JPH01109057A - デジタイジング方法 - Google Patents
デジタイジング方法Info
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- JPH01109057A JPH01109057A JP62267358A JP26735887A JPH01109057A JP H01109057 A JPH01109057 A JP H01109057A JP 62267358 A JP62267358 A JP 62267358A JP 26735887 A JP26735887 A JP 26735887A JP H01109057 A JPH01109057 A JP H01109057A
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- Japan
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- distance
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- digitizing
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/37—Measurements
- G05B2219/37275—Laser, interferometer
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/37—Measurements
- G05B2219/37425—Distance, range
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- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はレーザ距離測定器のような、非接触の距離測定
器を使用したデジタイジング方法に関し、特にモデルの
一部に規定形状を設け、補正データを求めて、デジタイ
ジングデータを補正するようにしたデジタイジング方法
に関する。
器を使用したデジタイジング方法に関し、特にモデルの
一部に規定形状を設け、補正データを求めて、デジタイ
ジングデータを補正するようにしたデジタイジング方法
に関する。
モデル表面にレーザビームを照射し、その反射光を検出
して、モデル表面までの距離を検出し、モデル表面まで
の距離を一定に保つように追跡制御しながら、一定時間
または一定距離ごとに各軸の機械位置を読み取り、メモ
リに記憶していくデジタイジング方法がある。
して、モデル表面までの距離を検出し、モデル表面まで
の距離を一定に保つように追跡制御しながら、一定時間
または一定距離ごとに各軸の機械位置を読み取り、メモ
リに記憶していくデジタイジング方法がある。
しかし、モデルの材質によって、モデル表面のの反射率
、反射波の散乱率などが異なり、距離測定器からの検出
信号に大きな誤差を生じる。従って、デジタイジングデ
ータの精度が測定誤差によって低下する。逆に、正確な
デジタイジングデータを得るためにはモデルの材質、表
面状態に制限を設ける必要があり、このようなモデルに
対する制限なしに、正確なデジタイジングデータを求め
るのは困難であるという問題点があった。
、反射波の散乱率などが異なり、距離測定器からの検出
信号に大きな誤差を生じる。従って、デジタイジングデ
ータの精度が測定誤差によって低下する。逆に、正確な
デジタイジングデータを得るためにはモデルの材質、表
面状態に制限を設ける必要があり、このようなモデルに
対する制限なしに、正確なデジタイジングデータを求め
るのは困難であるという問題点があった。
本発明の目的は上記問題点を解決し、モデルの一部に特
殊な規定形状を設け、補正データを求めて、デジタイジ
ングデータを補正するようにしたデジタイジング方法を
提供することにある。
殊な規定形状を設け、補正データを求めて、デジタイジ
ングデータを補正するようにしたデジタイジング方法を
提供することにある。
本発明では上記の問題点を解決するために、モデル表面
までの距離を測定し、この距離を一定時間、或いは一定
距離ごとに記憶して、モデルのディジタルな形状データ
を求めるデジタイジング方法において、 前記モデルの一部に補正用の規定形状を設け、デジタイ
ジングの開始前に該規定形状を使用して、計測指令を行
い、 指令値と実測値から距離の補正係数及び零の補正値等の
補正データを求め、 デジタイジングの実行によって得られるデジタイジング
データを該補正データで補正する、ことを特徴とするデ
ジタイジング方法が、提供される。
までの距離を測定し、この距離を一定時間、或いは一定
距離ごとに記憶して、モデルのディジタルな形状データ
を求めるデジタイジング方法において、 前記モデルの一部に補正用の規定形状を設け、デジタイ
ジングの開始前に該規定形状を使用して、計測指令を行
い、 指令値と実測値から距離の補正係数及び零の補正値等の
補正データを求め、 デジタイジングの実行によって得られるデジタイジング
データを該補正データで補正する、ことを特徴とするデ
ジタイジング方法が、提供される。
デジタイジング前にモデルの一部に設けられた規定形状
を使用して、一定距離を指令し、指令値と実測データか
ら補正データを求める。
を使用して、一定距離を指令し、指令値と実測データか
ら補正データを求める。
このデータはモデルと同じ材質及び表面状態から求めら
れたものであり、正確にデジタイジングデータを補正す
ることができる。
れたものであり、正確にデジタイジングデータを補正す
ることができる。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第１図に本発明のデジタイジングデータの補正方法を実
施するための装置のブロック図を示す。
施するための装置のブロック図を示す。
図において、１は全体を制御するプロセッサ、２はタイ
マであり、プロセッサ１に時間を知らせる。
マであり、プロセッサ１に時間を知らせる。
３はメモリであり、制御プログラムの格納されたＲＯＭ
、各種のパラメータ、データ等を記憶するＲＡＭ等から
構成されている。４は入出力信号インターフェイス（Ｉ
１０）であり、外部との入出力信号の授受を行う。５
はＡＤコンバータであり、後述の距離測定器からのアナ
ログ信号をディジタルな信号に変換する。６ｘ、６）’
、６ｚはそれぞれＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸のＤＡコンバータで
あり、プロセッサｌから書込まれたディジタル指令値を
アナログ値に変換して出力する。７ｘ、７ｙ、７ｚはそ
れぞれＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸のカウンタであり、後述の位置
検出器からの帰還パルスを検出して、プロセッサ１が読
取れるようにする。
、各種のパラメータ、データ等を記憶するＲＡＭ等から
構成されている。４は入出力信号インターフェイス（Ｉ
１０）であり、外部との入出力信号の授受を行う。５
はＡＤコンバータであり、後述の距離測定器からのアナ
ログ信号をディジタルな信号に変換する。６ｘ、６）’
、６ｚはそれぞれＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸のＤＡコンバータで
あり、プロセッサｌから書込まれたディジタル指令値を
アナログ値に変換して出力する。７ｘ、７ｙ、７ｚはそ
れぞれＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸のカウンタであり、後述の位置
検出器からの帰還パルスを検出して、プロセッサ１が読
取れるようにする。
８ｘ−８７ｓ８ｚはそれぞれＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸のサーボ
アンプであり、ＤＡコンバータ６ｘ５６ｙ、６ｚからア
ナログ信号を受け、サーボモータ９ｘ、９ｙ、９ｚを駆
動する。
アンプであり、ＤＡコンバータ６ｘ５６ｙ、６ｚからア
ナログ信号を受け、サーボモータ９ｘ、９ｙ、９ｚを駆
動する。
１０は距離測定器であり、ここではレーザ距離測定器が
使用され、モデルに照射されたレーザ光が反射され、こ
の反射光を受光して、距離に比例した電圧信号を発生し
て、その電圧信号をＡＤコンバータ５に出力する。１１
はコラムヘッドであり、距離測定器１０がサーボモータ
９ｚによって、上下できるように設けられている。１２
はテーブルであり、その上にモデル１３が固定されてい
る。
使用され、モデルに照射されたレーザ光が反射され、こ
の反射光を受光して、距離に比例した電圧信号を発生し
て、その電圧信号をＡＤコンバータ５に出力する。１１
はコラムヘッドであり、距離測定器１０がサーボモータ
９ｚによって、上下できるように設けられている。１２
はテーブルであり、その上にモデル１３が固定されてい
る。
テーブル１２はサーボモータ９Ｘ％９ｙによって、移動
を制御される。１４は操作盤であり、オペレータが機械
を制御するために使用され、その信号は入出力インター
フェイス（Ｉｌｏ）４に接続されている。
を制御される。１４は操作盤であり、オペレータが機械
を制御するために使用され、その信号は入出力インター
フェイス（Ｉｌｏ）４に接続されている。
なお、各サーボモータには、それぞれ位置検出器１５ｘ
、１５ｙ、１５ｚが接続されており、その出力パルスは
カウンタ７ｘ、７ｙ、７ｚに入力されている。
、１５ｙ、１５ｚが接続されており、その出力パルスは
カウンタ７ｘ、７ｙ、７ｚに入力されている。
次にモデル１３に設ける規定形状について述べる、第２
図にモデルに規定形状を設けた図を示す。
図にモデルに規定形状を設けた図を示す。
図において、１３はデジタイジングすべきモデルであり
、１３ａはデジタイジングの測定範囲であり、１３ｂが
規定形状である。
、１３ａはデジタイジングの測定範囲であり、１３ｂが
規定形状である。
第３図（ａ）に規定形状の例を示す。この例では、一部
が水平な表面を有し、一部にモデルと４５度の傾きを有
する面を有する。この２種類の平面で、それぞれ補正デ
ータを求めることができる。
が水平な表面を有し、一部にモデルと４５度の傾きを有
する面を有する。この２種類の平面で、それぞれ補正デ
ータを求めることができる。
その詳細については後述する。
第３図（ｂ）に規定形状の他の例を示す、この例では、
一部が水平な表面を有し、他にモデル表面に対して、そ
れぞれ異なる傾きを有する平面を有する。これらの個々
の面から補正データを求め、それぞれ対応するモデルの
面に応じて、補正データを使用することができる。
一部が水平な表面を有し、他にモデル表面に対して、そ
れぞれ異なる傾きを有する平面を有する。これらの個々
の面から補正データを求め、それぞれ対応するモデルの
面に応じて、補正データを使用することができる。
次に補正データの求めがたの詳細について述べる。第４
図に第３図（ａ）で示した規定形状１３ｂでの補正デー
タの求め方を示す０図において、１０は距離測定器であ
り、ここではレーザ距離測定器を使用する。まず、操作
盤１４の操作釦で、距離測定器ｌＯを規定形状１３ｂの
平面上９点Ｐ１に合わせる。次に操作盤１４のモードを
計測モードにして、起動６口を押すと、計測運転が開始
する。
図に第３図（ａ）で示した規定形状１３ｂでの補正デー
タの求め方を示す０図において、１０は距離測定器であ
り、ここではレーザ距離測定器を使用する。まず、操作
盤１４の操作釦で、距離測定器ｌＯを規定形状１３ｂの
平面上９点Ｐ１に合わせる。次に操作盤１４のモードを
計測モードにして、起動６口を押すと、計測運転が開始
する。
Ｚ軸が＋２方向に距ＭＬ、だけ移動した後、距離測定器
ｌＯからの検出距離りを読み取る。さらにＺ軸が＋Ｚ方
向にΔＬだけ移動した後、距離測定器ｌＯからの検出距
離Ｌａを読み取る。
ｌＯからの検出距離りを読み取る。さらにＺ軸が＋Ｚ方
向にΔＬだけ移動した後、距離測定器ｌＯからの検出距
離Ｌａを読み取る。
次にＺ軸を移動させ、点Ｐ２に位置決めして、点Ｐｉの
ときと同様な動作で、Ｌｏ、ΔＬ分十Ｚ方向に移動させ
、検出距離Ｌｂを読み取る。これらの式から、下記の式
で零点補償を求めることができる。
ときと同様な動作で、Ｌｏ、ΔＬ分十Ｚ方向に移動させ
、検出距離Ｌｂを読み取る。これらの式から、下記の式
で零点補償を求めることができる。
ΔＥ＝Ｌ＠ −Ｌ
次に距離の補正係数を求める０点Ｐｉの水平な面での補
正係数゛は、 Ｃｆ０＝Ｌａ／（Ｌ６＋ΔＬ） また、点Ｐ２での４５度の傾きをもつ平面での補正係数
は、 Ｃｆ ４５ ＝Ｌ ｂ／ （Ｌｏ ＋ΔＬ）で求めるこ
とができる。この結果から両者の補正係数の平均値をＣ
ｆｍとし、この補正係数で距離測定器１０の測定値を補
正することができる。
正係数゛は、 Ｃｆ０＝Ｌａ／（Ｌ６＋ΔＬ） また、点Ｐ２での４５度の傾きをもつ平面での補正係数
は、 Ｃｆ ４５ ＝Ｌ ｂ／ （Ｌｏ ＋ΔＬ）で求めるこ
とができる。この結果から両者の補正係数の平均値をＣ
ｆｍとし、この補正係数で距離測定器１０の測定値を補
正することができる。
すなわち、実際に測定された距離データＬに対して、真
の値Ｌａｃは、 Ｌａｃ＝（Ｌ−ΔＥ）／Ｃｆｍ で求めることができる。 次にこれらの動作をフローチ
ャート図に基づいて説明する。第５図（ａ）及び（ｂ）
に補正データを求めるためのフローチャート図を示す。
の値Ｌａｃは、 Ｌａｃ＝（Ｌ−ΔＥ）／Ｃｆｍ で求めることができる。 次にこれらの動作をフローチ
ャート図に基づいて説明する。第５図（ａ）及び（ｂ）
に補正データを求めるためのフローチャート図を示す。
図において、Ｓに続く数値はステップ番号である。フロ
ーチャートは第３図の点Ｐ１に距離測定器１０を位置決
めした以後の動作を示す。
ーチャートは第３図の点Ｐ１に距離測定器１０を位置決
めした以後の動作を示す。
（Ｓｌ）Ｚ軸を＋Ｚ方向にＬｏだけ移動させる。
〔Ｓ２〕距離信号りを読み取る。
〔Ｓ３〕零点補正量ΔＥ＝Ｌ、−Ｌを算出する。
（Ｓ４）Ｚ軸をΔＬ移動させる。
〔Ｓ５〕距離信号Ｌａを読み取る。
〔Ｓ６〕補正係数を以下の式から算出する。
Ｃｆ Ｏ＝Ｌ ａ／ （Ｌｏ ＋ΔＬ）〔Ｓ７〕距離測
定器１０を第３図の点Ｐ２へ移動させる。ここで、Ｚ軸
を＋Ｚ方向に（ＬＯ＋ΔＬ）移動させる。
定器１０を第３図の点Ｐ２へ移動させる。ここで、Ｚ軸
を＋Ｚ方向に（ＬＯ＋ΔＬ）移動させる。
〔Ｓ８〕距離信号Ｌｂを読み取る。
（Ｓ９）４５度の傾きを持った面での補正係数を下記の
式から求める。
式から求める。
Ｃｆ４５＝Ｌｂ／（Ｌ、＋ΔＬ）
（Ｓ１０）上記の補正係数の平均値Ｃｆを下記の式から
を求める。
を求める。
Ｃｆｍ （ＣｆＯ＋Ｃｆ４５）／２
この動作によって、補正係数が求められる。
次にこの補正係数を使用して、デジタイジングを行う動
作をフローチャート図に基づいて述べる。
作をフローチャート図に基づいて述べる。
第６図にこのデジタイジング方法のフローチャート図を
示す。図において、Ｓに続く数値はステップ番号である
。
示す。図において、Ｓに続く数値はステップ番号である
。
（Ｓｌｌ）距離し、各軸の移動量ΔＸ、ΔＹ、ΔＺを読
み取る。
み取る。
（Ｓ １２）ΔＺの距離を以下の式で補正する。
Ｌｒ＝（Ｌ−ΔＥ）／Ｃｆ
（Ｓ １３）下記の式で誤差の計算を行う。
ΔＬ謂Ｌｒ−Ｌ。
（３１４）各軸の速度を計算して、指令する。
（Ｓ １５）デジタイジングデータを収集する。
