JP6719338B2 - 設計評価支援システム - Google Patents
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Description
また、本発明の設計評価支援システムの1構成例において、前記操作量影響提示手段は、前記平均操作量算出手段が算出した履歴平均値MVmのうち最小値MVm_minを同一の加熱装置内で抽出し、この最小値MVm_minを分子、各履歴平均値MVmを分母とする可視化比率U=MVm_min/MVmを算出して、前記劣化指標の経年変化を示すデータと一緒に提示する処理を、加熱装置毎および加熱装置内の個々の温度制御系毎に行うことを特徴とするものである。
また、本発明の設計評価支援システムの1構成例において、前記劣化指標検出手段は、加熱装置から収集した温度の時系列データと操作量の時系列データについて過渡状態のデータを特定し、過渡状態における温度のデータおよび操作量のデータにより制御対象のモデル数式を同定し、この制御対象のモデル数式に基づいて制御対象のプロセスゲインKpとプロセス時定数Tpとの比率S_res=Kp/Tpを算出する処理を、加熱装置毎および加熱装置内の個々の温度制御系毎に行うことを特徴とするものである。
発明者は、個々の制御ループに与えられる指標であっても、複数の制御ループを対象とする場合は、複数の指標間の傾向を分析すると、装置設計の改善情報に繋がることに着眼した。
ヒータが劣化しやすい原因となる要素として、高温維持時の平均的なヒータ出力(操作量MV平均値)がある。逆に言えば、高温維持時の温度(制御量PV)の高低については、ゾーン間干渉の影響次第では、必ずしもヒータの負荷に直結しているとは限らない。例えば、800℃のゾーンのヒータ出力よりも、700℃のヒータ出力の方が大きい状態になっていることもある。
したがって、高温維持時の操作量MV平均値を併せて可視化することが、より好適である。この可視化により、オペレータにとっては、より確信度の高い考察が可能になる。
以下、本発明の参考例について図面を参照して説明する。図1は本発明の参考例に係る設計評価支援システムの構成を示すブロック図である。本参考例は、上記発明の原理1に対応する例である。本参考例では、制御系の構成要素の劣化を検知する指標の例として、前述のKp/Tp比(すなわちヒータ劣化の指標)を取り上げて説明する。この場合、公知の劣化指標を検出(算出)する劣化指標検出機能は温調計側に実装され、その他の機能は温調計の上位システムに実装されるのが一般的である。
Gp=Kpexp(−Lps)/(1+Tps) ・・・(1)
R=S_res/S_ini ・・・(2)
こうして、設計評価支援システムの処理が完了する。設計評価支援システムは、以上のような処理を定期的に、もしくはユーザから要求があったときに実施する。
次に、本発明の実施の形態について説明する。図9は本発明の実施の形態に係る設計評価支援システムの構成を示すブロック図であり、図1と同一の構成には同一の符号を付してある。本実施の形態は、上記発明の原理2に対応する例である。なお、本実施の形態では、加熱装置Aのタイプについてのみ表示例を示すが、加熱装置B,Cについても、参考例と同様に適用対象になることは言うまでもない。
劣化指標変化提示部4の動作(図10ステップS102)は、参考例で説明したとおりである。
U=MVm_min/MVm ・・・(3)
Claims (4)
- 各コントローラがそれぞれ対応する温度制御ゾーンの温度を制御するマルチループ型加熱装置を評価対象とし、評価対象の複数のマルチループ型加熱装置の劣化指標を、加熱装置毎および加熱装置内の個々の温度制御系毎に検出する劣化指標検出手段と、
この劣化指標検出手段が検出した劣化指標を、同じタイプの加熱装置毎に収集する劣化指標収集手段と、
評価対象の加熱装置の前記劣化指標の初期値を、加熱装置毎および加熱装置内の個々の温度制御系毎に予め記憶する初期値記憶手段と、
前記劣化指標収集手段が収集した劣化指標と前記初期値記憶手段に記憶されている劣化指標の初期値とから、劣化指標の経年変化を示すデータを算出して提示する劣化指標変化提示手段と、
評価対象の複数のマルチループ型加熱装置の個々のコントローラから出力される操作量の時系列データに基づいて、操作量の履歴平均値を加熱装置毎および加熱装置内の個々の温度制御系毎に算出する平均操作量算出手段と、
前記劣化指標変化提示手段が提示する、劣化指標の経年変化を示すデータと、前記履歴平均値との関連性を提示する操作量影響提示手段とを備えることを特徴とする設計評価支援システム。 - 請求項1記載の設計評価支援システムにおいて、
前記劣化指標検出手段は、前記劣化指標として、制御対象のプロセスゲインKpとプロセス時定数Tpとの比率S_res=Kp/Tpを検出し、
前記劣化指標変化提示手段は、前記劣化指標収集手段が収集した比率S_resと前記初期値記憶手段に記憶されている初期値S_iniとから、前記劣化指標の経年変化を示すデータとして、比率R=S_res/S_iniを算出することを特徴とする設計評価支援システム。 - 請求項1記載の設計評価支援システムにおいて、
前記操作量影響提示手段は、前記平均操作量算出手段が算出した履歴平均値MVmのうち最小値MVm_minを同一の加熱装置内で抽出し、この最小値MVm_minを分子、各履歴平均値MVmを分母とする可視化比率U=MVm_min/MVmを算出して、前記劣化指標の経年変化を示すデータと一緒に提示する処理を、加熱装置毎および加熱装置内の個々の温度制御系毎に行うことを特徴とする設計評価支援システム。 - 請求項2記載の設計評価支援システムにおいて、
前記劣化指標検出手段は、加熱装置から収集した温度の時系列データと操作量の時系列データについて過渡状態のデータを特定し、過渡状態における温度のデータおよび操作量のデータにより制御対象のモデル数式を同定し、この制御対象のモデル数式に基づいて制御対象のプロセスゲインKpとプロセス時定数Tpとの比率S_res=Kp/Tpを算出する処理を、加熱装置毎および加熱装置内の個々の温度制御系毎に行うことを特徴とする設計評価支援システム。
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