JPH04241603A - 非接触デジタイジング方法 - Google Patents
非接触デジタイジング方法Info
- Publication number
- JPH04241603A JPH04241603A JP3014672A JP1467291A JPH04241603A JP H04241603 A JPH04241603 A JP H04241603A JP 3014672 A JP3014672 A JP 3014672A JP 1467291 A JP1467291 A JP 1467291A JP H04241603 A JPH04241603 A JP H04241603A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- model
- normal vector
- measurement
- vector
- axis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims abstract description 101
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 61
- 239000000700 radioactive tracer Substances 0.000 claims abstract description 43
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 5
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract description 7
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 101100325756 Arabidopsis thaliana BAM5 gene Proteins 0.000 description 1
- 101150046378 RAM1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100476489 Rattus norvegicus Slc20a2 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007779 soft material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q35/00—Control systems or devices for copying directly from a pattern or a master model; Devices for use in copying manually
- B23Q35/04—Control systems or devices for copying directly from a pattern or a master model; Devices for use in copying manually using a feeler or the like travelling along the outline of the pattern, model or drawing; Feelers, patterns, or models therefor
- B23Q35/08—Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work
- B23Q35/12—Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work involving electrical means
- B23Q35/127—Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work involving electrical means using non-mechanical sensing
- B23Q35/128—Sensing by using optical means
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
- G05B19/41—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by interpolation, e.g. the computation of intermediate points between programmed end points to define the path to be followed and the rate of travel along that path
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/37—Measurements
- G05B2219/37422—Distance and attitude detector
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は非接触デジタイジング方
法に関し、特に３次元的なモデル形状を非接触でならい
ながら、トレーサヘッドの姿勢を制御して、モデル形状
についてのならいデータを生成する非接触デジタイジン
グ方法に関する。
法に関し、特に３次元的なモデル形状を非接触でならい
ながら、トレーサヘッドの姿勢を制御して、モデル形状
についてのならいデータを生成する非接触デジタイジン
グ方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、非接触距離検出器を使用してモデ
ルの形状をならう非接触ならい制御装置が開発されてい
る。この非接触距離検出器には光学式距離検出器が使用
され、これをトレーサヘッドの先端に固定してモデル面
までの距離を検出してならいを行う。モデルを傷つける
心配がないので、柔らかい材質のモデルを使用すること
ができ、ならい加工における適用分野の拡大が期待され
ている。
ルの形状をならう非接触ならい制御装置が開発されてい
る。この非接触距離検出器には光学式距離検出器が使用
され、これをトレーサヘッドの先端に固定してモデル面
までの距離を検出してならいを行う。モデルを傷つける
心配がないので、柔らかい材質のモデルを使用すること
ができ、ならい加工における適用分野の拡大が期待され
ている。
【０００３】一般に、モデル形状をならい、その軌跡デ
ータを時々刻々に検出してＮＣテーープ等に自動的に出
力する機能は、デジタイジング機能と呼ばれている。非
接触デジタイジング方法によれば、モデル面を傷付ける
ことなしに、デジタイジングデータが算出できる。
ータを時々刻々に検出してＮＣテーープ等に自動的に出
力する機能は、デジタイジング機能と呼ばれている。非
接触デジタイジング方法によれば、モデル面を傷付ける
ことなしに、デジタイジングデータが算出できる。
【０００４】ところで、従来の非接触ならい制御装置で
はモデルの傾斜角度が大きい部分ではならい精度が低下
し、精度の高いデジタイジングデータを得ることができ
なかった。例えばモデルの設置面と垂直に近いモデル面
をならう場合に、トレーサヘッドの測定軸がモデル面と
平行に近くなれば、モデル面上のスポットが楕円状に拡
大されて距離検出の分解能が低下する。そこで非接触デ
ジタイジングを精度良く実行するためには、モデルの設
置面と垂直の方向（Ｚ軸方向）に固定したトレーサヘッ
ドに代えて、モデル面に対して最適な方向にトレーサヘ
ッドを傾斜させてモデル形状をならう必要がある。
はモデルの傾斜角度が大きい部分ではならい精度が低下
し、精度の高いデジタイジングデータを得ることができ
なかった。例えばモデルの設置面と垂直に近いモデル面
をならう場合に、トレーサヘッドの測定軸がモデル面と
平行に近くなれば、モデル面上のスポットが楕円状に拡
大されて距離検出の分解能が低下する。そこで非接触デ
ジタイジングを精度良く実行するためには、モデルの設
置面と垂直の方向（Ｚ軸方向）に固定したトレーサヘッ
ドに代えて、モデル面に対して最適な方向にトレーサヘ
ッドを傾斜させてモデル形状をならう必要がある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】そこで、発明者はトレ
ーサヘッドに２つの非接触距離検出器を設け、トレーサ
ヘッドからのならいデータをサンプリングした測定値に
基づいてモデル面の法線ベクトルを求め、この法線ベク
トルを所定の平面に投影した射影の方向にトレーサヘッ
ドを回転制御するようにした発明を、既に出願している
（平成１年特許願第１９４５００号）。
ーサヘッドに２つの非接触距離検出器を設け、トレーサ
ヘッドからのならいデータをサンプリングした測定値に
基づいてモデル面の法線ベクトルを求め、この法線ベク
トルを所定の平面に投影した射影の方向にトレーサヘッ
ドを回転制御するようにした発明を、既に出願している
（平成１年特許願第１９４５００号）。
【０００６】この先行する出願の発明は、非接触ならい
制御装置の発明（以下、装置発明Ａと言う。）であって
、複数の測定点から３点を選択し、それら３点から２つ
の表面ベクトルを決定し、それら表面ベクトルの外積を
計算して法線ベクトルを算出している。ところが、法線
ベクトルを算出する際に、表面ベクトルを掛ける順番が
固定されないため、その順番が入れ替わった時に、全く
正反対の向きの２つの法線ベクトルが求まってしまう。
制御装置の発明（以下、装置発明Ａと言う。）であって
、複数の測定点から３点を選択し、それら３点から２つ
の表面ベクトルを決定し、それら表面ベクトルの外積を
計算して法線ベクトルを算出している。ところが、法線
ベクトルを算出する際に、表面ベクトルを掛ける順番が
固定されないため、その順番が入れ替わった時に、全く
正反対の向きの２つの法線ベクトルが求まってしまう。
【０００７】この時、通常は、法線ベクトルＮのＺ軸方
向成分の値ＮＺが選択されればよい。しかし、とりわけ
、垂直面あるいは垂直面に近いモデル形状についてのな
らいを行っている場合には、非接触距離検出機構の測定
誤差や、演算機構での計算誤差などでＮＺが負である方
が正しい法線ベクトルＮになってしまうことがある。 したがって、上記装置発明Ａでは、モデル面の法線ベク
トルとして相応しくない方が選択されると、トレーサヘ
ッドの測定軸が１８０°回転し、測定が不可能になった
り、モデル面と干渉を起こすという問題点があった。
向成分の値ＮＺが選択されればよい。しかし、とりわけ
、垂直面あるいは垂直面に近いモデル形状についてのな
らいを行っている場合には、非接触距離検出機構の測定
誤差や、演算機構での計算誤差などでＮＺが負である方
が正しい法線ベクトルＮになってしまうことがある。 したがって、上記装置発明Ａでは、モデル面の法線ベク
トルとして相応しくない方が選択されると、トレーサヘ
ッドの測定軸が１８０°回転し、測定が不可能になった
り、モデル面と干渉を起こすという問題点があった。
【０００８】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
のであり、上記装置発明Ａの姿勢制御を改良し、常にモ
デル面に対して最適な方向にトレーサヘッドの測定軸を
回転制御できる非接触デジタイジング方法を提供するこ
とを目的とする。
のであり、上記装置発明Ａの姿勢制御を改良し、常にモ
デル面に対して最適な方向にトレーサヘッドの測定軸を
回転制御できる非接触デジタイジング方法を提供するこ
とを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明では上記課題を解
決するために、３次元的なモデル形状を非接触でならい
ながら、モデル形状についてのならいデータを生成する
非接触デジタイジング方法において、傾斜する測定軸が
回動制御されるトレーサヘッドによって、前記モデル面
上の複数の測定点までの距離を測定して、少なくとも３
つの測定された距離に基づいて２つの表面ベクトルを決
定するステップと、前記トレーサヘッドの測定軸の前記
測定点を始点とする軸ベクトルと前記測定点における法
線ベクトルとのなす角度が９０°を越えない範囲で、前
記表面ベクトルの外積から法線ベクトルの方向を決定す
るステップと、前記法線ベクトルの前記モデルの設置面
への射影に基づいて前記トレーサヘッドの測定軸を回転
制御して、前記ならいデータを逐次に生成するステップ
と、を有することを特徴とする非接触デジタイジング方
法が、提供される。
決するために、３次元的なモデル形状を非接触でならい
ながら、モデル形状についてのならいデータを生成する
非接触デジタイジング方法において、傾斜する測定軸が
回動制御されるトレーサヘッドによって、前記モデル面
上の複数の測定点までの距離を測定して、少なくとも３
つの測定された距離に基づいて２つの表面ベクトルを決
定するステップと、前記トレーサヘッドの測定軸の前記
測定点を始点とする軸ベクトルと前記測定点における法
線ベクトルとのなす角度が９０°を越えない範囲で、前
記表面ベクトルの外積から法線ベクトルの方向を決定す
るステップと、前記法線ベクトルの前記モデルの設置面
への射影に基づいて前記トレーサヘッドの測定軸を回転
制御して、前記ならいデータを逐次に生成するステップ
と、を有することを特徴とする非接触デジタイジング方
法が、提供される。
【００１０】
【作用】モデル面の法線ベクトルのＺ軸方向成分（ＮＺ
）は、通常ＮＺ≧０であると想定されている。非接触デ
ジタイジングのためのモデル形状には、モデル面がオー
バーハングしている部分はなく、ＮＺが負になる領域で
はならいを行わないからである。
）は、通常ＮＺ≧０であると想定されている。非接触デ
ジタイジングのためのモデル形状には、モデル面がオー
バーハングしている部分はなく、ＮＺが負になる領域で
はならいを行わないからである。
【００１１】本発明の非接触デジタイジング方法では、
法線ベクトルを算出する際に、測定軸の軸ベクトルと法
線ベクトルとのなす角度が９０°を越えない範囲で、法
線ベクトルの方向を決定している。従って、通常は法線
ベクトルのＺ軸方向成分（ＮＺ）がＮＺ≧０となる方が
選択される。垂直面あるいは垂直面に近いモデル形状に
ついてならいを行っている場合、非接触距離検出機構の
