JPH0522872B2 - - Google Patents
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- JPH0522872B2 JPH0522872B2 JP57130742A JP13074282A JPH0522872B2 JP H0522872 B2 JPH0522872 B2 JP H0522872B2 JP 57130742 A JP57130742 A JP 57130742A JP 13074282 A JP13074282 A JP 13074282A JP H0522872 B2 JPH0522872 B2 JP H0522872B2
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- JP
- Japan
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- capacitor
- channel
- stored
- signal current
- offset
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 40
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 29
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は入力の信号電流を一旦コンデンサにチ
ヤージし、このチヤージ電圧を後に読み出して信
号電流を計測する装置に関する。
ヤージし、このチヤージ電圧を後に読み出して信
号電流を計測する装置に関する。
X線CT(Computerized Tomography)装置に
おいては、測定物にX線を照射しその透過X線を
多数の電離箱で検知し、その信号に基づき測定物
に関する投影データを得るように構成している。
この場合、その装置には多チヤンネルの電離箱の
出力電流をそれぞれ計測する電流計測装置が用い
られている。従来の電流計測装置では、X線電離
箱より得られる透過X線強度に応じた電離電流
を、チヤンネルごとに電流・電圧変換し、これを
アナログ・デジタル変換器(以下AD変換器と略
す)でデジタル化している。この場合、電流・電
圧変換のために用いられているコンデンサには漏
れ電流が流れ込む可能性があり、また、このコン
デンサのチヤージ電圧を増幅する増幅器には無視
できないオフセツトがあるので、高精度計測を期
待するためにはこれらの誤差要素の補正が必要で
ある。
おいては、測定物にX線を照射しその透過X線を
多数の電離箱で検知し、その信号に基づき測定物
に関する投影データを得るように構成している。
この場合、その装置には多チヤンネルの電離箱の
出力電流をそれぞれ計測する電流計測装置が用い
られている。従来の電流計測装置では、X線電離
箱より得られる透過X線強度に応じた電離電流
を、チヤンネルごとに電流・電圧変換し、これを
アナログ・デジタル変換器(以下AD変換器と略
す)でデジタル化している。この場合、電流・電
圧変換のために用いられているコンデンサには漏
れ電流が流れ込む可能性があり、また、このコン
デンサのチヤージ電圧を増幅する増幅器には無視
できないオフセツトがあるので、高精度計測を期
待するためにはこれらの誤差要素の補正が必要で
ある。
以上の点に基づいて、測定対象の信号電流以外
の不用な要素(以下、これらの誤差要素をオフセ
ツトと総称する)を取り除く手段を本出願人は特
願昭56−197912号にて開示したが、本発明は、こ
の手段を更に改良したものである。
の不用な要素(以下、これらの誤差要素をオフセ
ツトと総称する)を取り除く手段を本出願人は特
願昭56−197912号にて開示したが、本発明は、こ
の手段を更に改良したものである。
特願昭56−197912号で開示した手段の動作を以
下に記す。
下に記す。
信号電流をチヤージ(積分)するためのコンデ
ンサは時刻t1で放電され待機している。このよう
な状態で信号電流がコンデンサへ入力し、これを
積分してそのままホールドする。そして時刻t2で
この積分電圧を次段に読み出すが、この読み出し
た積分電圧は、信号電流分の他に時刻t1からt2の
間にコンデンサへ流入出した漏れ電流などのオフ
セツト分を含んだものである。そこで、信号電流
を含むコンデンサ電圧の測定を行なつた後に、直
ちにコンデンサを放電させ、次に信号電流を含ま
ない、すなわち、オフセツト分のみの積分を時刻
t1からt2の間と等しい時間幅だけ行なう。そし
て、先に測定したオフセツト分を含む信号電流の
測定値から、このオフセツト分のみの積分値を減
算するようにして、真の信号電流を得ている。そ
して、この“オフセツトを含む信号電流の測定”
と“オフセツトのみの測定”を交互に繰り返えす
動作を行なうようにしている。
ンサは時刻t1で放電され待機している。このよう
な状態で信号電流がコンデンサへ入力し、これを
積分してそのままホールドする。そして時刻t2で
この積分電圧を次段に読み出すが、この読み出し
た積分電圧は、信号電流分の他に時刻t1からt2の
間にコンデンサへ流入出した漏れ電流などのオフ
セツト分を含んだものである。そこで、信号電流
を含むコンデンサ電圧の測定を行なつた後に、直
ちにコンデンサを放電させ、次に信号電流を含ま
ない、すなわち、オフセツト分のみの積分を時刻
t1からt2の間と等しい時間幅だけ行なう。そし
て、先に測定したオフセツト分を含む信号電流の
測定値から、このオフセツト分のみの積分値を減
算するようにして、真の信号電流を得ている。そ
して、この“オフセツトを含む信号電流の測定”
と“オフセツトのみの測定”を交互に繰り返えす
動作を行なうようにしている。
以上のような装置においては、次の点が判明し
た。
た。
(イ) 1つの信号電流を得るために、“オフセツト
を含む信号電流の測定”と“オフセツトのみの
測定”を1対で行なう必要があり、従つて測定
時間が長くなる。すなわち、電流計測装置の応
答性が悪い。
を含む信号電流の測定”と“オフセツトのみの
測定”を1対で行なう必要があり、従つて測定
時間が長くなる。すなわち、電流計測装置の応
答性が悪い。
(ロ) オフセツトの変動は、時間的にゆるやかなも
のであるため、毎回オフセツトの測定をする必
要はない。
のであるため、毎回オフセツトの測定をする必
要はない。
本発明は、以上の点に鑑みてなされたものであ
り応答性の速い電流計測装置を提供しようとする
ものである。
り応答性の速い電流計測装置を提供しようとする
ものである。
本発明に係る電流計測装置の動作を要約する
と、まず、オフセツト(測定対象の信号電流を含
まない)のみを期間Tiだけ積分し、この積分値を
メモリに格納しておく。次にオフセツトを含む信
号電流を期間Tiに亘つて測定し、この値から前記
メモリに格納したオフセツト値を読み出してこれ
を減算し、真の信号電流を得る。以下、オフセツ
トを含む信号電流を期間Tiに亘つて測定するたび
に、この値から予めメモリに格納してある前記オ
フセツト値を読み出して、これを減算する動作を
繰り返えす。すなわち、オフセツトの測定回数を
非常に減らすことにより装置の応答性を速めるよ
うにしたものである。
と、まず、オフセツト(測定対象の信号電流を含
まない)のみを期間Tiだけ積分し、この積分値を
メモリに格納しておく。次にオフセツトを含む信
号電流を期間Tiに亘つて測定し、この値から前記
メモリに格納したオフセツト値を読み出してこれ
を減算し、真の信号電流を得る。以下、オフセツ
トを含む信号電流を期間Tiに亘つて測定するたび
に、この値から予めメモリに格納してある前記オ
フセツト値を読み出して、これを減算する動作を
繰り返えす。すなわち、オフセツトの測定回数を
非常に減らすことにより装置の応答性を速めるよ
うにしたものである。
以下図面に基づいて、本発明を詳細に説明す
る。
る。
第1図は本発明に係る電流計測装置の一実施例
を示す要部構成図である。また第2図は、第1図
装置の各部の時間的動作関係を示すタイムチヤー
トである。第1図において、I1〜Ioは、信号電流
を表わしX線CT装置で言えば、透過X線強度に
応じた電離電流である。このように、第1図の装
置は、多チヤンネルからなる多点電流計測装置の
1例である。C1〜Coは各信号電流I1〜Ioを電圧に
変換するコンデンサである。S1〜Soはサンプリン
グスイツチを表わし各コンデンサC1〜Coの電圧
を選択して次段へ伝えるものである。なお、この
サンプリングスイツチは、図に示した複数個のス
イツチの代りにマルチプレクサで置き代えても良
い。Srはリセツトスイツチを表わしコンデンサC1
〜Coの電荷を放電させる機能を有する。Uは増
幅器を表わし高入力インピーダンスでコンデンサ
C1〜Coの電圧を受けるとともに、これらの電圧
を適切な大きさにして次段へ伝えるものである。
3はアナログ信号をデジタル信号に変換するA・
D変換器、5と7はA・D変換器3からのデジタ
ル信号を記憶するメモリである。9と11は演算
器であり、演算器9は、メモリ7内のデータを複
数個取り出し、その平均値を算出する機能を有
し、演算器11はメモリ5と7のデータを取り出
し、その加減算を行なう機能を有する。なお、第
1図をX線CT装置として見れば、信号電流I1〜
Ioの部分はX線検出器1内に構成されている。
を示す要部構成図である。また第2図は、第1図
装置の各部の時間的動作関係を示すタイムチヤー
トである。第1図において、I1〜Ioは、信号電流
を表わしX線CT装置で言えば、透過X線強度に
応じた電離電流である。このように、第1図の装
置は、多チヤンネルからなる多点電流計測装置の
1例である。C1〜Coは各信号電流I1〜Ioを電圧に
変換するコンデンサである。S1〜Soはサンプリン
グスイツチを表わし各コンデンサC1〜Coの電圧
を選択して次段へ伝えるものである。なお、この
サンプリングスイツチは、図に示した複数個のス
イツチの代りにマルチプレクサで置き代えても良
い。Srはリセツトスイツチを表わしコンデンサC1
〜Coの電荷を放電させる機能を有する。Uは増
幅器を表わし高入力インピーダンスでコンデンサ
C1〜Coの電圧を受けるとともに、これらの電圧
を適切な大きさにして次段へ伝えるものである。
3はアナログ信号をデジタル信号に変換するA・
D変換器、5と7はA・D変換器3からのデジタ
ル信号を記憶するメモリである。9と11は演算
器であり、演算器9は、メモリ7内のデータを複
数個取り出し、その平均値を算出する機能を有
し、演算器11はメモリ5と7のデータを取り出
し、その加減算を行なう機能を有する。なお、第
1図をX線CT装置として見れば、信号電流I1〜
Ioの部分はX線検出器1内に構成されている。
コンデンサC1〜Coは各入力チヤンネルと回路
アース間に接続される。各コンデンサC1〜Coの
電圧は、サンプリングスイツチS1〜Soを介して増
幅器Uへ導入されるとともに、リセツトスイツチ
Srの接点を経由して回路アースに接続される。増
幅器Uの出力は、A・D変換器3を介して各メモ
リ5と7へ格納される。メモリ5と7の内容は適
宜演算器11に取り出されて所定の演算が行なわ
れ、演算器11の出力からオフセツトの除去され
た各信号電流I1〜Ioが得られる。なお、各コンデ
ンサC1〜Coへ並列に加えられているi1〜ioは漏れ
電流を表わす。
アース間に接続される。各コンデンサC1〜Coの
電圧は、サンプリングスイツチS1〜Soを介して増
幅器Uへ導入されるとともに、リセツトスイツチ
Srの接点を経由して回路アースに接続される。増
幅器Uの出力は、A・D変換器3を介して各メモ
リ5と7へ格納される。メモリ5と7の内容は適
宜演算器11に取り出されて所定の演算が行なわ
れ、演算器11の出力からオフセツトの除去され
た各信号電流I1〜Ioが得られる。なお、各コンデ
ンサC1〜Coへ並列に加えられているi1〜ioは漏れ
電流を表わす。
以上のように構成された第1図装置の動作を第
2図を参照しながら説明する。
2図を参照しながら説明する。
まず、信号電流I1〜Ioが入力しない前の期間に
おいて、各チヤンネルにおけるオフセツト分を以
下のような順序で計測する。なお、第2図におい
て、各スイツチの動作を示す波形のうち“ハイ”
レベルの期間はスイツチがオンであり、“ロー”
レベルの期間はオフになつているものとする。
おいて、各チヤンネルにおけるオフセツト分を以
下のような順序で計測する。なお、第2図におい
て、各スイツチの動作を示す波形のうち“ハイ”
レベルの期間はスイツチがオンであり、“ロー”
レベルの期間はオフになつているものとする。
第2図に示す如く、リセツトスイツチSrがP1
にてオンになると同時に各サンプリングスイツ
チS1〜Soも皆オンに動作する。従つて各コンデ
