JPH05332952A - 産業用ｃｔ装置とそのスキャノグラム撮影方法 - Google Patents
産業用ｃｔ装置とそのスキャノグラム撮影方法Info
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- JPH05332952A JPH05332952A JP4137185A JP13718592A JPH05332952A JP H05332952 A JPH05332952 A JP H05332952A JP 4137185 A JP4137185 A JP 4137185A JP 13718592 A JP13718592 A JP 13718592A JP H05332952 A JPH05332952 A JP H05332952A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 産業用のＣＴ装置について、断層撮影位置を
決定するために必要な放射線の高画質の透過画像（スキ
ャノグラム像）を短時間で得る。 【構成】 ファンビ−ムで放射線を照射する放射線発生
装置１と、扇形に離間して（離間角度をθ）配置された
複数個の放射線検出器６ａ，６ｂ，６ｃ（各検出器に入
射する放射線の広がり角度をφ）と、被検体２を載置す
るタ−ンテ−ブル３（放射線発生装置１との距離をｍ）
の他に、φ×ｍピッチで被検体２を検出器６と発生装置
１に対して相対的に並進走査させる機構４と、この並進
と同期してターンテーブル３を角度φずつ回転走査させ
るコントロ−ラ７と、θ／φ回の走査で得られた画像を
処理してスキャノグラムを作成する計算機９とを設け
る。これにより、検出器間の画像も高精度に得ることが
可能となる。
決定するために必要な放射線の高画質の透過画像（スキ
ャノグラム像）を短時間で得る。 【構成】 ファンビ−ムで放射線を照射する放射線発生
装置１と、扇形に離間して（離間角度をθ）配置された
複数個の放射線検出器６ａ，６ｂ，６ｃ（各検出器に入
射する放射線の広がり角度をφ）と、被検体２を載置す
るタ−ンテ−ブル３（放射線発生装置１との距離をｍ）
の他に、φ×ｍピッチで被検体２を検出器６と発生装置
１に対して相対的に並進走査させる機構４と、この並進
と同期してターンテーブル３を角度φずつ回転走査させ
るコントロ−ラ７と、θ／φ回の走査で得られた画像を
処理してスキャノグラムを作成する計算機９とを設け
る。これにより、検出器間の画像も高精度に得ることが
可能となる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、産業用にエネルギの高
いＸ線を用いたＣＴ（Computed Tomography）装置に係
り、特に、被検体のＣＴ撮影部位を決定するために予め
求める２次元の透視画像（スキャノグラム画像）を撮影
するのに好適な産業用ＣＴ装置に関する。
いＸ線を用いたＣＴ（Computed Tomography）装置に係
り、特に、被検体のＣＴ撮影部位を決定するために予め
求める２次元の透視画像（スキャノグラム画像）を撮影
するのに好適な産業用ＣＴ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線ＣＴ装置は、Ｘ線発生源と検出器と
の間に被検体を置き、この被検体を中心にしてＸ線発生
源及び検出器を被検体に対して相対的に回転，平行移動
するようになっている。被検体の撮影部位を決定するに
は、被検体の全体の透視画像を先ず撮影する必要があ
る。この透視画像は、Ｘ線発生源を中心にして検出器を
移動させ、Ｘ線発生源と検出器とを結ぶ線が被検体を横
切るように走査することで得られるものである。しか
し、Ｘ線ＣＴ装置は、前述した様に被検体を中心に走査
する機構のみを備え、Ｘ線発生源を中心に走査する機構
は備えていない。そこで、従来から、被検体を少し回転
させては、Ｘ線発生源及び検出器を被検体に対して並行
に移動させ、等価的にＸ線発生源を中心とした透視画像
を得るようにしている。例えば、特開平２−６４４４２
号公報記載の従来技術では、１列に隣接して配置した７
つの検出素子を有する検出器と、Ｘ線発生装置との間に
被検体を置き、各検出素子中心間の距離をｘ、１つの検
出素子に入射するＸ線の広がり角度をφとしたとき、被
検体をφ／２づつ回転させ、これに同期して、ｘ／２づ
つ並進させている。
の間に被検体を置き、この被検体を中心にしてＸ線発生
源及び検出器を被検体に対して相対的に回転，平行移動
するようになっている。被検体の撮影部位を決定するに
は、被検体の全体の透視画像を先ず撮影する必要があ
る。この透視画像は、Ｘ線発生源を中心にして検出器を
移動させ、Ｘ線発生源と検出器とを結ぶ線が被検体を横
切るように走査することで得られるものである。しか
し、Ｘ線ＣＴ装置は、前述した様に被検体を中心に走査
する機構のみを備え、Ｘ線発生源を中心に走査する機構
は備えていない。そこで、従来から、被検体を少し回転
させては、Ｘ線発生源及び検出器を被検体に対して並行
に移動させ、等価的にＸ線発生源を中心とした透視画像
を得るようにしている。例えば、特開平２−６４４４２
号公報記載の従来技術では、１列に隣接して配置した７
つの検出素子を有する検出器と、Ｘ線発生装置との間に
被検体を置き、各検出素子中心間の距離をｘ、１つの検
出素子に入射するＸ線の広がり角度をφとしたとき、被
検体をφ／２づつ回転させ、これに同期して、ｘ／２づ
つ並進させている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来技術は、
隣接して配置した複数の検出素子でなる検出器を用いて
る。これは、１つの検出素子が検出する範囲のＸ線が隣
接する検出素子の検出値に影響を与えないことを前提と
しており、弱いＸ線源を使用することを前提としてい
る。つまり、医療用のＣＴ装置に限られる技術である。
また、被検体をφ／２づつ回転しこれに同期してｘ／２
づつ並進走査すると、検出素子間の隣接部に入射するＸ
線透過を検出することができないので、その部分の透過
画像が抜け落ちてしまうという問題がある。最も、医療
用の様に小さな検出素子を使用する場合にはこの画像の
抜け落ちは問題にはならない。しかし、産業用ＣＴ装置
では、使用するＸ線の強度が強いため、検出器の間隔を
開けて隣との影響が画像に現れないようにしている。つ
まり、検出器間の間隔が広いため、この部分の画像の抜
け落ちが生じると、透視画像として利用することができ
ない。また、産業用ＣＴ装置では、Ｘ線発生源と被検体
との間の距離の影響も排除して透視画像を作成する必要
があり、前述した従来技術をそのまま適用することはで
きない。
隣接して配置した複数の検出素子でなる検出器を用いて
る。これは、１つの検出素子が検出する範囲のＸ線が隣
接する検出素子の検出値に影響を与えないことを前提と
しており、弱いＸ線源を使用することを前提としてい
る。つまり、医療用のＣＴ装置に限られる技術である。
また、被検体をφ／２づつ回転しこれに同期してｘ／２
づつ並進走査すると、検出素子間の隣接部に入射するＸ
線透過を検出することができないので、その部分の透過
画像が抜け落ちてしまうという問題がある。最も、医療
用の様に小さな検出素子を使用する場合にはこの画像の
抜け落ちは問題にはならない。しかし、産業用ＣＴ装置
では、使用するＸ線の強度が強いため、検出器の間隔を
開けて隣との影響が画像に現れないようにしている。つ
まり、検出器間の間隔が広いため、この部分の画像の抜
け落ちが生じると、透視画像として利用することができ
ない。また、産業用ＣＴ装置では、Ｘ線発生源と被検体
との間の距離の影響も排除して透視画像を作成する必要
があり、前述した従来技術をそのまま適用することはで
きない。
【０００４】本発明の目的は、Ｘ線発生源及び検出器と
被検体との間の相対的な回転と並進走査で被検体の高精
度な透視画像を得ることができる産業用ＣＴ装置を提供
することにある。
被検体との間の相対的な回転と並進走査で被検体の高精
度な透視画像を得ることができる産業用ＣＴ装置を提供
することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的は、放射線をフ
ァンビ−ムで放射する放射線源と、扇形に離間して複数
個配置された放射線検出器と、放射線源及び検出器と被
検体との間で相対的な走査を行う走査手段と、前記検出
器から収集した放射線透過データから被検体の画像を生
成する計算機とを備える産業用ＣＴ装置において、ファ
ンビームで各検出器に入力する放射線の広がり角度を
φ、放射線源と被検体との距離をｍとしたとき、前記走
査手段は、被検体をφ×ｍピッチで並進走査すると共に
これに同期して角度φづつ回転走査する制御手段を設け
ることで、達成される。
ァンビ−ムで放射する放射線源と、扇形に離間して複数
個配置された放射線検出器と、放射線源及び検出器と被
検体との間で相対的な走査を行う走査手段と、前記検出
器から収集した放射線透過データから被検体の画像を生
成する計算機とを備える産業用ＣＴ装置において、ファ
ンビームで各検出器に入力する放射線の広がり角度を
φ、放射線源と被検体との距離をｍとしたとき、前記走
査手段は、被検体をφ×ｍピッチで並進走査すると共に
これに同期して角度φづつ回転走査する制御手段を設け
ることで、達成される。
【０００６】
【作用】複数の検出器が離間していても、φ×ｍの並進
走査とφの回転走査を同期させて被検体の画像を得るこ
とで、等価的に放射線発生源を中心とした、画像抜けの
ない高画質の透視画像が得られる。
走査とφの回転走査を同期させて被検体の画像を得るこ
とで、等価的に放射線発生源を中心とした、画像抜けの
ない高画質の透視画像が得られる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照して説
明する。先ず、本発明の原理について説明する。本発明
では、ファンビ−ム放射線を被検体に照射しながら、放
射線源と検出器、または被検体のみを、並進走査させる
と共に回転走査させる。このとき、それぞれの走査は、
扇形に離間した検出器の間の広がりピッチをうめるよう
に同期させて走査する。つまり、扇形に配置した検出器
は、各々の検出器の幅に比べて各々の検出器の間隔が広
いため、一回のデ−タ収集では歯抜けの透過デ−タしか
収集できないので、抜けた部分を埋めるように走査をす
る。ただし、回転走査のみでは放射線源を中心にファン
ビ−ムで密に照射したのと等価のデ−タを収集すること
はできないので、並進走査を組み合わせて、ファンビ−
ムで密に照射したのと等価のデ−タを収集する。
明する。先ず、本発明の原理について説明する。本発明
では、ファンビ−ム放射線を被検体に照射しながら、放
射線源と検出器、または被検体のみを、並進走査させる
と共に回転走査させる。このとき、それぞれの走査は、
扇形に離間した検出器の間の広がりピッチをうめるよう
に同期させて走査する。つまり、扇形に配置した検出器
は、各々の検出器の幅に比べて各々の検出器の間隔が広
いため、一回のデ−タ収集では歯抜けの透過デ−タしか
収集できないので、抜けた部分を埋めるように走査をす
る。ただし、回転走査のみでは放射線源を中心にファン
ビ−ムで密に照射したのと等価のデ−タを収集すること
はできないので、並進走査を組み合わせて、ファンビ−
ムで密に照射したのと等価のデ−タを収集する。
【０００８】以上の走査で、放射線のファンビ−ム角度
の広がりの範囲内に納まる大きさの被検体のスキャノグ
ラム像は収集できるが、さらに大きな被検体のスキャノ
グラム像を撮影する場合は、最初に撮影したスキャノグ
ラム像に隣接して最初に撮影したスキャノグラム像と同
様の像を撮影するように、つまり放射線のファンビ−ム
角度だけ検出器が放射線源を中心に回転したのと等価に
なるように、放射線源と検出器、または被検体のみを、
並進走査させると共に回転走査させる。そして前記動作
と同様、並進走査と回転走査により放射線源を中心にフ
ァンビ−ムで密に照射したのと等価のデ−タを収集す
る。以上の走査を被検体全体のスキャノグラム像が撮影
できるまで繰返し、最終的には放射線源を中心にファン
ビ−ムで密に被検体全体を照射したのと等価のデ−タを
収集し、被検体全体のスキャノグラム像を求める。
の広がりの範囲内に納まる大きさの被検体のスキャノグ
ラム像は収集できるが、さらに大きな被検体のスキャノ
グラム像を撮影する場合は、最初に撮影したスキャノグ
ラム像に隣接して最初に撮影したスキャノグラム像と同
様の像を撮影するように、つまり放射線のファンビ−ム
角度だけ検出器が放射線源を中心に回転したのと等価に
なるように、放射線源と検出器、または被検体のみを、
並進走査させると共に回転走査させる。そして前記動作
と同様、並進走査と回転走査により放射線源を中心にフ
ァンビ−ムで密に照射したのと等価のデ−タを収集す
る。以上の走査を被検体全体のスキャノグラム像が撮影
できるまで繰返し、最終的には放射線源を中心にファン
ビ−ムで密に被検体全体を照射したのと等価のデ−タを
収集し、被検体全体のスキャノグラム像を求める。
【０００９】また、本発明では、被検体の厚みが薄い場
合、放射線源と検出器、または被検体のみを、検出器自
体の幅と等しいピッチで被検体の長さ方向に並進走査の
み行いながら、厚み方向の透過デ−タを収集する。そし
て、被検体の注目する点、例えば厚み方向の中心点を透
過したデ−タを集めて、加算する。このとき、一点当り
の加算するデ−タ数は、扇形に離間して配置した検出器
の数と同じくする。これにより、ノイズの少ない高品質
の画像が得られる。
合、放射線源と検出器、または被検体のみを、検出器自
体の幅と等しいピッチで被検体の長さ方向に並進走査の
み行いながら、厚み方向の透過デ−タを収集する。そし
て、被検体の注目する点、例えば厚み方向の中心点を透
過したデ−タを集めて、加算する。このとき、一点当り
の加算するデ−タ数は、扇形に離間して配置した検出器
の数と同じくする。これにより、ノイズの少ない高品質
の画像が得られる。
【００１０】以下、本発明の具体的実施例を説明する。
図１は、本発明の第１実施例に係る産業用ＣＴ装置の説
明図である。この産業用ＣＴ装置は、産業構造物例えば
原子炉構造物等の被検体２を透過する強力な放射線をフ
ァンビ−ムで発生する放射線発生装置１と、被検体２を
回転走査するタ−ンテ−ブル３と、被検体２とタ−ンテ
−ブル３を並進走査させる並進走査機構４と、タ−ンテ
−ブル３と並進走査機構４を上下方向に移動するＺ軸移
動機構５と、扇形に離間して設置された複数個の同一構
成の放射線検出器６（本実施例では、３つの放射線検出
器６ａ，６ｂ，６ｃ）と、回転走査と並進走査とＺ軸移
動を制御するコントロ−ラ７と、放射線検出器６ａ〜６
ｃからの信号を処理する信号処理回路８と、信号処理回
路８からのデ−タをもとにスキャノグラム画像を作成す
る計算機９と、作成したスキャノグラム画像を表示する
ＣＲＴ１０とを備えている。
図１は、本発明の第１実施例に係る産業用ＣＴ装置の説
明図である。この産業用ＣＴ装置は、産業構造物例えば
原子炉構造物等の被検体２を透過する強力な放射線をフ
ァンビ−ムで発生する放射線発生装置１と、被検体２を
回転走査するタ−ンテ−ブル３と、被検体２とタ−ンテ
−ブル３を並進走査させる並進走査機構４と、タ−ンテ
−ブル３と並進走査機構４を上下方向に移動するＺ軸移
動機構５と、扇形に離間して設置された複数個の同一構
成の放射線検出器６（本実施例では、３つの放射線検出
器６ａ，６ｂ，６ｃ）と、回転走査と並進走査とＺ軸移
動を制御するコントロ−ラ７と、放射線検出器６ａ〜６
ｃからの信号を処理する信号処理回路８と、信号処理回
路８からのデ−タをもとにスキャノグラム画像を作成す
る計算機９と、作成したスキャノグラム画像を表示する
ＣＲＴ１０とを備えている。
【００１１】各放射線検出器６ａ，６ｂ，６ｃ間の開き
角度をθ、各放射線検出器６ａ，６ｂ，６ｃに入射する
ファンビーム状Ｘ線の広がり角度をφ、放射線発生装置
１とタ−ンテ−ブル３の回転中心のあいだの距離をｍと
する。ただしθはφの倍数とする。このとき、放射線発
生装置１が照射するＸ線の範囲は２θ＋φ以上必要とな
る。
角度をθ、各放射線検出器６ａ，６ｂ，６ｃに入射する
ファンビーム状Ｘ線の広がり角度をφ、放射線発生装置
１とタ−ンテ−ブル３の回転中心のあいだの距離をｍと
する。ただしθはφの倍数とする。このとき、放射線発
生装置１が照射するＸ線の範囲は２θ＋φ以上必要とな
る。
【００１２】図２は、並進走査と回転走査の説明図であ
る。図２（ａ）は、測定開始時の状態である。始め、放
射線ビ−ムは１０１，１０２，１０３の経路を通って各
放射線検出器６ａ，６ｂ，６ｃに入射する。次に、放射
線発生装置１を中心として各放射線ビ−ム１０１，１０
２，１０３をφだけ回転した経路２０１，２０２，２０
３を通るデ−タを収集する必要がある。そこで、図２
（ｃ）に示すように、被検体２を載置したタ−ンテ−ブ
ル３を角度φだけ回転させるが、このときの回転中心は
タ−ンテ−ブル３の中心であり、タ−ンテ−ブル３によ
る回転走査のみでは、放射線ビ−ムの傾きは図示する経
路２０１，２０２，２０３と等しくても、放射線発生装
置１の位置がφ×ｍだけずれたデ−タが得られるだけで
ある。そこで、このずれを補正するため、図２（ｄ）に
示すように、タ−ンテ−ブル３を並進走査機構４でφ×
ｍだけ並進走査し、図２（ｂ）に示した放射線ビ−ム２
０１，２０２，２０３のデ−タを収集する。
る。図２（ａ）は、測定開始時の状態である。始め、放
射線ビ−ムは１０１，１０２，１０３の経路を通って各
放射線検出器６ａ，６ｂ，６ｃに入射する。次に、放射
線発生装置１を中心として各放射線ビ−ム１０１，１０
２，１０３をφだけ回転した経路２０１，２０２，２０
３を通るデ−タを収集する必要がある。そこで、図２
（ｃ）に示すように、被検体２を載置したタ−ンテ−ブ
ル３を角度φだけ回転させるが、このときの回転中心は
タ−ンテ−ブル３の中心であり、タ−ンテ−ブル３によ
る回転走査のみでは、放射線ビ−ムの傾きは図示する経
路２０１，２０２，２０３と等しくても、放射線発生装
置１の位置がφ×ｍだけずれたデ−タが得られるだけで
ある。そこで、このずれを補正するため、図２（ｄ）に
示すように、タ−ンテ−ブル３を並進走査機構４でφ×
ｍだけ並進走査し、図２（ｂ）に示した放射線ビ−ム２
０１，２０２，２０３のデ−タを収集する。
【００１３】被検体２を上から見た場合の走査方向は、
回転走査方向が時計回りのとき、並進走査方向は左、回
転走査方向が反時計回りのとき、並進走査方向は右であ
る。以上の走査をθ／φ回実行することにより、図３に
示すように、放射線検出器を連続して密に配置してある
のと同等のデ−タを収集できる。図３に示す例では、回
転走査と並進走査を４回実施している。
回転走査方向が時計回りのとき、並進走査方向は左、回
転走査方向が反時計回りのとき、並進走査方向は右であ
る。以上の走査をθ／φ回実行することにより、図３に
示すように、放射線検出器を連続して密に配置してある
のと同等のデ−タを収集できる。図３に示す例では、回
転走査と並進走査を４回実施している。
【００１４】以上の走査によるデ−タを収集した後、タ
−ンテ−ブル３と並進走査機構４をＺ軸移動機構５によ
り上方向または下方向に走査して図２に示したのと同等
または逆の方向に走査をし、再び図３に示したデ−タを
収集する。以上の走査を繰り返して各Ｚ軸位置における
２次元の放射線透過デ−タを収集し、透過強度に基づい
た濃淡表示画像を計算機９で求め、ＣＲＴ１０に表示す
る。この実施例によれば、放射線ビ−ムの利用効率を高
めて１枚のスキャノグラム像が得られるので、短時間で
スキャノグラム像が得られる効果がある。
−ンテ−ブル３と並進走査機構４をＺ軸移動機構５によ
り上方向または下方向に走査して図２に示したのと同等
または逆の方向に走査をし、再び図３に示したデ−タを
収集する。以上の走査を繰り返して各Ｚ軸位置における
２次元の放射線透過デ−タを収集し、透過強度に基づい
た濃淡表示画像を計算機９で求め、ＣＲＴ１０に表示す
る。この実施例によれば、放射線ビ−ムの利用効率を高
めて１枚のスキャノグラム像が得られるので、短時間で
スキャノグラム像が得られる効果がある。
【００１５】上述した実施例では、検出器の数を３個と
したが、３個以外の場合も複数個であれば各放射線検出
器の開き角度をθ、各放射線検出器に入射するＸ線の広
がり角度をφとして実施例と同様にスキャノグラム像を
収集できる。この実施例では、被検体２を並進および回
転走査させていたが放射線発生装置１と放射線検出器６
を並進および回転走査しても、あるいは被検体２を並進
走査し放射線発生装置１と放射線検出器６を回転走査し
ても、また被検体２を回転走査し放射線発生装置１と放
射線検出器６を並進走査してもよい。さらに上下の移動
も相対的に放射線発生装置１と放射線検出器６および被
検体２が移動すればよく、被検体２を上下に移動して
も、放射線発生装置１と放射線検出器６を上下に移動し
てもよい。
したが、３個以外の場合も複数個であれば各放射線検出
器の開き角度をθ、各放射線検出器に入射するＸ線の広
がり角度をφとして実施例と同様にスキャノグラム像を
収集できる。この実施例では、被検体２を並進および回
転走査させていたが放射線発生装置１と放射線検出器６
を並進および回転走査しても、あるいは被検体２を並進
走査し放射線発生装置１と放射線検出器６を回転走査し
ても、また被検体２を回転走査し放射線発生装置１と放
射線検出器６を並進走査してもよい。さらに上下の移動
も相対的に放射線発生装置１と放射線検出器６および被
検体２が移動すればよく、被検体２を上下に移動して
も、放射線発生装置１と放射線検出器６を上下に移動し
てもよい。
【００１６】図４は、本発明の第２実施例に係る産業用
ＣＴ装置の説明図である。図４に示す様に、３個の扇形
に離間して配置した検出器６ａ，６ｂ，６ｃが見込む範
囲より被検体２の方が大きい場合は、第１実施例に示す
方法では被検体２全体をカバ−してスキャノグラム像を
撮影できない。そこで、図５（ａ）に示すように、第１
実施例に示す方法で時計回りの回転方向に３θの範囲の
スキャノグラム像を収集したのち、図５（ｂ）に示すよ
うに。時計回りの回転方向に被検体２を角度２θだけタ
−ンテ−ブル３により回転し、更に並進走査機構４で距
離２θ×ｍだけ被検体２を左向きに並進走査し、その後
再び第１実施例に示す方法で時計回りの回転方向に３θ
の範囲のスキャノグラム像を収集する。以上の走査を被
検体２全体のスキャノグラム像を収集するまで、図５
（ｃ）に示すように繰返したのち、被検体２を上下に移
動して被検体２の２次元スキャノグラム像を撮影する。
ＣＴ装置の説明図である。図４に示す様に、３個の扇形
に離間して配置した検出器６ａ，６ｂ，６ｃが見込む範
囲より被検体２の方が大きい場合は、第１実施例に示す
方法では被検体２全体をカバ−してスキャノグラム像を
撮影できない。そこで、図５（ａ）に示すように、第１
実施例に示す方法で時計回りの回転方向に３θの範囲の
スキャノグラム像を収集したのち、図５（ｂ）に示すよ
うに。時計回りの回転方向に被検体２を角度２θだけタ
−ンテ−ブル３により回転し、更に並進走査機構４で距
離２θ×ｍだけ被検体２を左向きに並進走査し、その後
再び第１実施例に示す方法で時計回りの回転方向に３θ
の範囲のスキャノグラム像を収集する。以上の走査を被
検体２全体のスキャノグラム像を収集するまで、図５
（ｃ）に示すように繰返したのち、被検体２を上下に移
動して被検体２の２次元スキャノグラム像を撮影する。
【００１７】この第２実施例によれば、被検体２が大き
い場合でも、放射線ビ−ムの利用効率を高めて１枚のス
キャノグラム像が得られ、短時間でスキャノグラム像が
得られる効果がある。尚、被検体２の回転走査方向を時
計回り並進走査方向を左としたが、被検体２の回転走査
方向を反時計回り並進走査方向を右としてもよい。ま
た、放射線検出器の数を３個としたが、３個以外の場合
も複数個であれば各放射線検出器の開き角度をθ、各放
射線検出器に入射するＸ線の広がり角度をφとして、同
様にスキャノグラム像を収集できることはいうまでもな
い。更にまた、被検体２を並進および回転走査させてい
たが、放射線発生装置１と放射線検出器６を並進および
回転走査しても、あるいは被検体２を並進走査し放射線
発生装置１と放射線検出器６を回転走査しても、被検体
２を回転走査し放射線発生装置１と放射線検出器６を並
進走査してもよい。また、上下の移動も相対的に放射線
発生装置１と放射線検出器６および被検体２が移動すれ
ばよく、被検体２を上下に移動しても、放射線発生装置
１と放射線検出器６を上下に移動してもよい。
い場合でも、放射線ビ−ムの利用効率を高めて１枚のス
キャノグラム像が得られ、短時間でスキャノグラム像が
得られる効果がある。尚、被検体２の回転走査方向を時
計回り並進走査方向を左としたが、被検体２の回転走査
方向を反時計回り並進走査方向を右としてもよい。ま
た、放射線検出器の数を３個としたが、３個以外の場合
も複数個であれば各放射線検出器の開き角度をθ、各放
射線検出器に入射するＸ線の広がり角度をφとして、同
様にスキャノグラム像を収集できることはいうまでもな
い。更にまた、被検体２を並進および回転走査させてい
たが、放射線発生装置１と放射線検出器６を並進および
回転走査しても、あるいは被検体２を並進走査し放射線
発生装置１と放射線検出器６を回転走査しても、被検体
２を回転走査し放射線発生装置１と放射線検出器６を並
進走査してもよい。また、上下の移動も相対的に放射線
発生装置１と放射線検出器６および被検体２が移動すれ
ばよく、被検体２を上下に移動しても、放射線発生装置
１と放射線検出器６を上下に移動してもよい。
【００１８】図６は、本発明の第３実施例の説明図であ
る。図６に示す様に、被検体２の厚みが薄い場合は、被
検体２を、並進走査機構４により各検出器６ａ，６ｂ，
６ｃの幅と等しいピッチで並進走査し、各検出器６ａ〜
６ｃが被検体２の全長の放射線透過デ−タを収集する。
このあと、被検体２の各点例えばＸ軸上の点Ａを通る３
つの検出器６ａ〜６ｃの放射線透過デ−タを加算する。
このような加算をＸ軸上の各点について実施し、さら
に、被検体２を上下に移動して２次元のデ−タを収集
し、加算したデータからスキャノグラム像を１枚求め
る。この実施例によれば、１枚のスキャノグラム像撮影
に多数の透過デ−タを利用できるので、高品質の画像が
得られる効果がある。尚、第３実施例では、Ｘ軸は被検
体２の任意の位置に定めることができ、また並進走査ま
たは上下移動する対象は、被検体２でも放射線発生装置
１と放射線検出器６でもよい。
る。図６に示す様に、被検体２の厚みが薄い場合は、被
検体２を、並進走査機構４により各検出器６ａ，６ｂ，
６ｃの幅と等しいピッチで並進走査し、各検出器６ａ〜
６ｃが被検体２の全長の放射線透過デ−タを収集する。
このあと、被検体２の各点例えばＸ軸上の点Ａを通る３
つの検出器６ａ〜６ｃの放射線透過デ−タを加算する。
このような加算をＸ軸上の各点について実施し、さら
に、被検体２を上下に移動して２次元のデ−タを収集
し、加算したデータからスキャノグラム像を１枚求め
る。この実施例によれば、１枚のスキャノグラム像撮影
に多数の透過デ−タを利用できるので、高品質の画像が
得られる効果がある。尚、第３実施例では、Ｘ軸は被検
体２の任意の位置に定めることができ、また並進走査ま
たは上下移動する対象は、被検体２でも放射線発生装置
１と放射線検出器６でもよい。
【００１９】
【発明の効果】本発明によれば、産業用ＣＴ装置で、検
出器間の間隔角度をθ，各検出器に入射するファンビー
ム状Ｘ線の広がり角度をφ、放射線発生装置と被検体と
の距離をｍとしたとき、φ×ｍの並進走査と角度φの回
転走査とを同期させてθ／φ回実行して被検体の放射線
透過データを収集してスキャノグラム画像を生成するの
で、短時間で精度の高いスキャノグラム像を得ることが
できる。また、各検出器の被検体同一点のデータを加算
したデータに基づいてスキャノグラム像を生成するの
で、高画質の映像を得ることができる。
出器間の間隔角度をθ，各検出器に入射するファンビー
ム状Ｘ線の広がり角度をφ、放射線発生装置と被検体と
の距離をｍとしたとき、φ×ｍの並進走査と角度φの回
転走査とを同期させてθ／φ回実行して被検体の放射線
透過データを収集してスキャノグラム画像を生成するの
で、短時間で精度の高いスキャノグラム像を得ることが
できる。また、各検出器の被検体同一点のデータを加算
したデータに基づいてスキャノグラム像を生成するの
で、高画質の映像を得ることができる。
【図１】本発明の第１実施例に係る産業用ＣＴ装置の説
明図である。
明図である。
【図２】第１実施例のＣＴ装置の動作説明図である。
【図３】透過デ−タの収集結果を示す図である。
【図４】本発明の第２実施例に係る産業用ＣＴ装置の説
明図である。
明図である。
【図５】第２実施例のＣＴ装置の動作説明図である。
【図６】本発明の第３実施例に係る産業用ＣＴ装置の説
明図である。
明図である。
１…放射線発生装置、２…被検体、３…タ−ンテ−ブ
ル、４…並進走査機構、５…Ｚ軸駆動機構、６…放射線
検出器、７…コントロ−ラ、８…信号処理回路、９…計
算機、１０…ＣＲＴ、１０１〜４０４…検出器入射放射
線ビ−ム経路。
ル、４…並進走査機構、５…Ｚ軸駆動機構、６…放射線
検出器、７…コントロ−ラ、８…信号処理回路、９…計
算機、１０…ＣＲＴ、１０１〜４０４…検出器入射放射
線ビ−ム経路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮井 裕史 茨城県日立市森山町1168番地 株式会社日 立製作所エネルギー研究所内 (72)発明者 綿引 誠之 茨城県日立市幸町三丁目１番１号 株式会 社日立製作所日立工場内
Claims (10)
- 【請求項１】 放射線をファンビ−ムで放射する放射線
源と、扇形に離間して複数個配置された放射線検出器
と、放射線源及び検出器と被検体との間で相対的な走査
を行う走査手段と、前記検出器から収集した放射線透過
データから被検体の画像を生成する計算機とを備える産
業用ＣＴ装置において、ファンビームで各検出器に入力
する放射線の広がり角度をφ、放射線源と被検体との距
離をｍとしたとき、前記走査手段は、被検体をφ×ｍピ
ッチで並進走査すると共にこれに同期して角度φづつ回
転走査する制御手段を備えることを特徴とする産業用Ｃ
Ｔ装置。 - 【請求項２】 放射線をファンビ−ムで放射する放射線
源と、扇形に離間して複数個配置された放射線検出器
と、放射線源及び検出器と被検体との間で相対的な走査
を行う走査手段と、前記検出器から収集した放射線透過
データから被検体の画像を生成する計算機とを備える産
業用ＣＴ装置において、検出器間の開き角をθ、ファン
ビームで各検出器に入力する放射線の広がり角度をφ、
放射線源と被検体との距離をｍとしたとき、前記走査手
段は、被検体をφ×ｍピッチで並進走査すると共にこれ
に同期して角度φづつ回転走査する制御手段を備え、前
記計算機は前記並進走査と回転走査をθ／φ回行って得
られたデータから画像を生成する手段を備えることを特
徴とする産業用ＣＴ装置。 - 【請求項３】 請求項１または請求項２において、走査
手段は、放射線源及び検出器と被検体との間で相対的に
Ｚ軸方向に走査させる手段を備え、計算機は並進走査及
び回転走査により得られた検出器の検出データをＺ軸方
向走査毎に蓄積し被検体の透視画像を濃淡画像として生
成する手段を備えることを特徴とする産業用ＣＴ装置。 - 【請求項４】 放射線をファンビ−ムで放射する放射線
源と、扇形に離間してｎ（ｎは複数）個配置された放射
線検出器と、放射線源及び検出器と被検体との間で相対
的な走査を行う走査手段と、前記検出器から収集した放
射線透過データから被検体の画像を生成する計算機とを
備える産業用ＣＴ装置において、ファンビームで各検出
器に入力する放射線の広がり角度をφ、放射線源と被検
体との距離をｍとした場合、被検体が前記扇形内に収ま
らないとき先ずｎθの範囲について被検体の略半分をφ
×ｍピッチで並進走査すると共にこれに同期して角度φ
づつ回転走査する手段と、次に（ｎ−１）×ｍだけ並進
走査する手段と、その後再びｎθの範囲でφ×ｍピッチ
で並進走査すると共にこれに同期して角度φづつ回転走
査して被検体全体の透視データを検出する手段とを前記
走査手段に設け、前記計算機に各走査毎に各検出器の検
出した透過画像データから被検体の透視画像を生成する
手段を設けたことを特徴とする産業用ＣＴ装置。 - 【請求項５】 放射線をファンビ−ムで放射する放射線
源と、扇形に離間して複数個配置された放射線検出器
と、放射線源及び検出器と被検体との間で相対的な走査
を行う走査手段と、前記検出器から収集した放射線透過
データから被検体の画像を生成する計算機とを備える産
業用ＣＴ装置において、ファンビームで各検出器に入力
する放射線の広がり角度をφ、放射線源と被検体との距
離をｍとしたとき、被検体をφ×ｍピッチで並進走査す
ると共にこれに同期して角度φづつ回転走査し、各走査
毎に各検出器の検出した透過画像データから被検体の透
視画像を生成することを特徴とするスキャノグラム撮影
方法。 - 【請求項６】 放射線をファンビ−ムで放射する放射線
源と、扇形に離間してｎ（ｎは複数）個配置された放射
線検出器と、放射線源及び検出器と被検体との間で相対
的な走査を行う走査手段と、前記検出器から収集した放
射線透過データから被検体の画像を生成する計算機とを
備える産業用ＣＴ装置において、ファンビームで各検出
器に入力する放射線の広がり角度をφ、放射線源と被検
体との距離をｍとした場合、被検体が前記扇形内に収ま
らないときは、先ずｎθの範囲について被検体の略半分
をφ×ｍピッチで並進走査すると共にこれに同期して角
度φづつ回転走査し、次に、（ｎ−１）×ｍだけ並進走
査し、その後再びｎθの範囲でφ×ｍピッチで並進走査
すると共にこれに同期して角度φづつ回転走査して被検
体全体の透視データを検出し、各走査毎に各検出器の検
出した透過画像データから被検体の透視画像を生成する
ことを特徴とするスキャノグラム撮影方法。 - 【請求項７】 請求項１乃至請求項４のいずれかにおい
て、各検出器が夫々検出した被検体の同一点の透過デー
タを加算する手段と、加算した透過データにて前記被検
体の透視画像を生成する手段とを備えることを特徴とす
る産業用ＣＴ装置。 - 【請求項８】 請求項４または請求項５において、各検
出器が夫々検出した被検体の同一点の透過データを加算
し、加算した透過データにて前記被検体の透視画像を生
成することを特徴とするスキャノグラム撮影方法。 - 【請求項９】 放射線をファンビ−ムで放射する放射線
源と、扇形に離間してｎ（ｎは複数）個配置された放射
線検出器と、放射線源及び検出器と被検体との間で相対
的な走査を行う走査手段と、前記検出器から収集した放
射線透過データから被検体の画像を生成する計算機とを
備える産業用ＣＴ装置において、被検体の厚さが薄い場
合に被検体を並進走査だけ行う手段と、各検出器が夫々
検出した被検体の同一点の検出データｎ個を加算する手
段と、被検体の各点の夫々の検出器数の加算データにて
被検体の透視画像を生成する手段とを備えることを特徴
とする産業用ＣＴ装置。 - 【請求項１０】 放射線をファンビ−ムで放射する放射
線源と、扇形に離間してｎ（ｎは複数）個配置された放
射線検出器と、放射線源及び検出器と被検体との間で相
対的な走査を行う走査手段と、前記検出器から収集した
放射線透過データから被検体の画像を生成する計算機と
を備える産業用ＣＴ装置において、被検体の厚さが薄い
場合に、被検体を並進走査だけし、各検出器が夫々検出
した被検体の同一点の検出データｎ個を加算し、被検体
の各点の夫々の検出器数の加算データにて被検体の透視
画像を生成することを特徴とするスキャノグラム撮影方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13718592A JP3174621B2 (ja) | 1992-05-28 | 1992-05-28 | 産業用ｃｔ装置とそのスキャノグラム撮影方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13718592A JP3174621B2 (ja) | 1992-05-28 | 1992-05-28 | 産業用ｃｔ装置とそのスキャノグラム撮影方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05332952A true JPH05332952A (ja) | 1993-12-17 |
| JP3174621B2 JP3174621B2 (ja) | 2001-06-11 |
Family
ID=15192792
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13718592A Expired - Lifetime JP3174621B2 (ja) | 1992-05-28 | 1992-05-28 | 産業用ｃｔ装置とそのスキャノグラム撮影方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3174621B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009063572A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Tongfang Nuctech Co Ltd | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置 |
| JP2009063571A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Tongfang Nuctech Co Ltd | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置及びその方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5177236B2 (ja) * | 2008-12-22 | 2013-04-03 | オムロン株式会社 | Ｘ線検査方法およびｘ線検査装置 |
-
1992
- 1992-05-28 JP JP13718592A patent/JP3174621B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009063572A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Tongfang Nuctech Co Ltd | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置 |
| JP2009063571A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Tongfang Nuctech Co Ltd | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置及びその方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3174621B2 (ja) | 2001-06-11 |
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