JPH0439861B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0439861B2 JPH0439861B2 JP62301949A JP30194987A JPH0439861B2 JP H0439861 B2 JPH0439861 B2 JP H0439861B2 JP 62301949 A JP62301949 A JP 62301949A JP 30194987 A JP30194987 A JP 30194987A JP H0439861 B2 JPH0439861 B2 JP H0439861B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- fourier transform
- ray
- frequency component
- processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 22
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 19
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 11
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 7
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 claims description 7
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 7
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 15
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 2
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Pathology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Immunology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
（産業上の利用分野）
本発明は、フーリエ変換形Ｘ線CTの改良に関
し、更に詳しくは、空間分解能が高くアーテイフ
アクトが少ない再構成画像が得られるフーリエ変
換形Ｘ線CTに関する。 （従来の技術） フーリエ変換形Ｘ線CTは、各方向毎に平行ビ
ームＸ線に基づく被検体の断面のプロジエクシヨ
ンデータを求め、各プロジエクシヨンデータ又は
値０のデータを該データの両側又は片側に付加し
たデータを１次元フーリエ変換し、フーリエ変換
された各プロジエクシヨンデータを極座標／直交
座標変換を施した後、これに２次元逆フーリエ変
換を施して、被検体の断面の像を再構成するよう
に構成されている。このようなフーリエ変換形Ｘ
線CTは、フーリエ変換法の特質に由来して高速
な画像再構成が行える利点があり、又画像構成の
手段として汎用のフーリエ変換装置を用いること
ができ、他の形式のＸ線CT、例えばフイルター
ド・バツクプロジエクシヨン法によるＸ線CTの
ように専用のバツクプロジエクタ等を持つ必要が
ないという利点がある。 ところで、フイルタード・バツクプロジエクシ
ヨン法のＸ線CT等においては、再構成画像の空
間分解能を高め、且つアーテイフアクトを低減す
るために、ほとんどの場合、所謂クオーターオフ
セツト法によるサンプルデータ収集を行う。この
サンプルデータ収集法は、例えば第３世代のＸ線
CTでは被検体を間に置いて互いに対向するＸ線
源と多チヤネルの検出器を被検体の周りで回転さ
せて多方向のサンプルデータを収集する場合、Ｘ
線源から回転の中心を通つて多チヤネル検出器の
中央チヤネルに照射されるＸ線が、チヤネルの中
心からチヤネル間隔即ちサンプル間隔の1/4だけ
ずれた点に入射するように検出器を位置決めして
データを収集するものである。このようなデータ
収集法によつて得られた多方向のプロジエクシヨ
ンデータにおいては、プロジエクシヨンの方向が
反対なもの同士は、Ｘ線ビームの経路が検出器の
チヤネル間隔即ちサンプル間隔の1/2だけずれた
ものとなるので、そのような関係にあるデータを
組合わせると、検出器のチヤンネル間隔即ちサン
プル間隔が1/2に細かくなつたのと等価なプロジ
エクシヨンデータが得られ、そのようなデータに
基づいて画像再構成することにより、空間分解能
が高くアーテイフアクトが少ない画像を得ること
ができる。 （発明が解決しようとする問題点） このクオーターオフセツト法によるサンプルデ
ータ収集を単純にフーリエ変換形Ｘ線CTに適用
しても、検出器のオフセツト配置によるデータの
サンプリング点のいずれを活用した解像力が高く
アーテイフアクトが少い良好な画像は得られな
い。 本発明は上記問題点に鑑みてなされたもので、
その目的は、クオーターオフセツト法等のオフセ
ツト検出測定法でサンプルデータを収集し、且つ
このクオーターオフセツト法等のオフセツト検出
測定法の効果を生かし、空間分解能が高くアーテ
イフアクトが少ない再構成画像を得られるフーリ
エ変換形Ｘ線CTを提供することにある。 （問題点を解決するための手段） 上記問題点を解決するための本発明は、放射線
発生源より放射され被検体を透過した放射線を検
出器で検出し、各方向毎にサンプルデータ群とし
て収集し、該サンプルデータ群に前処理等の処理
を施して平行ビームの各１ビユー分のプロジエク
シヨンデータを求め、該データ又は値０を該デー
タの両側又は片側に付加したデータを１次元フー
リエ変換し、周波数空間で極座標→直交座標交換
を施した後、これに２次元フーリエ逆変換を施し
て被検体の断面の再構成画像を求めるフーリエ変
換形Ｘ線CTにおいて、前記サンプルデータの収
集をクオーターオフセツト法等のオフセツト検出
測定法に基づいて行い、且つフーリエ変換後の周
波数成分にオフセツト検出処理を施して得た周波
数成分を新たな周波数成分として用いることを特
徴とするものである。 （作用） 本発明に係るフーリエ変換形Ｘ線CTでは、ク
オーターオフセツト法等のオフセツト検出測定法
を用いてサンプルデータの収集を行い、該サンプ
ルデータに基づき得られたプロジエクシヨンデー
タに対しては、フーリエ変換後の周波数空間でオ
フセツト検出処理を行う。 （実施例） 以下、図面を用いて本発明の実施令を説明す
る。第１図は本発明の一実施例を示すブロツク図
である。図において、Ｇはガントリ、TAは被検
体Ｂを載せるテーブルで、これらはテーブル・ガ
ントリ制御装置TGCによつて位置制御が行われ
る。XGCはＸ線発生制御装置で、高圧・Ｘ線管
制御部XRを介してＸ線管（Ｘ線源）Ｘに接続さ
れ、Ｘ線発生の制御を行う。Ｓは断層像の再構成
領域PA（被検体Ｂ）を透過したＸ線を受ける多チ
ヤネルの検出器である。本発明ではクオーターオ
フセツト法に基づきサンプルデータの収集を行う
ので、Ｘ線管Ｘから再構成領域PAの中心０を通
つて多チヤネル検出器Ｓの中央チヤネルに照射さ
れるＸ線が、チヤネルの中心からチヤネル間隔即
ちサンプル間隔の1/4だけずれた点に入射するよ
うに、検出器Ｓの位置決めがなされている。
DASは検出器Ｓの出力を収集するデータ収集装
置で、検出器Ｓの出力を増幅、積分し、Ａ／Ｄ変
換した後、データ記憶装置DS１に格納する。 PPRは前処理装置で、データ収集装置DASで
収集された被検体ＢのＸ線透過データに対し、デ
ータ収集装置DASのオフセツト補正、対数変換、
Ｘ線ビーム硬化補正等々の各種補正演算を施し、
Ｘ線のプロジエクシヨンデータを求める部分であ
る。この結果はデータ記憶装置DS２に格納され
る。 FFTはフーリエ変換装置で、平行ビームの１
ビユー分のプロジエクシヨンデータ毎に離散フー
リエ変換（DFT）を施し、結果の周波数成分を
データ記憶装置DS２に格納する。ここでの演算
式は、Ｎ個の実数データa0，a1，a2…、aN-1（Ｎ
＝2r、ｒは整数）に対し、次のものを用いる（ｊ
＝√−１）。 Ｙ（ｎ）＝Ｒ（ｎ）＋ｊ・Ｉ（ｎ）＝N/2-1 〓k=0 （a2k＋ｊ・a2k+1）・exp（−ｊ2πkη／Ｎ／２） ここで、ｎ＝０、１、２、…、Ｎ／２−１ ……(1) Ar（ｎ）＝Ｒ（η）＋Ｒ（Ｎ／１−η）／２−Ｒ（η
）−Ｒ（Ｎ／２−η）／２・sin2πη／Ｎ……(2-1) Ai（ｎ）＝Ｉ（η）−Ｉ（Ｎ／２−η）／２−Ｉ（η
）−Ｉ（Ｎ／２−η）／２・sin2πη／Ｎ −Ｒ（η）−Ｒ（Ｎ／２−η）／２・cos2πη／
Ｎ……(2-2) Ａ（ｎ）＝Ar（ｎ）＋ｊ・Ai（ｎ） ……(2) 但し、ｎ＝０、１、２、…、Ｎ／２ Ｒ（Ｎ／２）＝Ｒ（Ｏ）、 Ｉ（Ｎ／２）＝Ｉ（Ｏ）、 Ｙ（Ｎ／２）＝Ｙ（Ｏ） Ａ（ｎ＋Ｎ／２） ＝Ar（Ｎ／２−ｎ）−ｊ・Ai（Ｎ／２−ｎ）……(2)
′ ここで、ｎ＝１、２…、Ｎ／２−１ 式(1)の計算は所謂高速フーリエ変換（Fast
Fourier Transform）により高速に演算する。
a0、a1、…、aN-1のフーリエ変換の結果A0、A1、
…、AN-1は式(2)と(2)′に示す通りとなる。Ar（ｎ）
とAi（ｎ）はＡ（ｎ）の各々実数部と虚数部に対
応する。式(1)は所謂圧縮フーリエ変換の式で、Ｎ
個の実データをＮ／２組の複素データとして高速
演算を計り、最終的にアンパツク処理（２−１）、
（２−２）により、求めるフーリエ変換結果Ａ
（ｎ）（ｎ＝０、１、…、Ｎ／２）を得る。 OFPはオフセツト検出処理装置で、Ｘ線源
（Ｘ線発生焦点）Ｘ、検出器群Ｓの中心（中央に
位置する検出器の中心）Ｃ、再構成領域PAの中
心Ｏに対し、直線XCを直線XOから故意にずら
してクオーターオフセツト法により収集し且つ前
述の処理が施され、データ記憶装置DS２に格納
されたデータに対し、対応する処理を施す装置で
ある。ここでの処理の演算式は次のものである。 Ｆ（ｎ）＝Fr（ｎ）＋ｊ・Fi（ｎ） ＝Ａ（ｎ）・e-j〓 ……(3) Fr（ｎ）＝Ar（ｎ）・cosγ ＋Ai（ｎ）．sinγ ……（３−１） Fi（ｎ）＝Ai（ｎ）・cosγ −Ar（ｎ）・sinγ ……（３−２） 但しｎ＝０、１、２、…、Ｎ／２ Ｆ（ｎ＋Ｎ／２） ＝Fr（Ｎ／２−ｎ）−ｊ・Fi（Ｎ／２−ｎ）……(3)
′ Fr（ｎ＋Ｎ／２）＝Fr（Ｎ／２−ｎ）……（３−１）′ Fi（ｎ＋Ｎ／２）＝−Fi（Ｎ／２−ｎ）……（３−２）
′ 但しｎ＝１、２、…、Ｎ／２−１ γ＝4πηδ／Nd ……(4) Ｎは入力複数周波数成分の対の数（FFTの出
力周波数成分の数）であり、ｄはPAの中心Ｏで
の平行ビームのサンプル間隔（mm）、δはオフセ
ツト検出でのオフセツト量（mm）、基準座標に対
して右方向（正方向）のオフセツトと＋する。ク
オーターオフセツト法では、δ＝−ｄ／４又は
ｄ／４である。Ａ（ｎ）は入力周波数成分で、Ar
（ｎ）は実数部、Ai（ｎ）は虚数部である。Ｆ
（ｎ）は出力の周波数成分で、Fr（ｎ）はその実
数部、Fi（ｎ）は虚数部である。フーリエ変換さ
れたオフセツト処理を施した周波数成分は、周波
数空間（ξ−η平面）上で第２図ｂのように直線
ω上に並んでいる。これと180゜ずれた周波数成分
はＪ度元の成分と逆の向きに並んでいる。元の周
波数成分Ｐ（ωn、θm）、180゜ずれた方向の周波数
成分Ｑ（ωn、θm＋π）に対し、合成された周波
数成分Ｆ（ωn、θm）を次のように演算により求
める。 Fr（ωn、θm）＋１／２｛Pr（ωn、θm） ＋Qr（ωn、θm＋π）｝ ……（５−１） Fi（ωn、θm）＝１／２｛Pi（ωn、θm） −Qi（ωn、θm＋π）｝ ……（５−２） Ｆ（ωn、θm）＝Fr（ωn、θm） ＋ｊ・Fi（ωn、θm） ……(5) ここで、ｎ＝０、１、２、…、Ｎ／２ Fr（ωo＋Ｎ／２、θm）＝Fr（ωＮ／２−η、θm） ……（５−１）′ Fr（ωo＋Ｎ／２、θm）＝Fi（ωＮ／２−η、θm） ……（５−１）′ Fr（ωo＋Ｎ／２、θm）＝Fi（ωoＮ／２−η、θm） ＋ｊ＋Fi（ω〓＋Ｎ／２、θm） ……(5)′ ここで、ｎ＝０、１、２、…、Ｎ／２−１ 式(3)、(3)′、(5)、(5)′は、高解像性、低偽像性、
高画像性（低SD、低ノイズ等）等々から重要で
ある。OFPの出力はデータ記憶装置DS３に格納
される。OFPは本発明の最も特徴的な部分であ
る。 PRCは極座標／直交座標変換装置である。実
空間でのプロジエクシヨンデータと再構成領域の
関係を第２図ａに示す。Ｘ線源はＸ側にあり、
OXはｘ軸正方向とθm＋π／２の角をなす。xy座標 系とθmをなす直角座標UVに対し、平行ビーム
のプロジエクシヨンデータb0、b1、…、bM-1はＵ
軸上に図のように配置される。実際のプロジエク
シヨンデータbkは、Ｘ線の方向が直線K1→K2に
向い、直線K1K2上での放射線吸収係数の線積分
であるが、これをＵ軸上の点Ukにあるとみなす。
サンプルデータb0、b1、…、bM-1の両端に適当な
数の値０をつけ且つ配列変更したデータa0、a1、
…、aN-1に対して離散フーリエ変換を施し、オフ
セツト検出に対する処理を施した周波数成分デー
タFk（ｋ＝０、１、２、…、Ｎ−１）は、周波数
空間上（ξ−η平面上）で第２図ｂのようにξ軸
とθmの角をなすω軸上の離散点に対応する。極
座標／直交座標変換は、この極座標ω−θの各離
散データより近似計算により直交座標ξ−ηの各
離散点のデータを求める変換処理である。ｂ図の
ξ−η座標上の点Ｐの近傍でω−θ座標上の４点
はＡ、Ｂ、A′、B′となる。点Ｐ、Ａの座標を
各々Ｐ（ξk、ηl）≡Ｐ（ｋ、ｌ）、Ａ（ωn、θm）≡
Ａ（ｎ、ｍ）とし、点Ｐ、Ａの周波数成分を各々
Ｇ（ξk、ηl）≡Ｇ（ｋ、ｌ）、Ｆ（ωn、θm）≡Ｆ
（ｎ、ｍ）とすると、本変換の演算式として次の
ものをあげることができる。 Ｇ（ξk、ηl）＝Gr（ξk、ηl） ＋ｊ・Gi（ξk、ηl） ……(6) Gr（ξk、η1）、Gi（ξk、η1）は各々Ｇ（ξk、η1）
の
実数部、虚数部（点ＰにおけるＧ（ξ、η）の実
数部、虚数部）であり、Fr（ωn、θm）、Fi（ωn、
θm）は各々Ｆ（ωn、θm）の実数部、虚数部（点
ＡにおけるＦ（ω、θ）の実数部、虚数部）であ
る。ｐ、Ｌは整数で、Ｌは近似の正確さにより例
えばＬ＝３とする。（６−１）式の｛ ｝以降は の意味で（６−２）式についても同様である。
し、更に詳しくは、空間分解能が高くアーテイフ
アクトが少ない再構成画像が得られるフーリエ変
換形Ｘ線CTに関する。 （従来の技術） フーリエ変換形Ｘ線CTは、各方向毎に平行ビ
ームＸ線に基づく被検体の断面のプロジエクシヨ
ンデータを求め、各プロジエクシヨンデータ又は
値０のデータを該データの両側又は片側に付加し
たデータを１次元フーリエ変換し、フーリエ変換
された各プロジエクシヨンデータを極座標／直交
座標変換を施した後、これに２次元逆フーリエ変
換を施して、被検体の断面の像を再構成するよう
に構成されている。このようなフーリエ変換形Ｘ
線CTは、フーリエ変換法の特質に由来して高速
な画像再構成が行える利点があり、又画像構成の
手段として汎用のフーリエ変換装置を用いること
ができ、他の形式のＸ線CT、例えばフイルター
ド・バツクプロジエクシヨン法によるＸ線CTの
ように専用のバツクプロジエクタ等を持つ必要が
ないという利点がある。 ところで、フイルタード・バツクプロジエクシ
ヨン法のＸ線CT等においては、再構成画像の空
間分解能を高め、且つアーテイフアクトを低減す
るために、ほとんどの場合、所謂クオーターオフ
セツト法によるサンプルデータ収集を行う。この
サンプルデータ収集法は、例えば第３世代のＸ線
CTでは被検体を間に置いて互いに対向するＸ線
源と多チヤネルの検出器を被検体の周りで回転さ
せて多方向のサンプルデータを収集する場合、Ｘ
線源から回転の中心を通つて多チヤネル検出器の
中央チヤネルに照射されるＸ線が、チヤネルの中
心からチヤネル間隔即ちサンプル間隔の1/4だけ
ずれた点に入射するように検出器を位置決めして
データを収集するものである。このようなデータ
収集法によつて得られた多方向のプロジエクシヨ
ンデータにおいては、プロジエクシヨンの方向が
反対なもの同士は、Ｘ線ビームの経路が検出器の
チヤネル間隔即ちサンプル間隔の1/2だけずれた
ものとなるので、そのような関係にあるデータを
組合わせると、検出器のチヤンネル間隔即ちサン
プル間隔が1/2に細かくなつたのと等価なプロジ
エクシヨンデータが得られ、そのようなデータに
基づいて画像再構成することにより、空間分解能
が高くアーテイフアクトが少ない画像を得ること
ができる。 （発明が解決しようとする問題点） このクオーターオフセツト法によるサンプルデ
ータ収集を単純にフーリエ変換形Ｘ線CTに適用
しても、検出器のオフセツト配置によるデータの
サンプリング点のいずれを活用した解像力が高く
アーテイフアクトが少い良好な画像は得られな
い。 本発明は上記問題点に鑑みてなされたもので、
その目的は、クオーターオフセツト法等のオフセ
ツト検出測定法でサンプルデータを収集し、且つ
このクオーターオフセツト法等のオフセツト検出
測定法の効果を生かし、空間分解能が高くアーテ
イフアクトが少ない再構成画像を得られるフーリ
エ変換形Ｘ線CTを提供することにある。 （問題点を解決するための手段） 上記問題点を解決するための本発明は、放射線
発生源より放射され被検体を透過した放射線を検
出器で検出し、各方向毎にサンプルデータ群とし
て収集し、該サンプルデータ群に前処理等の処理
を施して平行ビームの各１ビユー分のプロジエク
シヨンデータを求め、該データ又は値０を該デー
タの両側又は片側に付加したデータを１次元フー
リエ変換し、周波数空間で極座標→直交座標交換
を施した後、これに２次元フーリエ逆変換を施し
て被検体の断面の再構成画像を求めるフーリエ変
換形Ｘ線CTにおいて、前記サンプルデータの収
集をクオーターオフセツト法等のオフセツト検出
測定法に基づいて行い、且つフーリエ変換後の周
波数成分にオフセツト検出処理を施して得た周波
数成分を新たな周波数成分として用いることを特
徴とするものである。 （作用） 本発明に係るフーリエ変換形Ｘ線CTでは、ク
オーターオフセツト法等のオフセツト検出測定法
を用いてサンプルデータの収集を行い、該サンプ
ルデータに基づき得られたプロジエクシヨンデー
タに対しては、フーリエ変換後の周波数空間でオ
フセツト検出処理を行う。 （実施例） 以下、図面を用いて本発明の実施令を説明す
る。第１図は本発明の一実施例を示すブロツク図
である。図において、Ｇはガントリ、TAは被検
体Ｂを載せるテーブルで、これらはテーブル・ガ
ントリ制御装置TGCによつて位置制御が行われ
る。XGCはＸ線発生制御装置で、高圧・Ｘ線管
制御部XRを介してＸ線管（Ｘ線源）Ｘに接続さ
れ、Ｘ線発生の制御を行う。Ｓは断層像の再構成
領域PA（被検体Ｂ）を透過したＸ線を受ける多チ
ヤネルの検出器である。本発明ではクオーターオ
フセツト法に基づきサンプルデータの収集を行う
ので、Ｘ線管Ｘから再構成領域PAの中心０を通
つて多チヤネル検出器Ｓの中央チヤネルに照射さ
れるＸ線が、チヤネルの中心からチヤネル間隔即
ちサンプル間隔の1/4だけずれた点に入射するよ
うに、検出器Ｓの位置決めがなされている。
DASは検出器Ｓの出力を収集するデータ収集装
置で、検出器Ｓの出力を増幅、積分し、Ａ／Ｄ変
換した後、データ記憶装置DS１に格納する。 PPRは前処理装置で、データ収集装置DASで
収集された被検体ＢのＸ線透過データに対し、デ
ータ収集装置DASのオフセツト補正、対数変換、
Ｘ線ビーム硬化補正等々の各種補正演算を施し、
Ｘ線のプロジエクシヨンデータを求める部分であ
る。この結果はデータ記憶装置DS２に格納され
る。 FFTはフーリエ変換装置で、平行ビームの１
ビユー分のプロジエクシヨンデータ毎に離散フー
リエ変換（DFT）を施し、結果の周波数成分を
データ記憶装置DS２に格納する。ここでの演算
式は、Ｎ個の実数データa0，a1，a2…、aN-1（Ｎ
＝2r、ｒは整数）に対し、次のものを用いる（ｊ
＝√−１）。 Ｙ（ｎ）＝Ｒ（ｎ）＋ｊ・Ｉ（ｎ）＝N/2-1 〓k=0 （a2k＋ｊ・a2k+1）・exp（−ｊ2πkη／Ｎ／２） ここで、ｎ＝０、１、２、…、Ｎ／２−１ ……(1) Ar（ｎ）＝Ｒ（η）＋Ｒ（Ｎ／１−η）／２−Ｒ（η
）−Ｒ（Ｎ／２−η）／２・sin2πη／Ｎ……(2-1) Ai（ｎ）＝Ｉ（η）−Ｉ（Ｎ／２−η）／２−Ｉ（η
）−Ｉ（Ｎ／２−η）／２・sin2πη／Ｎ −Ｒ（η）−Ｒ（Ｎ／２−η）／２・cos2πη／
Ｎ……(2-2) Ａ（ｎ）＝Ar（ｎ）＋ｊ・Ai（ｎ） ……(2) 但し、ｎ＝０、１、２、…、Ｎ／２ Ｒ（Ｎ／２）＝Ｒ（Ｏ）、 Ｉ（Ｎ／２）＝Ｉ（Ｏ）、 Ｙ（Ｎ／２）＝Ｙ（Ｏ） Ａ（ｎ＋Ｎ／２） ＝Ar（Ｎ／２−ｎ）−ｊ・Ai（Ｎ／２−ｎ）……(2)
′ ここで、ｎ＝１、２…、Ｎ／２−１ 式(1)の計算は所謂高速フーリエ変換（Fast
Fourier Transform）により高速に演算する。
a0、a1、…、aN-1のフーリエ変換の結果A0、A1、
…、AN-1は式(2)と(2)′に示す通りとなる。Ar（ｎ）
とAi（ｎ）はＡ（ｎ）の各々実数部と虚数部に対
応する。式(1)は所謂圧縮フーリエ変換の式で、Ｎ
個の実データをＮ／２組の複素データとして高速
演算を計り、最終的にアンパツク処理（２−１）、
（２−２）により、求めるフーリエ変換結果Ａ
（ｎ）（ｎ＝０、１、…、Ｎ／２）を得る。 OFPはオフセツト検出処理装置で、Ｘ線源
（Ｘ線発生焦点）Ｘ、検出器群Ｓの中心（中央に
位置する検出器の中心）Ｃ、再構成領域PAの中
心Ｏに対し、直線XCを直線XOから故意にずら
してクオーターオフセツト法により収集し且つ前
述の処理が施され、データ記憶装置DS２に格納
されたデータに対し、対応する処理を施す装置で
ある。ここでの処理の演算式は次のものである。 Ｆ（ｎ）＝Fr（ｎ）＋ｊ・Fi（ｎ） ＝Ａ（ｎ）・e-j〓 ……(3) Fr（ｎ）＝Ar（ｎ）・cosγ ＋Ai（ｎ）．sinγ ……（３−１） Fi（ｎ）＝Ai（ｎ）・cosγ −Ar（ｎ）・sinγ ……（３−２） 但しｎ＝０、１、２、…、Ｎ／２ Ｆ（ｎ＋Ｎ／２） ＝Fr（Ｎ／２−ｎ）−ｊ・Fi（Ｎ／２−ｎ）……(3)
′ Fr（ｎ＋Ｎ／２）＝Fr（Ｎ／２−ｎ）……（３−１）′ Fi（ｎ＋Ｎ／２）＝−Fi（Ｎ／２−ｎ）……（３−２）
′ 但しｎ＝１、２、…、Ｎ／２−１ γ＝4πηδ／Nd ……(4) Ｎは入力複数周波数成分の対の数（FFTの出
力周波数成分の数）であり、ｄはPAの中心Ｏで
の平行ビームのサンプル間隔（mm）、δはオフセ
ツト検出でのオフセツト量（mm）、基準座標に対
して右方向（正方向）のオフセツトと＋する。ク
オーターオフセツト法では、δ＝−ｄ／４又は
ｄ／４である。Ａ（ｎ）は入力周波数成分で、Ar
（ｎ）は実数部、Ai（ｎ）は虚数部である。Ｆ
（ｎ）は出力の周波数成分で、Fr（ｎ）はその実
数部、Fi（ｎ）は虚数部である。フーリエ変換さ
れたオフセツト処理を施した周波数成分は、周波
数空間（ξ−η平面）上で第２図ｂのように直線
ω上に並んでいる。これと180゜ずれた周波数成分
はＪ度元の成分と逆の向きに並んでいる。元の周
波数成分Ｐ（ωn、θm）、180゜ずれた方向の周波数
成分Ｑ（ωn、θm＋π）に対し、合成された周波
数成分Ｆ（ωn、θm）を次のように演算により求
める。 Fr（ωn、θm）＋１／２｛Pr（ωn、θm） ＋Qr（ωn、θm＋π）｝ ……（５−１） Fi（ωn、θm）＝１／２｛Pi（ωn、θm） −Qi（ωn、θm＋π）｝ ……（５−２） Ｆ（ωn、θm）＝Fr（ωn、θm） ＋ｊ・Fi（ωn、θm） ……(5) ここで、ｎ＝０、１、２、…、Ｎ／２ Fr（ωo＋Ｎ／２、θm）＝Fr（ωＮ／２−η、θm） ……（５−１）′ Fr（ωo＋Ｎ／２、θm）＝Fi（ωＮ／２−η、θm） ……（５−１）′ Fr（ωo＋Ｎ／２、θm）＝Fi（ωoＮ／２−η、θm） ＋ｊ＋Fi（ω〓＋Ｎ／２、θm） ……(5)′ ここで、ｎ＝０、１、２、…、Ｎ／２−１ 式(3)、(3)′、(5)、(5)′は、高解像性、低偽像性、
高画像性（低SD、低ノイズ等）等々から重要で
ある。OFPの出力はデータ記憶装置DS３に格納
される。OFPは本発明の最も特徴的な部分であ
る。 PRCは極座標／直交座標変換装置である。実
空間でのプロジエクシヨンデータと再構成領域の
関係を第２図ａに示す。Ｘ線源はＸ側にあり、
OXはｘ軸正方向とθm＋π／２の角をなす。xy座標 系とθmをなす直角座標UVに対し、平行ビーム
のプロジエクシヨンデータb0、b1、…、bM-1はＵ
軸上に図のように配置される。実際のプロジエク
シヨンデータbkは、Ｘ線の方向が直線K1→K2に
向い、直線K1K2上での放射線吸収係数の線積分
であるが、これをＵ軸上の点Ukにあるとみなす。
サンプルデータb0、b1、…、bM-1の両端に適当な
数の値０をつけ且つ配列変更したデータa0、a1、
…、aN-1に対して離散フーリエ変換を施し、オフ
セツト検出に対する処理を施した周波数成分デー
タFk（ｋ＝０、１、２、…、Ｎ−１）は、周波数
空間上（ξ−η平面上）で第２図ｂのようにξ軸
とθmの角をなすω軸上の離散点に対応する。極
座標／直交座標変換は、この極座標ω−θの各離
散データより近似計算により直交座標ξ−ηの各
離散点のデータを求める変換処理である。ｂ図の
ξ−η座標上の点Ｐの近傍でω−θ座標上の４点
はＡ、Ｂ、A′、B′となる。点Ｐ、Ａの座標を
各々Ｐ（ξk、ηl）≡Ｐ（ｋ、ｌ）、Ａ（ωn、θm）≡
Ａ（ｎ、ｍ）とし、点Ｐ、Ａの周波数成分を各々
Ｇ（ξk、ηl）≡Ｇ（ｋ、ｌ）、Ｆ（ωn、θm）≡Ｆ
（ｎ、ｍ）とすると、本変換の演算式として次の
ものをあげることができる。 Ｇ（ξk、ηl）＝Gr（ξk、ηl） ＋ｊ・Gi（ξk、ηl） ……(6) Gr（ξk、η1）、Gi（ξk、η1）は各々Ｇ（ξk、η1）
の
実数部、虚数部（点ＰにおけるＧ（ξ、η）の実
数部、虚数部）であり、Fr（ωn、θm）、Fi（ωn、
θm）は各々Ｆ（ωn、θm）の実数部、虚数部（点
ＡにおけるＦ（ω、θ）の実数部、虚数部）であ
る。ｐ、Ｌは整数で、Ｌは近似の正確さにより例
えばＬ＝３とする。（６−１）式の｛ ｝以降は の意味で（６−２）式についても同様である。
【式】はFr（ω、θ）をω
でｐ−ｑ回偏微分し、更に、θでｑ回偏微分した
関数のω＝ωn、θ＝θmにおける値である。）本
近似式は、前述のフーリエ変換前のOfillの数と
共に、近似の精度に重要な影響を有するので、式
の次数(L)をどう選ぶか、高速で高精度の近似式と
して何を選ぶか等慎重に検討される。この変換結
果はデータ記憶装置DS４に格納される。 IFFTは２次元フーリエ逆変換装置で、第２図
ｂのξ−η座標（直交座標）の各点（各格子点）
に対応する周波数成分Ｇ（ξ、η）から、離散２
次元フーリエ逆変換により実空間イメージデータ
を求める部分である。演算式は以下の通りであ
る。 ｇ（xn、ym） ＝μ（xn、ym）＋ｊ・ν（xn、ym）
……（７−１） ｎ、ｍ＝−Ｌ／２、−Ｌ／２＋１、…、０、１、…、 Ｌ２−１ μ（xn、ym）が求めるものである。即ち、２次
元フーリエ逆変換(7)の実数部が求めるものであ
る。画像データとしては更に次式のＣ（xn、ym）
を使用する（ａ、ｂは定数）。 Ｃ（xn、ym）＝ａ・μ（xn、ym）
＋ｂ ……(8) (7)式は離散高速フーリエ変換として高速に演算
する。 IMは映像データ記憶装置で、２次元フーリエ
逆変換装置IFFTにより得られた映像データを格
納する。この映像データは画像表示装置GDCに
て表示され、像写真撮像装置MFCにて写真撮像
されるようになつている。尚、前述の各装置は撮
影制御装置SCCにて、制御されるように構成され
ている。 次に上記実施例の動作を第３図を参照しながら
説明する。この例では、各方向の１ビユーデータ
は、収集方向の位置の制御がなされ、複数方向の
平行ビームの成分となるデータの集合であり、見
かけ上フアン状に発散するデータの集合である
（通常のフアンビームデータと異なる）。 被検体Ｂの所要の断面は再構成領域PAとして
テーブルTAとガントリＧの傾斜の適宜な位置選
択により得られる。この断面PAに対して各方向
からＸ線の発生と検出器Ｓによる被検体Ｂの透過
Ｘ線の収集をデータ収集装置DASにより行う。
データ収集装置DASでは入力の積分、増幅、
Ａ／Ｄ変換等がなされ、フアン状の１ビユー分の
データとして１ビユー毎にデータ記憶装置DS１
に転送格納する。フアンビームに対して前処理を
施し、結果をデータ記憶装置DS１に格納する
（ステツプ１）。 フアンビームの並べ換えにより平行ビームを得
るが、１ビユー分の平行ビームが揃うと（ステツ
プ２）、前記の前処理を施し（ステツプ３）、結果
をデータ記憶装置DS２に格納し、全ビユー・1/2
＋１ビユーが完了すると（ステツプ４）、次のス
テツプに移る。 １ビユーの平行ビームデータは第２図ａのよう
な位置でサンプルされたＭ個（Ｍは奇数）のデー
タb0，b1，b2…、bM-1である。この両端に０値デ
ータをつけ、
関数のω＝ωn、θ＝θmにおける値である。）本
近似式は、前述のフーリエ変換前のOfillの数と
共に、近似の精度に重要な影響を有するので、式
の次数(L)をどう選ぶか、高速で高精度の近似式と
して何を選ぶか等慎重に検討される。この変換結
果はデータ記憶装置DS４に格納される。 IFFTは２次元フーリエ逆変換装置で、第２図
ｂのξ−η座標（直交座標）の各点（各格子点）
に対応する周波数成分Ｇ（ξ、η）から、離散２
次元フーリエ逆変換により実空間イメージデータ
を求める部分である。演算式は以下の通りであ
る。 ｇ（xn、ym） ＝μ（xn、ym）＋ｊ・ν（xn、ym）
……（７−１） ｎ、ｍ＝−Ｌ／２、−Ｌ／２＋１、…、０、１、…、 Ｌ２−１ μ（xn、ym）が求めるものである。即ち、２次
元フーリエ逆変換(7)の実数部が求めるものであ
る。画像データとしては更に次式のＣ（xn、ym）
を使用する（ａ、ｂは定数）。 Ｃ（xn、ym）＝ａ・μ（xn、ym）
＋ｂ ……(8) (7)式は離散高速フーリエ変換として高速に演算
する。 IMは映像データ記憶装置で、２次元フーリエ
逆変換装置IFFTにより得られた映像データを格
納する。この映像データは画像表示装置GDCに
て表示され、像写真撮像装置MFCにて写真撮像
されるようになつている。尚、前述の各装置は撮
影制御装置SCCにて、制御されるように構成され
ている。 次に上記実施例の動作を第３図を参照しながら
説明する。この例では、各方向の１ビユーデータ
は、収集方向の位置の制御がなされ、複数方向の
平行ビームの成分となるデータの集合であり、見
かけ上フアン状に発散するデータの集合である
（通常のフアンビームデータと異なる）。 被検体Ｂの所要の断面は再構成領域PAとして
テーブルTAとガントリＧの傾斜の適宜な位置選
択により得られる。この断面PAに対して各方向
からＸ線の発生と検出器Ｓによる被検体Ｂの透過
Ｘ線の収集をデータ収集装置DASにより行う。
データ収集装置DASでは入力の積分、増幅、
Ａ／Ｄ変換等がなされ、フアン状の１ビユー分の
データとして１ビユー毎にデータ記憶装置DS１
に転送格納する。フアンビームに対して前処理を
施し、結果をデータ記憶装置DS１に格納する
（ステツプ１）。 フアンビームの並べ換えにより平行ビームを得
るが、１ビユー分の平行ビームが揃うと（ステツ
プ２）、前記の前処理を施し（ステツプ３）、結果
をデータ記憶装置DS２に格納し、全ビユー・1/2
＋１ビユーが完了すると（ステツプ４）、次のス
テツプに移る。 １ビユーの平行ビームデータは第２図ａのよう
な位置でサンプルされたＭ個（Ｍは奇数）のデー
タb0，b1，b2…、bM-1である。この両端に０値デ
ータをつけ、
【式】なるＮ個の
データを基にして、これを配列変更したデータ列
｛ai；ｉ＝０、１、…、Ｎ−１｝a0＝ｂＭ−１／２、 a1＝ｂＭ＋１／２、…、ａＭ−１／２＝bM-1、０、０、 …、aN−Ｍ−１／２＝b0、…、aN-2ｂＭ−５／２、aN-1 ＝ｂＭ−３／２ に対し、前記の離散フーリエ変換DFT、即ち式
(1)、(2)、（２−１）、（２−２）、(2)′を施し（ス
テ
ツプ５）、結果をデータ記憶装置DS２へ格納す
る。 ステツプ５の演算は原理的に次式に相当する。 Ａ（ω）＝∫∞ -∞ｂ（ｒ）・e-jwrdr……(11) ｂ（ｒ）は実測値（離散値）biと次の関係をもつ。 この離散フーリエ変換の結果に対して、オフセ
ツト検出処理、即ち(3)、（３−１）、（３−２）、
(3)′、（３−１）′、（３−２）′式を施した後（ス
テツプ６）、対向ビユーデータとの間で周波数成
分の合成、即ち(5)、（５−１）、（５−２）、(5)′、
（５−１）′、（５−２）′式を施す（ステツプ７）。 全ビユーの平行ビームに対しステツプ１〜ステ
ツプ７の処理が終了したら（ステツプ８）、極座
標／直交座標変換を式(6)、（６−１）、（６−２）
に従つて行う（ステツプ９）。 次に得られたＬ（Complex）×Ｌの直交座標デ
ータより、式(7)、（７−１）による２次元離散フ
ーリエ逆変換を行う（ステツプ10）。そして、こ
のステツプ10で得られた結果の実数部を使用し、
イメージ処理（式(8)等各種）を施す（ステツプ
11）。スキヤンと再構成処理の統轄制御は撮影制
御装置SCCによりなされる。各装置は、パイプラ
イン構造等により並列動作が可能で並列処理を行
う。 ステツプ10の演算は原理的に次式に相当する。 ｇ（ｘ、ｙ）＝１／4π2∫∞ -∞∫∞ -∞Ｇ（ξ、η）・
ej(〓X+7y)dξdη……(12) Ｇ（ξ、η）は離散データＧ（ξp、ηq）と次の
関係にある。 尚、本発明は上記の実施例に限るものではな
く、例えば、以下に示すような種々の変形が可能
である。 オフセツト検出処理装置OFPの後（極座
標／直交座標変換装置PRCの前）にフイルタ
装置FILTを設けたもの。 フイルタ処理の例としては、例えばハニング
フイルタ（Hanning Filter）等がある。 ２次元フーリエ逆変換装置IFFTの後に後処
理装置POSTを設けたもの。 後処理装置POSTでは、式(8)を含む各種の処
理を行う。この場合、２次元フーリエ逆変換装
置IFFTは式(7)、（７−１）の純２次元フーリ
エ逆変換を行う。 オフセツト検出処理装置OFPの後に周波数
成分生成装置GFRQを設けたもの。 周波数成分生成装置GFRQでは式(5)、（５−
１）、（５−２）、(5)′、（５−１）′、（５−
２）′の演算処理を行う。この場合、オフセツ
ト検出処理装置OFPは式(3)、（３−１）、（３−
２）、(3)′、（３−１）′、（３−２）′の演算処理
を行う。 装置の分割 (i) 全処理装置PPRを２つ以上の前処理装置
に分離して並列動作を可能としたもの (ii) 撮影制御装置SCCをマイクロプロセツサ、
マイクロプログラムメモリ、デコーダ等で構
成したもの。 装置の統合 (i) フーリエ変換装置FFTと２次元フーリエ
逆変換装置IFFTを同一の装置とし、時分割
使用するもの。 (ii) 複数の装置を統合して構成したもの。 記憶装置の分割又は統合 (i) １つのデータ記憶装置（例えばDS２）を
複数に分割したもの。 (ii) ２つ以上のデータ記憶装置を統合したも
の。 バス、制御ライン、信号ライン等の分離又は
統合。 外部装置の付加 ●磁気テープ装置MT、フロツピーデイスク装
置FDD、専用オペコン等の付加。 ●データ処理用に汎用の情報処理装置CPUや
専用のアレイプロセツサAP等を設けたもの。 同一の演算処理（例えば式(3)、（３−１）、
（３−２）、(3)′、（３−１）′、（３−２）′、(5)
、
（５−１）、（５−２）、(5)′、（５−１）′、（５
−
２）′等）を別の構成（例えば情報処理装置
CPU、アレイプロセツサAP等の装置とソフト
ウエア）で実現したもの。 （発明の効果） 以上説明したように、本発明では、クオーター
オフセツト法等のオフセツト検出測定法によりデ
ータを収集すると共に、１次元フーリエ変換後の
周波数成分にオフセツト検出処理を行つているた
め、クオーターオフセツト法等のオフセツト検出
測定法の効果をフーリエ変換形Ｘ線CTにも生か
すことができる。即ち、高速フーリエ変換による
高速な処理性を保持しつつ、空間分解能が高く、
アーテイアクトが少ないフーリエ変換形Ｘ線CT
を実現できる。又、本発明によれば、逆投影装置
のような専用装置は不要で、汎用のフーリエ演算
装置を主体としたシンプルな構成をもつ、経済性
の高いＸ線CTを実現可能である。更に、Ｆ（ωn、
θm）が原点に関して複素共役対称である性質に
よりＦ（ω、θ）のためのデータメモリの容量
（サイズ）を通常の場合の1/2に成し得る等多くの
長所をもつ。
｛ai；ｉ＝０、１、…、Ｎ−１｝a0＝ｂＭ−１／２、 a1＝ｂＭ＋１／２、…、ａＭ−１／２＝bM-1、０、０、 …、aN−Ｍ−１／２＝b0、…、aN-2ｂＭ−５／２、aN-1 ＝ｂＭ−３／２ に対し、前記の離散フーリエ変換DFT、即ち式
(1)、(2)、（２−１）、（２−２）、(2)′を施し（ス
テ
ツプ５）、結果をデータ記憶装置DS２へ格納す
る。 ステツプ５の演算は原理的に次式に相当する。 Ａ（ω）＝∫∞ -∞ｂ（ｒ）・e-jwrdr……(11) ｂ（ｒ）は実測値（離散値）biと次の関係をもつ。 この離散フーリエ変換の結果に対して、オフセ
ツト検出処理、即ち(3)、（３−１）、（３−２）、
(3)′、（３−１）′、（３−２）′式を施した後（ス
テツプ６）、対向ビユーデータとの間で周波数成
分の合成、即ち(5)、（５−１）、（５−２）、(5)′、
（５−１）′、（５−２）′式を施す（ステツプ７）。 全ビユーの平行ビームに対しステツプ１〜ステ
ツプ７の処理が終了したら（ステツプ８）、極座
標／直交座標変換を式(6)、（６−１）、（６−２）
に従つて行う（ステツプ９）。 次に得られたＬ（Complex）×Ｌの直交座標デ
ータより、式(7)、（７−１）による２次元離散フ
ーリエ逆変換を行う（ステツプ10）。そして、こ
のステツプ10で得られた結果の実数部を使用し、
イメージ処理（式(8)等各種）を施す（ステツプ
11）。スキヤンと再構成処理の統轄制御は撮影制
御装置SCCによりなされる。各装置は、パイプラ
イン構造等により並列動作が可能で並列処理を行
う。 ステツプ10の演算は原理的に次式に相当する。 ｇ（ｘ、ｙ）＝１／4π2∫∞ -∞∫∞ -∞Ｇ（ξ、η）・
ej(〓X+7y)dξdη……(12) Ｇ（ξ、η）は離散データＧ（ξp、ηq）と次の
関係にある。 尚、本発明は上記の実施例に限るものではな
く、例えば、以下に示すような種々の変形が可能
である。 オフセツト検出処理装置OFPの後（極座
標／直交座標変換装置PRCの前）にフイルタ
装置FILTを設けたもの。 フイルタ処理の例としては、例えばハニング
フイルタ（Hanning Filter）等がある。 ２次元フーリエ逆変換装置IFFTの後に後処
理装置POSTを設けたもの。 後処理装置POSTでは、式(8)を含む各種の処
理を行う。この場合、２次元フーリエ逆変換装
置IFFTは式(7)、（７−１）の純２次元フーリ
エ逆変換を行う。 オフセツト検出処理装置OFPの後に周波数
成分生成装置GFRQを設けたもの。 周波数成分生成装置GFRQでは式(5)、（５−
１）、（５−２）、(5)′、（５−１）′、（５−
２）′の演算処理を行う。この場合、オフセツ
ト検出処理装置OFPは式(3)、（３−１）、（３−
２）、(3)′、（３−１）′、（３−２）′の演算処理
を行う。 装置の分割 (i) 全処理装置PPRを２つ以上の前処理装置
に分離して並列動作を可能としたもの (ii) 撮影制御装置SCCをマイクロプロセツサ、
マイクロプログラムメモリ、デコーダ等で構
成したもの。 装置の統合 (i) フーリエ変換装置FFTと２次元フーリエ
逆変換装置IFFTを同一の装置とし、時分割
使用するもの。 (ii) 複数の装置を統合して構成したもの。 記憶装置の分割又は統合 (i) １つのデータ記憶装置（例えばDS２）を
複数に分割したもの。 (ii) ２つ以上のデータ記憶装置を統合したも
の。 バス、制御ライン、信号ライン等の分離又は
統合。 外部装置の付加 ●磁気テープ装置MT、フロツピーデイスク装
置FDD、専用オペコン等の付加。 ●データ処理用に汎用の情報処理装置CPUや
専用のアレイプロセツサAP等を設けたもの。 同一の演算処理（例えば式(3)、（３−１）、
（３−２）、(3)′、（３−１）′、（３−２）′、(5)
、
（５−１）、（５−２）、(5)′、（５−１）′、（５
−
２）′等）を別の構成（例えば情報処理装置
CPU、アレイプロセツサAP等の装置とソフト
ウエア）で実現したもの。 （発明の効果） 以上説明したように、本発明では、クオーター
オフセツト法等のオフセツト検出測定法によりデ
ータを収集すると共に、１次元フーリエ変換後の
周波数成分にオフセツト検出処理を行つているた
め、クオーターオフセツト法等のオフセツト検出
測定法の効果をフーリエ変換形Ｘ線CTにも生か
すことができる。即ち、高速フーリエ変換による
高速な処理性を保持しつつ、空間分解能が高く、
アーテイアクトが少ないフーリエ変換形Ｘ線CT
を実現できる。又、本発明によれば、逆投影装置
のような専用装置は不要で、汎用のフーリエ演算
装置を主体としたシンプルな構成をもつ、経済性
の高いＸ線CTを実現可能である。更に、Ｆ（ωn、
θm）が原点に関して複素共役対称である性質に
よりＦ（ω、θ）のためのデータメモリの容量
（サイズ）を通常の場合の1/2に成し得る等多くの
長所をもつ。
第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロツ
ク図、第２図は実空間での射影や周波数空間での
周波数成分に関する説明図、第３図は第１図の実
施例の動作説明図である。 Ｇ……ガントリ、TA……テーブル、Ｂ……被
検体、PA……再構成領域、Ｏ……再構成領域の
中心、TGC……テーブル・ガントリ制御装置、
XGC……Ｘ線発生制御装置、Ｘ……Ｘ線管（Ｘ
線発生焦点）、XR……高圧、Ｘ線管制御部、Ｓ
……検出器群、DAS……データ収集装置、PPR
……前処理装置、FFT……フーリエ変換装置、
OFP……オフセツト検出処理装置、PRC……極
座標／直交座標変換装置、IFFT……２次元フー
リエ逆変換装置、DS１〜DS４……データ記憶装
置、IM……映像データ記憶装置、GDC……画像
表示装置、MFC……像写真撮影装置、SCC……
撮影制御装置。
ク図、第２図は実空間での射影や周波数空間での
周波数成分に関する説明図、第３図は第１図の実
施例の動作説明図である。 Ｇ……ガントリ、TA……テーブル、Ｂ……被
検体、PA……再構成領域、Ｏ……再構成領域の
中心、TGC……テーブル・ガントリ制御装置、
XGC……Ｘ線発生制御装置、Ｘ……Ｘ線管（Ｘ
線発生焦点）、XR……高圧、Ｘ線管制御部、Ｓ
……検出器群、DAS……データ収集装置、PPR
……前処理装置、FFT……フーリエ変換装置、
OFP……オフセツト検出処理装置、PRC……極
座標／直交座標変換装置、IFFT……２次元フー
リエ逆変換装置、DS１〜DS４……データ記憶装
置、IM……映像データ記憶装置、GDC……画像
表示装置、MFC……像写真撮影装置、SCC……
撮影制御装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 放射線発生源より放射され被検体を透過した
放射線を検出器で検出し、各方向毎にサンプルデ
ータ群として収集し、該サンプルデータ群に前処
理等の処理を施して平行ビームの各１ビユー分の
プロジエクシヨンデータを求め、該データ又は値
０を該データの両側又は片側に付加したデータを
１次元フーリエ変換し、周波数空間で極座標→直
交座標交換を施した後、これに２次元フーリエ逆
変換を施して被検体の断面の再構成画像を求める
フーリエ変換形Ｘ線CTにおいて、前記サンプル
データの収集をクオーターオフセツト法等のオフ
セツト検出測定法に基づいて行い、且つフーリエ
変換後の周波数成分にオフセツト検出処理を施し
て得た周波数成分を新たな周波数成分として用い
ることを特徴とするフーリエ変換形Ｘ線CT。 ２ 各方向のサンプルデータ群である各方向の１
ビユーのデータ群が、収集方向の位置制御がなさ
れ１又は複数の方向の平行ビームの成分の集合で
あり、並べ換えにより各方向の平行ビームになし
得るデータ群であるか、若しくは収集方向の位置
制御がなされ純フアンビームとして放射線発生源
から発散する等の形態をもち補間演算等の計算に
より平行ビームになし得るデータ群である特許請
求の範囲第１項記載のフーリエ変換形Ｘ線CT。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62301949A JPH01141646A (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | フーリエ変換形ｘ線ｃｔ |
| PCT/JP1988/001211 WO1989005121A1 (en) | 1987-11-30 | 1988-11-30 | Imaging method in a radioactive ray ct |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62301949A JPH01141646A (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | フーリエ変換形ｘ線ｃｔ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01141646A JPH01141646A (ja) | 1989-06-02 |
| JPH0439861B2 true JPH0439861B2 (ja) | 1992-06-30 |
Family
ID=17903050
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62301949A Granted JPH01141646A (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | フーリエ変換形ｘ線ｃｔ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01141646A (ja) |
| WO (1) | WO1989005121A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100387195C (zh) * | 2003-11-07 | 2008-05-14 | Ge医疗系统环球技术有限公司 | 偏移量测量方法、身体活动检测方法及x射线ct装置 |
| KR20090057972A (ko) * | 2006-08-03 | 2009-06-08 | 더 리전츠 오브 더 유니버시티 오브 캘리포니아 | 토모그래피의 투여량 감소 및 화질 개선을 위한 반복적 방법 |
| US7924983B2 (en) * | 2008-06-30 | 2011-04-12 | Varian Medical Systems, Inc. | Thermionic emitter designed to control electron beam current profile in two dimensions |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61290573A (ja) * | 1985-06-19 | 1986-12-20 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
-
1987
- 1987-11-30 JP JP62301949A patent/JPH01141646A/ja active Granted
-
1988
- 1988-11-30 WO PCT/JP1988/001211 patent/WO1989005121A1/ja unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO1989005121A1 (en) | 1989-06-15 |
| JPH01141646A (ja) | 1989-06-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7561659B2 (en) | Method for reconstructing a local high resolution X-ray CT image and apparatus for reconstructing a local high resolution X-ray CT image | |
| JP4841874B2 (ja) | 断層合成造影における直接再生方法及び装置 | |
| US7623691B2 (en) | Method for helical windmill artifact reduction with noise restoration for helical multislice CT | |
| Swindell et al. | Computerized tomography: taking sectional x rays | |
| JP4152649B2 (ja) | Ｃｔスカウト画像処理のための方法及び装置 | |
| EP1031943B1 (en) | Efficient cone-beam reconstruction system using circle-and-line orbit data | |
| US20100158194A1 (en) | System and method for image reconstruction | |
| KR20120055468A (ko) | 화상 처리장치, 화상 처리방법, 및 비일시적 기억매체 | |
| JP2007512034A (ja) | 発散ビームスキャナのための画像再構成方法 | |
| JP3987024B2 (ja) | 横方向のフィルタリング処理を用いたトモシンセシス画像を強調する方法及びシステム | |
| WO2008064367A2 (en) | Method and system for tomographic reconstruction in medical imaging using the circle and line trajectory | |
| KR102234138B1 (ko) | 화상 처리 장치, 화상 처리 방법 및 프로그램 | |
| JPH0375045A (ja) | 再生像の視野外の物体に対するｃｔデータの補償方式 | |
| JP4584550B2 (ja) | Ｘ線計測装置 | |
| JPS6275875A (ja) | 放射線断層撮影装置 | |
| US6151378A (en) | Method and device for processing of medical image data | |
| JPH0439861B2 (ja) | ||
| US4053779A (en) | Method and apparatus for constructing models of body sections | |
| JP2000139893A (ja) | Ｃｔ装置 | |
| GB2416101A (en) | Imaging internal structures and correcting for motion artifacts | |
| JPS61290573A (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 | |
| JPH01201235A (ja) | フーリエ変換形ｘ線ｃｔ等のデータ処理装置 | |
| KR100857030B1 (ko) | 고해상도의 ｘ선 단층 영상을 획득하는 방법 | |
| Kak | Algorithms for reconstruction | |
| JPH04295340A (ja) | 断層像撮影装置及びその方法 |