JPS6128850A - 産業用ctスキヤナ - Google Patents

産業用ctスキヤナ

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Publication number
JPS6128850A
JPS6128850A JP15020584A JP15020584A JPS6128850A JP S6128850 A JPS6128850 A JP S6128850A JP 15020584 A JP15020584 A JP 15020584A JP 15020584 A JP15020584 A JP 15020584A JP S6128850 A JPS6128850 A JP S6128850A
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JP
Japan
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data
radiation
image data
image
radiation absorption
Prior art date
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Pending
Application number
JP15020584A
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English (en)
Inventor
Kiichiro Uyama
喜一郎 宇山
Masaji Fujii
正司 藤井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPS6128850A publication Critical patent/JPS6128850A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/043Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using fluoroscopic examination, with visual observation or video transmission of fluoroscopic images

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  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は産業用CTスキャナに関し、特に画像データを
得る画像再構成手段を改良した産業用CTスキャナに関
する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
産業用CTスキャナは、被検体に放射線を透過させて被
検体の多方向からの放射線吸収データを得、これら放射
線吸収データを画像再構成処理して被検体の断層像を作
成するものである。
このような−CTスキャナにおいては、画像再構成処理
等の高速化および作成された断層像の分解能向上などが
要求される。特に断層像の分解能向を向上させる場合、
画像再構成して得られた画像データの画素数つま多画素
マトリックスを多くすることが考えられるが、画素マト
リックスを多くすると画像再構成処理時間が長く々って
しまい、実際の断層像撮影において問題がある。また、
画素マトリックスが多くなると画像再構成処理手段の構
成が複雑になシ、かつその規模も大きなものとなってし
まう。このように、分解能の高い断層像を得ようとする
と画像再構成処理時間が長くなり、かつ画像再構成処理
手段の構成が複雑になってしまう。
〔発明の目的〕
本発明は上記実情に基づいてなされたもので、その目的
とするところは、画像再構成手段、を変更することなく
、この画像再構成手段を用いてよシ画素数の多い画像デ
ータを得る産業用CTスキャナを提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は被検体に放射線を透過させて得られた放射線吸
収データから互いに画素位置のずれた複数の画像データ
を得、これら画像データを合成して画素数の多い最終的
な画像データを得て前記被検体の断層像を得る産業用C
Tスキャナである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明に係る産業用CTスキャナの一実施例につ
いて第1図ないし第7図を参照して説明する。第1図は
産業用CTスキャナの構成図である。同図において1は
スキャナ本体であって、これは被検体2に放射線を多方
向から照射して被検体2を透過してきた放射線を検出し
て被検体2の多方向からの放射線吸収データを得るもの
である。そこで、SFiスキャナ本体1の固定フレーム
であ〕、4は回転フレームである。回転フレーム4には
、中央部にテーブル5に載さられた被検体2が挿入され
る円形状の開口部6が形成され、この開口部6を介して
放射線源7と放射線検出器8とが対向配置されている。
そして、この回転フレーム4は、駆動制御部9からの制
御信号を受けて駆動する回転駆動機構10により360
度回転すなわち第3世代のCTスキャナの走査方式によ
・るローティト動作音[・行なうものとなっている。な
お、放射線源7は、線源制御部11からの所定周期のパ
ルス信号が咋加されて放射線(例えばX線)をパルス的
にローティト動作時に放射するものとなっている。
7&は放射線の放射点を示している。また、放射線検出
器8は、複数の放射線検出素子を羅列して構成されたも
ので、各放射線検出素子別に入射した放射線強度に応じ
た電気信号を出力するものである。12はデータ収集部
であって、これは放射線検出器8の各放射線検出素子別
に出力された電気、信号を積分し、さらにい変換して放
射線吸収データとして転送するものである。これら各放
射線検出素子別の放射線吸収データは、処理判断部13
の指令に、よシ逐次前処理すなわちオフセット補正、放
射線強度変化補正、水補正、I、og変換等が行なわれ
てディスク14または主記憶部15に格納されるように
なっている。ゆえに、第2図に示すようにローティト動
作時の放射線放射位置を01.θ2.・・・θ。とし、
各放射線検出素子の位置をその中心に位置する検出素子
を基準位置としてψ子〜−ψ繁として示すと、ディスク
14または主記憶部15には第3図に示すようなサイノ
ブラムとして各放射線吸収データが格納される。
さて、20は画像再構成部であって、これは、放射線吸
収データから最終的に得られる画像データの画素位置か
らみて補間的な画素位置の画素から構成され、かつそれ
ら画素が互いに隣接する4つの画像データを作成する第
1の再構成部20&と、作成された4つの画像データを
合成して前記最終的な画像データを作成する第2の再構
成部2θbとをもったものである。具体的に説明すると
、放射線吸収データを4回取込みこれら取込む毎の放射
線吸収データを逆投影処理する前のファンビーム/パラ
レルビーム変換の際に、放射線吸収データへの補正が行
なわれる。すなわち、第4図に示す最終的な画像データ
を作成する場合、画素Aからなる画像データは第3図に
示すサイノブラムの放射線吸収データ(01〜θユ、1
〜−9便)から作成される。
また画素Bからなる画像データはこの画素Bに相当する
位置にシフトした放射線吸収データ例えば第5図に示す
(θ1.9号)のデータ2分の1と(θl 、−ψ【づ
)のデータ2分の1この平均の放射線吸収データ(イ)
から作成される。
同様に画素CおよびDからなる画素データは、それぞれ
の画素C,Dに相当する位置の放射線吸収データから作
成される。さらに、画像再構成部2θは、これら4つの
画像データを合成して最終的な画像データを作成する機
能をもっている。16は画像メモリ、17はコンソール
、18は(JT表示装置である。
次に上記の如く構成された産業用CTスキャナの動作を
第6図に示す再構成処理フローチャートに従って説明す
る。コンソール17から線源制御部11および駆動制御
部・7に断層像撮影指令が発せられると、線源制御部!
’/からは所定周期の・々ルス信号が放射線源7に送出
され、これと同時に回転駆動機構lOは、回転フレーム
4全回転動作すなわちローティト動作させる。これによ
り、放射線源7からは、第2図に示すように等角度θ1
.θ2.・・・θ。移動する毎に放射線ビーム7bが放
射される。放射された放射線ビーム7bは被検体2を透
追して放射線検出器8の各放射線検出素子に入射する。
各放射線検出素子からは入射した放射線強度妃応じた電
気信号が出力され、これら電気信号はデータ収集部12
により積分され、さらにA/D変換されて各放射線検出
素子側の放射線吸収データとして転送される。これら放
射線吸収データは処理判断部13の指令により前処理が
行なわれる。すなわち、オフセット補正、X線の強度変
化補正、水補正、Log変換等である。そうして、これ
ら前処理が行なわれた放射線吸収データはディスク14
または主記憶部15に格納される。つまシ、第3図に示
すように各放射線放射位置θ)。
θ2.・・・θ。ごとに逐次放射i#!吸収データが格
納されてmXn個の放射線吸収データから構成されるい
わゆるサイノブラムが形成される。
次に処理判断部13の指令により画像再構成部20にお
いて画像再構成処理が行なわれる。
まず、各放射線検出素子側の放射線吸収データ(θ1〜
θ。、9m〜−9皿)K対してファンヒ−T     
 2 〜 ム/ノクラレルビーム変換が行なわれ、この後コンテリ
ューシュンが行なわれて修正された投影データが得られ
る。そして、これら投影データに対して放射線源7の放
射線放射方向からの逆投影が行なわれ、第4図に示す最
終的に得られる画像データの画素Aについての画像デー
タ〔第7図(a)〕が作成される。次に再び放射線吸収
データ(θl〜θ。、ψ繁〜−ψ苧)を取込み、これら
放射線吸収データ(θ1〜θ。、ψm〜−ψm)T ニ対スるファンビーム/ノぐラレルビーム変換ノ際、第
4図に示す画素データの画素Bに相当する部分の放射線
吸収データに補正される。すなわち、第5図に示すよう
にψ方向にシフトして得られる放射線吸収データつまシ
ψ方向に隣接し合う各放射線吸収データの平均を求めて
放射線吸収データを補正する。そして、この放射線吸収
データに対して逆投影を行なりて、画素Bの画像データ
〔第7図(b)〕を作成する。これと同様に画素C,D
の画像データに対してもとれら画素C,Dに相当する放
射線吸収データを得て逆投影が行なわれ画素C,Dの画
像データ〔第7図(c)(d)〕が作成される。
さらに画像再構成部201d作成された4つの画像デー
タ〔第7図(、)〜(d)〕を合成して最終的な画素デ
ータ〔第4図〕を得る。、この画像データは画像メモリ
16に格納される。そうして、この画像メモリ16から
画像データが読出されてCRT表示装置18に表示され
る。
このように本発明の産業用CTスキャナにおいては、放
射線吸収データを4回取込み、これら取込む毎に位置の
補正を行なり7を放射線吸収データを得て4つの互いに
画素位置の異なる画像データを作成し、さらにこれら4
つの画像データを合成して最終的な画像データを作成す
るので、1回の画像再構成処理により得られる画像デー
タの画素数よりも多くの画素数によ多構成される画像デ
ータが得られる。つまシ上記−実施例では、4つの画像
データを合成することにより4倍の画素数から構成され
る画像データが作成される。これにより次のような効果
を奏するととができる。すなわち ■ 画素数が多ぐることにより画像の分解能が向上する
。したがって画像の細かい部分が判別できるようになル
、特に拡大した場合に画像がデケなくなる。
■ 最終的な画像データを作成する前の4つの画像デー
タは補間的に位置する画素から構成されているので、こ
れら4つの画像データによっても画像を表示することが
できる。したがって画像再構成処理の途中において断層
像の全体像を表示できる。
■ 画像再構成部20が画素マトリックス(例えばAX
B )の画像データを作成するものであれば、4つの画
像データを合成することにより画素マトリックス、?A
X2Bの画像データを作成できる。したがって、画素マ
トリックス2AX2Bの画像データを直接作成する画像
再構成部の回・語構成よシも規模の小さな回路構成にで
きる。回路構成が小さくなることにより画像再構成処理
の時間が速くなる。
以上の効果により本発明の産業用CTスキャナを例えば
圧延ラインに流れるコイルの測定に適用すると、圧延ラ
インではコイルが高速で流れているためコイルの断層像
が−速く見たい要求があるが、この要求に応じることが
できる。さらに、コイル内部の欠陥を検出した場合、そ
の欠陥部分の細かい断層像が要求されるが、この要求に
も応じることができる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものではない
。上記一実施例では、画素マ) IJックスmXnの画
像データを作成する画像再構成部20により4つの画像
データを作成して合成し、最終的な画素マトリックス2
mX2nの画像データを作成しているが、最終的に作成
される画像データの画素マトリックスは2m×2nに限
らず・8′°・′°8°′″°8″・    (2mX
n a (mX(n #・・・などの所望の画素マトリ
ックスに設定してもよい。これは、放射線吸収データか
ら画素位置の異なる画素データを複数作成すれば可能と
なる。これにより断層像に応じた画素マトリックス数の
画像データを得て表示することができる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、放射線吸収データから互いに画素位置
の異にる複数の画像データを作成し、さらにこれら画像
データを合成して最終的な画像泰−夕を作成するので、
画像再構成手段を変更することなく、よ゛シ画素数の多
い画像データを作成することができる産業用CTスキャ
ナを提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る産業用CTスキャナの一実施例を
示す構成図、第2図は第1図に示す産業用CTスキャナ
の放射線吸収データ収集を説明するための模式図、第3
図は第1図に示す産業用CTスキャナにおけるサイノブ
ラムの構成を示す模式図、第4図は第1図に示す産業用
CTスキャナによ)得られる最終的画像メモリの模式図
、第5図は第1図に示す産業用CTスキャナにおける放
射線吸収データの補正を説明するための模式図、第6図
は第1図に示す産業用CTスキャナの再構成処理フロー
チャート、第7図(PL)(b)&)(d)は第1図に
示す産業用CTスキャナにより作成され石画素位置の異
なる各画像データを示す模式図である。 1・・・スキャナ本体、2・・・被検体、7・・・放射
線源、8・・・放射線検出器、10・・・回転駆動機構
、12・・・データ収集部、13・・・処理判断部、1
6・・・画像メモリ、20・・・画像再構成部、20a
・・・第1の再構成部、20b・・・第2の再構成部。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図 第3図 第4図      第6図 第7図 (c)(d)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検体に放射線を透過させて得られた放射線吸収
    データから再構成画像を作成して前記被検体の断層像を
    得る産業用CTスキャナにおいて、前記放射線吸収デー
    タから互いに画素位置の異なる複数の画像データを得る
    第1の再構成手段と、この第1の再構成手段により得ら
    れた複数の画像データを合成して最終的な画像データを
    得る第2の再構成手段とを具備し、画素数の多い前記断
    層像の画像データを得ることを特徴とする産業用CTス
    キャナ。
  2. (2)第1の再構成手段は、放射線吸収データから最終
    的に得られる画像データの補間的な画素位置に相当する
    放射線吸収データを複数組作成する放射線吸収データ作
    成部と、この放射線吸収データ作成機能により作成され
    た各放射線吸収データから互いに画素位置の異なる画像
    データを得る再構成部とから成る特許請求の範囲第(1
    )項記載の産業用CTスキャナ。
JP15020584A 1984-07-19 1984-07-19 産業用ctスキヤナ Pending JPS6128850A (ja)

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JP15020584A JPS6128850A (ja) 1984-07-19 1984-07-19 産業用ctスキヤナ

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JP15020584A JPS6128850A (ja) 1984-07-19 1984-07-19 産業用ctスキヤナ

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JPS6128850A true JPS6128850A (ja) 1986-02-08

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JP15020584A Pending JPS6128850A (ja) 1984-07-19 1984-07-19 産業用ctスキヤナ

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2668829A1 (fr) * 1990-11-05 1992-05-07 Commissariat Energie Atomique Dispositif et procede de controle non destructif a acquisition simultanee de donnees radiographiques et de donnees tomographiques.
JP2007017314A (ja) * 2005-07-08 2007-01-25 Hitachi Ltd 密度分析方法、コンピュータプログラムおよび密度分析システム

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2668829A1 (fr) * 1990-11-05 1992-05-07 Commissariat Energie Atomique Dispositif et procede de controle non destructif a acquisition simultanee de donnees radiographiques et de donnees tomographiques.
JP2007017314A (ja) * 2005-07-08 2007-01-25 Hitachi Ltd 密度分析方法、コンピュータプログラムおよび密度分析システム
JP4532364B2 (ja) * 2005-07-08 2010-08-25 株式会社日立製作所 密度分析方法、コンピュータプログラムおよび密度分析システム

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