JPH0552884A - 周波数測定装置および時間測定装置 - Google Patents
周波数測定装置および時間測定装置Info
- Publication number
- JPH0552884A JPH0552884A JP21215591A JP21215591A JPH0552884A JP H0552884 A JPH0552884 A JP H0552884A JP 21215591 A JP21215591 A JP 21215591A JP 21215591 A JP21215591 A JP 21215591A JP H0552884 A JPH0552884 A JP H0552884A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- counters
- frequency
- count value
- measuring device
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】回路規模や測定時間を増大させることなく、周
波数測定や時間測定の高精度化を実現することである。 【構成】本発明の周波数測定装置は、位相の異なる複数
個の信号を出力できる分周器と、その分周器の出力信号
を計数する複数個のカウンタと、これらのカウンタにゲ
ート信号を与えるゲート信号発生回路と、カウンタの計
数値に演算処理を施す演算回路とを有している。位相の
異なる並列パルス列を各カウンタに入力し、その計数値
の変化状態を利用して測定値を算出するため、パルスの
位相差レベルでの測定が可能となり、分解能を向上でき
る。特殊な回路や測定方法を使わないため、測定時間の
増大を抑制できる。
波数測定や時間測定の高精度化を実現することである。 【構成】本発明の周波数測定装置は、位相の異なる複数
個の信号を出力できる分周器と、その分周器の出力信号
を計数する複数個のカウンタと、これらのカウンタにゲ
ート信号を与えるゲート信号発生回路と、カウンタの計
数値に演算処理を施す演算回路とを有している。位相の
異なる並列パルス列を各カウンタに入力し、その計数値
の変化状態を利用して測定値を算出するため、パルスの
位相差レベルでの測定が可能となり、分解能を向上でき
る。特殊な回路や測定方法を使わないため、測定時間の
増大を抑制できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、周波数測定装置および
時間測定装置に関し、特に、回路規模や測定時間を増大
させることなく高精度の測定を行えるようにした測定装
置に関するものである。
時間測定装置に関し、特に、回路規模や測定時間を増大
させることなく高精度の測定を行えるようにした測定装
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】周波数測定装置の従来例の一例が図５に
示される。この装置は、分周器300 と周波数測定部400
とからなっている。分周器300 は高速動作が要求される
ためにバイポーラプロセス用いて形成されており、周波
数測定部400 は回路規模が大きいため、集積度が高くか
つ低コストのＣＭＯＳプロセスを利用して形成されてい
る。
示される。この装置は、分周器300 と周波数測定部400
とからなっている。分周器300 は高速動作が要求される
ためにバイポーラプロセス用いて形成されており、周波
数測定部400 は回路規模が大きいため、集積度が高くか
つ低コストのＣＭＯＳプロセスを利用して形成されてい
る。
【０００３】この周波数測定部400 は、カウンタ410
と、レジスタ420 と、演算回路430 と、ゲート発生回路
440 で構成されており、ゲート期間Ｔ中のクロック数を
カウントし、所定の演算を行って周波数を求めるように
なっている。
と、レジスタ420 と、演算回路430 と、ゲート発生回路
440 で構成されており、ゲート期間Ｔ中のクロック数を
カウントし、所定の演算を行って周波数を求めるように
なっている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】図５の従来例では、周
波数測定値ｆＣＫ′＝Ｎ・（Ｑｆ／Ｔ）となった場合
（Ｎ；分周比，Ｑｆ；計数値，Ｔ；ゲート期間）、最高
±Ｎ／Ｔの誤差が生じる。
波数測定値ｆＣＫ′＝Ｎ・（Ｑｆ／Ｔ）となった場合
（Ｎ；分周比，Ｑｆ；計数値，Ｔ；ゲート期間）、最高
±Ｎ／Ｔの誤差が生じる。
【０００５】このことについて、図６を用いて説明す
る。 Ｔ＝τ１＋τ２＋（Ｑｆ−１）（Ｎ／ｆＣＫ）である。
したがって、 ｆＣＫ＝｛（Ｑｆ−１）Ｎ｝／｛Ｔ−（τ１＋τ２）｝
である。 ここで、０＜τ１＋τ２＜（２Ｎ／ｆＣＫ）より、 ｛（Ｑｆ・Ｎ）／Ｔ｝−（Ｎ／Ｔ）＜ｆＣＫ＜｛（Ｑｆ
・Ｎ）｝／Ｔ＋（Ｎ／Ｔ）となる。 したがって、 ｆＣＫ′＝（Ｑｆ・Ｎ）／Ｔとすれば、最高で±Ｎ／Ｔ
の誤差が存在することになる。
る。 Ｔ＝τ１＋τ２＋（Ｑｆ−１）（Ｎ／ｆＣＫ）である。
したがって、 ｆＣＫ＝｛（Ｑｆ−１）Ｎ｝／｛Ｔ−（τ１＋τ２）｝
である。 ここで、０＜τ１＋τ２＜（２Ｎ／ｆＣＫ）より、 ｛（Ｑｆ・Ｎ）／Ｔ｝−（Ｎ／Ｔ）＜ｆＣＫ＜｛（Ｑｆ
・Ｎ）｝／Ｔ＋（Ｎ／Ｔ）となる。 したがって、 ｆＣＫ′＝（Ｑｆ・Ｎ）／Ｔとすれば、最高で±Ｎ／Ｔ
の誤差が存在することになる。
【０００６】これを小さくして高精度にするには、Ｔを
大きくするか、またはＮを小さくする必要がある。しか
し、この場合、測定速度か周波数範囲のどちらかを犠牲
にしなければいけないという問題点がある。
大きくするか、またはＮを小さくする必要がある。しか
し、この場合、測定速度か周波数範囲のどちらかを犠牲
にしなければいけないという問題点がある。
【０００７】本発明はこのような問題点に着目してなさ
れたものであり、その目的は、回路規模や測定時間を増
大させることなく、測定の高精度化を実現することにあ
る。
れたものであり、その目的は、回路規模や測定時間を増
大させることなく、測定の高精度化を実現することにあ
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の周波数測定装置
は、位相の異なる複数個の信号を出力できる分周器と、
その分周器の出力信号を計数する複数個のカウンタと、
これらのカウンタにゲート信号を与えるゲート信号発生
回路と、カウンタの計数値に演算処理を施す演算回路と
を有している。
は、位相の異なる複数個の信号を出力できる分周器と、
その分周器の出力信号を計数する複数個のカウンタと、
これらのカウンタにゲート信号を与えるゲート信号発生
回路と、カウンタの計数値に演算処理を施す演算回路と
を有している。
【０００９】また、本発明の時間測定装置は、位相の異
なる複数個の信号を出力できる分周器と、その分周器の
出力信号を計数する複数個のカウンタと、カウンタの計
数値に演算処理を施す演算回路とを有している。
なる複数個の信号を出力できる分周器と、その分周器の
出力信号を計数する複数個のカウンタと、カウンタの計
数値に演算処理を施す演算回路とを有している。
【００１０】
【作用】位相の異なる並列パルス列を各カウンタに入力
し、その計数値の変化状態を利用して測定値を算出する
ため、パルスの位相差レベルでの測定が可能となり、分
解能を向上できる。特殊な回路や測定方法を使わないた
め、測定時間の増大を抑制できる。
し、その計数値の変化状態を利用して測定値を算出する
ため、パルスの位相差レベルでの測定が可能となり、分
解能を向上できる。特殊な回路や測定方法を使わないた
め、測定時間の増大を抑制できる。
【００１１】また、典型的なディジタル回路の付加によ
り実現できるため、ＩＣ化にも適用でき、測定回路が大
規模なものにならない。
り実現できるため、ＩＣ化にも適用でき、測定回路が大
規模なものにならない。
【００１２】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。 （実施例１）図１は本発明の一実施例の構成を示す図で
ある。本実施例は、位相が異なる複数のパルス列を並列
に出力するＮ分周器（出力数；２Ｎ，周波数；ｆＣＫ／
Ｎ，位相遅れ；ｍπ／2N(m=0, ・・,2N-1)) 100 と、カ
ウンタ(0) 〜(2N-1)と、レジスタ(0) 〜（2N-1) と、演
算回路200 と、ゲート発生回路300 とを有している。
て説明する。 （実施例１）図１は本発明の一実施例の構成を示す図で
ある。本実施例は、位相が異なる複数のパルス列を並列
に出力するＮ分周器（出力数；２Ｎ，周波数；ｆＣＫ／
Ｎ，位相遅れ；ｍπ／2N(m=0, ・・,2N-1)) 100 と、カ
ウンタ(0) 〜(2N-1)と、レジスタ(0) 〜（2N-1) と、演
算回路200 と、ゲート発生回路300 とを有している。
【００１３】分周器100 は、図２に示すように、Ｔ型フ
リップフロップ110 〜160 をツリー状に接続（すなわ
ち、カスケード接続）して構成される。次に、図３を用
いて、本実施例の動作を説明する。Ｎ分の１分周器100
は前述したように、周波数が等しく（ｆＣＫ／Ｎ）、位
相の異なる（位相遅れ：ｍπ／2N，ただし、ｍ＝０，・
・，2N-1）2N個の信号を出力する。
リップフロップ110 〜160 をツリー状に接続（すなわ
ち、カスケード接続）して構成される。次に、図３を用
いて、本実施例の動作を説明する。Ｎ分の１分周器100
は前述したように、周波数が等しく（ｆＣＫ／Ｎ）、位
相の異なる（位相遅れ：ｍπ／2N，ただし、ｍ＝０，・
・，2N-1）2N個の信号を出力する。
【００１４】この分周器100 の出力信号（パルス列）
は、2N個のカウンタ（0)〜(2N-1)により計数され、レジ
スタ（0)〜(2N-1)にラッチされる。これらのカウンタお
よびレジスタには、ゲート発生回路から共通のゲート信
号（カウンタに対しては計数開始タイミングを与え、レ
ジスタに対しては計数値のラッチタイミングを与える）
が供給される。演算回路200 は、各レジスタの計数値に
適当な演算処理を施して、周波数測定値ｆＣＫ′を得
る。
は、2N個のカウンタ（0)〜(2N-1)により計数され、レジ
スタ（0)〜(2N-1)にラッチされる。これらのカウンタお
よびレジスタには、ゲート発生回路から共通のゲート信
号（カウンタに対しては計数開始タイミングを与え、レ
ジスタに対しては計数値のラッチタイミングを与える）
が供給される。演算回路200 は、各レジスタの計数値に
適当な演算処理を施して、周波数測定値ｆＣＫ′を得
る。
【００１５】以下、この周波数測定値ｆＣＫ′の精度に
ついて考察する。図３に本実施例における、ゲート信号
と2N個のカウンタの入力信号のタイミングチャートを示
す。本実施例では、入力パルスの位相遅れが大きくなる
と、それまでカウントされなかった前端のパルス（一つ
前のパルス）がゲート期間Ｔの内部に入り込むため、そ
のカウンタの計数値が“１”増加する。また、位相遅れ
が大きくなると、後端のパルスがゲート期間Ｔの外に出
てしまうため、そのカウンタの計数値が“１”減少す
る。このため、複数のカウンタのうちの部分的な一群の
計数値は、カウンタ(0) の計数値とは異なることにな
る。
ついて考察する。図３に本実施例における、ゲート信号
と2N個のカウンタの入力信号のタイミングチャートを示
す。本実施例では、入力パルスの位相遅れが大きくなる
と、それまでカウントされなかった前端のパルス（一つ
前のパルス）がゲート期間Ｔの内部に入り込むため、そ
のカウンタの計数値が“１”増加する。また、位相遅れ
が大きくなると、後端のパルスがゲート期間Ｔの外に出
てしまうため、そのカウンタの計数値が“１”減少す
る。このため、複数のカウンタのうちの部分的な一群の
計数値は、カウンタ(0) の計数値とは異なることにな
る。
【００１６】すなわち、カウンタｍ（ｍ＝１，・・，2N
-1）は、それぞれ周波数が等しく、位相遅れがｍに比例
した（ｍπ／Ｎ）入力信号を持つもので、その計数値は
次のような性質をもつことになる。 カウンタ（０）の計数値との差は±１か０ カウンタｍ相互の計数値の差は、±１か０ 上記より、カウンタ（０）の計数値より多い計数
値を持つカウンタと少ない計数値を持つカウンタは同時
に存在しない。 カウンタ（０）より計数値の多い（または少ない）カ
ウンタの番号は必ず連続している。
-1）は、それぞれ周波数が等しく、位相遅れがｍに比例
した（ｍπ／Ｎ）入力信号を持つもので、その計数値は
次のような性質をもつことになる。 カウンタ（０）の計数値との差は±１か０ カウンタｍ相互の計数値の差は、±１か０ 上記より、カウンタ（０）の計数値より多い計数
値を持つカウンタと少ない計数値を持つカウンタは同時
に存在しない。 カウンタ（０）より計数値の多い（または少ない）カ
ウンタの番号は必ず連続している。
【００１７】カウンタ（０）の最初のトリガ位置はゲー
トの左端からτ１のところにあるが、カウンタｍでは、
以下のようになる。 τ１＋（Ｎ／ｆＣＫ）・（ｍπ／２πＮ）＝τ１＋（ｍ
／２ｆＣＫ），(m=1〜2N-1) これが、N/ｆＣＫを越える
と、一つ前のパルスも計数される（計数値１増加）。
トの左端からτ１のところにあるが、カウンタｍでは、
以下のようになる。 τ１＋（Ｎ／ｆＣＫ）・（ｍπ／２πＮ）＝τ１＋（ｍ
／２ｆＣＫ），(m=1〜2N-1) これが、N/ｆＣＫを越える
と、一つ前のパルスも計数される（計数値１増加）。
【００１８】また、カウンタ(0) の最後のトリガ位置は
ゲートの右端からτ２のところにあるが、カウンタｍで
は、以下のようになる。 τ２−（Ｎ／ｆＣＫ）・（ｍπ／２πＮ）＝τ２−（ｍ
／２ｆＣＫ），(m=1〜2N-1) これが“０”より小さくな
ると、一番最後のパルスが計数されない（計数値１減
少）。以上より、カウンタｍの計数値により、τ１＋τ
２は次のように分類される。
ゲートの右端からτ２のところにあるが、カウンタｍで
は、以下のようになる。 τ２−（Ｎ／ｆＣＫ）・（ｍπ／２πＮ）＝τ２−（ｍ
／２ｆＣＫ），(m=1〜2N-1) これが“０”より小さくな
ると、一番最後のパルスが計数されない（計数値１減
少）。以上より、カウンタｍの計数値により、τ１＋τ
２は次のように分類される。
【００１９】（ａ）カウンタ(0) より計数値の多いカウ
ンタｍが存在する場合 カウンタｉ＋１から（０≦ｉ≦2N-2) 、カウンタｉ＋K
（１≦ｋ≦2N-1-i) までK 個のカウンタの計数値がカウ
ンタ(0) の計数値より多くなったとすると、 τ１＋（ｉ／２ｆＣＫ）＜（Ｎ／ｆＣＫ）＜τ１＋
｛（ｉ＋１）／（２ｆＣＫ）｝ よって、 ｛（2N-i-1) ／（２ｆＣＫ）｝＜τ１＜｛（2N-i) ／
（２ｆＣＫ）｝ また、後端に関しては、 ｛τ２−（ｉ＋K ＋１）／（２ｆＣＫ）｝＜０＜｛τ２
−（ｉ＋K ）／（２ｆＣ Ｋ）｝が成立する。 よって、 ｛（ｉ＋K)／（２ｆＣＫ）｝＜τ２＜｛（ｉ＋K ＋１)
／（２ｆＣＫ）｝ よって、 ｛（2N＋K −１）／２ｆＣＫ｝＜τ１＋τ２＜｛（2N＋
K ＋１）／（２ｆＣＫ）｝ となる。
ンタｍが存在する場合 カウンタｉ＋１から（０≦ｉ≦2N-2) 、カウンタｉ＋K
（１≦ｋ≦2N-1-i) までK 個のカウンタの計数値がカウ
ンタ(0) の計数値より多くなったとすると、 τ１＋（ｉ／２ｆＣＫ）＜（Ｎ／ｆＣＫ）＜τ１＋
｛（ｉ＋１）／（２ｆＣＫ）｝ よって、 ｛（2N-i-1) ／（２ｆＣＫ）｝＜τ１＜｛（2N-i) ／
（２ｆＣＫ）｝ また、後端に関しては、 ｛τ２−（ｉ＋K ＋１）／（２ｆＣＫ）｝＜０＜｛τ２
−（ｉ＋K ）／（２ｆＣ Ｋ）｝が成立する。 よって、 ｛（ｉ＋K)／（２ｆＣＫ）｝＜τ２＜｛（ｉ＋K ＋１)
／（２ｆＣＫ）｝ よって、 ｛（2N＋K −１）／２ｆＣＫ｝＜τ１＋τ２＜｛（2N＋
K ＋１）／（２ｆＣＫ）｝ となる。
【００２０】（ｂ）カウンタ(0) より計数値の少ないカ
ウンタｍが存在する場合 カウンタ（ｉ＋１）から（０≦ｉ≦2N-2) 、カウンタｉ
＋K （１≦Ｋ≦2N−１−ｉ）までK 個のカウンタの計数
値が、カウンタ(0) の計数値より少なかったとすると、
以下のようになる。
ウンタｍが存在する場合 カウンタ（ｉ＋１）から（０≦ｉ≦2N-2) 、カウンタｉ
＋K （１≦Ｋ≦2N−１−ｉ）までK 個のカウンタの計数
値が、カウンタ(0) の計数値より少なかったとすると、
以下のようになる。
【００２１】τ１＋｛（ｉ＋K ）／２ｆＣＫ）｝＜（Ｎ
／ｆＣＫ）＜τ１＋｛（ｉ＋K ＋１）／（２ｆＣＫ）｝ よって、 ｛（2N-i-K-1) ／（２ｆＣＫ）｝＜τ１＜｛（2N-i-K)
／（２ｆＣＫ）｝ また、後端に関しては、 ｛τ２−（ｉ＋１）／（２ｆＣＫ）｝＜０＜｛τ２−
（ｉ）／（２ｆＣＫ）｝が成立する。 よって、 ｛ｉ／（２ｆＣＫ）｝＜τ２＜｛（ｉ＋１) ／（２ｆ
ＣＫ）｝ よって、 ｛（2N−K −１）／（２ｆＣＫ）｝＜τ１＋τ２＜
｛（2N−K ＋１）／（２ｆＣ Ｋ）｝となる。
／ｆＣＫ）＜τ１＋｛（ｉ＋K ＋１）／（２ｆＣＫ）｝ よって、 ｛（2N-i-K-1) ／（２ｆＣＫ）｝＜τ１＜｛（2N-i-K)
／（２ｆＣＫ）｝ また、後端に関しては、 ｛τ２−（ｉ＋１）／（２ｆＣＫ）｝＜０＜｛τ２−
（ｉ）／（２ｆＣＫ）｝が成立する。 よって、 ｛ｉ／（２ｆＣＫ）｝＜τ２＜｛（ｉ＋１) ／（２ｆ
ＣＫ）｝ よって、 ｛（2N−K −１）／（２ｆＣＫ）｝＜τ１＋τ２＜
｛（2N−K ＋１）／（２ｆＣ Ｋ）｝となる。
【００２２】（Ｃ）2N個のカウンタの計数値がすべて等
しい場合 上述の（ａ），（ｂ）以外の場合であり、 ｛（2N−１）／（２ｆＣＫ）｝＜τ１＋τ２＜｛（2N＋
１）／（２ｆＣＫ）｝となる。
しい場合 上述の（ａ），（ｂ）以外の場合であり、 ｛（2N−１）／（２ｆＣＫ）｝＜τ１＋τ２＜｛（2N＋
１）／（２ｆＣＫ）｝となる。
【００２３】したがって、以上の３つの場合をまとめる
と、次のようになる。 （2N＋SK−１）／（２ｆＣＫ）＜τ１＋τ２＜（2N＋SK
＋１）／（２ｆＣＫ）・・・ 但し、 K(0 ≦K ≦2N-1) ；カウンタ(0) と計数値の異なるカウ
ンタの個数 S ；カウンタ(0) より計数値の多いカウンタが存在する
場合は“１”，カウンタ(0) より計数値の少ないカウン
タが存在する場合は“−１”，2N個のカウンタの計数値
がすべて等しい場合は、K ＝０であるため、任意であ
る。
と、次のようになる。 （2N＋SK−１）／（２ｆＣＫ）＜τ１＋τ２＜（2N＋SK
＋１）／（２ｆＣＫ）・・・ 但し、 K(0 ≦K ≦2N-1) ；カウンタ(0) と計数値の異なるカウ
ンタの個数 S ；カウンタ(0) より計数値の多いカウンタが存在する
場合は“１”，カウンタ(0) より計数値の少ないカウン
タが存在する場合は“−１”，2N個のカウンタの計数値
がすべて等しい場合は、K ＝０であるため、任意であ
る。
【００２４】計数時間をＴ，カウンタ（0)の計数値をＱ
ｆとすると、 Ｔ＝τ１＋τ２＋（Ｑｆ−１）・（Ｎ／ｆＣＫ）であ
る。したがって、 ｆＣＫ＝Ｎ（Ｑｆ−１）／｛Ｔ−（τ１＋τ２）｝・・
・ である。
ｆとすると、 Ｔ＝τ１＋τ２＋（Ｑｆ−１）・（Ｎ／ｆＣＫ）であ
る。したがって、 ｆＣＫ＝Ｎ（Ｑｆ−１）／｛Ｔ−（τ１＋τ２）｝・・
・ である。
【００２５】ここで、上述の式（τ１＋τ２）を式
に代入すると、 （ＱｆＮ）／Ｔ＋｛（SK-1）／（２Ｔ）｝＜ｆＣＫ＜
（ＱｆＮ）／Ｔ＋｛（SK＋１）／（２Ｔ）｝・・・ となる。すなわち、 ｛（ＱｆＮ）／Ｔ｝＋（SK／２Ｔ）−（１／２Ｔ）＜ｆ
ＣＫ＜｛（ＱｆＮ）／Ｔ｝＋（SK／２Ｔ）＋（１／２
Ｔ）・・・ したがって、測定値をｆＣＫ′＝｛（ＱｆＮ）／Ｔ｝＋
（SK／２Ｔ）とすると、誤差は最高、±（１／２Ｔ）と
なる。これは、従来例の１／２Ｎであり、測定精度を向
上できる。
に代入すると、 （ＱｆＮ）／Ｔ＋｛（SK-1）／（２Ｔ）｝＜ｆＣＫ＜
（ＱｆＮ）／Ｔ＋｛（SK＋１）／（２Ｔ）｝・・・ となる。すなわち、 ｛（ＱｆＮ）／Ｔ｝＋（SK／２Ｔ）−（１／２Ｔ）＜ｆ
ＣＫ＜｛（ＱｆＮ）／Ｔ｝＋（SK／２Ｔ）＋（１／２
Ｔ）・・・ したがって、測定値をｆＣＫ′＝｛（ＱｆＮ）／Ｔ｝＋
（SK／２Ｔ）とすると、誤差は最高、±（１／２Ｔ）と
なる。これは、従来例の１／２Ｎであり、測定精度を向
上できる。
【００２６】なお、カウンタ(0) は、計数値がオーバー
フローしないように、十分なビット数が必要であるが、
カウンタｍはＱｆと計数値を比較するためだけにあり、
計数値の差はたかだか±１であるため、２ビットで十分
である。
フローしないように、十分なビット数が必要であるが、
カウンタｍはＱｆと計数値を比較するためだけにあり、
計数値の差はたかだか±１であるため、２ビットで十分
である。
【００２７】本実施例を、例えば、ＰＬＬを用いた周波
数シンセサイザ回路のプリチューン用カウンタに用いる
と、短時間に、精度よく設定周波数の近傍（ロックイン
レンジ）に引き込むことができ、便利である。
数シンセサイザ回路のプリチューン用カウンタに用いる
と、短時間に、精度よく設定周波数の近傍（ロックイン
レンジ）に引き込むことができ、便利である。
【００２８】（実施例２）図４は本発明の第２の実施例
の構成を示す図である。本実施例は、周波数一定のクロ
ックを用いて入力ゲート信号の時間幅Ｔを測定する時間
測定装置（積分型Ａ／Ｄ変換器などに用いられる）を構
成したものである。
の構成を示す図である。本実施例は、周波数一定のクロ
ックを用いて入力ゲート信号の時間幅Ｔを測定する時間
測定装置（積分型Ａ／Ｄ変換器などに用いられる）を構
成したものである。
【００２９】第１の実施例と異なるのは、基準クロック
ｆＣＫを分周器100 に入力すること、測定対象であるゲ
ート信号を直接にカウンタおよびレジスタに入力するこ
とである。
ｆＣＫを分周器100 に入力すること、測定対象であるゲ
ート信号を直接にカウンタおよびレジスタに入力するこ
とである。
【００３０】本実施例において、Ｔ＝τ１＋τ２＋（Ｑ
ｆ−１）（Ｎ／ｆＣＫ）である。 ここで、（2N＋SK−１）／（２ｆＣＫ）＜τ１＋τ２＜
（2N＋SK＋１）／（２ｆ ＣＫ）より、 ｛（ＱｆＮ）／ｆＣＫ｝＋｛（SK-1）／２ｆＣＫ｝＜Ｔ
＜（ＱｆＮ）／ｆＣＫ＋｛（SK＋１）／２ｆＣＫ｝とな
る。 したがって、Ｔ′＝｛（ＱｆＮ）／ｆＣＫ｝＋｛SK／
（２ｆＣＫ）｝とすると、 誤差は、最高で±１／（２ｆＣＫ）となる。
ｆ−１）（Ｎ／ｆＣＫ）である。 ここで、（2N＋SK−１）／（２ｆＣＫ）＜τ１＋τ２＜
（2N＋SK＋１）／（２ｆ ＣＫ）より、 ｛（ＱｆＮ）／ｆＣＫ｝＋｛（SK-1）／２ｆＣＫ｝＜Ｔ
＜（ＱｆＮ）／ｆＣＫ＋｛（SK＋１）／２ｆＣＫ｝とな
る。 したがって、Ｔ′＝｛（ＱｆＮ）／ｆＣＫ｝＋｛SK／
（２ｆＣＫ）｝とすると、 誤差は、最高で±１／（２ｆＣＫ）となる。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、周波数測
定装置の周波数測定部に複数個のカウンタを設け、それ
らのカウンタに位相の異なる周波数信号を入力し、計数
値に演算処理を施すことにより、測定時間を増加させる
ことなく、測定誤差を１／（２Ｎ）に低減することがで
きた。また、付加した回路は、すべてディジタル回路で
あるため、小型化・ＩＣ化にも対応できる効果がある。
定装置の周波数測定部に複数個のカウンタを設け、それ
らのカウンタに位相の異なる周波数信号を入力し、計数
値に演算処理を施すことにより、測定時間を増加させる
ことなく、測定誤差を１／（２Ｎ）に低減することがで
きた。また、付加した回路は、すべてディジタル回路で
あるため、小型化・ＩＣ化にも対応できる効果がある。
【００３２】また、同様に、測定時間を増加させること
なく、装置の大型化を招くことなく、時間測定装置の測
定精度を向上できる効果がある。
なく、装置の大型化を招くことなく、時間測定装置の測
定精度を向上できる効果がある。
【図１】本発明の周波数測定装置の一実施例の構成を示
す図である。
す図である。
【図２】分周器の構成例を示す図である。
【図３】図１の実施例の動作を示すタイミングチャート
である。
である。
【図４】本発明の時間測定装置の一実施例の構成を示す
図である。
図である。
【図５】従来例の構成を示す図である。
【図６】図５の従来例の、動作および問題点を説明する
ためのタイミングチャートである。
ためのタイミングチャートである。
100 分周器 110 〜160 Ｔ型フリップフロップ 200 演算回路 300 ゲート発生回路
Claims (2)
- 【請求項１】 周波数を測定すべきパルス信号を入力と
し、この入力を分周し、クロック位相の異なる複数のパ
ルス信号を並列に出力する分周器と、 この分周器から並列に出力される前記パルス信号のそれ
ぞれを入力とし、その入力パルス数を計数する複数のカ
ウンタと、 これらの複数のカウンタにゲート信号を供給するゲート
信号発生回路と、 前記複数のカウンタの各計数値に所定の演算処理を施
し、パルス信号の周波数を特定して出力する演算回路と
を有することを特徴とする周波数測定装置。 - 【請求項２】 一定周波数のクロック信号が入力され、
この入力を分周し、クロック位相の異なる複数のパルス
信号を並列に出力する分周器と、 測定すべき時間幅を有するパルス信号がゲート信号とし
て供給され、また、前記分周器から並列に出力されるパ
ルス信号のそれぞれが入力され、前記ゲート信号の入力
タイミングから入力パルス数の計数を開始する複数のカ
ウンタと、 この複数のカウンタの各計数値に所定の演算処理を施
し、パスル信号の時間幅を特定して出力する演算回路と
を有することを特徴とする時間測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21215591A JPH0552884A (ja) | 1991-08-23 | 1991-08-23 | 周波数測定装置および時間測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21215591A JPH0552884A (ja) | 1991-08-23 | 1991-08-23 | 周波数測定装置および時間測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0552884A true JPH0552884A (ja) | 1993-03-02 |
Family
ID=16617810
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21215591A Pending JPH0552884A (ja) | 1991-08-23 | 1991-08-23 | 周波数測定装置および時間測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0552884A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011106832A (ja) * | 2009-11-12 | 2011-06-02 | Netcomsec Co Ltd | 周波数測定装置 |
| DE102010027829A1 (de) * | 2010-04-15 | 2011-10-20 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Oszillationen eines Oszillators |
-
1991
- 1991-08-23 JP JP21215591A patent/JPH0552884A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011106832A (ja) * | 2009-11-12 | 2011-06-02 | Netcomsec Co Ltd | 周波数測定装置 |
| DE102010027829A1 (de) * | 2010-04-15 | 2011-10-20 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Oszillationen eines Oszillators |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7791330B2 (en) | On-chip jitter measurement circuit | |
| US4564918A (en) | Method and apparatus for measuring the time difference between two sampling times | |
| KR101237728B1 (ko) | 아날로그 디지털 컨버터 | |
| US20070274434A1 (en) | Period-to-Digital Converter | |
| US7930121B2 (en) | Method and apparatus for synchronizing time stamps | |
| JPH03220814A (ja) | パルス位相差符号化回路 | |
| US8050148B2 (en) | Flash time stamp apparatus | |
| JPH08297177A (ja) | 時間間隔測定回路 | |
| TW201526550A (zh) | 電路延遲監測設備及方法 | |
| US5592659A (en) | Timing signal generator | |
| US7684533B2 (en) | Phase lock loop jitter measurement | |
| JPH06347569A (ja) | 周波数逓倍回路及びパルス時間間隔測定装置 | |
| JPH04290967A (ja) | 周波数決定方法及び装置 | |
| JPH0552884A (ja) | 周波数測定装置および時間測定装置 | |
| US7516032B2 (en) | Resolution in measuring the pulse width of digital signals | |
| JPH07280857A (ja) | パルス幅測定回路 | |
| JP2563366B2 (ja) | 信号周期計測装置 | |
| US20060269030A1 (en) | Phase lock loop jitter measurement | |
| JP2019124478A (ja) | 時間計測回路 | |
| JP2908080B2 (ja) | 可変分周回路 | |
| SU1092430A1 (ru) | Цифровой фазометр | |
| JP2543514B2 (ja) | タイミング信号発生器 | |
| JPH04344476A (ja) | 周波数比測定回路 | |
| RU1774307C (ru) | Устройство коррекции шкалы времени | |
| RU2010165C1 (ru) | Устройство для корректировки показаний интегрирующего расходомера |