JP7018292B2 - キャリアおよび当該キャリアを用いた基板の製造方法 - Google Patents
キャリアおよび当該キャリアを用いた基板の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7018292B2 JP7018292B2 JP2017207796A JP2017207796A JP7018292B2 JP 7018292 B2 JP7018292 B2 JP 7018292B2 JP 2017207796 A JP2017207796 A JP 2017207796A JP 2017207796 A JP2017207796 A JP 2017207796A JP 7018292 B2 JP7018292 B2 JP 7018292B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carrier
- substrate
- polishing
- recesses
- protrusion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 138
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 22
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 124
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 claims description 80
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 63
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 63
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 62
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 39
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 37
- 238000000227 grinding Methods 0.000 claims description 21
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 19
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims description 16
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 35
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 17
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 17
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 15
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 15
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 13
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 13
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 8
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 7
- 238000010297 mechanical methods and process Methods 0.000 description 7
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 7
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 6
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 6
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 4
- 238000009940 knitting Methods 0.000 description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 4
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 4
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 4
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 3
- 238000002149 energy-dispersive X-ray emission spectroscopy Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 3
- -1 mask blanks Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 2
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000008119 colloidal silica Substances 0.000 description 2
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 2
- 238000002788 crimping Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 239000004088 foaming agent Substances 0.000 description 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920005749 polyurethane resin Polymers 0.000 description 2
- 238000009941 weaving Methods 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229930182556 Polyacetal Natural products 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 239000006059 cover glass Substances 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 238000000921 elemental analysis Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000006260 foam Substances 0.000 description 1