ンサC1〜Coにチヤージされていた電荷は放電
されコンデンサの電圧はゼロとなる。
にてオンになると同時に各サンプリングスイツ
チS1〜Soも皆オンに動作する。従つて各コンデ
ンサC1〜Coにチヤージされていた電荷は放電
されコンデンサの電圧はゼロとなる。
次に、スイツチSr及びS1〜Soは皆オフとな
り、各コンデンサC1〜Coには、オフセツトに
基づく電流が流れ込み積分される。
り、各コンデンサC1〜Coには、オフセツトに
基づく電流が流れ込み積分される。
各コンデンサC1〜Coが放電されてから時間
T1後にまずサンプリングスイツチS1がオンと
なり、コンデンサC1の電圧が読み出され増幅
器UとA・D変換器3を介して、メモリ7に格
納される。
T1後にまずサンプリングスイツチS1がオンと
なり、コンデンサC1の電圧が読み出され増幅
器UとA・D変換器3を介して、メモリ7に格
納される。
次に、各コンデンサC1〜Coが放電されてか
ら時間T2後にサンプリングスイツチS2がオン
となり、コンデンサC2の電圧が読み出され、
その値は、上述と同様な経路を介してメモリ7
に格納される。
ら時間T2後にサンプリングスイツチS2がオン
となり、コンデンサC2の電圧が読み出され、
その値は、上述と同様な経路を介してメモリ7
に格納される。
以下、上述と同様な動作により、各コンデン
サC3〜Coの電圧は総てメモリ7に格納される。
サC3〜Coの電圧は総てメモリ7に格納される。
次に、再びリセツトスイツチSrがP2にてオン
になると同時に各サンプリングスイツチS1〜So
も皆オンに動作し、コンデンサC1〜Coの電圧
はゼロとなる。
になると同時に各サンプリングスイツチS1〜So
も皆オンに動作し、コンデンサC1〜Coの電圧
はゼロとなる。
以下、〜の動作を繰り返えして、メモリ
7には、各チヤンネルにおけるオフセツトのデ
ータが次々と格納される。
7には、各チヤンネルにおけるオフセツトのデ
ータが次々と格納される。
以上の動作を繰り返えすことにより、メモリ
7には、コンデンサC1〜Coが放電してから各
コンデンサごとに定められた一定時間(T1,
T2,…To)における各チヤンネルのオフセツ
トデータが格納される。
7には、コンデンサC1〜Coが放電してから各
コンデンサごとに定められた一定時間(T1,
T2,…To)における各チヤンネルのオフセツ
トデータが格納される。
次に、このメモリ7に格納されたデータを各
チヤンネルごとに取り出し、演算器9にて、そ
の平均値を出す。例えば、コンデンサC1から
得たデータばかりを取り出して、その平均値を
出し、この第1チヤンネルのオフセツト分の平
均値を改めてメモリ7に格納する。
チヤンネルごとに取り出し、演算器9にて、そ
の平均値を出す。例えば、コンデンサC1から
得たデータばかりを取り出して、その平均値を
出し、この第1チヤンネルのオフセツト分の平
均値を改めてメモリ7に格納する。
以下、同様な動作により、各チヤンネルごと
のオフセツト分の平均値を算出して、この平均
値をメモリ7へ格納する。
のオフセツト分の平均値を算出して、この平均
値をメモリ7へ格納する。
このようにして、本発明においては、信号電
流I1〜Ioが入力しない期間の各チヤンネルごと
のオフセツト分の平均値を算出して、この値を
メモリに格納しておく。
流I1〜Ioが入力しない期間の各チヤンネルごと
のオフセツト分の平均値を算出して、この値を
メモリに格納しておく。
一方信号電流I1〜Ioは次のようにして測定す
る。
る。
第2図に示す如く、リセツトスイツチSrがP3
にてオンになると同時に各サンプリングスイツ
チS1〜Soも皆オンに動作して各コンデンサC1
〜Coは放電される。
にてオンになると同時に各サンプリングスイツ
チS1〜Soも皆オンに動作して各コンデンサC1
〜Coは放電される。
次に、第2図に示す如く、各信号電流I1〜Io
が各チヤンネルのコンデンサC1〜Coに流れ込
み電圧に変換される。
が各チヤンネルのコンデンサC1〜Coに流れ込
み電圧に変換される。
コンデンサC1〜Coが放電されてから時間T1
後にスイツチS1がオンとなり、コンデンサC1
の電圧データが増幅器UとA・D変換器3を介
してメモリ5へ格納される。
後にスイツチS1がオンとなり、コンデンサC1
