JPS5920865A - 電流計測装置 - Google Patents

電流計測装置

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JPS5920865A
JPS5920865A JP13074282A JP13074282A JPS5920865A JP S5920865 A JPS5920865 A JP S5920865A JP 13074282 A JP13074282 A JP 13074282A JP 13074282 A JP13074282 A JP 13074282A JP S5920865 A JPS5920865 A JP S5920865A
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JP
Japan
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channel
capacitor
current
signal current
time
Prior art date
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JP13074282A
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JPH0522872B2 (ja
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Keiki Yamaguchi
山口 珪紀
Tadashi Ogawa
小川 規
Hideaki Uno
宇野 英明
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Hokushin Electric Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Nuclear Medicine (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は入力の信号電流を一旦コンデンサにチャージし
、このチャージ電圧を後に読み出して信号電流を計測す
る装置に関する。
X 線CT (Computerized Tomog
raphy )装置において(ハ、測定物にX線を照射
しその透過X線を多数の電離箱で検知し、その信号に基
づき測定物に関する投影データを得るように構成してい
る。どの場合、その装置には多チャンネルの電離箱の出
力電流をそれぞれ計測する電流計測装置が用いられてい
る。従来の電流計測装置では、X線電離箱より得られる
透過X線強度に応じた電離電流を、チャンネルごとに電
流・電圧変換し、これをアナログデジタル変換器(以下
AD変換器と略す)でデジタル化している。この場合、
電流・電圧変換のために用いられているコンデンサには
漏れ電流が流れ込む可能性があり、寸だ、このコンデン
サのチャージ電圧を増幅する増幅器には無視できないオ
フセットがあるので、高精度計測を期待するためKはこ
れらの誤差要素の補正が必要である。
以上の点に基づいて、測定対象の信号電流以外の不用な
要素(以下、これらの誤差要素をオフセットと総称する
)を取り除く手段を本出願人は特願昭56−1!J79
12号にて開示しだが、本発明は、この手段を更に改良
したものである。
特願昭56−197912号で開示した手段の動作を以
下に記す。
信号電流をチャージ(積分)するためのコンデンサは時
刻t工で放電され待機している。このような状態で信号
電流がコンデンサへ入力し、これを積分してそのままホ
ールドする。そして時刻t2でこの積分電圧を次段に読
み出すが、この読み出した積分電圧は、信号電流分の他
に時刻t工からt2の間にコンデ/すへ流入出した漏れ
電ら;cなどのオフセット分を含んだものである。そこ
で、信号電流を含むコンデンサ電圧の測定を行なった後
に、直ちにコンデンサを放電させ、次に信号電流を含ま
ない、すなわち、オフセット分のみの積分を時刻t1か
らt2の間と等しい時間幅だけ行なう。そして、先に測
定したオフセット分を含む信号電流の測定値から、この
オフセット分のみの積分値を減算するようにして、真の
信号電流を得ている。そして、この1オフセ、トを含む
信号電流の測定1と1オフセツトのみの測定1を交互に
繰り返えす動作を行なうようにしている。
以上のような装置においては、次の点が判明した0 (イ) 1つの信号電流を得るために、1オフセツトを
含む信号電流の測定lWと1オフセツトのみの測定を1
対で行なう必要があり、従って測定時間が長くなる。す
なわち、電流計測装置の応答性が悪い。
(ロ)オフセントの変動は、時間的にゆるやかなもので
あるため、毎回オフセットの測定をする必TF5はない
本発明は、以上の点に鑑みてなされたものでろり応答性
の速い電流計測装置を提供しようとするものである。
本発明に係る電流計測装置の動作を要約すると、オす、
オフセット(測定対象の信号電流を含まない)のみを期
間Tだけ積分し、この積分値をメモりに格納しておく。
次にオフセットを含む信号電流を期間T□に亘って測定
し、この値から前記メモ、りに格納したオフセット値を
読み出してこれを減算し、真の信号電流を得る。以下、
オフセットを含む信号電流を期間Tに戸って測定するた
びに、この値から予めメモリて格納しである前記オフセ
ット値を読み出して、これを減算する動作を繰り返見す
。すなわち、オフセットの測定回数を非常に減らすこと
により装置の応答性を速めるようにしたものである。
以下図面に基づいて、本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明に係る電流計側装置の一実施例を示す要
部構成図である。また第2図は、第1図装置の各部の時
間的動作関係を示すタイムチルヤードである。第1図に
おいて、II〜工。は、信号電流を表わしX線CT装置
で言えば、透過X線強度に応じた電離電流である。この
ように1第1図の装置は、多チャンネルからなる多点電
流計測装置の1例である。01〜Cnは各信号電流工□
〜工。を電圧に変換するコンデンサである。s−8はサ
ンプリングn スイッチを表わし各コンデンサC□〜cnの電圧を選択
して次段へ伝えるものである。なお、このサンプリング
スイッチは11図に示した複数個のスイッチの代りにマ
ルチプレクサで置き代えても良い。
Sはリセットスイッチを表わしコンデンサc1〜cnの
電荷を放電させる機能を有する。Uは増幅器を表わし高
入力インピーダンスでコンデンサc1〜Cnの電圧を受
けるとともに、これらの電圧を適切な大きさにして次段
へ伝えるものである。3はアナログ信号をデジタル信号
に変換するΔ・D変換器、5と7はA−D変換器3から
のデジタル信号を記憶するメモリである。9と11は演
算器であり、演算器9は、メモリZ内のデータを複数個
取り出し、その平均値を算出する機能を有し、演算器1
1はメモリ5と7のデータを取り出し1、その加減算を
行なう機能を有する。なお、第1図をX線CT、装置と
して見り、ば、信号電流工、〜Inの部分はX線検出器
1内に構成されている。
コンデンサC1〜Coは各入カヂャンネルと回路アース
間に接続さhる。各コンデンサC−Cの電圧n ば、サンプリングスイッチS−3を介して増幅器n Uへ導入さiするとともに、リセットスイッチsrの接
点を経由して回路アースに接続される。増幅器Uの出力
は、A−D 変換器3を介して各メモリ5と7へ格納さ
れる。メモリ5と7の内容は適宜演算器11−1/i:
取り出されて所定の演算が行なわれ、演算器11の出力
からオフセソ)の除去された各信号電流11〜In力X
得られる。なお、各コンデンサ01〜Cnへ並列に加え
られている  ゛は漏れ電流を表わ11〜1n す。
以上のように構成された第1図装置の動作を第2図を参
照しながら説明する。
まず、信号電流工〜Iが入力しない前の期間に   n おいて、各チャンネルにおけるオフセット分を以下のよ
うな順序で計測する。なお、第2図において、各スイッ
チの動作を示す波形のうち1ハイルベルの期間はスイッ
チがオンであり、10−ルベルの期間はオフになってい
るものとする。
■ 第2図に示す如く、リセットスイッチSrがplに
てオンになると同時に各サンプリングスイッチS、、−
8も皆オンに動作する。従って各コンデn ンサC□〜Cnにチャージされていた電荷は放電されコ
ンデンサの電圧はゼロとなる。
■ 次に、スイッチSr及び81〜Snは皆オフとなり
、各コンデンサ01〜Cnには、オフセットに基づく電
流が流れ込み積分される。
■ 各コンデンサC工〜Cnが放電されてから時間T1
後にオずサンプリングスイッチS1がオンとなり、コン
デンサC□の電圧が読み出され増幅器UとA・Di換器
5を介して、メモリ7に格納される。
■ 次に、各コンデンサ01〜Cnが放電されてから時
間T2後にサンプリングスイッチs2がオンとなは、1
述と同様な経路を介してメモリ7に格納さhる。
(リ 以下、上述と同様な動作により、各コンデンサC
3〜Cnの電圧は総てメモリ7に格納されるQ(6) 
 次に、再びリセットスイッチSrがp2にてオンにな
ると同時に各サンプリングスイッチS□〜Snも皆オン
に動作し、コンデン01〜Cnの電圧はゼロとなる。
Q) 以下、■〜(漫の動作を繰り返えして、メモリ7
には、各チャンネルにおけるオフセットのデータが次々
と格納される。
■ 以上の動作を繰り返えすことにより、メモリ7には
、コンデンサ01〜coが放電してから各コンテンツご
とに定められた一定時間(T□、T2゜8.T)におけ
る各チャンネルのオフセットデータが格納される。
に) 次に、このメモリ7に格納されたデータを各チャ
ンネルごとに取り出し、演算器9 VCで、その平均値
を出す。例えば、コンデンサC工から得たデータばかり
を取り出して、その平均値を出し、この第1チヤンネル
のオフセット分の平均値を改めてメモリ7に格納する。
■ 以下、同様な動作により、各チャンネルごとのオフ
セット分の平均値を算出して、この平均値をメモリ7へ
格納する。
このようにして、本発明においては、信号電流■1〜工
。が入力しない期間の各チャンネルごとのオフセット分
の平均値を算出して、この値をメモリに格納しておく。
一方 信号電流工□〜lnは次のようにして1ltll
定する。
■ 第2図に示す如く、リセットスイッチSrがP3に
てオンになると同時に各サンプリングスイッチS□〜S
nも皆オンに動作して各コンデンサC□〜Cは放電され
る。
す9 次に、第2図に示す如く、各信号電流■1〜工。
が各チャンネルのコンデンサC1〜CnVC流れ込み電
圧に変換さiする。
■ コンデンサC□〜Cnが放電されてから時間T後に
スイッチS□がオンとなり、コンデンサC1の電圧デー
タが増幅器UとA’D変換器5を介してメモリ5へ格納
される。
■ 次に時間T2後にサンプリングスイッチS2がオン
となり、コンデンサC2の電圧が読み出され、その値は
、■と同様な経路を介してメモリ5へ格納される。
に)以下、■、 、14)と同様な動作により、各コン
デンサ03〜Cnの電圧は総べてメモリ5に格納される
■) このメモlJ5に格納された各チャンネルの測定
データと、メモリ7に格納された各チャンネルのオフセ
ット分は、演算器11に取り込才れ、そこで、演算処理
をされて、オフセット分が除去された真の信号電流が取
り出される。
■ 以下、各チャンネルの信号電流工〜Iが流れn 込むごとに、予めメモリ7に格納されているオフセット
分を用いて、その補正演算を行なうような動作を繰り返
見す。
なお、上述の説明では、メモリ5と7の内容を取り出し
て減算する演算器11は、デジタル演算器の如く説明し
たが、アナログ的な演算器でも本発明は成立する。もっ
とも、この場合には、演算器11の前段に、デジタル信
号をアナログ信号へ変換するためのD°Δ変換器を設け
る必要がある。
また、上述の説明では、メモリを2個別々に備えるとし
て説明したが、アドレスを分けて使えば、1個のメモリ
とすることもできる。
以上述べたように、本発明によれば、各チャンネルのオ
フセット分を予め測定して記憶しておき、信号電流を測
定するごとに、この記憶しであるオフセット分を補正泪
算用に用いているので、従来の手段と比べ電流の計測時
間を172に短縮することができ、その結果、応答性の
速い電流計測装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明圧係る電流計測装置の一実施例を示す要
部栴成図、第2図は第1図装置の各部の時間的動作関係
を示すタイムチャートである。 ■1〜工。・・・信号電流、c1〜cn・・・コンデン
サ、81〜S・・・サンプリングスイッチ、S・・・リ
セットスイッチ、U・・・増幅器、3・・・A−D変換
器、5,7・・・メモリ、9.11・・演算器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  放電された各コンデンサのそれぞれへ各チャ
    ンネルに流れる電流を一旦チャージして、この各チャー
    ジ電圧を前記放電から一定時間(T□、T2、、、T)
    後罠順に読み出すことにより各チャンネルに流れた電流
    を計測する装置において、下記(、)に記す各チャンネ
    ルのオフセット分をメモリに一旦記憶させ、各チャンネ
    ルで測定対象の信号電流を含んだ測定値を得るごとにそ
    の測定値からそのチャンネルにおける前記オフセット分
    を除去するように演算した電流計測装置。 (a)  M記各チャンネルのオフセ、)分の定義測定
    対象の信号電流が入力しない期間において、各チャンネ
    ルのコンデンサを放電させ、との放電後から各コンデン
    サごとに定められた前記一定時間(・r  ’r  、
    、、’r)と実質的に等しい期1’   2’    
      n 間前記信号電流以外の成分を各コンデンサに印加する。 そして前記一定時間(T  T  、、、T)後11 
     21      n にこのコンデンサ電圧をサンプリングし、このようなサ
    ンプリング動作を複数回繰り返えして得た場合の各チャ
    ンネルごとのコンデンサ電圧の平均値。
JP13074282A 1981-12-09 1982-07-27 電流計測装置 Granted JPS5920865A (ja)