測定誤差や、演算機構での計算誤差が発生しても、正し
い法線ベクトルを選択する。トレーサヘッドの測定軸は
、モデル面に対して最適な方向にて、回転制御される。
法線ベクトルを算出する際に、測定軸の軸ベクトルと法
線ベクトルとのなす角度が９０°を越えない範囲で、法
線ベクトルの方向を決定している。従って、通常は法線
ベクトルのＺ軸方向成分（ＮＺ）がＮＺ≧０となる方が
選択される。垂直面あるいは垂直面に近いモデル形状に
ついてならいを行っている場合、非接触距離検出機構の
測定誤差や、演算機構での計算誤差が発生しても、正し
い法線ベクトルを選択する。トレーサヘッドの測定軸は
、モデル面に対して最適な方向にて、回転制御される。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図１は非接触のデジタイジング制御装置及び周
辺装置の構成を示すブロック図である。
明する。図１は非接触のデジタイジング制御装置及び周
辺装置の構成を示すブロック図である。
【００１３】デジタイジング制御装置１側では、プロセ
ッサ１１がバス１０を介してＲＯＭ１２に格納されたシ
ステムプログラムを読みだし、このシステムプログラム
に従ってデジタイジング制御装置１の全体の動作を制御
する。ＲＡＭ１３はデータの一時記憶装置であり、後述
するならい工作機械の非接触距離検出機構からの測定デ
ータ、及びその他の一時的なデータを記憶する。不揮発
性メモリ１４は図示されていないバッテリでバックアッ
プされており、インターフェース１５を介して操作盤２
より入力されたならい方向、ならい速度等の各種のパラ
メータ等が格納される。
ッサ１１がバス１０を介してＲＯＭ１２に格納されたシ
ステムプログラムを読みだし、このシステムプログラム
に従ってデジタイジング制御装置１の全体の動作を制御
する。ＲＡＭ１３はデータの一時記憶装置であり、後述
するならい工作機械の非接触距離検出機構からの測定デ
ータ、及びその他の一時的なデータを記憶する。不揮発
性メモリ１４は図示されていないバッテリでバックアッ
プされており、インターフェース１５を介して操作盤２
より入力されたならい方向、ならい速度等の各種のパラ
メータ等が格納される。
【００１４】ならい工作機械３のトレーサヘッド４には
、距離検出器５ａ及び５ｂが設けられている。距離検出
器５ａ及び５ｂには、半導体レーザあるいは発光ダイオ
ードを光源とした反射光量式のセンサ等が使用される。 測定軸４ａ，４ｂに沿うモデル面までの距離の測定値Ｌ
ａ及びＬｂは、デジタイジング制御装置１内のＡ／Ｄ変
換器１６ａ及び１６ｂでディジタル値に変換され、逐次
プロセッサ１１に読み取られる。
、距離検出器５ａ及び５ｂが設けられている。距離検出
器５ａ及び５ｂには、半導体レーザあるいは発光ダイオ
ードを光源とした反射光量式のセンサ等が使用される。 測定軸４ａ，４ｂに沿うモデル面までの距離の測定値Ｌ
ａ及びＬｂは、デジタイジング制御装置１内のＡ／Ｄ変
換器１６ａ及び１６ｂでディジタル値に変換され、逐次
プロセッサ１１に読み取られる。
【００１５】プロセッサ１１はＡ／Ｄ変換されたディジ
タル値と後述する現在位置レジスタ１９ｘ、１９ｙ及び
１９ｚからの信号に基づいて各軸変位量を算出すると共
に、この変位量と指令されたならい方向、ならい速度に
基づいて、周知の技術により、各軸の速度指令Ｖｘ、Ｖ
ｙ及びＶｚを発生する。これらの速度指令はＤ／Ａ変換
器１７ｘ、１７ｙ及び１７ｚでアナログ値に変換され、
サーボアンプ１８ｘ、１８ｙ及び１８ｚに入力される。 サーボアンプ１８ｘ及び１８ｙはこの速度指令に基づい
てならい工作機械３のサーボモータ３２ｘ及び３２ｙを
駆動し、これによりテーブル３１をＸ軸方向及び紙面に
垂直なＹ軸方向に移動する。また、サーボアンプ１８ｚ
はサーボモータ３２ｚを駆動し、トレーサヘッド４及び
工具３４をＺ軸方向に移動する。
タル値と後述する現在位置レジスタ１９ｘ、１９ｙ及び
１９ｚからの信号に基づいて各軸変位量を算出すると共
に、この変位量と指令されたならい方向、ならい速度に
基づいて、周知の技術により、各軸の速度指令Ｖｘ、Ｖ
ｙ及びＶｚを発生する。これらの速度指令はＤ／Ａ変換
器１７ｘ、１７ｙ及び１７ｚでアナログ値に変換され、
サーボアンプ１８ｘ、１８ｙ及び１８ｚに入力される。 サーボアンプ１８ｘ及び１８ｙはこの速度指令に基づい
てならい工作機械３のサーボモータ３２ｘ及び３２ｙを
駆動し、これによりテーブル３１をＸ軸方向及び紙面に
垂直なＹ軸方向に移動する。また、サーボアンプ１８ｚ
はサーボモータ３２ｚを駆動し、トレーサヘッド４及び
工具３４をＺ軸方向に移動する。
【００１６】サーボモータ３２ｘ、３２ｙ及び３２ｚに
は、これらが所定量回転する毎にそれぞれ検出パルスＦ
Ｐｘ、ＦＰｙ及びＦＰｚを発生するパルスコーダ３３ｘ
、３３ｙ及び３３ｚが設けられている。デジタイジング
制御装置１内の現在位置レジスタ１９ｘ、１９ｙ及び１
９ｚは検出パルスＦＰｘ、ＦＰｙ及びＦＰｚをそれぞれ
回転方向に応じてカウントアップ／ダウンして各軸方向
の現在位置データＸａ、Ｙａ及びＺａを求め、制御デー
タとしてプロセッサ１１に入力している。
は、これらが所定量回転する毎にそれぞれ検出パルスＦ
Ｐｘ、ＦＰｙ及びＦＰｚを発生するパルスコーダ３３ｘ
、３３ｙ及び３３ｚが設けられている。デジタイジング
制御装置１内の現在位置レジスタ１９ｘ、１９ｙ及び１
９ｚは検出パルスＦＰｘ、ＦＰｙ及びＦＰｚをそれぞれ
回転方向に応じてカウントアップ／ダウンして各軸方向
の現在位置データＸａ、Ｙａ及びＺａを求め、制御デー
タとしてプロセッサ１１に入力している。
【００１７】一方、プロセッサ１１は上記各軸の制御と
同時に、距離検出器５ａ及び５ｂの測定値Ｌａ及びＬｂ
を所定のサンプリング時間毎にサンプリングし、これを
使用して後述する演算方法によってモデル面の法線ベク
トルを求める。法線ベクトルのＸ−Ｙ平面上への射影ベ
クトルに対応して、回転指令ＳＣが形成され、Ｄ／Ａ変
換器１７ｃによりアナログ値に変換される。サーボアン
プ１８ｃはこの回転指令ＳＣに基づいてサーボモータ３
２ｃを駆動し、トレーサヘッド４の測定軸４ａをＺ軸廻
りに所定角度傾斜しつつ回転制御する。そして同時にテ
ーブル３１が指令されたならい方向、ならい速度で移動
して、トレーサヘッド４と同じくＺ軸制御される工具３
４によってワーク３５にモデル６と同様の形状の加工が
施される。
同時に、距離検出器５ａ及び５ｂの測定値Ｌａ及びＬｂ
を所定のサンプリング時間毎にサンプリングし、これを
使用して後述する演算方法によってモデル面の法線ベク
トルを求める。法線ベクトルのＸ−Ｙ平面上への射影ベ
クトルに対応して、回転指令ＳＣが形成され、Ｄ／Ａ変
換器１７ｃによりアナログ値に変換される。サーボアン
プ１８ｃはこの回転指令ＳＣに基づいてサーボモータ３
２ｃを駆動し、トレーサヘッド４の測定軸４ａをＺ軸廻
りに所定角度傾斜しつつ回転制御する。そして同時にテ
ーブル３１が指令されたならい方向、ならい速度で移動
して、トレーサヘッド４と同じくＺ軸制御される工具３
４によってワーク３５にモデル６と同様の形状の加工が
施される。
【００１８】ところで、モデル６の表面が垂直に近づい
てくると、距離検出器５ａ及び５ｂでの測定誤差や、プ
ロセッサ１１での計算誤差に起因して、正しい法線ベク
トルのＺ軸方向成分の値ＮＺが負になることがある。こ
の場合に法線ベクトルの向きを決定する演算方法を変更
して、上記ＮＺの値が負であっても、その法線ベクトル
のＸ−Ｙ平面上への射影ベクトルを選択して回転指令Ｓ
Ｃを形成しないと、トレーサヘッド４の姿勢が意に反し
て逆転方向に回転することになる。
てくると、距離検出器５ａ及び５ｂでの測定誤差や、プ
ロセッサ１１での計算誤差に起因して、正しい法線ベク
トルのＺ軸方向成分の値ＮＺが負になることがある。こ
の場合に法線ベクトルの向きを決定する演算方法を変更
して、上記ＮＺの値が負であっても、その法線ベクトル
のＸ−Ｙ平面上への射影ベクトルを選択して回転指令Ｓ
Ｃを形成しないと、トレーサヘッド４の姿勢が意に反し
て逆転方向に回転することになる。
【００１９】このような回転制御されるトレーサヘッド
４の姿勢が安定しないという問題を解消すべく、本発明
ではプロセッサ１１において、トレーサヘッド４の測定
軸４ａのモデル６面上の測定点を始点とする軸ベクトル
と、この測定点におけ演算しる法線ベクトルとのなす角
度が９０°を越えない範囲で、表面ベクトルの外積をて
法線ベクトルの方向を決定している。
４の姿勢が安定しないという問題を解消すべく、本発明
ではプロセッサ１１において、トレーサヘッド４の測定
軸４ａのモデル６面上の測定点を始点とする軸ベクトル
と、この測定点におけ演算しる法線ベクトルとのなす角
度が９０°を越えない範囲で、表面ベクトルの外積をて
法線ベクトルの方向を決定している。
【００２０】図２はトレーサヘッド４の詳細図である。
図において、トレーサヘッド４にはＺ軸に対して角度４
５°だけ傾斜させて距離検出器５ａが取り付けられ、こ
の測定軸４ａがＣ軸によって回転指令ＳＣの指令角度θ
ｃで傾斜しつつ、回転する。また、距離検出器５ａの外
側に重ねて距離検出器５ｂが取り付けられており、同様
に指令角度θｃで回転制御される。
５°だけ傾斜させて距離検出器５ａが取り付けられ、こ
の測定軸４ａがＣ軸によって回転指令ＳＣの指令角度θ
ｃで傾斜しつつ、回転する。また、距離検出器５ａの外
側に重ねて距離検出器５ｂが取り付けられており、同様
に指令角度θｃで回転制御される。
【００２１】これによって距離検出器５ａの測定軸４ａ
は、モデル６の表面の傾斜角度に対して最適な方向、即
ちモデル６の法線に最も近づいた位置になるように、回
転制御される。また前述したように、距離検出器５ａの
測定値がデジタイジング制御装置１にフィードバックさ
れることにより、距離検出器５ａからモデル６上の測定
点Ｐａまでの距離Ｌａは一定に保たれる。この距離Ｌａ
は距離検出器５ａの測定軸とＺ軸との交点までの距離に
設定されており、トレーサヘッド４がＣ軸によって回転
しても測定点Ｐａは移動せず、したがってトレーサヘッ
ド４とモデル６との距離Ｌも一定に保たれる。同様に、
距離検出器５ｂはモデル６上の測定点Ｐｂまでの距離Ｌ
ｂを測定してならい制御装置に入力している。
は、モデル６の表面の傾斜角度に対して最適な方向、即
ちモデル６の法線に最も近づいた位置になるように、回
転制御される。また前述したように、距離検出器５ａの
測定値がデジタイジング制御装置１にフィードバックさ
れることにより、距離検出器５ａからモデル６上の測定
点Ｐａまでの距離Ｌａは一定に保たれる。この距離Ｌａ
は距離検出器５ａの測定軸とＺ軸との交点までの距離に
設定されており、トレーサヘッド４がＣ軸によって回転
しても測定点Ｐａは移動せず、したがってトレーサヘッ
ド４とモデル６との距離Ｌも一定に保たれる。同様に、
距離検出器５ｂはモデル６上の測定点Ｐｂまでの距離Ｌ
ｂを測定してならい制御装置に入力している。
【００２２】次に、トレーサヘッド４の回転角度の算出
方法について図３を参照して説明する。トレーサヘッド
４をモデル６に対して相対的にＸ軸方向に、所定のなら
い速度で移動させてならいを行うと共に、所定時間毎に
２点Ｐｎ、Ｑｎの測定データを同時にサンプリングする
。これらの測定値と現在位置レジスタから出力される現
在位置データに基づいて、モデル６上の点Ｐｎ−１，Ｑ
ｎ−１，Ｐｎ，Ｑｎ，Ｐｎ＋１，Ｑｎ＋１，・・・の座
標値を求めていく。
方法について図３を参照して説明する。トレーサヘッド
４をモデル６に対して相対的にＸ軸方向に、所定のなら
い速度で移動させてならいを行うと共に、所定時間毎に
２点Ｐｎ、Ｑｎの測定データを同時にサンプリングする
。これらの測定値と現在位置レジスタから出力される現
在位置データに基づいて、モデル６上の点Ｐｎ−１，Ｑ
ｎ−１，Ｐｎ，Ｑｎ，Ｐｎ＋１，Ｑｎ＋１，・・・の座
標値を求めていく。
【００２３】そして、例えば点Ｐｎの座標値（Ｘ１，Ｙ
１，Ｚ１）と、点Ｑｎの座標値（Ｘ２，Ｙ２，Ｚ２）か
ら、表面ベクトルＳ１〔Ｘ２−Ｘ１，Ｙ２−Ｙ１，Ｚ２
−Ｚ１〕を求める。また、点Ｐｎ−１の座標値（Ｘ３，
Ｙ３，Ｚ３）と、点Ｐｎの座標値（Ｘ１，Ｙ１，Ｚ１）
から、表面ベクトルＳ２〔Ｘ３−Ｘ１，Ｙ３−Ｙ１，Ｚ
３−Ｚ１〕を求める。この場合に、点Ｐｎ−１の座標値
は、先行するサンプリングによる測定データをＲＡＭ１
３などに格納しておく。これら２つの表面ベクトルＳ１
，Ｓ２を次式、Ｎｎ＝Ｓ１×Ｓ２（但し、Ｎｎ，Ｓ１，
Ｓ２はベクトルを表す）によって表面ベクトルＳ１とＳ
２の外積を演算し、点Ｐｎにおける法線ベクトルＮｎを
求めることができる。ここでは、モデル６の法線ベクト
ルＮｎのＺ軸方向成分（ＮＺ）は、通常ＮＺ≧０である
と想定されている。非接触デジタイジングのためのモデ
ル形状には、モデル面がオーバーハングしている部分は
なく、ＮＺが負になる領域ではならいを行わないからで
ある。
１，Ｚ１）と、点Ｑｎの座標値（Ｘ２，Ｙ２，Ｚ２）か
ら、表面ベクトルＳ１〔Ｘ２−Ｘ１，Ｙ２−Ｙ１，Ｚ２
−Ｚ１〕を求める。また、点Ｐｎ−１の座標値（Ｘ３，
Ｙ３，Ｚ３）と、点Ｐｎの座標値（Ｘ１，Ｙ１，Ｚ１）
から、表面ベクトルＳ２〔Ｘ３−Ｘ１，Ｙ３−Ｙ１，Ｚ
３−Ｚ１〕を求める。この場合に、点Ｐｎ−１の座標値
は、先行するサンプリングによる測定データをＲＡＭ１
３などに格納しておく。これら２つの表面ベクトルＳ１
，Ｓ２を次式、Ｎｎ＝Ｓ１×Ｓ２（但し、Ｎｎ，Ｓ１，
Ｓ２はベクトルを表す）によって表面ベクトルＳ１とＳ
２の外積を演算し、点Ｐｎにおける法線ベクトルＮｎを
求めることができる。ここでは、モデル６の法線ベクト
ルＮｎのＺ軸方向成分（ＮＺ）は、通常ＮＺ≧０である
と想定されている。非接触デジタイジングのためのモデ
ル形状には、モデル面がオーバーハングしている部分は
なく、ＮＺが負になる領域ではならいを行わないからで
ある。
【００２４】次に、法線ベクトルＮｎをＸ−Ｙ平面上に
投影した射影ベクトルＮのＸ軸となす角度θｃを次式、
θｃ＝ｔａｎ−１（Ｊｎ／Ｉｎ） 但し、Ｉｎ：ベクトルＮｎのＸ成分 Ｊｎ：ベクトルＮｎのＹ成分 で求め、この角度θｃをＣ軸の指令値として出力する。
投影した射影ベクトルＮのＸ軸となす角度θｃを次式、
θｃ＝ｔａｎ−１（Ｊｎ／Ｉｎ） 但し、Ｉｎ：ベクトルＮｎのＸ成分 Ｊｎ：ベクトルＮｎのＹ成分 で求め、この角度θｃをＣ軸の指令値として出力する。
【００２５】この角度θｃはモデル６の傾斜に対応して
変化し、例えば点Ｐｑでは別の角度θｃｑとなる。トレ
ーサヘッド４はこうした角度θｃ、θｃｑの変化に応じ
て回転する。図４は測定点での正反対の向きの２つの法
線ベクトルを示す。測定点ｐ，ａ，ｂから２つの表面ベ
クトルＳ１，Ｓ２を決定し、それら表面ベクトルＳ１，
Ｓ２の外積を計算して法線ベクトルＮ１，Ｎ２が算出さ
れる。すなわち、法線ベクトルを算出する際に、表面ベ
クトルＳ１，Ｓ２を掛ける順番が固定されていなければ
、それらを掛ける順番が入れ替わった時に、全く正反対
の向きで２つの法線ベクトルＮ１，Ｎ２が求まる。
変化し、例えば点Ｐｑでは別の角度θｃｑとなる。トレ
ーサヘッド４はこうした角度θｃ、θｃｑの変化に応じ
て回転する。図４は測定点での正反対の向きの２つの法
線ベクトルを示す。測定点ｐ，ａ，ｂから２つの表面ベ
クトルＳ１，Ｓ２を決定し、それら表面ベクトルＳ１，
Ｓ２の外積を計算して法線ベクトルＮ１，Ｎ２が算出さ
れる。すなわち、法線ベクトルを算出する際に、表面ベ
クトルＳ１，Ｓ２を掛ける順番が固定されていなければ
、それらを掛ける順番が入れ替わった時に、全く正反対
の向きで２つの法線ベクトルＮ１，Ｎ２が求まる。
【００２６】したがってモデル面の法線ベクトルとして
相応しくない方、図４ではベクトルＮ２が選択されると
、トレーサヘッド４の回転により、かえってモデル６の
傾斜に対応しなくなる。図５は、モデル６面が垂直に近
づいて、測定点ｐにおける法線ベクトルのＺ軸方向成分
の値ＮＺが負になるような場合を説明する図である。
相応しくない方、図４ではベクトルＮ２が選択されると
、トレーサヘッド４の回転により、かえってモデル６の
傾斜に対応しなくなる。図５は、モデル６面が垂直に近
づいて、測定点ｐにおける法線ベクトルのＺ軸方向成分
の値ＮＺが負になるような場合を説明する図である。
【００２７】ここではモデル６の垂直面６１は、オーバ
ーハングしていない場合だけが想定されており、したが
って垂直面６１はモデル設置面６２と角α（≦９０°）
をなしている。そこで、トレーサヘッドの測定軸の軸ベ
クトル、即ち測定光が照射される測定点ｐを始点とする
単位軸ベクトルＡを想定するまでもなく、２つの法線ベ
クトルＮ１，Ｎ２のうち、外積演算によって求められる
べきベクトルは、ベクトルＮ１である。この法線ベクト
ルＮ１のＺ軸方向成分（ＮＺ１）は、通常ＮＺ１≧０で
ある。
ーハングしていない場合だけが想定されており、したが
って垂直面６１はモデル設置面６２と角α（≦９０°）
をなしている。そこで、トレーサヘッドの測定軸の軸ベ
クトル、即ち測定光が照射される測定点ｐを始点とする
単位軸ベクトルＡを想定するまでもなく、２つの法線ベ
クトルＮ１，Ｎ２のうち、外積演算によって求められる
べきベクトルは、ベクトルＮ１である。この法線ベクト
ルＮ１のＺ軸方向成分（ＮＺ１）は、通常ＮＺ１≧０で
ある。
【００２８】法線ベクトルを算出する際に、表面ベクト
ルを掛ける順番が入れ替わっても、正しい向きの法線ベ
クトルを選択するには、通常は法線ベクトルのＺ軸方向
成分（ＮＺ）がＮＺ≧０となる方を選択することで正し
い法線ベクトルが選択でき、モデル面に対して最適な方
向にて、トレーサヘッドの測定軸を回転制御できる。と
ころが、このような垂直面６１あるいは垂直面に近いモ
デル形状についてのならいを行っている場合に、法線ベ
クトルＮ１のＺ軸方向成分（ＮＺ１）が負になり、他方
の法線ベクトルＮ２のＺ軸方向成分（ＮＺ２）が正で求
まるときがある。本発明の非接触デジタイジング方法で
は、測定光が照射される測定点ｐを始点とする単位軸ベ
クトルＡと単位法線ベクトルＮについての各軸成分（Ａ
Ｘ，ＡＹ，ＡＺ）及び（ＮＸ，ＮＹ，ＮＺ）が、ＡＸ×
ＮＸ＋ＡＹ×ＮＹ＋ＡＺ×ＮＺ≧０を満たすか否かによ
って、２つの法線ベクトルＮ１，Ｎ２のうちの一方を選
択する。上記式の左辺は、内積の定理から単位軸ベクト
ルＡと単位法線ベクトルＮとのなす角度θの余弦（ｃｏ
ｓｉｎｅ）に等しい。したがって、この式が成立しない
場合には、 ｃｏｓθの値が負になり、角度θが９０°
より大きくなっていることを意味するからである。
ルを掛ける順番が入れ替わっても、正しい向きの法線ベ
クトルを選択するには、通常は法線ベクトルのＺ軸方向
成分（ＮＺ）がＮＺ≧０となる方を選択することで正し
い法線ベクトルが選択でき、モデル面に対して最適な方
向にて、トレーサヘッドの測定軸を回転制御できる。と
ころが、このような垂直面６１あるいは垂直面に近いモ
デル形状についてのならいを行っている場合に、法線ベ
クトルＮ１のＺ軸方向成分（ＮＺ１）が負になり、他方
の法線ベクトルＮ２のＺ軸方向成分（ＮＺ２）が正で求
まるときがある。本発明の非接触デジタイジング方法で
は、測定光が照射される測定点ｐを始点とする単位軸ベ
クトルＡと単位法線ベクトルＮについての各軸成分（Ａ
Ｘ，ＡＹ，ＡＺ）及び（ＮＸ，ＮＹ，ＮＺ）が、ＡＸ×
ＮＸ＋ＡＹ×ＮＹ＋ＡＺ×ＮＺ≧０を満たすか否かによ
って、２つの法線ベクトルＮ１，Ｎ２のうちの一方を選
択する。上記式の左辺は、内積の定理から単位軸ベクト
ルＡと単位法線ベクトルＮとのなす角度θの余弦（ｃｏ
ｓｉｎｅ）に等しい。したがって、この式が成立しない
場合には、 ｃｏｓθの値が負になり、角度θが９０°
より大きくなっていることを意味するからである。
【００２９】すなわち、角度θが９０°より大きい法線
ベクトルＮ２が選択されると、図５から明らかなように
トレーサヘッド４はモデル６の垂直面６１の裏側から測
定点を決定しようとして、回転方向が決定され、そのま
ま回転制御されると測定軸が１８０°回転し、測定が不
可能になったり、モデル面と干渉を起こす可能性が生じ
る。
ベクトルＮ２が選択されると、図５から明らかなように
トレーサヘッド４はモデル６の垂直面６１の裏側から測
定点を決定しようとして、回転方向が決定され、そのま
ま回転制御されると測定軸が１８０°回転し、測定が不
可能になったり、モデル面と干渉を起こす可能性が生じ
る。
【００３０】図６は回転角度の算出時のフローチャート
である。図において、ＳＰに続く数値はステップ番号を
示す。〔ＳＰ１〕所定時間毎に距離検出器５ａ，５ｂの
測定値をサンプリングする。〔ＳＰ２〕それぞれの距離
検出器の今回の測定値からベクトルＳ１を求める。〔Ｓ
Ｐ３〕距離検出器５ａの今回の測定値と前回の測定値か
らベクトルＳ２を求める。〔ＳＰ４〕ベクトルＳ１とベ
クトルＳ２の外積を演算し、測定点を始点とする軸ベク
トルと測定点における法線ベクトルとのなす角度が９０
°を越えない範囲で法線ベクトルＮの方向を決定する。 〔ＳＰ５〕決定した法線ベクトルＮをＸ−Ｙ平面に投影
した射影のＸ軸となす角度θｃを算出する。
である。図において、ＳＰに続く数値はステップ番号を
示す。〔ＳＰ１〕所定時間毎に距離検出器５ａ，５ｂの
測定値をサンプリングする。〔ＳＰ２〕それぞれの距離
検出器の今回の測定値からベクトルＳ１を求める。〔Ｓ
Ｐ３〕距離検出器５ａの今回の測定値と前回の測定値か
らベクトルＳ２を求める。〔ＳＰ４〕ベクトルＳ１とベ
クトルＳ２の外積を演算し、測定点を始点とする軸ベク
トルと測定点における法線ベクトルとのなす角度が９０
°を越えない範囲で法線ベクトルＮの方向を決定する。 〔ＳＰ５〕決定した法線ベクトルＮをＸ−Ｙ平面に投影
した射影のＸ軸となす角度θｃを算出する。
【００３１】なお、上記の実施例では前回のサンプリン
グ時の一方の測定データと、今回のサンプリング時の２
点の検出点についての測定データに基づいて法線ベクト
ルを求めている。しかし、少なくとも前回と今回のサン
プリングによって得られたモデル面上の３点が特定され
れば、その内の１点を始点とする２本の表面ベクトルを
決定できる。
グ時の一方の測定データと、今回のサンプリング時の２
点の検出点についての測定データに基づいて法線ベクト
ルを求めている。しかし、少なくとも前回と今回のサン
プリングによって得られたモデル面上の３点が特定され
れば、その内の１点を始点とする２本の表面ベクトルを
決定できる。
【００３２】また、距離検出器には反射光量式の他に、
同じく光学式の三角測距式、あるいは渦電流式、超音波
式等の距離検出器も使用できる。更に、上記した実施例
ではトレーサヘッドの回転軸を制御軸に対して４５°の
角度で傾斜させたが、モデル形状に応じてこの角度を自
由に変更設定するようにしても良い。
同じく光学式の三角測距式、あるいは渦電流式、超音波
式等の距離検出器も使用できる。更に、上記した実施例
ではトレーサヘッドの回転軸を制御軸に対して４５°の
角度で傾斜させたが、モデル形状に応じてこの角度を自
由に変更設定するようにしても良い。
【００３３】なお、モデルを同時加工するならい機能を
持たず、モデル形状からのデータをＮＣテープなどに自
動的に出力する機能のみを持つデジタイジング制御装置
についても、本発明は同様に適用できることは言うまで
もない。
持たず、モデル形状からのデータをＮＣテープなどに自
動的に出力する機能のみを持つデジタイジング制御装置
についても、本発明は同様に適用できることは言うまで
もない。
【発明の効果】以上説明したように本発明では、垂直面
あるいは垂直面に近いモデル形状についてのならいを行
っている場合に、非接触距離検出機構の測定誤差や、演
算機構での計算誤差が発生しても、正しい法線ベクトル
が選択されるから、常にモデル面に対して最適な方向に
トレーサヘッドの測定軸を回転制御できる。これによっ
て、距離測定手段における測定精度が低下しないように
、距離測定手段の測定軸をモデル面に対して最も垂直に
近い方向に向けるように、トレーサヘッドの制御が安定
して行わるから、高精度の距離測定ができ、ならい精度
が向上する。したがって、本発明のデジタイジング制御
装置によれば、モデルにスポット光を当てて距離を検出
するスポット方式を利用して、高速に且つ低コストで、
効率良くならいデータを得ることができる。
あるいは垂直面に近いモデル形状についてのならいを行
っている場合に、非接触距離検出機構の測定誤差や、演
算機構での計算誤差が発生しても、正しい法線ベクトル
が選択されるから、常にモデル面に対して最適な方向に
トレーサヘッドの測定軸を回転制御できる。これによっ
て、距離測定手段における測定精度が低下しないように
、距離測定手段の測定軸をモデル面に対して最も垂直に
近い方向に向けるように、トレーサヘッドの制御が安定
して行わるから、高精度の距離測定ができ、ならい精度
が向上する。したがって、本発明のデジタイジング制御
装置によれば、モデルにスポット光を当てて距離を検出
するスポット方式を利用して、高速に且つ低コストで、
効率良くならいデータを得ることができる。
【図１】非接触のデジタイジング制御装置の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】トレーサヘッドの詳細を示す図である。
【図３】トレーサヘッドの回転制御を示す説明図である
。
。
【図４】測定点での正反対の向きの２つの法線ベクトル
を示す図である。
を示す図である。
【図５】法線ベクトルのＺ軸方向成分の値ＮＺが負にな
る場合を説明する図である。
る場合を説明する図である。
【図６】回転角度の算出時のフローチャートである。
１ デジタイジング制御装置
３ ならい工作機械
４ トレーサヘッド
４ａ，４ｂ 測定軸
６ モデル
Claims (3)
- 【請求項１】 ３次元的なモデル形状を非接触でなら
いながら、モデル形状についてのならいデータを生成す
る非接触デジタイジング方法において、傾斜する測定軸
が回動制御されるトレーサヘッドによって、前記モデル
面上の複数の測定点までの距離を測定して、少なくとも
３つの測定された距離に基づいて２つの表面ベクトルを
決定するステップと、前記トレーサヘッドの測定軸の前
記測定点を始点とする軸ベクトルと前記測定点における
法線ベクトルとのなす角度が９０°を越えない範囲で、
前記表面ベクトルの外積から法線ベクトルの方向を決定
するステップと、前記法線ベクトルの前記モデルの設置
面への射影に基づいて前記トレーサヘッドの測定軸を回
転制御して、前記ならいデータを逐次に生成するステッ
プと、を有することを特徴とする非接触デジタイジング
方法。 - 【請求項２】 前記表面ベクトルを決定するステップ
では、３つの測定された距離に基づいて前記モデル面上
の異なる３点の座標値を求め、前記３点の座標値の一点
より他の二点へそれぞれ向かう第１及び第２の平面ベク
トルを求めることを特徴とする請求項１に記載の非接触
デジタイジング方法。 - 【請求項３】 前記法線ベクトルの方向を決定するス
テップでは、前記測定点を始点とする単位軸ベクトルと
単位法線ベクトルについての各軸成分（ＡＸ，ＡＹ，Ａ
Ｚ）及び（ＮＸ，ＮＹ，ＮＺ）が、 ＡＸ×ＮＸ＋ＡＹ×ＮＹ＋ＡＺ×ＮＺ≧０を満たすか否
かによって、前記法線ベクトルの方向を判定することを
特徴とする請求項１に記載の非接触デジタイジング方法
。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3014672A JPH04241603A (ja) | 1991-01-14 | 1991-01-14 | 非接触デジタイジング方法 |
| KR1019920702183A KR950008801B1 (ko) | 1991-01-14 | 1991-12-25 | 비접촉 디지타이징 방법 |
| DE69120060T DE69120060T2 (de) | 1991-01-14 | 1991-12-25 | Kontaktloses digitalisierungsverfahren |
| EP92901946A EP0520075B1 (en) | 1991-01-14 | 1991-12-25 | Non-contact digitizing method |
| PCT/JP1991/001764 WO1992011974A1 (en) | 1991-01-14 | 1991-12-25 | Non-contact digitizing method |
| US07/920,319 US5327351A (en) | 1991-01-14 | 1991-12-25 | Non-contact digitizing method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3014672A JPH04241603A (ja) | 1991-01-14 | 1991-01-14 | 非接触デジタイジング方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04241603A true JPH04241603A (ja) | 1992-08-28 |
Family
ID=11867714
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3014672A Pending JPH04241603A (ja) | 1991-01-14 | 1991-01-14 | 非接触デジタイジング方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5327351A (ja) |
| EP (1) | EP0520075B1 (ja) |
| JP (1) | JPH04241603A (ja) |
| KR (1) | KR950008801B1 (ja) |
| DE (1) | DE69120060T2 (ja) |
| WO (1) | WO1992011974A1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007278882A (ja) * | 2006-04-07 | 2007-10-25 | Nippon Soken Inc | 計測装置 |
| WO2013121595A1 (ja) * | 2012-02-15 | 2013-08-22 | 三菱重工業株式会社 | 法線検出方法、法線検出装置および法線検出機能を備えた加工機 |
| US20130226513A1 (en) * | 2012-02-29 | 2013-08-29 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Normal-line detection method, normal-line detection device, and machine tool having normal-line detection function |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04256554A (ja) * | 1991-02-06 | 1992-09-11 | Fanuc Ltd | 非接触デジタイジング制御装置 |
| US5475613A (en) * | 1991-04-19 | 1995-12-12 | Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha | Ultrasonic defect testing method and apparatus |
| US6215269B1 (en) * | 1996-05-21 | 2001-04-10 | Kent Gregg | Method of exposing a path on a curved, or otherwise irregularly shaped, surface |
| US7147338B2 (en) | 2001-04-09 | 2006-12-12 | Kent Gregg | Circuit on a curved, or otherwise irregularly shaped, surface, such as on a helmet to be worn on the head, including a fiber optic conductive path |
| US7245982B2 (en) * | 2002-10-11 | 2007-07-17 | Fidia S.P.A. | System and process for measuring, compensating and testing numerically controlled machine tool heads and/or tables |
| CN109379511B (zh) * | 2018-12-10 | 2020-06-23 | 盎锐（上海）信息科技有限公司 | 3d数据安全加密算法及装置 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA1171494A (en) * | 1981-03-31 | 1984-07-24 | John L. Henderson | Pattern tracer using digital logic |
| JPS61274852A (ja) * | 1985-05-28 | 1986-12-05 | Agency Of Ind Science & Technol | 非接触曲面ならいセンサ |
| JPS63214810A (ja) * | 1987-03-03 | 1988-09-07 | Fanuc Ltd | デジタイジング方法 |
| JPS6410237A (en) * | 1987-07-02 | 1989-01-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Pattern forming material |
| JP2542631B2 (ja) * | 1987-09-02 | 1996-10-09 | ファナック株式会社 | 非接触ならい方法 |
| JPH01109057A (ja) * | 1987-10-23 | 1989-04-26 | Fanuc Ltd | デジタイジング方法 |
| IT212380Z2 (it) * | 1987-10-26 | 1989-07-04 | Advanced Data Processing | Macchina per il rilevamento e la matematizzazione della superficie di modelli tridimensionali partico larmente per la costruzione di stampi con macchine utensili a controllo numerico |
| FR2629198B1 (fr) * | 1988-03-25 | 1994-07-08 | Kreon Ingenierie Marketing | Procede de determination et de reconstitution des coordonnees spatiales de chacun des points d'un ensemble de points echantillonnant une surface tridimensionnelle, et procede de realisation d'une image tridimensionnelle de cette surface a partir desdites coordonnees |
| GB8809160D0 (en) * | 1988-04-19 | 1988-05-25 | Renishaw Plc | Co-ordinate measuring machine |
| JPH033760A (ja) * | 1989-05-30 | 1991-01-09 | Fanuc Ltd | デジタイジング制御装置 |
| JP2810709B2 (ja) * | 1989-07-27 | 1998-10-15 | ファナック 株式会社 | 非接触ならい制御装置 |
| JPH03121754A (ja) * | 1989-10-04 | 1991-05-23 | Fanuc Ltd | 非接触ならい制御装置 |
-
1991
- 1991-01-14 JP JP3014672A patent/JPH04241603A/ja active Pending
- 1991-12-25 US US07/920,319 patent/US5327351A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-12-25 KR KR1019920702183A patent/KR950008801B1/ko active IP Right Grant
- 1991-12-25 EP EP92901946A patent/EP0520075B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-12-25 WO PCT/JP1991/001764 patent/WO1992011974A1/ja active IP Right Grant
- 1991-12-25 DE DE69120060T patent/DE69120060T2/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007278882A (ja) * | 2006-04-07 | 2007-10-25 | Nippon Soken Inc | 計測装置 |
| WO2013121595A1 (ja) * | 2012-02-15 | 2013-08-22 | 三菱重工業株式会社 | 法線検出方法、法線検出装置および法線検出機能を備えた加工機 |
| JP2013167508A (ja) * | 2012-02-15 | 2013-08-29 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 法線検出方法、法線検出装置および法線検出機能を備えた加工機 |
| EP2827098A4 (en) * | 2012-02-15 | 2015-12-30 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | NORMAL DETECTION METHOD, NORMAL DETECTION DEVICE AND MACHINING MACHINE WITH NORMAL DETECTION FUNCTION |
| US10132624B2 (en) | 2012-02-15 | 2018-11-20 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Normal detection method, normal detection device, and machining machine provided with normal detection function |
| US20130226513A1 (en) * | 2012-02-29 | 2013-08-29 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Normal-line detection method, normal-line detection device, and machine tool having normal-line detection function |
| JP2013181758A (ja) * | 2012-02-29 | 2013-09-12 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 法線検出方法、法線検出装置および法線検出機能を備えた加工機 |
| US9619433B2 (en) * | 2012-02-29 | 2017-04-11 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Normal-line detection method, normal-line detection device, and machine tool having normal-line detection function |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5327351A (en) | 1994-07-05 |
| EP0520075A1 (en) | 1992-12-30 |
| DE69120060T2 (de) | 1996-10-02 |
| KR930700256A (ko) | 1993-03-13 |
| KR950008801B1 (ko) | 1995-08-08 |
| EP0520075A4 (en) | 1993-03-03 |
| EP0520075B1 (en) | 1996-06-05 |
| WO1992011974A1 (en) | 1992-07-23 |
| DE69120060D1 (de) | 1996-07-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2810709B2 (ja) | 非接触ならい制御装置 | |
| EP0458983A1 (en) | Noncontact profile controller | |
| JPH04241603A (ja) | 非接触デジタイジング方法 | |
| US5343402A (en) | Non-contact digitizing control unit | |
| EP0446370B1 (en) | Non-contact profile control apparatus | |
| JPH04189452A (ja) | デジタイジング制御装置 | |
| US5266811A (en) | Digitizing control equipment utilizing normal vector calculations and a position sensor | |
| US5345687A (en) | Noncontact tracing control device | |
| US5274563A (en) | Noncontact tracing control system | |
| WO1993002832A1 (en) | Method of non-contact copy control | |
| US5550330A (en) | Digitizing control apparatus | |
| EP0563407B1 (en) | Digitizing controller | |
| JPH0663850A (ja) | 非接触ならい制御方法 |