JP3297020B2 - 制御システムの制御性能評価のための方法及び装置とそのためのプログラム記録媒体 - Google Patents
制御システムの制御性能評価のための方法及び装置とそのためのプログラム記録媒体Info
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- JP3297020B2 JP3297020B2 JP10896199A JP10896199A JP3297020B2 JP 3297020 B2 JP3297020 B2 JP 3297020B2 JP 10896199 A JP10896199 A JP 10896199A JP 10896199 A JP10896199 A JP 10896199A JP 3297020 B2 JP3297020 B2 JP 3297020B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】ＰＩＤコントローラーによる
フィードバック制御システム（以後簡単に「制御システ
ム」と呼ぶ）は、化学プラントなどのプロセス制御分野
において多用されており、通常、一つの製造プラント当
たり５０から１，０００の制御システムが稼働してい
る。本発明は、このようなプラント内の数多くの制御シ
ステムを対象として、その制御性能を定量的に評価する
と共に、制御性能の変化を連続して自動監視する実用的
な制御性能評価方法とそのためのプログラム記録媒体を
提供するものである。本発明によれば、プラント内の制
御性能が悪くて改善を要するような制御システムを短時
間で容易に摘出することができ、また、外乱や運転条件
の変動などによる制御性能の経時変化を、自動的に逸早
く検出することが可能である。また本発明によれば、数
多くの制御システムの中から、その制御性能に問題があ
り改善対策の必要な対象を、逸早く確実に検出すること
ができる。
フィードバック制御システム（以後簡単に「制御システ
ム」と呼ぶ）は、化学プラントなどのプロセス制御分野
において多用されており、通常、一つの製造プラント当
たり５０から１，０００の制御システムが稼働してい
る。本発明は、このようなプラント内の数多くの制御シ
ステムを対象として、その制御性能を定量的に評価する
と共に、制御性能の変化を連続して自動監視する実用的
な制御性能評価方法とそのためのプログラム記録媒体を
提供するものである。本発明によれば、プラント内の制
御性能が悪くて改善を要するような制御システムを短時
間で容易に摘出することができ、また、外乱や運転条件
の変動などによる制御性能の経時変化を、自動的に逸早
く検出することが可能である。また本発明によれば、数
多くの制御システムの中から、その制御性能に問題があ
り改善対策の必要な対象を、逸早く確実に検出すること
ができる。
【０００２】
【従来の技術】従来、制御システムの制御性能評価は、
目標値（ＳＶ）、制御量（ＰＶ）、操作量（ＭＶ）の時
間的な推移とその関連性を観察し、観察者が望ましいと
する状態と対比することにより行われていた。通常この
望ましい状態はあいまいなものであり、定量性に欠けて
いるため、評価結果は、観察者による個人差の大きいも
のとなっていた。また、制御性能の経時変化の検出も、
ＳＶ、ＰＶ、ＭＶの長期間に亘る変動状況を観察するこ
とによって行われていた。この場合、制御装置であるＤ
ＣＳやプロセスコンピュータに保存されている時系列デ
ータと、それを時間軸に展開したグラフ表示（以後「ト
レンドグラフ」と呼ぶ）を観察し、一つ一つの制御シス
テムについて変動の有無の判定を行う必要があった。こ
の作業には多大な労力を必要とし、全ての制御システム
について日常的にこれを実施することは不可能であっ
た。
目標値（ＳＶ）、制御量（ＰＶ）、操作量（ＭＶ）の時
間的な推移とその関連性を観察し、観察者が望ましいと
する状態と対比することにより行われていた。通常この
望ましい状態はあいまいなものであり、定量性に欠けて
いるため、評価結果は、観察者による個人差の大きいも
のとなっていた。また、制御性能の経時変化の検出も、
ＳＶ、ＰＶ、ＭＶの長期間に亘る変動状況を観察するこ
とによって行われていた。この場合、制御装置であるＤ
ＣＳやプロセスコンピュータに保存されている時系列デ
ータと、それを時間軸に展開したグラフ表示（以後「ト
レンドグラフ」と呼ぶ）を観察し、一つ一つの制御シス
テムについて変動の有無の判定を行う必要があった。こ
の作業には多大な労力を必要とし、全ての制御システム
について日常的にこれを実施することは不可能であっ
た。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、制御システ
ムの制御性能の評価とその変化の監視の作業負担を軽減
すると共に、連続的に制御性能の変化監視を行い、ま
た、全ての制御システムの中から問題となる対象システ
ムを摘出できるようにすることを目的としている。
ムの制御性能の評価とその変化の監視の作業負担を軽減
すると共に、連続的に制御性能の変化監視を行い、ま
た、全ての制御システムの中から問題となる対象システ
ムを摘出できるようにすることを目的としている。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明による制御システ
ムの制御性能評価を実現するシステム構成を図１に示し
た。図示のシステムは、ＤＣＳ１とプロセスコンピュー
タ２からなり、プロセスコンピュータ２はさらに、プロ
セスデータベース部３と、データ処理部４と、演算結果
保存部５と、演算結果解析部６を備えている。プロセス
データベース部３は、ＤＣＳ１から各制御システムのＳ
Ｖ、ＰＶ、ＭＶを定周期に連続収集して、データベース
に長期間保存する。データ処理部４は、各時点のＳＶ、
ＰＶ、ＭＶに基づいて、後述される制御性指標Ｃe 、操
作性指標Ｃu 、制御性能指標Ｃp を計算し、制御システ
ムの評価と経時変化監視に必要なデータを作成する。
ムの制御性能評価を実現するシステム構成を図１に示し
た。図示のシステムは、ＤＣＳ１とプロセスコンピュー
タ２からなり、プロセスコンピュータ２はさらに、プロ
セスデータベース部３と、データ処理部４と、演算結果
保存部５と、演算結果解析部６を備えている。プロセス
データベース部３は、ＤＣＳ１から各制御システムのＳ
Ｖ、ＰＶ、ＭＶを定周期に連続収集して、データベース
に長期間保存する。データ処理部４は、各時点のＳＶ、
ＰＶ、ＭＶに基づいて、後述される制御性指標Ｃe 、操
作性指標Ｃu 、制御性能指標Ｃp を計算し、制御システ
ムの評価と経時変化監視に必要なデータを作成する。
【０００５】演算結果保存部５は、データ処理部４が計
算した各時点の制御性指標Ｃe 、操作性指標Ｃu 、制御
性能指標Ｃp を時系列データとして保存する。演算結果
解析部６は、演算結果保存部５に保存されている制御性
指標Ｃe 、操作性指標Ｃu 、制御性能指標Ｃp の時系列
データを解析して、各制御システムの制御性能につい
て、評価と経時変化の監視とを行う。次に本発明方法の
原理について説明する。なお、以下の説明中で用いられ
る記号の一覧を数２８に示す。
算した各時点の制御性指標Ｃe 、操作性指標Ｃu 、制御
性能指標Ｃp を時系列データとして保存する。演算結果
解析部６は、演算結果保存部５に保存されている制御性
指標Ｃe 、操作性指標Ｃu 、制御性能指標Ｃp の時系列
データを解析して、各制御システムの制御性能につい
て、評価と経時変化の監視とを行う。次に本発明方法の
原理について説明する。なお、以下の説明中で用いられ
る記号の一覧を数２８に示す。
【０００６】
【数２８】
【０００７】（１）制御性能評価 評価の指標として制御性指標Ｃe 、操作性指標Ｃu を次
のように定義する。 制御性指標Ｃe ： 数２９の式（１）で表される制御偏差を用い、特定期間
（たとえば１日）における制御偏差の標準偏差を、その
期間の目標値の平均値で無次元化したものである。数２
９の式（２）で表される制御性指標Ｃe が小さいほど、
制御性能は良い。
のように定義する。 制御性指標Ｃe ： 数２９の式（１）で表される制御偏差を用い、特定期間
（たとえば１日）における制御偏差の標準偏差を、その
期間の目標値の平均値で無次元化したものである。数２
９の式（２）で表される制御性指標Ｃe が小さいほど、
制御性能は良い。
【０００８】
【数２９】
【０００９】操作性指標Ｃu ： 同様にして、数３０の式（３）のように特定期間（たと
えば１日）における操作量の標準偏差を、その期間の操
作量の平均値で無次元化したものである。
えば１日）における操作量の標準偏差を、その期間の操
作量の平均値で無次元化したものである。
【００１０】
【数３０】
【００１１】Ｃu は外乱や目標値の変更により左右され
るので、必ずしも小さい方が良いわけではないが、同じ
制御性能が得られるのであれば、Ｃu は小さい方が望ま
しい。Ｃu は、外乱や目標値変更を検知する上で、Ｃe
より有効な指標となる。なお、上記した制御性指標Ｃe
および操作性指標Ｃu は、係数を用いて補正してもよ
く、例えば誤差の分布を考慮して３倍したり、さらには
百分率で取り扱う為に１００倍したりして用いることが
できる。 総合評価の方法： 制御性指標Ｃe を横軸にし、操作性指標Ｃu を縦軸にし
て散布図を描き、Ｃeに重きを置いて制御性能を評価す
る。制御システム個別にＣe の評価基準値を設定するこ
とが望ましいが、数百の対象システムに個別にこれを設
定することは事実上不可能である。そこで、制御量を物
理的に分類し、蓄積された実績から物理量単位で評価基
準値を設定する。すなわち、流量＝５％、圧力＝１％、
温度＝１％、液面＝５％、組成＝３％のように決める。
この評価基準値と個々の制御システムのＣe を比較し、
制御性能を判定する。その結果不良な対象は、制御シス
テムを再調整するなどの対策を施し、Ｃe を評価基準値
内にする。
るので、必ずしも小さい方が良いわけではないが、同じ
制御性能が得られるのであれば、Ｃu は小さい方が望ま
しい。Ｃu は、外乱や目標値変更を検知する上で、Ｃe
より有効な指標となる。なお、上記した制御性指標Ｃe
および操作性指標Ｃu は、係数を用いて補正してもよ
く、例えば誤差の分布を考慮して３倍したり、さらには
百分率で取り扱う為に１００倍したりして用いることが
できる。 総合評価の方法： 制御性指標Ｃe を横軸にし、操作性指標Ｃu を縦軸にし
て散布図を描き、Ｃeに重きを置いて制御性能を評価す
る。制御システム個別にＣe の評価基準値を設定するこ
とが望ましいが、数百の対象システムに個別にこれを設
定することは事実上不可能である。そこで、制御量を物
理的に分類し、蓄積された実績から物理量単位で評価基
準値を設定する。すなわち、流量＝５％、圧力＝１％、
温度＝１％、液面＝５％、組成＝３％のように決める。
この評価基準値と個々の制御システムのＣe を比較し、
制御性能を判定する。その結果不良な対象は、制御シス
テムを再調整するなどの対策を施し、Ｃe を評価基準値
内にする。
【００１２】（２）制御性能変化監視 生産量などの運転条件の変更や外乱などによる制御性能
の変化を、連続して自動的に監視する。そのために、先
に定義したＣe とＣu を組合せ、数３１の式（４）に示
す制御性能指標Ｃp を用いる。
の変化を、連続して自動的に監視する。そのために、先
に定義したＣe とＣu を組合せ、数３１の式（４）に示
す制御性能指標Ｃp を用いる。
【００１３】
【数３１】
【００１４】制御性能指標Ｃp についても百分率で取扱
うために１００倍する等係数を用いて補正してもよい。
ここで、数３２はＣe 、Ｃu の基準値で、任意の期間
（たとえば１ケ月間）の平均値を用いる。制御性能の経
時変化の監視は、定周期（たとえば１日周期）でＣp を
計算し、上限基準値と逐次比較することで、制御性能の
変化を検出できる。上限基準値は、百分率で表示した場
合は、経験的に１５０から２００％が適当である。この
監視で制御性能の変化（劣化）が検出された制御システ
ムについては、再調整などの対策が必要となる。
うために１００倍する等係数を用いて補正してもよい。
ここで、数３２はＣe 、Ｃu の基準値で、任意の期間
（たとえば１ケ月間）の平均値を用いる。制御性能の経
時変化の監視は、定周期（たとえば１日周期）でＣp を
計算し、上限基準値と逐次比較することで、制御性能の
変化を検出できる。上限基準値は、百分率で表示した場
合は、経験的に１５０から２００％が適当である。この
監視で制御性能の変化（劣化）が検出された制御システ
ムについては、再調整などの対策が必要となる。
【００１５】
【数３２】
【００１６】
【発明の実施の形態】図２は、観測されたプロセスデー
タから制御システム性能評価に用いる指標を算出する処
理の実施例フローであり、図１のデータ処理部４で行わ
れる処理の詳細を示す。以下、図１のシステム構成を参
照しつつ、図２のフローの順次のステップ（Ｓ１）〜
（Ｓ６）を説明する。 （Ｓ１）：データ処理部４は、評価対象期間（たとえば
１日）に処理すべき各対象計器について、目標値、制御
量、操作量、制御状態に関するプロセスデータを、プロ
セスデータベース部３のデータベースより収集する。 （Ｓ２）：計器ごとに、その目標値と制御量を計器レン
ジなどの計器固有の補正値を用いて正規化する。以後、
正規化されたデータのみが用いられるようにする。
タから制御システム性能評価に用いる指標を算出する処
理の実施例フローであり、図１のデータ処理部４で行わ
れる処理の詳細を示す。以下、図１のシステム構成を参
照しつつ、図２のフローの順次のステップ（Ｓ１）〜
（Ｓ６）を説明する。 （Ｓ１）：データ処理部４は、評価対象期間（たとえば
１日）に処理すべき各対象計器について、目標値、制御
量、操作量、制御状態に関するプロセスデータを、プロ
セスデータベース部３のデータベースより収集する。 （Ｓ２）：計器ごとに、その目標値と制御量を計器レン
ジなどの計器固有の補正値を用いて正規化する。以後、
正規化されたデータのみが用いられるようにする。
【００１７】（Ｓ３）：制御状態が自動モードになって
いる計器について、目標値、制御量、操作量それぞれの
平均値を求め、さらに目標値−制御量と操作量に関して
それぞれの標準偏差を求める。 （Ｓ４）：（Ｓ３）で求めた各量の平均値と標準偏差の
データにより制御性指標Ｃe と操作性指標Ｃu を演算
し、演算結果保存部５に出力する。このときＣe とＣu
の値は、評価をしやすくするため、適当な係数（たとえ
ばＣe に対してはαe ＝３００、Ｃu に対してはαu ＝
３００）を乗じて補正しておく。 （Ｓ５）：あらかじめ保存されているＣe とＣu の基準
値を、制御計器ごとに収集する。 （Ｓ６）：当日分の制御性指標Ｃe 、操作性指標Ｃu と
それらの基準値とにより制御性能指標を求め、適当な係
数（たとえばαp ＝１００）で補正して、演算結果保存
部５に出力する。 次に、制御性能変化監視についての具体例を説明する。
いる計器について、目標値、制御量、操作量それぞれの
平均値を求め、さらに目標値−制御量と操作量に関して
それぞれの標準偏差を求める。 （Ｓ４）：（Ｓ３）で求めた各量の平均値と標準偏差の
データにより制御性指標Ｃe と操作性指標Ｃu を演算
し、演算結果保存部５に出力する。このときＣe とＣu
の値は、評価をしやすくするため、適当な係数（たとえ
ばＣe に対してはαe ＝３００、Ｃu に対してはαu ＝
３００）を乗じて補正しておく。 （Ｓ５）：あらかじめ保存されているＣe とＣu の基準
値を、制御計器ごとに収集する。 （Ｓ６）：当日分の制御性指標Ｃe 、操作性指標Ｃu と
それらの基準値とにより制御性能指標を求め、適当な係
数（たとえばαp ＝１００）で補正して、演算結果保存
部５に出力する。 次に、制御性能変化監視についての具体例を説明する。
【００１８】制御性能変化監視 制御性能変化監視については、図３に示す液面制御シス
テムの事例により説明する。図３の（ａ）のトレンドグ
ラフから分かるように、１７日目のところで制御システ
ムの調整を行ったが、これが逆に制御性能に悪影響を及
ぼしている。このデータについて制御性能の経時変化監
視を行うと、図３の（ｂ）に示すように制御システム調
整前までは、Ｃp 値は１００％近辺であったものが、調
整後は１５０〜１８０％まで上昇している。このよう
に、制御性能の劣化がＣp によって容易に検出できるこ
とが分かる。すなわち、連続して定周期でＣp を監視す
ることにより、制御性能の経時変化を自動的に検出する
ことができる。以上説明した本発明による制御システム
の制御性能評価方法は、プロセスコンピュータなどのコ
ンピュータを制御するプログラムを用いて実現される。
このようなプログラムは、コンピュータ内のメモリやＨ
ＤＤ、あるいはＣＤ−ＲＯＭ，ＭＯ，ＺＩＰ，ＭＤ，Ｆ
Ｄなどの任意のリムーバル記憶媒体に記録して用いられ
ることができる。
テムの事例により説明する。図３の（ａ）のトレンドグ
ラフから分かるように、１７日目のところで制御システ
ムの調整を行ったが、これが逆に制御性能に悪影響を及
ぼしている。このデータについて制御性能の経時変化監
視を行うと、図３の（ｂ）に示すように制御システム調
整前までは、Ｃp 値は１００％近辺であったものが、調
整後は１５０〜１８０％まで上昇している。このよう
に、制御性能の劣化がＣp によって容易に検出できるこ
とが分かる。すなわち、連続して定周期でＣp を監視す
ることにより、制御性能の経時変化を自動的に検出する
ことができる。以上説明した本発明による制御システム
の制御性能評価方法は、プロセスコンピュータなどのコ
ンピュータを制御するプログラムを用いて実現される。
このようなプログラムは、コンピュータ内のメモリやＨ
ＤＤ、あるいはＣＤ−ＲＯＭ，ＭＯ，ＺＩＰ，ＭＤ，Ｆ
Ｄなどの任意のリムーバル記憶媒体に記録して用いられ
ることができる。
【００１９】
【発明の効果】制御性能システムの定量的な評価が可能
になるとともに、自動的に制御性能の経時変化の検出が
可能になる。これによって、従来人に依存していた制御
性能評価の作業が自動化され、人の負荷を軽減できる。
また、制御性能の劣化を早期検出できるので、制御シス
テムの再調整を遅滞なく行え、制御不良による運転変調
や経済的な損失を防止することができる。
になるとともに、自動的に制御性能の経時変化の検出が
可能になる。これによって、従来人に依存していた制御
性能評価の作業が自動化され、人の負荷を軽減できる。
また、制御性能の劣化を早期検出できるので、制御シス
テムの再調整を遅滞なく行え、制御不良による運転変調
や経済的な損失を防止することができる。
【図１】本発明のシステム構成図である。
【図２】制御システム評価のための指標算出処理のフロ
ー図である。
ー図である。
【図３】制御性能評価の例のグラフである。
１ ＤＣＳ ２ プロセスコンピュータ ３ プロセスデータベース部 ４ データ処理部 ５ 演算結果保存部 ６ 演算結果解析部
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平６−255520（ＪＰ，Ａ) 藤原敏勝、外２名、「《第５回》ＰＩ Ｄ制御のエンジニアリング」、計測と制 御、社団法人計測自動制御学会、 小河守正、「プロセスガスクロを用い た化学反応プロセスのディジタル制 御」、計装、工業技術社、昭和58年 飯野穣、外１名、「モデル予測制御の エチレン蒸留塔への適用」、システム ／制御／情報、社団法人システム制 (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G05B 13/00 - 13/04 G05B 23/00 - 23/02
Claims (3)
- 【請求項１】 制御システムの制御性能を反映するパラ
メータを観測し、該パラメータの経時変化の大小を反映
する制御性能評価指標を算出し、該制御性能評価指標の
大小により制御性能を評価する制御システムの制御性能
評価方法において、 該制御性能評価指標が、数１〜数９で定義される制御性
能指標Ｃp であることを特徴とする制御システムの制御
性能評価方法。 【数１】 【数２】 【数３】 【数４】 【数５】 【数６】 【数７】 【数８】 【数９】 （ここで、数１は任意の期間における目標値の平均値、
数２は制御偏差の標準偏差、数３のＣeは制御性指標、
数４は任意の期間における操作量の平均値、数５は操作
量の標準偏差、数６のＣuは操作性指標、数７はＣ e の基
準値であって任意の期間の平均値、数８はＣ u の基準値
であって任意の期間の平均値をそれぞれ示す。） - 【請求項２】 制御システムの制御性能を評価する制御
性能評価装置であって、 制御システムの制御性能を反映するパラメータを収集し
て、収集したパラメータを保存するプロセスデータベー
ス部と、 該プロセスデータベース部に保存されたパラメータに基
づいて、数１０〜数１２の式で定義される制御性指標Ｃ
e 、数１３〜数１５の式で定義される操作性指標Ｃu、
および数１６〜数１８の式で定義される制御性能指標Ｃ
pを算出するデータ処理部と、 該データ処理部で算出された制御性能指標Ｃp を時系列
データとして保存する演算結果保存部と、 該演算結果保存部に保存された制御性能指標Ｃp の時系
列データを解析して制御システムの制御性能の評価と経
時変化の監視を行う演算結果解析部と、 を含んで構成されていることを特徴とする制御システム
の制御性能評価装置。 【数１０】 【数１１】 【数１２】 【数１３】 【数１４】 【数１５】 【数１６】 【数１７】 【数１８】 （ここで、数１０は任意の期間における目標値の平均
値、数１１は制御偏差の標準偏差、数１２のＣeは制御
性指標、数１３は任意の期間における操作量の平均値、
数１４は操作量の標準偏差、数１５のＣuは操作性指
標、数１６はＣ e の基準値であって任意の期間の平均
値、数１７はＣ u の基準値であって任意の期間の平均値
をそれぞれ示す。） - 【請求項３】 観測結果の制御システムの制御性能を反
映するパラメータについて、該パラメータの経時変化の
大小を反映する制御性能評価指標を算出する機能と、該
制御性能評価指標の大小により制御システムの制御性能
を評価する機能とを備えたプログラムを記録したコンピ
ュータ読み取り可能なプログラム記録媒体であって、 該制御性能評価指標が、数１９〜数２７で定義される制
御性能指標Ｃp であることを特徴とするプログラム記録
媒体。 【数１９】 【数２０】 【数２１】 【数２２】 【数２３】 【数２４】 【数２５】 【数２６】 【数２７】 （ここで、数１９は任意の期間における目標値の平均
値、数２０は制御偏差の標準偏差、数２１のＣeは制御
性指標、数２２は任意の期間における操作量の平均値、
数２３は操作量の標準偏差、数２４のＣuは操作性指
標、数２５はＣ e の基準値であって任意の期間の平均
値、数２６はＣ u の基準値であって任意の期間の平均値
をそれぞれ示す。）
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10896199A JP3297020B2 (ja) | 1999-04-16 | 1999-04-16 | 制御システムの制御性能評価のための方法及び装置とそのためのプログラム記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10896199A JP3297020B2 (ja) | 1999-04-16 | 1999-04-16 | 制御システムの制御性能評価のための方法及び装置とそのためのプログラム記録媒体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000305624A JP2000305624A (ja) | 2000-11-02 |
| JP3297020B2 true JP3297020B2 (ja) | 2002-07-02 |
Family
ID=14498055
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10896199A Expired - Fee Related JP3297020B2 (ja) | 1999-04-16 | 1999-04-16 | 制御システムの制御性能評価のための方法及び装置とそのためのプログラム記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3297020B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20210081815A (ko) * | 2019-12-24 | 2021-07-02 | 한국전력공사 | 발전소의 제어루프 성능 감시 장치 및 그 방법 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6190882B2 (ja) * | 2013-07-05 | 2017-08-30 | 富士機械製造株式会社 | メンテナンス必要個所を推定可能な自動システム |
| JP6719338B2 (ja) * | 2016-08-30 | 2020-07-08 | アズビル株式会社 | 設計評価支援システム |
-
1999
- 1999-04-16 JP JP10896199A patent/JP3297020B2/ja not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (3)
| Title |
|---|
| 小河守正、「プロセスガスクロを用いた化学反応プロセスのディジタル制御」、計装、工業技術社、昭和５８年 |
| 藤原敏勝、外２名、「《第５回》ＰＩＤ制御のエンジニアリング」、計測と制御、社団法人計測自動制御学会、 |
| 飯野穣、外１名、「モデル予測制御のエチレン蒸留塔への適用」、システム／制御／情報、社団法人システム制 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20210081815A (ko) * | 2019-12-24 | 2021-07-02 | 한국전력공사 | 발전소의 제어루프 성능 감시 장치 및 그 방법 |
| KR102298967B1 (ko) * | 2019-12-24 | 2021-09-08 | 한국전력공사 | 발전소의 제어루프 성능 감시 장치 및 그 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000305624A (ja) | 2000-11-02 |
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