JP7458760B2 - 加工装置 - Google Patents

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Description

本発明は、搬送施設でカセットが搬送される加工装置に関する。
半導体デバイス工場など、複数の工程の複数の加工装置によって加工される被加工物を搬送車(天井搬送車)で搬送して工程を進める施設が知られている(例えば、特許文献1参照)。搬送車は、天井に設けられたレールに沿って移動し、被加工物が複数収容されたカセットを各加工装置の直上まで搬送し、各加工装置のカセット載置領域にカセットを下降させて被加工物を加工装置に投入する。
特開2007-314331号公報
前述した特許文献1に示された施設は、搬送中のカセットの開口が露出している場合、何らかの原因んで昇降中の傾いたカセットから被加工物が滑って、カセットから脱落してしまう恐れがある。
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、カセットの昇降の被加工物の脱落を抑制することができる加工装置を提供することである。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の加工装置は、被加工物を収容するカセットを天井側に設置された搬送通路を走行する搬送車が搬送し、該カセットを昇降させて各加工装置に該カセットを載置し被加工物を搬送する搬送システムを備える施設に配置される加工装置であって、被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を加工する加工ユニットと、該カセットが載置されるカセット載置領域と、該カセット載置領域に載置された該カセットと該チャックテーブルとの間で被加工物を搬送する搬送ユニットと、該チャックテーブルと該加工ユニットと該カセット載置領域と該搬送ユニットの周囲を囲む複数の側壁の上端に連なる天井壁と、該カセット載置領域の直上の空間で、該カセットが昇降する経路を外部の空間から仕切る囲い壁と、を備え、該囲い壁の高さは、該加工装置の天井以上で、走行する該搬送車が保持する該カセットに干渉しない高さであり、該囲い壁は、該カセット載置領域の直上の位置に設けられ、かつ該天井壁を貫通して該カセットを出し入れ自在とする天井開口の内縁から立設した立設筒を備えていることを特徴とする。
前記加工装置において、該囲い壁は、仕切られた空間にオペレータが侵入するのを許容する開閉扉を備えても良い。
本願発明は、カセットの昇降の被加工物の脱落を抑制することができるという効果を奏する。
図1は、実施形態1に係る加工装置が設置される工場施設の一部の構成を示す側面図である。 図2は、図1に示された工場施設の搬送システムが搬送するカセットの一例を示す斜視図である。 図3は、実施形態1に係る加工装置の構成例を示す斜視図である。 図4は、図3に示された加工装置のカセット載置領域の直上にカセットが位置付けられた状態を示す側面図である。 図5は、図4に示されたカセットが昇降される状態を示す側面図である。 図6は、図2に示されたカセットの変形例を示す斜視図である。
本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。
〔実施形態1〕
本発明の実施形態1に係る加工装置を図面に基づいて説明する。図1は、実施形態1に係る加工装置が設置される工場施設の一部の構成を示す側面図である。図2は、図1に示された工場施設の搬送システムが搬送するカセットの一例を示す斜視図である。図3は、実施形態1に係る加工装置の構成例を示す斜視図である。図4は、図3に示された加工装置のカセット載置領域の直上にカセットが位置付けられた状態を示す側面図である。図5は、図4に示されたカセットが昇降される状態を示す側面図である。
実施形態1に係る加工装置1は、図1に示す施設である工場施設100に設置される。工場施設100は、図1に示すように、被加工物200(図2に示す)を加工する加工装置1と、加工装置1間等で被加工物200を搬送する搬送システム101とを備えている。なお、図1に示された工場施設100の加工対象の被加工物200は、図2に示すように、シリコン、サファイア、又はガリウムヒ素などを基板とする円板状の半導体ウェーハや光デバイスウェーハ等のウェーハである。被加工物200は、表面201に格子状に形成された複数の分割予定ライン202によって格子状に区画された領域にデバイス203が形成されている。デバイス203は、例えば、IC(Integrated Circuit)、又はLSI(Large Scale Integration)等の集積回路、CCD(Charge Coupled Device)、又はCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等のイメージセンサである。
また、本発明の被加工物200は、中央部が薄化され、外周部に厚肉部が形成された所謂TAIKO(登録商標)ウェーハでもよく、ウェーハの他に、樹脂により封止されたデバイスを複数有した矩形状のQFN(Quad Flat No leaded)パッケージ基板等の樹脂パッケージ基板、セラミックス基板、フェライト基板、又はニッケル及び鉄の少なくとも一方を含む基板、ガラス基板等でも良い。
実施形態1において、被加工物200は、被加工物200の外径よりも大径な円板状でかつ外縁部に環状フレーム206が貼着された粘着テープ207が表面201の裏側の裏面204に貼着されて、環状フレーム206に支持される。実施形態1において、被加工物200は、環状フレーム206に支持されて、カセット50内に複数収容される。
カセット50は、被加工物200を複数枚収容する収容容器であって、実施形態1では、被加工物200を水平方向に沿って出し入れ自在とする開口51を備えている。カセット50は、複数枚の被加工物200を鉛直方向に間隔をあけて収容する。実施形態1において、カセット50は、環状フレーム206に支持された被加工物200を複数枚収容する所謂フレームカセットである。
実施形態1において、工場施設100は、ウェーハである被加工物200を加工する所謂半導体デバイス工場である。工場施設100は、加工装置1を床面107上等に複数設置する。なお、実施形態1において、図1に示す加工装置1は、被加工物200を切削加工する切削装置であるが、本発明では、切削装置に限定されることなく、被加工物200に各種の加工を施す装置であればよく、例えば、被加工物200をレーザー加工するレーザー加工装置、被加工物200を研削加工する研削装置、被加工物200を研磨加工する研磨装置でも良い。なお、図1は、加工装置1を一つのみ示し、他を省略している。
搬送システム101は、図1に示すように、自動搬送車であるOHT(Overhead Hoist Transfer:天井走行式無人搬送車)102を備えている。
OHT103は、工場施設100の天井104側に設置された搬送通路であるレール105に沿って走行自在であり、レール105に沿って走行することで、カセット50を搬送する。また、OHT103は、カセット50を吊り下げて保持する保持部106と、保持部106を昇降させる図示しない昇降ユニットを備えている。OHT103は、加工装置1の装置本体2上に設けられたカセット載置領域52に直上に位置付けられて、昇降ユニットが保持部106を昇降することでカセット50を加工装置1に搬入出し、昇降ユニットがカセット50を保持した保持部106を上昇させた位置で停止させて、レール105に沿って走行することで、加工装置1間でカセット50を搬送する。
こうして、搬送システム101は、カセット50をレール105を走行するOHT103が搬送し、昇降ユニットによりカセット50を昇降させて各加工装置1にカセット50を載置し被加工物200を搬送するものである。また、実施形態1において、カセット50は、搬送システム101による搬送中も開口51が露出した非FOUP(Front Opening Unify Pod)タイプのカセットである。
図3に示された加工装置1は、被加工物200をチャックテーブル10で保持し分割予定ライン202に沿って切削ブレード21で切削(加工に相当)する切削装置である。加工装置1は、図1に示すように、被加工物200を保持面11で吸引保持するチャックテーブル10と、チャックテーブル10に保持された被加工物200を切削ブレード21で切削する加工ユニットである切削ユニット20と、チャックテーブル10に保持された被加工物200を撮影する撮像ユニット30と、制御ユニット90とを備える。
また、加工装置1は、図1に示すように、チャックテーブル10と切削ユニット20とを相対的に移動させる移動ユニット40を備える。移動ユニット40は、チャックテーブル10を水平方向及び装置本体2の短手方向と平行なX軸方向に加工送りするX軸移動ユニット41と、切削ユニット20を水平方向及び装置本体2の長手方向と平行でかつX軸方向に直交するY軸方向に割り出し送りする図示しないY軸移動ユニットと、切削ユニット20をX軸方向とY軸方向との双方と直交する鉛直方向に平行なZ軸方向に切り込み送りするZ軸移動ユニット43と、チャックテーブル10をZ軸方向と平行な軸心回りに回転するとともにX軸移動ユニット41によりチャックテーブル10とともにX軸方向に加工送りされる回転移動ユニット44とを備える。加工装置1は、図1に示すように、切削ユニット20を2つ備えた、即ち、2スピンドルのダイサ、いわゆるフェイシングデュアルタイプの切削装置である。
X軸移動ユニット41は、チャックテーブル10を加工送り方向であるX軸方向に移動させることで、チャックテーブル10と切削ユニット20とを相対的にX軸方向に沿って加工送りするものである。X軸移動ユニット41は、チャックテーブル10を被加工物200が搬入出される搬入出領域と、チャックテーブル10に保持された被加工物200が切削ユニット20により切削される加工領域とに亘ってX軸方向に移動させる。
Y軸移動ユニットは、切削ユニット20を割り出し送り方向であるY軸方向に移動させることで、チャックテーブル10と切削ユニット20とを相対的にY軸方向に沿って割り出し送りするものである。Z軸移動ユニット43は、切削ユニット20を切り込み送り方向であるZ軸方向に移動させることで、チャックテーブル10と切削ユニット20とを相対的にZ軸方向に沿って切り込み送りするものである。
X軸移動ユニット41、Y軸移動ユニット及びZ軸移動ユニット43は、軸心回りに回転自在に設けられた周知のボールねじ、ボールねじを軸心回りに回転させる周知のモータ及びチャックテーブル10又は切削ユニット20をX軸方向、Y軸方向又はZ軸方向に移動自在に支持する周知のガイドレールを備える。
チャックテーブル10は、円盤形状であり、被加工物200を保持する保持面11がポーラスセラミック等から形成されている。また、チャックテーブル10は、X軸移動ユニット41により搬入出領域と加工領域とに亘ってX軸方向に移動自在に設けられ、かつ回転移動ユニット44によりZ軸方向と平行な軸心回りに回転自在に設けられている。チャックテーブル10は、図示しない真空吸引源と接続され、真空吸引源により吸引されることで、保持面11に載置された被加工物200を吸引、保持する。実施形態1では、チャックテーブル10は、粘着テープ207を介して被加工物200の裏面204側を吸引、保持する。また、チャックテーブル10の周囲には、図1に示すように、環状フレーム206をクランプするクランプ部12が複数設けられている。
切削ユニット20は、チャックテーブル10に保持された被加工物200を切削する切削ブレード21を着脱自在に装着した切削手段である。切削ユニット20は、それぞれ、チャックテーブル10に保持された被加工物200に対して、Y軸移動ユニットによりY軸方向に移動自在に設けられ、かつ、Z軸移動ユニット43によりZ軸方向に移動自在に設けられている。切削ユニット20は、それぞれ、図1に示すように、Y軸移動ユニット、Z軸移動ユニット43などを介して、装置本体2から立設した門型の支持フレーム3に支持されている。
切削ユニット20は、図2及び図3に示すように、切削ブレード21と、Y軸移動ユニット及びZ軸移動ユニット43によりY軸方向及びZ軸方向に移動自在に設けられたスピンドルハウジング22と、スピンドルハウジング22に軸心回りに回転可能に設けられかつ図示しないモータにより回転されるとともに先端に切削ブレード21が装着されるスピンドル23とを備える。
切削ブレード21は、略リング形状を有する極薄の切削砥石である。実施形態1において、切削ブレード21は、円環状の円形基台と、円形基台の外周縁に配設されて被加工物200を切削する円環状の切り刃とを備える所謂ハブブレードである。切り刃212は、ダイヤモンドやCBN(Cubic Boron Nitride)等の砥粒と、金属や樹脂等のボンド材(結合材)とからなり所定厚みに形成されている。なお、本発明では、切削ブレード21は、切り刃のみで構成された所謂ワッシャーブレードでもよい。切削ブレード21は、スピンドル23がモータにより軸心回りに回転することで、回転される。なお、切削ユニット20の切削ブレード21及びスピンドル23の軸心は、Y軸方向と平行である。
撮像ユニット30は、切削ユニット20と一体的に移動するように、切削ユニット20に固定されている。撮像ユニット30は、チャックテーブル10に保持された切削前の被加工物200の分割すべき領域を撮影する撮像素子を備えている。撮像素子は、例えば、CCD(Charge-Coupled Device)撮像素子又はCMOS(Complementary MOS)撮像素子である。撮像ユニット30は、チャックテーブル10に保持された被加工物200を撮影して、被加工物200と切削ブレード21との位置合わせを行なうアライメントを遂行するため等の画像を得、得た画像を制御ユニット90に出力する。
また、加工装置1は、チャックテーブル10のX軸方向の位置を検出するため図示しないX軸方向位置検出ユニットと、切削ユニット20のY軸方向の位置を検出するための図示しないY軸方向位置検出ユニットと、切削ユニット20のZ軸方向の位置を検出するためのZ軸方向位置検出ユニットとを備える。X軸方向位置検出ユニット及びY軸方向位置検出ユニットは、X軸方向、又はY軸方向と平行なリニアスケールと、読み取りヘッドとにより構成することができる。Z軸方向位置検出ユニットは、モータのパルスで切削ユニット20のZ軸方向の位置を検出する。X軸方向位置検出ユニット、Y軸方向位置検出ユニット及びZ軸方向位置検出ユニットは、チャックテーブル10のX軸方向、切削ユニット20のY軸方向又はZ軸方向の位置を制御ユニット90に出力する。なお、実施形態1では、加工装置1の各構成要素のX軸方向、Y軸方向及びZ軸方向の位置は、予め定められた図示しない基準位置を基準とした位置で定められる。
また、加工装置1は、切削前後の被加工物200を収容するカセット50が載置されるカセット載置領域52と、切削後の被加工物200を洗浄する洗浄ユニット60と、搬送ユニット70と、を備える。
カセット載置領域52は、搬入出領域に位置付けられたチャックテーブル10のY軸方向の隣に配置されている。カセット載置領域52は、開口51を搬入出領域に位置付けられたチャックテーブル10に対向させる向きでカセット50が載置される。カセット載置領域52は、装置本体2内に設けられたカセットエレベータによりZ軸方向に沿って昇降移動させる。カセットエレベータは、カセット載置領域52に載置されたカセット50をZ軸方向に沿って昇降移動させる。
洗浄ユニット60は、搬入出領域に位置付けられたチャックテーブル10のY軸方向の隣りでかつカセット載置領域52との間に搬入出領域のチャックテーブル10を位置付ける位置に配置されている。
搬送ユニット70は、カセット載置領域52に載置されたカセット50と搬入出領域に位置付けられたチャックテーブル10との間で被加工物200を搬送するものである。搬送ユニット70は、装置本体2から立設した第2支持フレーム4によりY軸方向に移動自在でかつZ軸方向に昇降自在に支持されている。実施形態1では、搬送ユニット70は、2つ設けられている。実施形態1では、搬送ユニット70は、カセット50から被加工物200を1枚取り出してチャックテーブル10に搬送する。搬送ユニット70は、切削加工後の被加工物200をチャックテーブル10から洗浄ユニット60に搬送し、洗浄後の被加工物200をカセット50内に収容する。
また、加工装置1は、装置本体2の外縁から立設し、かつチャックテーブル10、切削ユニット20、撮像ユニット30、移動ユニット40、カセット載置領域52、洗浄ユニット60及び搬送ユニット70の周囲を囲む複数の側壁80と、複数の側壁80の上端に連なる天井壁81とを備える。
制御ユニット90は、加工装置1の上述した各ユニットをそれぞれ制御して、被加工物200に対する加工動作を加工装置1に実施させるものである。なお、制御ユニット90は、CPU(central processing unit)のようなマイクロプロセッサを有する演算処理装置と、ROM(read only memory)又はRAM(random access memory)のようなメモリを有する記憶装置と、入出力インターフェース装置とを有するコンピュータである。制御ユニット90の演算処理装置は、記憶装置に記憶されているコンピュータプログラムに従って演算処理装置が演算処理を実施して、加工装置1を制御するための制御信号を入出力インターフェース装置を介して加工装置1の上述した構成要素に出力する。
また、制御ユニット90は、加工動作の状態や画像などを表示する液晶表示装置などにより構成される表示ユニット91と、オペレータが加工内容情報などを登録する際に用いる入力ユニットとに接続されている。実施形態1において、表示ユニット91は、一つの側壁80の外表面に設置されている。入力ユニットは、表示ユニット91に設けられたタッチパネルと、キーボード等の外部入力装置とのうち少なくとも一つにより構成される。
また、加工装置1は、複数の囲い壁83(図3中に平行斜線で示す)を備える。囲い壁83は、カセット載置領域52の直上の空間でカセット50が昇降する経路84を加工装置1の壁80,81の外部の空間から仕切るものである。なお、経路84は、カセット載置領域52の上面から上方の空間であり、天井壁81を貫通した天井開口82の内側の空間を含む。
従来の加工装置は、天井壁81を貫通した天井開口82の周囲に囲い壁83がなかったために、昇降するカセット50から被加工物200が脱落するおそれがあったが、実施形態1に係る加工装置1は、天井壁81を貫通して囲われていなかった天井開口82の周囲に囲い壁83を形成したものである。なお、天井開口82は、天井壁81を貫通して被加工物200を収容したカセット50を出し入れ自在とし、平面形状がカセット50の平面形状よりも大きく形成され、天井壁81のカセット載置領域52の直上の位置に設けられている。
実施形態1では、囲い壁83は、複数の側壁80のうちカセット載置領域52のY軸方向及びX軸方向の隣りに位置する2つの側壁80の一部分801と、天井開口82の内縁から立設した立設筒821とで構成されている。側壁80の一部分801は、側壁80のうちカセット載置領域52の周囲から立設した部分である。立設筒85は、天井開口82の内縁から立設して、実施形態1では、四角筒状に形成されている。実施形態1において、側壁80の一部分801と立設筒85とは、面一に連なっている。また、立設筒85の上端の床面107からの高さ851は、図1に示すように、上方に位置付けられてレール105に沿って走行するOHT103の保持部106が保持したカセット50の下面53の床面107からの高さ531よりも低い。こうして、囲い壁83の高さ851は、加工装置1の天井壁81の高さ以上でかつ走行するOHT103が保持するカセット50に干渉しない(カセット50の下面53よりも低い)高さである。
また、囲い壁83は、開閉扉86を備える。実施形態1において、開閉扉86は、X軸方向の隣りに位置する2つの側壁80の一部分801のうち一方に設けられた開口802を開閉自在に側壁80に取り付けられている。実施形態1では、開閉扉86は、幅方向の一端がZ軸方向と平行な軸心回りに回転自在に側壁80に支持されている。開閉扉86は、幅方向の一端がZ軸方向と平行な軸心回りに回転することで、開口802を開閉する。OHT103の搬送時以外に、カセット50やカセット50に収容した被加工物200に対し作業を行う場合、開閉扉86は、開口802を開放すると、開口802を通して囲い壁83により仕切られた空間内にオペレータが侵入するのを許容するとともに、開口802を通してカセット載置領域52にカセット50を出し入れ自在とするものである。
前述した構成の加工装置1は、オペレータや加工装置1に接続された中央制御装置等が加工内容情報を制御ユニット90に登録し、被加工物200を収容したカセット50がカセット載置領域52に載置され、オペレータや加工装置1に接続された中央制御装置等からの加工動作の開始指示を制御ユニット90が受け付けると、加工動作を開始する。加工動作を開始すると、加工装置1は、スピンドル23を軸心回りに回転し、搬送ユニット70がカセット50内から被加工物200を一枚取り出して、チャックテーブル10の保持面11に粘着テープ207を介して裏面204側を載置する。
加工装置1は、粘着テープ207を介して被加工物200を保持面11に吸引保持し、クランプ部12で環状フレーム206を挟持する。加工装置1は、移動ユニット40によりチャックテーブル10を撮像ユニット30の下方まで移動し、撮像ユニット30によりチャックテーブル10に吸引保持した被加工物200を撮像して、アライメントを遂行する。
加工装置1は、加工内容情報に基づいて、移動ユニット40により、切削ブレード21と被加工物200とを分割予定ライン202に沿って相対的に移動させながら被加工物200の分割予定ライン202に切削ブレード21を粘着テープ207に到達するまで切り込ませて切削する。加工装置1は、被加工物200の全ての分割予定ライン202を切削すると、搬送ユニット70により被加工物200を洗浄ユニット60に搬送し、洗浄ユニット60で洗浄した後、搬送ユニット70によりカセット50内に搬入する。加工装置1は、カセット50内の被加工物200を1枚ずつ順に切削加工する。加工装置1は、カセット50内の全ての被加工物200を切削加工すると、加工動作を終了する。
また、加工装置1は、カセット載置領域52にカセット50が搬入されてくる際には、図4に示すように、OHT103により搬送されるカセット50がカセット載置領域52の直上に位置付けられる。加工装置1は、OHT103の昇降ユニットが図5に示すように保持部106を囲い壁83の内側を通して下降させることで、カセット載置領域52にカセット50が載置される。加工装置1は、OHT103の保持部106のカセット50の保持が解除された後、保持部106が上昇された後、前述した加工動作を開始する。また、加工装置1は、カセット50が搬出される際には、搬入されてくる際と逆動作により搬出される。
以上説明したように、実施形態1に係る加工装置1は、カセット50が昇降する経路84を外部の空間から仕切る囲い壁83を備えているので、経路84内で昇降するカセット50が囲い壁83により覆われることとなる。このために、加工装置1は、開口51内を通ってカセット50外に脱落しようとする被加工物200を囲い壁83が支えることとなる。その結果、加工装置1は、カセット50の昇降の被加工物200の脱落を抑制することができるという効果を奏する。
また、実施形態1に係る加工装置1は、囲い壁83の高さ851が加工装置1の天井壁81の高さ以上でかつ走行するOHT103が保持するカセット50の下面53の高さ531よりも低いので、OHT103によりカセット50が確実に搬入出される。
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。なお、本発明は、カセット50は、所謂フレームカセットに限定されることなく、図6に示すように、環状フレーム206に支持されることなく単体の被加工物200を複数枚収容するものでも良く、搬送中に被加工物200を密閉するFOUP(Front Opening Unify Pod)カセットでも良い。なお、図6は、図2に示されたカセットの変形例を示す斜視図である。図6は、実施形態1と同一部分に同一符号を付して説明を省略する。図6に示すカセット50は、所謂DBG(Dicing Before Grinding)カセット又はダブルスロットカセットである。
1 加工装置
10 チャックテーブル
20 切削ユニット(加工ユニット)
50 カセット
52 カセット載置領域
70 搬送ユニット
83 囲い壁
84 経路
86 開閉扉
851 高さ
100 工場施設(施設)
101 搬送システム
103 OHT(自動搬送車)
104 天井
105 レール(搬送通路)
200 被加工物

Claims (2)

  1. 被加工物を収容するカセットを天井側に設置された搬送通路を走行する搬送車が搬送し、該カセットを昇降させて各加工装置に該カセットを載置し被加工物を搬送する搬送システムを備える施設に配置される加工装置であって、
    被加工物を保持するチャックテーブルと、
    該チャックテーブルに保持された被加工物を加工する加工ユニットと、
    該カセットが載置されるカセット載置領域と、
    該カセット載置領域に載置された該カセットと該チャックテーブルとの間で被加工物を搬送する搬送ユニットと、
    該チャックテーブルと該加工ユニットと該カセット載置領域と該搬送ユニットの周囲を囲む複数の側壁の上端に連なる天井壁と、
    該カセット載置領域の直上の空間で、該カセットが昇降する経路を外部の空間から仕切る囲い壁と、を備え、
    該囲い壁の高さは、該加工装置の天井以上で、走行する該搬送車が保持する該カセットに干渉しない高さであり、
    該囲い壁は、該カセット載置領域の直上の位置に設けられ、かつ該天井壁を貫通して該カセットを出し入れ自在とする天井開口の内縁から立設した立設筒を備えている加工装置。
  2. 該囲い壁は、仕切られた空間にオペレータが侵入するのを許容する開閉扉を備える請求項1に記載の加工装置。
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