JPS61290573A

JPS61290573A - Ｘ線ｃｔ装置

Info

Publication number: JPS61290573A
Application number: JP60131800A
Authority: JP
Inventors: Hiroshi Nishimura; 博西村
Original assignee: Hitachi Medical Corp
Current assignee: Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Priority date: 1985-06-19
Filing date: 1985-06-19
Publication date: 1986-12-20

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の利用分野〕本発明は、Ｘ線源とＸ線検出器の相対的位置関係を保持
したまま被検体の周囲を回転運動を行ない、扇状Ｘ線を
用いて計測するコンピュータ断層装置において、高品質
の断層画像を能率良く得るＸＩＣＴ装置に関するもので
ある。

〔発明の背景〕

Ｘ線ＣＴ装置の検出器列は、検出器幅に対して無視でき
ない大きさの検出器開口幅を有する。有限の開口幅をも
つ検出器列によって標本化された投影データは、標本間
隔で決まるナイキスト周波数よシ高い周波数成分を潜在
的に含んでいる。この成分を取り出すには、Ｘ線検出器
列を本来の幾何学的配置から検出器幅の１／４だけずら
せた取シ付け、互いに１８０°隔てた計測位置での対向
ビームが１７２だけ重なるようにしたクォーター・オフ
セット検出器列を用いれば可能であることは、特開昭５
６−５２０４０号に記載されている。しかし、この方法
は、一方の投影データのそれぞれの中間に、１８０°隔
てた位置で計測した投影データの開口が互いに１／２ず
つずれた位相をもつことを利用して、埋め込んだだけで
しかない。すなわち、もとの開口幅のデータをその半分
の開口幅のデータとして埋め込んだ点に数学上無理があ
り、これを正しく半分の開口幅を有するデータとして取
り出す点については配慮されていなかった。

〔発明の目的〕

本発明の目的は、Ｘ線ＣＴ装置における画像再構成演算
アルゴリズムを改善し、高い空間分解能を有し、雑音の
粒状状の細かい良質の断層画像を極めて高速に得ること
ができるＸａＣ′Ｉｌ装置を提供することにある。

〔発明の概要〕

本発明は、Ｘ線検出器列を通常の位置から検出器幅の１
／４だけずらして配置したＸ＠ＣＴ装置において、互い
に１８０°隔てた位置で計測されたＸ線ビームの重なり
をデイコンボルーシヨンあるいは逆フィルタを施した後
、逆投影演算によって断層像を得るようにしたものであ
る。

〔発明の実施例〕

被検査体に対して多数の放射線ビームを透過させ、その
透過ビーム計測値から被検査体の特定断面における放射
線吸収係数の分布を求め、これを断層像として表示装置
に表示することによって被検査体の診断に役立たせるコ
ンピュータ応用断層撮影装置（以下ＣＴと呼ぶ）は、そ
の投影データ収集方式に応じて、第１世代、第２世代、
第３世代ＣＴ等と呼ばれている。いずれの世代ＯＣＴで
も、Ｘ線源とＸ線検出器群を被検査体の周囲をその相対
位置関係を保持したまま回転運動あるいは並進運動を行
なって多数の方向から投影データを計測している。

これらの投影データのうち、１本の計測ビームの一方の
側でＸ線ビームを爆射して計測したデータと、爆射／検
出の関係を逆転させて他方の側から爆射して計測したデ
ータのそれぞれの検査器間口幅を、計測ビームを有限の
幅をもったペンシルビームと仮定したとき、互いに半分
だけ重なり合うようにＸ線源／検出器系をあらかじめ配
置しておくことは可能である。この半分ずつの重なり合
いは、もとの検出器幅を基準に取ると、互いに逆転した
位置で計測されたデータは、それぞれ１／２位相ずれた
被検査体の情報を保持しているので、これらを解き１１
ぐせばもとの検出器幅で決まるナイキスト周波数の２倍
の情報まで取シ出せる。

第３世代０ＣＴ（被検査体を覆うことのできる拡がり角
で扇状にＸ線ビームを照射することのできるＸ線源と、
このＸ線ビームのそれぞれを同時に検出するためＱＸＸ
線検出器群をもち、被検査体の周囲を、これらの相対的
位置関係を保持しながら回転運動を行なって投影データ
を収集するように構成されたＣＴ）において、上記の事
を実現するＫは、検出器列を検査器幅の１／４だけ本来
の幾何学的位置からずらせて取り付ければよい。

この方式の検出器列をクォーターオフセットディテクタ
と呼ぶ。

このようにして収集された多数の投影データを用いて、
被検査体の特定断面におけるＸ線吸収係数の分布を表わ
す断層画像を得るには、逐次近似法、コンポリューショ
／法、フィルタ逆投影法。

フーリエ変換法等によって、再構成処理をする必要があ
る。一般的にはフィルタ逆投影法が用いられているが、
この方法は投影データにまず検出器の物理特性を補正す
る前処理演算を施したあと、逆投影によるぼけを修正す
るだめのフィルタリングを行ない、そのあと逆投影演算
を行なうことによって断層画像を再構成するものである
。この方法には逆投影演算の手法によって２種類に分け
られる。その一つの手法は、多方向から得られる各投影
データごとに弧状に並んだ検出器列とＸ線源の幾何学的
位置関係を考慮に入れた補正項を含んだフィルタリング
を実施したあと、直交座標系として構成された２次元メ
モリ空間上に直接ファン状に逆投影演算を行なうことに
よって断層画像を得る方法で、ダイレクトバックプロジ
ェクション法（略してダイレクト法）と呼ばれる。他の
一つの手法は、ファン状Ｘ線ビームによって計測された
投影データ群から並べ換え演算によって一旦平行ビーム
投影データを作成し、この並べ換え後のデータにぼけ修
正のフィルタリングを実施し、逆投影演算を行なう方法
で、アレンジメント法（略してアレンジ法）と呼ばれる
。

アレンジ法は、平行ビーム投影データを使って逆投影を
行なうが、この演算が単純であるのでそのハードウェア
構成も実現が容易である。しかし。

一本の平行ビーム投影データを並べ換え演算によって得
るＫは、ファンビームの拡がシ角に応じた計測データが
必要であり、並べ換え演算そのものが２次元の補間演算
であるので、この際の補間誤差が再構成後の画像の空間
分解能を劣化させ、雑音の粒状性も粗いものとし２画質
の低下を来す。

そのため、逆投影演算にはダイレクト法が用いられるよ
うになってきた。ダイレクト法では、補間演算は逆投影
時にのみ必要であり、並べ換え演算時と逆投影演算時と
に補間演算が必要なアレンジ法よシも補間誤差に基づく
画質劣化の程度は少ない。

本発明の目的は、再構成画像の空間分解能を向上させる
ために、前記クォータオフセットディテクタを用いて被
検査体の投影データを得て、画像再構成するＸ線ＣＴ装
置を提供することにある。

以下便宜上説明にはアレンジ法を基礎とする。

第１図は、本発明の概要を示す図である。Ｘ線コンピュ
ータ断層装置のうち、現在量も広く使用されているのは
、ファンビームを用いた回転スキャンのみによって計測
を行なう第３世代方式である。

ガントリ内の回転する円板１上に対向して固定されたＸ
線管２およびＸ線検出器列３は、被検査体４の周囲を一
定速度で回転する。その際、一定時間間隔ごとに、Ｘ線
パルスをＸ線管２から発射し１回転中心付近に置かれた
被検査体透過後のＸ線をＸ線検査器で計測し、増幅器で
得られた信号の増幅後、アナログ・ディジタル変換して
、ディジタル値となった計測データを得る。こめ計測デ
ータをＬｏｇ変換によろてファンビーム投影データとし
て画像処理系１１に送る。

画像処理系１１では、投影データを後述するアレンジメ
ント・データ拡張法によってアレンジ処理し、得られた
倍長データに対して、本発明の特徴テするデイコンボル
ーシヨン処理を行なう。その後、逆投影によるぼけをあ
らかじめ取り除くためのぼけ修正フィルタ処理７を行な
う。この際。

フィルタ係数８は部位別に何種類か用意しておき、ぼけ
修正フィルタ処理７に使用する。フィルタ処理後のデー
タに逆投影処理を施し、最終の断層画像１０を得る。

Ｘ線検出器列を本来の幾何学的配置から検出器幅の１７
４だけずらせて取り付けたクォーター・オフセット検出
器列は、平行ビーム投影データでは、互いに１８０°隔
てた計測位置での対向ビームが１／２だけ重なる。Ｘ線
ビームをビーム幅の等しいペンシル・ビームと仮定する
と、回転中心付近の１本のビームに注目したとき、互い
に１８０゜隔てた計測位置での対向ビームは第２図に示
すごとくなる。それぞれ互いに１８０°隔てた位置での
Ｘ線管２１とＸ線検出器２２とを結ぶビームは。

シングル・ハツチで示しである。検出器が本来の幾何学
的位置から検査器幅の１／４だけずらせてあるため互い
に１８０°隔てた検出器同志ノ間テは検出器幅の１／２
だけ結果的にずれも。しだがって両者のビームの重なり
は、互いに１／２ずつとなシ、ダブル・ハツチの部分が
両者の重なりの部分である。この重なりを解きほぐすこ
とが１本発明の目的である。

第３図は、平行ビーム投影データ、すなわち。

ファンビーム／平行ビーム並べ換え演算後のアレンジメ
ントデータの、検出器列が互いに１８０゜隔てた計測位
置での各ビームの位相関係を示す。

第３図から、一方のアレンジメントデータと１８０’隔
てた位置でのデータを交互に埋め込むと、１つ１つのデ
ータの開口特性は、互いに半分ずつの重なり合いをもつ
ことがわかる。このようにして、対向アレンジメントデ
ータを交互に埋め込む方法は１元の開口幅をもつデータ
をその半分の開口幅のデータとして２倍に拡張する点に
問題がある。

この問題を解決するには、半分の開口幅をもつ仮想検出
器で計測されたかのごとく、投影データの解きほぐしが
必要である。第４図は１元の開口幅の半分の仮想検出器
で計測した場合の対向ビーム投影データとの関係を示す
。

いま、元の対向ビーム投影データをそれぞれ（ｔｊｋ）
、（ＬＩＪ）とし、その半分の開口幅をもつ仮想検出器
で計測されるデータを（Ｘ、）とする。ただし、（ｕ、
）、（ｕｋ’）はそれぞれに＝１〜Ｎまでの要素をもち
１Ｘｋ）はに＝１〜２Ｎまでの要素をもつ。

任意のｕｋ、ｕ（に対して第１式の関係が成シ立つ。

ここで、（Ｖｋ）　（ｋ＝１〜２Ｎ）として、と第１式
は第３式のように書き表わされる。

ｖ　ｋ＝　ｘ　ｋ＋　Ｘ　ｋ＊ｌ　　　　　　ｍ＋＋＋
＋＋＋Ｉｌｅ＊　（３）第３式は、（ｖｋ）が（Ｘｋ）
の隣接２点加算によるものであることを示す。そこで（
Ｖｋ）、（Ｘ、）それぞれをベクトル表記してＶ、Ｘと
し、隣接２点加算オペレータをｈで表わすと、第３式は
第４式に示すごとく、コンボルージョン表現となる。

ｖ＝ｘ＊ｈ　　　　　　　　　・・・・・・・・・・・
・・・・（４）ただし、＊はコンボルージョンを意味す
る。

第４式から、与えられたＶに対して×を求めることが本
発明の目的である。第４式の両辺をそれぞれフーリエ変
換し、ｖ、ｘ、ｈの周波数領域での表示をＶ（ω〕、Ｘ
（ω）、Ｈ（ω）とすると、第５式で表わされる。

Ｖ＝＝Ｘ、＋　　　　　　　　・・・・・・・・・・・
・・・・・・・（５）第５式から、Ｘを求めると、第６
式を得る。

Ｘ＝＋−皿・■　　　　　　・曲軸・四・・・（６）第
６式からＨ−１（ω）が決まれば、与えられたＶ（ω）
に対してＸ（ω）が求まる。

ところで、隣接２点加算オペレータｈは、仮想検出器幅
を１．としたとき、空間座標軸をｔで表わすと、第７式
で表わされる。

ｈ（ｔ）＝δ（１）＋δ（ｔ　−ｔｏ　）　　　　　−
＝　（７）ただし、δ（りはデルタ関数である。第７式
の両辺をフーリエ変換すると、第８式を得る。

Ｈ（ω）＝１＋ｅ−’″ｔＯ・・・・・・・・・（趨第
７式は、第５図に示すごとくなる。

第８式から）ｌ−１（ω）を求めると、第９式を得る。

第９式は、第６図に示すごとく正規化周波数ωｔ。

＝−π、πでそれぞれ発散する。したがって、この逆フ
ィルタＨ−１（ω）は、このままＶ（ω）に施すことは
無意味となる。

そこで、近似解を求め名ことを考える。第９式の欠点は
、１点の解を求めるのに全領域の情報を利用する点にあ
る。第９式が周波数軸ωｔｏ＝士πで発散することは、
空間軸で考えたとき振動することを意味する。また、１
点での解に寄与する因子は近傍数点におさまると考えて
よい。

そこで、簡単のために第３式でに＝１〜５までの要素を
例にとシ、近似解を求めることを考える。

第３式を書き下すと、第１０式を得る。

次に、両端の値の平均値を初期値、すなわち。

として、それぞれ昇順降順に解を求めｈＸ３に対する両
者の和をＸｆとすると、第１１式を得る。

ところが、Ｘ３の解はｈ　ｖ２　ｐ　ｖ３に等分に含ま
れているので、Ｘｆとして第１２式のものが第１近似と
して考えられる。

そこで、第１１．１２式の加算平均を近似解Ｘ３として
用いる。しだがって、第１３式を得る。

ｘ３＝ｖｚ　＋Ｖ３−−（ｖｔ　＋Ｖ４　）　　　・・
・（１３）近似逆フィルタＨ（ω）の実空間関数ｈ０（
ｔ）は、ｈ”’（ｔ）＝−入δ（ｔ　−１−ｔ　ｏ　）
十δ（１）＋δ（ｔ　　ｔｏ）−一δ（ｔ−２ｔｏ）　
　・・・（１４）で与えられる。第７図にｈｏ（ｔ）の
実空間図を、第８図にその周波数特性を示す。第８図か
ら明らかなように、正規化周波数ωｔｏ＝±ｎπ（ｎは
整数）で必ず振＠Ｏであるので、発散の問題はない。

同様にして、近似解に利用する領域をさらに拡げること
によって近似逆フィルタを構成することが可能である。

このようにして、近似逆フィルタを使って、投影データ
から、元の１／２の検出器幅をもつデータを作成でき、
これをフィルタ補正逆投影法によって画像を再構成する
と、検出器幅０．７５ｍｍの検出器列で計測した場合、
０．５０ａａｍの空間分解能をもつ画像が得られた。ま
た、画像のノイズ粒状性も改善されたが、アーチファク
トが逆に若干増加した。これは、第２図のＸ線ビームが
ペンシルビーム−１すなわち、Ｘ線ビーム幅がＸ線管か
らＸ線検出器まで検出器幅と同じ幅をもったものとした
仮定に問題があるからである。

実際には、Ｘ線ビームはＸ線管側でほとんど幅をもたず
、検出器に到達した時の幅が検出器の開口幅と等しくな
るような性質をもつビームである。

したがって、被検査体を通過するときの幅は、Ｘ線管か
らの距離によって変わり、回転中心付近では、検出器開
口幅の約１７２となる。被検・套体の大きさが、Ｘ線管
と検出器間の距離に比べて充分小さければ、被検査体を
回転中心に置いて計測すれば、本発明の処理は不必要で
ある。しかし、現実には、被検査体の大きさを無視でき
ない。

第９図は、Ｘ線ビームのＸ線管から検出器へのビームの
拡がシを考慮に入れたときの対向した２ビ一ム位置での
重なりを示したものである。実際には一本のＸ線ビーム
の両側に重なり部分をもつ。

この事を模式的に表現したものが第１０図である。

第４図との違いは、元の計測された投影データの対向ビ
ームとの重なり程度が少ない点にある。“（ｕｋ）、（
ｕ′ｋ）を第２式に従って（ｖｋ）に置き換え、仮想検
出器による投影データ（Ｘｋ）との関係を書き表わすと
、第１５式となる。

＆Ｘｈ−ｔ　＋ｘ　ｋ　＋ａ　Ｘｋ、ｌ＝　Ｖ　ｂ　　
　　−（１５）ここで、αは、元のＶｋの開口幅から仮
想検出器による投影データｘｋの開口幅を引いたものと
、ｘｋの開口幅との比の半分である。第１５式の加算オ
ペレータｈ　（ｔ）は、第１６式で示すごとくなる。

ｈ（ｔ）＝ａδ（ｔ＋ｔｏ）＋δ（ｔ）＋αδ（ｔ　　
ｔ　ｏ　）　　・・’　（１６）第１６式の両辺をフー
リエ変換すると、第１７式を得る。

Ｈ（ω）＝１＋２αｃｏｓωｔ０　　　　　・・・・・
・・・・（１７）ここで、定義よシ、０≦α≦０，５と
仮定してよいので、第１７式の逆フィルタは、任意の正
規化周波数ωｔｏで発散することのない第１８式で与え
られる。

第１６式のプロフィールを第１１図に、第１８式の周波
数特性を第４２図に示す。

したがって、第１５式あるいは第１０図の仮定が成シ立
つとき、投影データをフーリエ変換したものに第１８式
の逆フィルタを施し、ぼけ修正フィルタを掛は合わせ、
逆フーリエ変換後、逆投影処理を行なえば、ディコンポ
ルージョンによる高解像断層画像が得られる。

アレンジメント方式を行なうＣＴ画像再構成のフロー・
チャートを第１３．１４図に示す。ファンビーム投影デ
ータ（前半１８００分）１３１をアレンジメント処理１
３３　Ｌ、、前半１８０°分のアレンジ・データ１３４
を得る。同様に、ファンビーム投影データ（後半１８０
°分）１３２をアレンジメント処理１３３し、後半１８
０°分のアレンジ・データ１３５を得る。１３４，１３
５両者のデータを使って、対向データ交互埋め込み処理
１３６を施し、拡張アレンジ・データ１３７を作成する
。このとき、もとのファンビーム投影データ１３１，１
３２の検出器数、すなわち、サンプル数をＮとすると、
拡張アレンジ・データ１３７のサンプル数は２Ｎとなり
、１８０°分のデータとなる。次に、拡張アレンジ・デ
ータ１３７に実空間上でディコンポルージョン処理１３
８を行なうか、あるいは、それと等価なことを周波数領
域に変換後進フィルタを施す。その後、ぼけ修正フィル
タ処理１３９を行なう。この処理は、実空間で行なう場
合はコンポルージョン演算であシ、周波数領域で行なう
場合は、ぼけ修正フィルタとの積を作成し、その後逆フ
ーリエ変換を行なう処理となる。最後に、得られたデー
タを逆投影処理１４０し、最終的な断層画像１４１を得
る。

第１４図は、第１３図とディコンポルージョン処理１３
８とぼけ修正処理１３９の順序が異なっているだけで、
他は第１３図と同じである。

よシ詳細な具体例を第１５図に示す。ＣＴスキャナから
得られたファンビーム投影データは、各パルスごとＪＩ
Ｎ次−次元バッファ・メモ！ｊ１５１に蓄えられる。−
次元バッファ・メモリ１５１にある一定量データが蓄え
られると、取シ出し、アレンジメント処理１３３’ｔ−
加算器１５２によって行ない、−次元バッファ・メモリ
１５３に蓄える。

このアレンジ・データは対向ビーム・アレンジデータと
組み合わせてデータ長は倍長にする。このデータは、デ
ィコンポルージョン演算器１５４を通した後、ＦＦ’Ｔ
演算器１５５でフーリエ変換し。

−次元バッファ・メモリ１５６に転送する。このデータ
とぼけ修正フィルタ係数１５７と乗算器１５８で掛は合
わせ、−次元バッファ・メモリに蓄える。その出力は、
逆ＦＦＴ演算器１６０によって逆７−リエ変換し、実空
間にもどして〜、−次元バツファ・メモリ１６１に蓄え
る。一方、カラｙり１６４からの指令によりビーム計算
器１６２が、逆投影演算に応じたデータを一次元バツフ
ァ・メモリ１６１からとり出し、すでに二次元画像バッ
ファ・メモリ１６５に蓄えられている同一座標上のデー
タとを加算器１６３によって加算し。

結果を二次元バッファ・メモリ１６５に蓄えておく。以
上の過程を３６０°全体の投影データに対して施すと、
最終の断層画像１４１が得られる。

得られた画像をビデオ帯域用Ｄ／Ａ変換器１６６を通し
てアナログ・ビデオ信号に変換し、ＣＲ，Ｔディスプレ
イ１６７により可視化する。

本発明は、アレンジメント法のみならずダイレクト法等
、はとんどのＸ線ＣＴ装置に適用可能である。

また１本発明は扇状Ｘ線ビームを用いるＸ線ＣＴ装置の
みならず錐状Ｘ線ビームを用い、スライス方向に多層構
造をもった検出器群による計測を行なうＸ線ＣＴ装置に
も適用可能である。さらに、扇状Ｘ線ビームを用いるＸ
＃ＣＴ装置で多層スライス面での断層像を連続的に得る
場合Ｋ、スライス方向の処理に本発酊の原理がそのまま
適用できる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、Ｘ線検出器幅で規定される最高空間分
解能よシも高い空間分解能をもった断層画像を提供でき
、よシ細かな領域も解像できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の詳細な説明する図、第２図はＸ線ビー
ム幅の等しいペンシル・ビームの対向シた状態を示す図
、第３図は互いに１８０°対向したアレンジ・データの
交互埋め込みを説明する図、第４図Ｕ対向ビームからデ
イコンボルーシヨンによって、検出器幅が１／２の仮想
検出器のデータを作成する方法を説明する図、第５図は
隣接２点加算オペレータのプロフィールを示す図、第６
図はその逆フィルタの周波数特性図、第７図はその実現
可能な近似逆フィルタの実空間図、第８図はその周波数
特性図、第９図はＸ線ビームの幅カＸ線管側とＸ線検出
器側で異なる場合の対向した２ビームの重なり状態を示
す図、第１０図は対向した２ビームの重なルが０．５以
内の互いに１８００対向した位置でのアレンジ・デ〒り
と元の検出器幅の１／２の仮想検出器の状態を示す図、
第１１図はその場合の隣接３点加算オペレータのプロフ
ィール図、第１２図はその逆フィルタの周波数特性図、
第１３図はデイコンボルーシヨン処理を含むＣＴ画像再
構成フロー・チャート（その１）、第１４図は同その２
．第１５図は具体的実施例を説明する図である。１・・・回転する円板、２・・・Ｘ線管、３・・・Ｘ線
検出器列、４・・・被検査体、５・・・アレンジメント
処理、６・・・ディコンポルージョン処理、７・・・ぼ
け修正フィルタ処理、８・・・フィルタ係数、９・・・
逆投影処理、１０・・・画像、１１・・・ＸＭＣＴ画像
処理装置、２１・・・Ｘ線管、２２・・・Ｘ線検出器、
３１．３２・・・互いに１８０°対向したアレンジ・デ
ータ、４１．４２・・・対向ビームの互いの重なり合い
が１／２の対向アレンジ・データ、４３・・・元の検査
器幅の１／２の仮想検出器で得られたデータ、１３１・
・・ファンビーム投影データ（前半１８０°分）、１３
２・・・ファンビーム投影データ（後半１８０°分）。１３３・・・アレンジメント処理、１３４・・・アレン
ジ・データ（前半１８０°分）、１３５・・・アレンジ
・データ（後半１８０°分）、１３６・・・対向データ
交互埋め込み法、１３７・・・拡張アレンジ・データ、
１３８・・・ディコンポルージョン処理、１３９・・・
ぼけ修正処理、１４０・・・逆投影処理、１４１・・・
画像、１５１・・・−次元バッファ・メモリ、１５２・
・・加算器、１５３・・・−次元バッファ・メモリ、１
５４・・・デイコンボルーシヨン演算器、１５５・・・
ＦＰＴ演算器、１５６・・・−次元バッファ・メモリ、
１５７・・・フィルタ係数、１５８・・・乗算器、１５
９・・・−次元バッファ・メモリ、１６０・・・逆ＦＦ
Ｔ演算器、１６１・・・−次元バツ７ア・メモリ、１６
２・・・ビーム計算器、１６３・・・加算器、１６４・
・・カウンタ、１６５・・・二次元バッファ・メモリ、
１６６・・・ビデオＤＡ変換器、１６７・・・ＣＢ、Ｔ
ディスプレイ、１７０・・・データ拡張器％１７１・・
・フィルタ処理部、１７２・・・逆投影処理部。

Claims

【特許請求の範囲】１、被検査体の特定断面部分に対し、多数の角度から扇
状のＸ線ビームを照射し、前記被検査体を透過したＸ線
ビームをほぼ同時に多数のＸ線検出器によつて計測する
装置において、Ｘ線検出器列を検出器幅の１／４だけ本
来の位置からずらして取り付け、得られる計測データの
空間サンプリング・ピッチを等価的に２倍化する手段と
前記各角度毎の前記扇状Ｘ線ビームに対応した多数のフ
ァンビーム投影データを収集する手段と、この手段によ
つて得られた各角度毎のファンビーム投影データをファ
ンビーム／平行ビーム並べ換え演算によつて平行ビーム
投影データを作成する手段と、この手段によつて得られ
た平行ビーム投影データを互いに１８０°対向した位置
で計測されたデータを交互に埋め込んで倍長データを作
成し、デイコンボルーシヨン演算により対向ビームの重
なり合いを解きほぐす手段と、この手段によつて得られ
たデータにフィルタ関数を作用させてぼけ修正データを
作成する手段と、この手段によつて得られた修正データ
を逆投影計算を行なう手段とを備えて、前記被検査体の
特定断面部分における断層画像を得ることを特徴とする
Ｘ線ＣＴ装置。２、デイコンボルーシヨン演算をそれと等価な周波数軸
上での逆フィルタ関数を作用させることを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載のＸ線ＣＴ装置。３、ファンビーム／平行ビーム並べ換え演算を行なわず
、ファンビームから直接逆投影演算を行なう手段をもつ
装置において、計算によつてファンビームの対向ビーム
を求めて倍長データを作成し、ファンビーム状態のまま
デイコンボルーシヨン演算を行なう手段を備えたことを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載のＸ線ＣＴ装置。４、デイコンボルーシヨン演算をそれと等価な周波数軸
上での逆フィルタ関数を作用させることを特徴とする特
許請求の範囲第３項記載のＸ線ＣＴ装置。