JPH01141646A - フーリエ変換形x線ct - Google Patents

フーリエ変換形x線ct

Info

Publication number
JPH01141646A
JPH01141646A JP62301949A JP30194987A JPH01141646A JP H01141646 A JPH01141646 A JP H01141646A JP 62301949 A JP62301949 A JP 62301949A JP 30194987 A JP30194987 A JP 30194987A JP H01141646 A JPH01141646 A JP H01141646A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
fourier transform
frequency component
processing
view
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP62301949A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0439861B2 (ja
Inventor
Hideo Nagai
秀夫 長井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
GE Healthcare Japan Corp
Original Assignee
Yokogawa Medical Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Medical Systems Ltd filed Critical Yokogawa Medical Systems Ltd
Priority to JP62301949A priority Critical patent/JPH01141646A/ja
Priority to PCT/JP1988/001211 priority patent/WO1989005121A1/ja
Publication of JPH01141646A publication Critical patent/JPH01141646A/ja
Publication of JPH0439861B2 publication Critical patent/JPH0439861B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02Devices for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03Computerised tomographs
    • A61B6/032Transmission computed tomography [CT]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40Imaging
    • G01N2223/419Imaging computed tomograph

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、フーリエ変換形XIICTの改良に関し、更
に詳しくは、空間分解能が高くアーティファクトが少な
い再構成画像が得られるフーリエ変換形X線CTに関す
る。
(従来の技術) フーリエ変換形X線CTは、各方向毎に平行ビームX線
に騒づく被検体の断面のプロジエクションデータを求め
、各プロジェクションデータ又は値Oのデータを該デー
タの両側又は片側に付加したデータを1次元フーリエ変
換し、フーリエ変換された各プロジェクションデータを
極座IIA/直交座標変換を施した後、これに2次元逆
フーリエ変換を施して、被検体の断面の像を再構成する
ように構成されている。このようなフーリエ変換形X線
CTは、フーリエ変換法の特質に由来して高速な画像再
構成が行える利点があり、又、ii像再構成の手段とし
て汎用のフーリエ変換装置を用いることができ、他の形
式のX線CT1例えばフィルタート・バックプロジェク
ション法によるXaC丁のように専用のバックプロジェ
クタ等を持つ必要がないという利点がある。
ところで、フィルタート・バックプロジェクション法の
X線CT等においては、再構成画像の空間分解能を高め
、且つアーティファクトを低減するために、はとんどの
場合、所■クォーターオフセット法によるサンプルデー
タ収集を行う。このサンプルデータ収集法は、例えば第
3世代のX線CTでは被検体を間に置いて互いに対向す
るX線源と多チャネルの検出器を被検体の周りで回転さ
せて多方向のサンプルデータを収集する場合、×6源か
ら回転の中心を通って多チヤネル検出器の中央チャネル
に照射されるX線が、チャネルの中心からチャネル間隔
即ちサンプル間隔の1/4だけずれた点に入射するよう
に検出器を位置決めしてデータを収集するものである。
このようなデータ収集法によって得られた多方向のプロ
ジェクションデータにおいては、プロジェクションの方
向が反対なもの同士は、X線ビームの経路が検出器のチ
ャネル間隔即ちサンプル間隔の1/2だけずれたものと
なるので、そのような関係にあるデータを組合わせると
、検出器のチャネル間隔即ちサンプル間隔が1/2に細
かくなったのと等価なプロジェクションデータが得られ
、そのようなデータに基づいて画像再構成することによ
り、空間分解能が高くアーティファクトが少ない画像を
得ることができる。
(発明が解決しようとする問題点) このクォーターオフセット法によるサンプルデータ収集
を単純にフーリエ変換形X線CTに適用しても、検出器
のオフセット配置によるデータのサンプリング点のずれ
を活用した解像力が高くアーティファクトが少い良好な
画像は得られない。
本発明は上記問題点に鑑みてさなれたもので、その目的
は、クォーターオフセット法等のオフセット検出測定法
でサンプルデータを収集し、且つこのクォーターオフセ
ット法等のオフセット検出測定法の効果を生かし、空間
分解能が高くアーティファクトが少ない再構成画像を得
られるフーリエ変換形X線CTを提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 上記問題点を解決するための本発明は、放射線発生源よ
り放射され被検体を透過した放が紗亡検出器で検出し、
各方向毎にサンプルデータ群として収集し、該サンプル
データ群に前処理等の処理を施して平行ビームの各1ビ
ュー分のプロジェクションデータを求め、該データ又は
値Oを該データの両側又は片側に付加したデータを1次
元フーリエ変換し、周波数空間で極座標→直交座標交換
を施した後、これに2次元フーリエ逆変換を施して被検
体の断面の再構成画像を求めるフーリエ変換形XIIC
Tにおいて、前記サンプルデータの収集をクォーターオ
フセット法等のオフセット検出測定法に基づいて行い、
且つフーリエ変換後の周波数成分にオフセット検出処理
を施して得た周波数成分を新たな周波数成分として用い
ることを特徴とするものである。
(作用) 本発明に係るフーリエ変換形Xl1lCTでは、クォー
ターオフセット法等のオフセット検出測定法を用いてサ
ンプルデータの収集を行い、該サンプルデータに基づき
得られたプロジェクションデータに対しては、フーリエ
変換後の周波数空間でオフセラトル検出処理を行う。
(実施例) 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。図
において、Gはガントリ、TAは被検体Bを載せるテー
ブルで、これらはテーブル・ガン1−り制御装置!TG
Cによって位置制御が行われる。
XGCはX線発生iI+IJllI]装置で、高圧・X
線管I!I11罪部XRを介してXSt管〈X線源)X
に接続され、X線発生の制御を行う。Sは断層像の再構
成領域PA(被検体B)を透過したX線を受ける多チャ
ネルの検出器である。本発叫ではクォーターオフセット
法に基づきサンプルデータの収集を行うので、X線管X
から再構成領域PAの中心Oを通って多チヤネル検出器
Sの中央チャネルに照射されるXIQが、チャネルの中
心からチャネル間隔即ちサンプル間隔の1/4だけずれ
た点に入射するように、検出器Sの位置決めがなされて
いる。DASは検出器Sの出力を収集するデータ収集装
置で、検出器Sの出力を増幅、積分し、A/D変換した
後、データ記憶装[DSlに格納する。
PPRは前処]!l!vi*−c’、データ収集装置1
DAsで収集された被検体BのX線透過データに対し、
データ収集装fi!FDASのオフセット補正、対数変
換、X線ビーム硬化補正等々の各種補正演算を施し、X
IJのプロジェクションデータを求める部分である。こ
の結果はデータ記憶装置DS2に格納される。
FFTはフーリエ変換装置で、平行ビームの1ビュー分
のプロジェクションデータ毎に離散フーリエ変換(DF
T)を施し、結果の周波数成分をデータ記憶1HffD
s2に格納する。ここでの演算式は、N個の実数データ
aO* al * C2* ”’ 。
aN−t  (N−2’  、γは整数)に対し、次の
ものを用いる(j−E])。
A  (n  )−Ar  (n  >+j  −Ai
  (n  >・・・ (2) 但し n−0,1,2,・・・ i R(4−) −R(0) 。
1  (−”−) −I  (0) 。
Y  (8)  −Y  (0) △ (n+−) =Ar  (−T−n ) −j  −Ai  (2n
 )・・・ (2)′ 93.  旦 ここで、n−1,2,、−1 式(1)の計算は所謂高速フーリエ変換(F astF
Ouri6rTransrorm)により高速に演算す
る。
aO* 81 * ”’+ aN−1のフーリエ変換の
結果Ao。
八!、・・・、AN−1は式〈2)と(2)′に示す通
りとなる。Ar(n)とAt(n>はA(n)の各々実
数部と虚数部に対応する。式(1)は所謂圧縮フーリエ
変換の式で、N個の実データをN/2組の複素データと
して高速演算を計り、R柊的にアンバック処理(2−1
)、(2−2)により、求めるフーリエ変換結果A <
n )  (n −0,1゜・・+ 、 Ji、 )を
得る。
0FPはオフセット検出処理装置で、X線源(X線発生
焦点)x、検出器群Sの中心(中央に位置する検出器の
中心)C2再構成酒域PAの中心Oに対し、直線XCを
直線Xoから故意にずらしてクォーターオフセット法に
より収集し且つ前述の処理が施され、データ記憶装置1
ffDS2に格納されたデータに対し、対応する処理を
施す装置である。ここでの処理の演算式は次のものであ
る。
F (n )−Fr  (n )+j −Fi  (n
 )−ノγ −A (n )・e       ・・・(3)Fr 
 (n ) −Ar  (n ) −cos 7+Ai
  (n ) −5in 7 −(3−1)Fi(n 
) =Ai  (n )−cosγ−Ar  (n )
 −5in 7−(3−2)但し n −0,1,2,
・・・、Ji−F(n十工) −Fr (8−n ) −j −Fi (子−n >・
・・(3)′ Fr  (n十亙)−Fr(−−n) ・・・(3−1)’ FH(n +JL) −−FH(+−n)・・・ (3
−2>’ 但し n−1,2,・・・、ニー1 4πn& γ−−1.−            ・・・(4)N
は入力12素周波数成分の対の数(FFTの出力周波数
成分の数)であり、dはPAの中心Oでの平行ビームの
サンプル間隔(■)、δはオフセット検出でのオフセッ
ト11(線)で、基準座標に対して右方向(正方向)の
オフセットを十とする。
クォーターオフセット法では、δ−−d/4又はd/4
である。A (n )は入力周波数成分で、Ar(n)
は実数部、Ai(n)は虚数部である。
F (n )は出力の周波数成分で、Fr(n)はその
実数部、Fi(n)は虚数部である。フーリエ変換され
オフセット処理を施された周波数成分は、周波数空間(
ξ−η平面)上で第2図(b)のように直線ω上に並ん
でいる。これと1800ずれた周波数成分は丁度光の成
分と逆の向きに並んでいる。元の周波数成分P(ω0.
θI)。
180°ずれた方向の周波数成分Q(ωn、θl+π)
に対し、合成された周波数成分F(ωn。
θ−)を次のように演算により求める。
Fr(ωn、θm ) −+(Pr (ωn 、6m)
+Qr  (ωn、θ−+π)) ・・−(5−1) Fi(ωn、θl)−子(pi(ωn、θ層)−Qi 
 (ωn、θ霞+π)) ・・・(5−2) 1:  (ωn  、  0膳 )  −1Fr   
(ωn、  6m)+j−Fi(ωn、θ閣 ) ・・・(5) ここで、n−0,1,2,・・・、−!−Fr (ω、
+g、θ偏)−Fr(ωト7.θ履)・・・<5−1)
’ Fi (ω、l+トθ−)−−Fi(ωトn、θ糟)・
・・(5−2>’ F(ω7++五、θ鵬 )−Fr(ω、÷凡、θm )
+j−Fi(ω7+号、θ−) ・・・(5)′ ここで、l’l −0,1、2,−、JL−’1式(3
)、(3)’ 、(5)、(5)’は、高解像性、低偽
像性、高画質性(低SD、低ノイズ等)等々から重要で
ある。OFPの出力はデータ記憶@[DS3に格納され
る。OFFは本発明の最も特徴的な部分である。
PRCは極座標/直交座標変換装置である。実空間での
プロジェクションデータと再構成領域の関係を第2図(
a)に示す。X線源はX側にあり、OXはX軸止方向と
θ−十丁の角をなす。xy座標系とθ腫をなす直角座標
系Uvに対し、平行ビームのプロジェクションデータb
O* b ! +・・・。
bM−1はU軸上に図のように配置される。実際のプロ
ジェクションデータbb  は、xmの方向が直線に1
”Kzに向い、直線KIKZ上での放射線吸収係数の線
積分であるが、これをU軸上の点Ukにあるとみなす。
サンプルデータbO*bl*・・・。
boの両端に適当な数の値Oをつけ且つ配列変更したデ
ータaO+ale・・・−’N−1に対して離散フーリ
エ変換を施し、オフセット検出に対する処理を施した周
波数成分データFk  (k−0,1,2゜・・・、N
−1)は、周波数空間上(ξ−η平面上)で第2図(b
)のようにξ軸とθ−の角をなすω軸上の離散点に対応
する。極座標/直交座標変換は、この極座標ω−θの各
離散データより近似計算により直交座標ξ−ηの各離散
点のデータを求める変換処理である。(b)図のξ−η
座標上の点Pの近傍でω−θ座標上の4点はA、B、A
’ 。
B′となる。点P、Aの座標を各々P(ξに、ηn)s
P(k、A’)、A(ωn、  6m > !!A (
n。
■)とし、点P、Aの周波数成分を各々G(ξk。
777 )mG (k 、 /)、 F (ωn 、θ
l)!F(0,■)とすると、本変換の演算式として次
のものをあげることができる。
Gr  (ξk 、 774 ) a F r’ ((
1) n * θ霞)十トエ((ω−ωn ) ・立+
(θ−θ−) ・立)2p、、 P/        
          6θOψ Gi  (ξに+  ”f)x  )=Fi  (ωn
、  θ請 )十ト和(ω−ωn)・斎+(θ−θm)
・☆)2G(ξに、  77J  )=Gr  (ξに
+’7n)+j  −Gi  (ξk 、η1 )・・
・ (6) Gr  (ξに、77*)、Gi(ξk 、 ”f)s
 )は各々G(ξに、η1)の実数部、虚数部(点Pに
おけるG(ξ、η)の実数部、虚数部)であり、Fr(
ωn、θ−)、Fi(ωn、θ醜)は各々F(ωn、θ
m)の実数部、虚数部(点AにおけるF(ω、θ)の実
数部、虚数部)である。p、しは整数で、Lは近似の正
確さにより例えばL−3意味で(6−2>式についても
同様である。
回部微分し、更に、θでq回偏微分した関数のω−ωn
、θ−θ−における値である)、本近似式は、前述のフ
ーリエ変換前の0fillの数と共に、近似の精度に重
要な影響を有するので、式の次数(L)をどう選ぶか、
高速で高精度の近似式として何を選ぶか等慎重に検討さ
れる。この変換結果はデータ記憶装置DS4に格納され
る。
IFFTは2次元フーリエ逆変換装置で、第2図(b)
のξ−η座標(直交座標)の各点(各格子点)に対応す
る周波数成分G(ξ、η)から、離散2次元フーリエ逆
変換により実空間イメージデータを求める部分である。
演算式は以下の通りU  (X n * Vm  ) 一μ(Xn、Vm)+j ・ν(X、n、Vrn)・・
・(7−1) n、Il−一工 −−L−+ 1、−、0 、 1 、
 ・。
2 ′    2 μ(Xn、%))が求めるものである。即ち、2次元フ
ーリエ逆変換(7)の実数部が求めるものである。画像
データとしては更に次式のC(XT+。
ん )を使用する(a 、 bは定数)。
C(Xn、 Vm  )=a ・μ(Xt+、Vm)+
b・・・(8) (ア)式は離散高速フーリエ変換として高速に演算する
IMは映像データ記憶装置で、2次元フーリエ逆変換装
置IFFTにより得られた映像データを格納する。この
映鍮データは画像表示装置GOCにて表示され、像写真
Wi像装置MFCにて写真撮影されるようになっている
。尚、前述の各装置は庵影制tII装置SCCにて、制
御されるように構成されている。
次に上記実施例の動作を第3図を参照しながら説明する
。この例では、各方向の1ビューデータは、収集方向の
位置の制御がなされ、複数方向の平行ビームの成分とな
るデータの集合であり、見かけ上フアン状に発散するデ
ータの集合である(通常のファンビームデータと異なる
)。
被検体Bの所要の断面は再構成領1i!PAとしてテー
ブルTAとガン1−リGの傾斜の適宜な位It選択によ
り得られる。この断面PAに対して各方向からXIDの
発生と検出器Sによる被検体Bの透過Xtaの収集をデ
ータ収集装[DASにより行う。
データ収集装置!tDAsでは入力の積分、増幅、A/
D変換等がなされ、ファン状の1ビュー分のデータとし
て1ビュー毎にデータ記憶装@DS1に転送格納する。
)7ンビームに対して前処理を施し、結果をデータ記憶
装置fDS1に格納する(ステップ1)。
ファンビームの並べ換えにより平行ビームを得るが、1
ビュー分の平行ビームが揃うと(ステップ2)、前記の
前処理を施しくステップ3)、結果をデータ記憶装置D
S2に格納し、全ビュー・1/2+1ビューが完了する
と(ステップ4)、次のステップに移る。
1ビュー分の平行ビームデータは第2図(a )のよう
な位置でサンプルされたM個(MLt奇数)のデータb
O+ b ! + b2 * ”” 、I))4−1で
ある。この両端に°0値データをつけ、 N/2個 N/2個 夕を基にして、これを配列変更したデータ列(a i 
 ;i −Q、 1.−、 N−1)a O−bL−i
、 a 1−b旦址、−、akl−b、−1、0゜0、
−−1HH+HH,aN−Q−b o 、−、aN−2
−b早taN、 −bL1 に対し、前記の離散フーリエ変換DFT、即ち式%式%
(2) ′を施しくステップ5)、結果をデータ記憶!!装置D
S2へ格納する。
ステップ5の演算は原理的に次式に相当する。
b(r )は実測値(離散値)biと次の関係をもつ。
以下余白 ・・・ (11−1) この離散フーリエ変換の結果に対して、オフセット検出
処理、即ち(3)、(3〜1)、(3−2)、 <3)
’ 、 (3−1)’ 、 <3−2)’式を施した後
(ステップ6)、対向ビューデータとの間で周波数成分
の合成、即ち(5)、(5−1)、(5−2)、(5)
’ 、(5−1>’ 、(5−2)′式を施すくステッ
プ7)。
全ビューの平行ビームに対しステップ1〜ステツプ7の
処理が終了したら(ステップ8)、極座標/直交座標変
換を式(6)、(6−1)、(6−2)に従って行う(
ステップ9)。
次に得られたL (Compiex) X Lの直交座
標データより1式(7)、<7−1)による2次元離散
フーリエ逆変換を行う(ステップ10)。そして、この
ステップ10で得られた結果の実数部を使用し、イメー
ジ処理(式(8)等各種)を施すくステップ11)。ス
キャンと再構成処理の統轄制御は撮影制御装置1sec
によりなされる。各装置は、バイブライン構造等により
並列動作が可能で並列処理を行う。
ステップ10の演算は原理的に次式に相当する。
G(ξ、η)は離散データG(ξp、ηq)と次の間係
にある。
G(ξ、η) 尚、本発明は上記の実施例に限るものではなく、例えば
、以下に示すような種々の変形が可能である。
■オフセット検出処理装置0FPの後(極座標/直交座
標変換装置PRCの前)にフィルタ装置FILTを設け
たもの。
フィルタ処理の例としては、例えばハニングフィルタ(
)(anning  Filter)等がある。
■2次元フーリエ逆変換@IIFFTの後に侵処理装置
PO8Tを設けたもの。
後処I!!!装けPO8Tでは、式(8)を含む各種の
処理を行う。この場合、2次元フーリエ逆変換装置!I
FFTは式(7)、(7−1)の純2次元フーリエ逆変
換を行う。
■オフセット検出処理装置0FPの後に周波数成分生成
装fffGFRQを設けたもの。
周波数成分生成装置!GFRQでは式(5)。
(5−1)、(5−2)、(5)’ 。
(5−1)’ 、  (5−2>’ (7)v4$1[
処理を行う。
この場合、オフセット検出処理装置OFFは式%式%) <3−1)’ 、(3−2)’の演算処理を行う。
■装置の分刈 (i)前処理装置fPPPを2つ以上の前処理装置に分
離して並列動作を可能としたもの (ii)撮影線御装置1fSCCをマイクロプロセッサ
マイクロプログラムメモリ、デコーダ等で構成したもの
■装置の統合 (i )フーリエ変換装置FFTと2次元フーリエ逆変
換装置[FFTを同一の装置とし、時分割使用するもの
(ii)複数の装置を統合して構成したもの。
■記憶装置の分割又は統合 (i)1つのデータ記憶装置(例えばDS2)を複数に
分割したもの。
(ii) 2つ以上のデータ記憶装置を統合したもの。
■バス、制御ライン、信号ライン等の分離又は統合。
■外部装置の付加 ・磁気テープ装WMT、フロッピーディスク装置FDD
、専用オペコン等の付加。
・データ処理用に汎用の情報処理装置CPUや専用のア
レイプロセッサAP等を設けたもの。
■同一の演算処理(例えば式(3)、(3−1)。
(3−2>、(3)’ 、(3−1>’ 、(3−2)
’ 、(5)、(5−1>、(5−2)。
(5)’ 、(5−1>’ 、(5−2>’等)を別の
構成(例えば情報処理装置cpu、アレイプロセッサA
P等の装置とソフトウェア)で実現したもの。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明では、クォーターオフセッ
ト法等のオフセット検出測定法によりデータを収集する
と共に、1次元フーリエ変換後の周波数成分にオフセッ
ト検出処理を行っているため、クォーターオフセット法
等のオフセット検出測定法の効果をフーリエ変換形XI
CTにも生かすことができる。即ち、高速フーリエ変換
による高速な処理性を保持しつつ、空間分解能が高く、
アーティアクトが少ないフーリエ変換形XIICTを実
現できる。又、本発明によれば、逆投影装置のような専
用装置は不要で、汎用のフーリエ演算装置を主体とした
シンプルな構成をもつ、経済性の高いXI!1lcTを
実現可能である。更に、F(ωn、θ信)が原点に関し
て複素共役対称である性質によりF〈ω、θ)のための
データメモリの容量(サイズ)を通常の場合の1/2に
成し得る等多くの長所をもつ。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
2図は実空間での射影や周波数空間での周波数成分に関
する説明図、第3図は第1図の実施例の動作説明図であ
る。 G・・・ガントリ    TA・・・テーブルB・・・
被検体     PA・・・再構成領域O・・・再構成
領域の中心 TGC・・・テーブル・ガントリ制御′VAaXGC・
・・X?!A発生II線tl装置X・・・X1s管(X
線発生焦点) XR・・・高圧、X線管υU部 S・・・検出器群    DAS・・・データ収集装置
PPP・・・前処理装置 FFT・・・フーリエ変換v装置 OFF・・・オフセット検出処理装置 PRC・・・極座標/直交座標変換V装置IFFT・・
・2次元フーリエ逆変換装置O8I〜DS4・・・デー
タ記憶装置 IM・・・映像データ記憶装置 GDC・・・画像表示装置 MFC・・・像写真搬影装置 SCC・・・搬影制御装置

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)放射線発生源より放射され被検体を透過した放射
    線を検出器で検出し、各方向毎にサンプルデータ群とし
    て収集し、該サンプルデータ群に前処理等の処理を施し
    て平行ビームの各1ビュー分のプロジェクションデータ
    を求め、該データ又は値0を該データの両側又は片側に
    付加したデータを1次元フーリエ変換し、周波数空間で
    極座標→直交座標交換を施した後、これに2次元フーリ
    エ逆変換を施して被検体の断面の再構成画像を求めるフ
    ーリエ変換形X線CTにおいて、前記サンプルデータの
    収集をクォーターオフセット法等のオフセット検出測定
    法に基づいて行い、且つフーリエ変換後の周波数成分に
    オフセット検出処理を施して得た周波数成分を新たな周
    波数成分として用いることを特徴とするフーリエ変換形
    X線CT。
  2. (2)各方向のサンプルデータ群である各方向の1ビュ
    ーのデータ群が、収集方向の位置制御がなされ1又は複
    数の方向の平行ビームの成分の集合であり、並べ換えに
    より各方向の平行ビームになし得るデータ群であるか、
    若しくは収集方向の位置制御がなされ純ファンビームと
    して放射線発生源から発散する等の形態をもち補間演算
    等の計算により平行ビームになし得るデータ群である特
    許請求の範囲第1項記載のフーリエ変換形X線CT。
JP62301949A 1987-11-30 1987-11-30 フーリエ変換形x線ct Granted JPH01141646A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62301949A JPH01141646A (ja) 1987-11-30 1987-11-30 フーリエ変換形x線ct
PCT/JP1988/001211 WO1989005121A1 (en) 1987-11-30 1988-11-30 Imaging method in a radioactive ray ct

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62301949A JPH01141646A (ja) 1987-11-30 1987-11-30 フーリエ変換形x線ct

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01141646A true JPH01141646A (ja) 1989-06-02
JPH0439861B2 JPH0439861B2 (ja) 1992-06-30

Family

ID=17903050

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62301949A Granted JPH01141646A (ja) 1987-11-30 1987-11-30 フーリエ変換形x線ct

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPH01141646A (ja)
WO (1) WO1989005121A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009545409A (ja) * 2006-08-03 2009-12-24 ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア トモグラフィーにおけるドーズ低減および画像改良のための反復方法
WO2010002610A3 (en) * 2008-06-30 2010-04-01 Varian Medical Systems, Inc. Thermionic emitter designed to control electron beam current profile in two dimensions

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100387195C (zh) * 2003-11-07 2008-05-14 Ge医疗系统环球技术有限公司 偏移量测量方法、身体活动检测方法及x射线ct装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61290573A (ja) * 1985-06-19 1986-12-20 Hitachi Medical Corp X線ct装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009545409A (ja) * 2006-08-03 2009-12-24 ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア トモグラフィーにおけるドーズ低減および画像改良のための反復方法
WO2010002610A3 (en) * 2008-06-30 2010-04-01 Varian Medical Systems, Inc. Thermionic emitter designed to control electron beam current profile in two dimensions
US7924983B2 (en) 2008-06-30 2011-04-12 Varian Medical Systems, Inc. Thermionic emitter designed to control electron beam current profile in two dimensions

Also Published As

Publication number Publication date
WO1989005121A1 (en) 1989-06-15
JPH0439861B2 (ja) 1992-06-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5400255A (en) Reconstruction of images from cone beam data
US5493593A (en) Tilted detector microscopy in computerized tomography
US5241576A (en) Segmented detector containing sub-elements for separate measuring of a fan beam
JPH0445689Y2 (ja)
US4446521A (en) Image reconstruction apparatus and process
US20080118024A1 (en) Method for reconstructing a local high resolution x-ray ct image and apparatus for reconstructing a local high resolution x-ray ct image
JPH03168124A (ja) らせん走査で断層像を作成する方法および装置
WO1993000649A1 (en) Method and apparatus for computing tomographic scans
JPS6340538B2 (ja)
JPH0838467A (ja) 検出器チャンネル利得較正係数を求める方法
JPH0375045A (ja) 再生像の視野外の物体に対するctデータの補償方式
JP3280743B2 (ja) X線断層撮影方法
JPH0470015B2 (ja)
JPS6275875A (ja) 放射線断層撮影装置
JP3006722B2 (ja) コンピュータ断層撮影装置
JPH01141646A (ja) フーリエ変換形x線ct
JP2000139893A (ja) Ct装置
US4053779A (en) Method and apparatus for constructing models of body sections
JP3350154B2 (ja) コンピュータ断層撮影装置
JP3484283B2 (ja) X線撮影装置
JPS62227324A (ja) 放射線断層撮影装置
JPH01201235A (ja) フーリエ変換形x線ct等のデータ処理装置
US6272198B1 (en) Radiation image forming method and apparatus
JPS6346136A (ja) X線ct装置
JPH05212026A (ja) たたみこみ‐逆投影法による医学撮像装置の作動方法