JP7200825B2 - 半導体装置 - Google Patents

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    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
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Description

本明細書が開示する技術は、半導体装置に関する。
特許文献1に、半導体装置が開示されている。この半導体装置は、積層配置された上側導電板、中間導電板及び下側導電板と、上側導電板と中間導電板との間に位置する第1半導体素子と、中間導電板と下側導電板との間に位置する第2半導体素子と、第1半導体素子及び第2半導体素子を封止するとともに、上側導電板、中間導電板及び下側導電板を一体に保持する封止体とを備える。
特開2016-36047号公報
上記した半導体装置では、第1半導体素子及び第2半導体素子のそれぞれが、通電によって発熱する。第1半導体素子及び第2半導体素子が発熱すると、それらに隣接する三つの導電板の温度も上昇して、各々の導電板には熱膨張が生じる。特に、第1半導体素子と第2半導体素子との間に位置する中間導電板は、上側導電板及び下側導電板よりも高温となりやすく、比較的に大きく熱膨張する傾向がある。このような不均一な熱膨張は、半導体装置内の歪を局所的に増大させることがあり、例えば半導体装置の耐久性を低下させるおそれがある。
本明細書は、三以上の導電板が積層された半導体装置において、中間導電板の温度上昇を抑制し得る技術を提供する。
本明細書が開示する半導体装置は、積層配置された上側導電板、中間導電板及び下側導電板と、上側導電板と中間導電板との間に位置しており、上側導電板と中間導電板とのそれぞれに電気的に接続された第1半導体素子と、中間導電板と下側導電板との間に位置しており、中間導電板と下側導電板とのそれぞれに電気的に接続された第2半導体素子と、第1半導体素子及び第2半導体素子を封止するとともに、上側導電板、中間導電板及び下側導電板を一体に保持する封止体とを備える。中間導電板は、封止体の内部で第1半導体素子及び第2半導体素子に接合された本体部と、封止体の表面から外部に露出された露出部を有している。中間導電板の露出部における厚みは、中間導電板の本体部における厚みと等しい、又はそれよりも大きい。
上記した半導体装置では、中間導電板が封止体の表面から外部に露出されているので、中間導電板の熱が外部へ放出されやすい。これにより、中間導電板の温度上昇を有意に抑制することができる。
実施例の半導体装置10の外観を示す。 図1中のII-II線における断面図を示す。 図1中のIII-III線における断面図を示す。 実施例の半導体装置10の回路構造を示す。 一変形例の半導体装置10Aの構成を模式的に示す断面図であって、図2に示す断面図に対応する。 一変形例の半導体装置10Bの構成を模式的に示す断面図であって、図2に示す断面図に対応する。 一変形例の半導体装置10Cの構成を模式的に示す断面図であって、図2に示す断面図に対応する。 一変形例の半導体装置10Dの構成を模式的に示す断面図であって、図2に示す断面図に対応する。 一変形例の半導体装置10Eの構成を模式的に示す断面図であって、図2に示す断面図に対応する。
本技術の一実施形態において、中間導電板の露出部における厚みは、中間導電板の本体部における厚みよりも大きくてもよい。このような構成によると、中間導電板の熱が外部へより放出されやすい。
本技術の一実施形態において、封止体は、上面と、その反対側に位置する下面とを有してもよい。この場合、上側導電板は、封止体の上面において外部に露出されており、下側導電板は、封止体の下面において外部に露出されていてもよい。このような構成によると、第1半導体素子及び第2半導体素子の熱が、上側導電板及び下側導電板を介して外部へ放出されやすい。
上記した実施形態において、封止体は、上面と下面との間に広がる側面を有してもよい。この場合、中間導電板の露出部は、封止体の側面において外部に露出されていてもよい。このような構成によると、中間導電板を封止体の表面へ容易に露出させることができる。
加えて、又は代えて、中間導電板の露出部は、封止体の上面と下面との少なくとも一方において外部に露出されていてもよい。このような構成によると、例えば半導体装置に冷却器を隣接配置することで、中間導電板を上側導電板及び/又は下側導電板と同時に冷却することができる。
図1-図4を参照して、実施例の半導体装置10を説明する。本実施例の半導体装置10は、例えば電気自動車の電力制御装置に採用され、コンバータやインバータといった電力変換回路の一部を構成することができる。なお、本明細書における電気自動車は、車輪を駆動するモータを有する自動車を広く意味し、例えば、外部の電力によって充電される電気自動車、モータに加えてエンジンを有するハイブリッド車、及び燃料電池を電源とする燃料電池車等を含む。
半導体装置10は、複数の半導体素子12、14と、複数の導電板16、18、20と、封止体30とを備える。封止体30は、複数の半導体素子12、14を封止するとともに、複数の導電板16、18、20を一体に保持している。封止体30は、絶縁性の材料で構成されている。特に限定されないが、本実施例における封止体30は、例えばエポキシ樹脂といった、封止用の樹脂材料で構成されている。
封止体30は、概して板形状を有しており、上面30a、下面30b、第1端面30c、第2端面30d、第1側面30e及び第2側面30fを有する。上面30aと下面30bは、互いに反対側に位置しており、第1端面30c、第2端面30d、第1側面30e及び第2側面30fの各々は、上面30aと下面30bとの間に広がっている。そして、第1端面30cと第2端面30dとが互いに反対側に位置し、第1側面30eと第2側面30fとが互いに反対側に位置する。
複数の半導体素子12、14は、第1半導体素子12と、第2半導体素子14とを含む。第1半導体素子12と第2半導体素子14は、パワー半導体素子であって、互いに同一の構造を有する。各々の半導体素子12、14は、半導体基板12a、14a、第1主電極12b、14b、第2主電極12c、14c及び複数の信号電極12d、14dを備える。半導体基板12a、14aは、特に限定されないが、シリコン基板、炭化シリコン基板又は窒化物半導体基板であってもよい。
第1主電極12b、14bは、半導体基板12a、14aの表面に位置しており、第2主電極12c、14cは、半導体基板12a、14aの裏面に位置している。第1主電極12b、14bと第2主電極12c、14cは、半導体基板12a、14aを介して互いに電気的に接続される。特に限定されないが、各々の半導体素子12、14は、スイッチング素子であり、第1主電極12b、14bと第2主電極12c、14cとの間を、選択的に導通及び遮断することができる。複数の信号電極12d、14dは、第1主電極12b、14bと同じく、半導体基板12a、14aの第1の表面に位置している。各々の信号電極12d、14dは、第1主電極12b、14b及び第2主電極12c、14cよりも十分に小さい。但し、半導体基板12a、14aの表面には、第1主電極12b、14bと複数の信号電極12d、14dとの両者が位置するので、第1主電極12b、14bの面積は、第2主電極12c、14cの面積よりも小さい。第1主電極12b、14b、第2主電極12c、14c及び信号電極12d、14dは、アルミニウム、ニッケル又は金といった、一又は複数種類の金属を用いて構成されることができる。
一例ではあるが、図4に示すように、本実施例における各々の半導体素子12、14は、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)とダイオードとが一体化されたRC(Reverse Conducting)-IGBTである。第1主電極12b、14bは、IGBTのエミッタ及びダイオードのアノードに接続されており、第2主電極12c、14cは、IGBTのコレクタ及びダイオードのカソードに接続されている。そして、複数の信号電極12d、14dの一つは、IGBTのゲートに接続されている。なお、他の実施形態として、第1半導体素子12及び/又は第2半導体素子14は、MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)であってもよい。この場合、第1主電極12b、14bは、MOSFETのソースに接続され、第2主電極12c、14cは、MOSFETのドレインに接続される。そして、複数の信号電極12d、14dの一つは、MOSFETのゲートに接続される。
複数の導電板16、18、20は、上側導電板16、中間導電板20及び下側導電板18を含む。各々の導電板16、20、18は、少なくとも部分的に導電性を有する板状の部材である。三つの導電板16、20、18は積層配置されており、それらの間に複数の半導体素子12、14が配置されている。即ち、第1半導体素子12は、上側導電板16と中間導電板20との間に位置しており、上側導電板16と中間導電板20とのそれぞれに電気的に接続されている。第2半導体素子14は、中間導電板20と下側導電板18との間に位置しており、中間導電板20と下側導電板18とのそれぞれに電気的に接続されている。なお、上側導電板16と中間導電板20との間には、二以上の第1半導体素子12が設けられてもよい。この場合、二以上の第1半導体素子12は、同じ種類(即ち、同じ構造)の半導体素子であってもよいし、互いに異なる種類(即ち、異なる構造)の半導体素子であってもよい。同様に、中間導電板20と下側導電板18との間には、二以上の同じ種類又は異なる種類の第2半導体素子14が設けられてもよい。
上側導電板16、中間導電板20及び下側導電板18は、導電性を有する板状部材であり、少なくとも一部が導体で構成されている。一例ではあるが、本実施例における各々の導電板16、20、18は、金属板であって、銅で構成されている。上側導電板16は、第1導体スペーサ13を介して、第1半導体素子12の第1主電極12bと電気的に接続されている。中間導電板20は、第1半導体素子12の第2主電極12cと電気的に接続されている。特に限定されないが、上側導電板16と第1導体スペーサ13との間、第1導体スペーサ13と第1半導体素子12の第1主電極12bとの間、及び、第1半導体素子12の第2主電極12cと中間導電板20との間は、導電性を有する接合層50、52、54(例えば、はんだ層)を介して互いに接合されている。
中間導電板20はさらに、第2導体スペーサ15を介して、第2半導体素子14の第1主電極14bとも電気的に接続されている。そして、下側導電板18は、第2半導体素子14の第2主電極14cと電気的に接続されている。特に限定されないが、中間導電板20と第2導体スペーサ15との間、第2導体スペーサ15と第2半導体素子14の第1主電極14bとの間、及び、第2半導体素子14の第2主電極14cと下側導電板18との間は、導電性を有する接合層60、62、64(例えば、はんだ層)を介して互いに接合されている。
上側導電板16は、封止体30の上面30aにおいて外部に露出されている。これにより、上側導電板16は、半導体装置10において電気回路の一部を構成するだけでなく、半導体素子12、14の熱を外部へ放出する放熱板としても機能する。同様に、下側導電板18は、封止体30の下面30bにおいて外部に露出されている。従って、下側導電板18もまた、半導体装置10において電気回路の一部を構成するだけでなく、半導体素子12、14の熱を外部へ放出する放熱板としても機能する。
加えて、本実施例の半導体装置10では、中間導電板20も封止体30の側面30e、30fにおいて外部に露出されており、放熱板として機能することができる。図2に示すように、中間導電板20は、封止体30の内部で第1半導体素子12及び第2半導体素子14に接合された本体部20aと、封止体30の側面30e、30fから外部に露出された露出部20bとを有する。そして、中間導電板20の露出部20bにおける厚みTbは、中間導電板20の本体部20aにおける厚みTaと等しいか、それよりも大きい。
半導体装置10は、複数の電力端子32、34、36と、複数の信号端子40、42とを備える。これらの端子32、34、36、40、42は、特に限定されないが、銅といった金属で構成されている。複数の電力端子32、34、36は、封止体30の第2端面30dから突出している。複数の信号端子40、42は、封止体30の第1端面30cから突出している。但し、これらの端子32、34、36、40、42の位置や形状といった具体的な構造は、特に限定されない。
複数の電力端子32、34、36には、第1電力端子32、第2電力端子34及び第3電力端子36が含まれる。第1電力端子32は、封止体30の内部において、上側導電板16と電気的に接続されている。これにより、第1半導体素子12の第1主電極12bは、上側導電板16を介して第1電力端子32と電気的に接続されている。特に限定されないが、第1電力端子32は、上側導電板16と一体に形成されてもよい。
第2電力端子34は、封止体30の内部において、中間導電板20と電気的に接続されている。これにより、第1半導体素子12の第2主電極12c、及び、第2半導体素子14の第1主電極12bは、中間導電板20を介して第2電力端子34と電気的に接続されている。特に限定されないが、第2電力端子34は、中間導電板20と一体に形成されてもよい。第3電力端子36は、封止体30の内部において、下側導電板18と電気的に接続されている。これにより、第2半導体素子14の第2主電極14cは、下側導電板18を介して第3電力端子36と電気的に接続されている。特に限定されないが、第3電力端子36は、下側導電板18と一体に形成されてもよい。
複数の信号端子40、42には、複数の第1信号端子40と複数の第2信号端子42が含まれる。複数の第1信号端子40は、封止体30の内部において、第1半導体素子12の複数の信号電極12dとそれぞれ電気的に接続されている。特に限定されないが、第1信号端子40と信号電極12dとの間は、導電性を有する接合層56(例えば、はんだ層)を介して互いに接合されている。同様に、複数の第2信号端子42は、封止体30の内部において、第2半導体素子14の複数の信号電極14dとそれぞれ電気的に接続されている。特に限定されないが、第2信号端子42と信号電極14dとの間は、導電性を有する接合層66(例えば、はんだ層)を介して互いに接合されている。
以上の構成により、本実施例の半導体装置10は、コンバータやインバータといった電力変換回路に組み込まれ、電流を導通及び遮断するスイッチング回路を構成することができる。第1半導体素子12及び第2半導体素子14に電流が流れると、第1半導体素子12及び第2半導体素子14がそれぞれ発熱する。第1半導体素子12及び第2半導体素子14が発熱すると、それらに隣接する三つの導電板16、18、20の温度も上昇して、各々の導電板16、18、20には熱膨張が生じる。特に、第1半導体素子12と第2半導体素子14との間に位置する中間導電板20は、上側導電板16及び下側導電板18よりも高温となりやすい。
そのことから、本実施例の半導体装置10では、中間導電板20が封止体30の側面30e、30fにおいて外部に露出されており、中間導電板20の熱が外部へ放出されやすい。これにより、中間導電板20の温度上昇が有意に抑制される。特に、中間導電板20の露出部20bに接するよう冷却器を配置することで、中間導電板20の温度上昇が抑制するとともに、第1半導体素子12及び第2半導体素子14の両者を効率的に冷却することができる。
図5は、一変形例の半導体装置10Aを示す。図5に示すように、中間導電板20の露出部20bにおける厚みTbは、中間導電板20の本体部20aにおける厚みTaよりも、十分に大きくしてもよい。この場合、露出部20bにおける厚みTbは、本体部20aにおける厚みTaの二倍以上であってもよい。このような構成によると、中間導電板20の温度上昇をさらに抑制することができる。加えて、中間導電板20の形状は、三つの導電板16、18、20の積層方向(図5の上下方向)において対称であってもよい。このような構成によると、第1半導体素子12と第2半導体素子14との温度差を小さくすることができる。中間導電板20の温度上昇をさらに抑制することができる。
図6は、他の一変形例の半導体装置10Bを示す。図6に示すように、中間導電板20の露出部20bは、封止体30の上面30a(又は下面30b)において外部に露出されてもよい。即ち、中間導電板20の露出部20bは、上側導電板16及び/又は下側導電板18と共に、封止体30の同じ表面から露出されていてもよい。このような構成によると、封止体30の上面30a又は下面30bに沿って冷却器を配置することにより、中間導電板20と上側導電板16/又は下側導電板18とを同時に冷却することができる。
図7は、他の一変形例の半導体装置10Cを示す。図7に示すように、中間導電板20の露出部20bは、封止体30の上面30a及び下面30bの両方において外部に露出されてもよい。このような構成によると、封止体30の上面30a及び下面30bのそれぞれに冷却器を配置することにより、中間導電板20を二つの冷却器によって効率よく冷却することができる。
図8は、他の一変形例の半導体装置10Dを示す。図8に示すように、中間導電板20の露出部20bは、封止体30の側面30e、30f、上面30a及び下面30bのそれぞれにおいて外部に露出されてもよい。このような構成によると、中間導電板20が広く外部へ露出されるので、中間導電板20からより多くの熱を外部へ放出することができる。
図9は、他の一変形例の半導体装置10Eを示す。図9に示すように、封止体30は、中間導電板20によって、第1封止体30Xと第2封止体30Yとに分割されていてもよい。第1封止体30Xは、上側導電板16と中間導電板20との間に充填されており、第1半導体素子12を封止している。第2封止体30Yは、中間導電板20と下側導電板18との間に充填されており、第2半導体素子14を封止している。この半導体装置10Eにおいても、中間導電板20は、封止体30の内部で第1半導体素子12及び第2半導体素子14に接合された本体部20aと、封止体30の表面から外部に露出された露出部20bを有している。そして、中間導電板20の露出部20bにおける厚みTbは、中間導電板20の本体部20aにおける厚みTaと等しいか、又は当該厚みTaよりも大きくなっている。
以上、本明細書が開示する技術の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。本明細書、又は、図面に説明した技術要素は、単独で、あるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時の請求項に記載の組合せに限定されるものではない。本明細書又は図面に例示した技術は、複数の目的を同時に達成し得るものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
10:半導体装置
12:第1半導体素子
14:第2半導体素子
16:上側導電板
18:下側導電板
20;中間導電板
20a:中間導電板の本体部
20b:中間導電板の露出部
30:封止体
32、34、36:電力端子
40、42:信号端子

Claims (4)

  1. 積層配置された上側導電板、中間導電板及び下側導電板と、
    前記上側導電板と前記中間導電板との間に位置しており、前記上側導電板と前記中間導電板とのそれぞれに電気的に接続された第1半導体素子と、
    前記中間導電板と前記下側導電板との間に位置しており、前記中間導電板と前記下側導電板とのそれぞれに電気的に接続された第2半導体素子と、
    前記第1半導体素子及び前記第2半導体素子を封止するとともに、前記上側導電板、前記中間導電板及び前記下側導電板を一体に保持する封止体と、
    を備え、
    前記中間導電板は、前記封止体の内部で前記第1半導体素子及び前記第2半導体素子に接合された本体部と、前記封止体の表面から外部に露出された露出部を有しており、
    前記中間導電板の前記露出部における厚みは、前記中間導電板の前記本体部における厚みよりも大き
    前記中間導電板の形状は、前記上側導電板、前記中間導電板及び前記下側導電板の積層方向において対称である、
    半導体装置。
  2. 前記封止体は、上面と前記上面の反対側に位置する下面とを有し、
    前記上側導電板は、前記封止体の前記上面において外部に露出されており、
    前記下側導電板は、前記封止体の前記下面において外部に露出されている、請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記封止体は、前記上面と前記下面との間に広がる側面を有し、
    前記中間導電板の前記露出部は、前記封止体の前記側面において外部に露出されている、請求項に記載の半導体装置。
  4. 前記中間導電板の前記露出部は、前記封止体の前記上面と前記下面との両方において外部に露出されている、請求項又はに記載の半導体装置。
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