の電圧データが増幅器UとA・D変換器3を介
してメモリ5へ格納される。
次に時間T2後にサンプリングスイツチS2が
オンとなり、コンデンサC2の電圧が読み出さ
れ、その値は、と同様な経路を介してメモリ
5へ格納される。
オンとなり、コンデンサC2の電圧が読み出さ
れ、その値は、と同様な経路を介してメモリ
5へ格納される。
以下、、と同様な動作により、各コンデ
ンサC3〜Coの電圧は総べてメモリ5に格納さ
れる。
ンサC3〜Coの電圧は総べてメモリ5に格納さ
れる。
このメモリ5に格納された各チヤンネルの測
定データと、メモリ7に格納された各チヤンネ
ルのオフセツト分は、演算器11に取り込ま
れ、そこで、演算処理をされて、オフセツト分
が除去された真の信号電流が取り出される。
定データと、メモリ7に格納された各チヤンネ
ルのオフセツト分は、演算器11に取り込ま
れ、そこで、演算処理をされて、オフセツト分
が除去された真の信号電流が取り出される。
以下、各チヤンネルの信号電流I1〜Ioが流れ
込むごとに、予めメモリ7に格納されているオ
フセツト分を用いて、その補正演算を行なうよ
うな動作を繰り返えす。
込むごとに、予めメモリ7に格納されているオ
フセツト分を用いて、その補正演算を行なうよ
うな動作を繰り返えす。
なお、上述の説明では、メモリ5と7の内容を
取り出して演算する演算器11は、デジタル演算
器の如く説明したが、アナログ的な演算器でも本
発明は成立する。もつとも、この場合には、演算
器11の前段に、デジタル信号をアナログ信号へ
変換するためのD・A変換器を設ける必要があ
る。
取り出して演算する演算器11は、デジタル演算
器の如く説明したが、アナログ的な演算器でも本
発明は成立する。もつとも、この場合には、演算
器11の前段に、デジタル信号をアナログ信号へ
変換するためのD・A変換器を設ける必要があ
る。
また、上述の説明では、メモリを2個別々に備
えるとして説明したが、アドレスを分けて使え
ば、1個のメモリとすることもできる。
えるとして説明したが、アドレスを分けて使え
ば、1個のメモリとすることもできる。
以上述べたように、本発明によれば、各チヤン
ネルのオフセツト分を予め測定して記憶してお
き、信号電流を測定するごとに、この記憶してあ
るオフセツト分を補正計算用に用いているので、
従来の手段と比べ電流の測定時間を1/2に短縮す
ることができ、その結果、応答性の速い電流計測
装置を実現することができる。
ネルのオフセツト分を予め測定して記憶してお
き、信号電流を測定するごとに、この記憶してあ
るオフセツト分を補正計算用に用いているので、
従来の手段と比べ電流の測定時間を1/2に短縮す
ることができ、その結果、応答性の速い電流計測
装置を実現することができる。
第1図は本発明に係る電流計測装置の一実施例
を示す要部構成図、第2図は第1図装置の各部の
時間的動作関係を示すタイムチヤートである。 I1〜Io……信号電流、C1〜Co……コンデンサ、
S1〜So……サンプリングスイツチ、Sr……リセツ
トスイツチ、U……増幅器、3……A・D変換
器、5,7……メモリ、9,11……演算器。
を示す要部構成図、第2図は第1図装置の各部の
時間的動作関係を示すタイムチヤートである。 I1〜Io……信号電流、C1〜Co……コンデンサ、
S1〜So……サンプリングスイツチ、Sr……リセツ
トスイツチ、U……増幅器、3……A・D変換
器、5,7……メモリ、9,11……演算器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 各チヤンネルの信号電流をチヤンネル毎に設
けられたコンデンサにチヤージし、チヤージ電圧
を後に読出して各信号電流を計測する装置におい
て、 前記各コンデンサの電荷を或る時刻taで一斉に
放電させるリセツトスイツチと、 各チヤンネル毎に設けられ、前記時刻taから各
チヤンネル毎に定められた時間T1、T2、…Tn
後に当該チヤンネルのコンデンサのチヤージ電圧
を取り出すサンプリングスイツチと、 この各サンプリングスイツチで取り出されたチ
ヤージ電圧に基づく電圧をデジタル信号に変換す
るA・D変換器と、 平均値を演算する平均値演算器9と、 前記リセツトスイツチによる放電とサンプリン
