JPS581295A - 測定装置 - Google Patents
測定装置Info
- Publication number
- JPS581295A JPS581295A JP9819081A JP9819081A JPS581295A JP S581295 A JPS581295 A JP S581295A JP 9819081 A JP9819081 A JP 9819081A JP 9819081 A JP9819081 A JP 9819081A JP S581295 A JPS581295 A JP S581295A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrator
- contact
- transient recorder
- frequency power
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発@はトランジェントレコーダを用いた測定装置に係
シ、特にトランジェントレコーダのサンプル周期と無関
係に高精度の上品りが可能な測定装置に関するものであ
る。
シ、特にトランジェントレコーダのサンプル周期と無関
係に高精度の上品りが可能な測定装置に関するものであ
る。
高周波加熱は、グッズマ追加熱の手段としてばかシでな
く、プラズマの温度分布、電流分布などのプラズマプロ
ファイルを制御する手段としてきわめて有力な方法であ
るが、このためには高周波電力を十分な精度で一1定す
る必要がある。
く、プラズマの温度分布、電流分布などのプラズマプロ
ファイルを制御する手段としてきわめて有力な方法であ
るが、このためには高周波電力を十分な精度で一1定す
る必要がある。
高周波加熱装置においては一般に、4ニーした高周波電
力のデータを、l’lJIM規格、OAMAO規格ナト
のトランジェントレコーダ番モジュールのメモリに一旦
記憶する方式がとられてμる。メモリに記憶さ6れたデ
ータは、放電体止時間に計算機へ転送され、必要なデー
タ処理が行なわれる。
力のデータを、l’lJIM規格、OAMAO規格ナト
のトランジェントレコーダ番モジュールのメモリに一旦
記憶する方式がとられてμる。メモリに記憶さ6れたデ
ータは、放電体止時間に計算機へ転送され、必要なデー
タ処理が行なわれる。
従来の高周波電力測定装置においては、検波特性補償器
の出力をそのままトランジェントレコーダに入力してい
九〇第1図に従来方式による測定装置のブーツタ線図を
示す。
の出力をそのままトランジェントレコーダに入力してい
九〇第1図に従来方式による測定装置のブーツタ線図を
示す。
第1IIにお−て1は検波器、2/fi、検波電圧増幅
器、3は検波特性の非直線性を補償する補償器、4はト
ランジェントレコーダ、5社メモリ、6はサンプル開始
信号88が入力すると周期’l”c+cで一定期間りp
ツク信号OK t−) ?ンジエントレコーダへ出力す
るクロックパルスゼネレータである。
器、3は検波特性の非直線性を補償する補償器、4はト
ランジェントレコーダ、5社メモリ、6はサンプル開始
信号88が入力すると周期’l”c+cで一定期間りp
ツク信号OK t−) ?ンジエントレコーダへ出力す
るクロックパルスゼネレータである。
このような従来方式の高周波電力測定装置においては、
測定する高周波電力が高速で変化する場合、又は十分な
精度で電力のモニタを行う場合は高速のトランジェント
レコーダを使用してサンプル周期を短くする必要がある
ばかシでなく、多量のメモリが必要とされた。
測定する高周波電力が高速で変化する場合、又は十分な
精度で電力のモニタを行う場合は高速のトランジェント
レコーダを使用してサンプル周期を短くする必要がある
ばかシでなく、多量のメモリが必要とされた。
たとえば0.1m5ec でサンプリングを行な鱒、
10秒間データt−収集すると%11定点あた夛必要な
メモリ容量は100 KWとなる。さらに高周波加熱装
置では、高周波電力の測定点数は非常に多いため、全測
定点では多量のメモリが必要とされる。
10秒間データt−収集すると%11定点あた夛必要な
メモリ容量は100 KWとなる。さらに高周波加熱装
置では、高周波電力の測定点数は非常に多いため、全測
定点では多量のメモリが必要とされる。
本発明の目的は、従来の測定装置の上記欠点を解消する
ことKToシ、トランジェントレコーダのサンプル周期
と無関係に、高精度の測定が可能な測定装置を提供する
ことにある。
ことKToシ、トランジェントレコーダのサンプル周期
と無関係に、高精度の測定が可能な測定装置を提供する
ことにある。
以下、本発明を第2図に示す一実施例について説明する
。
。
第2図において、1は高周波電力管測定する検波器、2
は検波電圧を増幅する増幅器、3は検波特性の非直線性
を補償する補償器、4はトランジェントレコーダ、5は
メモリ、6はクロックパルスジェネレータ、7は本発明
で検波特性補償器3とトランジェントレコーダ4の間に
入れられた積分回路である。
は検波電圧を増幅する増幅器、3は検波特性の非直線性
を補償する補償器、4はトランジェントレコーダ、5は
メモリ、6はクロックパルスジェネレータ、7は本発明
で検波特性補償器3とトランジェントレコーダ4の間に
入れられた積分回路である。
積分回路7において、8m、8bは同一特性のアナpグ
積分器、9虐*9b、16a、1(lb611 は高
速で動作するアナ胃グスイッチである。アナログスイッ
チは論理入力″″01でそれぞれの接点3と接点lが接
続され、論理入力Zlで接点3と接点2が接続される。
積分器、9虐*9b、16a、1(lb611 は高
速で動作するアナ胃グスイッチである。アナログスイッ
チは論理入力″″01でそれぞれの接点3と接点lが接
続され、論理入力Zlで接点3と接点2が接続される。
また12はクロックパルスジェネレータ6からクロック
信号OKを受けて必要なタイイング信号T81.T82
.T83.Ta2 を発生するタイ、ンング回路で、
J−に7リツプフロツプ13、入カバルスの立上がシで
動作し、パルス幅TOの単パルスを発生する単パルス発
生回路14.R−871Jツブ70ツブ15、ORゲー
H6、ANDゲート17で構成される。
信号OKを受けて必要なタイイング信号T81.T82
.T83.Ta2 を発生するタイ、ンング回路で、
J−に7リツプフロツプ13、入カバルスの立上がシで
動作し、パルス幅TOの単パルスを発生する単パルス発
生回路14.R−871Jツブ70ツブ15、ORゲー
H6、ANDゲート17で構成される。
次にM2図の動作について説明する。第3図にサンプル
開始信号SS1リセツト信号RT1り日ツク信号OK、
タイ建ノグ信号T8j、Ta2 、Ta3 、Ta2の
関係を示す。
開始信号SS1リセツト信号RT1り日ツク信号OK、
タイ建ノグ信号T8j、Ta2 、Ta3 、Ta2の
関係を示す。
サンプル休止期間はT81〜TS4は論理10ルベルに
あシ、積分器8m、8bの入力はスイッチ9m。
あシ、積分器8m、8bの入力はスイッチ9m。
9bによってグランド側に短絡されて9る。積分用コン
デンサはスイッチ101.lObにより短絡され、放電
状態にある。サンプル開始信号SSが入力されるとR−
8フリツグ70ツブ15の出力FOは論理″″lIlI
レベルゲート17t−イネーブルとする。
デンサはスイッチ101.lObにより短絡され、放電
状態にある。サンプル開始信号SSが入力されるとR−
8フリツグ70ツブ15の出力FOは論理″″lIlI
レベルゲート17t−イネーブルとする。
クロックパルスジェネレータ6は一定Jiff 期Tc
xでクロックパルスOK t−出力し、これからタイ建
ング信号T81〜T84が作られる。#I3図にお−て
時間区分Aではアナログスイッチ91の接点3は接点2
に接続され、積分器8aで高周波電力の測定値の積分が
行なわれる。
xでクロックパルスOK t−出力し、これからタイ建
ング信号T81〜T84が作られる。#I3図にお−て
時間区分Aではアナログスイッチ91の接点3は接点2
に接続され、積分器8aで高周波電力の測定値の積分が
行なわれる。
一方、時間区公人のうち、区間A1ではアナログスイッ
チ9bの接点3は接点1に接続されておシ、したがって
積分器8bの出力は、1つ前の区間Bにおける積分値が
保持される。また区間Alではアナログスイッチ10b
の接点3は接点2に接続されて積分器8aの出力がトラ
ンジェントレコーダ4によってA/D変換され、区間A
2では積分器8bがリセットされて次の時間区分Bの積
分に備える。
チ9bの接点3は接点1に接続されておシ、したがって
積分器8bの出力は、1つ前の区間Bにおける積分値が
保持される。また区間Alではアナログスイッチ10b
の接点3は接点2に接続されて積分器8aの出力がトラ
ンジェントレコーダ4によってA/D変換され、区間A
2では積分器8bがリセットされて次の時間区分Bの積
分に備える。
時間区分Bでは、アナログスイッチ9bの接点3は接点
2に接続され積分器8bで高周波電力の測定値の積分が
行なわれる。区間B1では積分M8aの出力として1つ
前の区間Aにおける積分値が保持され、積分器8mの出
力がトラ7ジエントレコーダ4によってA/D変換嘔れ
、区間B2で積分器8aはリセットされる。
2に接続され積分器8bで高周波電力の測定値の積分が
行なわれる。区間B1では積分M8aの出力として1つ
前の区間Aにおける積分値が保持され、積分器8mの出
力がトラ7ジエントレコーダ4によってA/D変換嘔れ
、区間B2で積分器8aはリセットされる。
以上の動作を繰り返すことによって、トランジェントレ
コーダには常に1つ前のサンプル区間における高周波電
力の積分値が得られることになる。
コーダには常に1つ前のサンプル区間における高周波電
力の積分値が得られることになる。
従って高周波電力の時間的変化に比較して積分器8m、
8bの周波数帯斌を十分広くとると、トランジェントレ
コーダのサンプル周期とは無関係に子分な精度で高周波
電力の測定を行うことが可能であるO サンプル終了後はリセット信号BTによってR−Sフリ
ッグ70ツノ15の出力FOは再びし理0 レベルと、
なシ、Tax〜TS4もI&理10ルべ□ ルとなシ、
積分器8a 、8bがリセットされるととも。
8bの周波数帯斌を十分広くとると、トランジェントレ
コーダのサンプル周期とは無関係に子分な精度で高周波
電力の測定を行うことが可能であるO サンプル終了後はリセット信号BTによってR−Sフリ
ッグ70ツノ15の出力FOは再びし理0 レベルと、
なシ、Tax〜TS4もI&理10ルべ□ ルとなシ、
積分器8a 、8bがリセットされるととも。
に、その入力はグランド側に短絡される。
上記実施例では2台の積分器8m、8bを使用したが、
サンプル周期TCKに比較してトランジ−エンドレコー
ダ4のA/D変換時間、積分器のリセット時間が十分小
さく、 が成シ立つ場合は、積分器1台p#I成とすることも可
能である。ただし、上式でP (t)は高周波電力の時
刻tにおける測定値、TはA/D変換、積分器′のリセ
ットに要する時間である。
サンプル周期TCKに比較してトランジ−エンドレコー
ダ4のA/D変換時間、積分器のリセット時間が十分小
さく、 が成シ立つ場合は、積分器1台p#I成とすることも可
能である。ただし、上式でP (t)は高周波電力の時
刻tにおける測定値、TはA/D変換、積分器′のリセ
ットに要する時間である。
積分器を1台とした構成の一実施例を#I4図に示す。
第4図において7は積分回路、12はクロックパルスジ
ェネレータ6からクロック信号0Kt−受けて必要なタ
イミング回路TS5.T861に発生するタイミング回
路である。タイミング回路12におμて14a、14b
は入力パルスの立上がシで動作し、出力パルス幅がそれ
ぞれTI 、T2の単パルス発生回路、18はANDゲ
ートである。
ェネレータ6からクロック信号0Kt−受けて必要なタ
イミング回路TS5.T861に発生するタイミング回
路である。タイミング回路12におμて14a、14b
は入力パルスの立上がシで動作し、出力パルス幅がそれ
ぞれTI 、T2の単パルス発生回路、18はANDゲ
ートである。
第5図にサンプル開始信号SS1リセツト信号RT1ク
ロック信号OK、タイミング信号T85゜T2Oの関係
を示す。
ロック信号OK、タイミング信号T85゜T2Oの関係
を示す。
サンプル休止期間はTa2.T!3θは論理10ルベル
にあシ、積分器8mの入力はスイッチ9aによってグラ
ンド側に短絡されている。積分用コンデンサはスイッチ
10!Iによシ短絡され、放電状悪におる0サンプル開
始信号SSが入力するとR−8ツリツグフロツプ15の
出力FOは論理+11ルベルとなシ、ゲート17t−イ
ネーブルとする。クロックパルスジェネレータは定周期
TcxでクロックパルスOKを出力し、これからタイミ
ング信号T85.T86が作られる。
にあシ、積分器8mの入力はスイッチ9aによってグラ
ンド側に短絡されている。積分用コンデンサはスイッチ
10!Iによシ短絡され、放電状悪におる0サンプル開
始信号SSが入力するとR−8ツリツグフロツプ15の
出力FOは論理+11ルベルとなシ、ゲート17t−イ
ネーブルとする。クロックパルスジェネレータは定周期
TcxでクロックパルスOKを出力し、これからタイミ
ング信号T85.T86が作られる。
第5図において、区間Cではアナログスイッチ9aの接
点3は接点2に接続され、積分器8aで為周波電力の測
定値の積分が行なわれる。区間りではアナログスイッチ
9aの接点3は接点IK接続され積分器81の出力は、
区間Cにおける積分値が保持される。同時にトランジェ
ントレコーダ4によってA/D変換が行なわれる。区間
Eでは積分器8mがリセットされる。
点3は接点2に接続され、積分器8aで為周波電力の測
定値の積分が行なわれる。区間りではアナログスイッチ
9aの接点3は接点IK接続され積分器81の出力は、
区間Cにおける積分値が保持される。同時にトランジェ
ントレコーダ4によってA/D変換が行なわれる。区間
Eでは積分器8mがリセットされる。
サンプル終了後はリセット信号RTによ、9R−87リ
ツプフロツプ15の出力FOは論m ’o’レベルとな
シ、Ta2.T2Oも論理10ルベルとなって積分器8
mがリセットされるとともに、その入力はグランド側に
短絡される。
ツプフロツプ15の出力FOは論m ’o’レベルとな
シ、Ta2.T2Oも論理10ルベルとなって積分器8
mがリセットされるとともに、その入力はグランド側に
短絡される。
以上説明したように本発明によれば、簡単な積分回路と
タイミング回路を追加することによシ、トランジェント
レコーダのす゛ンプル周期と無関係に高精度のモニタが
可能となシ、結果としてサンプル周期を長くとることに
よって使用するメモリ量を減少させることも可能である
。
タイミング回路を追加することによシ、トランジェント
レコーダのす゛ンプル周期と無関係に高精度のモニタが
可能となシ、結果としてサンプル周期を長くとることに
よって使用するメモリ量を減少させることも可能である
。
第1図は従来方式の装置の構成を示すプシツク1sFy
J%#2図は本発明の一実施例による装置の構成を示す
ブロック線図、第3図は館2図の動作を゛示すタイミン
グ図、第4図は本発明の他の実施例による装置の構成を
示すブロック線図、第5図は第4図の動作を示すタイミ
ング図である。 1・・・検波器、2・・・検波電圧増幅器、3・・・検
波特性補償器、4・・・トランジェントレコーダ、5・
・・メモリ、6・・・クロックパルスジェネレータ、7
・・・積分回路、8m、8b−・7taダ積分器、9m
、9b、10m。 10b、11・・・アナログスイッチ、12・・・タイ
ミング回路、13−J−にフリップ70ツブ、14 、
14a、14b・・・単パルス発生回路、15・・・R
−87リツプフシツプ、16・・・ORf &−)、1
7.18・・・ANDゲート6(7317)代理人弁履
士 則 近 憲 佑(ほか1名)jlllBg 第2図
J%#2図は本発明の一実施例による装置の構成を示す
ブロック線図、第3図は館2図の動作を゛示すタイミン
グ図、第4図は本発明の他の実施例による装置の構成を
示すブロック線図、第5図は第4図の動作を示すタイミ
ング図である。 1・・・検波器、2・・・検波電圧増幅器、3・・・検
波特性補償器、4・・・トランジェントレコーダ、5・
・・メモリ、6・・・クロックパルスジェネレータ、7
・・・積分回路、8m、8b−・7taダ積分器、9m
、9b、10m。 10b、11・・・アナログスイッチ、12・・・タイ
ミング回路、13−J−にフリップ70ツブ、14 、
14a、14b・・・単パルス発生回路、15・・・R
−87リツプフシツプ、16・・・ORf &−)、1
7.18・・・ANDゲート6(7317)代理人弁履
士 則 近 憲 佑(ほか1名)jlllBg 第2図
Claims (1)
- 所定のサンプル周期でデータを計数するトランジェント
レコーダを用いてデータを収集する測定装置におiて、
トランジェントレコーダの前段ニ上記サンプル周期に同
期してリセットされサンプル周期ごとにデータを積分す
る積分回路を備え、トランジェントレコーダが上記サン
プル周期ごとに上記積分回路の積分値を計数することを
特徴とする測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9819081A JPS581295A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9819081A JPS581295A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS581295A true JPS581295A (ja) | 1983-01-06 |
Family
ID=14213087
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9819081A Pending JPS581295A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS581295A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0529377Y2 (ja) * | 1987-10-30 | 1993-07-28 |
-
1981
- 1981-06-26 JP JP9819081A patent/JPS581295A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0529377Y2 (ja) * | 1987-10-30 | 1993-07-28 |
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