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 229920006324 polyoxymethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 1
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 1
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000004626 scanning electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000007790 scraping Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- RMAQACBXLXPBSY-UHFFFAOYSA-N silicic acid Chemical compound O[Si](O)(O)O RMAQACBXLXPBSY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002759 woven fabric Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/27—Work carriers
- B24B37/28—Work carriers for double side lapping of plane surfaces
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B41/00—Component parts such as frames, beds, carriages, headstocks
- B24B41/06—Work supports, e.g. adjustable steadies
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B7/00—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor
- B24B7/10—Single-purpose machines or devices
- B24B7/16—Single-purpose machines or devices for grinding end-faces, e.g. of gauges, rollers, nuts, piston rings
- B24B7/17—Single-purpose machines or devices for grinding end-faces, e.g. of gauges, rollers, nuts, piston rings for simultaneously grinding opposite and parallel end faces, e.g. double disc grinders
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/84—Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
Description
図1は、本実施形態における基板表面を研磨する際に用いられる両面研磨装置の主要部断面を示す図である。なお、本実施形態では、両面研磨装置についてのみ説明を行っているが、これに限られず、定盤にセットする研磨パッドを例えば研削パッドに変更することにより、同様の機能等を有する両面研削装置とすることもできる。
以下、本発明の実施例を挙げて説明するが、本発明は以下の実施例にのみ限定されるものではない。
被加工基板を公称2.5サイズ(直径約65mm)の磁気ディスク用ガラス基板とし、公知の方法により酸化セリウム砥粒を含む研磨液を使用した第一研磨処理まで終えた基板を準備した。
ガラス繊維を編んでエポキシ樹脂を含浸させたシート材を用いてキャリアを形状加工して製造した。そして、上記の方法を適宜使用して、キャリアの一方の面に、表1に示す仕様の突起が複数形成されるように追加工した。なお他の仕様については、突起の幅寸法は300μm、突起の密度は3(個/mm2)、突起形成領域がキャリア主表面に占める面積の割合は50%とした。また、SEMによる確認の結果、ガラス繊維の切断は見つからなかった。ここで、突起の高さや幅の寸法の値は、ランダムに100個の突起をサンプリングして測定し、値が大きい方の上位50個の値の平均値である。
下記以外は上述または公知の方法を用いて、上記被加工基板に対する第二研磨を実施した。研磨機としては、上下の定盤のそれぞれに研磨パッドを張り付けた上述の両面研磨装置を用いて被加工基板の両面を同時した。研磨パッドは、ポリウレタン樹脂製であって、発泡剤を利用して厚さ方向に形成させた細長い微細な穴(ナップ)を多数形成したナップ層を表層に有するスウェードタイプのものとした。研磨剤は、平均粒径(D50)が30nmのコロイダルシリカ粒子を研磨砥粒として含む研磨液とした。なお、キャリアの向きについては、突起を有する面が上側を向くように研磨機にセットした。
実施例5の条件を元にして、突起の密度(個/mm2)を、0.5、1、5、10と変化させたキャリアを準備し、基板の20バッチ連続研磨処理を行った。実験結果を表3に示す。実施例15~18からわかるように、いずれもキャリアの上定盤への張り付きは発生しなかった。
実施例5の条件を元にして、突起形成領域の面積の割合(%)を10、20、75、100と変化させたキャリアを準備し、基板の20バッチ連続研磨処理を行った。実験結果を表4に示す。実施例19~22からわかるように、いずれも、20バッチまでキャリアの上定盤への張り付きは発生しなかった。
実施例1の条件で製造したキャリアを元にして、その表面をケイフッ酸を含む液で処理し、その後表面をグラインダーで処理した。このようにして、キャリア表面にガラス繊維を突出させるとともに、その一部が切断されており、突起平均高さが実施例1と同じキャリアを準備した。このキャリアを用いて、基板の20バッチ連続研磨処理を行った。その結果、張り付き発生回数の比は、0.1となり、半減した。また、上記と同様に、実施例9の条件で製造したキャリアを処理し、連続研磨処理実験を行ったところ、100バッチ以上貼付きが検出されなかった。これらの結果から、ガラス繊維の一部を切断することによって、さらに高い貼付き防止効果が得られることが確認できた。
実施例8のキャリアにおいて、さらに突起形成領域の樹脂をエッチングして、深さが0.3、10、30μmの凹部とした3種類のキャリアを準備した。これらのキャリアを用いて、基板の20バッチ連続研磨処理を行った。上記と同様に、20バッチ目で加工した基板について主表面の表裏の微小ウネリの差を評価したところ、それぞれ、0.0017、0.0012、0.001以下、であった。なお、張り付き発生しなかった。この結果より、凹部に突起を形成することによって、表裏の微小ウネリの差を小さくできることが確認できた。
本発明にかかるキャリアおよび当該キャリアを用いた基板の製造方法の第2実施形態について説明する。上記第1実施形態と説明の重複する部分については、同一の符号を付して説明を省略する。
以下、本発明の実施例を挙げて説明するが、本発明は以下の実施例にのみ限定されるものではない。
被加工基板を公称2.5サイズ(直径約65mm)の磁気ディスク用ガラス基板とし、公知の方法により酸化セリウム砥粒を含む研磨液を使用した第一研磨処理まで終えた基板を準備した。
ガラス繊維を編んでエポキシ樹脂を含浸させたシート材を用いてキャリアを形状加工して製造した。そして、上記の方法を適宜使用して、キャリアの一方の面に、表1に示す仕様の凹部が複数形成されるように追加工した。
下記以外は上述または公知の方法を用いて、上記被加工基板に対する第二研磨を実施した。研磨機としては、上下の定盤のそれぞれに研磨パッドを張り付けた上述の両面研磨装置を用いて被加工基板の両面を同時した。研磨パッドは、ポリウレタン樹脂製であって、発泡剤を利用して厚さ方向に形成させた細長い微細な穴(ナップ)を多数形成したナップ層を表層に有するスウェードタイプのものとした。研磨剤は、平均粒径(D50)が30nmのコロイダルシリカ粒子を研磨砥粒として含む研磨液とした。なお、キャリアの向きについては、凹部を有する面が上側を向くように研磨機にセットした。
Claims (11)
- 基板を保持するための保持孔を複数有する研磨用又は研削用のキャリアであって、
前記キャリアの少なくとも一方の表面に、複数の保持孔に囲まれていて、かつ保持孔に連続していない凹部が複数設けられており、
前記複数の凹部それぞれの輪郭は、少なくとも2以上の前記保持孔の周縁に、他の凹部を介さずに隣接していることを特徴とするキャリア。 - 前記複数の凹部の少なくとも一つは、当該凹部を形成する輪郭が前記キャリアのギア部に接触しないように形成されていることを特徴とする請求項1に記載のキャリア。
- 前記凹部の深さは、0.3μm以上であることを特徴とする請求項1又は2のいずれか1項に記載のキャリア。
- 前記凹部を形成する輪郭は、自由曲線からなることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載のキャリア。
- 前記複数の凹部の全てが占める面積は、前記キャリアの少なくとも一方の表面全体の面積の5%以上であることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載のキャリア。
- 前記複数の凹部のうち、少なくとも1/3以上の凹部の面積は、1cm2以上であることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載のキャリア。
- 前記複数の凹部は、前記保持孔の周囲から1mm以上離れていることを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載のキャリア。
- 前記キャリアは、ガラス繊維を編んで樹脂を含浸させた材料からなることを特徴とする請求項1から7のいずれか1項に記載のキャリア。
- 前記凹部の少なくとも一部に、ガラスを主成分とする突起が複数存在していることを特徴とする請求項1から8のいずれか1項に記載のキャリア。
- 請求項1~9のいずれか1項に記載のキャリアの保持孔に基板を保持し、研磨パッド又は研削パッドを備える上下の定盤により前記基板を挟持して前記基板の両面を同時に研磨又は研削する処理を含むことを特徴とする基板の製造方法。
- 前記基板は磁気ディスク用基板であることを特徴とする、請求項10に記載の基板の製造方法。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016073512 | 2016-03-31 | ||
JP2016073513 | 2016-03-31 | ||
JP2016073513 | 2016-03-31 | ||
JP2016073512 | 2016-03-31 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017541416A Division JP6236191B1 (ja) | 2016-03-31 | 2017-03-31 | キャリアおよび当該キャリアを用いた基板の製造方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018022549A JP2018022549A (ja) | 2018-02-08 |
JP2018022549A5 JP2018022549A5 (ja) | 2018-04-26 |
JP7018292B2 true JP7018292B2 (ja) | 2022-02-10 |
Family
ID=59966122
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017541416A Active JP6236191B1 (ja) | 2016-03-31 | 2017-03-31 | キャリアおよび当該キャリアを用いた基板の製造方法 |
JP2017207796A Active JP7018292B2 (ja) | 2016-03-31 | 2017-10-27 | キャリアおよび当該キャリアを用いた基板の製造方法 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017541416A Active JP6236191B1 (ja) | 2016-03-31 | 2017-03-31 | キャリアおよび当該キャリアを用いた基板の製造方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP6236191B1 (ja) |
CN (2) | CN108349063B (ja) |
MY (1) | MY174348A (ja) |
SG (2) | SG11201802381PA (ja) |
WO (1) | WO2017171052A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108705421A (zh) * | 2018-08-21 | 2018-10-26 | 德清明宇电子科技有限公司 | 一种e型磁芯打磨装置 |
CN115870868A (zh) * | 2022-12-27 | 2023-03-31 | 西安奕斯伟材料科技有限公司 | 装卸装置、方法及硅片双面抛光设备 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001179615A (ja) | 1999-12-27 | 2001-07-03 | Seiko Epson Corp | 研磨用キャリア、表面研磨装置及び表面研磨方法 |
JP2003236742A (ja) | 2002-02-20 | 2003-08-26 | Toshiba Ceramics Co Ltd | ラッピング用キャリア |
JP2007036225A (ja) | 2005-07-21 | 2007-02-08 | Siltronic Ag | 半導体ウェーハを加工する方法、キャリア及び半導体ウェーハ |
JP2008093746A (ja) | 2006-10-06 | 2008-04-24 | Shin Kobe Electric Mach Co Ltd | 被研磨物保持材用板状体の製造法 |
JP2009166228A (ja) | 2008-01-16 | 2009-07-30 | Kazumasa Onishi | ウェーハ研磨用キャリアプレート |
JP2009178806A (ja) | 2008-01-31 | 2009-08-13 | Seiko Epson Corp | 研磨用キャリア、及び、研磨装置 |
JP2015125788A (ja) | 2013-12-26 | 2015-07-06 | Hoya株式会社 | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3139713B2 (ja) * | 1990-12-20 | 2001-03-05 | ソリユテイア・インコーポレイテッド | 積層グレージングのためのプラスチックシート及び接着の調節並びにそれのブロッキング化の低減化方法 |
JPH1110530A (ja) * | 1997-06-25 | 1999-01-19 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 両面研磨用キャリア |
CN1132719C (zh) * | 1998-12-14 | 2003-12-31 | 精工爱普生株式会社 | 研磨用托架、表面研磨装置及表面研磨方法 |
JP4034056B2 (ja) * | 2000-09-13 | 2008-01-16 | 日本板硝子株式会社 | 非晶質材料の加工方法 |
US6686023B2 (en) * | 2001-02-26 | 2004-02-03 | Shin-Kobe Electric Machinery Co., Ltd. | Polished-piece holder and manufacturing method thereof |
AU2003275575A1 (en) * | 2002-10-23 | 2004-06-07 | Hoya Corporation | Glass substrate for information recording medium and method for manufacturing same |
JP2008000823A (ja) * | 2006-06-20 | 2008-01-10 | Konica Minolta Opto Inc | 研磨キャリア |
CN101579837A (zh) * | 2008-05-13 | 2009-11-18 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种用于化学机械抛光的研磨垫调整装置 |
TWI550705B (zh) * | 2008-06-04 | 2016-09-21 | 荏原製作所股份有限公司 | 硏磨裝置及硏磨方法 |
CN101637888B (zh) * | 2008-08-01 | 2013-09-18 | 智胜科技股份有限公司 | 研磨垫及其制造方法 |
MY166836A (en) * | 2011-04-27 | 2018-07-24 | Hoya Corp | Method for manufacturing glass blank for magnetic disk, method for manufacturing glass substrate for magnetic disk, glass blank for magnetic disk |
CN104969292B (zh) * | 2013-02-08 | 2018-06-05 | Hoya株式会社 | 磁盘用基板的制造方法及在磁盘用基板的制造中使用的研磨垫 |
JP5422767B1 (ja) * | 2013-05-09 | 2014-02-19 | 信越エンジニアリング株式会社 | 貼り合わせ分離方法及び分離装置 |
JP2015035245A (ja) * | 2013-08-09 | 2015-02-19 | 旭硝子株式会社 | ガラス基板用キャリア、磁気記録媒体用ガラス基板の研磨方法、及び、磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法 |
JP6312554B2 (ja) * | 2014-08-13 | 2018-04-18 | 株式会社ディスコ | パッケージ基板の加工方法 |
-
2017
- 2017-03-31 CN CN201780003634.4A patent/CN108349063B/zh active Active
- 2017-03-31 SG SG11201802381PA patent/SG11201802381PA/en unknown
- 2017-03-31 MY MYPI2018701106A patent/MY174348A/en unknown
- 2017-03-31 CN CN202011023491.3A patent/CN112091811B/zh active Active
- 2017-03-31 WO PCT/JP2017/013739 patent/WO2017171052A1/ja active Application Filing
- 2017-03-31 SG SG10202004819TA patent/SG10202004819TA/en unknown
- 2017-03-31 JP JP2017541416A patent/JP6236191B1/ja active Active
- 2017-10-27 JP JP2017207796A patent/JP7018292B2/ja active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001179615A (ja) | 1999-12-27 | 2001-07-03 | Seiko Epson Corp | 研磨用キャリア、表面研磨装置及び表面研磨方法 |
JP2003236742A (ja) | 2002-02-20 | 2003-08-26 | Toshiba Ceramics Co Ltd | ラッピング用キャリア |
JP2007036225A (ja) | 2005-07-21 | 2007-02-08 | Siltronic Ag | 半導体ウェーハを加工する方法、キャリア及び半導体ウェーハ |
JP2008093746A (ja) | 2006-10-06 | 2008-04-24 | Shin Kobe Electric Mach Co Ltd | 被研磨物保持材用板状体の製造法 |
JP2009166228A (ja) | 2008-01-16 | 2009-07-30 | Kazumasa Onishi | ウェーハ研磨用キャリアプレート |
JP2009178806A (ja) | 2008-01-31 | 2009-08-13 | Seiko Epson Corp | 研磨用キャリア、及び、研磨装置 |
JP2015125788A (ja) | 2013-12-26 | 2015-07-06 | Hoya株式会社 | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018022549A (ja) | 2018-02-08 |
CN108349063A (zh) | 2018-07-31 |
CN112091811B (zh) | 2022-09-06 |
CN108349063B (zh) | 2020-10-27 |
SG10202004819TA (en) | 2020-06-29 |
JPWO2017171052A1 (ja) | 2018-04-05 |
CN112091811A (zh) | 2020-12-18 |
SG11201802381PA (en) | 2018-04-27 |
MY174348A (en) | 2020-04-09 |
JP6236191B1 (ja) | 2017-11-22 |
WO2017171052A1 (ja) | 2017-10-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4904960B2 (ja) | 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法 | |
JP4659338B2 (ja) | 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法並びにそれに使用する研磨パッド | |
JP4189384B2 (ja) | 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法と研磨装置 | |
JP4234991B2 (ja) | 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法及びその製造方法によって製造される情報記録媒体用ガラス基板 | |
JP2004303280A (ja) | 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法 | |
JP2010257562A (ja) | 磁気ディスク用基板及びその製造方法 | |
JP7018292B2 (ja) | キャリアおよび当該キャリアを用いた基板の製造方法 | |
JP5033238B2 (ja) | 研磨パッド及びその製造方法 | |
JP5853408B2 (ja) | 磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法および磁気記録媒体用ガラス基板 | |
JP2015035245A (ja) | ガラス基板用キャリア、磁気記録媒体用ガラス基板の研磨方法、及び、磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法 | |
WO2009157306A1 (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板の両面研磨装置、研磨方法及び製造方法 | |
US7044839B2 (en) | Glass substrate for information recording medium and process for manufacturing the same | |
JP5861451B2 (ja) | 磁気記録媒体用ガラス基板の研磨方法、および、磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法 | |
JP4749700B2 (ja) | 研磨クロス,ウェーハ研磨装置及びウェーハ製造方法 | |
JP2012027976A (ja) | 磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法 | |
KR101334012B1 (ko) | 마스크 블랭크용 기판의 제조방법, 마스크 블랭크의제조방법 및 마스크의 제조방법 | |
JP6063044B2 (ja) | キャリア、磁気ディスク用基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法 | |
JP4793724B2 (ja) | 金属塗装面の研磨方法 | |
JP2010227766A (ja) | 洗浄用ブラシ | |
JP5312911B2 (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法 | |
JP2015069674A (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び研磨処理用キャリア | |
JP5861452B2 (ja) | 研磨キャリア、磁気記録媒体用ガラス基板の研磨方法、および、磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法 | |
KR101249857B1 (ko) | 실리콘 웨이퍼 제조 방법 | |
JP2023158771A (ja) | 両面研磨用キャリア及びこれを用いたシリコンウェーハの両面研磨方法及び装置 | |
TW201328818A (zh) | 玻璃板之研磨裝置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180313 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20180622 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20180622 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200109 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20200109 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20201013 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20201020 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20210118 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210125 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20210706 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20211105 |
|
C60 | Trial request (containing other claim documents, opposition documents) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60 Effective date: 20211105 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20211115 |
|
C21 | Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21 Effective date: 20211116 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220125 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220131 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7018292 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |