JP2000121679A - 電子式電力量計のテスト方法及び電子式電力量計 - Google Patents
電子式電力量計のテスト方法及び電子式電力量計Info
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- JP2000121679A JP2000121679A JP10301726A JP30172698A JP2000121679A JP 2000121679 A JP2000121679 A JP 2000121679A JP 10301726 A JP10301726 A JP 10301726A JP 30172698 A JP30172698 A JP 30172698A JP 2000121679 A JP2000121679 A JP 2000121679A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
- G01R35/04—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass of instruments for measuring time integral of power or current
Abstract
(57)【要約】
【課題】 電子式電力量計のテスト時間を短縮する。
【解決手段】 瞬時電力のデジタル値をサンプリング信
号に基づいて得て、電力量に応じた電力量パルスを電子
的に発生する電子式電力量計の、テスト時間での電力量
パルス数をテストする方法であって、テスト時に測定対
象として入力されるテスト電圧ｖ、テスト電流ｉの周波
数を商用周波数より高く設定し、かつ、分周器７より出
力され、設定器８により選択されるテスト用のサンプリ
ング信号Ｓ2 の周波数も前記テスト電圧、テスト電流の
周波数の増加に比例して高く設定するようにしている。
号に基づいて得て、電力量に応じた電力量パルスを電子
的に発生する電子式電力量計の、テスト時間での電力量
パルス数をテストする方法であって、テスト時に測定対
象として入力されるテスト電圧ｖ、テスト電流ｉの周波
数を商用周波数より高く設定し、かつ、分周器７より出
力され、設定器８により選択されるテスト用のサンプリ
ング信号Ｓ2 の周波数も前記テスト電圧、テスト電流の
周波数の増加に比例して高く設定するようにしている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、テスト時間での電
子式電力量計にて発生される電力量パルスの数が規定ど
おりであるか否かのテスト方法及びこのテストを行うの
に適した電子式電力量計に関するものである。
子式電力量計にて発生される電力量パルスの数が規定ど
おりであるか否かのテスト方法及びこのテストを行うの
に適した電子式電力量計に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図５に示されるものは、従来の電子式電
力量計用ＬＳＩの等価回路構成を示すものである。１は
測定対象の電圧ｖをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器、２は
測定対象の電流ｉをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器、３は
乗算器、４は累積加算器、５はパルス発生器、６は発振
器、７はサンプリング信号を出力する分周器である。
力量計用ＬＳＩの等価回路構成を示すものである。１は
測定対象の電圧ｖをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器、２は
測定対象の電流ｉをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器、３は
乗算器、４は累積加算器、５はパルス発生器、６は発振
器、７はサンプリング信号を出力する分周器である。
【０００３】Ａ／Ｄ変換器１，２によりアナログ値の電
圧ｖ、アナログ値の電流ｉはそれぞれデジタル電圧信
号、デジタル電流信号に変換され、これらの信号は乗算
器３において乗算され、デジタル値の電力データに変換
される。累積加算器４は乗算器３からの電力データを累
積加算すると共に、その累積加算値が予め定められた出
力基準値（１個の電力量パルスに相当する電力に対応す
る電力データの値）以上になると、パルス発生器５に１
個の電力量パルスの発生を指令し、電力量パルス１個に
相当する電力データを累積加算値から差し引く。
圧ｖ、アナログ値の電流ｉはそれぞれデジタル電圧信
号、デジタル電流信号に変換され、これらの信号は乗算
器３において乗算され、デジタル値の電力データに変換
される。累積加算器４は乗算器３からの電力データを累
積加算すると共に、その累積加算値が予め定められた出
力基準値（１個の電力量パルスに相当する電力に対応す
る電力データの値）以上になると、パルス発生器５に１
個の電力量パルスの発生を指令し、電力量パルス１個に
相当する電力データを累積加算値から差し引く。
【０００４】分周器７のサプリング信号は、Ａ／Ｄ変換
器１，２及び累積加算器４に供給される。
器１，２及び累積加算器４に供給される。
【０００５】累積加算器４の累積加算値が０から出力基
準値以上となるまでの時間は、瞬時電力が大きい程短く
なるため、パルス発生指令の出力頻度は瞬時電力が大き
い程高くなり、これによって電力値に応じた電力量パル
ス列がパルス発生器５から出力される。電力量パルスは
この電子式電力量計の電力量表示や精度試験に使用され
る。
準値以上となるまでの時間は、瞬時電力が大きい程短く
なるため、パルス発生指令の出力頻度は瞬時電力が大き
い程高くなり、これによって電力値に応じた電力量パル
ス列がパルス発生器５から出力される。電力量パルスは
この電子式電力量計の電力量表示や精度試験に使用され
る。
【０００６】最近の電子式電力量計はデジタル回路を多
用しているため、デジタル回路をＬＳＩ等に集積化する
傾向がある。電子式電力量計用ＬＳＩの出荷試験におい
ても、電力量パルス列を用いて精度を確認している。
用しているため、デジタル回路をＬＳＩ等に集積化する
傾向がある。電子式電力量計用ＬＳＩの出荷試験におい
ても、電力量パルス列を用いて精度を確認している。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】図５のＡ／Ｄ変換器
１，２に入力する電圧ｖ及び電流ｉの周波数を図６
（ａ）（ｂ）に示されるように商用周波数とした場合、
電力ｖｉのアナログ値は図６（ｃ）のようになり、その
時、パルス発生器５から出力される電力量パルスは図６
（ｄ）のようになり、商用周波数の１周期内で疎密のパ
ルスとなる。
１，２に入力する電圧ｖ及び電流ｉの周波数を図６
（ａ）（ｂ）に示されるように商用周波数とした場合、
電力ｖｉのアナログ値は図６（ｃ）のようになり、その
時、パルス発生器５から出力される電力量パルスは図６
（ｄ）のようになり、商用周波数の１周期内で疎密のパ
ルスとなる。
【０００８】このような電力量パルス列を用いて短時間
で電子式電力量計用ＬＳＩの出荷試験を行おうとする場
合、電力量計パルス列が商用周波数の１周期内において
疎密となっているために、テスト時間でのパルス出力数
にバラツキが生じ、その結果、測定精度が悪くなるとい
う問題点がある。このため、疎密な電力量パルス列の影
響を軽減するために、電子式電力量計用ＬＳＩ１個当り
のテスト時間を１０秒程度かける必要があった。したが
って、大量の製品の出荷試験をする場合に、テスト時間
が長くかかり、製品の低価格化及び生産の迅速化を妨げ
ていた。（発明の目的）本発明の目的は、テスト時間を
短縮することができる電子式電力量計のテスト方法及び
電子式電力量計を提供することである。
で電子式電力量計用ＬＳＩの出荷試験を行おうとする場
合、電力量計パルス列が商用周波数の１周期内において
疎密となっているために、テスト時間でのパルス出力数
にバラツキが生じ、その結果、測定精度が悪くなるとい
う問題点がある。このため、疎密な電力量パルス列の影
響を軽減するために、電子式電力量計用ＬＳＩ１個当り
のテスト時間を１０秒程度かける必要があった。したが
って、大量の製品の出荷試験をする場合に、テスト時間
が長くかかり、製品の低価格化及び生産の迅速化を妨げ
ていた。（発明の目的）本発明の目的は、テスト時間を
短縮することができる電子式電力量計のテスト方法及び
電子式電力量計を提供することである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１記載の本発明は、瞬時電力のデジタル値を
サンプリング信号に基づいて得て、電力量に応じた電力
量パルスを電子的に発生する電子式電力量計の、テスト
時間での電力量パルス数をテストする方法であって、テ
スト時に測定対象として入力されるテスト電圧、テスト
電流の周波数を商用周波数より高く設定し、かつ、前記
サンプリング信号の周波数も前記テスト電圧、テスト電
流の周波数の増加に比例して高く設定するようにしたこ
とを特徴とするものである。
に、請求項１記載の本発明は、瞬時電力のデジタル値を
サンプリング信号に基づいて得て、電力量に応じた電力
量パルスを電子的に発生する電子式電力量計の、テスト
時間での電力量パルス数をテストする方法であって、テ
スト時に測定対象として入力されるテスト電圧、テスト
電流の周波数を商用周波数より高く設定し、かつ、前記
サンプリング信号の周波数も前記テスト電圧、テスト電
流の周波数の増加に比例して高く設定するようにしたこ
とを特徴とするものである。
【００１０】また、上記目的を達成するために、請求項
２記載の本発明は、瞬時電力のデジタル値をサンプリン
グ信号に基づいて得て、電力量に応じた電力量パルスを
電子的に発生する電子式電力量計において、定常時用の
サンプリング信号を発生すると共に、定常時用のサンプ
リング信号の周波数よりも高いテスト時用のサンプリン
グ信号を発生するサンプリング信号発生手段と、定常時
にはサンプリング信号として前記定常時用のサンプリン
グ信号を選択し、テスト時には前記テスト時用のサンプ
リング信号を選択する設定手段とを有することを特徴と
するものである。
２記載の本発明は、瞬時電力のデジタル値をサンプリン
グ信号に基づいて得て、電力量に応じた電力量パルスを
電子的に発生する電子式電力量計において、定常時用の
サンプリング信号を発生すると共に、定常時用のサンプ
リング信号の周波数よりも高いテスト時用のサンプリン
グ信号を発生するサンプリング信号発生手段と、定常時
にはサンプリング信号として前記定常時用のサンプリン
グ信号を選択し、テスト時には前記テスト時用のサンプ
リング信号を選択する設定手段とを有することを特徴と
するものである。
【００１１】
【発明の実施の形態】図１は、本発明のテスト方法を実
施するデジタル乗算方式の単相電子式電力量計用ＬＳＩ
の等価回路構成の一形態を示す図である。なお、この図
では、ＬＳＩ以外の部分である電力量パルスを計数する
計量部分や、電力量を表示する表示部分などは省略され
ている。
施するデジタル乗算方式の単相電子式電力量計用ＬＳＩ
の等価回路構成の一形態を示す図である。なお、この図
では、ＬＳＩ以外の部分である電力量パルスを計数する
計量部分や、電力量を表示する表示部分などは省略され
ている。
【００１２】１〜７は図５に示されるものと同一であ
り、１は測定対象の電圧ｖをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換
器、２は測定対象の電流ｉをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換
器、３は乗算器、４は累積加算器、５はパルス発生器、
６は発振器、７はサンプリング信号を出力するサンプリ
ング信号発生手段を構成する分周器である。但し、分周
器７は、定常用のサンプリング信号Ｓ1 とテスト用のサ
ンプリング信号Ｓ2 を発振器６からのサンプリング源信
号を分周することによって発生する。８は設定手段を構
成する設定器で、スイッチ或いはマイクロコンピュータ
等から構成される操作部材９の操作により定常用のサン
プリング信号Ｓ1 とテスト用のサンプリング信号Ｓ2 の
いずれかを選択し、Ａ／Ｄ変換器１，２及び累積加算器
４に供給するものである。
り、１は測定対象の電圧ｖをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換
器、２は測定対象の電流ｉをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換
器、３は乗算器、４は累積加算器、５はパルス発生器、
６は発振器、７はサンプリング信号を出力するサンプリ
ング信号発生手段を構成する分周器である。但し、分周
器７は、定常用のサンプリング信号Ｓ1 とテスト用のサ
ンプリング信号Ｓ2 を発振器６からのサンプリング源信
号を分周することによって発生する。８は設定手段を構
成する設定器で、スイッチ或いはマイクロコンピュータ
等から構成される操作部材９の操作により定常用のサン
プリング信号Ｓ1 とテスト用のサンプリング信号Ｓ2 の
いずれかを選択し、Ａ／Ｄ変換器１，２及び累積加算器
４に供給するものである。
【００１３】図１の点線で囲まれた部分が電子式電力量
計用ＬＳＩ１０に含まれる。設定器８は電子式電力量計
用ＬＳＩ１０に含まれていなくても良く、電子式電力量
計の内部に含まれるものであれば良い。操作部材９は電
子式電力量計用ＬＳＩ１０の外部にあって、電子式電力
量計の内部或いは外部に設けられるものである。
計用ＬＳＩ１０に含まれる。設定器８は電子式電力量計
用ＬＳＩ１０に含まれていなくても良く、電子式電力量
計の内部に含まれるものであれば良い。操作部材９は電
子式電力量計用ＬＳＩ１０の外部にあって、電子式電力
量計の内部或いは外部に設けられるものである。
【００１４】定常用のサンプリング信号Ｓ1 の周波数
は、定常時にＡ／Ｄ変換器１，２に入力される電圧ｖ及
び電流ｉの商用周波数に対して適した従来通りのサンプ
リング周波数に定められる。そして、テスト用のサンプ
リング信号Ｓ2 の周波数は、定常用のサンプリング信号
Ｓ1 の周波数よりも高く、例えば、ｎ倍に設定され、テ
スト時に測定対象としてＡ／Ｄ変換器１，２に入力され
るテスト電圧ｖ及びテスト電流ｉの周波数もサンプリン
グ信号の倍率と同じ倍率で商用周波数よりも高く、例え
ば、ｎ倍に設定される。
は、定常時にＡ／Ｄ変換器１，２に入力される電圧ｖ及
び電流ｉの商用周波数に対して適した従来通りのサンプ
リング周波数に定められる。そして、テスト用のサンプ
リング信号Ｓ2 の周波数は、定常用のサンプリング信号
Ｓ1 の周波数よりも高く、例えば、ｎ倍に設定され、テ
スト時に測定対象としてＡ／Ｄ変換器１，２に入力され
るテスト電圧ｖ及びテスト電流ｉの周波数もサンプリン
グ信号の倍率と同じ倍率で商用周波数よりも高く、例え
ば、ｎ倍に設定される。
【００１５】定常時には、設定器８は定常時のサンプリ
ング信号Ｓ1 を選択し、これによってサンプリング信号
がＳ1 に設定される。
ング信号Ｓ1 を選択し、これによってサンプリング信号
がＳ1 に設定される。
【００１６】定常時の動作は図５のものと同様である。
Ａ／Ｄ変換器１，２によりアナログ値の電圧ｖ、アナロ
グ値の電流ｉはそれぞれデジタル電圧信号、デジタル電
流信号に変換され、これらの信号は乗算器３において乗
算され、デジタル値の電力データに変換される。累積加
算器４は乗算器３からの電力データを累積加算すると共
に、その累積加算値が予め定められた出力基準値（１個
の電力量パルスに相当する電力に対応する電力データの
値）以上になると、パルス発生器５に１個の電力量パル
スの発生を指令し、電力量パルス１個に相当する電力デ
ータを累積加算値から差し引く。パルス発生器５は電力
量パルスを出力し、この電力量パルスは後段の回路によ
り計数されて、電力量として表示され、電力量計の外部
に出力される。
Ａ／Ｄ変換器１，２によりアナログ値の電圧ｖ、アナロ
グ値の電流ｉはそれぞれデジタル電圧信号、デジタル電
流信号に変換され、これらの信号は乗算器３において乗
算され、デジタル値の電力データに変換される。累積加
算器４は乗算器３からの電力データを累積加算すると共
に、その累積加算値が予め定められた出力基準値（１個
の電力量パルスに相当する電力に対応する電力データの
値）以上になると、パルス発生器５に１個の電力量パル
スの発生を指令し、電力量パルス１個に相当する電力デ
ータを累積加算値から差し引く。パルス発生器５は電力
量パルスを出力し、この電力量パルスは後段の回路によ
り計数されて、電力量として表示され、電力量計の外部
に出力される。
【００１７】テスト時には、操作部材９の操作により設
定器８にテスト用のサンプリング信号Ｓ2 を選択させ、
これによってサンプリング信号がＳ2 に設定される。
定器８にテスト用のサンプリング信号Ｓ2 を選択させ、
これによってサンプリング信号がＳ2 に設定される。
【００１８】テスト時には、Ａ／Ｄ変換器１，２に、商
用周波数のｎ倍の周波数のテスト電圧ｖ、テスト電流ｉ
が入力され、それぞれデジタル電圧信号、デジタル電流
信号に変換される。これらのデジタル信号は乗算器３に
おいて乗算され、デジタル値の電力データに変換され
る。累積加算器４は乗算器３からの電力データを累積加
算すると共に、その累積加算値が予め定められた出力基
準値以上になると、パルス発生器５に１個の電力量パル
スの発生を指令し、電力量パルス１個に相当する電力デ
ータを累積加算値から差し引く。パルス発生器５は電力
量パルスを出力する。
用周波数のｎ倍の周波数のテスト電圧ｖ、テスト電流ｉ
が入力され、それぞれデジタル電圧信号、デジタル電流
信号に変換される。これらのデジタル信号は乗算器３に
おいて乗算され、デジタル値の電力データに変換され
る。累積加算器４は乗算器３からの電力データを累積加
算すると共に、その累積加算値が予め定められた出力基
準値以上になると、パルス発生器５に１個の電力量パル
スの発生を指令し、電力量パルス１個に相当する電力デ
ータを累積加算値から差し引く。パルス発生器５は電力
量パルスを出力する。
【００１９】定常用のサンプリング信号Ｓ1 に対するテ
スト用のサンプリング信号2 の倍率を例えば２倍（ｎ＝
２）に設定したとすると、テスト電圧ｖ、テスト電流ｉ
の周波数も商用周波数の２倍に設定され、図２（ａ）
（ｂ）のようになる。電力ｖｉのアナログ値は図２
（ｃ）のようになり、その時、パルス発生器５から出力
される電力量パルスは図２（ｄ）のようになり、テスト
電圧ｖ、テスト電流ｉの１周期内で疎密のパルスとな
る。
スト用のサンプリング信号2 の倍率を例えば２倍（ｎ＝
２）に設定したとすると、テスト電圧ｖ、テスト電流ｉ
の周波数も商用周波数の２倍に設定され、図２（ａ）
（ｂ）のようになる。電力ｖｉのアナログ値は図２
（ｃ）のようになり、その時、パルス発生器５から出力
される電力量パルスは図２（ｄ）のようになり、テスト
電圧ｖ、テスト電流ｉの１周期内で疎密のパルスとな
る。
【００２０】サンプリング周波数が２倍になる時は、テ
スト電圧ｖ、テスト電流ｉの周波数も商用周波数の２倍
となるので、テスト電圧ｖ、テスト電流ｉの１周期当り
のサンプル数は同数となる。また、累積加算器４の出力
基準値は変更されていない。したがって、テスト電圧
ｖ、テスト電流ｉの１周期の電力量パルスの数はサンプ
リング周波数の倍率が２倍になっても、或いは何倍にな
っても、電圧ｖ、電流ｉが商用周波数の場合と同数とな
る。そして、テスト電圧ｖ、テスト電流ｉの１周期は１
／２（即ち１／ｎ）となるので、テスト時間を１／２
（１／ｎ）に短縮することができる。
スト電圧ｖ、テスト電流ｉの周波数も商用周波数の２倍
となるので、テスト電圧ｖ、テスト電流ｉの１周期当り
のサンプル数は同数となる。また、累積加算器４の出力
基準値は変更されていない。したがって、テスト電圧
ｖ、テスト電流ｉの１周期の電力量パルスの数はサンプ
リング周波数の倍率が２倍になっても、或いは何倍にな
っても、電圧ｖ、電流ｉが商用周波数の場合と同数とな
る。そして、テスト電圧ｖ、テスト電流ｉの１周期は１
／２（即ち１／ｎ）となるので、テスト時間を１／２
（１／ｎ）に短縮することができる。
【００２１】図１に示されるＡ／Ｄ変換器１，２とし
て、図３に示されるように、ΔΣ変調器１１，１２及び
デジタルフィルタ１３，１４により構成されたものを用
いることができる。
て、図３に示されるように、ΔΣ変調器１１，１２及び
デジタルフィルタ１３，１４により構成されたものを用
いることができる。
【００２２】また、図４に示されるように、設定器８は
発振器６と分周器７の間に位置し、操作部材９の操作に
より設定器８が発振器６と電子式電力量計用ＬＳＩの外
部にある外部発振器１５のいずれかを選択することによ
って、分周器７の出力をサンプリング信号Ｓ1 ，Ｓ2 の
いずれかに設定させるようにすることもできる。
発振器６と分周器７の間に位置し、操作部材９の操作に
より設定器８が発振器６と電子式電力量計用ＬＳＩの外
部にある外部発振器１５のいずれかを選択することによ
って、分周器７の出力をサンプリング信号Ｓ1 ，Ｓ2 の
いずれかに設定させるようにすることもできる。
【００２３】なお、図１、 図３及び図４では、測定対象
の電圧ｖと電流ｉをデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器
を用いて、デジタル乗算を行うデジタル乗算方式の電子
式電力量計に適用するテスト方法について説明したが、
電流ｉと電圧ｖをアナログ乗算し、このアナログ乗算値
をデジタル値に変換するアナログ乗算方式の電子式電力
量計にも全く同様に適用することができる。
の電圧ｖと電流ｉをデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器
を用いて、デジタル乗算を行うデジタル乗算方式の電子
式電力量計に適用するテスト方法について説明したが、
電流ｉと電圧ｖをアナログ乗算し、このアナログ乗算値
をデジタル値に変換するアナログ乗算方式の電子式電力
量計にも全く同様に適用することができる。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１または請
求項２に記載の本発明によれば、テスト時間を短縮する
ことができる。
求項２に記載の本発明によれば、テスト時間を短縮する
ことができる。
【図１】本発明を実施するデジタル乗算方式の電子式電
力量計用ＬＳＩの等価回路構成の一形態を示す図であ
る。
力量計用ＬＳＩの等価回路構成の一形態を示す図であ
る。
【図２】図１の電子式電力量計用ＬＳＩにおける信号波
形を示す図である。
形を示す図である。
【図３】本発明を実施するデジタル乗算方式の電子式電
力量計用ＬＳＩの等価回路構成の他の形態を示す図であ
る。
力量計用ＬＳＩの等価回路構成の他の形態を示す図であ
る。
【図４】本発明を実施するデジタル乗算方式の電子式電
力量計用ＬＳＩの等価回路構成の別の形態を示す図であ
る。
力量計用ＬＳＩの等価回路構成の別の形態を示す図であ
る。
【図５】従来のデジタル乗算方式の電子式電力量計用Ｌ
ＳＩの等価回路構成を示す図である。
ＳＩの等価回路構成を示す図である。
【図６】図５の電子式電力量計用ＬＳＩにおける信号波
形を示す図である。
形を示す図である。
１，２ Ａ／Ｄ変換器器 ３ 乗算器 ４ 累積加算器 ５ パルス発生器 ６ 発振器 ７ 分周器（サンプリング信号発生手段） ８ 設定器（設定手段） ９ 操作部材 １０ 電子式電力量計用ＬＳＩ １１，１２ ΔΣ変調器 １３，１４ デジタルフィルタ １５ 外部発振器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中山 悦郎 神奈川県横浜市緑区霧が丘６−１−１−４ −102 (72)発明者 川島 直人 神奈川県横浜市港北区大豆戸町743−６− 401 Ｆターム(参考） 2G032 AA09 AB01 AC03 AC10 AD01 AD04 AG03 AG09 AH02 AK01 AK16 AL18
Claims (2)
- 【請求項１】 瞬時電力のデジタル値をサンプリング信
号に基づいて得て、電力量に応じた電力量パルスを電子
的に発生する電子式電力量計の、テスト時間での電力量
パルス数をテストする方法であって、テスト時に測定対
象として入力されるテスト電圧、テスト電流の周波数を
商用周波数より高く設定し、かつ、前記サンプリング信
号の周波数も前記テスト電圧、テスト電流の周波数の増
加に比例して高く設定するようにしたことを特徴とする
電子式電力量計のテスト方法。 - 【請求項２】 瞬時電力のデジタル値をサンプリング信
号に基づいて得て、電力量に応じた電力量パルスを電子
的に発生する電子式電力量計において、定常時用のサン
プリング信号を発生すると共に、定常時用のサンプリン
グ信号の周波数よりも高いテスト時用のサンプリング信
号を発生するサンプリング信号発生手段と、定常時には
サンプリング信号として前記定常時用のサンプリング信
号を選択し、テスト時には前記テスト時用のサンプリン
グ信号を選択する設定手段とを有することを特徴とする
電子式電力量計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30172698A JP3349102B2 (ja) | 1998-10-09 | 1998-10-09 | 電子式電力量計のテスト方法及び電子式電力量計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30172698A JP3349102B2 (ja) | 1998-10-09 | 1998-10-09 | 電子式電力量計のテスト方法及び電子式電力量計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000121679A true JP2000121679A (ja) | 2000-04-28 |
| JP3349102B2 JP3349102B2 (ja) | 2002-11-20 |
Family
ID=17900430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30172698A Expired - Fee Related JP3349102B2 (ja) | 1998-10-09 | 1998-10-09 | 電子式電力量計のテスト方法及び電子式電力量計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3349102B2 (ja) |
Cited By (7)
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