JP2012511139A - 光子計数及びエネルギー弁別検出器のためのデータ収集システム - Google Patents
光子計数及びエネルギー弁別検出器のためのデータ収集システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012511139A JP2012511139A JP2011525034A JP2011525034A JP2012511139A JP 2012511139 A JP2012511139 A JP 2012511139A JP 2011525034 A JP2011525034 A JP 2011525034A JP 2011525034 A JP2011525034 A JP 2011525034A JP 2012511139 A JP2012511139 A JP 2012511139A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- asic
- controller
- dac
- radiation detector
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 78
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 22
- 238000013480 data collection Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 24
- QWUZMTJBRUASOW-UHFFFAOYSA-N cadmium tellanylidenezinc Chemical compound [Zn].[Cd].[Te] QWUZMTJBRUASOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 12
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 4
- 108091006146 Channels Proteins 0.000 description 67
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 24
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 19
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 238000002603 single-photon emission computed tomography Methods 0.000 description 12
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 11
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 11
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000012857 radioactive material Substances 0.000 description 4
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 4
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 4
- 238000013170 computed tomography imaging Methods 0.000 description 3
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 3
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 102000001671 Acid Sensing Ion Channels Human genes 0.000 description 2
- 108010068806 Acid Sensing Ion Channels Proteins 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 210000000056 organ Anatomy 0.000 description 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- 239000000700 radioactive tracer Substances 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- CEKJAYFBQARQNG-UHFFFAOYSA-N cadmium zinc Chemical compound [Zn].[Cd] CEKJAYFBQARQNG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 238000012886 linear function Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000005065 mining Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
- 238000009738 saturating Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/037—Emission tomography
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/247—Detector read-out circuitry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/249—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors specially adapted for use in SPECT or PET
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2985—In depth localisation, e.g. using positron emitters; Tomographic imaging (longitudinal and transverse section imaging; apparatus for radiation diagnosis sequentially in different planes, steroscopic radiation diagnosis)
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06G—ANALOGUE COMPUTERS
- G06G7/00—Devices in which the computing operation is performed by varying electric or magnetic quantities
- G06G7/12—Arrangements for performing computing operations, e.g. operational amplifiers
- G06G7/18—Arrangements for performing computing operations, e.g. operational amplifiers for integration or differentiation; for forming integrals
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
- H04N25/77—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
- H04N25/772—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components comprising A/D, V/T, V/F, I/T or I/F converters
- H04N25/773—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components comprising A/D, V/T, V/F, I/T or I/F converters comprising photon counting circuits, e.g. single photon detection [SPD] or single photon avalanche diodes [SPAD]
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Surgery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
【解決手段】その各々が時間弁別回路及びエネルギー弁別回路を有する複数のチャンネルを有する読み出し用特定用途向け集積回路(ASIC)であって、半導体放射線検出器から複数の信号を受け取るように構成されたASICを含むデータ収集システムである。本データ収集システムはさらに、ASICと電気的に結合させると共にASICからのディジタル出力の生成に使用される基準信号をASICに提供するように構成されたディジタル対アナログ変換器(DAC)と、ASIC並びにDACに対して電気的に結合させた制御器であって、基準信号をASICに提供させるようにDACに指令するように構成された制御器と、を備える。
【選択図】図8
Description
12 ガントリ
16 ガンマ線
18 ガンマ線検出器
20 放射線検出器
22 対象
24 回転中心
30 ガントリモータ制御器
32 データ収集システム(DAS)
34 画像再構成装置
36 コンピュータ
38 大容量記憶装置
40 コンソール
42 ディスプレイ
44 テーブルモータ制御器
46 モータ式テーブル
48 ガントリ開口
100 データ収集システム
102 マルチチャンネル読み出し用ASIC
105 半導体放射線検出器
106 陽極チャンネル
107 陰極チャンネル
108 試験チャンネル
109 トラッカーチャンネル
110 アナログ対ディジタル変換器(ADC)
112 ディジタル制御器
114 マルチプレクサ
115 DAC
120 HITレジスタ
121 制御トリガまたはイベントトリガ
125 比較器
128 カウンタ
130 レジスタ
132 構成選択レジスタ
134 アクティブ化チャンネル番号レジスタ
135 バッファ
136 通信インタフェース
200 エネルギー弁別回路
202 電荷感応型増幅器(CSA)
203 増幅器/バッファ
204 低速シェーピング器
205 ピーク検出/保持(PDH)回路
212 連続リセット素子
250 タイミングサブチャンネル
250 時間弁別回路
251 立ち上がり弁別器(LED)
252 高速CRシェーピング器
254 立ち上がり弁別器比較器(LED)
256 NANDラッチ
256 ラッチ
257 クロック信号発生器(CSG)
258 時間対電圧変換器(TVC)
259 ロックアウト信号発生器(LSG)
266 電流源
270 TVCStopスイッチ
274 ResetTVCスイッチ
276 コンデンサバンク
278 共通モードノード
280 演算相互コンダクタンス増幅器(OTA)
282 ロックアウトクロック信号
284 積分クロック信号
286 イベント
288 積分幅
500 梱包物/手荷物検査システム
502 回転可能なガントリ
504 開口部
506 高周波電磁気エネルギー源
508 検出器アセンブリ
510 コンベアシステム
512 コンベアベルト
514 自動連続通過構造
516 スキャン対象、梱包物、手荷物
C0 コンデンサ
C1 コンデンサ
Csel0 コンデンサスイッチ
Csel1 コンデンサスイッチ
Claims (16)
- その各々が時間弁別回路及びエネルギー弁別回路を有する複数のチャンネルを有する読み出し用特定用途向け集積回路(ASIC)であって、半導体放射線検出器から複数の信号を受け取るように構成されたASICと、
ASICと電気的に結合させると共にASICからのディジタル出力の生成に使用される基準信号をASICに提供するように構成されたディジタル対アナログ変換器(DAC)と、
ASIC並びにDACに対して電気的に結合させた制御器であって、基準信号をASICに提供させるようにDACに指令するように構成された制御器と、
を備えるデータ収集システム。 - 前記ASICはさらに、その個数がチャンネル数より少ないような複数のアナログ対ディジタル変換器を備える、請求項1に記載のデータ収集システム。
- 前記ASICは8対のアナログ対ディジタル変換器と128個のチャンネルとを備える、請求項2に記載のデータ収集システム。
- 前記ASICは、複数の放射線検出器信号向けのタイミング及びエネルギー情報を同時に出力するように構成されている、請求項1に記載のデータ収集システム。
- 前記制御器は、複数の信号のうちの1つまたは幾つかがASICにより放射線検出器から受け取られた後に該複数の信号のうちの1つまたは幾つかを処理するための第1のASICクロック周波数を設定するように構成され、かつ該複数の信号のうちの1つまたは幾つかの処理が完了した後に第2のASICクロック周波数を設定するように構成されており、該第1のASICクロック周波数は該第2のASICクロック周波数より大きい、請求項1に記載のデータ収集システム。
- 前記制御器はASICから、第2のクロック周波数から第1のクロック周波数にシフトさせるように該制御器をトリガする信号を受け取るように構成されている、請求項5に記載のデータ収集システム。
- 前記制御器はさらに、補正係数を生成すると共に温度誘導誤差を低減するために該補正係数をASIC出力に適用するように構成されている、請求項1に記載のデータ収集システム。
- 前記制御器は、複数のチャンネルのうち放射線検出器から検出放射線を示す信号を受け取ったチャンネルにアナログ対ディジタル変換器を割り当てるように構成されている、請求項1に記載のデータ収集システム。
- 前記制御器は、複数のチャンネルのうちのどのチャンネルが放射線検出器から信号を受け取ったかを決定するようにレジスタに問い合わせるように構成されている、請求項1に記載のデータ収集システム。
- 放射線が検出されたときに電気信号を出力するように構成された半導体放射線検出器と、
放射線検出器から前記出力を受け取るように構成されたASICと、
ASICに対してASIC出力をディジタル化するために使用される基準信号を供給するように構成されたディジタル対アナログ変換器(DAC)と、
DAC並びにASICに対して結合させた制御器であって、該DAC及びASICからの出力を調節するように構成されている制御器と、
を備える放射線検出システム。 - 前記半導体放射線検出器は、テルル化カドミウム放射線検出器とテルル化カドミウム亜鉛(CZT)放射線検出器のうちの一方を含む、請求項10に記載の放射線検出システム。
- 前記放射線検出器はASICに複数のアナログ出力を提供するように構成されており、かつASICは該複数のアナログ出力を各アナログ出力ごとのエネルギーレベル及びタイムスタンプを含むディジタル信号に変換するように構成されている、請求項10に記載の放射線検出システム。
- 制御器並びにDACに対して結合させた複数のASICを備える請求項10に記載の放射線検出システム。
- 前記複数のASICの出力をディジタル化するために1つの基準信号が使用されている請求項13に記載の放射線検出システム。
- 前記複数のASICからのディジタル化出力が同時に取得されている、請求項14に記載の放射線検出システム。
- 前記ASICはその各々が時間弁別回路及びエネルギー弁別回路を含む複数のチャンネルを備えており、かつ該ASICはさらにその備えるアナログ対ディジタル変換器(ADC)が各チャンネルごとに1つ未満である、請求項10に記載の放射線検出システム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12/199,020 | 2008-08-27 | ||
US12/199,020 US8159286B2 (en) | 2007-10-08 | 2008-08-27 | System and method for time-to-voltage conversion with lock-out logic |
PCT/US2009/048848 WO2010027551A2 (en) | 2008-08-27 | 2009-06-26 | Data acquisition system for photon counting and energy discriminating detectors |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012511139A true JP2012511139A (ja) | 2012-05-17 |
JP5600319B2 JP5600319B2 (ja) | 2014-10-01 |
Family
ID=40641281
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011525034A Active JP5600319B2 (ja) | 2008-08-27 | 2009-06-26 | 光子計数及びエネルギー弁別検出器のためのデータ収集システム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8159286B2 (ja) |
JP (1) | JP5600319B2 (ja) |
CA (1) | CA2701545A1 (ja) |
IL (1) | IL204895A0 (ja) |
NO (1) | NO341642B1 (ja) |
WO (2) | WO2010027551A2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015525360A (ja) * | 2012-06-29 | 2015-09-03 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 光子計数検出装置のための不完全性の動的モデリング |
JP2016506507A (ja) * | 2012-12-12 | 2016-03-03 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 光子計数検出器のための適応的な持続性電流補償 |
JP2016519281A (ja) * | 2013-03-15 | 2016-06-30 | 株式会社東芝 | 遅延を挿入する装置、核医学イメージング装置、遅延を挿入する方法および較正する方法 |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5559471B2 (ja) * | 2008-11-11 | 2014-07-23 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置、放射線画像取得システム、放射線検査システム、及び放射線検出方法 |
KR101107164B1 (ko) * | 2010-01-14 | 2012-01-25 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 엑스레이 검출장치 및 이의 구동방법 |
US8446308B2 (en) * | 2011-04-21 | 2013-05-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Apparatus for detection of a leading edge of a photo sensor output signal |
KR101842259B1 (ko) * | 2011-09-23 | 2018-03-27 | 삼성전자주식회사 | 이미지 센서 및 이를 포함하는 엑스-레이 이미지 센싱 모듈 |
FR2983662B1 (fr) * | 2011-12-02 | 2015-02-27 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de regulation d'un flux aleatoire d'impulsions de tension en entree d'un convertisseur analogique-numerique. |
US20140002069A1 (en) * | 2012-06-27 | 2014-01-02 | Kenneth Stoddard | Eddy current probe |
KR20140092438A (ko) * | 2012-12-27 | 2014-07-24 | 삼성전자주식회사 | 엑스선 검출 패널, 엑스선 촬영 장치 및 엑스선 영상 생성 방법 |
US9063520B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-06-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Apparatus for inserting delay, nuclear medicine imaging apparatus, method for inserting delay, and method of calibration |
EP2871496B1 (en) * | 2013-11-12 | 2020-01-01 | Samsung Electronics Co., Ltd | Radiation detector and computed tomography apparatus using the same |
CN106289333B (zh) * | 2015-05-29 | 2019-01-25 | 苏州坤元微电子有限公司 | 电容充放电控制模块以及电流频率转换电路 |
US10098595B2 (en) * | 2015-08-06 | 2018-10-16 | Texas Instruments Incorporated | Low power photon counting system |
US10117626B2 (en) * | 2015-09-29 | 2018-11-06 | General Electric Company | Apparatus and method for pile-up correction in photon-counting detector |
JP6797909B2 (ja) * | 2015-10-20 | 2020-12-09 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 直接変換x線検出器のための偏光補正 |
US10162066B2 (en) | 2017-02-06 | 2018-12-25 | General Electric Company | Coincidence-enabling photon-counting detector |
JP6741613B2 (ja) | 2017-03-07 | 2020-08-19 | 株式会社日立製作所 | 放射線撮像装置 |
US10151845B1 (en) | 2017-08-02 | 2018-12-11 | Texas Instruments Incorporated | Configurable analog-to-digital converter and processing for photon counting |
US10024979B1 (en) | 2017-11-01 | 2018-07-17 | Texas Instruments Incorporated | Photon counting with coincidence detection |
KR20190085740A (ko) * | 2018-01-11 | 2019-07-19 | 삼성전자주식회사 | 단층 촬영 장치, 그 제어 방법, 및 컴퓨터 프로그램 제품 |
CN109194331B (zh) * | 2018-08-29 | 2021-10-26 | 苏州瑞迈斯医疗科技有限公司 | 电子装置以及校正该电子装置中比较器的方法 |
US10890674B2 (en) | 2019-01-15 | 2021-01-12 | Texas Instruments Incorporated | Dynamic noise shaping in a photon counting system |
EP4414751A1 (en) | 2023-02-10 | 2024-08-14 | Koninklijke Philips N.V. | Direct conversion spectral x-ray detection |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002311150A (ja) * | 2001-03-30 | 2002-10-23 | Siemens Ag | X線コンピュータトモグラフ用検出器 |
JP2004117356A (ja) * | 2002-09-24 | 2004-04-15 | General Electric Co <Ge> | 時間・電圧変換器 |
JP2005210480A (ja) * | 2004-01-23 | 2005-08-04 | Canon Inc | A/d変換回路及びその出力補正方法、それを用いた撮像装置、放射線撮像装置、放射線撮像システム |
JP2006234727A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Toshiba Corp | 放射線分布撮影装置および放射線分布撮影方法 |
JP2007248319A (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Fuji Electric Systems Co Ltd | シンチレーション検出器およびシンチレーション式低エネルギー光子1cm線量当量計 |
JP2008029816A (ja) * | 2006-06-26 | 2008-02-14 | Canon Inc | 放射線撮像装置、放射線撮像システム及びその制御方法 |
JP2008107326A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-05-08 | Hitachi Ltd | 核医学診断装置 |
JP2008190901A (ja) * | 2007-02-01 | 2008-08-21 | Hitachi Ltd | 陽電子放出型断層撮影装置 |
JP2012501443A (ja) * | 2008-08-27 | 2012-01-19 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 読み出し用asicのチャンネル特異的構成のための装置及び方法 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3641676A1 (de) * | 1985-12-06 | 1987-06-11 | Hitachi Ltd | Signalverarbeitungsschaltung |
US5621406A (en) * | 1994-09-29 | 1997-04-15 | Rosemount Inc. | System for calibrating analog-to-digital converter |
US6150849A (en) | 1995-06-02 | 2000-11-21 | Tuemer; Tuemay O. | Readout chip for nuclear applications |
US5696458A (en) | 1995-06-02 | 1997-12-09 | Nova R&D, Inc. | Front end data readout chip |
US6621084B1 (en) | 1998-09-24 | 2003-09-16 | Elgems Ltd. | Pixelated photon detector |
JP2002168893A (ja) * | 2000-11-30 | 2002-06-14 | Agilent Technologies Japan Ltd | 高精度容量測定装置および方法 |
US7126386B2 (en) | 2001-10-25 | 2006-10-24 | Nova R&D, Inc. | Multi-channel integrated circuit |
JP3863872B2 (ja) | 2003-09-30 | 2006-12-27 | 株式会社日立製作所 | 陽電子放出型断層撮影装置 |
EP1706884A2 (en) | 2003-12-30 | 2006-10-04 | DxRay, Inc. | Pixelated cadmium zinc telluride based photon counting mode detector |
US20060011853A1 (en) | 2004-07-06 | 2006-01-19 | Konstantinos Spartiotis | High energy, real time capable, direct radiation conversion X-ray imaging system for Cd-Te and Cd-Zn-Te based cameras |
WO2006039494A2 (en) | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Stanford University | Semiconductor crystal high resolution imager |
DE102005020503A1 (de) | 2005-04-29 | 2006-11-09 | Siemens Ag | Ausleseschaltung |
US7411197B2 (en) | 2005-09-30 | 2008-08-12 | The Regents Of The University Of Michigan | Three-dimensional, position-sensitive radiation detection |
WO2007111912A2 (en) | 2006-03-22 | 2007-10-04 | Ii-Vi Incorporated | Multi-window signal processing electronics arhitecture for photon counting with multi-element sensors |
-
2008
- 2008-08-27 US US12/199,020 patent/US8159286B2/en active Active
-
2009
- 2009-06-26 CA CA2701545A patent/CA2701545A1/en not_active Abandoned
- 2009-06-26 WO PCT/US2009/048848 patent/WO2010027551A2/en active Application Filing
- 2009-06-26 WO PCT/US2009/048849 patent/WO2010027552A2/en active Application Filing
- 2009-06-26 JP JP2011525034A patent/JP5600319B2/ja active Active
-
2010
- 2010-04-07 IL IL204895A patent/IL204895A0/en active IP Right Grant
- 2010-04-08 NO NO20100513A patent/NO341642B1/no unknown
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002311150A (ja) * | 2001-03-30 | 2002-10-23 | Siemens Ag | X線コンピュータトモグラフ用検出器 |
JP2004117356A (ja) * | 2002-09-24 | 2004-04-15 | General Electric Co <Ge> | 時間・電圧変換器 |
JP2005210480A (ja) * | 2004-01-23 | 2005-08-04 | Canon Inc | A/d変換回路及びその出力補正方法、それを用いた撮像装置、放射線撮像装置、放射線撮像システム |
JP2006234727A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Toshiba Corp | 放射線分布撮影装置および放射線分布撮影方法 |
JP2007248319A (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Fuji Electric Systems Co Ltd | シンチレーション検出器およびシンチレーション式低エネルギー光子1cm線量当量計 |
JP2008029816A (ja) * | 2006-06-26 | 2008-02-14 | Canon Inc | 放射線撮像装置、放射線撮像システム及びその制御方法 |
