JP6711857B2 - スパークプラグ - Google Patents

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Description

本発明は、スパークプラグに関するものである。
特許文献1には、スパークプラグの一例が開示されている。特許文献1で開示されるスパークプラグは、筒状の絶縁体と、絶縁体の内側に保持される中心電極と、中心電極との間で火花放電ギャップを形成する接地電極と、中心電極の基端側において絶縁体の内側に保持される抵抗体と、を備える。そして、抵抗体と中心電極との間には導電性シール材(ガラスシール材)が充填されている。このスパークプラグは、絶縁体の内部に抵抗体が配置されているため、中心電極から発生する電波雑音を抑制することができ、抵抗体の両側に密着させた形で導電性シール材(ガラスシール材)が配置されているため、絶縁体内のシール性を高めつつ、中心電極への導電路を確保することができる。
特開平9−266055号公報
しかし、この種のスパークプラグでは、絶縁体と中心電極とで熱膨張率差が大きくなりやすいため、製造過程において熱膨張率差に起因する隙間が生じる虞がある。
例えば、ホットプレスを用いてガラス封着する場合、絶縁体に形成された貫通孔内に中心電極、導電性シール材(原料となる粉末材料)、抵抗体、端子金具などを配置した後、これらを加熱することで粉末材料を溶融させ、その後、冷却することで溶融した導電性シール材を固化させて中心電極と抵抗体との間に固着させるような方法を採用し得る。しかし、中心電極と絶縁体との熱膨張率差が大きくなるほど、冷却過程において中心電極の熱収縮の度合いが絶縁体より大きくなり、中心電極の界面付近に隙間が生じやすくなる。このような熱膨張率差の影響は、貫通孔内において中心電極の占める割合が大きいほど生じやすく、中心電極の後端側に配置される鍔部付近では特に懸念される。
本発明は、上述した課題を解決するためになされたものであり、中心電極の後端側に導電性シール材が充填されるスパークプラグにおいて、中心電極と導電性シール材との間に隙間が発生することを抑制することができ、且つ中心電極と導電性シール材との固着性を高め得る構成を提供することを目的とするものである。
本発明の一つであるスパークプラグは、
自身の先端側に接地電極が接続される筒状の主体金具と、
第1孔部と前記第1孔部より内径の大きい第2孔部とが段部を介して連なる形態をなす貫通孔を備え、前記貫通孔が軸線の方向に沿って延びる絶縁体と、
前記第2孔部内に配置され、前記段部に支持される鍔部と、前記鍔部から前記第1孔部側に延びる軸部と、を備え、前記絶縁体よりも熱膨張率が大きい中心電極と、
前記第2孔部内に配置され、自身の先端が前記中心電極の後端から離れて配置される抵抗体と、
前記中心電極よりも熱膨張率が小さく、前記第2孔部内において少なくとも前記中心電極と前記抵抗体との間に充填される導電性シール材と、
を備えるスパークプラグであって、
前記中心電極は、自身の後端側から先端側に向かって続く凹部を有し、
前記凹部は、前記軸線の方向において前記鍔部の最大外径部の位置に少なくとも設けられ、
前記導電性シール材は、前記中心電極の後端から前記凹部内に入り込んでいる。
上記スパークプラグは、鍔部の最大外径部の位置において、鍔部内の全領域を中心電極の材料によって構成せずに、内部の一部領域を中心電極よりも熱膨張率が小さい導電性シール材によって構成する。このような構成であるため、鍔部の最大外径部において中心電極の肉厚を抑え、最大外径部全体として熱膨張や熱収縮を抑えることができる。よって、加熱工程での膨張量や冷却工程での収縮量を小さくすることができ、絶縁体と中心電極との熱膨張率差に起因して最大外径部付近で隙間が生じてしまうことを効果的に抑制し得る。しかも、上記スパークプラグでは、軸線の方向において中心電極の後端から最大外径部まで及ぶように凹部を形成し、その凹部の内部に導電性シール材を入り込ませているため、中心電極の後端側において導電性シール材と中心電極とが接触する面積をより大きく確保することができる。よって、導電性シール材と中心電極との固着性を効果的に高めることができる。
本発明のスパークプラグは、軸線を通るいずれの平面方向で切断した切断面でも、軸線の方向における鍔部の最大外径部の位置において、鍔部の外径βに対する凹部の内径αの割合α/βが40%以上であってもよい。
このようにすれば、鍔部の最大外径部の位置において、凹部の割合をより大きく確保することができるため、最大外径部において中心電極の肉厚がより一層抑えられ、加熱工程での膨張量や冷却工程での収縮量をより一層小さくすることができる。しかも、軸線を通るいずれの平面方向で切断した切断面でも、α/βが40%以上であるため、周方向全体にわたって中心電極の肉厚を小さくすることができ、最大外径部付近で熱膨張率差に起因する隙間が生じることを、より確実に抑制し得る。
本発明のスパークプラグにおいて、段部は、第1孔部に近づくにつれて内径が次第に小さくなるテーパ部を有していてもよい。そして、鍔部の先端側の表面が、テーパ部の表面と接触し、凹部の先端は、テーパ部の先端よりも第1孔部側にあってもよい。
このようにすれば、軸線の方向において、少なくとも中心電極の後端からテーパ部の先端まで及ぶ範囲で中心電極の肉厚を低減することができ、この範囲にわたって隙間の発生を抑制し得る。しかも、凹部の深さ(軸線の方向の長さ)がより大きくなるため、導電性シール材と中心電極とが接触する面積をより大きくすることができ、導電性シール材と中心電極との固着性をより一層高めることができる。
本発明のスパークプラグにおいて、導電性シール材は、鍔部の外周面と貫通孔の内周面との間に入り込んでいてもよい。そして、凹部は、自身の先端が導電性シール材において中心電極の外側に配置される部分の先端よりも軸線の方向において接地電極側に配置されていてもよい。
このように、鍔部の外周面と貫通孔の内周面との間に導電性シール材が入り込んでいれば、鍔部の外周面と貫通孔の内周面との間のシール性がより高まる。但し、この構成では、鍔部の肉厚が大きいと、加熱工程や冷却工程で鍔部の膨張量又は収縮量が大きくなるため、鍔部の外周面と導電性シール材の間に隙間が生じやすくなってしまう。しかし、本発明によれば、凹部内に導電性シール材を入り込ませることにより鍔部全体として熱膨張や熱収縮を抑えることができるため、鍔部の外周面付近で隙間が発生することを確実に抑制し得る。しかも、凹部の深さ(軸線の方向の長さ)がより大きくなるため、導電性シール材と中心電極とが接触する面積をより大きくすることができ、導電性シール材と中心電極との固着性をより一層高めることができる。
本発明のスパークプラグにおいて、鍔部は、最大外径部よりも先端側に、軸部に近づくにつれて外径が次第に小さくなる縮径部を有していてもよい。そして、凹部は、軸線の方向において縮径部の後端よりも軸部側に、最大外径部での最大内径よりも内径が小さい小径部を有していてもよい。
本発明のように凹部を設けた構成では、凹部をより深く形成することで、熱膨張率差を抑制し得る領域を軸線の方向においてより大きく確保することができ、且つ導電性シール材と中心電極との固着性をより高めることができる。但し、鍔部の先端側に縮径部(軸部に近づくにつれて外径が次第に小さくなる部分)が形成されたものでは、内径の大きい凹部を縮径部の内部にまで及ぶように形成すると、縮径部での肉厚が小さくなり、強度が不十分になる虞がある。しかし、上述した構成のように、凹部において、縮径部の後端よりも軸部側に小径部(最大外径部での最大内径よりも内径が小さい部分)を設けるようにすれば、縮径部において肉厚をより大きく確保しつつ、凹部をより深く形成することができる。
本発明のスパークプラグにおいて、凹部の後端側には、後端に近づくにつれて内径が次第に大きくなる拡径部が設けられていてもよい。
このように拡径部が設けられていれば、製造工程において導電性シール材の原料が凹部内に入り込みやすくなるため、凹部内において導電性シール材の密度を高めやすくなる。
本発明の一つである上述のスパークプラグによれば、中心電極と導電性シール材との間に隙間が発生することを抑制することができ、且つ中心電極と導電性シール材との固着性を高めることができる。
第1実施形態のスパークプラグの一例を示す断面概略図である。 第1態様のスパークプラグにおける中心電極の後端部付近を拡大して示す拡大断面図である。 第2態様のスパークプラグにおける中心電極の後端部付近を拡大して示す拡大断面図である。 変形例1のスパークプラグにおける中心電極の後端部付近を拡大して示す拡大断面図である。 変形例2のスパークプラグにおける中心電極の後端部付近を拡大して示す拡大断面図である。 変形例3のスパークプラグにおける中心電極の後端部付近を拡大して示す拡大断面図である。
A.第1実施形態
A1.スパークプラグの基本構成
図1は、本発明の第1実施形態としてのスパークプラグ1の全体構成を示す断面概略図である。図1において図示されたラインCLは、スパークプラグ1の中心軸を示している。図1において図示された断面は、中心軸CLの位置で中心軸CLに沿って切断した切断面である。
以下の説明では、中心軸CLのことを「軸線CL」とも呼び、中心軸CLと平行な方向を「軸線の方向」とも呼ぶ。また、軸線の方向を前後方向とし、軸線の方向において発火部側(火花放電間隙g側)をスパークプラグ1の前側とし、軸線の方向において端子金具5が突出する側を後ろ側とする。なお、軸線の方向において発火部側をスパークプラグ1の先端側とも呼び、軸線の方向において発火部とは反対側を後端側とも呼ぶ。
スパークプラグ1は、絶縁体3と、中心電極4と、端子金具5と、主体金具7と、電気的接続部60と、接地電極8と、を備える。
主体金具7は、自身の先端側に接地電極8が接続される筒状(具体的には略円筒形状)の部材であり、絶縁体3の一部を収容しつつ保持するように形成されている。主体金具7における先端方向の外周面にはネジ部9が形成されており、このネジ部9を利用して図示しない内燃機関のシリンダヘッドにスパークプラグ1が装着される。
絶縁体3は、主体金具7の内周部に滑石10及びパッキン14を介して保持されており、先端部(前端部)付近が主体金具7の先端面(前端面)から突出した状態で、主体金具7に固定されている。貫通孔3Aは、絶縁体3の先端部(前端部)と後端部との間で貫通して形成された軸孔であり、軸線CLの方向に延びている。貫通孔3Aは、絶縁体3における先端側で中心電極4を保持する第1孔部11と、第1孔部11の後方側で電気的接続部60を収容する第2孔部12とを有する。第1孔部11及び第2孔部12はいずれも、内周面が軸線CLを中心とする円筒面となっており、第1孔部11の内周面の径(内径)よりも第2孔部12の内周面の径(内径)のほうが大きくなっている。また、第1孔部11と第2孔部12の間には、後方側となるにつれて内周面の径が大きくなるように後方側に向かって拡径するテーパ状の段部13が、貫通孔3Aの一部として設けられている。第1孔部11は、段部13の先端(前端)から絶縁体3の先端(前端)までの範囲で一定の内径となっており、第2孔部12は、段部13の後端から端子金具5の先端(前端)よりも後方側の所定位置までの範囲で一定の内径となっている。このように、絶縁体3の貫通孔3Aは、第1孔部11と第1孔部11より内径の大きい第2孔部12とが段部13を介して連なる形態をなしている。絶縁体3は、機械的強度、熱的強度、電気的強度等を有する材料であることが望ましく、このような材料として、例えば、アルミナを主体とするセラミック焼結体が挙げられる。絶縁体3の熱膨張率は、中心電極4の熱膨張率よりも小さく、導電性シール材61及び第2シール材62の熱膨張率よりも小さくなっている。
中心電極4は、貫通孔3Aの先端側(前端側)で保持されつつ一部が絶縁体3の前端面から突出した形態で露出する構成をなし、主体金具7と絶縁された状態で保持されている。中心電極4は、後端側に鍔部44が形成され、鍔部44よりも外径が小さい軸部42が鍔部44の前側に連結され、鍔部44よりも外径が小さい筒状部45が鍔部44の後ろ側に連結された構成で貫通孔3A内に収容されている。鍔部44は、第2孔部12内に配置され、貫通孔3Aの段部13に係止した構成で段部13に支持される。筒状部45は、鍔部44の後端から後方側に延びる部分であり、鍔部44とともに第2孔部12内に配置されている。軸部42は、鍔部44から第1孔部11側に延びる部分であり、第1孔部11内に挿し通されている。
中心電極4は、熱伝導性及び機械的強度等を有する材料で形成されることが望ましく、例えば、インコネル(商標名)等のNi基合金で形成される。中心電極4の軸心部は、Cu又はAgなどの熱伝導性に優れた金属材料により形成されてもよい。中心電極4の熱膨張率は、絶縁体3の熱膨張率よりも大きく、導電性シール材61及び第2シール材62の熱膨張率よりも大きくなっている。
接地電極8は、一端が主体金具7の先端面(前端面)に接合され、途中で略L字に曲げられて、その先端部が中心電極4の先端部(前端部)と間隙を介して対向するように形成されている。接地電極8は、中心電極4を形成する材料と同様の材料により形成される。
中心電極4と接地電極8とが対向する面には、白金合金及びイリジウム合金等により形成される貴金属チップ29,30が設けられている。各貴金属チップ29,30の間には、火花放電間隙gが構成されている。なお、中心電極4及び接地電極8の一方又は両方の貴金属チップを省略してもよい。
端子金具5は、中心電極4と接地電極8との間で火花放電を行なうための電圧を、外部から中心電極4に印加するために用いられる。端子金具5は、貫通孔3Aの他端側(後端側)で保持され、一部が絶縁体3の後端部よりも後方側に突出して配置されている。端子金具5の前端側部分の表面は、例えばローレット加工などによる凹凸構造となっており、これにより端子金具5と第2シール材62との密着性が高められ、端子金具5と絶縁体3とが強固に固定されている。端子金具5は、例えば、低炭素鋼等で形成され、その表面にNi金属層がメッキ等で形成されている。
電気的接続部60は、貫通孔3Aの内部において中心電極4と端子金具5との間に配置されている。電気的接続部60は、貫通孔3Aの内部で中心電極4と端子金具5とを電気的に接続し、これらを導通させる導通経路として機能する。電気的接続部60は、抵抗体63、導電性シール材61、第2シール材62、を備える。
抵抗体63は、導電性を有し、端子金具5と中心電極4との間における電気抵抗として機能する部分であり、第2孔部12内に配置され、自身の先端(前端)が中心電極4の後端から離れて配置されている。抵抗体63は、電気抵抗として機能することにより、火花放電時の電波雑音(ノイズ)の発生を抑制する。抵抗体63は、ガラス粉末と、炭素を含む導電性粉末と、を含有する抵抗体組成物を焼結して形成された抵抗材によって形成されている。
導電性シール材61及び第2シール材62は、貫通孔3Aの内部をシールする層である。導電性シール材61及び第2シール材62は、ホウケイ酸ソーダガラス等のガラス粉末と、Cu、Fe等の金属粉末とを含むシール粉末を焼結して形成することができる。導電性シール材61及び第2シール材62のいずれも、熱膨張率が中心電極4の熱膨張率よりも小さく、絶縁体3の熱膨張率よりも大きい。
導電性シール材61は、貫通孔3A内において絶縁体3と中心電極4とを封着固定する部分であり、第2孔部12内において中心電極4と抵抗体63との間に充填されている。導電性シール材61は、貫通孔3A内において中心電極4の後端部付近の表面に密着するとともに抵抗体63の先端面(前端面)に密着する形で中心電極4と抵抗体63との間に配置され、中心電極4と抵抗体63とを電気的に接続し、中心電極4と抵抗体63の間の導通経路として機能する。
第2シール材62は、貫通孔3A内において絶縁体3と端子金具5とを封着固定する導電性のシール材であり、第2孔部12内において端子金具5と抵抗体63との間に配置されている。第2シール材62は、第2孔部12内において抵抗体63の後端面に密着するとともに端子金具5の先端部付近(前端部付近)の表面に密着する形でと端子金具5と抵抗体63との間に配置され、端子金具5と抵抗体63とを電気的に接続し、端子金具5と抵抗体63の間の導通経路として機能する。
A2.第1態様の詳細構成
次に、第1態様の詳細構成について説明する。図2は、第1態様のスパークプラグ1における中心電極の後端部付近を拡大して示す拡大断面図である。
図2の例では、中心電極4の鍔部44が最大外径部44Bと縮径部44Aとを有する。最大外径部44Bは、鍔部44において外周面の径が最大となる部分であり、具体的には、外周面が円筒面とされ、軸線の方向の所定範囲(領域AR1)において外径が一定である外径一定部として構成されている。縮径部44Aは、最大外径部44Bの先端(前端)から前側に続くように最大外径部44Bよりも先端側に配置され、軸部42に近づくにつれて外径が次第に小さくなるようなテーパ形状且つ先細り形状となっている。図2の例では、縮径部44Aの後端が最大外径部44Bの先端(前端)と一致し、縮径部44Aの先端(前端)が軸部42の後端と一致している。
図2の例では、貫通孔3Aの一部をなす段部13がテーパ部13Aを有している。具体的には、段部13の全体がテーパ部13Aとして構成され、テーパ部13Aの後端が第2孔部12の先端(前端)と一致し、テーパ部13Aの先端(前端)が第1孔部11の後端と一致している。テーパ部13Aは、第1孔部11に近づくにつれて内径が次第に小さくなっており、テーパ部13Aの後端の内径は第2孔部12の内径と一致し、テーパ部13Aの前端の内径は第1孔部11の内径と一致している。このように構成されたテーパ部13Aの表面に対し、鍔部44の先端側の表面が接触している。具体的には、鍔部44の縮径部44Aの表面とテーパ部13Aの表面とが接触する構成をなしている。
中心電極4は、このように構成された鍔部44付近において、中心電極4の後端4Aから先端4B(図1)側に向かって続く凹部46を有している。凹部46は、軸線CLを中心とし、軸線CLに沿うように前側に向かって凹んだ形状をなす穴部である。凹部46の深さ方向は軸線の方向(前後方向)であり、凹部46の最も深い位置が凹部46の先端(前端)となっている。このように凹部46が形成されているため、中心電極4では、軸線の方向において凹部46が形成された領域の形状が、中空形状(具体的には略円筒状)となっている。
図2のように、凹部46は、軸線の方向において鍔部44の最大外径部44Bの位置に少なくとも設けられている。図2では、軸線の方向において最大外径部44Bが設けられた範囲を領域AR1として示しており、図2の例では、最大外径部44Bが設けられた範囲(領域AR1)の全体に及ぶように凹部46が形成されている。つまり、凹部46の先端46A(前端)は、最大外径部44Bの先端(前端)よりも先端側(前側)となっている。具体的には、凹部46の先端46Aは、テーパ部13Aの先端(前端)よりも第1孔部11側となっており、軸線の方向においてテーパ部13Aの全範囲にわたるように凹部46が設けられている。
凹部46は、内周面が軸線CLを中心とする円筒面として構成された円筒面部48と、円筒面部48よりも後方側に形成された拡径部49と、円筒面部48よりも前方側に形成された小径部47と、を有する。
円筒面部48は、軸線方向の所定範囲にわたって形成され、この所定範囲にわたって一定の内径D1となっている。円筒面部48は、筒状部45と鍔部44とに跨るように形成され、円筒面部48の先端(前端)は、軸線の方向における領域AR1内において最大外径部44Bの先端(前端)寄りの位置となっている。なお、図2では、円筒面部48の内径(凹部46の最大内径)を符号D1で示し、最大外径部44Bの外径(鍔部44の最大外径)を符号D2で示し、第2孔部12の内径を符号D3で示す。
拡径部49は、凹部46の後端側に形成され、凹部46の後端に近づくにつれて内径が次第に大きくなるように形成されている。図2の例では、中心電極4の後端4Aが拡径部49の後端であり、凹部46の後端でもある。拡径部49の先端(前端)は、円筒面部48の後端と一致しており、拡径部49の先端(前端)の内径は、円筒面部48の内径D1と一致している。拡径部49の内周面は、凹部46の後端に近づくにつれて次第に拡がるテーパ面となっている。
小径部47は、円筒面部48の内径D1よりも内径が小さい部分であり、凹部46の先端(前端)に近づくにつれて内径が次第に小さくなるように形成された部分である。円筒面部48の内径D1は、最大外径部44Bでの最大内径となっており、小径部47は、この最大内径よりも内径が小さくなっている。小径部47の後端は、軸線の方向において縮径部44Aの後端44Zと同位置又は縮径部44Aの後端よりもやや後方側の位置となっており、小径部47の先端(前端)は軸線の方向において縮径部44Aの先端44Y(前端)よりも先端側(前側)の位置となっている。このように、小径部47は、軸線の方向において縮径部44Aの後端44Zよりも軸部42側に少なくとも一部が設けられており、具体的には、軸線の方向において、縮径部44Aが設けられた範囲の全体にわたるように設けられている。図2の例では、軸線の方向において縮径部44Aが設けられた範囲の全体にわたり、先端側(前側)となるにつれて内径が次第に小さくなるように小径部47が配置されるため、縮径部44Aにおいて中心電極4の肉厚が確保されやすい。
導電性シール材61は、中心電極4の後端から凹部46内に入り込んでおり、凹部46内の全体にわたって充填されている。更に、導電性シール材61は、中心電極4の後端側の一部を周方向に囲む形で中心電極4の外周面と絶縁体3の内周面との間に入り込んでいる。具体的には、導電性シール材61は、筒状部45の外周面と絶縁体3の内周面との間に入り込んでおり、筒状部45の周方向全体を囲む形で配置されている。更に、導電性シール材61は、最大外径部44Bの外周面と絶縁体3の内周面との間にまで入り込んでおり、最大外径部44Bの周方向全体を囲む形で配置されている。導電性シール材61において中心電極4の外側に配置される部分の先端61A(前端)は、例えば、最大外径部44Bの先端(前端)の位置、又はこの位置よりも先端側(前側)の位置(例えば、縮径部44Aとテーパ部13Aの間の位置)となっている。そして、凹部46は、自身の先端46Aが上記先端61Aよりも軸線の方向において先端側(接地電極8側)に配置されている。
このように構成されたスパークプラグ1は、軸線CLを通るいずれの平面方向で切断した切断面でも、軸線の方向における鍔部44の最大外径部44Bの位置(図2で示す領域AR1の位置)において、鍔部44の外径βに対する凹部46の内径αの割合α/βが40%以上となっている。具体的には、軸線CLと直交し且つ最大外径部44Bを通るいずれかの仮想平面において、「軸線CLを通るいずれの平面方向で切断した切断面でも、鍔部44の外径βに対する凹部46の内径αの割合α/βが40%以上となる関係」であればよい。例えば、所定領域AR1内で軸線CLと直交する任意の仮想平面P1において、「軸線CLを通るいずれの平面方向で切断した切断面でも、鍔部44の外径βに対する凹部46の内径αの割合α/βが40%以上となるような関係」であればよい。より望ましくは、軸線CLと直交する仮想平面のうち、最大外径部44Bを通るいずれの仮想平面でも、「軸線CLを通る全ての平面方向の各切断面において、鍔部44の外径βに対する凹部46の内径αの割合α/βが40%以上となるような関係」であるとよい。
このような関係になっているか否かを特定する方法としては、CT(computed tomography)技術により、スパークプラグ1における最大外径部44Bの位置を特定し、その位置において軸線CLと直交する平面方向に切断研磨し、その切断面を走査型電子顕微鏡(SEM:Scanning Electron Microscope)で確認し、その切断面において、軸線CLを通り且つ軸線CLと直交するいずれの方向においても、鍔部44の外径βに対する凹部46の内径αの割合α/βが40%以上となっているか否かを確認すればよい。
また、軸線CLと直交する仮想平面のうち、中心電極4における最大外径部44Bよりも後端側の部分(具体的には、筒状部45)を通るいずれの仮想平面でも、「軸線CLを通る全ての平面方向の各切断面において、鍔部44の外径βに対する凹部46の内径αの割合α/βが40%以上となるような関係」であるとよい。
A3.第2態様
次に、図3等を参照して第2態様のスパークプラグ201を説明する。第2態様のスパークプラグ201は、図2で示す第1態様のスパークプラグ1の領域Z(貫通孔3A内の領域のうち、抵抗体63の先端(前端)から段部13の先端(前端)付近までの領域)の構成を、図3で示す領域Zの構成に置き換えた点のみが第1態様のスパークプラグ1と異なり、それ以外は第1態様のスパークプラグ1と同様である。具体的には、第2態様のスパークプラグ201は、中心電極及び導電性シール材の構成が第1態様のスパークプラグ1と異なり、中心電極及び導電性シール材以外の構成は第1態様のスパークプラグ1と同一となっている。よって、スパークプラグ201において中心電極及び導電性シール材以外の構成については、第1態様のスパークプラグ1と同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
第2態様のスパークプラグ201の中心電極204は、図2で示す凹部46を図3で示す凹部246に変更した点以外は第1態様のスパークプラグ1の中心電極4と同一の構成となっている。よって、中心電極204において中心電極4(図2)と同様の構成をなす部分については、中心電極4と同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
図3の例でも、凹部246は、中心電極204の後端から先端側(前側)に向かって凹むように形成されており、軸線の方向において鍔部44の最大外径部44Bの位置に少なくとも設けられている。図3では、軸線の方向において最大外径部44Bが設けられた範囲を領域AR1として示しており、最大外径部44Bが設けられた範囲(領域AR1)の全体又はほぼ全体に及ぶように凹部246が形成されている。凹部246の先端246A(前端)は、軸線の方向において最大外径部44Bの先端(前端)と同位置であってもよく、最大外径部44Bの先端(前端)よりも先端側(前側)であってもよく、最大外径部44Bの先端(前端)よりも後端側であってもよい。凹部246の全体は、内周面が軸線CLを中心とする円筒面として構成された円筒面部248となっている。円筒面部248は、軸線の方向において後端246Bから先端246Aまでの全範囲で一定の内径D1となっている。このような構成のものでも、凹部246内に導電性シール材61を入り込ませることができ、少なくとも最大外径部44Bの位置において、中心電極4の肉厚を低減しつつ、内部において導電性シール材61を充填させることができる。
A4.効果
図2のように、第1態様のスパークプラグ1は、鍔部44の最大外径部44Bの位置において、鍔部44内の全領域を中心電極4の材料によって構成せずに、内部の一部領域を中心電極4よりも熱膨張率が小さい導電性シール材61によって構成する。このような構成であるため、鍔部44の最大外径部44Bにおいて中心電極4の肉厚を抑え、最大外径部44Bの位置において熱膨張や熱収縮を抑えることができる。よって、スパークプラグ1を製造する際に、最大外径部44Bの位置において加熱工程での膨張量や冷却工程での収縮量を小さくすることができ、絶縁体3と中心電極4との熱膨張率差に起因して最大外径部44B付近で隙間が生じてしまうことを効果的に抑制し得る。仮に最大外径部44B付近で隙間が生じてしまうと、この隙間が起点となってクラック等が生じやすくなり、気密性や固着性を損ねる虞があるが、図2の構成によれば、このような不具合を生じにくくすることができる。しかも、スパークプラグ1では、軸線の方向において中心電極4の後端から最大外径部44Bまで及ぶように凹部46を形成し、その凹部46の内部に導電性シール材61を入り込ませているため、中心電極4の後端側において導電性シール材61と中心電極4とが接触する面積をより大きく確保することができる。よって、導電性シール材61と中心電極4との固着性を効果的に高めることができる。また、図3で示す第2態様のスパークプラグ201でも同様の効果が得られる。
図2のように、第1態様のスパークプラグ1は、軸線を通るいずれの平面方向で切断した切断面でも、軸線の方向における鍔部44の最大外径部44Bの位置において、鍔部44の外径βに対する凹部46の内径αの割合α/βが40%以上となっている。このようにすれば、最大外径部44Bの位置において、凹部46の割合をより大きく確保することができるため、最大外径部44Bにおいて中心電極4の肉厚がより一層抑えられ、加熱工程での膨張量や冷却工程での収縮量をより一層小さくすることができる。しかも、軸線を通るいずれの平面方向で切断した切断面でも、α/βが40%以上であるため、周方向全体にわたって中心電極4の肉厚を小さくすることができ、最大外径部44B付近で熱膨張率差に起因する隙間が生じることを、より確実に抑制し得る。なお、図3で示す第2態様のスパークプラグ201も同様の構成をなし、同様の効果が得られる。
