JPS61260120A - 電子式積算計器 - Google Patents
電子式積算計器Info
- Publication number
- JPS61260120A JPS61260120A JP60102445A JP10244585A JPS61260120A JP S61260120 A JPS61260120 A JP S61260120A JP 60102445 A JP60102445 A JP 60102445A JP 10244585 A JP10244585 A JP 10244585A JP S61260120 A JPS61260120 A JP S61260120A
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- JP
- Japan
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- circuit
- signal
- counter
- test
- testing
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- Pending
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- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の利用分野)
本発明は、被測定量に比例した周波数の試験用パルス信
号を得られる電子式電力量計、電子式ガスメータ、電子
式水道メータなどの電子式積算計器の改良に関するもの
である。
号を得られる電子式電力量計、電子式ガスメータ、電子
式水道メータなどの電子式積算計器の改良に関するもの
である。
(発明の背景)
電子式電力量計のカウンタの表示器は、需要家が一検針
期間中最大負荷を使用しても全桁繰り上がることのない
ように設定されているために、カウンタに入力するパル
スの周波数は低く抑えられている。したがって、電子式
電力量計の特性などの試験を行う場合、カウンタの表示
器からデータを得るようにすると、試験に必要なパルス
数を得るのに長時間かかってしまうので、従来では高周
波数の試験用パルス信号を出力する出力回路を電子式電
力量計に設け、この試験用パルス信号を試験装置により
計数することによって試験を行っていた。第4図に従来
の試験装置を示す。
期間中最大負荷を使用しても全桁繰り上がることのない
ように設定されているために、カウンタに入力するパル
スの周波数は低く抑えられている。したがって、電子式
電力量計の特性などの試験を行う場合、カウンタの表示
器からデータを得るようにすると、試験に必要なパルス
数を得るのに長時間かかってしまうので、従来では高周
波数の試験用パルス信号を出力する出力回路を電子式電
力量計に設け、この試験用パルス信号を試験装置により
計数することによって試験を行っていた。第4図に従来
の試験装置を示す。
第4図では、試験装置は、入力装置1、計数演算装置2
、表示装置3.電圧電流発生装置4及び基準器5(或い
はマスク計器)から成る。基準器5は供給される電力に
比例した高周波数のパルスを出力する高精度、高安定度
の計器である。電圧TLi&発生装置4は、基準器5及
び被試験計器M1〜Mnに電圧Vと電流工とを供給し、
基準器5には定格電力或いは試験電力を加え、被試験計
器M1〜Mnには試験電力を加える。また、計数演算装
置2からの指示信号に応じて試験電力を変更する。計数
演算装置2は、CPU、カウンタ、メモリなどを備え、
基準器5から出力される基準パルス信号f0と被試験計
器M、−Mnから出力される試験用パルス信号f、−f
nとをそれぞれ計数し、両者から誤差などを演算する0
表示装置3は計数演算装置2のy4算結果を表示し、或
いはプリントアウトする。
、表示装置3.電圧電流発生装置4及び基準器5(或い
はマスク計器)から成る。基準器5は供給される電力に
比例した高周波数のパルスを出力する高精度、高安定度
の計器である。電圧TLi&発生装置4は、基準器5及
び被試験計器M1〜Mnに電圧Vと電流工とを供給し、
基準器5には定格電力或いは試験電力を加え、被試験計
器M1〜Mnには試験電力を加える。また、計数演算装
置2からの指示信号に応じて試験電力を変更する。計数
演算装置2は、CPU、カウンタ、メモリなどを備え、
基準器5から出力される基準パルス信号f0と被試験計
器M、−Mnから出力される試験用パルス信号f、−f
nとをそれぞれ計数し、両者から誤差などを演算する0
表示装置3は計数演算装置2のy4算結果を表示し、或
いはプリントアウトする。
試験用パルス信号f、−fnは、第5図に示されるよう
に、平均電力或いは瞬時電力に比例した周波数の、はぼ
等間隔酸いは粗密のあるパルス列であるので、このよう
なパルス列を計数演算装置2が取り込む時は、所定時間
計数のデータ取り込みポイント毎にレベル変化を監視し
、ローレベル→ハイレベル→ローレベルの変化があった
時に1パルスを判別している。したがって、例えば、第
5図では試験用パルス信号f、の1パルスを判別するの
に、データ取り込みポイントt l” t 4の時間が
必要であった。更に、パルス判別後、演算や表示の処理
時間を必要とし、これは計数演算装置2の処理速度に依
存する。そのため、多数の被試験計器M、−Mnを1台
の試験装置で試験する場合、最低必要処理時間があり、
試験に要する時間を短縮することができなかった。
に、平均電力或いは瞬時電力に比例した周波数の、はぼ
等間隔酸いは粗密のあるパルス列であるので、このよう
なパルス列を計数演算装置2が取り込む時は、所定時間
計数のデータ取り込みポイント毎にレベル変化を監視し
、ローレベル→ハイレベル→ローレベルの変化があった
時に1パルスを判別している。したがって、例えば、第
5図では試験用パルス信号f、の1パルスを判別するの
に、データ取り込みポイントt l” t 4の時間が
必要であった。更に、パルス判別後、演算や表示の処理
時間を必要とし、これは計数演算装置2の処理速度に依
存する。そのため、多数の被試験計器M、−Mnを1台
の試験装置で試験する場合、最低必要処理時間があり、
試験に要する時間を短縮することができなかった。
(発明の目的)
本発明の目的は、上述した問題点を解決し、試験時間を
短縮させることができる電子式精算計器を提供すること
である。
短縮させることができる電子式精算計器を提供すること
である。
(発明の特徴)
1−4記目的を達成するために、本発明は1周波数変換
回路或いは分周回路の中間分周段から得る試験用パルス
信号を所定時間計数する試験用カウンタと、該試験用カ
ウンタの所定時間計数したデータを保持するラッチ回路
と、該ラッチ回路の保持するデータを外部に出力するデ
ータ出力端子とを設け、以て、従来、試験装置が有した
試験用パルス信号計数機能を個々の電子式積算計器が分
担し、そのデータを試験装置に対して送るようにしたこ
とを特徴とする。
回路或いは分周回路の中間分周段から得る試験用パルス
信号を所定時間計数する試験用カウンタと、該試験用カ
ウンタの所定時間計数したデータを保持するラッチ回路
と、該ラッチ回路の保持するデータを外部に出力するデ
ータ出力端子とを設け、以て、従来、試験装置が有した
試験用パルス信号計数機能を個々の電子式積算計器が分
担し、そのデータを試験装置に対して送るようにしたこ
とを特徴とする。
(発明の実施例)
第1図は本発明の一実施例である電子式電力量計を示す
。
。
面分割乗算器などから成る電力検出回路6、周波数変換
回路7、分周回路8、カウンタ9は一般的な電子式電力
量計を構成するものである。電力検出回路6は負荷電圧
に比例する電圧Vと負荷電流に比例する電流■とを乗算
して、電力に応じた電流信号(或いは電圧信号)を出力
し1周波数変換回路7はこのTLtii、信号を周波数
に変換し、分周回路8はこの周波数をある割合で低減し
、カウンタ9は分周出力を積算して電力量として表示す
る。
回路7、分周回路8、カウンタ9は一般的な電子式電力
量計を構成するものである。電力検出回路6は負荷電圧
に比例する電圧Vと負荷電流に比例する電流■とを乗算
して、電力に応じた電流信号(或いは電圧信号)を出力
し1周波数変換回路7はこのTLtii、信号を周波数
に変換し、分周回路8はこの周波数をある割合で低減し
、カウンタ9は分周出力を積算して電力量として表示す
る。
試験用カウンタ10は入力側にゲート(不図示)を内蔵
し、この内蔵のゲートが開かれた昨に周波数変換回路7
の出力を試験用パルス信号として計数する同期式のカウ
ンタである。ラッチ回路11は試験用カウンタlOから
転送されるデータを一昨的に保持するもので、シフトレ
ジスタなどから成る0発振回路12は試験用カウンタ1
0にクロックパルスfaを、ラッチ回路11にクロック
パルスfbを、それぞれ供給する。
し、この内蔵のゲートが開かれた昨に周波数変換回路7
の出力を試験用パルス信号として計数する同期式のカウ
ンタである。ラッチ回路11は試験用カウンタlOから
転送されるデータを一昨的に保持するもので、シフトレ
ジスタなどから成る0発振回路12は試験用カウンタ1
0にクロックパルスfaを、ラッチ回路11にクロック
パルスfbを、それぞれ供給する。
選択信号入力回路13は、試験装置から選択信号入力端
子taに入力する選択信号aを波形整形すると共に、ノ
イズを除去する。制御回路14は、選択信号aの入力に
応じてゲート閉成信号す、データ転送信号C、カウンタ
リセット信号d、ゲート開成信号e及び出力指令信号g
を順次出力する。出力回路15はラッチ回路llのデー
タhをデータ出力端子tbから出力しない場合は高イン
ピーダンスに保つバッファなどから成る。
子taに入力する選択信号aを波形整形すると共に、ノ
イズを除去する。制御回路14は、選択信号aの入力に
応じてゲート閉成信号す、データ転送信号C、カウンタ
リセット信号d、ゲート開成信号e及び出力指令信号g
を順次出力する。出力回路15はラッチ回路llのデー
タhをデータ出力端子tbから出力しない場合は高イン
ピーダンスに保つバッファなどから成る。
第3図は第1図に示した電子式電力量計を試験する試験
装置を示す、第4図と同じ部分には同一符号が付しであ
る。
装置を示す、第4図と同じ部分には同一符号が付しであ
る。
計数演算装置2は被試験計器M1〜Mnに対してコード
化された選択信号al−aylを出力する機能を新たに
備える。但し、選択信号a1〜afiは、被試験機器M
1〜Mnへの配線が別個であれば、被試験計器M1〜M
nに共通のものでよい。
化された選択信号al−aylを出力する機能を新たに
備える。但し、選択信号a1〜afiは、被試験機器M
1〜Mnへの配線が別個であれば、被試験計器M1〜M
nに共通のものでよい。
入力ラッチ回路16は選択信号a1〜a、1を被試験機
器MI−My1へ送ると共に、それに応答した被試験計
器M、−Mnからのデータh1〜hnを受け、一時的に
保持して、順次計数演算回路2へ入力する。
器MI−My1へ送ると共に、それに応答した被試験計
器M、−Mnからのデータh1〜hnを受け、一時的に
保持して、順次計数演算回路2へ入力する。
第1図に示される電子式電力量計の試験時の動作につい
て、第2図のタイムチャートを参照しながら説明する。
て、第2図のタイムチャートを参照しながら説明する。
試験状態では、電力検出回路6に試験電力が供給される
。また、選択信号入力端子taには試験装置から選択信
号aが入力する0選択値号aが選択信号入力回路13を
経て制御回路14に与えられると、制御回路14は、ま
ずゲート閉成信号すを試験用カウンタ10に送り、それ
に内蔵されるゲートを閉じ、その前に試験用カウンタ1
0が試験用パルス信号を計数していれば、その計数を終
了させる。そして、カウンタリセット信号dにより試験
用カウンタlOをリセットする0次にゲート開成信号e
を試験用カウンタlOに送り、試験用パルス信号の計数
を開始させる。この計数開始後、所定時間Tが経過する
と、試験装置から再び選択信号aが入力し、制御回路1
4はゲート閉成信号すにより試験用カウンタ10の計数
動作を終了させる。これにより試験用カウンタlOの計
数値は試験用パルス信号を所定時間Tの量計数したもの
となる。更に制御回路14は、データ転送信号Cにより
試験用カウンタlOの計数値をラッチ回路11に転送さ
せ、カウンタリセット信号dにより試験用カウンタlO
をリセットし、ゲート開成信号eにより再び試験用カウ
ンタ10に次の計数を開始させ、出力指令信号gにより
ラッチ回路11からデータh(試験用カウンタ10から
転送された計数値)を出力させて、出力回路15を経て
データ出力端子tbから試験装置へ送り出す。
。また、選択信号入力端子taには試験装置から選択信
号aが入力する0選択値号aが選択信号入力回路13を
経て制御回路14に与えられると、制御回路14は、ま
ずゲート閉成信号すを試験用カウンタ10に送り、それ
に内蔵されるゲートを閉じ、その前に試験用カウンタ1
0が試験用パルス信号を計数していれば、その計数を終
了させる。そして、カウンタリセット信号dにより試験
用カウンタlOをリセットする0次にゲート開成信号e
を試験用カウンタlOに送り、試験用パルス信号の計数
を開始させる。この計数開始後、所定時間Tが経過する
と、試験装置から再び選択信号aが入力し、制御回路1
4はゲート閉成信号すにより試験用カウンタ10の計数
動作を終了させる。これにより試験用カウンタlOの計
数値は試験用パルス信号を所定時間Tの量計数したもの
となる。更に制御回路14は、データ転送信号Cにより
試験用カウンタlOの計数値をラッチ回路11に転送さ
せ、カウンタリセット信号dにより試験用カウンタlO
をリセットし、ゲート開成信号eにより再び試験用カウ
ンタ10に次の計数を開始させ、出力指令信号gにより
ラッチ回路11からデータh(試験用カウンタ10から
転送された計数値)を出力させて、出力回路15を経て
データ出力端子tbから試験装置へ送り出す。
第3図に示される試験装置においては、計数演算装置2
が選択信号al#afiを循環的に出力して、被試験計
器M、−Mnから順次データh1〜h、を入力ラッチ回
路16を経て収集し、収集後、演算する。
が選択信号al#afiを循環的に出力して、被試験計
器M、−Mnから順次データh1〜h、を入力ラッチ回
路16を経て収集し、収集後、演算する。
計数演算回路2は、試験用パルス信号f1〜fnを取り
込む必要はなく、それを計数したデータh1〜h、を読
み出すだけでよいから、大量の被測定計器を1度に高速
で試験することができ、即ち、試験時間を短縮すること
ができる。
込む必要はなく、それを計数したデータh1〜h、を読
み出すだけでよいから、大量の被測定計器を1度に高速
で試験することができ、即ち、試験時間を短縮すること
ができる。
(変形例)
図示実施例では、周波数変換回路7の出力を試験用パル
ス信号として用いているが、分周回路8の中間分周段の
出力を試験用パルス信号として用いてもよい。
ス信号として用いているが、分周回路8の中間分周段の
出力を試験用パルス信号として用いてもよい。
制御回路14は試験装置からの選択信号aに応じて動作
しているが、内蔵するタイマにより所定時間間隔で動作
するようにしてもよい。
しているが、内蔵するタイマにより所定時間間隔で動作
するようにしてもよい。
試験用カウンタlOに、プリスケーラ−付のものを用い
、測定精度や試験用パルス信号の周波数に応じて試験装
置からの指令により試験用カウンタ10の出力段数を変
更するようにしてもよい。
、測定精度や試験用パルス信号の周波数に応じて試験装
置からの指令により試験用カウンタ10の出力段数を変
更するようにしてもよい。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば1周波数変換回路
或いは分周回路の中間分周段から得る試験用パルス信号
を所定時間計数する試験用カウンタと、該試験用カウン
タの所定時間計数したデータを保持するラッチ回路と、
該ラッチ回路の保持するデータを外部に出力するデータ
出力端子とを設け、以て、従来、試験装置が有した試験
用パルス信号計数機能を個々の電子式積算計器が分担し
、そのデータを試験装置に対して送るようにしたから、
試験時間を短縮させることができる。
或いは分周回路の中間分周段から得る試験用パルス信号
を所定時間計数する試験用カウンタと、該試験用カウン
タの所定時間計数したデータを保持するラッチ回路と、
該ラッチ回路の保持するデータを外部に出力するデータ
出力端子とを設け、以て、従来、試験装置が有した試験
用パルス信号計数機能を個々の電子式積算計器が分担し
、そのデータを試験装置に対して送るようにしたから、
試験時間を短縮させることができる。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
その動作を示すタイムチャート、第3図は本発明に係る
被試験計器の試験装置を示すブロック図、第4図は従来
の試験装置を示すブロック図、第5図は試験用パルス信
号のパルス列及びデータ取り込みポイントを示す図であ
る。 6・・・・・・電力検出回路、7・・・・・・周波数変
換回路、8・・・・・・分周回路、9・・・・・・カウ
ンタ、10・・・・・・試験用カウンタ、11・・・・
・・ラッチ回路、13・・・・・・選択信号入力回路、
14・・・・・・制御回路、ta・・・・・・選択信号
入力端子、tb・・・・・・データ出力端子、a・・・
・・・選択信号、h・・・・・・データ、T・・・・・
・所定時間。
その動作を示すタイムチャート、第3図は本発明に係る
被試験計器の試験装置を示すブロック図、第4図は従来
の試験装置を示すブロック図、第5図は試験用パルス信
号のパルス列及びデータ取り込みポイントを示す図であ
る。 6・・・・・・電力検出回路、7・・・・・・周波数変
換回路、8・・・・・・分周回路、9・・・・・・カウ
ンタ、10・・・・・・試験用カウンタ、11・・・・
・・ラッチ回路、13・・・・・・選択信号入力回路、
14・・・・・・制御回路、ta・・・・・・選択信号
入力端子、tb・・・・・・データ出力端子、a・・・
・・・選択信号、h・・・・・・データ、T・・・・・
・所定時間。
Claims (1)
- 1、被測定量に対応した周波数のパルス信号を発生する
周波数変換回路と、該周波数変換回路の出力周波数を分
周する分周回路と、該分周回路の分周出力を計数して被
測定量として表示するカウンタとを備えた電子式積算計
器において、前記周波数変換回路或いは前記分周回路の
中間分周段から得る試験用パルス信号を所定時間計数す
る試験用カウンタと、該試験用カウンタの所定時間計数
したデータを保持するラッチ回路と、該ラッチ回路の保
持するデータを外部に出力するデータ出力端子とを設け
たことを特徴とする電子式積算計器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60102445A JPS61260120A (ja) | 1985-05-14 | 1985-05-14 | 電子式積算計器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60102445A JPS61260120A (ja) | 1985-05-14 | 1985-05-14 | 電子式積算計器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61260120A true JPS61260120A (ja) | 1986-11-18 |
Family
ID=14327663
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60102445A Pending JPS61260120A (ja) | 1985-05-14 | 1985-05-14 | 電子式積算計器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61260120A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01236641A (ja) * | 1988-03-17 | 1989-09-21 | Fujitsu Ltd | Lsi試験回路 |
JP2006184218A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-13 | Toshiba Corp | 電力量計 |
CN103124141A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-05-29 | 四川电力科学研究院 | 一种电力检修试验设备计量校验专用高稳定度变频电源 |
JP2015021926A (ja) * | 2013-07-23 | 2015-02-02 | 日本電気計器検定所 | 電力量計の計量試験装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5580014A (en) * | 1978-12-13 | 1980-06-16 | Osaki Denki Kogyo Kk | Electronic integrating meter inspecting device |
JPS55136906A (en) * | 1979-04-13 | 1980-10-25 | Hitachi Ltd | Digital-to-analog conversion type controller |
JPS59225497A (ja) * | 1983-06-03 | 1984-12-18 | 日本電信電話株式会社 | 遠隔試験方式 |
-
1985
- 1985-05-14 JP JP60102445A patent/JPS61260120A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5580014A (en) * | 1978-12-13 | 1980-06-16 | Osaki Denki Kogyo Kk | Electronic integrating meter inspecting device |
JPS55136906A (en) * | 1979-04-13 | 1980-10-25 | Hitachi Ltd | Digital-to-analog conversion type controller |
JPS59225497A (ja) * | 1983-06-03 | 1984-12-18 | 日本電信電話株式会社 | 遠隔試験方式 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01236641A (ja) * | 1988-03-17 | 1989-09-21 | Fujitsu Ltd | Lsi試験回路 |
JP2006184218A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-13 | Toshiba Corp | 電力量計 |
JP4685438B2 (ja) * | 2004-12-28 | 2011-05-18 | 東光東芝メーターシステムズ株式会社 | 電力量計 |
CN103124141A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-05-29 | 四川电力科学研究院 | 一种电力检修试验设备计量校验专用高稳定度变频电源 |
JP2015021926A (ja) * | 2013-07-23 | 2015-02-02 | 日本電気計器検定所 | 電力量計の計量試験装置 |
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