グスイツチによるサンプリング動作を複数回繰り
返して、信号電流が流入していない状態における
前記各コンデンサ毎のチヤージ電圧に基づくデジ
ダル値を記憶するとともに、この記憶した各コン
デンサ毎のデジタル値に前記平均値演算器で演算
を加えて得られた各コンデンサ毎のチヤージ電圧
の平均値を記憶するメモリと、 信号電流が流入した状態における各サンプリン
グスイツチから取り出されたコンデンサのチヤー
ジ電圧に基づくデジタル値から、メモリに記憶さ
れた当該コンデンサに関する前記平均値を除去す
る演算を行う演算器11と、 を備えた電流計測装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13074282A JPS5920865A (ja) | 1982-07-27 | 1982-07-27 | 電流計測装置 |
US06/444,329 US4484340A (en) | 1981-12-09 | 1982-11-24 | Multichannel current measuring apparatus for X-ray computerized tomograph |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13074282A JPS5920865A (ja) | 1982-07-27 | 1982-07-27 | 電流計測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5920865A JPS5920865A (ja) | 1984-02-02 |
JPH0522872B2 true JPH0522872B2 (ja) | 1993-03-30 |
Family
ID=15041540
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13074282A Granted JPS5920865A (ja) | 1981-12-09 | 1982-07-27 | 電流計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5920865A (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5891341A (ja) * | 1981-11-26 | 1983-05-31 | Toyota Motor Corp | 内燃機関の制御方法 |
US5311125A (en) * | 1992-03-18 | 1994-05-10 | Lake Shore Cryotronics, Inc. | Magnetic property characterization system employing a single sensing coil arrangement to measure AC susceptibility and DC moment of a sample |
JP4588596B2 (ja) * | 2005-09-22 | 2010-12-01 | 矢崎総業株式会社 | フライングキャパシタ方式電圧測定装置 |
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JPS5376865A (en) * | 1976-12-20 | 1978-07-07 | Olympus Optical Co Ltd | Zero adjust circuit |
-
1982
- 1982-07-27 JP JP13074282A patent/JPS5920865A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5376865A (en) * | 1976-12-20 | 1978-07-07 | Olympus Optical Co Ltd | Zero adjust circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5920865A (ja) | 1984-02-02 |
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