JPS58163341A - Ｘ線診断装置 - Google Patents
Ｘ線診断装置Info
- Publication number
- JPS58163341A JPS58163341A JP57045698A JP4569882A JPS58163341A JP S58163341 A JPS58163341 A JP S58163341A JP 57045698 A JP57045698 A JP 57045698A JP 4569882 A JP4569882 A JP 4569882A JP S58163341 A JPS58163341 A JP S58163341A
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- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 10
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は診断の九めの医療機器の分野に属し、％に良質
のＸＭｍ像を提供し得るＸ線診断装置に関するものであ
る。
のＸＭｍ像を提供し得るＸ線診断装置に関するものであ
る。
ｘ＠ｃｒ装置は、本来断層ａｔ得るための装置ではある
が、第３世代と呼ばれる装置ではＸ＠管球と、ＸＩＩ管
球に対向して一列に配列されたＸｓ検出器とを定位置Ｋ
ｌｌ定しておき、被検体を載置する寝台をそのＸ線管球
とｘＩＩ検出器との間で移動させつつ、被検体に向って
寝台の移動に同期してｘＩＩを曝射し、一般のＸＩＩ透
視像とほぼ同様のスキャノ像を得ることができる０しか
しながら、Ｘ線ＣＴ装置よ）得られるスキャノ像は、単
に断層像を得る際の位置決めｏＩＰ段として用いられて
いるにすぎず、診断ｏＨ的に直接使用されることはなか
った◎なぜなら、ｘＩＩＩ管球の容量を充分大暑（でき
ないため、鰻度分解能が損なわれ良画像しか得ることか
で１１１ｋかったからである。即ち、員度分解能は、Ｘ
線の線量に比例して向上するが、従来よ）、例えば回転
陽極の同−周側面上に電子−を照射してｘｍｔ発生させ
ていた九め、照射される電子線量を増すと回転Ｓ極の温
度上昇を押さえることができず、ｉＩｌＭが溶けてしま
う恐れもあり、これは４１Ｋ、陽１ｉＫ照射される電子
線の焦点が小さい機器しかつ友。従って、Ｘ線管球の容
量が制＠され、かつ、回転ｌＩ板極上照射される電子−
の焦点もｉｕｉの温度上昇に起因して制限されていた０
しかしながらその反面、従来の方法によると、回転陽極
の同一周側面に電子ｍを照射していたため散乱線による
影響が極めて少ないという利点を有している。従って、
散乱１８による影響を押えながらもＸｌ管球の容量を増
加するととによシ淡度分解能を高め、さらに陽極上に照
射される電子線の焦点を小さく結ぶことにより空間分解
能をも高めることができれば良好なスキャノ画像を得る
ことができるととＫなる。
が、第３世代と呼ばれる装置ではＸ＠管球と、ＸＩＩ管
球に対向して一列に配列されたＸｓ検出器とを定位置Ｋ
ｌｌ定しておき、被検体を載置する寝台をそのＸ線管球
とｘＩＩ検出器との間で移動させつつ、被検体に向って
寝台の移動に同期してｘＩＩを曝射し、一般のＸＩＩ透
視像とほぼ同様のスキャノ像を得ることができる０しか
しながら、Ｘ線ＣＴ装置よ）得られるスキャノ像は、単
に断層像を得る際の位置決めｏＩＰ段として用いられて
いるにすぎず、診断ｏＨ的に直接使用されることはなか
った◎なぜなら、ｘＩＩＩ管球の容量を充分大暑（でき
ないため、鰻度分解能が損なわれ良画像しか得ることか
で１１１ｋかったからである。即ち、員度分解能は、Ｘ
線の線量に比例して向上するが、従来よ）、例えば回転
陽極の同−周側面上に電子−を照射してｘｍｔ発生させ
ていた九め、照射される電子線量を増すと回転Ｓ極の温
度上昇を押さえることができず、ｉＩｌＭが溶けてしま
う恐れもあり、これは４１Ｋ、陽１ｉＫ照射される電子
線の焦点が小さい機器しかつ友。従って、Ｘ線管球の容
量が制＠され、かつ、回転ｌＩ板極上照射される電子−
の焦点もｉｕｉの温度上昇に起因して制限されていた０
しかしながらその反面、従来の方法によると、回転陽極
の同一周側面に電子ｍを照射していたため散乱線による
影響が極めて少ないという利点を有している。従って、
散乱１８による影響を押えながらもＸｌ管球の容量を増
加するととによシ淡度分解能を高め、さらに陽極上に照
射される電子線の焦点を小さく結ぶことにより空間分解
能をも高めることができれば良好なスキャノ画像を得る
ことができるととＫなる。
本発明は前記事情に鋤みてなされたものであり、散乱線
による影響を押えながらも充分な濃度分解能と空間分解
能とを有し、実質な画像を得ることができるＸ線診断装
置を提供することを目的とするものである。
による影響を押えながらも充分な濃度分解能と空間分解
能とを有し、実質な画像を得ることができるＸ線診断装
置を提供することを目的とするものである。
前記目的を達成するための本発明の概要は、焦点位置を
変化させて複数の焦点からｘ＊’を発生させるＸ線管と
、各焦点に対応配置されたスリットと、各焦点から発生
するＸｌによる被検体透過情報上検出する検出器と、骸
検出器によって得られ九Ｘ纏透過情報を各焦点毎Ｋ１１
１次記憶する記憶装置と、記憶装置内の情報を処理する
処理装置とを有することを特徴とするＸ線診断装置であ
る。
変化させて複数の焦点からｘ＊’を発生させるＸ線管と
、各焦点に対応配置されたスリットと、各焦点から発生
するＸｌによる被検体透過情報上検出する検出器と、骸
検出器によって得られ九Ｘ纏透過情報を各焦点毎Ｋ１１
１次記憶する記憶装置と、記憶装置内の情報を処理する
処理装置とを有することを特徴とするＸ線診断装置であ
る。
以下、本発明の一実施例を図面ｔ＃照して説明する０第
１図（−）はＸ線診断装置の概略説明図であシ、第１図
０）は、篤１図（→の一部の側面管示す概略説明図であ
る。図において、１はｘｌＩ管であり、隙極２．偏向用
グリッド３２回転陽極４よプ成っている。回転陽極４は
、例えば軸４６を中心に図示矢印Ａ方向ＫＭ転する円錐
形の頂点部を取〕除いた形状を有し、陰極２よシ照射さ
れ偏向用グリッド３により偏向される電子ビームｔ−順
次周側面上の複数位置例えばＬｌ、 Ｌ、 、 Ｌｓに
焦点を結ぶごとく配置されている。５は；リメータであ
〕、例えば前記焦点位置Ｌ１ａ Ｌｍ ＬＢ Ｋ対応す
る位置ＫＭ板を等間隔に並べたスリン） Ｓ＊ ｅ Ｓ
Ｊ）婁を有している０６は寝台であり、被検体７ｔ−そ
の上に載置し、例えば図示矢印Ｂ方向に間欠的に移動す
るよう罠なっている０８は例えば複数のシリプン半導体
検出器がプレイ状に配列されたアレイ検出器であシ、前
記コリメータ５のスリット５． 、５露−５ａｔ順次通
過して、前記被検体７の異なる断面Ｆ＊ ｅ Ｐ露、Ｐ
ｇ を透過するＸ ＠ Ｘｌ 、 Ｘ、 、 Ｘ、 ｔ
−同一のプレイ検出器８に入射するＯＡｍｐ ９は前記
アレイ検出器８の出力管入力し、増幅して出力する。Ａ
／Ｄ変換器１０は前記ＡＭＰ ９の出力を入力し、ディ
ジタル変換して出力する。ＣＰＵ １１は、前記Ａ／Ｄ
変換器の出力を入力するとともに、前記寝台６の移動量
管位置情報として入力し、Ａ／Ｄ変換器１０の出力であ
るＸ線透過情報と断面の位置情報と対応付けて主メモリ
１２に記憶する０さらＫｃＰＵｌｌは、前記主メモリ１
２より゛同一断面位置におけるＸ線透過情報を読み出し
加算して出力する。フレームメモリ１５は、前記ＣＰＵ
１１からの同一断面位置におけるＸ線透過情報を入力
して記憶するものでおり、この記憶情報に基づく画像が
ディスプレイ１４において表示される。
１図（−）はＸ線診断装置の概略説明図であシ、第１図
０）は、篤１図（→の一部の側面管示す概略説明図であ
る。図において、１はｘｌＩ管であり、隙極２．偏向用
グリッド３２回転陽極４よプ成っている。回転陽極４は
、例えば軸４６を中心に図示矢印Ａ方向ＫＭ転する円錐
形の頂点部を取〕除いた形状を有し、陰極２よシ照射さ
れ偏向用グリッド３により偏向される電子ビームｔ−順
次周側面上の複数位置例えばＬｌ、 Ｌ、 、 Ｌｓに
焦点を結ぶごとく配置されている。５は；リメータであ
〕、例えば前記焦点位置Ｌ１ａ Ｌｍ ＬＢ Ｋ対応す
る位置ＫＭ板を等間隔に並べたスリン） Ｓ＊ ｅ Ｓ
Ｊ）婁を有している０６は寝台であり、被検体７ｔ−そ
の上に載置し、例えば図示矢印Ｂ方向に間欠的に移動す
るよう罠なっている０８は例えば複数のシリプン半導体
検出器がプレイ状に配列されたアレイ検出器であシ、前
記コリメータ５のスリット５． 、５露−５ａｔ順次通
過して、前記被検体７の異なる断面Ｆ＊ ｅ Ｐ露、Ｐ
ｇ を透過するＸ ＠ Ｘｌ 、 Ｘ、 、 Ｘ、 ｔ
−同一のプレイ検出器８に入射するＯＡｍｐ ９は前記
アレイ検出器８の出力管入力し、増幅して出力する。Ａ
／Ｄ変換器１０は前記ＡＭＰ ９の出力を入力し、ディ
ジタル変換して出力する。ＣＰＵ １１は、前記Ａ／Ｄ
変換器の出力を入力するとともに、前記寝台６の移動量
管位置情報として入力し、Ａ／Ｄ変換器１０の出力であ
るＸ線透過情報と断面の位置情報と対応付けて主メモリ
１２に記憶する０さらＫｃＰＵｌｌは、前記主メモリ１
２より゛同一断面位置におけるＸ線透過情報を読み出し
加算して出力する。フレームメモリ１５は、前記ＣＰＵ
１１からの同一断面位置におけるＸ線透過情報を入力
して記憶するものでおり、この記憶情報に基づく画像が
ディスプレイ１４において表示される。
以上のように構成され九装置の作用について、第２図を
４参照に加えて説明する。 １１１２図は寝台６の寝台
位置ｍ、ｈ、ｃ・・・、被検体７の断面位置Ｐ＠ ｅ
Ｐｇ ｅ・Ｐｌ”ｔバラメータとしてｘｌＩの透過情報
及び同−断ｉ１におけるＸｉｌ透過情報の加算値を示す
特性図である。尚、第２図中、Ｘ町、Ｘ匂、Ｘりは寝台
位置一点におけるそれぞれの断面ＰＨａ Ｐ黛ｅ Ｐ＠
ＯＸ線透過情報會示している。以下、第２図の記号に基
づいてｌ！明する◎先ず寝台位ｔ４１Ａにおいて、隘１
１２よｐ電子線が照射されると、図示しない制御装置に
よ）偏向用グリッド３が微少角度変位して、回転陽１ｉ
４の焦点位置Ｌｉ、Ｌ、、Ｌ、ＩＩＣそれぞれ微少時間
の差違管もって入射する。この際、従来は陰極２より照
射される電子線が回転陽１ｉ４の同−周側面上例えば図
示ＬＩＫのみ焦点を結んでい友ため、回転陽１１４にお
ける焦点位置Ｌｌｓ分の温度上昇が大暑く、この九め電
子線の線量が制限され、かつ、焦点位置ＬＩＫおける焦
点を小さく結ぶことができなかっ九〇本発明では、偏向
用グリッド５によシ回転陽１ｉ４上の焦点位置を移動さ
せることＫより、合焦点位置において冷却時間【保持し
得ることとなシ、よって陰極２からの電子線の線量を増
加し、各焦点位置Ｌ１．Ｌ、、Ｌｓにおいて、従来よル
も小さく焦点を結ぶことができることになる０各焦点位
置Ｌ１ａ ｚ、 ｅ ｚ、 Ｋ順次入射する電子線は、
その後、；リメータ５のそれぞれＯスリン） Ｓｌ ＃
ＳＳ ａ Ｓｌ管通過することＫよシ散乱線が除去さ
れて、Ｘ、＠ファンビームＸ１． Ｘ、 、 Ｘ、とし
て被検体７に入射する。寝台位置６点Ｋ＞いては、被検
体７の断面へ＠？１ｐＰｓを透過してＸ線透過情報Ｘｇ
ｌ 、Ｘｇｌ ＠ Ｘ匂が同一のアレイ検出器７にそれ
ぞれ微小時間の差速【もって入射し、ＡＭＰ９で増幅さ
れ、Ａ／Ｄ変換器１０でディジタル信号に変換されてＣ
ＰＵ１１に入力する。ｃＰＵｌｌでは、前記ｘｍ透過情
報Ｘ＠＠ 、 Ｘ町、Ｘりを、寝台位置１に対応付けて
出力し、主メモリ１２ＫＴｈいて記憶される。
４参照に加えて説明する。 １１１２図は寝台６の寝台
位置ｍ、ｈ、ｃ・・・、被検体７の断面位置Ｐ＠ ｅ
Ｐｇ ｅ・Ｐｌ”ｔバラメータとしてｘｌＩの透過情報
及び同−断ｉ１におけるＸｉｌ透過情報の加算値を示す
特性図である。尚、第２図中、Ｘ町、Ｘ匂、Ｘりは寝台
位置一点におけるそれぞれの断面ＰＨａ Ｐ黛ｅ Ｐ＠
ＯＸ線透過情報會示している。以下、第２図の記号に基
づいてｌ！明する◎先ず寝台位ｔ４１Ａにおいて、隘１
１２よｐ電子線が照射されると、図示しない制御装置に
よ）偏向用グリッド３が微少角度変位して、回転陽１ｉ
４の焦点位置Ｌｉ、Ｌ、、Ｌ、ＩＩＣそれぞれ微少時間
の差違管もって入射する。この際、従来は陰極２より照
射される電子線が回転陽１ｉ４の同−周側面上例えば図
示ＬＩＫのみ焦点を結んでい友ため、回転陽１１４にお
ける焦点位置Ｌｌｓ分の温度上昇が大暑く、この九め電
子線の線量が制限され、かつ、焦点位置ＬＩＫおける焦
点を小さく結ぶことができなかっ九〇本発明では、偏向
用グリッド５によシ回転陽１ｉ４上の焦点位置を移動さ
せることＫより、合焦点位置において冷却時間【保持し
得ることとなシ、よって陰極２からの電子線の線量を増
加し、各焦点位置Ｌ１．Ｌ、、Ｌｓにおいて、従来よル
も小さく焦点を結ぶことができることになる０各焦点位
置Ｌ１ａ ｚ、 ｅ ｚ、 Ｋ順次入射する電子線は、
その後、；リメータ５のそれぞれＯスリン） Ｓｌ ＃
ＳＳ ａ Ｓｌ管通過することＫよシ散乱線が除去さ
れて、Ｘ、＠ファンビームＸ１． Ｘ、 、 Ｘ、とし
て被検体７に入射する。寝台位置６点Ｋ＞いては、被検
体７の断面へ＠？１ｐＰｓを透過してＸ線透過情報Ｘｇ
ｌ 、Ｘｇｌ ＠ Ｘ匂が同一のアレイ検出器７にそれ
ぞれ微小時間の差速【もって入射し、ＡＭＰ９で増幅さ
れ、Ａ／Ｄ変換器１０でディジタル信号に変換されてＣ
ＰＵ１１に入力する。ｃＰＵｌｌでは、前記ｘｍ透過情
報Ｘ＠＠ 、 Ｘ町、Ｘりを、寝台位置１に対応付けて
出力し、主メモリ１２ＫＴｈいて記憶される。
次に、寝台６が図示矢印Ｂ方向く例えばコリメータ５の
スリットＳ＠ｅｓ冨ａｓＢのピッチと同一距離移動して
寝台位置す点に達すると、前記と同様に陰極２により照
射され、偏向用グリッド３に偏向された電子線が回転陽
極４の焦点位置Ｌ１− Ｌｍ −Ｌｍ Ｋ入射する。そ
してコリメータ５の各スリットＳ１＄Ｓ愈一５ｓｋ通過
したＸ線ファンビームＸ鳳、 Ｘ、 、−ｘ、が被検体
７に入射する。この際、寝台位置す点においては、各Ｘ
線ファンビームＸ１． Ｘ、 、 Ｘ、は被検体７の断
面Ｐ＊ａｌｌｅＰａｔ１Ｍ次透過してＸ！Ｉ透過情報７
”ｈ＠ ａ Ｆ’＠ ａ Ｆｈ４が同一のプレイ検出器
８にそれぞれ微少時間の差違をもって入射する◎その後
、前記と同様に、ＡＭｐ ９ 、 Ａ／Ｄ変換器１０を
介してｃｐｔｒｌｌに人力Ｌ、ｃｐｖ １１−ｔ’はｘ
ｌＩＩＩ透過情報Ｘｊｓ。
スリットＳ＠ｅｓ冨ａｓＢのピッチと同一距離移動して
寝台位置す点に達すると、前記と同様に陰極２により照
射され、偏向用グリッド３に偏向された電子線が回転陽
極４の焦点位置Ｌ１− Ｌｍ −Ｌｍ Ｋ入射する。そ
してコリメータ５の各スリットＳ１＄Ｓ愈一５ｓｋ通過
したＸ線ファンビームＸ鳳、 Ｘ、 、−ｘ、が被検体
７に入射する。この際、寝台位置す点においては、各Ｘ
線ファンビームＸ１． Ｘ、 、 Ｘ、は被検体７の断
面Ｐ＊ａｌｌｅＰａｔ１Ｍ次透過してＸ！Ｉ透過情報７
”ｈ＠ ａ Ｆ’＠ ａ Ｆｈ４が同一のプレイ検出器
８にそれぞれ微少時間の差違をもって入射する◎その後
、前記と同様に、ＡＭｐ ９ 、 Ａ／Ｄ変換器１０を
介してｃｐｔｒｌｌに人力Ｌ、ｃｐｖ １１−ｔ’はｘ
ｌＩＩＩ透過情報Ｘｊｓ。
Ｘｈｓ、 Ｘｈ４ｔ−寝台位置ＡＫ対対応上て出力し、
主メモ！７１２に記憶する。前記と同様にして、寝台６
を順次Ｃ点、ｄ点、一点・・・に移動させ各位置におい
て被検体７ＫＸｌｌｊｌ射することによシ、各寝台位置
におけるｘＩＩ透過情報管得ることができる（第２図参
照）。次ＫＣＰＵ１１は主メモリ１２に記憶された各寝
台位置のＸ＠透過情報の中から、被検体７の同一断面の
ｘｌＩｓ透過情報ｔＩ［次読み出して加算し、各断面に
おけるｘ１ｍ透過情報の加算値ＸＦＩ 、ＸＰ嘗、ｘｐ
ｓ、・・・を出力し、フレームメモリ１６において記憶
し、ディスプレイ１４において被検体７のスキャノ像を
表示するととＫなる０以上説明し次ように％陰極２から
照射される電・子線を偏向用グリッド５によル偏向させ
て回転陽極４上の異なる焦点位置に順次入射することが
できるため、陽極の温度上昇を緩和することができる。
主メモ！７１２に記憶する。前記と同様にして、寝台６
を順次Ｃ点、ｄ点、一点・・・に移動させ各位置におい
て被検体７ＫＸｌｌｊｌ射することによシ、各寝台位置
におけるｘＩＩ透過情報管得ることができる（第２図参
照）。次ＫＣＰＵ１１は主メモリ１２に記憶された各寝
台位置のＸ＠透過情報の中から、被検体７の同一断面の
ｘｌＩｓ透過情報ｔＩ［次読み出して加算し、各断面に
おけるｘ１ｍ透過情報の加算値ＸＦＩ 、ＸＰ嘗、ｘｐ
ｓ、・・・を出力し、フレームメモリ１６において記憶
し、ディスプレイ１４において被検体７のスキャノ像を
表示するととＫなる０以上説明し次ように％陰極２から
照射される電・子線を偏向用グリッド５によル偏向させ
て回転陽極４上の異なる焦点位置に順次入射することが
できるため、陽極の温度上昇を緩和することができる。
従って電子線の線量を増加することによシ濃度分解能を
高めることかでき、又、回転陽極４上の各焦点位置にお
ける焦点を小さく結ぶことができるため、空間分解能を
も高めることができ、喪好なスキャノ画像を得ることが
可能となる。又、同一寝台位置において被検体の異なる
断面のＸ線透過情報が得られるため寝台移動の際の操作
も軽減することができる。
高めることかでき、又、回転陽極４上の各焦点位置にお
ける焦点を小さく結ぶことができるため、空間分解能を
も高めることができ、喪好なスキャノ画像を得ることが
可能となる。又、同一寝台位置において被検体の異なる
断面のＸ線透過情報が得られるため寝台移動の際の操作
も軽減することができる。
本発明は前記実施例に限定されるものではなく、本発明
の要旨の範囲内で種々の変形例を包含することは貰うま
でもない。例えば、前記実施例においては、説明の便宜
のためスリット５はＸ線管１と被検体７との関にのみ設
定したが、被検体７とＸ線検出器８との間に４ｆｊ１様
のスリットを設けることにより散乱線の影響をよ〕少な
くすることができる。又、回転陽極４上の焦点は前記実
施例において３ケ所に設定したが、複数の焦点であれば
焦点の数に制限されることはない０さらに１第１図に示
した回転陽極４は、従来のＸ！Ｉ管のように傘状になっ
ているが、−転陽極を円筒状にして回転軸【スリット５
の並列方向に沿って平行に設け、皺回転軸を軸方向に移
動することにより焦点位置がＸＩＩファンビーム面と垂
［Ｋ移動する方式も考えられる。被検体７の断面位置を
走査する方法としては、寝台６ｅｉｌ定して、ｘＩ１１
発生装置１．コリメータ５．プレイ検出器８を移動させ
てもよい〇さらに、前記実施例においては、寝台６の移
動ピッチを；リメータ５のスリットのピッチに合わせて
移動させ友が、例えば、被検体７の断面が重複しないよ
うに移動させて、Ｘ線透過情報の加算処ａｔ省略するこ
ともできる。この場合、ｉｉｒ＊としては粗くなるが、
例えばＣＴ鋏装で断層像を撮るＩＩＯ位置決めとして利
用できる。又、逆に寝台６の移動ピッチ管小さくして数
置な画像を得ることもできる◎さらに４ｒ焦点Ｌｓ ｅ
Ｌｍ 、 Ｌｓ Ｋ対して管球条件例えば管電圧など
を順次変化させてもよく１．このようＫするとナラトラ
クシ１ンのようなデータ処ｍｔ行うＯＫ便利である。
の要旨の範囲内で種々の変形例を包含することは貰うま
でもない。例えば、前記実施例においては、説明の便宜
のためスリット５はＸ線管１と被検体７との関にのみ設
定したが、被検体７とＸ線検出器８との間に４ｆｊ１様
のスリットを設けることにより散乱線の影響をよ〕少な
くすることができる。又、回転陽極４上の焦点は前記実
施例において３ケ所に設定したが、複数の焦点であれば
焦点の数に制限されることはない０さらに１第１図に示
した回転陽極４は、従来のＸ！Ｉ管のように傘状になっ
ているが、−転陽極を円筒状にして回転軸【スリット５
の並列方向に沿って平行に設け、皺回転軸を軸方向に移
動することにより焦点位置がＸＩＩファンビーム面と垂
［Ｋ移動する方式も考えられる。被検体７の断面位置を
走査する方法としては、寝台６ｅｉｌ定して、ｘＩ１１
発生装置１．コリメータ５．プレイ検出器８を移動させ
てもよい〇さらに、前記実施例においては、寝台６の移
動ピッチを；リメータ５のスリットのピッチに合わせて
移動させ友が、例えば、被検体７の断面が重複しないよ
うに移動させて、Ｘ線透過情報の加算処ａｔ省略するこ
ともできる。この場合、ｉｉｒ＊としては粗くなるが、
例えばＣＴ鋏装で断層像を撮るＩＩＯ位置決めとして利
用できる。又、逆に寝台６の移動ピッチ管小さくして数
置な画像を得ることもできる◎さらに４ｒ焦点Ｌｓ ｅ
Ｌｍ 、 Ｌｓ Ｋ対して管球条件例えば管電圧など
を順次変化させてもよく１．このようＫするとナラトラ
クシ１ンのようなデータ処ｍｔ行うＯＫ便利である。
以上説明したように１この発明によると陰極から照射さ
れる電子線をグリッドによ〕偏向させて回転陽極上の異
なる複数の焦点位置ＫＩ［次入射させ、各焦点よｐＸ線
を発生させているため、陽極の温度上昇を緩和すること
ができ、従って空間分解能及び濃度分解能を高めて良好
なスキャノ画像を得ることができるｘｌＩ診断装置を提
供することができる。
れる電子線をグリッドによ〕偏向させて回転陽極上の異
なる複数の焦点位置ＫＩ［次入射させ、各焦点よｐＸ線
を発生させているため、陽極の温度上昇を緩和すること
ができ、従って空間分解能及び濃度分解能を高めて良好
なスキャノ画像を得ることができるｘｌＩ診断装置を提
供することができる。
第１図←）は本発明の一実施例であるｘａ診断装置の概
略説明図、第１図（Ａ）は第１図００一部を示す側面図
、第２図は、寝台位置及び被検体の断面位置をパラメー
タとし、ｘＩＩＩの透過情報及び同一断面におけるＸ線
透過情報の加算値を示す特性図である。 １・・・Ｘ線管、 ２・・・陰極、 ３・・・偏向
用グリッド、 ４・・・四転陽極、 ５・・・コリメ
ータ、 ６・・・寝台、 ８−Ｘ＃検ａｉ器、 ？
−ＡＩＰ、 １０・・・Ａ／Ｄ変換器、 １１・・
・ＣＰＵ、 １２・・・主メモリ、Ｌｌ、 Ｌ、
、 Ｌｓ、、、焦点、 ５１ ａ ＳＲ、Ｓ、 ’−
スリット。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 （ほか１名）ｑ−５
１図 ２１
略説明図、第１図（Ａ）は第１図００一部を示す側面図
、第２図は、寝台位置及び被検体の断面位置をパラメー
タとし、ｘＩＩＩの透過情報及び同一断面におけるＸ線
透過情報の加算値を示す特性図である。 １・・・Ｘ線管、 ２・・・陰極、 ３・・・偏向
用グリッド、 ４・・・四転陽極、 ５・・・コリメ
ータ、 ６・・・寝台、 ８−Ｘ＃検ａｉ器、 ？
−ＡＩＰ、 １０・・・Ａ／Ｄ変換器、 １１・・
・ＣＰＵ、 １２・・・主メモリ、Ｌｌ、 Ｌ、
、 Ｌｓ、、、焦点、 ５１ ａ ＳＲ、Ｓ、 ’−
スリット。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 （ほか１名）ｑ−５
１図 ２１
Claims (1)
- 焦点位置を変化させて複数の焦点からｘｉｔｓｔ発生さ
せるｘＩＩ管と、各焦点に対応配置されたスリットと、
各焦点から発生するＸ、ＩＩＫよる被検体透過情報を検
出する検Ｉｆｌ器と、腋検出器によって得られたＸ線透
過情報を各焦点毎に順次記憶する記憶装置と、記憶装置
内の情報を！Ｉ＆通する処理装置とを有することｔ％黴
とするＸ線診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57045698A JPS58163341A (ja) | 1982-03-24 | 1982-03-24 | Ｘ線診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57045698A JPS58163341A (ja) | 1982-03-24 | 1982-03-24 | Ｘ線診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58163341A true JPS58163341A (ja) | 1983-09-28 |
Family
ID=12726594
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57045698A Pending JPS58163341A (ja) | 1982-03-24 | 1982-03-24 | Ｘ線診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58163341A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014133183A (ja) * | 2006-04-14 | 2014-07-24 | William Beaumont Hospital | コーンビームコンピュータ断層撮影システム及び被検体の撮像方法 |
| US9192786B2 (en) | 2006-05-25 | 2015-11-24 | William Beaumont Hospital | Real-time, on-line and offline treatment dose tracking and feedback process for volumetric image guided adaptive radiotherapy |
| US9320917B2 (en) | 2010-01-05 | 2016-04-26 | William Beaumont Hospital | Intensity modulated arc therapy with continuous coach rotation/shift and simultaneous cone beam imaging |
| EP3598949A1 (de) * | 2018-07-27 | 2020-01-29 | Siemens Healthcare GmbH | Computertomographiegerät mit lamellenformfilter und springfokus-röntgenquelle |
-
1982
- 1982-03-24 JP JP57045698A patent/JPS58163341A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014133183A (ja) * | 2006-04-14 | 2014-07-24 | William Beaumont Hospital | コーンビームコンピュータ断層撮影システム及び被検体の撮像方法 |
| US9192786B2 (en) | 2006-05-25 | 2015-11-24 | William Beaumont Hospital | Real-time, on-line and offline treatment dose tracking and feedback process for volumetric image guided adaptive radiotherapy |
| US9320917B2 (en) | 2010-01-05 | 2016-04-26 | William Beaumont Hospital | Intensity modulated arc therapy with continuous coach rotation/shift and simultaneous cone beam imaging |
| EP3598949A1 (de) * | 2018-07-27 | 2020-01-29 | Siemens Healthcare GmbH | Computertomographiegerät mit lamellenformfilter und springfokus-röntgenquelle |
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