図2で示す第1態様のスパークプラグ1において、段部13は、第1孔部11に近づくにつれて内径が次第に小さくなるテーパ部13Aを有している。そして、鍔部44の先端側の表面が、テーパ部13Aの表面と接触し、凹部46の先端は、テーパ部13Aの先端よりも第1孔部11側となっている。このようにすれば、軸線の方向において、少なくとも中心電極4の後端からテーパ部13Aの先端まで及ぶ範囲で中心電極4の肉厚を低減することができ、この範囲にわたって隙間の発生を抑制し得る。しかも、凹部46の深さ(軸線の方向の長さ)がより大きくなるため、導電性シール材61と中心電極4とが接触する面積をより大きくすることができ、導電性シール材61と中心電極4との固着性をより一層高めることができる。
図2で示す第1態様のスパークプラグ1において、導電性シール材61は、鍔部44の外周面と貫通孔3Aの内周面との間に入り込んでいる。そして、凹部46は、自身の先端46Aが導電性シール材61における中心電極4の外側に配置される部分の先端61Aよりも軸線の方向において先端側(接地電極8側)に配置されている。このように、鍔部44の外周面と貫通孔3Aの内周面との間に導電性シール材61が入り込んでいれば、鍔部44の外周面と貫通孔3Aの内周面との間のシール性がより高まる。但し、この構成では、鍔部44の肉厚が大きいと、加熱工程や冷却工程で鍔部44の膨張量や収縮量が大きくなるため、鍔部44の外周面と導電性シール材61との間に隙間が生じやすくなってしまう。しかし、図2の構成によれば、凹部46内に導電性シール材61を入り込ませることにより鍔部44全体として熱膨張や熱収縮を抑えることができるため、鍔部44の外周面付近で隙間が発生することを確実に抑制し得る。しかも、凹部46は、自身の先端46Aが導電性シール材61の先端61Aよりも先端側に及ぶ程度まで深さ(軸線の方向の長さ)が大きくなるため、導電性シール材61と中心電極4とが接触する面積をより大きくすることができ、導電性シール材61と中心電極4との固着性をより一層高めることができる。
図2で示す第1態様のスパークプラグ1において、鍔部44は、最大外径部44Bよりも先端側に、軸部42に近づくにつれて外径が次第に小さくなる縮径部44Aを有する。そして、凹部46は、軸線の方向において縮径部44Aの後端よりも軸部42側に、最大外径部44Bでの最大内径(内径D1)よりも内径が小さい小径部47を有する。スパークプラグ1のように凹部46を設けた構成では、凹部46をより深く形成することで、熱膨張率差を抑制し得る領域を軸線の方向においてより大きく確保することができ、且つ導電性シール材61と中心電極4との固着性をより高めることができるが、鍔部44の先端側に縮径部44A(軸部42に近づくにつれて外径が次第に小さくなる部分)が形成されたものでは、内径の大きい凹部46を縮径部44Aの内部にまで及ぶように形成すると、縮径部44Aでの肉厚が小さくなり、強度が不十分になる虞がある。しかし、図2のように、凹部46において、縮径部44Aの後端よりも軸部42側に小径部47(最大外径部44Bでの最大内径よりも内径が小さい部分)を設けるようにすれば、縮径部44Aにおいて肉厚をより大きく確保しつつ、凹部46をより深く形成することができる。
図2で示す第1態様のスパークプラグ1は、凹部46の後端側に、後端に近づくにつれて内径が次第に大きくなる拡径部49が設けられている。このように拡径部49が設けられていれば、製造工程において導電性シール材61の原料が凹部46内に入り込みやすくなるため、凹部46内において導電性シール材61の密度を高めやすくなる。例えば、ホットプレスを用いてガラス封着する場合、絶縁体に形成された貫通孔内に中心電極、導電性シール材(原料となる粉末材料)、抵抗体、端子金具などを配置した後、これらを加熱することで粉末材料を溶融させ、その後、冷却することで溶融した導電性シール材を固化させて中心電極と抵抗体との間に固着させるような方法を採用し得る。このような工程で製造する場合、導電性シール材61の原料が中心電極4となるべき成形体において凹部46内に入り込みにくいと、最終製品において凹部46内の導電性シール材61の密度が低くなり、使用時に凹部46付近で割れ等が生じることが懸念されるが、図2で示す構成のように拡径部49が設けられていれば、このような不具合を生じにくくすることができる。
A5.評価試験
次に、本発明の効果を検証するために行った試験の結果について説明する。
検証試験に用いる実施例1〜18として、18種類のスパークプラグを用意した。18種類のスパークプラグは、図3で示す第2態様のスパークプラグ201と同様の構成とした。
