JPS59218981A - 電荷パルサ - Google Patents
電荷パルサInfo
- Publication number
- JPS59218981A JPS59218981A JP9243183A JP9243183A JPS59218981A JP S59218981 A JPS59218981 A JP S59218981A JP 9243183 A JP9243183 A JP 9243183A JP 9243183 A JP9243183 A JP 9243183A JP S59218981 A JPS59218981 A JP S59218981A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- charge
- constant current
- radiation detector
- current circuit
- generates
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は放射線検出器から出力されるパルスを測定する
装置の較正、試験あるいは評価に用いるための電荷パル
サに関する。
装置の較正、試験あるいは評価に用いるための電荷パル
サに関する。
線源から放口・１されるγ線のエネルギを分析する装置
としてｒ線スペクトロメータが存在する。
としてｒ線スペクトロメータが存在する。
第１図は１ｆ来用いられたこの装置の検出部とプリアン
プの部分を表わしたものである。ゲルマニウム検出器１
１のアノード側は、チャージセンシティブなオペアンプ
１２の入力端子に接続されており、カソード側の電源端
子１３には高圧の逆ノくイアスが印加されている。
プの部分を表わしたものである。ゲルマニウム検出器１
１のアノード側は、チャージセンシティブなオペアンプ
１２の入力端子に接続されており、カソード側の電源端
子１３には高圧の逆ノくイアスが印加されている。
この装置で、γ線がゲルマニウム検出器１１に入射する
と、そのエネルギに比例した電荷が発生する。オペアン
プ１２はこれを積分して電荷の総量を求め、γ線のエネ
ルギに比例した波高値のパルスを出力端子１４から出力
する。このパルスは増幅後、波高分析器にかけられ、エ
ネルギの分析が行われる。
と、そのエネルギに比例した電荷が発生する。オペアン
プ１２はこれを積分して電荷の総量を求め、γ線のエネ
ルギに比例した波高値のパルスを出力端子１４から出力
する。このパルスは増幅後、波高分析器にかけられ、エ
ネルギの分析が行われる。
この装置では、オペアンプ１２の入力端子側に、結合コ
ンデンサ１５を介してテストパルス入力端子１６が配置
されている。プリアンプ以降の装置部分の試験等を行う
際には、テストパルス入力端子１６からテストパルスが
人力されるようになっている。
ンデンサ１５を介してテストパルス入力端子１６が配置
されている。プリアンプ以降の装置部分の試験等を行う
際には、テストパルス入力端子１６からテストパルスが
人力されるようになっている。
ところてオペアンプ１２の人力耀１子側の線路には浮遊
容量１７が存在する。従って、γ線測定の際にゲルマニ
ウム検出器１１から発生した電荷はオペアンプ１２のみ
でなくこの浮遊容量１７にも流れ込み、信号の有効成分
が減少してＳＮ比が悪くなる原因となる。結合コンデン
サ１５の値も信号の分解能に悪影響のないように、例え
ば０．５ｐＦ程度の小さな値に選定されている。
容量１７が存在する。従って、γ線測定の際にゲルマニ
ウム検出器１１から発生した電荷はオペアンプ１２のみ
でなくこの浮遊容量１７にも流れ込み、信号の有効成分
が減少してＳＮ比が悪くなる原因となる。結合コンデン
サ１５の値も信号の分解能に悪影響のないように、例え
ば０．５ｐＦ程度の小さな値に選定されている。
しかしながらこの結合コンデンサ１５の存在は、人力さ
れるテストパルスの形を歪ませるという問題を生じさせ
ている。第２図ａはゲルマニウム検出器１１からオペア
ンプ１２に供給される信号波形を表わしている。テスト
パルスとしてはこのような波形のものが好ましい。とこ
ろが実際には、パルス発生器を用いて同図ｂ１、ｃｌ、
ｄｌといった各種波形をテストパルス入力端子１Ｇに与
えてみても、オペアンプ１２に供給される信号波形はそ
れぞれ同図ｂ２、Ｃ２、ｄ２に表されるようになり、ゲ
ルマニウム検出器１１のそれと近似しない。このため前
記した波高分析２に等の装置部分の試験、較正、１：ｌ
ｊ曲を十分なに’：’ｊ度で行うことが不可能であっ
た。
れるテストパルスの形を歪ませるという問題を生じさせ
ている。第２図ａはゲルマニウム検出器１１からオペア
ンプ１２に供給される信号波形を表わしている。テスト
パルスとしてはこのような波形のものが好ましい。とこ
ろが実際には、パルス発生器を用いて同図ｂ１、ｃｌ、
ｄｌといった各種波形をテストパルス入力端子１Ｇに与
えてみても、オペアンプ１２に供給される信号波形はそ
れぞれ同図ｂ２、Ｃ２、ｄ２に表されるようになり、ゲ
ルマニウム検出器１１のそれと近似しない。このため前
記した波高分析２に等の装置部分の試験、較正、１：ｌ
ｊ曲を十分なに’：’ｊ度で行うことが不可能であっ
た。
本発明はこのような事情に鑑み、電荷収集型検出器の発
生ずる電荷と類似した電荷のパターンを発生させること
のできる電荷パルサを提供することをその目的とする。
生ずる電荷と類似した電荷のパターンを発生させること
のできる電荷パルサを提供することをその目的とする。
本発明では第３図に示すように定電流回路２１とこの定
電流回路２１から出力端子２２．２３に出力される電流
をオン・オフ制御するゲート回路２４と、このゲート回
路にゲートパルスを供給するパルス発生回路２５とを電
荷パルサに具備させる。そして定電流回路２１から放射
線検出器の発生する電荷と類似の電荷を発生させ、出力
）瑞子２２．２３に表われたこの電４Ｅｊを装置の′試
験等に用いる。
電流回路２１から出力端子２２．２３に出力される電流
をオン・オフ制御するゲート回路２４と、このゲート回
路にゲートパルスを供給するパルス発生回路２５とを電
荷パルサに具備させる。そして定電流回路２１から放射
線検出器の発生する電荷と類似の電荷を発生させ、出力
）瑞子２２．２３に表われたこの電４Ｅｊを装置の′試
験等に用いる。
以下実施例につき本発明の詳細な説明する。
第４図は本実施例の電荷パルサをＴ線スペクトロメータ
のプリアンプに１８続した状態を表わしたものである。
のプリアンプに１８続した状態を表わしたものである。
電（：：Ｓパルサは、定電流回路２７、ＦＥＴ （電界
効果トランジスタ）２８、パルス発生回路２９によって
構成されている。図に示したプリアンプ部分３１は、オ
ペアンプ３２を用いたチャージセンンティブ型プリアン
プである。
効果トランジスタ）２８、パルス発生回路２９によって
構成されている。図に示したプリアンプ部分３１は、オ
ペアンプ３２を用いたチャージセンンティブ型プリアン
プである。
さて電荷パルサの定電流回路２７は、第５図ａに示すよ
うに電１ｉｉｊ収集型放射線検出器の発生ずる電荷のパ
ターンと類似した波形３３を定電流源として発生させる
。この波形３３の立ち上がり開始時点で定電流回路２７
から同期信号３４が出力され、パルス発生回路２９はこ
れに同期してゲートパルス３５（第５図ｂ）を発生させ
る。ゲートパルス３５はＦＥＴ２８のゲートに人力され
、これをオンする。この結果、波形３３と同一の波形３
６（第５図Ｃ）がＦＥＴのソースＳから出力され、オペ
アンプ３２の入力端Δに加えられる。
うに電１ｉｉｊ収集型放射線検出器の発生ずる電荷のパ
ターンと類似した波形３３を定電流源として発生させる
。この波形３３の立ち上がり開始時点で定電流回路２７
から同期信号３４が出力され、パルス発生回路２９はこ
れに同期してゲートパルス３５（第５図ｂ）を発生させ
る。ゲートパルス３５はＦＥＴ２８のゲートに人力され
、これをオンする。この結果、波形３３と同一の波形３
６（第５図Ｃ）がＦＥＴのソースＳから出力され、オペ
アンプ３２の入力端Δに加えられる。
この電荷パルサては、ＦＥＴのソースＳとオペアンプ３
２の人力１”ｔ；Ａ：Ａまでの配線を極力短かくし、浮
遊容量３７を小さくしている。従ってＦＥＴ２８は、オ
ンのときのみオペアンプ３２に電荷を５、えることにな
り、オフのとき回の悪影７：１２も生じさせない。
２の人力１”ｔ；Ａ：Ａまでの配線を極力短かくし、浮
遊容量３７を小さくしている。従ってＦＥＴ２８は、オ
ンのときのみオペアンプ３２に電荷を５、えることにな
り、オフのとき回の悪影７：１２も生じさせない。
以上説明したように本発明によれば、定電流回路を用い
て放射線検出器が発生ずる電荷の量や数を任意に模擬で
きるので、放射線検出器と組合わせて使用する装置の較
正等をより客観的に行うことができる。
て放射線検出器が発生ずる電荷の量や数を任意に模擬で
きるので、放射線検出器と組合わせて使用する装置の較
正等をより客観的に行うことができる。
第１図は従来用いられたＴ線スペクトロメータの要部を
表わした回路図、第２図はこのパルス入力端子に加えら
れるテストパルスの波形とプリアンプに加えられる信号
波形を放射線検出器の出力する波形と対比させた各種波
形図、第３図は本発明の原理的構成を表わしたブロック
図、第４図は本発明の一実施例における電荷パルサをプ
リアンプに接続した状態を表わした回路図、第５図はこ
の電イ：イパルザの動作を説明するための各神波形図で
ある。 １１ ・・・・ゲルマニウム検出１／ｊ、ｉ、２７・・
・・・定電？７ｔＩＩＩＪ路、２８・・・・・・ＦＥＴ
（電界効果トランジスタ）、２９・・・・・・パルス発
生回路。 出 願 人 日本原子力事業株式会社 代 理 人 弁理士 山 内 梅 雄
表わした回路図、第２図はこのパルス入力端子に加えら
れるテストパルスの波形とプリアンプに加えられる信号
波形を放射線検出器の出力する波形と対比させた各種波
形図、第３図は本発明の原理的構成を表わしたブロック
図、第４図は本発明の一実施例における電荷パルサをプ
リアンプに接続した状態を表わした回路図、第５図はこ
の電イ：イパルザの動作を説明するための各神波形図で
ある。 １１ ・・・・ゲルマニウム検出１／ｊ、ｉ、２７・・
・・・定電？７ｔＩＩＩＪ路、２８・・・・・・ＦＥＴ
（電界効果トランジスタ）、２９・・・・・・パルス発
生回路。 出 願 人 日本原子力事業株式会社 代 理 人 弁理士 山 内 梅 雄
Claims (1)
- 電荷収集型放射線検出器の発生する電荷と類似した電荷
を発生させる定電流源と、この定電流源が電荷を発生ず
るときこれに同期してゲートパルスを発生させるパルス
発生回路と、このゲートパルスによってオンされ前記電
荷を出力側に与える電界効果トランジスタとを具備する
ことを特徴とする電荷パルサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9243183A JPS59218981A (ja) | 1983-05-27 | 1983-05-27 | 電荷パルサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9243183A JPS59218981A (ja) | 1983-05-27 | 1983-05-27 | 電荷パルサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59218981A true JPS59218981A (ja) | 1984-12-10 |
| JPH0519113B2 JPH0519113B2 (ja) | 1993-03-15 |
Family
ID=14054246
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9243183A Granted JPS59218981A (ja) | 1983-05-27 | 1983-05-27 | 電荷パルサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59218981A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6359155A (ja) * | 1986-08-29 | 1988-03-15 | Toshiba Corp | 通信制御方式 |
| JP2015523554A (ja) * | 2012-05-15 | 2015-08-13 | ベラジニ，ロナルド | デジタルｘ線センサ |
-
1983
- 1983-05-27 JP JP9243183A patent/JPS59218981A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6359155A (ja) * | 1986-08-29 | 1988-03-15 | Toshiba Corp | 通信制御方式 |
| JP2015523554A (ja) * | 2012-05-15 | 2015-08-13 | ベラジニ，ロナルド | デジタルｘ線センサ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0519113B2 (ja) | 1993-03-15 |
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