JP2008107326A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-05-08 | Hitachi Ltd | 核医学診断装置 |
JP2008190901A (ja) * | 2007-02-01 | 2008-08-21 | Hitachi Ltd | 陽電子放出型断層撮影装置 |
JP2012501443A (ja) * | 2008-08-27 | 2012-01-19 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 読み出し用asicのチャンネル特異的構成のための装置及び方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015525360A (ja) * | 2012-06-29 | 2015-09-03 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 光子計数検出装置のための不完全性の動的モデリング |
JP2016506507A (ja) * | 2012-12-12 | 2016-03-03 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 光子計数検出器のための適応的な持続性電流補償 |
JP2016519281A (ja) * | 2013-03-15 | 2016-06-30 | 株式会社東芝 | 遅延を挿入する装置、核医学イメージング装置、遅延を挿入する方法および較正する方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8159286B2 (en) | 2012-04-17 |
WO2010027551A2 (en) | 2010-03-11 |
CA2701545A1 (en) | 2010-03-11 |
NO20100513L (no) | 2010-12-07 |
WO2010027552A3 (en) | 2010-06-03 |
IL204895A0 (en) | 2010-11-30 |
WO2010027551A3 (en) | 2010-06-03 |
US20090128216A1 (en) | 2009-05-21 |
WO2010027552A2 (en) | 2010-03-11 |
NO341642B1 (no) | 2017-12-18 |
JP5600319B2 (ja) | 2014-10-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5600319B2 (ja) | 光子計数及びエネルギー弁別検出器のためのデータ収集システム | |
JP5491508B2 (ja) | Asic、データ収集システム及び単一光子放出コンピュータ断層撮像システム | |
US7760123B2 (en) | Data acquisition system for photon counting and energy discriminating detectors | |
US8384038B2 (en) | Readout electronics for photon counting and energy discriminating detectors | |
US7332724B2 (en) | Method and apparatus for acquiring radiation data | |
US5943388A (en) | Radiation detector and non-destructive inspection | |
US7818047B2 (en) | X-ray and gamma ray detector readout system | |
US7696483B2 (en) | High DQE photon counting detector using statistical recovery of pile-up events | |
US7433443B1 (en) | System and method of CT imaging with second tube/detector patching | |
CN110462442B (zh) | 实现重合的光子计数检测器 | |
US6590215B2 (en) | Readout circuit for a charge detector | |
US11147522B2 (en) | Photon counting detector and x-ray computed tomography apparatus | |
EP3332270B1 (en) | Imaging detector with improved spatial accuracy | |
JP7246975B2 (ja) | フォトンカウンティング検出器およびx線ct装置 | |
US10338012B2 (en) | Photon counting detector and X-ray computed tomography (CT) apparatus | |
US11163073B2 (en) | Charger integration-based virtual CT detector | |
CA2701506A1 (en) | Apparatus and method for channel-specific configuration in a readout asic | |
Shen | Evaluation of room-temperature semiconductor detectors for ultrahigh resolution pet imaging | |
Würschig et al. | Setup of a test-station for double-sided silicon microstrip detectors |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100408 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120314 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120620 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20120919 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20120919 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121025 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130222 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130305 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130430 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131203 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140214 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140311 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140507 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20140514 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140722 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140815 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5600319 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |