JPS5920153A - 電流計測装置 - Google Patents
電流計測装置Info
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- JPS5920153A JPS5920153A JP57130743A JP13074382A JPS5920153A JP S5920153 A JPS5920153 A JP S5920153A JP 57130743 A JP57130743 A JP 57130743A JP 13074382 A JP13074382 A JP 13074382A JP S5920153 A JPS5920153 A JP S5920153A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 8
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 208000003028 Stuttering Diseases 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、X線CT (Computerized T
omograph)’)装置において使用する電流計測
装置に関するものである。
omograph)’)装置において使用する電流計測
装置に関するものである。
X線CT装置においては、被検体へX線を照射しその゛
透過X線を多数の電離箱で検知し、その信号に基づき被
検体に関する投影データを得るように構成している。こ
の場合、多チャ/ネルの電離箱から出力される透過X線
量に比例した電流をそれぞれ計測するために多点電流計
測装置が、X線CT装置に備えられている。
透過X線を多数の電離箱で検知し、その信号に基づき被
検体に関する投影データを得るように構成している。こ
の場合、多チャ/ネルの電離箱から出力される透過X線
量に比例した電流をそれぞれ計測するために多点電流計
測装置が、X線CT装置に備えられている。
X線CT装置における一般的な電流計測装置は、まず電
離箱よ#)得られる透過X線iに応じた信号電流を各チ
ャンネルに設けたコンデンサで積分し電流・電圧変換を
行なう。そして、この各チャンネルのコンデンサ電圧を
サンプリングスイッチにより順次選択して、次段の増幅
器により適切な値に増幅した後、A−D変換器にてアナ
ログ信号をデジタル信号へ変換する。このデジタル化さ
れた各チャンネルの信号電流は、その後、メモリに格納
され、投影データとして使用される。
離箱よ#)得られる透過X線iに応じた信号電流を各チ
ャンネルに設けたコンデンサで積分し電流・電圧変換を
行なう。そして、この各チャンネルのコンデンサ電圧を
サンプリングスイッチにより順次選択して、次段の増幅
器により適切な値に増幅した後、A−D変換器にてアナ
ログ信号をデジタル信号へ変換する。このデジタル化さ
れた各チャンネルの信号電流は、その後、メモリに格納
され、投影データとして使用される。
一方、上述で得たコンデンサの電圧値には、信号電流の
ほかに漏れ電流などの誤差要素(以下オフセットと総称
する)も含まれており、高精度の計測を行なうためには
、これらのオフセットを除去するように補正する必要が
ある。そこで、各チャンネルごとのオフセットのみを測
定し、1オフセツトを含む信号電流の測定値”からこの
第2吃ットを減算する補正を行なっている。
ほかに漏れ電流などの誤差要素(以下オフセットと総称
する)も含まれており、高精度の計測を行なうためには
、これらのオフセットを除去するように補正する必要が
ある。そこで、各チャンネルごとのオフセットのみを測
定し、1オフセツトを含む信号電流の測定値”からこの
第2吃ットを減算する補正を行なっている。
このような電流計測装置においては、上述したようにイ
g号電流に基づく電圧をA−D変換器によりデジタル信
号へ変換しているが、このA−D変換器には、原理的に
1デジツトの誤差(以下、量子化誤差と言う)がある。
g号電流に基づく電圧をA−D変換器によりデジタル信
号へ変換しているが、このA−D変換器には、原理的に
1デジツトの誤差(以下、量子化誤差と言う)がある。
すなわち、A・D変換器におけるLSB (Least
51gn1ficant Bit ) n不確実なも
のである。そして、この量子化誤差は常に生じているも
のであるため入力信号レベルが小さい場合には、量子化
誤差の占める割合が大きくなり誤差として無視できない
ものとなる。
51gn1ficant Bit ) n不確実なも
のである。そして、この量子化誤差は常に生じているも
のであるため入力信号レベルが小さい場合には、量子化
誤差の占める割合が大きくなり誤差として無視できない
ものとなる。
本発明は以上のような点に鑑みてなされたもので、A−
D変換器の量子化誤差を軽減した電流計測装置を提供し
ようとするものである。
D変換器の量子化誤差を軽減した電流計測装置を提供し
ようとするものである。
本発明を要約すれば、A・D変換器の前段へレンジ手段
と、これを制御するレンジ制御回路とを設けることによ
り、A−D変換器の動作点(入出力レベル)を高く保つ
ようにして、信号電流が小さい場合でも、A−D変換器
の入出力に従来のものと比べて高くなるようにしている
。従って、デジタル出力中に占めるLSBの比率は小さ
くなるので、量子化誤差も小さくすることができる。そ
してレンジ切換えによるA−D変換器出力の不連続性を
補正する演算器を設けてリニアな信号電流・デジタル変
換を行なうようにしたものである。
と、これを制御するレンジ制御回路とを設けることによ
り、A−D変換器の動作点(入出力レベル)を高く保つ
ようにして、信号電流が小さい場合でも、A−D変換器
の入出力に従来のものと比べて高くなるようにしている
。従って、デジタル出力中に占めるLSBの比率は小さ
くなるので、量子化誤差も小さくすることができる。そ
してレンジ切換えによるA−D変換器出力の不連続性を
補正する演算器を設けてリニアな信号電流・デジタル変
換を行なうようにしたものである。
以下図面に基づいて本発明を説明する。
腑1図は、本発明に係る電流計測装置の1構成例を示す
図である。第1図において、1に1チャンネル分の信号
電流源を表わし、前記した電離箱における1検出隔室で
検出されfcX線量に対応する電流が流れる。なお、X
線CT装置で使用する電流計測装置は、多チャンネルに
わたる′電流を計測するものであるが、本発明をわかり
易く説明するため、第1図では、1チャンネル分のみの
場合を描いたものでちる。3は信号電流を電圧に変換す
る電流・電圧変換器であり、通常コンデンサが用いられ
る。5は可変ゲイン増幅器(以下、単に増幅器と略す)
であり、例えば増幅器の帰還抵抗の大きさを適宜切り換
えて増幅度を可変できるようにしたレンジ手段としての
槻能を有するものである。7はコンパレータを表わし、
電流・電圧変換器3の出力と所定の電圧レベルとを比較
して信号を出力するものである。9はコンパレータ7か
らの信号を導入し増幅器5の増幅度を定める、すなわち
測定レンジを定めるレンジ制御回路である。
図である。第1図において、1に1チャンネル分の信号
電流源を表わし、前記した電離箱における1検出隔室で
検出されfcX線量に対応する電流が流れる。なお、X
線CT装置で使用する電流計測装置は、多チャンネルに
わたる′電流を計測するものであるが、本発明をわかり
易く説明するため、第1図では、1チャンネル分のみの
場合を描いたものでちる。3は信号電流を電圧に変換す
る電流・電圧変換器であり、通常コンデンサが用いられ
る。5は可変ゲイン増幅器(以下、単に増幅器と略す)
であり、例えば増幅器の帰還抵抗の大きさを適宜切り換
えて増幅度を可変できるようにしたレンジ手段としての
槻能を有するものである。7はコンパレータを表わし、
電流・電圧変換器3の出力と所定の電圧レベルとを比較
して信号を出力するものである。9はコンパレータ7か
らの信号を導入し増幅器5の増幅度を定める、すなわち
測定レンジを定めるレンジ制御回路である。
11は増幅器5の出力を導入しデジタル信号へ変換する
A−D変換器である。13と15はメモリであり、例え
ばメモリ13には上述したオフセットが格納され、メモ
リ15にはオフセットを含む信号′は流側定値が格納さ
れる6 17に減算器であり、メモリ13と15の内容
全項り出して減p:するものである。すなわち、オフセ
ット全会むイg号’、li流の測定直からオフセットを
減算するためのものである。19は演算器であり、減算
器17の出力とレンジ制i卸回路の出力と會演算するこ
とにより、1g号電流の大きさに対応したリニアな(レ
ンジgJ挾えによる不連続特性ではない)デジタルデー
タを得るンでめのものである。
A−D変換器である。13と15はメモリであり、例え
ばメモリ13には上述したオフセットが格納され、メモ
リ15にはオフセットを含む信号′は流側定値が格納さ
れる6 17に減算器であり、メモリ13と15の内容
全項り出して減p:するものである。すなわち、オフセ
ット全会むイg号’、li流の測定直からオフセットを
減算するためのものである。19は演算器であり、減算
器17の出力とレンジ制i卸回路の出力と會演算するこ
とにより、1g号電流の大きさに対応したリニアな(レ
ンジgJ挾えによる不連続特性ではない)デジタルデー
タを得るンでめのものである。
以ド、第1図の動作を詳細に説明する。
なお、第2図は1g号′−流とこれのデジタル変換値と
の関係を示す図であり、本出願に係る電流計測装置で得
ようとしているものでおる。また第3図は、本発明の要
点を親切するための図であり信号電流とA−D変換器1
1の出力との関係を表わす図である。
の関係を示す図であり、本出願に係る電流計測装置で得
ようとしているものでおる。また第3図は、本発明の要
点を親切するための図であり信号電流とA−D変換器1
1の出力との関係を表わす図である。
まず、第1図において、信号電流源1がら電流が電流・
電圧変換器3へ流入し電圧に変換される。
電圧変換器3へ流入し電圧に変換される。
この電圧は、増幅器5で適宜増幅され、A−D変換器1
1によシデジタル値に変換される。A−D変換器11の
最大定格出力値を第2図に示す如くAmとすると、この
人mの最小ビット(LSB)fd不確実な値である。一
方、第2図に示すように、信号電流が小さい場合(I、
)のA−D変換器11の出力′(ll−A、 とすれ
ば、このA1 のLSBも不確実な値であり、しかもこ
の人、は小さいのでA。
1によシデジタル値に変換される。A−D変換器11の
最大定格出力値を第2図に示す如くAmとすると、この
人mの最小ビット(LSB)fd不確実な値である。一
方、第2図に示すように、信号電流が小さい場合(I、
)のA−D変換器11の出力′(ll−A、 とすれ
ば、このA1 のLSBも不確実な値であり、しかもこ
の人、は小さいのでA。
中に占めるLSBの割合は高くなり、電流の測定精度は
悪くなる。
悪くなる。
しかしながら本発明においては、以下の手段により小信
号電流時の量子化誤差を軽減しているうすなわち、増幅
器5によ多信号電流に基づく宴王を増幅して、A−D変
換器11の入力レベルを高くしている。この場合の動作
を第3図を用いて説明すると、例えば信号電流がI、
、 I2. I3. I4 の場合にA−D変換器1
1の出力が定格値Amとなるような電圧値を増幅器5か
らA−D変換器11へ加える。言い換えると、信号電流
がO〜■、までに、第3図のa、VC示す傾きの電圧を
増幅器5からA−D変換器11へ加える。そして、電流
工。
号電流時の量子化誤差を軽減しているうすなわち、増幅
器5によ多信号電流に基づく宴王を増幅して、A−D変
換器11の入力レベルを高くしている。この場合の動作
を第3図を用いて説明すると、例えば信号電流がI、
、 I2. I3. I4 の場合にA−D変換器1
1の出力が定格値Amとなるような電圧値を増幅器5か
らA−D変換器11へ加える。言い換えると、信号電流
がO〜■、までに、第3図のa、VC示す傾きの電圧を
増幅器5からA−D変換器11へ加える。そして、電流
工。
の時点でA−D変換器11の出力が定格値Amとなるの
で、この電流11 に相当する電圧をコンパレータ7で
検出し、レンジ制御回路9によジ増幅器5のレンジを切
り換えて傾きa2の増幅度とする。以下、同様に、A−
D変換器11の出力が定格値Amとなる時点にて増幅器
5のレンジを切り換える。
で、この電流11 に相当する電圧をコンパレータ7で
検出し、レンジ制御回路9によジ増幅器5のレンジを切
り換えて傾きa2の増幅度とする。以下、同様に、A−
D変換器11の出力が定格値Amとなる時点にて増幅器
5のレンジを切り換える。
このように増幅器5からの電圧を高いレベルに保ってい
るので、A・D変換器11での量子化誤差は軽減される
。これ全具体例で述べると、例えば、Am= 4 A、
であるとすれば、信号電流0〜I。
るので、A・D変換器11での量子化誤差は軽減される
。これ全具体例で述べると、例えば、Am= 4 A、
であるとすれば、信号電流0〜I。
の佃゛子化誤差は従来のものと比較して%となる。
一方、このようにして、増幅器5のゲインを適宜切換え
たことによりA−D変換器11の出力と信号電流の関係
は、第3図に示すような鋸波状のものとなる。しかしな
がら、電流計測装置で得たい特性は、第3図の特性でな
く、信号電流値に比例したデジタル量、すなわち、第2
図のような特性である。
たことによりA−D変換器11の出力と信号電流の関係
は、第3図に示すような鋸波状のものとなる。しかしな
がら、電流計測装置で得たい特性は、第3図の特性でな
く、信号電流値に比例したデジタル量、すなわち、第2
図のような特性である。
第1図の装置では、レンジ制御回路からの信号を利用し
て、第2図の特性へ変換している。たとえば減算器17
の出方が第3図のal の部分であるときは、この時の
レンジに対応して、4で割算を行なう(Am=4A、で
あると仮定)。以下、同様にして、各レンジに対応した
係数でその時の減算器17からの値を除算することによ
り第2図のような特性のデータを得ることができる。
て、第2図の特性へ変換している。たとえば減算器17
の出方が第3図のal の部分であるときは、この時の
レンジに対応して、4で割算を行なう(Am=4A、で
あると仮定)。以下、同様にして、各レンジに対応した
係数でその時の減算器17からの値を除算することによ
り第2図のような特性のデータを得ることができる。
なお、第1図では、1チャンネル分のみの例で説明した
が、多チャ/ネルの場合は、信号電流源1と電流・電圧
変換器3のベアからなる多数の回路の各電圧をマルチプ
レクサで順次選択する工うに構成したものとなる。
が、多チャ/ネルの場合は、信号電流源1と電流・電圧
変換器3のベアからなる多数の回路の各電圧をマルチプ
レクサで順次選択する工うに構成したものとなる。
甘た、各信号を流11 、’2−1s、I4 のレン
ジ切換点付近で入力信号が変化した場合、レンジ切換え
の動作が激しく生ずることを防ぐ意味から、第3図に示
すような、ヒステリシス特性を装置に持たせることもで
きる。
ジ切換点付近で入力信号が変化した場合、レンジ切換え
の動作が激しく生ずることを防ぐ意味から、第3図に示
すような、ヒステリシス特性を装置に持たせることもで
きる。
まに1第1図では、増幅器にレンジ機能を持たせるよう
に説明したが、これを増幅器とレンジ切換手段の2つに
別構成しても本発明は成立する。
に説明したが、これを増幅器とレンジ切換手段の2つに
別構成しても本発明は成立する。
以上の説明のように、本発明によれば、A・D変換器の
量子化誤差を軽減することができ高精度な電流測定を行
なうことができるようになる。
量子化誤差を軽減することができ高精度な電流測定を行
なうことができるようになる。
第1図は本発明に係る電流計測装置の1構成例を示す図
、第2図は信号電流とデジタル変換値との関係を示す図
、第3図は本発明の要点であるレンジ切換え動作を説明
するための図である。 1・・・信号電流源、3・・・電流・電圧変換器、5・
・・増幅器、7・・・コンパレータ、9・・・し/ジ制
御回路、11・・・A−D変換器、13.15・・・メ
モリ、17・・減算器、19・・・演算器。
、第2図は信号電流とデジタル変換値との関係を示す図
、第3図は本発明の要点であるレンジ切換え動作を説明
するための図である。 1・・・信号電流源、3・・・電流・電圧変換器、5・
・・増幅器、7・・・コンパレータ、9・・・し/ジ制
御回路、11・・・A−D変換器、13.15・・・メ
モリ、17・・減算器、19・・・演算器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (11X線CT装置における透過X線量に応じ比信号電
流を測定する装置において、 A−D変換器と、このA−D変換器の前段へ設けたレン
ジ手段と、このレンジ手段を制御するレンジ制御回路と
、前記A−D変換器の出力に基づく信号と前記レンジ制
御回路の出力に基づく信号とを導入して補正演算をする
演算器(19)とを備えた電流計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57130743A JPS5920153A (ja) | 1982-07-27 | 1982-07-27 | 電流計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57130743A JPS5920153A (ja) | 1982-07-27 | 1982-07-27 | 電流計測装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5920153A true JPS5920153A (ja) | 1984-02-01 |
Family
ID=15041566
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57130743A Pending JPS5920153A (ja) | 1982-07-27 | 1982-07-27 | 電流計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5920153A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01160537A (ja) * | 1987-12-17 | 1989-06-23 | Hitachi Medical Corp | 超音波診断装置 |
JPH07303632A (ja) * | 1994-05-11 | 1995-11-21 | Ge Yokogawa Medical Syst Ltd | Ct装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5519159A (en) * | 1978-07-28 | 1980-02-09 | Tokyo Shibaura Electric Co | Computerrtomography device |
JPS55130229A (en) * | 1979-03-30 | 1980-10-08 | Mitsubishi Electric Corp | Analog-digital converter |
JPS55151820A (en) * | 1979-05-16 | 1980-11-26 | Toshiba Corp | Analog-digital converter |
-
1982
- 1982-07-27 JP JP57130743A patent/JPS5920153A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5519159A (en) * | 1978-07-28 | 1980-02-09 | Tokyo Shibaura Electric Co | Computerrtomography device |
JPS55130229A (en) * | 1979-03-30 | 1980-10-08 | Mitsubishi Electric Corp | Analog-digital converter |
JPS55151820A (en) * | 1979-05-16 | 1980-11-26 | Toshiba Corp | Analog-digital converter |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01160537A (ja) * | 1987-12-17 | 1989-06-23 | Hitachi Medical Corp | 超音波診断装置 |
JPH07303632A (ja) * | 1994-05-11 | 1995-11-21 | Ge Yokogawa Medical Syst Ltd | Ct装置 |
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