JP6793942B2 - 酸化ガリウムの製造方法及び結晶成長装置 - Google Patents
酸化ガリウムの製造方法及び結晶成長装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6793942B2 JP6793942B2 JP2016213949A JP2016213949A JP6793942B2 JP 6793942 B2 JP6793942 B2 JP 6793942B2 JP 2016213949 A JP2016213949 A JP 2016213949A JP 2016213949 A JP2016213949 A JP 2016213949A JP 6793942 B2 JP6793942 B2 JP 6793942B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gallium
- crystal growth
- gallium oxide
- mist
- aqueous solution
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02612—Formation types
- H01L21/02617—Deposition types
- H01L21/0262—Reduction or decomposition of gaseous compounds, e.g. CVD
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02367—Substrates
- H01L21/0237—Materials
- H01L21/0242—Crystalline insulating materials
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02518—Deposited layers
- H01L21/02521—Materials
- H01L21/02565—Oxide semiconducting materials not being Group 12/16 materials, e.g. ternary compounds
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02518—Deposited layers
- H01L21/0257—Doping during depositing
- H01L21/02573—Conductivity type
- H01L21/02576—N-type
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02612—Formation types
- H01L21/02617—Deposition types
- H01L21/02623—Liquid deposition
- H01L21/02628—Liquid deposition using solutions
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Description
項1. ハロゲン化ガリウム水溶液のミストをキャリアガスとともに結晶成長部に供給し、結晶成長部で酸化ガリウムを作製する工程を含み、前記結晶成長部は周辺部と成長部を含み、成長部の温度が周辺部よりも高温であるコールドウォール構造を有する、酸化ガリウムの製造方法。
項2. 結晶成長部が横型の炉構造を有する、項1に記載の酸化ガリウムの製造方法。
項3. 超音波振動子とハロゲン化ガリウム水溶液の容器を備えたミスト供給部と、コールドウォール構造の結晶成長部を備え、結晶成長部は基体を載置可能な支持体と前記支持体を収容する反応チャンバを備え、前記支持体を加熱する内側ヒーターと前記反応チャンバの側壁を加熱する外側ヒーターをさらに備え、超音波振動子の作用によりハロゲン化ガリウム水溶液の容器内で発生したミストはミスト輸送管を通って前記支持体に載置される基体に供給されるように構成される、酸化ガリウムの結晶成長装置。
項4. ハロゲン化ガリウム水溶液の容器が搬送ガス供給口を備える、請求項3に記載の酸化ガリウムの結晶成長装置。
項5. 前記ミスト輸送管が希釈ガス供給口を備える、請求項3又は4に記載の酸化ガリウムの結晶成長装置。
実施例1
塩酸に金属ガリウムを入れると、金属ガリウムが溶け、1-2週間程度室温で放置することで1-3 mol/Lのガリウムを含む水溶液を作ることができた。これを水で希釈して0.1-0.01 mol/Lの水溶液とし、ガリウムに対して1-3 atom%程度の塩化スズ(無水)をn型不純物として添加した。図1に示す装置にて、この水溶液をドライミスト化して、周辺部300℃、結晶成長部500℃とした横型炉内で,基体に酸化アルミナ単結晶基板を用いて結晶成長を行ったところ、面内で均一なキャリア密度をもつn型酸化ガリウムを作製できた。
実施例2
塩化スズを添加しない以外は実施例1と同様にして、不純物を実質的に含まず、測定限界を超えた高抵抗な酸化ガリウム結晶の膜を酸化アルミナ単結晶基板上に作製できた。
Claims (3)
- ハロゲン化ガリウム水溶液のミストをキャリアガスとともに結晶成長部に供給し、前記結晶成長部で酸化ガリウムを作製する工程を含み、前記結晶成長部は周辺部と成長部を含み、前記成長部の温度が前記周辺部よりも高温である構造を有し、金属ガリウムをハロゲン化水素酸に溶解して得られた0.1〜5mol/Lのハロゲン化ガリウム水溶液を水で希釈した希釈液を用いて前記ミストが作製される、酸化ガリウムの製造方法。
- 金属ガリウムをハロゲン化水素酸に溶解して得られたハロゲン化ガリウム水溶液の濃度が1〜3mol/Lである、請求項1に記載の酸化ガリウムの製造方法。
- 前記結晶成長部が横型の炉構造を有する、請求項1又は2に記載の酸化ガリウムの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016213949A JP6793942B2 (ja) | 2016-11-01 | 2016-11-01 | 酸化ガリウムの製造方法及び結晶成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016213949A JP6793942B2 (ja) | 2016-11-01 | 2016-11-01 | 酸化ガリウムの製造方法及び結晶成長装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018070422A JP2018070422A (ja) | 2018-05-10 |
JP6793942B2 true JP6793942B2 (ja) | 2020-12-02 |
Family
ID=62113764
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016213949A Active JP6793942B2 (ja) | 2016-11-01 | 2016-11-01 | 酸化ガリウムの製造方法及び結晶成長装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6793942B2 (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020011859A (ja) * | 2018-07-17 | 2020-01-23 | トヨタ自動車株式会社 | 成膜方法、及び、半導体装置の製造方法 |
JP2020011858A (ja) * | 2018-07-17 | 2020-01-23 | トヨタ自動車株式会社 | 成膜方法、及び、半導体装置の製造方法 |
JP7274024B2 (ja) * | 2018-08-27 | 2023-05-15 | 信越化学工業株式会社 | 成膜装置 |
JP6875336B2 (ja) * | 2018-08-27 | 2021-05-26 | 信越化学工業株式会社 | 成膜方法 |
JP6839694B2 (ja) * | 2018-12-17 | 2021-03-10 | 株式会社デンソー | 酸化ガリウム膜の成膜方法 |
JP6934852B2 (ja) * | 2018-12-18 | 2021-09-15 | 信越化学工業株式会社 | 酸化ガリウム膜の製造方法 |
JP6857641B2 (ja) * | 2018-12-19 | 2021-04-14 | 信越化学工業株式会社 | 成膜方法及び成膜装置 |
JP7179294B2 (ja) * | 2019-04-12 | 2022-11-29 | 信越化学工業株式会社 | 酸化ガリウム半導体膜の製造方法 |
JP2020188170A (ja) * | 2019-05-15 | 2020-11-19 | トヨタ自動車株式会社 | ミスト生成装置及び成膜装置 |
JP7170617B2 (ja) * | 2019-10-24 | 2022-11-14 | 信越化学工業株式会社 | ガリウム前駆体の製造方法およびこれを用いた積層体の製造方法 |
JP6975417B2 (ja) * | 2020-02-27 | 2021-12-01 | 信越化学工業株式会社 | 成膜用霧化装置およびこれを用いた成膜装置 |
JP6994694B2 (ja) * | 2020-02-27 | 2022-01-14 | 信越化学工業株式会社 | 成膜用霧化装置及びこれを用いた成膜装置 |
KR20220166283A (ko) * | 2020-04-13 | 2022-12-16 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 성막장치 및 성막방법 |
WO2022039017A1 (ja) * | 2020-08-20 | 2022-02-24 | 信越化学工業株式会社 | 成膜方法及び原料溶液 |
JP7436333B2 (ja) * | 2020-09-04 | 2024-02-21 | 信越化学工業株式会社 | 成膜方法及び成膜装置 |
CN117976521B (zh) * | 2024-03-28 | 2024-06-04 | 天津工业大学 | 一种亚稳相氧化镓膜异质外延生长方法及装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016126988A (ja) * | 2015-01-08 | 2016-07-11 | 株式会社Flosfia | 透明導電膜および積層構造体 |
JP6478103B2 (ja) * | 2015-01-29 | 2019-03-06 | 株式会社Flosfia | 成膜装置および成膜方法 |
-
2016
- 2016-11-01 JP JP2016213949A patent/JP6793942B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018070422A (ja) | 2018-05-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6793942B2 (ja) | 酸化ガリウムの製造方法及び結晶成長装置 | |
JP6478103B2 (ja) | 成膜装置および成膜方法 | |
TWI821481B (zh) | 氧化鎵膜之製造方法 | |
US20160222511A1 (en) | Apparatus and method for forming film | |
JP7432904B2 (ja) | 酸化ガリウム半導体膜及び原料溶液 | |
JP6328565B2 (ja) | 多結晶シリコンロッドおよびその製造方法 | |
CN110189981A (zh) | 成膜方法和制造半导体器件的方法 | |
CN109778140A (zh) | 清洁方法和成膜方法 | |
JP2008201647A (ja) | Iii族窒化物結晶の成長方法およびiii族窒化物結晶 | |
JP6090183B2 (ja) | 気相成長装置の清掃又は点検方法及びエピタキシャルウェーハの製造方法 | |
JP2020033576A5 (ja) | ||
TW202315968A (zh) | 成膜裝置及使用此成膜裝置的結晶性半導體膜的成膜方法 | |
KR20220166283A (ko) | 성막장치 및 성막방법 | |
JP7436333B2 (ja) | 成膜方法及び成膜装置 | |
JP5423832B2 (ja) | 結晶成長装置 | |
JP4591415B2 (ja) | 窒化ガリウム結晶の成長方法 | |
JP2007039271A (ja) | ハイドライド気相成長装置、iii族窒化物半導体基板の製造方法、iii族窒化物半導体基板 | |
JP6449074B2 (ja) | 基板処理装置及び基板処理方法 | |
JP2009277785A (ja) | 半導体製造装置及びこの装置を用いた半導体製造方法 | |
JP2023036791A (ja) | 成膜方法 | |
KR20230053592A (ko) | 성막방법 및 원료용액 | |
KR20120055146A (ko) | 수직형 수소화물 기상 증착 반응기의 반응 금속원 공급장치 | |
JP2006199570A (ja) | 水晶薄膜の製造装置 | |
JP2009228115A (ja) | ポリシリコン膜製造方法及びポリシリコン膜製造装置 | |
JP2005072077A (ja) | 化合物半導体製造装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190911 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200529 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200630 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200825 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20201006 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20201104 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6793942 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |