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Description
ことのできる表示装置に関する。また、本発明の一態様は、発光装置に関する。特に、可
撓性を有し、曲面に沿って発光を行うことのできる発光装置に関する。
一態様の技術分野は、物、方法、または、製造方法に関するものである。または、本発明
の一態様は、プロセス、マシン、マニュファクチャ、または、組成物(コンポジション・
オブ・マター)に関するものである。そのため、より具体的に本明細書で開示する本発明
の一態様の技術分野としては、半導体装置、表示装置、発光装置、電子機器、それらの駆
動方法、または、それらの製造方法、を一例として挙げることができる。
バイスの開発が進められている。フレキシブルデバイスの代表的な例としては、照明装置
、画像表示装置の他、トランジスタなどの半導体素子を有する種々の半導体回路などが挙
げられる。
どの支持基板上に薄膜トランジスタ(TFT)などの半導体素子を作製したのち、可撓性
を有する基板に半導体素子を転置する技術が開発されている。この方法では、支持基板か
ら半導体素子を含む層を剥離する工程が必要である。
ている。基板上に非晶質シリコンなどからなる分離層、分離層上に被剥離層を設け、被剥
離層を接着層により転写体に接着させる。レーザ光の照射により分離層をアブレーション
させることで、分離層に剥離を生じさせている。
金属層を形成し、酸化物層と金属層との界面の結合が弱いことを利用して、酸化物層と金
属層との界面で剥離を生じさせることで、被剥離層と基板とを分離している。
いう)との間で剥離を行う場合、剥離層の上層に形成される層は、被剥離層、薄膜トラン
ジスタ、配線、層間膜などを含む薄膜の積層体であり、その厚さは数μm以下と薄く、非
常に脆い場合がある。また剥離層と被剥離層の間で剥離を行う際に、剥離の起点となる基
板の端部では大きな曲げストレスがかかり、被剥離層に膜割れやひび(以下、クラックと
もいう)が生じやすい。
数の発光装置を同時に作製した後、基板をスクライバなどにより分断することが望まれる
。このとき、基板の分断の際にかかるストレスにより、基板の端部における薄膜、特に被
剥離層にクラックが発生することがある。
温高湿環境下で保持すると、剥離及び分断の工程で被剥離層の端部に発生したクラックが
進行することがある。クラックが進行することによって、発光装置における発光素子の信
頼性が低下し、またはクラックが発光素子まで達すると発光素子の一部が非発光になるこ
とがある。
装置を提供することを課題の一とする。または、量産性に優れたフレキシブルな発光装置
を提供することを課題の一とする。または、信頼性が高い発光装置を提供することを課題
の一とする。
、本発明の一態様は、軽量な発光装置を提供することを目的の一とする。または、本発明
の一態様は、破損しにくい発光装置を提供することを目的の一とする。または、本発明の
一態様は、厚さが薄い発光装置を提供することを目的の一とする。
、これらの課題の記載は、他の課題の存在を妨げるものではない。なお、これら以外の課
題は、明細書、図面、請求項などの記載から、自ずと明らかとなるものであり、明細書、
図面、請求項などの記載から、これら以外の課題を抽出することが可能である。
クラック抑止層と発光素子を有し、第1の可撓性基板の第1の面と第2の可撓性基板の第
2の面が互いに対向して設けられ、第1のバッファ層及び第1のクラック抑止層は、第1
の可撓性基板の第1の面上に設けられ、第1のバッファ層と第1のクラック抑止層は互い
に重なり、発光素子は第2の可撓性基板の第2の面上に設けられた発光装置である。
光性の有機化合物を含み、第1のクラック抑止層は導電性材料または樹脂材料のいずれか
一方を含み、かつ第1の面に垂直な方向から見て、発光素子と第1の可撓性基板の端部と
の間に位置することが好ましい。
着層を有し、第2の可撓性基板と発光素子との間に第2の接着層及び第2のバッファ層を
有することが好ましい。
ーとしての機能を有し、第1のクラック抑止層が層と同一の材料を含むことが好ましい。
は発光素子からの光を遮光する機能を有し、第1のクラック抑止層が遮光層と同一の材料
を含むことが好ましい。
は第1のクラック抑止層を被覆する部分を有し、被覆層は導電性材料または樹脂材料を含
み、かつ第1の面に垂直な方向から見て、発光素子と第1の可撓性基板の端部との間に位
置することが好ましい。
を有し、第2のクラック抑止層は導電性材料または樹脂材料を含み、かつ第1の面に垂直
な方向から見て、発光素子と第1の可撓性基板の端部との間に位置することが好ましい。
面の他方の面である第3の面上、または第2の可撓性基板の第2の面の他方の面である第
4の面上に、タッチセンサを有する発光モジュールである。
素子にコネクター、例えば異方性導電フィルム、もしくはTCP(Tape Carri
er Package)が取り付けられたモジュール、TCPの先にプリント配線板が設
けられたモジュール、又は発光素子にCOG(Chip On Glass)方式により
IC(集積回路)が直接実装されたモジュールは、発光装置を有する場合がある。さらに
、照明器具等は、発光装置を有する場合がある。
を提供できる。または、量産性に優れたフレキシブルな発光装置を提供できる。または、
信頼性が高い発光装置を提供できる。
装置を提供できる。または、破損しにくい発光装置を提供できる。または、厚さが薄い発
光装置を提供できる。なお、これらの効果の記載は、他の効果の存在を妨げるものではな
い。なお、本発明の一態様は、必ずしも、これらの効果の全てを有する必要はない。なお
、これら以外の効果は、明細書、図面、請求項などの記載から、自ずと明らかとなるもの
であり、明細書、図面、請求項などの記載から、これら以外の効果を抽出することが可能
である。
されず、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細を様々に変更
し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本発明は以下に示す実施の形態
の記載内容に限定して解釈されるものではない。
は同一の符号を異なる図面間で共通して用い、その繰り返しの説明は省略する場合がある
。また、同様の機能を指す場合には、ハッチパターンを同じくし、特に符号を付さない場
合がある。
明瞭化のために誇張されている場合がある。よって、必ずしもそのスケールに限定されな
い。
ために付すものであり、数的に限定するものではない。
本実施の形態では、本発明の一態様の発光装置の例として、画像表示装置の構成例とそ
の作製方法例について図面を参照して説明する。以下では、画像表示装置の一例として、
有機EL(Electro Luminescence)素子を備える画像表示装置(以
下、表示装置ともいう)について説明する。
図1(A)に上面射出(トップエミッション)方式が採用された表示装置100の上面
概略図を示す。なお、図1(A)には明瞭化のため、構成要素の一部を省略して示してい
る。
切断線A1−B1と、表示部102の一部の領域を切断する切断線C1−D1と、信号線
駆動回路103及び外部接続端子105を含む領域を切断する切断線E1−F1における
断面概略図である。
、走査線駆動回路104及び外部接続端子105を有する。
して設けられている。また、第1の基板121の四隅にはマーカー124が設けられてい
る。
。
154を介して対向している。第1の基板121は接着層125を介して第1のバッファ
層(被剥離層ともいう。以下、単にバッファ層と表記する)120を有し、バッファ層1
20に接して複数の第1のクラック抑止層(以下、単にクラック抑止層と表記する)12
2を含むクラック抑止領域110などが設けられる。また、第2の基板101は接着層1
31を介して第2のバッファ層132を有し、第2のバッファ層132上に表示素子とし
て機能する発光素子114や、表示部102、信号線駆動回路103及び走査線駆動回路
104などを構成するトランジスタ、外部接続端子105が設けられる。
基板101)や接着層(接着層125及び接着層131)を透過した不純物が発光素子1
14等に拡散することを抑制する機能を有する。特に発光素子114の上面側にバッファ
層120を設けることにより、高い信頼性を備えた表示装置100を実現できる。
有する。バッファ層120としては、例えば無機材料の単膜やその積層膜を用いることが
できる。このような材料を用いることで、第1の基板121にバリア性能、とくに防湿性
の低い材料を用いた場合でも、表示装置の防湿性を高めることができる。
に、バッファ層120にクラックが発生することがある。また、透湿性の低い無機膜は膨
潤率が低いため、例えば表示装置100が高温高湿環境下に置かれた場合に、バッファ層
120と比べてその近傍の層がより大きく膨潤することにより、バッファ層120の隣接
する層との界面に応力集中が起こり、クラックが発生することがある。
なる材料で形成されるクラック抑止層122を設けることで、バッファ層120に発生し
たクラックの進行を抑制することができる。
を好適に用いることができる。
とで、バッファ層120の表面で起こる応力集中をその界面で緩和することができるため
好ましい。
)にあるように、一のクラック抑止層122は表示部102を囲い、且つ上面から見て閉
じた一の曲線(閉曲線、または端部が一致した曲線ともいう)を形成している。
、大型の基板を用いて複数の表示装置100を同時に作製した後にそれぞれ分断するよう
な場合に、バッファ層120の端部に発生するクラックが、クラック抑止領域110の内
側に進行することを抑制できる。
製することができる。このとき、剥離が基板端部から進行する際にバッファ層120に生
じるクラックが、クラック抑止領域110の内側に進行することを抑制できる。
に設ける構成を示しているが、クラック抑止領域110は必ずしも閉曲線となるように配
置しなくてもよく、複数の線分に分断されていてもよい。
れている場合の表示装置100の上面概略図を示す。図2(B)は図2(A)のクラック
抑止領域110の一部(図の破線枠内)を拡大した上面概略図である。
へ直線的に進む性質がある。そのため、図2(B)のようにクラック抑止層122の各一
を閉曲線とするのではなく、図2(C)のようにそれぞれのクラック抑止層122の分断
箇所をずらすように配置すると、表示装置100の剛性を高めることなく、かつクラック
の進行を抑制できるため好ましい。また、分断されたクラック抑止層122の各線分の全
てがクラックの進行方向に対して垂直でなくともよく、例えばクラック抑止層122が図
2(D)のような配置であってもよい。
ライブマーカーとしての機能を有するが、別の機能を有するマーカーであってもよい。
ける位置合わせのためのアライメントマーカーなどであってもよい。また、大型の基板を
用いて複数の表示装置100を同時に作製する場合には、該アライメントマーカーは表示
装置100を個々に分断する線より外側にあってもよい。
。
2、113)または発光素子114を構成する導電層と同一の材料で構成すると、作製工
程を簡略化できるため好ましい。本構成例では、トランジスタのソース電極またはドレイ
ン電極を構成する電極136及び第1の電極143と同一の材料で構成する例を示してい
る。表示装置100には、外部接続端子105に異方性導電フィルム(ACF:Anis
otropic Conductive Film)や、異方性導電ペースト(ACP:
Anisotropic Conductive Paste)などを介してFPC(F
lexible Printed Circuits)やICを実装することにより、信
号を入力することができる。本構成例では、接続体156を介してFPC155が設けら
れている。
を示している。信号線駆動回路103としては、例えばnチャネル型のトランジスタとp
チャネル型のトランジスタとを組み合わせた回路、nチャネル型のトランジスタで構成さ
れた回路、pチャネル型のトランジスタで構成された回路などを有していてもよい。なお
、走査線駆動回路104も同様である。また、本構成例では、表示部102が形成される
第2のバッファ層132上に信号線駆動回路103と走査線駆動回路104が形成された
ドライバ一体型の構成を示すが、例えば信号線駆動回路103と走査線駆動回路104の
いずれか一方または両方として駆動回路用ICを用い、COG(Chip on Gla
ss)方式またはCOF(Chip on Film)方式により第2の基板101に実
装してもよいし、COF方式により駆動回路用ICが実装されたフレキシブル基板(FP
C)を第2の基板101に実装する構成としてもよい。
画素は、スイッチング用のトランジスタ112と、電流制御用のトランジスタ113と、
電流制御用のトランジスタ113が備える一対の電極136の一方と電気的に接続された
第1の電極143を含む。また第1の電極143の端部を覆う絶縁層144が設けられて
いる。
トムゲート型のトランジスタである例を示している。各トランジスタは、チャネルとして
機能する領域を含む半導体層135と、ゲート電極133と、ゲート絶縁層として機能す
る絶縁層134と、を有する。また半導体層135と接するように一対の電極136が設
けられ、半導体層135及び電極136を覆うように絶縁層141及び絶縁層142が設
けられている。なお、半導体層135において、チャネルとして機能する領域を挟んで低
抵抗な領域が設けられていてもよい。
52が順に積層された積層構造を有している。本構成例で例示する表示装置100はトッ
プエミッション方式の表示装置であるため、第2の電極152に透光性の材料を用いる。
また第1の電極143には反射性の材料を用いることが好ましい。EL層151は少なく
とも発光性の有機化合物を含む。EL層151を挟持する第1の電極143と第2の電極
152の間に電圧を印加し、EL層151に電流を流すことにより、発光素子114を発
光させることができる。
第1の基板121とが、封止層153及び、表示部102の外周部でかつクラック抑止領
域110の内側に設けられたシール材154により接着されている。なお、封止層153
により第1の基板121を接着し、シール材154を設けない構成としてもよい。
ファ層120が設けられる。バッファ層120上に、発光素子114と重なる位置にカラ
ーフィルタ127を有し、絶縁層144と重なる位置にブラックマトリクス126を有す
る。
ことによってタッチセンサが形成されていてもよいし、タッチセンサの機能を有する可撓
性基板が貼り付けられていてもよい。
以下では、上述した各要素に用いることのできる材料及び形成方法について説明する。
可撓性基板の材料としては、有機樹脂や可撓性を有する程度に薄いガラス材料などを用
いることができる。
)等のポリエステル樹脂、ポリアクリロニトリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリメチルメタ
クリレート樹脂、ポリカーボネート(PC)樹脂、ポリエーテルスルホン(PES)樹脂
、ポリアミド樹脂、シクロオレフィン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリアミドイミド樹脂、
ポリ塩化ビニル樹脂等が挙げられる。特に、熱膨張係数の低い材料を用いることが好まし
く、例えば、熱膨張係数が30×10−6/K以下であるポリアミドイミド樹脂、ポリイ
ミド樹脂、PET等を好適に用いることができる。また、繊維体に樹脂を含浸した基板(
プリプレグとも記す)や、無機フィラーを有機樹脂に混ぜて熱膨張係数を下げた基板を使
用することもできる。
度繊維を用いる。高強度繊維とは、具体的には引張弾性率またはヤング率の高い繊維のこ
とを言い、代表例としては、ポリビニルアルコール系繊維、ポリエステル系繊維、ポリア
ミド系繊維、ポリエチレン系繊維、アラミド系繊維、ポリパラフェニレンベンゾビスオキ
サゾール繊維、ガラス繊維、または炭素繊維が挙げられる。ガラス繊維としては、Eガラ
ス、Sガラス、Dガラス、Qガラス等を用いたガラス繊維が挙げられる。これらは、織布
または不織布の状態で用い、この繊維体に樹脂を含浸させ樹脂を硬化させた構造物を可撓
性を有する基板として用いてもよい。可撓性を有する基板として、繊維体と樹脂からなる
構造物を用いると、曲げや局所的押圧による破損に対する信頼性が向上するため、好まし
い。
発光に対して透光性を有する材料を用いる。光射出側に設ける材料において、光の取り出
し効率向上のためには、可撓性及び透光性を有する材料の屈折率は高い方が好ましい。例
えば、有機樹脂に屈折率の高い無機フィラーを分散させることで、該有機樹脂のみからな
る基板よりも屈折率の高い基板を実現できる。特に粒子径40nm以下の小さな無機フィ
ラーを使用すると、光学的な透明性を失わないため、好ましい。
に挙げた基板の他に、金属基板または合金基板等を用いることもできる。基板の厚さは、
可撓性や曲げ性を得るために、10μm以上200μm以下、好ましくは20μm以上5
0μm以下であることが好ましい。基板を構成する材料としては、特に限定はないが、例
えば、アルミニウム、銅、ニッケル、または、アルミニウム合金もしくはステンレス等の
金属の合金などを好適に用いることができる。光を取り出さない側の可撓性を有する基板
に、金属または合金材料を含む導電性の基板を用いると、発光素子114からの発熱に対
する放熱性が高まるため好ましい。
縁膜を形成するなどし、絶縁処理が施された基板を用いることが好ましい。例えば、電着
法、スピンコート法やディップ法などの塗布法、スクリーン印刷法などの印刷法、蒸着法
やスパッタリング法などの堆積法、などの方法を用いて導電性の基板表面に絶縁膜を形成
してもよいし、酸素雰囲気下で放置または加熱する方法や、陽極酸化法などの方法により
、基板の表面を酸化してもよい。
化した絶縁表面を形成するために平坦化層を設けてもよい。平坦化層としては絶縁性の材
料を用いることができ、有機材料または無機材料で形成することができる。例えば、平坦
化層は、スパッタリング法などの堆積法、スピンコート法やディップ法などの塗布法、イ
ンクジェット法やディスペンス法などの吐出法、スクリーン印刷法などの印刷法等を用い
て形成することができる。
えば有機樹脂からなる層を2種類以上積層した材料、有機樹脂からなる層と無機材料から
なる層を積層した材料、無機材料からなる層を2種類以上積層した材料などを用いる。無
機材料からなる層を設けることにより、水分等の内部への浸入が抑制されるため、表示装
置の信頼性を向上させることができる。
を用いることができる。例えば、酸化シリコン、窒化シリコン、酸化窒化シリコン、酸化
アルミニウム、窒化アルミニウム、酸化窒化アルミニウムなどを用いればよい。なお、本
明細書中において、窒化酸化とは、その組成として、酸素よりも窒素の含有量が多いもの
であって、酸化窒化とは、その組成として、窒素よりも酸素の含有量が多いものを示す。
なお、各元素の含有量は、例えば、ラザフォード後方散乱分光法(RBS)等を用いて測
定することができる。
層の上層または下層に、スパッタリング法、CVD(Chemical Vapor D
eposition)法または塗布法などにより、上記無機材料からなる層を形成するこ
とができる。
い。特に発光素子114に近い側から有機樹脂層、接着層、及びガラス層を積層したシー
トを用いることが好ましい。該ガラス層の厚さとしては20μm以上200μm以下、好
ましくは25μm以上100μm以下の厚さとする。このような厚さのガラス層は、水や
酸素に対する高いバリア性と可撓性を同時に実現できる。また、有機樹脂層の厚さとして
は、10μm以上200μm以下、好ましくは20μm以上50μm以下とする。このよ
うな有機樹脂層をガラス層と接して設けることにより、ガラス層の割れやクラックを抑制
し、機械的強度を向上させることができる。このようなガラス材料と有機樹脂の複合材料
を、可撓性を有する基板に適用することにより、極めて信頼性が高く、且つフレキシブル
な表示装置とすることができる。
発光素子としては、自発光が可能な素子を用いることができ、電流又は電圧によって輝
度が制御される素子をその範疇に含む。例えば、発光ダイオード(LED)、有機EL素
子、無機EL素子等を用いることができる。
43及び第2の電極152)と、該一対の電極間に設けられたEL層151とを有する。
該一対の電極の一方は陽極として機能し、他方は陰極として機能する。
透光性を有する材料を用いる。
ウム酸化亜鉛、酸化亜鉛、ガリウムを添加した酸化亜鉛などを用いることができる。また
は、グラフェンを用いてもよい。また、上記導電層として、金、銀、白金、マグネシウム
、ニッケル、タングステン、クロム、モリブデン、鉄、コバルト、銅、パラジウム、また
はチタンなどの金属材料や、これらを含む合金を用いることができる。または、これら金
属材料の窒化物(例えば、窒化チタン)などを用いてもよい。なお、金属材料(またはそ
の窒化物)を用いる場合には、透光性を有する程度に薄くすればよい。また、上記材料の
積層膜を導電層として用いることができる。例えば、銀とマグネシウムの合金と酸化イン
ジウム酸化スズの積層膜などを用いると、導電性を高めることができるため好ましい。
クジェット法などの吐出法、スクリーン印刷法などの印刷法、またはメッキ法を用いて形
成することができる。
該導電性酸化物を、アルゴン及び酸素を含む雰囲気下で成膜すると、透光性を向上させる
ことができる。
雰囲気下で成膜した第1の導電性酸化物膜と、アルゴン及び酸素を含む雰囲気下で成膜し
た第2の導電性酸化物膜の積層膜とすると、EL層への成膜ダメージを低減できるため好
ましい。ここで特に第1の導電性酸化物膜を成膜する際に用いるアルゴンガスの純度が高
いことが好ましく、例えば露点が−70℃以下、好ましくは−100℃以下のアルゴンガ
スを用いる。
る材料を用いることが好ましい。
グステン、クロム、モリブデン、鉄、コバルト、銅、またはパラジウム等の金属、または
これらを含む合金を用いることができる。またこれら金属材料を含む金属または合金にラ
ンタンやネオジム、ゲルマニウムなどを添加してもよい。そのほか、アルミニウムとチタ
ンの合金、アルミニウムとニッケルの合金、アルミニウムとネオジムの合金などのアルミ
ニウムを含む合金(アルミニウム合金)や、銀と銅の合金、銀とパラジウムと銅の合金、
銀とマグネシウムの合金などの銀を含む合金を用いることもできる。銀と銅を含む合金は
耐熱性が高いため好ましい。さらに、アルミニウム合金膜に接する金属膜、または金属酸
化物膜を積層することで、アルミニウム合金膜の酸化を抑制することができる。該金属膜
、金属酸化物膜の材料としては、チタン、酸化チタンなどが挙げられる。また、上記透光
性を有する材料からなる膜と金属材料からなる膜とを積層してもよい。例えば、銀と酸化
インジウム酸化スズの積層膜、銀とマグネシウムの合金と酸化インジウム酸化スズの積層
膜などを用いることができる。
クジェット法などの吐出法、スクリーン印刷法などの印刷法、またはメッキ法を用いて形
成することができる。
含めばよく、単数の層で構成されていても、複数の層が積層されていてもよい。複数の層
で構成されている構成としては、陽極側から正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送
層、並びに電子注入層が積層された構成を例に挙げることができる。なお、発光層を除く
これらの層はEL層151中に必ずしも全て設ける必要はない。また、これらの層は重複
して設けることもできる。具体的にはEL層151中に複数の発光層を重ねて設けてもよ
く、電子注入層に重ねて正孔注入層を設けてもよい。また、中間層として電荷発生層の他
、電子リレー層など他の構成を適宜加えることができる。また、例えば、異なる発光色を
呈する発光層を複数積層する構成としてもよい。例えば補色の関係にある2以上の発光層
を積層することにより白色発光を得ることができる。
、スピンコート法などの塗布法を用いて形成できる。
シール材154および封止層153としては、例えば、二液混合型樹脂、熱硬化性樹脂
、光硬化性樹脂などの硬化性材料や、ゲルなどを用いることができる。例えば、エポキシ
樹脂やアクリル樹脂、シリコーン樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド、ポリビニルクロラ
イド(PVC)、ポリビニルブチラル(PVB)、エチレンビニルアセテート(EVA)
などを用いることができる。特に、エポキシ樹脂等の透湿性が低い材料が好ましい。
えば、アルカリ土類金属の酸化物(酸化カルシウムや酸化バリウム等)のように、化学吸
着によって水分を吸着する物質を用いることができる。その他の乾燥剤として、ゼオライ
トやシリカゲル等のように、物理吸着によって水分を吸着する物質を用いてもよい。また
、粒状の乾燥剤を設けることにより、該乾燥剤により発光素子114からの発光が乱反射
されるため、信頼性が高く、且つ視野角依存性が改善した発光装置(特に照明用途等に有
用)を実現できる。なお、接着層125及び接着層131としては、シール材154と同
様の材料を用いることができる。
表示部102、信号線駆動回路103、走査線駆動回路104を構成するトランジスタ
の構造は特に限定されない。例えば、トランジスタの構成は、スタガ型のトランジスタ、
逆スタガ型のトランジスタなどを用いてもよい。また、トップゲート型またはボトムゲー
ト型のいずれのトランジスタ構造としてもよい。また、チャネルエッチ型のトランジスタ
、または、チャネル保護型のトランジスタを用いてもよい。チャネル保護型の場合、チャ
ネル領域の上にのみ、チャネル保護膜を設けてもよい。または、ソースドレイン電極と半
導体層とを接触させる部分のみ開口し、その開口以外の場所にも、チャネル保護膜を設け
てもよい。
コンやゲルマニウムなどの半導体材料、化合物半導体材料、有機半導体材料、または酸化
物半導体材料を用いてもよい。
、結晶性を有する半導体(微結晶半導体、多結晶半導体、単結晶半導体、または一部に結
晶領域を有する半導体)のいずれを用いてもよい。結晶性を有する半導体を用いると、ト
ランジスタ特性の劣化が抑制されるため好ましい。
ン、多結晶シリコン、または単結晶シリコンなどを用いることができる。
ち少なくともひとつを含む酸化物半導体を用いることが好ましい。代表的にはIn−Ga
−Zn系金属酸化物などが挙げられる。シリコンよりもバンドギャップが広く、且つキャ
リア密度の小さい酸化物半導体を用いると、オフ状態におけるリーク電流を抑制できるた
め好ましい。
トランジスタを適用する場合については、後の実施の形態で例示する。
バッファ層120は、第1の基板121や接着層125を透過した不純物、特に水分が
拡散することを抑制する機能を有する。第2のバッファ層132は、第2の基板101や
接着層131を透過した不純物が拡散することを抑制する機能を有する。また、トランジ
スタの半導体層に接する絶縁層134及びトランジスタを覆う絶縁層141は、半導体層
への不純物の拡散を抑制することが好ましい。これらの層には、例えばシリコンなどの半
導体の酸化物または窒化物、アルミニウムなどの金属の酸化物または窒化物を用いること
ができる。また、このような無機絶縁材料の積層膜、または無機絶縁材料と有機絶縁材料
の積層膜を用いてもよい。
ルミニウム、酸化窒化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化ガリウム、窒化シリコン、
酸化シリコン、窒化酸化シリコン、酸化窒化シリコン、酸化ゲルマニウム、酸化ジルコニ
ウム、酸化ランタン、酸化ネオジム、酸化タンタル等から選ばれた材料を、単層でまたは
積層して形成する。
されたハフニウムシリケート(HfSixOyNz)、窒素が添加されたハフニウムアル
ミネート(HfAlxOyNz)、酸化ハフニウム、酸化イットリウム等のhigh−k
材料を用いてもよい。
能する。例えばポリイミド、アクリル、ポリアミド、エポキシ等の有機樹脂や、無機絶縁
材料を用いることができる。絶縁層142としては感光性の樹脂(アクリル、ポリイミド
など)を用いて形成することが好ましい。また、絶縁層144も、絶縁層142と同様の
材料を用いて形成することができる。
クラック抑止層122及びマーカー124は、それぞれ導電性材料を用いて形成するこ
とができる。また、クラック抑止層122及びマーカー124を同一の材料で形成するこ
とで、工程を簡略化できるため好ましい。
抑止するため、外部応力に強い導電性材料が好ましい。
後にそれぞれ分断するいわゆる多面取りによって表示装置100を作製する場合などにお
いて、分断の際の目印とする目的で設けられる。そのため、基板の分断を分断装置によっ
て行う場合、マーカー124は、パターンのエッジが鮮明であると分断装置の読み取り位
置のずれが小さくなるため、導電性材料を用いて形成することが好ましい。
クロム、タンタル、タングステン、アルミニウム、銅、ネオジム、スカンジウム等の金属
材料又はこれらの元素を含む合金材料を用いて、単層で又は積層して形成することができ
る。また、クラック抑止層122及びマーカー124は、それぞれ、導電性の金属酸化物
を用いて形成しても良い。
ある。具体的には、導電層として、厚さ50nm以上1000nm以下で形成し、好まし
くは100nm以上500nm以下で形成する。
る。しかし、クラック抑止層122の幅を大きくすることで、多面取りによって表示装置
100を作製する場合などにおいて、一の基板から所望の表示装置が取れる個数(取り数
ともいう)が減少する可能性がある。具体的には、導電層として、幅20μm以上100
0μm以下で形成し、好ましくは50μm以上500μm以下で形成する。
接続体156としては、熱硬化性の樹脂に金属粒子を混ぜ合わせたペースト状又はシー
ト状の、熱圧着によって異方性の導電性を示す材料を用いることができる。金属粒子とし
ては、例えばニッケル粒子を金で被覆したものなど、2種類以上の金属が層状となった粒
子を用いることが好ましい。
カラーフィルタ127は、発光素子114からの発光色を調色し、色純度を高める目的
で設けられている。例えば、白色発光の発光素子を用いてフルカラーの表示装置とする場
合には、異なる色のカラーフィルタを設けた複数の画素を用いる。その場合、赤色(R)
、緑色(G)、青色(B)の3色のカラーフィルタを用いてもよいし、これに黄色(Y)
を加えた4色とすることもできる。また、R、G、B、(及びY)に加えて白色(W)の
画素を用い、4色(または5色)としてもよい。
ている。ブラックマトリクス126は隣接する画素の発光素子114から回り込む光を遮
光し、隣接画素間における混色を抑制する。ここで、カラーフィルタ127の端部を、ブ
ラックマトリクス126と重なるように設けることにより、光漏れを抑制することができ
る。ブラックマトリクス126は、発光素子114からの発光を遮光する材料を用いるこ
とができ、金属材料や、顔料を含む有機樹脂などを用いて形成することができる。なお、
ブラックマトリクス126は、信号線駆動回路103などの表示部102以外の領域に設
けてもよい。
けてもよい。オーバーコートは、カラーフィルタ127やブラックマトリクス126を保
護するほか、これらに含まれる不純物が拡散することを抑制する。オーバーコートは発光
素子114からの発光を透過する材料から構成され、無機絶縁膜や有機絶縁膜を用いるこ
とができる。
トムエミッション方式が適用された表示装置としてもよい。その場合には、カラーフィル
タ127を発光素子114よりも第2の基板101側に配置する。例えば、絶縁層141
上にカラーフィルタを設ければよい。また、ブラックマトリクス126は、トランジスタ
などと重ねて設ければよい。
なる色の発光を呈する発光素子のうちいずれか一を画素に配置し、カラーフィルタを設け
ない構成としてもよい。
以下では、上記表示装置100の作製方法の一例について、図面を参照して説明する。
面概略図である。図3(A)乃至図6(B)は、図1(A)、(B)で示した箇所の断面
構造に対応する。
まず、支持基板161上に剥離層162を形成する。
を用いる。支持基板161としては、例えばガラス基板、樹脂基板の他、半導体基板、金
属基板、セラミック基板などを用いることができる。
が好ましい。例えば、第3世代(550mm×650mm)、第3.5世代(600mm
×720mm、または620mm×750mm)、第4世代(680mm×880mm、
または730mm×920mm)、第5世代(1100mm×1300mm)、第6世代
(1500mm×1850mm)、第7世代(1870mm×2200mm)、第8世代
(2200mm×2400mm)、第9世代(2400mm×2800mm、2450m
m×3050mm)、第10世代(2950mm×3400mm)等のガラス基板、また
はこれよりも大型のガラス基板を用いることができる。
料を用いることができる。好ましくはタングステンを用いる。
続いて、剥離層162の上にバッファ層120を形成する(図3(A))。
化シリコン、酸化アルミニウムなどの無機絶縁材料を用いることができる。またバッファ
層120としては、上記無機絶縁材料を含む層を単層で、もしくは積層で用いることがで
きる。
機能を有する。また、後述するように加熱によって剥離層162に水素を放出する機能を
有する。そのため、特に、バッファ層120として2層以上の積層構造とし、そのうち少
なくとも1層には加熱により水素を放出する層を用い、剥離層162から見て該水素を放
出する層よりも遠い層には水素などの不純物を透過しない層を用いることが好ましい。例
えば、剥離層162から酸化窒化シリコンを含む層と、窒化シリコンを含む層の積層構造
とする。
できる。特に、水素を含む成膜ガスを用いたプラズマCVDにより成膜することが好まし
い。
離層162とバッファ層120の間に酸化物(図示しない)が形成される。該酸化物は、
剥離層162に含まれる金属の酸化物を含む層である。好ましくは、タングステン酸化物
を含む層とする。
、W4O11、WO2といった様々な組成をとりうる不定比性化合物である。またチタン
酸化物(TiO(2−x))、やモリブデン酸化物(MoO(3−x))も不定比性化合
物である。
層162としてタングステンを用いた場合には、酸化物層がWO3を主成分とするタング
ステン酸化物であることが好ましい。
しくは一酸化二窒素ガスを含む雰囲気下でプラズマ処理を施し、剥離層162の表面に予
め酸化物層を形成することもできる。このような方法を用いると、酸化物層の厚さをプラ
ズマ処理の条件を異ならせることで変化させることができ、プラズマ処理を行わない場合
に比べて酸化物層の厚さの制御性を高めることができる。
20nm以下とする。なお、酸化物層が極めて薄い場合には、断面観察像では観察されな
い場合がある。
続いて、加熱処理を行い、酸化物層を変質させる。加熱処理を行うことにより、バッフ
ァ層120から水素が放出され、酸化物層に供給される。
酸素の組成の異なる領域が複数混在した状態となる。例えば、剥離層162としてタング
ステンを用いた場合には、酸化物層中のWO3が還元されてこれよりも酸素の組成の少な
い状態(例えばWO2など)が生成され、これらが混在した状態となる。このような金属
酸化物は酸素の組成に応じて異なる結晶構造を示すため、酸化物層内に酸素の組成が異な
る複数の領域を形成することで酸化物層の機械的強度が脆弱化する。その結果、酸化物層
の内部で崩壊しやすい状態が実現され、後の剥離工程における剥離性を向上させることが
できる。
以下で行えばよい。また酸化物層内の金属酸化物と水素の還元反応が生じる温度以上で行
うことが好ましい。例えば、剥離層162にタングステンを用いる場合には、420℃以
上、450℃以上、600℃以上、または650℃以上の温度で加熱する。
後の剥離性を向上させることができる。しかし、支持基板161の耐熱性や、生産性を考
慮して加熱温度を低くしたい場合には、上述のように予め剥離層162に対してプラズマ
処理を施して酸化物層を形成することにより、加熱処理の温度を低くしても高い剥離性を
実現できる。
続いて、バッファ層120上に導電膜を成膜する。その後導電膜上にフォトリソグラフ
ィ法等を用いてレジストマスクを形成し、導電膜の不要な部分をエッチングにより除去す
る。その後レジストマスクを除去することにより、複数のクラック抑止層122により構
成されるクラック抑止領域110及びマーカー124を形成する(図3(B))。
てもよい。このような工程とすることで、バッファ層120上に形成する導電膜の成膜後
に導電膜の膜浮きが生じることを抑制できる。
と、加熱処理によってクラック抑止層122及びマーカー124の表面が酸化などにより
荒れる場合がある。このため、前述したバッファ層120の一部をクラック抑止層122
及びマーカー124上に形成してもよい(図21参照)。図21における、バッファ層1
20aおよびバッファ層120bの積層を構成する膜は、バッファ層120を構成する膜
と同様であることが好ましい。このような構成とすることで、バッファ層全体の透過率を
変更することなく、クラック抑止層122及びマーカー124の加熱処理による表面荒れ
を抑制することができる。
nmの窒化シリコン膜、厚さ約200nmの酸化窒化シリコン膜、及び厚さ約140nm
の窒化酸化シリコン膜の積層膜とし、バッファ層120bを厚さ約100nmの酸化窒化
シリコン膜とする。また例えば、バッファ層120aを厚さ約600nmの酸化窒化シリ
コン膜、厚さ約280nmの窒化シリコン膜、厚さ約180nmの酸化窒化シリコン膜、
厚さ約140nmの窒化酸化シリコン膜、及び厚さ約115nmの酸化窒化シリコン膜の
積層膜とし、バッファ層120bを厚さ約100nmの酸化窒化シリコン膜とする。
続いて、バッファ層120上にブラックマトリクス126及びカラーフィルタ127を
形成する(図3(C))。ブラックマトリクス126及びカラーフィルタ127は、印刷
法、インクジェット法、フォトリソグラフィ法などでそれぞれ形成する。
次に、剥離層164及び第2のバッファ層132を形成した支持基板163を準備する
。剥離層164及び第2のバッファ層132の形成方法は前述の剥離層162及びバッフ
ァ層120と同様である。
ソグラフィ法等を用いてレジストマスクを形成し、導電膜の不要な部分をエッチングによ
り除去する。その後レジストマスクを除去することにより、ゲート電極133を形成する
。
膜する。
続いて、ゲート電極133を覆って絶縁層134を形成する。
る。
続いて、絶縁層134上に半導体膜を成膜する。その後、半導体膜上にフォトリソグラ
フィ法等を用いてレジストマスクを形成し、半導体膜の不要な部分をエッチングにより除
去する。その後レジストマスクを除去することにより、トランジスタを構成する半導体層
135を形成する。
リング法、CVD法、MBE法、ALD(Atomic Layer Depositi
on)法、またはPLD(Pulsed Laser Deposition)法等を用
いることができる。
ンよりもバンドギャップの大きな酸化物半導体を適用することが好ましい。シリコンより
もバンドギャップが広く、且つキャリア密度の小さい半導体材料を用いると、トランジス
タのオフ状態における電流を低減できるため好ましい。
)を含むことが好ましい。より好ましくは、In−M−Zn系酸化物(MはAl、Ti、
Ga、Ge、Y、Zr、Sn、La、CeまたはHf等の金属)で表記される酸化物を含
む。
、または半導体層の上面に対し垂直に配向し、且つ隣接する結晶部間には粒界を有さない
酸化物半導体膜を用いることが好ましい。
応力によって酸化物半導体膜にクラックが生じてしまうことが抑制される。したがって、
可撓性を有し、湾曲させて用いる表示パネルなどに、このような酸化物半導体を好適に用
いることができる。
た後に結晶化(例えばレーザ光の照射や、熱処理など)を行い、多結晶シリコンを有する
半導体膜を形成する。
続いて、絶縁層134及び半導体層135上に導電膜を成膜する。その後導電膜上にフ
ォトリソグラフィ法等を用いてレジストマスクを形成し、導電膜の不要な部分をエッチン
グにより除去する。その後レジストマスクを除去することにより、トランジスタのソース
電極またはドレイン電極として機能する電極136を形成する(図4(A))。
が形成される。
続いて、絶縁層134、半導体層135及び電極136を覆う絶縁層141を成膜する
。このとき、電流制御用のトランジスタ113の一方の電極136及び外部接続端子10
5となる配線のそれぞれに達する開口部を絶縁層141に形成する。
る。
単層を積層する構成としたが、これに限られず2層以上の積層構造としてもよい。
続いて、平坦化層として機能する絶縁層142を形成する。このとき、電流制御用のト
ランジスタ113の一方の電極136及び外部接続端子105となる配線のそれぞれに達
する開口部を絶縁層142に形成する。
択的に露光、現像を行って形成することが好ましい。このほかの形成方法としては、スパ
ッタリング法、蒸着法、液滴吐出法(インクジェット法)、スクリーン印刷、オフセット
印刷等などを用いればよい。
続いて、絶縁層142上に導電膜を成膜する。その後導電膜上にフォトリソグラフィ法
等を用いてレジストマスクを形成し、導電膜の不要な部分をエッチングにより除去する。
その後レジストマスクを除去することにより、トランジスタ113の一方の電極136と
電気的に接続する第1の電極143を形成する。
部接続端子となる部分で電極136と同一の導電膜上に形成することにより、外部接続端
子105を形成する。
続いて、第1の電極143の端部を覆う絶縁層144を形成する。このとき外部接続端
子105となる配線に達する開口部を絶縁層144に形成する。
択的に露光、現像を行って形成することが好ましい。このほかの形成方法としては、スパ
ッタリング法、蒸着法、液滴吐出法(インクジェット法)、スクリーン印刷、オフセット
印刷等などを用いればよい。
る絶縁層144上に該絶縁層を設けることで、第1の基板121と第2の基板101の間
隔を調整することができる。該絶縁層は、絶縁層144と同様の材料を用いて形成するこ
とができる。
続いて、第1の電極143上にEL層151、第2の電極152を順次形成することに
より、発光素子114を形成する(図4(B))。
、スピンコート法などの塗布法を用いて形成する。第2の電極152は蒸着法またはスパ
ッタリング法などにより形成する。
続いて、支持基板161のカラーフィルタ127等が設けられた面または支持基板16
3の発光素子114が設けられた面に、表示部102を囲うようにシール材154を形成
する。
法等を用いて硬化性樹脂を塗布した後、該樹脂に含まれる溶媒を揮発させる。
153は、上記シール材154と同様の方法により形成することができる。
止層153の封止性能が十分である場合には、シール材154を設けなくともよい。
153を硬化させることにより、支持基板161と支持基板163とを接着する(図5(
A))。
続いて、支持基板161を剥離し(図5(B))、露出したバッファ層120と第1の
基板121を、接着層125を介して貼り合わせる。また、支持基板163を剥離し、露
出した第2のバッファ層132と第2の基板101を、接着層131を介して貼り合わせ
る(図6(A))。図6(A)では、第1の基板121が外部接続端子105と重なる構
成としたが、外部接続端子105と第1の基板121が重ならない構成としてもよい。
バッファ層120との間に剥離の起点を形成する。例えば、これらの間に刃物などの鋭利
な形状の器具を差し込むことで剥離の起点を形成してもよい。また一部の領域に対してレ
ーザ光を照射し、剥離層162の一部を溶解、蒸発、または熱的に破壊することで剥離の
起点を形成してもよい。また液体(例えばアルコールや水、二酸化炭素を含む水など)を
剥離層162の端部に滴下し、毛細管現象を利用して該液体を剥離層162とバッファ層
120の境界に浸透させることにより剥離の起点を形成してもよい。
に物理的な力を加えることにより、バッファ層120及びその上層に設けられる層を破損
することなく剥離することができる。
進行させることが好ましい。また剥離の起点の形成時に、支持基板161の端部の近傍に
おいてバッファ層120にクラックが生じる場合がある。またこのとき生成されたクラッ
クは、剥離の進行と共にバッファ層120の外側から内側にかけて進行する場合がある。
しかしながら、クラック抑止領域110が表示部102を囲うように設けられていること
により、このようなクラックが生じた場合であってもクラックの進行をクラック抑止領域
110が設けられた領域で止めることができ、表示部102にまでクラックが到達するこ
とを効果的に抑制することができる。
な接着層(例えば水溶性の接着剤や弱粘性の接着剤)を介して別の支持基板を貼り付ける
。そして上記と同様に支持基板を固定し、剥離層164と第2のバッファ層132の間に
剥離の起点を形成して剥離してもよい。また、支持基板163を固定し、第1の基板12
1を吸着パッドなどで固定した後、剥離層164と第2のバッファ層132の間に剥離の
起点を形成して、第1の基板121を含む基板がたわまないように吸着パッドを緩やかに
引き上げることで剥離してもよい。
することで、外部接続端子105を露出させる(図6(B))。なお、第1の基板121
が外部接続端子105と重ならない構成の場合は、バッファ層120及び封止層153を
同時に開口する。開口の手段は特に限定されず、例えばレーザアブレーション法、エッチ
ング法、イオンビームスパッタリング法などを用いればよい。また、外部接続端子105
上の膜に鋭利な刃物等を用いて切り込みを入れ、物理的な力で膜の一部を引き剥がしても
よい。このとき、外部接続端子105の最表面の電極143上にEL層など導電膜との密
着性が低い膜を設けることで、外部接続端子105を傷つけずに開口することができる。
えば、剥離層として、バッファ層と接する側に金属酸化膜を含む層を形成した場合は、該
金属酸化膜を結晶化により脆弱化して、バッファ層を支持基板から剥離することができる
。また、耐熱性の高い支持基板とバッファ層の間に、剥離層として水素を含む非晶質珪素
膜を形成した場合はレーザ光の照射又はエッチングにより該非晶質珪素膜を除去すること
で、バッファ層を支持基板から剥離することができる。また、剥離層として、バッファ層
と接する側に金属酸化膜を含む層を形成し、該金属酸化膜を結晶化により脆弱化し、さら
に剥離層の一部を溶液やNF3、BrF3、ClF3等のフッ化ガスを用いたエッチング
で除去した後、脆弱化された金属酸化膜において剥離することができる。さらには、剥離
層として窒素、酸素や水素等を含む膜(例えば、水素を含む非晶質珪素膜、水素含有合金
膜、酸素含有合金膜など)を用い、剥離層にレーザ光を照射して剥離層内に含有する窒素
、酸素や水素をガスとして放出させバッファ層と支持基板との剥離を促進する方法を用い
てもよい。また、バッファ層が形成された支持基板を機械的に削除又は溶液やNF3、B
rF3、ClF3等のフッ化ガスによるエッチングで除去する方法等を用いることができ
る。この場合、剥離層を設けなくともよい。
。つまり、レーザ光の照射、ガスや溶液などによる剥離層へのエッチング、鋭いナイフや
メスなどによる機械的な削除を行い、剥離層とバッファ層とを剥離しやすい状態にしてか
ら、物理的な力(機械等による)によって剥離を行うこともできる。
してもよい。また、剥離を行う際に水などの液体をかけながら剥離してもよい。
過酸化水素水の混合溶液により剥離層をエッチングしながら剥離を行うとよい。
い。
し、有機樹脂上に絶縁膜やトランジスタ等を形成する。この場合、有機樹脂を加熱するこ
とにより、支持基板と有機樹脂の界面で剥離することができる。図7に、支持基板と有機
樹脂の界面で剥離することで作製された表示装置100の断面概略図を示す。有機樹脂層
128は、第1の基板121の発光素子114と対向する面側に接着層125を介して設
けられ、有機樹脂層138は第2の基板101上に接着層131を介して設けられている
。また、有機樹脂層128と接してクラック抑止領域110及びマーカー124、バッフ
ァ層120がこの順に設けられ、有機樹脂層138上には第2のバッファ層132が設け
られている。その他の構成は、図1(B)と同様である。このような構成にすることで、
支持基板と有機樹脂の界面で剥離する際にバッファ層120の端部に発生するクラックが
、クラック抑止領域110の内側に進行することを抑制できる。
を加熱し、金属層と有機樹脂の界面で剥離を行ってもよい。
大型の基板を用いて複数の表示装置100を同時に作製することが好ましい。その場合、
例えば前述の貼り合わせ工程や剥離工程の後に、マーカー124に沿って基板を分断する
。図8は大型の基板を用いて4つの表示装置100を同時に作製する場合の上面概略図を
示しており、一の表示装置100を切り出す際は破線に沿って分断する。
以下では、表示装置100の変形例について説明する。
図9は、クラック抑止層122と接するように被覆層123を設けた場合の表示装置1
00の断面概略図である。
クマトリクス126と同一の材料によって形成することで、工程数を増やすことなくクラ
ック抑止層122を形成できるため好ましい。
に被覆層123を形成してもよい。バッファ層120のクラック抑止層122及び被覆層
123との界面において、クラックの進行方向に対して応力分布が不均一であるとクラッ
クの進行を抑制できるため、被覆層123はクラック抑止層122と異なる材料であるこ
とが好ましい。被覆層123としては、導電性材料または樹脂材料を用いることができる
。
し、かつ被覆層123をカラーフィルタ127と同一の材料によって形成した場合の表示
装置100の構成を示している。
絶縁層145を設けることで、第1の基板121と第2の基板101の間隔を調整するこ
とができる。絶縁層145は、絶縁層144と同様の材料を用いて形成することができる
。
図10は、バッファ層132上に第2のクラック抑止領域115を設けた場合の表示装
置100の断面概略図である。
15が、クラック抑止領域110と重なる位置に設けられた場合の表示装置100の構成
を示している。第2のクラック抑止領域115を、表示部102だけでなく信号線駆動回
路103、走査線駆動回路104、外部接続端子105なども囲うように配置することで
、第2のバッファ層132の端部から生じるクラックがこれらに到達することを抑制し、
表示装置100の動作不良などの不具合が生じることを抑制できる。
が好ましく、クラック抑止層122と同様に導電性材料もしくは樹脂材料を用いて形成さ
れることが好ましい。図10では、第2のクラック抑止層137が、ゲート電極133と
同一の材料で形成される場合の表示装置100の構成を示している。このように、トラン
ジスタ(トランジスタ111、112、113)や発光素子114を構成する電極や配線
と同一材料により第2のクラック抑止層137を形成すると、工程を増やすことなく形成
できるため好ましい。
図11(A)に、クラック抑止領域110を表示部102から見て外部接続端子105
より内側に設けた場合の表示装置100の上面概略図を示す。また、図11(B)に図1
1(A)の切断線A2−B2間、C2−D2間及びE2−F2間の断面概略図を示す。
る構成としている。しかし、図11のように、クラック抑止領域110を外部接続端子1
05の内側に設ける構成とすることで、上記作製方法例における外部接続端子105と重
なる領域のバッファ層120及び封止層153を開口する際にバッファ層120の開口部
端部においてクラックが発生した時、該クラックの表示部102への進行を抑制すること
ができる。
を外部接続端子105より外側に設ける構成よりも表示装置100の外形を小さくするこ
とができる。これにより、多面取りによって表示装置100を作製する場合などにおいて
、取り数を増やすことができる。
これに限られない。本発明の一態様の特徴である可撓性基板を適用できる装置としては、
各種半導体装置や各種表示装置が挙げられる。例えば、以下に示す素子もしくは装置の基
板として、本発明の一態様の特徴である可撓性基板を適用できる。例えば、EL素子(有
機物及び無機物を含むEL素子、有機EL素子、無機EL素子)、LED(白色LED、
赤色LED、緑色LED、青色LEDなど)、トランジスタ(電流に応じて発光するトラ
ンジスタ)、電子放出素子、液晶素子、電子インク、電気泳動素子、グレーティングライ
トバルブ(GLV)、プラズマディスプレイ(PDP)、MEMS(マイクロ・エレクト
ロ・メカニカル・システム)を用いた表示素子、デジタルマイクロミラーデバイス(DM
D)、DMS(デジタル・マイクロ・シャッター)、IMOD(インターフェアレンス・
モジュレーション)素子、シャッター方式のMEMS表示素子、光干渉方式のMEMS表
示素子、エレクトロウェッティング素子、圧電セラミックディスプレイ、カーボンナノチ
ューブを用いた表示素子など、電気的または磁気的作用により、コントラスト、輝度、反
射率、透過率などが変化する表示媒体が挙げられる。また、電子放出素子を用いた表示装
置の一例である、フィールドエミッションディスプレイ(FED)又はSED方式平面型
ディスプレイ(SED:Surface−conduction Electron−e
mitter Display)などが挙げられる。また、液晶素子を用いた表示装置の
一例である、液晶ディスプレイ(透過型液晶ディスプレイ、半透過型液晶ディスプレイ、
反射型液晶ディスプレイ、直視型液晶ディスプレイ、投射型液晶ディスプレイ)などが挙
げられる。また、電子インク、電子粉流体(登録商標)、又は電気泳動素子を用いた表示
装置の一例である、電子ペーパーなどが挙げられる。なお、半透過型液晶ディスプレイや
反射型液晶ディスプレイを実現する場合には、画素電極の一部、または、全部が、反射電
極としての機能を有するようにすればよい。例えば、画素電極の一部、または、全部が、
アルミニウム、銀、などを有するようにすればよい。さらに、その場合、反射電極の下に
、SRAMなどの記憶回路を設けることも可能である。これにより、さらに、消費電力を
低減することができる。
実施することができる。
本実施の形態では、実施の形態1で例示した表示装置にタッチセンサとしての機能を備
えるタッチパネルを設けた発光モジュールについて説明する。なお、以下では、実施の形
態1と重複する部分については説明を省略する。
図12は、発光モジュール200の断面概略図である。
00は第1の基板121、第2の基板101及び表示部102を有する。タッチセンサ2
01は、基板221の表示装置100と対向する面側に、バッファ層220を介して設け
られている。なお、第1の基板121、第2の基板101及び基板221はいずれも可撓
性基板であることが好ましい。
線231は基板221の外周部に引き回され、その一部は端子を構成する。当該端子は接
続体255を介してFPC256と電気的に接続される。
ラック抑止層222で構成されるクラック抑止領域210をバッファ層220に接して有
する。タッチセンサ201の外周部にクラック抑止領域210があることで、バッファ層
220の端部に発生したクラックが、例えば発光モジュール200を高温高湿環境下に保
持することでタッチセンサ201の内部に進行することを抑制できる。
量方式としては、表面型静電容量方式、投影型静電容量方式等がある。
どがある。相互容量方式を用いると同時多点検出が可能となるため好ましい。
することができるさまざまなセンサを適用することができる。
234は複数の配線231のいずれかと電気的に接続し、電極235は複数の配線231
の他のいずれかと電気的に接続する。
線232と電極235の交差部の面積ができるだけ小さくなる形状が好ましい。これによ
り、電極が設けられていない領域の面積を低減でき、透過率のムラを低減できる。その結
果、タッチセンサ201を透過する光の輝度ムラを低減することができる。
34をできるだけ隙間が生じないように配置し、絶縁層を介して電極235を、電極23
4と重ならない領域ができるように離間して複数設ける構成としてもよい。このとき、隣
接する2つの電極235の間に、これらとは電気的に絶縁されたダミー電極を設けると、
透過率の異なる領域の面積を低減できるため好ましい。
う電極234を電気的に接続する配線232、絶縁層233、及び絶縁層233上に千鳥
状に配置された電極234及び電極235、並びに絶縁層236を備える。
、絶縁層236と、第1の基板121の発光素子114とは反対側の面とを貼り合わせて
いる。
の構成を示しているが、表示装置100がボトムエミッション方式である場合は、接着層
225は、絶縁層236と、第2の基板101の発光素子114とは反対側の面とを貼り
合わせる。
る機能を有する。バッファ層220としては、例えばシリコンなどの半導体、アルミニウ
ムなどの金属の酸化物または窒化物を用いることができる。また、このような無機絶縁材
料の積層膜、または無機絶縁材料と有機絶縁材料の積層膜を用いてもよい。
めることができるため好ましい。透光性を有する導電性材料としては、酸化インジウム、
インジウム錫酸化物、インジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛、ガリウムを添加した酸化亜鉛な
どの導電性酸化物またはグラフェンを用いることができる。
、フォトリソグラフィ法等の様々なパターニング技術により、不要な部分を除去して、配
線232を形成することができる。グラフェンはCVD法のほか、酸化グラフェンを分散
した溶液を塗布した後にこれを還元して形成してもよい。
サン結合を有する樹脂の他、酸化シリコン、酸化窒化シリコン、酸化アルミニウムなどの
無機絶縁材料を用いることもできる。
法により電極234及び電極235が形成される。
。
極234を電気的に接続している。
はなく、90度未満の角度をなすように配置されてもよい。
部は、端子として機能する。配線231としては、例えば、アルミニウム、金、白金、銀
、ニッケル、チタン、タングステン、クロム、モリブデン、鉄、コバルト、銅、又はパラ
ジウム等の金属材料や、該金属材料を含む合金材料を用いることができる。
縁層233、電極234及び電極235を覆う絶縁層236を設けている。
nductive Film)や、異方性導電ペースト(ACP:Anisotropi
c Conductive Paste)などを用いることができる。
とができ、具体的には、アクリル、ウレタン、エポキシ、またはシロキサン結合を有する
樹脂などの樹脂を用いることができる。
み合わせて実施することができる。
本実施の形態では、実施の形態1及び2で例示した表示装置とは異なる表示装置の構成
例について説明する。なお、以下では、実施の形態1と重複する部分については説明を省
略する。
以下では、表示素子として液晶素子が適用された画像表示装置の構成例について説明す
る。
A)の切断線A3−B3間、C3−D3間及びE3−F3間の断面概略図を示す。表示装
置300は、上記実施の形態1で例示した表示装置100と対比して、表示素子として液
晶素子が適用されている点、トランジスタの構成が異なる点、クラック抑止領域の配置が
異なる点で主に相違している。
れた液晶素子314を備える。液晶素子314は、基板面に対して横方向に発生する電界
により液晶の配向が制御される。
量を有する。またトランジスタ312のソース電極またはドレイン電極の一方に電気的に
接続するくし形状の第1の電極343と、くし形状の第2の電極352とが絶縁層142
上に離間して設けられている。
材料を用いる。これら電極の両方に透光性の導電性材料を用いると、画素の開口率を高め
ることができるため好ましい。
ハッチングパターンを用いて明示しているが、これらを同一の導電膜を加工して形成する
ことが好ましい。
られる。図13(B)ではカラーフィルタ327が絶縁層141上に設けられる構成を示
しているが、カラーフィルタの配置はこの位置に限られない。
が設けられている。第1の電極343と第2の電極352の間に電圧を印加することによ
り、横方向に電界が生じ、該電界によって液晶353の配向が制御され、表示装置の外部
に配置されたバックライトからの光の偏光を画素単位で制御することにより、画像を表示
することができる。
ることが好ましい。配向膜には透光性の材料を用いる。また、ここでは図示しないが、第
1の基板121及び第2の基板101の液晶素子314からみて外側の面に偏光板を設け
る。
反強誘電液晶などを用いることができる。また、ブルー相を示す液晶を使用すると、配向
膜が不要であり、且つ広い視野角が得られるため好ましい。
晶素子の構成はこれに限られず、そのほかにもTN(Twisted Nematic)
モード、FFS(Fringe Field Switching)モード、ASM(A
xially Symmetric aligned Micro−cell)モード、
OCB(Optically Compensated Birefringence)
モード、FLC(Ferroelectric Liquid Crystal)モード
、AFLC(AntiFerroelectric Liquid Crystal)モ
ードなどを用いることができる。
)は、トップゲート型のトランジスタである。各トランジスタは、ソース領域またはドレ
イン領域として機能する不純物領域を備える半導体層335と、ゲート絶縁層として機能
する絶縁層334と、ゲート電極333と、を有する。またゲート電極333を覆う絶縁
層338及び絶縁層339が積層して設けられ、絶縁層334、絶縁層338及び絶縁層
339に設けられた開口部を介して半導体層335のソース領域またはドレイン領域と接
する一対の電極336を備える。
内側に設けられている場合を示している。このようにクラック抑止領域110を表示部1
02から十分離れた位置に設けることで、バッファ層120の端部から発生したクラック
が表示部102に進行することを抑制し、水分などの不純物の浸入による液晶素子314
の配向不良などを生じにくくさせることができる。なお、実施の形態1と同様にクラック
抑止領域110をシール材154の外側に設けてもよい。
ムゲート型のトランジスタに置き換えることもできる。同様に、ここで示したトップゲー
ト型のトランジスタを実施の形態1に適用することもできる。
、画素に能動素子を有しないパッシブマトリクス方式を用いることが出来る。
ランジスタだけでなく、さまざまな能動素子(アクティブ素子、非線形素子)を用いるこ
とが出来る。例えば、MIM(Metal Insulator Metal)、又はT
FD(Thin Film Diode)などを用いることも可能である。これらの素子
は、製造工程が少ないため、製造コストの低減、又は歩留まりの向上を図ることができる
。または、これらの素子は、素子のサイズが小さいため、開口率を向上させることができ
、低消費電力化や高輝度化をはかることが出来る。
)を用いないパッシブマトリクス型を用いることも可能である。能動素子(アクティブ素
子、非線形素子)を用いないため、製造工程が少ないため、製造コストの低減、又は歩留
まりの向上を図ることができる。または、能動素子(アクティブ素子、非線形素子)を用
いないため、開口率を向上させることができ、低消費電力化、又は高輝度化などを図るこ
とが出来る。
み合わせて実施することができる。
本実施の形態では、発光装置の構成例について説明する。
図14に発光素子として有機EL素子を用いたフレキシブルな発光装置の一例を示す。
切断線X1−Y1間の断面概略図を示す。図14(A)及び(B)に示す発光装置はボト
ムエミッション型の発光装置である。
2のバッファ層424、導電層406、導電層416、絶縁層405、発光素子450(
第1の電極401、EL層402、及び第2の電極403)、封止層407、クラック抑
止層410、バッファ層420及び第1の基板428を有する。第1の電極401、第2
のバッファ層424、接着層422、及び第2の基板419は可視光を透過する。また、
第1の基板428及び第2の基板419は可撓性基板であることが好ましい。
けられている。このように、クラック抑止層410を発光素子450から十分離れた位置
に設けることで、バッファ層420の端部からクラックが発生した場合、該クラックの進
行を抑制できる。これにより、発光素子450への水分等の不純物の浸入を低減でき、発
光装置400を信頼性の高い発光装置とすることができる。
450が設けられている。第2の基板419、封止層407、及び第1の基板428によ
って、発光素子450は封止されている。発光素子450は、第1の電極401と、第1
の電極401上のEL層402と、EL層402上の第2の電極403とを有する。第2
の電極403は可視光を反射することが好ましい。
。導電層406は第1の電極401と電気的に接続し、導電層416は第2の電極403
と電気的に接続する。第1の電極401を介して絶縁層405に覆われた導電層406は
、第1の電極401と電気的に接続することで、第1の電極401の補助配線として機能
する。EL素子の電極が補助配線を有することで、電極の抵抗に起因する電圧降下を抑制
できるため好ましい。導電層406は、第1の電極401上に設けられていてもよい。ま
た、絶縁層405上等に、第2の電極403と電気的に接続する補助配線を有していても
よい。
出し構造を有することが好ましい。図14(B)では、発光素子450からの光を取り出
す側に位置する第2の基板419が光取り出し構造を兼ねている例を示している。なお、
第2の基板419と重ねて、光を拡散させる機能を有するシートなどの光取り出し構造や
、タッチセンサを配置してもよい。また、偏光板や位相差板を配置してもよい。図14(
C)では、第2の基板419と重ねて拡散板411及びタッチセンサ413を配置した場
合の例を示す。
み合わせて実施することができる。
本実施の形態では、本発明の一態様の発光装置または表示装置を適用可能な電子機器及
び照明装置について、図15乃至図17を用いて説明する。
は、例えばテレビジョン装置(テレビ、またはテレビジョン受信機ともいう)、コンピュ
ータ用などのモニタ、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ、デジタルフォトフレーム
、携帯電話機(携帯電話、携帯電話装置ともいう)、携帯型ゲーム機、携帯情報端末、音
響再生装置、パチンコ機などの大型ゲーム機などが挙げられる。
曲面に沿って組み込むことも可能である。
1に組み込まれた表示部7102の他、操作ボタン7103、外部接続ポート7104、
スピーカ7105、マイク7106、カメラ7107などを備えている。なお、携帯電話
機7100は、本発明の一態様の表示装置を表示部7102に用いることにより作製され
る。
情報を入力することができる。また、電話を掛ける、或いは文字を入力するなどのあらゆ
る操作は、表示部7102を指などで触れることにより行うことができる。例えば、表示
部7102に表示されたアイコン7108に触れることで、アプリケーションを起動する
ことができる。
される画像の種類を切り替えることができる。例えば、メール作成画面から、メインメニ
ュー画面に切り替えることができる。
って、湾曲した表示面に沿った表示を行うことができ、且つ信頼性の高い携帯電話機とす
ることができる。
0は、筐体7201、表示部7202、操作ボタン7203、及び送受信装置7204を
備える。
た映像を表示部7202に表示することができる。また、音声信号を他の受信機器に送信
することもできる。
え、または音声のボリュームの調整などを行うことができる。
って、湾曲した表示部を備え、且つ信頼性の高い携帯表示装置とすることができる。
は、筐体7301、表示部7302、バンド7303、バックル7304、操作ボタン7
305、入出力端子7306などを備える。
ターネット通信、コンピュータゲームなどの種々のアプリケーションを実行することがで
きる。
ことができる。また、表示部7302はタッチセンサを備え、指やスタイラスなどで画面
に触れることで操作することができる。例えば、表示部7302に表示されたアイコン7
307に触れることで、アプリケーションを起動することができる。
フ動作、マナーモードの実行及び解除、省電力モードの実行及び解除など、様々な機能を
持たせることができる。例えば、携帯情報端末7300に組み込まれたオペレーションシ
ステムにより、操作ボタン7305の機能を自由に設定することもできる。
である。例えば無線通信可能なヘッドセットと相互通信することによって、ハンズフリー
で通話することもできる。
介して直接データのやりとりを行うことができる。また入出力端子7306を介して充電
を行うこともできる。なお、充電動作は入出力端子7306を介さずに無線給電により行
ってもよい。
ができる。したがって、湾曲した表示部を備え、且つ信頼性の高い携帯情報端末とするこ
とができる。
A)に展開した状態の携帯情報端末7410を示す。図16(B)に展開した状態又は折
りたたんだ状態の一方から他方に変化する途中の状態の携帯情報端末7410を示す。図
16(C)に折りたたんだ状態の携帯情報端末7410を示す。携帯情報端末7410は
、折りたたんだ状態では可搬性に優れ、展開した状態では、継ぎ目のない広い表示領域に
より表示の一覧性に優れる。
れている。ヒンジ7413を介して2つの筐体7415間を屈曲させることにより、携帯
情報端末7410を展開した状態から折りたたんだ状態に可逆的に変形させることができ
る。本発明の一態様を適用して作製された表示装置を表示パネル7412に用いることが
できる。例えば、曲率半径1mm以上150mm以下で曲げることができる表示装置を適
用できる。
)に表示部7422が外側になるように折りたたんだ状態の携帯情報端末7420を示す
。図16(E)に、表示部7422が内側になるように折りたたんだ状態の携帯情報端末
7420を示す。携帯情報端末7420を使用しない際に、非表示部7425を外側に折
りたたむことで、表示部7422の汚れや傷つきを抑制できる。本発明の一態様を適用し
て作製された表示装置を表示部7422に用いることができる。
、携帯情報端末7430の上面図である。図16(H)は携帯情報端末7440の外形を
説明する斜視図である。
れた一つ又は複数の機能を有する。具体的には、スマートフォンとしてそれぞれ用いるこ
とができる。
できる。例えば、3つの操作ボタン7439を一の面に表示することができる(図16(
F)、(H))。また、破線の矩形で示す情報7437を他の面に表示することができる
(図16(G)、(H))。なお、情報7437の例としては、SNS(ソーシャル・ネ
ットワーキング・サービス)の通知、電子メールや電話などの着信を知らせる表示、電子
メールなどの題名、電子メールなどの送信者名、日時、時刻、バッテリの残量、アンテナ
受信の強度などがある。または、情報7437が表示されている位置に、情報7437の
代わりに、操作ボタン7439、アイコンなどを表示してもよい。なお、図16(F)、
(G)では、上側に情報7437が表示される例を示したが、本発明の一態様は、これに
限定されない。例えば、図16(H)に示す携帯情報端末7440のように、横側に表示
されていてもよい。
を収納した状態で、その表示(ここでは情報7437)を確認することができる。
上方から観察できる位置に表示する。使用者は、携帯情報端末7430をポケットから取
り出すことなく、表示を確認し、電話を受けるか否かを判断できる。
れ有する表示部7433には、本発明の一態様を適用して作製された表示装置を用いるこ
とができる。したがって、湾曲した表示部を備え、且つ信頼性の高い携帯情報端末とする
ことができる。
もよい。ここでは、情報7455、情報7456、情報7457がそれぞれ異なる面に表
示されている例を示す。
用して作製された表示装置を用いることができる。したがって、湾曲した表示部を備え、
且つ信頼性の高い携帯情報端末とすることができる。
。したがって、湾曲することによるクラックに起因する不良が低減され、信頼性が高く、
且つ曲面に沿った表示が可能な電子機器を実現できる。
照明装置8010、照明装置8020はそれぞれ、操作スイッチ8003を備える台部8
001と、台部8001に支持される発光部を有する。
る。したがってデザイン性の高い照明装置となっている。
の発光部が対称的に配置された構成となっている。したがって照明装置8010を中心に
全方位を照らすことができる。
たがって、発光部8022からの発光を、照明装置8020の前面に集光するため、特定
の範囲を明るく照らす場合に適している。
部はフレキシブル性を有しているため、当該表示部を可塑性の部材や可動なフレームなど
の部材で固定し、用途に合わせて発光部の発光面を自在に湾曲可能な構成としてもよい。
み込まれている。したがって、湾曲した表示部を備え、且つ信頼性の高い照明装置とする
ことができる。
実施することができる。
形態で述べる別の内容(一部の内容でもよい)、及び/又は、一つ若しくは複数の別の実
施の形態で述べる内容(一部の内容でもよい)に対して、適用、組み合わせ、又は置き換
えなどを行うことが出来る。
て述べる内容、又は明細書に記載される文章を用いて述べる内容のことである。
、その実施の形態において述べる別の図(一部でもよい)、及び/又は、一つ若しくは複
数の別の実施の形態において述べる図(一部でもよい)に対して、組み合わせることによ
り、さらに多くの図を構成させることが出来る。
くことを規定した発明の一態様を構成することが出来る。または、ある値について、上限
値と下限値などで示される数値範囲が記載されている場合、その範囲を任意に狭めること
で、または、その範囲の中の一点を除くことで、その範囲を一部除いた発明の一態様を規
定することができる。これらにより、例えば、従来技術が本発明の一態様の技術的範囲内
に入らないことを規定することができる。
が記載されているとする。その場合、その回路が、第6のトランジスタを有していないこ
とを発明として規定することが可能である。または、その回路が、容量素子を有していな
いことを規定することが可能である。さらに、その回路が、ある特定の接続構造をとって
いるような第6のトランジスタを有していない、と規定して発明を構成することができる
。または、その回路が、ある特定の接続構造をとっている容量素子を有していない、と規
定して発明を構成することができる。例えば、ゲートが第3のトランジスタのゲートと接
続されている第6のトランジスタを有していない、と発明を規定することが可能である。
または、例えば、第1の電極が第3のトランジスタのゲートと接続されている容量素子を
有していない、と発明を規定することが可能である。
あることが好適である」と記載されているとする。その場合、例えば、ある電圧が、−2
V以上1V以下である場合を除く、と発明の一態様を規定することが可能である。または
、例えば、ある電圧が、13V以上である場合を除く、と発明の一態様を規定することが
可能である。なお、例えば、その電圧が、5V以上8V以下であると発明を規定すること
も可能である。なお、例えば、その電圧が、概略9Vであると発明を規定することも可能
である。なお、例えば、その電圧が、3V以上10V以下であるが、9Vである場合を除
くと発明を規定することも可能である。なお、ある値について、「このような範囲である
ことが好ましい」、「これらを満たすことが好適である」となどと記載されていたとして
も、ある値は、それらの記載に限定されない。つまり、「好ましい」、「好適である」な
どと記載されていたとしても、必ずしも、それらの記載には、限定されない。
適である」と記載されているとする。その場合、例えば、ある電圧が、−2V以上1V以
下である場合を除く、と発明の一態様を規定することが可能である。または、例えば、あ
る電圧が、13V以上である場合を除く、と発明の一態様を規定することが可能である。
と記載されているとする。その場合、例えば、その絶縁膜が、有機絶縁膜である場合を除
く、と発明の一態様を規定することが可能である。または、例えば、その絶縁膜が、無機
絶縁膜である場合を除く、と発明の一態様を規定することが可能である。または、例えば
、その膜が、導電膜である場合を除く、と発明の一態様を規定することが可能である。ま
たは、例えば、その膜が、半導体膜である場合を除く、と発明の一態様を規定することが
可能である。
が設けられている」と記載されているとする。その場合、例えば、その膜が、4層以上の
積層膜である場合を除く、と発明を規定することが可能である。または、例えば、A膜と
その膜との間に、導電膜が設けられている場合を除く、と発明を規定することが可能であ
る。
とが出来る。しかしながら、その実施は、複数の人にまたがって実施される場合がある。
例えば、送受信システムの場合において、A社が送信機を製造および販売し、B社が受信
機を製造および販売する場合がある。別の例としては、トランジスタおよび発光素子を有
する発光装置の場合において、トランジスタが形成された半導体装置は、A社が製造およ
び販売する。そして、B社がその半導体装置を購入して、その半導体装置に発光素子を成
膜して、発光装置として完成させる、という場合がある。
明の一態様を、構成することが出来る。つまり、A社のみが実施するような発明の一態様
を構成することが可能であり、別の発明の一態様として、B社のみが実施するような発明
の一態様を構成することが可能である。また、A社またはB社に対して、特許侵害を主張
できるような発明の一態様は、明確であり、本明細書等に記載されていると判断する事が
出来る。例えば、送受信システムの場合において、送信機のみの場合の記載や、受信機の
みの場合の記載が本明細書等になかったとしても、送信機のみで発明の一態様を構成する
ことができ、受信機のみで別の発明の一態様を構成することができ、それらの発明の一態
様は、明確であり、本明細書等に記載されていると判断することが出来る。別の例として
は、トランジスタおよび発光素子を有する発光装置の場合において、トランジスタが形成
された半導体装置のみの場合の記載や、発光素子を有する発光装置のみの場合の記載が本
明細書等になかったとしても、トランジスタが形成された半導体装置のみで発明の一態様
を構成することができ、発光素子を有する発光装置のみで発明の一態様を構成することが
でき、それらの発明の一態様は、明確であり、本明細書等に記載されていると判断するこ
とが出来る。
(容量素子、抵抗素子など)などが有するすべての端子について、その接続先を特定しな
くても、当業者であれば、発明の一態様を構成することは可能な場合がある。つまり、接
続先を特定しなくても、発明の一態様が明確であると言える。そして、接続先が特定され
た内容が、本明細書等に記載されている場合、接続先を特定しない発明の一態様が、本明
細書等に記載されていると判断することが可能な場合がある。特に、端子の接続先が複数
のケース考えられる場合には、その端子の接続先を特定の箇所に限定する必要はない。し
たがって、能動素子(トランジスタ、ダイオードなど)、受動素子(容量素子、抵抗素子
など)などが有する一部の端子についてのみ、その接続先を特定することによって、発明
の一態様を構成することが可能な場合がある。
業者であれば、発明を特定することが可能な場合がある。または、ある回路について、少
なくとも機能を特定すれば、当業者であれば、発明を特定することが可能な場合がある。
つまり、機能を特定すれば、発明の一態様が明確であると言える。そして、機能が特定さ
れた発明の一態様が、本明細書等に記載されていると判断することが可能な場合がある。
したがって、ある回路について、機能を特定しなくても、接続先を特定すれば、発明の一
態様として開示されているものであり、発明の一態様を構成することが可能である。また
は、ある回路について、接続先を特定しなくても、機能を特定すれば、発明の一態様とし
て開示されているものであり、発明の一態様を構成することが可能である。
いて、その一部分を取り出して、発明の一態様を構成することは可能である。したがって
、ある部分を述べる図または文章が記載されている場合、その一部分の図または文章を取
り出した内容も、発明の一態様として開示されているものであり、発明の一態様を構成す
ることが可能であるものとする。そして、その発明の一態様は明確であると言える。その
ため、例えば、能動素子(トランジスタ、ダイオードなど)、配線、受動素子(容量素子
、抵抗素子など)、導電層、絶縁層、半導体層、有機材料、無機材料、部品、装置、動作
方法、製造方法などが単数もしくは複数記載された図面または文章において、その一部分
を取り出して、発明の一態様を構成することが可能であるものとする。例えば、N個(N
は整数)の回路素子(トランジスタ、容量素子等)を有して構成される回路図から、M個
(Mは整数で、M<N)の回路素子(トランジスタ、容量素子等)を抜き出して、発明の
一態様を構成することは可能である。別の例としては、N個(Nは整数)の層を有して構
成される断面図から、M個(Mは整数で、M<N)の層を抜き出して、発明の一態様を構
成することは可能である。さらに別の例としては、N個(Nは整数)の要素を有して構成
されるフローチャートから、M個(Mは整数で、M<N)の要素を抜き出して、発明の一
態様を構成することは可能である。さらに別の例としては、「Aは、B、C、D、E、ま
たは、Fを有する」と記載されている文章から、一部の要素を任意に抜き出して、「Aは
、BとEとを有する」、「Aは、EとFとを有する」、「Aは、CとEとFとを有する」
、または、「Aは、BとCとDとEとを有する」などの発明の一態様を構成することは可
能である。
いて、少なくとも一つの具体例が記載される場合、その具体例の上位概念を導き出すこと
は、当業者であれば容易に理解される。したがって、ある一つの実施の形態において述べ
る図または文章において、少なくとも一つの具体例が記載される場合、その具体例の上位
概念も、発明の一態様として開示されているものであり、発明の一態様を構成することが
可能である。そして、その発明の一態様は、明確であると言える。
は、発明の一態様として開示されているものであり、発明の一態様を構成することが可能
である。したがって、ある内容について、図に記載されていれば、文章を用いて述べてい
なくても、その内容は、発明の一態様として開示されているものであり、発明の一態様を
構成することが可能である。同様に、図の一部を取り出した図についても、発明の一態様
として開示されているものであり、発明の一態様を構成することが可能である。そして、
その発明の一態様は明確であると言える。
ち信頼性試験を行った結果について説明する。
較試料bと、を作製した。
ている。
試料a及び比較試料bに用いた材料を、図9を用いて説明する。
ルムを用いた。
を用いた。
シリコン膜、厚さ約200nmの窒化シリコン膜、厚さ約200nmの酸化窒化シリコン
膜、厚さ約140nmの窒化酸化シリコン膜、及び厚さ約100nmの酸化窒化シリコン
膜の積層膜を用いた。
、被覆層123としては、厚さ約2.0μmのアクリル樹脂膜を用いた。
窒化シリコン膜の積層膜を用いた。また、絶縁層141としては、厚さ約450nmの酸
化窒化シリコン膜及び厚さ約100nmの窒化シリコン膜の積層膜を用いた。また、絶縁
層142としては、厚さ約2.0μmのアクリル樹脂膜を用いた。また、絶縁層144と
しては、厚さ約1.0μmのポリイミド樹脂膜を用いた。
続いて、試料a及び比較試料bに対して信頼性試験を行った後に、クラック抑止領域近
傍の光学顕微鏡による観察を行った。信頼性試験では、試料a及び比較試料bを高温高湿
環境下(温度65℃、湿度90%)で保持した。
9(B)には、切断線X2−Y2間及びX3−Y3間の断面構造を模式的に示している。
微鏡写真である。写真の上側から下側に向けてクラックが生じていることが分かる。また
、該クラックは、クラック抑止領域110よりも内側(右下側)には進行していないこと
が分かる。
学顕微鏡写真である。写真左側からクラックが生じており、該クラックは走査線駆動回路
部まで進行していることが分かる。
発生部分の断面観察を行ったところ、バッファ層120にクラックが発生していることが
確認できた(図20)。該試料の絶縁層142としては、厚さ約2.0μmのポリイミド
樹脂膜を用いた。以上の結果より、クラック抑止領域110をバッファ層120に接する
ように設けることで、バッファ層120に発生したクラックの進行を抑制できたと考えら
れる。
の進行を効果的に抑制できることが確認できた。
101 基板
102 表示部
103 信号線駆動回路
104 走査線駆動回路
105 外部接続端子
110 クラック抑止領域
111 トランジスタ
112 トランジスタ
113 トランジスタ
114 発光素子
115 クラック抑止領域
120 バッファ層
120a バッファ層
120b バッファ層
121 基板
122 クラック抑止層
123 被覆層
124 マーカー
125 接着層
126 ブラックマトリクス
127 カラーフィルタ
128 有機樹脂層
131 接着層
132 バッファ層
133 ゲート電極
134 絶縁層
135 半導体層
136 電極
137 クラック抑止層
138 有機樹脂層
141 絶縁層
142 絶縁層
143 電極
144 絶縁層
145 絶縁層
151 EL層
152 電極
153 封止層
154 シール材
155 FPC
156 接続体
161 支持基板
162 剥離層
163 支持基板
164 剥離層
200 発光モジュール
201 タッチセンサ
210 クラック抑止領域
220 バッファ層
221 基板
222 クラック抑止層
225 接着層
231 配線
232 配線
233 絶縁層
234 電極
235 電極
236 絶縁層
255 接続体
256 FPC
300 表示装置
311 トランジスタ
312 トランジスタ
314 液晶素子
327 カラーフィルタ
333 ゲート電極
334 絶縁層
335 半導体層
336 電極
338 絶縁層
339 絶縁層
343 電極
352 電極
353 液晶
400 発光装置
401 電極
402 EL層
403 電極
405 絶縁層
406 導電層
407 封止層
410 クラック抑止層
411 拡散板
413 タッチセンサ
416 導電層
419 基板
420 バッファ層
422 接着層
424 バッファ層
428 基板
450 発光素子
7100 携帯電話機
7101 筐体
7102 表示部
7103 操作ボタン
7104 外部接続ポート
7105 スピーカ
7106 マイク
7107 カメラ
7108 アイコン
7200 携帯表示装置
7201 筐体
7202 表示部
7203 操作ボタン
7204 送受信装置
7300 携帯情報端末
7301 筐体
7302 表示部
7303 バンド
7304 バックル
7305 操作ボタン
7306 入出力端子
7307 アイコン
7410 携帯情報端末
7412 表示パネル
7413 ヒンジ
7415 筐体
7420 携帯情報端末
7422 表示部
7425 非表示部
7430 携帯情報端末
7433 表示部
7435 筐体
7436 筐体
7437 情報
7439 操作ボタン
7440 携帯情報端末
7450 携帯情報端末
7451 筐体
7455 情報
7456 情報
7457 情報
7458 表示部
8000 照明装置
8001 台部
8002 発光部
8003 操作スイッチ
8010 照明装置
8012 発光部
8020 照明装置
8022 発光部
Claims (4)
- 可撓性を有する第1の層と、
前記第1の層上の表示部、駆動回路部及び外部接続端子部と、
前記表示部上及び前記駆動回路部上の封止層と、
前記封止層上の被覆層と、
前記被覆層上の導電層と、
前記導電層上の可撓性を有する第2の層と、を有し、
平面視において、前記導電層は、前記表示部、駆動回路部及び外部接続端子部を囲むように設けられる表示装置。 - 請求項1において、
前記導電層は、複数の島状に設けられる表示装置。 - 請求項1又は請求項2において、
前記第1の層と前記第2の層との間のシール材を有する表示装置。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか一において、
前記表示部は、トランジスタと、前記トランジスタに電気的に接続された発光素子と、を有する表示装置。
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US9703325B2 (en) * | 2015-08-12 | 2017-07-11 | Apple Inc. | Coverglass fracture detection |
WO2017029930A1 (ja) * | 2015-08-18 | 2017-02-23 | Necライティング株式会社 | 有機elデバイス、有機el照明パネル、有機el照明装置および有機elディスプレイ |
KR102396377B1 (ko) * | 2015-09-30 | 2022-05-11 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기발광 표시장치 |
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JP6587511B2 (ja) * | 2015-11-06 | 2019-10-09 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 有機el表示装置の製造方法 |
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CN106921377B (zh) * | 2015-12-24 | 2020-06-02 | 小米科技有限责任公司 | 触控按键模组、按键图标显示方法及装置 |
JP6546525B2 (ja) | 2015-12-24 | 2019-07-17 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
EP3324457A4 (en) * | 2015-12-30 | 2019-04-10 | Shenzhen Royole Technologies Co., Ltd. | FLEXIBLE DISPLAY SHEET AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR |
KR102510565B1 (ko) * | 2015-12-31 | 2023-03-15 | 엘지디스플레이 주식회사 | 플렉서블 표시장치 |
KR102541451B1 (ko) * | 2016-01-08 | 2023-06-09 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치 및 그 제조방법 |
JP6456317B2 (ja) * | 2016-02-26 | 2019-01-23 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置、および可撓性表示装置 |
KR102514411B1 (ko) * | 2016-03-31 | 2023-03-28 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치 및 그 제조방법 |
KR102340066B1 (ko) * | 2016-04-07 | 2021-12-15 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 박리 방법 및 플렉시블 디바이스의 제작 방법 |
KR102625286B1 (ko) * | 2016-04-22 | 2024-01-17 | 삼성디스플레이 주식회사 | 플렉서블 표시장치 |
US10279576B2 (en) * | 2016-04-26 | 2019-05-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Peeling method and manufacturing method of flexible device |
KR102512040B1 (ko) * | 2016-05-04 | 2023-03-20 | 엘지디스플레이 주식회사 | 플렉서블 디스플레이 패널 및 그 제조 방법 |
KR20170133812A (ko) * | 2016-05-26 | 2017-12-06 | 엘지디스플레이 주식회사 | 플렉서블 표시장치 |
CN107579088B (zh) * | 2016-07-11 | 2021-02-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种柔性oled显示面板及其制备方法 |
KR102668184B1 (ko) * | 2016-07-25 | 2024-05-24 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
KR102636736B1 (ko) * | 2016-09-08 | 2024-02-15 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
CN106129104A (zh) * | 2016-09-27 | 2016-11-16 | 京东方科技集团股份有限公司 | Oled显示基板及其制作方法、oled显示面板 |
WO2018163337A1 (ja) * | 2017-03-08 | 2018-09-13 | シャープ株式会社 | 可撓性表示パネル、可撓性表示装置及び可撓性表示パネルの製造方法 |
KR102373440B1 (ko) | 2017-03-17 | 2022-03-14 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 패널 및 이를 구비하는 디스플레이 장치 |
KR102349279B1 (ko) | 2017-09-08 | 2022-01-11 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치 |
KR102382487B1 (ko) * | 2017-09-15 | 2022-04-01 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기발광 다이오드 표시장치 |
KR102355103B1 (ko) * | 2017-09-29 | 2022-01-24 | 엘지디스플레이 주식회사 | 플렉서블 표시장치 및 그의 제조방법 |
US10562261B2 (en) * | 2017-11-16 | 2020-02-18 | Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. | Display device and display substrate |
US10998296B2 (en) * | 2017-12-07 | 2021-05-04 | Zkw Group Gmbh | In-vehicle display device using semiconductor light-emitting device |
KR102512725B1 (ko) * | 2018-02-28 | 2023-03-23 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치 |
JP2019153551A (ja) * | 2018-03-06 | 2019-09-12 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 有機el表示装置 |
CN108508643A (zh) * | 2018-04-03 | 2018-09-07 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板及其制造方法、显示装置 |
US12041811B2 (en) * | 2018-09-26 | 2024-07-16 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display device with a curved portion for improved realiability |
KR102626885B1 (ko) * | 2018-11-28 | 2024-01-19 | 삼성디스플레이 주식회사 | 플렉서블 표시 장치 및 이의 조립 방법 |
CN109658831B (zh) * | 2018-12-20 | 2021-05-04 | 厦门天马微电子有限公司 | 一种显示面板及显示装置 |
CN110010665A (zh) * | 2019-03-27 | 2019-07-12 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | Oled显示面板 |
KR20200116577A (ko) * | 2019-04-01 | 2020-10-13 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 그 제조 방법 |
KR20210073850A (ko) * | 2019-12-11 | 2021-06-21 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치 |
KR20210078597A (ko) * | 2019-12-18 | 2021-06-29 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
KR20210104223A (ko) * | 2020-02-14 | 2021-08-25 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
CN112164331B (zh) * | 2020-10-14 | 2022-05-31 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 多曲面显示装置 |
CN115696999A (zh) * | 2020-12-22 | 2023-02-03 | 湖北长江新型显示产业创新中心有限公司 | 显示面板及其制作方法、显示装置 |
CN114447021B (zh) * | 2021-12-28 | 2024-09-27 | 深圳市奥视微科技有限公司 | 高密度微显示装置及其制造方法 |
Family Cites Families (44)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4619462B2 (ja) | 1996-08-27 | 2011-01-26 | セイコーエプソン株式会社 | 薄膜素子の転写方法 |
DE69737086T2 (de) | 1996-08-27 | 2007-05-16 | Seiko Epson Corp. | Trennverfahren, verfahren zur übertragung eines dünnfilmbauelements, und unter verwendung des übertragungsverfahrens hergestelltes flüssigkristall-anzeigebauelement |
US5953094A (en) | 1997-04-04 | 1999-09-14 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Liquid crystal display device |
US7211828B2 (en) | 2001-06-20 | 2007-05-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and electronic apparatus |
TW548860B (en) | 2001-06-20 | 2003-08-21 | Semiconductor Energy Lab | Light emitting device and method of manufacturing the same |
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JP4027740B2 (ja) | 2001-07-16 | 2007-12-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
JP2003109773A (ja) | 2001-07-27 | 2003-04-11 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置、半導体装置およびそれらの作製方法 |
US6541370B1 (en) * | 2001-09-17 | 2003-04-01 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Composite microelectronic dielectric layer with inhibited crack susceptibility |
JP4141138B2 (ja) | 2001-12-21 | 2008-08-27 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
US6853052B2 (en) * | 2002-03-26 | 2005-02-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having a buffer layer against stress |
JP3875130B2 (ja) * | 2002-03-26 | 2007-01-31 | 株式会社東芝 | 表示装置及びその製造方法 |
CN100592478C (zh) | 2003-12-02 | 2010-02-24 | 株式会社半导体能源研究所 | 薄膜晶体管、显示器件和液晶显示器件、及其制造方法 |
WO2005055309A1 (en) | 2003-12-02 | 2005-06-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Thin film transistor, display device and liquid crystal display device and method for manufacturing the same |
JP3951055B2 (ja) | 2004-02-18 | 2007-08-01 | セイコーエプソン株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンス装置及び電子機器 |
US20060105152A1 (en) * | 2004-11-12 | 2006-05-18 | Eastman Kodak Company | Flexible sheet for resistive touch screen |
KR20070073158A (ko) * | 2006-01-04 | 2007-07-10 | 삼성전자주식회사 | 잉크젯 프린팅 시스템 및 이를 이용한 표시 장치의 제조방법 |
US8138549B2 (en) | 2007-01-12 | 2012-03-20 | Chimei Innolux Corporation | System for displaying images |
JP4301302B2 (ja) * | 2007-02-06 | 2009-07-22 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体装置、半導体装置の製造方法及び電子機器 |
KR20080084491A (ko) * | 2007-03-16 | 2008-09-19 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기전계발광소자 및 그 제조방법 |
US8047442B2 (en) | 2007-12-03 | 2011-11-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
JP4332577B1 (ja) * | 2008-03-03 | 2009-09-16 | 西山ステンレスケミカル株式会社 | フラットパネルディスプレイの製造方法。 |
JP2009259572A (ja) | 2008-04-16 | 2009-11-05 | Seiko Epson Corp | 有機エレクトロルミネッセンス装置及び有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法 |
EP2178133B1 (en) | 2008-10-16 | 2019-09-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Flexible Light-Emitting Device, Electronic Device, and Method for Manufacturing Flexible-Light Emitting Device |
JP5547901B2 (ja) | 2009-03-25 | 2014-07-16 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
JP5471035B2 (ja) * | 2009-05-26 | 2014-04-16 | ソニー株式会社 | 表示装置、表示装置の製造方法、および電子機器 |
JP2011107556A (ja) * | 2009-11-20 | 2011-06-02 | Technology Research Association For Advanced Display Materials | 表示装置の製造方法及び表示装置 |
KR101125637B1 (ko) * | 2009-12-18 | 2012-03-27 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 유기 발광 장치 |
KR20110072131A (ko) * | 2009-12-22 | 2011-06-29 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기전계발광소자 |
KR101182233B1 (ko) | 2010-06-11 | 2012-09-12 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 |
KR101845480B1 (ko) | 2010-06-25 | 2018-04-04 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치의 제작 방법 |
KR20120077470A (ko) * | 2010-12-30 | 2012-07-10 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 |
JP6111022B2 (ja) * | 2011-06-17 | 2017-04-05 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 封止体の作製方法および発光装置の作製方法 |
JP6175000B2 (ja) | 2011-09-26 | 2017-08-09 | パナソニック株式会社 | 発光装置の製造方法 |
JP2013196919A (ja) * | 2012-03-21 | 2013-09-30 | Sony Corp | 有機el表示装置、有機el表示装置の製造方法およびカラーフィルタ基板 |
KR102079188B1 (ko) * | 2012-05-09 | 2020-02-19 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 발광 장치 및 전자 기기 |
KR102091687B1 (ko) | 2012-07-05 | 2020-03-20 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 발광 장치 및 발광 장치의 제작 방법 |
KR20140016170A (ko) | 2012-07-30 | 2014-02-07 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 밀봉체 및 유기 전계 발광 장치 |
KR101473309B1 (ko) * | 2012-11-29 | 2014-12-16 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치 |
TWI611582B (zh) | 2013-04-10 | 2018-01-11 | 半導體能源研究所股份有限公司 | 半導體裝置及其製造方法 |
KR102081288B1 (ko) * | 2013-08-08 | 2020-02-26 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기발광 디스플레이 장치 및 그 제조방법 |
KR102117054B1 (ko) * | 2013-08-14 | 2020-06-01 | 삼성디스플레이 주식회사 | 가요성 표시 장치의 제조 방법 |
KR102218573B1 (ko) * | 2013-09-30 | 2021-02-23 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법 |
KR102100374B1 (ko) * | 2013-10-11 | 2020-04-14 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 |
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