JPH01185450A - 位相測定回路 - Google Patents

位相測定回路

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JPH01185450A
JPH01185450A JP1021888A JP1021888A JPH01185450A JP H01185450 A JPH01185450 A JP H01185450A JP 1021888 A JP1021888 A JP 1021888A JP 1021888 A JP1021888 A JP 1021888A JP H01185450 A JPH01185450 A JP H01185450A
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JP
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gate
phase
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counter
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JP1021888A
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Tomotaka Tabata
田畑 友孝
Shinsuke Sudou
須藤 晋亮
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Toyo Communication Equipment Co Ltd
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Toyo Communication Equipment Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、ジッタ成分の多いシリアルデータの位相の進
み遅れを測定する位相測定回路に関するものである。
(従来の技術] シリアルデータを例えば磁気テープレコーダに記録して
再生した場合、モータの回転変動によって再生したシリ
アルデータには多くのジッタ成分が含まれる。
従来、このようにジッタ成分の多いシリアルデータの位
相の進み遅れは、シンクロスコープ等の測定器によって
測定されている。
〔発明が解決しようとする課題) ところが、シンクロスコープ等の測定器によって位相の
進み遅れを測定する場合、ジッタ成分が多いために位相
の進み量または遅れ吊を判定することが非常に困難であ
るという問題がある。また、測定する進み遅れは特定の
1ビツトに注目しているため、平均的な進み遅れが分ら
ないという問題がある。
本発明の目的は、ジッタ成分の多いシリアルデータの位
相の進み遅れの平均値を簡単に測定することができる位
相測定回路を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、シリアルデータの極性変換点を検出するエツ
ジ検出回路と、位相測定用の基準クロック信号を生成す
る基準クロック生成回路と、生成された基準クロック信
号に対する前記極性変換点の位相の進み量および遅れ母
に対応した時間だけ開状態となり、所定周波数の原発振
クロック信号を通過させる第1のゲートと、前記基準ク
ロック信号に対する前記極性変換点の位相の理れ山に対
応した時間だけ開状態となり、前記原発振クロック信号
を通過させる第2のゲートと、前記第1のゲートから出
力される原発振クロック信号をダウンカウント、前記第
2のゲートから出力される原発振クロック信号をアップ
カウントするアップダウンカウンタと、前記極性変換点
の数をカウントするカウンタと、このカウンタのカウン
ト値により前記アップダウンカウンタのカウント値を除
算し、その商をシリアルデータの位相の進み遅れの平均
値として出力する除輝回路とから構成したものである。
(作用) シリアルデータはその極性変換点がエツジ検出回路によ
って検出される。検出された極性変換点は基準クロック
信号との位相が比較され、その比較結果は基準クロック
信号に対する位相の進み遅れに応じた数の原発振クロッ
ク信号として第1゜第2ゲートから出力される。アップ
ダウンカウンタは第1のゲートから出力される原発振ク
ロック信号をダウンカウント、第2のゲートから出力さ
れる原発振クロック信号をアップカウントする。
これによって、アップダウンカウンタにはシリアルデー
タの基準クロック信号に対する位相ずれの積算値が得ら
れる。
従って、この積埠値を極性変換点の数によって割り算す
ることにより、シリアルデータの位相の進み遅れの平均
値が傳られる。
(実施例) 第1図は本発明の一実施例を示す回路図であり、周波数
fH2のシリアルデータSDはD型フリップフロップ1
に入力され、256fH2の原発振クロック信号φをイ
ンバータ2によって反転した信号φ1の立上がりに同期
したタイミングで取込まれる。これによって、D型フリ
ップフロップ1のセット出力QはシリアルデータSDの
1″。
0″の変化に対応した変化を1返すようになるが、この
セット出力Qはエツジ検出回路3に入力される。エツジ
検出回路3はフリップフロップ1のセット出力Qによっ
てシリアルデータSDの極性変換点、すなわち1”から
0″および“0″から″1”への変換点を検出し、この
検出タイミングで幅の狭いエツジ検出パルスEPを出力
する。
第2図(a)にシリアルデータSD、同図(b)にエツ
ジ検出パルスEPの波形を示している。
エツジ検出パルスEPはナントゲート4を介してカウン
タ5に入力されてその数がカウントされる。また、エツ
ジ検出パルスEPはD型フリップ70ツブ6.7のクロ
ック入力端子(GK)に入力される。このフリップフロ
ップ6.7はデータ入力端子(D)が常に“1ルベルに
設定されており、またアンドゲート8.9からりセット
入力端子(R)に入力されるリセット解除信号RR1。
RR2が0″の時にはリセット状態、パ1′の時にはり
セット解除状態に制御されるようになっている。従って
、フリップフロップ6.7はリセット解除状態において
エツジ検出パルスEPが入力されると、ただちにセット
状態となり、そのセット出力Qから“1”の出力信号F
P、LPを出力する。
一方、位相測定時に1”となる測定指令信号MはD型フ
リップフOツブ10に入力され、256fH2の原発振
クロック信号φによって取込まれる。これによって、フ
リップフロップ10のセット出力Qが“1”になると、
直列接続された2つの1/16分周器11.12のリセ
ット状態が解除される。1/16分周器11.12は2
56f)−12の原発振りOツク信号φを1/256分
周してfH2の基準クロック信号CKRを生成するもの
で、リセット状態が解除されるとfH2の基準りOツク
信号CKRを出力するようになる。この基準りOツク信
号CKRはアンドゲート8に入力されると共に、インバ
ータ13で反転されてアンドゲート9に入力される。さ
らに、D型フリップフロンブ14.15のりOツク入力
端子(CK)に入力される。
フリップフロップ14のデータ入力端子(D)には前記
フリップフロップ10のセット出力Qの出力信号MSが
入力されているので、基準クロック信号CKHの出力が
開始され始めた時点で該フリップ7Oツブ14はセット
状態となる。
このフリップフロップ14のセット出力Qの出力信号は
アンドゲート8,9に入力されると共に、次段のD型フ
リップフロップ15のデータ入力端子(D)に入力され
る。フリップフロップ15のクロック入力端子(GK)
には基準クロック信号CKRが入力されているので、該
フリップフロップ15は曲設のフリップフロップ14が
セットしてから基準クロック信号CKRの1周期だけ遅
れてセット状態となる。このフリップフロップ15のセ
ット出力信号はカウンタ5およびアップダウンカウンタ
16のカウントイネーブル信号CENとして出力される
一方、アンドゲート8,9はフリップフロップ14がセ
ット状態となったことにより開状態となり、基準クロッ
ク信号CKRを通過させる。この場合、アンドゲート9
に入力される基準クロック信号CKRはインバータ13
によって反転されているため、アンドゲート8と9の出
力信号の位相は180度だけずれている。
すなわち、測定指令信号Mが“1″になると、1/16
分周器11.12でfH2の基準クロック信号CKRの
出力が開始される。そして、基準クロック信号CKRの
出力が開始されると、フリップフロップ14.15が順
次にセット状態となり、カウンタ5,16がカウントイ
ネーブル状態となる。同時に、アンドゲート8,9から
位相が180度ずれた基準クロック信号が出力されるよ
うになる。このアンドゲート8,9の出力信号はフリッ
プフロップ6.7のリセット解除信号RR1、RR2と
して出力される。
第2図(C)〜(i)は各部の出力信号波形を示すもの
であり、(C)は測定指令信号、(d)はフリップフロ
ップ10の出力信号MS、(e)は基準クロック信号C
KR,(f)はフリップフロップ14の出力信号MR2
、(q)はカウントイネーブル信号CEN、(k)はリ
セット解除信号RR1、(i)はリセット解除信号RR
2を表わしている。なお、第2図(j>は1/16分周
器12の1/9分周端子から出力されるタイミング信号
TMであり、後述するインバータ17によって反転され
た債、フリップフロップ18のクロック入力端子(CK
)に入力される。
以上のようにして生成されたリセット解除信号RR1、
RR2はフリップフロップ6.7のリセット入力(R)
に入力され、該フリップフロップ6.7をリセット状態
とリセット解除状態に制御するが、リセット解除状態の
時にエツジ検出パルスEPが入力されるとセット状態と
なる。この時、信号RR1とRR2はその位相が180
度ずれているため、フリップフロップ6からは第2図(
k)に示すように信号RRIを基準位相としたエツジ検
出パルスEPの進み位相ffl+Pに対応した幅のパル
ス信号FPが出力され、一方のフリップフロップ7から
は第2図(J)に示すように信号RR2を基準位相とし
たエツジ検出パルスEPの遅れ位相ff1−Pに対応し
た幅のパルス信号LPが出力されることになる。
これらのパルス信@FP、LPはシリアルデータSDの
1ビツト毎に出力されるが、nビット当たりの平均値を
求めるために、FPはナンドゲート19を介してナント
ゲート20に入力される。
またLPはD型フリップフロップ18に1/2fH2の
タイミング信号TMによって取込まれ、第2図(m)に
示すような1/2fH2の周期のパルス信号LP2に変
換される。そして、このLP2は遅延回路21で所定時
°間だけ遅延の後、アンドゲート22を介してナントゲ
ート23に入力される。
一方、フリップフロップ6.7の反転セット出力から得
られる信号FP、LPの逆極性の信号FP’ 、LP’
は負論理のオアゲート24で論理和がとられ、第2図(
n>に示すような信号FLPとなってナントゲート20
に入力される。なお、フリップフロップ18の出力信号
LP2はナントゲート19にも入力され、信号「Pの通
過が副面される。
ナントゲート20はアップダウンカウンタ16に対しシ
リアルデータSDの進み量と遅れ量に対応した数の原発
振クロック信号をダウンカウント信号DSとして供給す
るもので、インバータ2で反転し、かつ遅延回路26で
遅延した原発振クロック信号φ1の他に、位相測定動作
中は11ffを保持しているフリップフロップ14の出
力信号MR2と、ナントゲート19の出力信号FP2お
よびノアゲート24の出力信号FLPが入力されている
。また、一方のナントゲート23はアップダウンカウン
タ16に対しシリアルデータSDの遅れ量に対応した数
の原発振クロック信号をカウントアツプ信号USとして
供給するもので、遅延回路24から原発振クロック信号
φ1の他に、フリップフロップ15の出力信号CENと
、アンドゲート22の出力信号LP3およびナントゲー
ト19の出力信号FP2が入力されている。
従って、第2図(a)に示すシリアルデータSDのよう
に、第にビット目および第に+1ビツト目の位相はP=
2だけ進み、第に+2ビツト目の位相はP=−3だけ遅
れている場合、ナントゲート20からはこれらの位相進
みff1(P=2)および遅れ負(P=−3>に対応し
た数のパルス信号DSが出力される。この場合、位相の
遅れ量を表わすフリップ70ツブ7の出力信号LPのパ
ルス@W1は第2図(J)の波形図からも明らかなよう
に基準クロック信号CKRの1/2周期のパルス幅をW
とすると、 Wl =W−P      ・・・(1)の関係にある
従って、第に+2ビツト目についてはW−Pこのパルス
がダウンカウントされることになり、このままでは真の
遅れ量を反映しないものとなる。
そこで、フリップ7Oツブ18によって生成したパルス
幅Wの信号LP2をアンドゲート22を介してナントゲ
ート23に入力し、該ナントゲート23からパルス幅W
に対応した数の原発振クロック信号をアップダウンカウ
ンタ16のアップカウント信号USとして供給する。こ
れにより、アップダウンカウンタでは P=W−Wl      ・・・(2)のカウント動作
が行なわれ、その結果として位相の遅れ量に対応したカ
ウント値が得られる。
第3図は、各種の位相進み遅れに対する各部の出力信号
波形を示したもので、進み量はP=+2゜+3などよう
に十の符号を付し、遅れ吊はP=−2,−1などのよう
に−の符号を付して示している。
この図から明らかなように、進み位相の場合にはその進
み酋に対応した数のダウンカウント動作が行なわれる。
また、遅れ位相の場合には、「W−PJのダウンカウン
ト動作とrWJのカウントアツプ動作が行なわれる。こ
れにより、アップダウンカウンタ16からは測定指令信
号Mが“1″を保持している間における位相の進み遅れ
の積輝値が得られる。
一方、カウンタ5はナントゲート4から入力されるエツ
ジパルスEPをカウントしている。
従って、測定指令信号Mが11FIを保持している間に
おけるアップダウンカウンタのml値Xとカウンタ5の
カウントfiyを除篩器25に入力し、x/yを計算す
ることにより、シリアルデータSDの位相の進み遅れの
平均値を得ることができる。
例えば、第3図の例ではダウンカウント数の合計は「5
4」、アップカウント数の合計は「55」となり、位相
の進み遅れの積算値Σは Σ=−54+55=+1 となる。従って、測定指令信号Mで測定動作が指示され
ている間の合計12ビツトのシリアルデータSDの位相
の進み遅れの平均値は+1/12となる。
(発明の効果) 以上のように本発明によれば、ジッタ成分の多いシリア
ルデータの位相の進み遅れの平均値を簡単に測定するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図および
第3図は実施例における各部の出力信号波形を示す波形
図である。 1.6.7.10.14.−15・・・D型フリップフ
ロップ、2.13.17・・・インバータ、エツジ検出
回路、4.19.20.23・・・ナントゲート、4・
・・カウンタ、8.9.22・・・アンドゲート、11
.12・・・1/16分周器、16・・・アップダウン
カウンタ、25・・・除痒器。 11、z!t”’J

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 シリアルデータの極性変換点を検出するエッジ検出回路
    と、 位相測定用の基準クロック信号を生成する基準クロック
    生成回路と、 生成された基準クロック信号に対する前記極性変換点の
    位相の進み量および遅れ量に対応した時間だけ開状態と
    なり、所定周波数の原発振クロック信号を通過させる第
    1のゲートと、 前記基準クロック信号に対する前記極性変換点の位相の
    遅れ量に対応した時間だけ開状態となり、前記原発振ク
    ロック信号を通過させる第2のゲートと、 前記第1のゲートから出力される原発振クロック信号を
    ダウンカウント、前記第2のゲートから出力される原発
    振クロック信号をアップカウントするアップダウンカウ
    ンタと、 前記極性変換点の数をカウントするカウンタと、このカ
    ウンタのカウント値により前記アップダウンカウンタの
    カウント値を除算し、その商をシリアルデータの位相の
    進み遅れの平均値として出力する除算回路と から成る位相測定回路。
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JPWO2010137076A1 (ja) * 2009-05-28 2012-11-12 株式会社アドバンテスト パルス測定装置およびパルス測定方法ならびにそれらを用いた試験装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2010137076A1 (ja) * 2009-05-28 2012-11-12 株式会社アドバンテスト パルス測定装置およびパルス測定方法ならびにそれらを用いた試験装置

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