digital converter with saturation prevention |
| US6671345B2 (en) * | 2000-11-14 | 2003-12-30 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Data acquisition for computed tomography |
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| FR2876896B1 (fr) * | 2004-10-21 | 2007-10-26 | Gen Electric | Procede d'utilisation d'un dispositif de tomographie pour l'obtention d'images radioscopiques et dispositif pour la mise en oeuvre dudit procede |
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| US8044681B2 (en) * | 2007-10-08 | 2011-10-25 | General Electric Company | Apparatus and method for channel-specific configuration in a readout ASIC |
| US8265223B2 (en) * | 2008-08-04 | 2012-09-11 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Data acquisition |
| JP5324947B2 (ja) * | 2009-02-03 | 2013-10-23 | 浜松ホトニクス株式会社 | 信号処理装置および光検出装置 |
| US8378310B2 (en) * | 2009-02-11 | 2013-02-19 | Prismatic Sensors Ab | Image quality in photon counting-mode detector systems |
| US8040270B2 (en) * | 2009-02-26 | 2011-10-18 | General Electric Company | Low-noise data acquisition system for medical imaging |
| US8772726B2 (en) * | 2009-03-25 | 2014-07-08 | Koninklijke Philips N.V. | Apparatus and method for data acquisition using an imaging apparatus |
| WO2010109353A2 (en) * | 2009-03-26 | 2010-09-30 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Data acquisition |
| CN102414579B (zh) * | 2009-03-26 | 2014-05-07 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 数据采集 |
| FR2946139B1 (fr) * | 2009-05-27 | 2011-07-01 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif electronique d'ebasage du courant issu de detecteurs de rayonnement electromagnetique. |
| RU2589468C2 (ru) * | 2011-04-05 | 2016-07-10 | Конинклейке Филипс Н.В. | Матрица детекторов с аналого-цифровым преобразованием времени, имеющая повышенную временную точность |
| US8466818B1 (en) * | 2011-12-01 | 2013-06-18 | Crest Semiconductors, Inc. | Time-interleaved analog-to-digital converter bandwidth matching |
| JP2015065532A (ja) * | 2013-09-24 | 2015-04-09 | 株式会社東芝 | 信号処理装置および信号処理方法 |
-
2016
- 2016-07-28 WO PCT/IB2016/054495 patent/WO2017025844A1/en not_active Ceased
- 2016-07-28 US US15/746,440 patent/US10261195B2/en active Active
- 2016-07-28 JP JP2018505000A patent/JP6608522B2/ja active Active
- 2016-07-28 EP EP16754553.2A patent/EP3332270B1/en active Active
- 2016-07-28 CN CN201680046427.2A patent/CN107923983B/zh active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN107923983A (zh) | 2018-04-17 |
| US20180217274A1 (en) | 2018-08-02 |
| US10261195B2 (en) | 2019-04-16 |
| EP3332270B1 (en) | 2019-12-04 |
| WO2017025844A1 (en) | 2017-02-16 |
| CN107923983B (zh) | 2021-09-28 |
| JP2018530741A (ja) | 2018-10-18 |
| EP3332270A1 (en) | 2018-06-13 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
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|
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|
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|
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