このようにして、距離測定器ｌＯで測定したデータを補
正して、デジタイジングを実行していくことができる。
正して、デジタイジングを実行していくことができる。
上記の例では、水平な面と４５度の傾きをもつ面との補
正係数の平均値を補正係数として使用したが、モデルの
形状に応じて、適当な補正係数を・使用することができ
る０例えば、第３図（ｂ）に示した規定形状を使用して
、個々の補正係数を求め、モデルの形状に応じてこれら
の補正係数を適宜使用することができる。
正係数の平均値を補正係数として使用したが、モデルの
形状に応じて、適当な補正係数を・使用することができ
る０例えば、第３図（ｂ）に示した規定形状を使用して
、個々の補正係数を求め、モデルの形状に応じてこれら
の補正係数を適宜使用することができる。
また、上記の説明では距離測定器として、レーザ距離測
定器を使用することで説明したが、非接触の距離測定器
であれば、他の距離測定器を同様に使用できる。
定器を使用することで説明したが、非接触の距離測定器
であれば、他の距離測定器を同様に使用できる。
以上説明したように本発明では、モデルの一部に規定形
状を設けて、この規定形状で計測を行って、距離測定器
の測定誤差を補正する補正データを求めて、この補正デ
ータによって測定距離を補正して、デジタイジングを行
うので、正確なデジタイジングデータを得ることができ
る。
状を設けて、この規定形状で計測を行って、距離測定器
の測定誤差を補正する補正データを求めて、この補正デ
ータによって測定距離を補正して、デジタイジングを行
うので、正確なデジタイジングデータを得ることができ
る。
第１図は本発明のデジタイジング方法を実施するための
装置のブロック図、 第２図はモデルに規定形状を設けた図、第３図（ａ）は
規定形状の例を示す図、第３図（ｂ）は規定形状の他の
例を示す図、第４図は第３図（ａ）で示した規定形状で
の補正データの求め方を示す図、 第５図（ａ）及び（ｂ）は補正データを求めるためのフ
ローチャート図、 第６図は本発明の一実施例のデジタイジング方法のフロ
ーチャート図を示す。 １−−−−−−−・・・−・・−・プロセッサ２・−−
−−−−−−−−一−−−・タイマ３・−−−−−−−
−−−−−−−−メモリ５・−・−−−−−−−−−−
−−Ａ Ｄコンバータ６ｘ−・−−−−−−−−・ＤＡ
コンバータ６ｙ−・・−−−−−Ｄ Ａコンバータ６ｚ
−・−−−−−−−Ｄ Ａコンバータ１０・−−−−−
−−−−−一−−−距離測定器１１−−−−−−−一・
−−−一一−コラムヘッド１３−・−・・・・−・−−
−−−・モデル１３ｂ−・・・−・・・・−規定形状 特許出願人 ファナック株式会社 代理人 弁理士 服部毅巖 第２図 第３図（Ｇ） 第３Ｅ（ｂ） 第５図（ａ） 第５図（ｂ）
装置のブロック図、 第２図はモデルに規定形状を設けた図、第３図（ａ）は
規定形状の例を示す図、第３図（ｂ）は規定形状の他の
例を示す図、第４図は第３図（ａ）で示した規定形状で
の補正データの求め方を示す図、 第５図（ａ）及び（ｂ）は補正データを求めるためのフ
ローチャート図、 第６図は本発明の一実施例のデジタイジング方法のフロ
ーチャート図を示す。 １−−−−−−−・・・−・・−・プロセッサ２・−−
−−−−−−−−一−−−・タイマ３・−−−−−−−
−−−−−−−−メモリ５・−・−−−−−−−−−−
−−Ａ Ｄコンバータ６ｘ−・−−−−−−−−・ＤＡ
コンバータ６ｙ−・・−−−−−Ｄ Ａコンバータ６ｚ
−・−−−−−−−Ｄ Ａコンバータ１０・−−−−−
−−−−−一−−−距離測定器１１−−−−−−−一・
−−−一一−コラムヘッド１３−・−・・・・−・−−
−−−・モデル１３ｂ−・・・−・・・・−規定形状 特許出願人 ファナック株式会社 代理人 弁理士 服部毅巖 第２図 第３図（Ｇ） 第３Ｅ（ｂ） 第５図（ａ） 第５図（ｂ）
Claims (2)
- （１）モデル表面までの距離を測定し、この距離を一定
時間、或いは一定距離ごとに記憶して、モデルのディジ
タルな形状データを求めるデジタイジング方法において
、 前記モデルの一部に補正用の規定形状を設け、デジタイ
ジングの開始前に該規定形状を使用して、計測指令を行
い、 指令値と実測値から距離の補正係数及び零の補正値等の
補正データを求め、 デジタイジングの実行によって得られるデジタイジング
データを該補正データで補正する、ことを特徴とするデ
ジタイジング方法。 - （２）前記モデル表面までの距離をレーザ距離測定器で
測定することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
デジタイジング方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62267358A JPH01109057A (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | デジタイジング方法 |
| EP19880908366 EP0342238A4 (en) | 1987-10-23 | 1988-09-22 | Digitizing method |
| PCT/JP1988/000977 WO1989003746A1 (en) | 1987-10-23 | 1988-09-22 | Digitizing method |
| US07/362,407 US4999555A (en) | 1987-10-23 | 1988-09-22 | Digitizing method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62267358A JPH01109057A (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | デジタイジング方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01109057A true JPH01109057A (ja) | 1989-04-26 |
Family
ID=17443710
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62267358A Pending JPH01109057A (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | デジタイジング方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4999555A (ja) |
| EP (1) | EP0342238A4 (ja) |
| JP (1) | JPH01109057A (ja) |
| WO (1) | WO1989003746A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03256653A (ja) * | 1990-03-08 | 1991-11-15 | Atsushi Mizukami | 倣い装置の検出回路 |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5317517A (en) * | 1989-02-03 | 1994-05-31 | Fanuc Ltd. | Digitizing method |
| US5121334A (en) * | 1989-06-08 | 1992-06-09 | Regents Of The University Of Minnesota | Method and apparatus for automated machining of objects of complex and unique geometry |
| US5128870A (en) * | 1989-06-09 | 1992-07-07 | Regents Of The University Of Minnesota | Automated high-precision fabrication of objects of complex and unique geometry |
| US5184306A (en) * | 1989-06-09 | 1993-02-02 | Regents Of The University Of Minnesota | Automated high-precision fabrication of objects of complex and unique geometry |
| US5257203A (en) * | 1989-06-09 | 1993-10-26 | Regents Of The University Of Minnesota | Method and apparatus for manipulating computer-based representations of objects of complex and unique geometry |
| US5121333A (en) * | 1989-06-09 | 1992-06-09 | Regents Of The University Of Minnesota | Method and apparatus for manipulating computer-based representations of objects of complex and unique geometry |
| JP2810709B2 (ja) * | 1989-07-27 | 1998-10-15 | ファナック 株式会社 | 非接触ならい制御装置 |
| JPH0386447A (ja) * | 1989-08-25 | 1991-04-11 | Fanuc Ltd | ならい制御装置 |
| JPH03121754A (ja) * | 1989-10-04 | 1991-05-23 | Fanuc Ltd | 非接触ならい制御装置 |
| JPH03190652A (ja) * | 1989-12-19 | 1991-08-20 | Fanuc Ltd | 非接触ならい制御装置 |
| JPH04241603A (ja) * | 1991-01-14 | 1992-08-28 | Fanuc Ltd | 非接触デジタイジング方法 |
| US5442565A (en) * | 1992-05-01 | 1995-08-15 | Seamx | Autonomous selective cutting method and apparatus |
| JP3461195B2 (ja) * | 1994-03-07 | 2003-10-27 | 有限会社牛方商会 | 検定機能付き図形測定装置 |
| US6076953A (en) * | 1995-10-10 | 2000-06-20 | The Esab Group, Inc. | Digitizing probe |
| US6029333A (en) * | 1997-12-04 | 2000-02-29 | Ferco Tech Corporation | Method of making an inspection fixture for determining the accuracy of bent tubular parts |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS594405B2 (ja) * | 1976-08-21 | 1984-01-30 | バイエル・アクチエンゲゼルシヤフト | 高融点有機物の精製方法 |
| JPS6255502A (ja) * | 1985-09-04 | 1987-03-11 | Toyota Auto Body Co Ltd | 三次元測定機による物体形状の測定方法 |
| JPS62195504A (ja) * | 1986-02-24 | 1987-08-28 | Advantest Corp | 面位置検出装置 |
Family Cites Families (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2600760A1 (de) * | 1976-01-10 | 1977-07-14 | Skf Kugellagerfabriken Gmbh | Elektrode fuer die elektrolytische einarbeitung eines rillenmusters in eine werkstueckflaeche |
| JPS609884B2 (ja) * | 1977-06-10 | 1985-03-13 | 日本碍子株式会社 | ハニカム成型装置 |
| US4158507A (en) * | 1977-07-27 | 1979-06-19 | Recognition Equipment Incorporated | Laser measuring system for inspection |
| US4128794A (en) * | 1977-10-11 | 1978-12-05 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Interferometric correction system for a numerically controlled machine |
| JPS5830804B2 (ja) * | 1977-12-07 | 1983-07-01 | 日本碍子株式会社 | ハニカム成型用ダイス |
| JPS54125375A (en) * | 1978-03-23 | 1979-09-28 | Fanuc Ltd | Profiling control system |
| DE2834612A1 (de) * | 1978-08-07 | 1980-02-14 | Siemens Ag | Kopierfuehler |
| JPS5654307A (en) * | 1979-10-09 | 1981-05-14 | Inoue Japax Res Inc | Measuring instrument for work precision |
| JPS56102453A (en) * | 1980-01-17 | 1981-08-15 | Fanuc Ltd | Copying control system |
| US4456962A (en) * | 1980-03-19 | 1984-06-26 | Fujitsu Fanuc Limited | Tracer control system |
| JPS6028624B2 (ja) * | 1980-06-18 | 1985-07-05 | ファナック株式会社 | 倣い制御装置 |
| JPS6049542B2 (ja) * | 1980-08-27 | 1985-11-02 | ファナック株式会社 | 倣い制御方式 |
| US4350965A (en) * | 1981-04-17 | 1982-09-21 | Federal Pacific Electric Company | Multi-pole circuit breakers |
| EP0070141B1 (en) * | 1981-07-07 | 1989-05-31 | Renishaw plc | Device for measuring dimensions |
| JPS59107845A (ja) * | 1982-12-07 | 1984-06-22 | Fanuc Ltd | ならい制御方法 |
| JPS6056857A (ja) * | 1983-09-09 | 1985-04-02 | Fanuc Ltd | トレ−サヘツドの自動調整方法 |
| JPS6062448A (ja) * | 1983-09-14 | 1985-04-10 | Fanuc Ltd | 倣い制御方法 |
| CH661981A5 (de) * | 1984-02-13 | 1987-08-31 | Haenni & Cie Ag | Optisches messgeraet zur beruehrungslosen abstandsmessung. |
| US4696574A (en) * | 1984-06-21 | 1987-09-29 | General Electric Company | Precision remote location of a movable point employing light interference fringes |
| JPS61220805A (ja) * | 1985-03-28 | 1986-10-01 | 日本碍子株式会社 | セラミツクハニカム構造体の押出ダイス |
| JPS61195955U (ja) * | 1985-05-29 | 1986-12-06 | ||
| US4695163A (en) * | 1985-06-17 | 1987-09-22 | Schachar Ronald A | Method and apparatus for determining surface shapes using reflected laser light |
| US4707610A (en) * | 1985-07-03 | 1987-11-17 | Siscan Systems, Inc. | Method and apparatus for measuring surface profiles |
| US4747734A (en) * | 1985-11-22 | 1988-05-31 | Mitsubishi Jukogyo Kabushiki Kaisha | Profiling apparatus |
| JPH0622806B2 (ja) * | 1986-08-14 | 1994-03-30 | 日本碍子株式会社 | ハニカム成型用ダイスおよびその製造方法 |
| US4850712A (en) * | 1988-02-01 | 1989-07-25 | Caterpillar Inc. | Method and system for determining surface profile information |
| TW258729B (ja) * | 1992-06-22 | 1995-10-01 | Ciba Geigy |
-
1987
- 1987-10-23 JP JP62267358A patent/JPH01109057A/ja active Pending
-
1988
- 1988-09-22 US US07/362,407 patent/US4999555A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-09-22 EP EP19880908366 patent/EP0342238A4/en not_active Withdrawn
- 1988-09-22 WO PCT/JP1988/000977 patent/WO1989003746A1/ja not_active Application Discontinuation
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS594405B2 (ja) * | 1976-08-21 | 1984-01-30 | バイエル・アクチエンゲゼルシヤフト | 高融点有機物の精製方法 |
| JPS6255502A (ja) * | 1985-09-04 | 1987-03-11 | Toyota Auto Body Co Ltd | 三次元測定機による物体形状の測定方法 |
| JPS62195504A (ja) * | 1986-02-24 | 1987-08-28 | Advantest Corp | 面位置検出装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03256653A (ja) * | 1990-03-08 | 1991-11-15 | Atsushi Mizukami | 倣い装置の検出回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO1989003746A1 (en) | 1989-05-05 |
| EP0342238A1 (en) | 1989-11-23 |
| US4999555A (en) | 1991-03-12 |
| EP0342238A4 (en) | 1992-09-23 |
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