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JP13074282A JPS5920865A (ja) 1982-07-27 1982-07-27 電流計測装置
US06/444,329 US4484340A (en) 1981-12-09 1982-11-24 Multichannel current measuring apparatus for X-ray computerized tomograph

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JPH0522872B2 JPH0522872B2 (ja) 1993-03-30

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5891341A (ja) * 1981-11-26 1983-05-31 Toyota Motor Corp 内燃機関の制御方法
JPH07501625A (ja) * 1992-03-18 1995-02-16 レイク ショアー クライオトロニクス インコーポレイテッド 試料の交流磁化率及び直流磁化の測定方法及び装置
JP2007085903A (ja) * 2005-09-22 2007-04-05 Yazaki Corp 電圧測定方法および装置
JP2015179934A (ja) * 2014-03-19 2015-10-08 セイコーエプソン株式会社 回路装置、検出装置、電子機器及び回路装置の作動方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5376865A (en) * 1976-12-20 1978-07-07 Olympus Optical Co Ltd Zero adjust circuit

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5376865A (en) * 1976-12-20 1978-07-07 Olympus Optical Co Ltd Zero adjust circuit

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5891341A (ja) * 1981-11-26 1983-05-31 Toyota Motor Corp 内燃機関の制御方法
JPH0231778B2 (ja) * 1981-11-26 1990-07-16 Toyota Motor Co Ltd
JPH07501625A (ja) * 1992-03-18 1995-02-16 レイク ショアー クライオトロニクス インコーポレイテッド 試料の交流磁化率及び直流磁化の測定方法及び装置
JP2007085903A (ja) * 2005-09-22 2007-04-05 Yazaki Corp 電圧測定方法および装置
JP4588596B2 (ja) * 2005-09-22 2010-12-01 矢崎総業株式会社 フライングキャパシタ方式電圧測定装置
JP2015179934A (ja) * 2014-03-19 2015-10-08 セイコーエプソン株式会社 回路装置、検出装置、電子機器及び回路装置の作動方法

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