実施例1〜18は、図3で示す内径D1、外径D2、内径D3を様々に変更したものである。実施例1〜6のスパークプラグは、図3で示す内径D1(凹部246の内径)の大きさが互いに異なるが、それ以外は同一である。実施例7〜18のスパークプラグは、図3で示す外径D2(鍔部44における最大外径部44Bの外径)の大きさを実施例1〜6とは異ならせている。実施例7〜12のスパークプラグは、図3で示す内径D1(凹部246の内径)の大きさが互いに異なるが、それ以外は同一である。実施例13〜18のスパークプラグは、図3で示す内径D3(第2孔部12の内径)を実施例1〜12とは異ならせている。実施例13〜18のスパークプラグは、図3で示す内径D1(凹部246の内径)の大きさが互いに異なるが、それ以外は同一である。
実施例1〜18の構成は、図3で示す凹部246の内周面が軸線CLを中心とする円筒面(内径D1の円筒面)となっており、最大外径部44Bの外周面が軸線CLを中心とする円筒面(外径D2の円筒面)となっており、第2孔部12の内周面も軸線CLを中心とする円筒面(内径D3の円筒面)となっている。このように構成された実施例1〜18の各々は、軸線CLと直交し且つ最大外径部44Bを通るいずれの仮想平面でも、軸線CLを通る全平面方向での各切断面において鍔部44の外径β(最大外径部44Bの外径D2)に対する凹部46の内径α(内径D1)の割合α/β(D1/D2)が一定値となっている。
また、実施例と比較するための比較例1,2を用意した。比較例1,2は、図3で示すスパークプラグ201の一部を変更した構成であり、具体的には、図3の構成において凹部246内を中心電極204の材料に置き換えるようにして凹部246を設けないようにした構成である。
このような実施例1〜18、及び比較例1,2について、シール性の評価試験を以下のように行った。まず、所定の容器内に流動性を有する樹脂を収容した状態で、サンプルとなるスパークプラグの先端側の一部(図1における絶縁体3の先端部付近)を樹脂内に入り込ませ、このように絶縁体の先端部付近を樹脂内に入り込ませた状態で、スパークプラグが配置された空間(樹脂外の空間)を減圧状態とした。樹脂は、エポキシ冷間埋め込み樹脂(STRUERS製スペシフィックス−20)を用いた。
具体的には、図3で示す実施例1〜18及び比較例1,2の各々のサンプルを3つずつ用意した。そして各々のサンプルに対して上記試験を行ったが、各々の実施例において、1つのサンプルは10000Paの減圧状態で試験を行い、1つのサンプルは5000Paの減圧状態で試験を行い、1つのサンプルは1000Paの減圧状態で試験を行った。
そして、試験後の各サンプルに対しては、研磨により、図3で示す最大外径部44Bの先端位置(前端位置)において軸線CLと直交する平面方向に切断した半断面とし、最大外径部44Bの先端位置(前端位置)の断面において上記樹脂が存在するか否かを、走査型電子顕微鏡(SEM:Scanning Electron Microscope)に付属されたエネルギー分散型X線分析器(EDS:Energy Dispersive Spectrometer)によって確認した。
実施例1〜18及び比較例1,2において、10000Paの減圧状態で試験を行ったサンプルで樹脂が確認できたものを「△」とし、5000Paの減圧状態で試験を行ったサンプルで樹脂が確認できたものを「○」とし、1000Paの減圧状態で試験を行ったサンプルで樹脂が確認できたものを「◎」とし、1000Paの減圧状態で試験を行ったサンプルでも樹脂が確認できなかったものを「☆」とした。その結果を、表1で示す。
Figure 0006711857
表1から明らかなように、図3で示す凹部246が存在しない比較例1,2においては10000Paの減圧状態で試験を行ったサンプルでも樹脂が確認され、凹部246が存在する実施例1〜18では、10000Paの減圧状態で試験を行ったサンプルでは樹脂が確認されなかった。その理由は、実施例1〜18のものでは、図3で示す凹部246内に導電性シール材61が充填されていることにより、最大外径部44B付近において中心電極204と絶縁体3との熱膨張率差の影響が緩和され、最大外径部44Bの界面で隙間が生じにくくなっていることに起因すると考えられる。
また、表1から明らかなように、D1/D2(α/β)の割合が40%以上の実施例4〜6、9〜12、15〜18では、5000Paの減圧状態でも樹脂が確認されなかった。その理由は、図3で示す最大外径部44Bの位置において導電性シール材61が占める割合が大きいため、最大外径部44B付近において中心電極204と絶縁体3との熱膨張率差の影響がより一層緩和され、最大外径部44Bの界面で隙間がより生じにくくなっていることに起因すると考えられる。
<他の実施形態>
本発明は、本明細書の実施形態の各態様や変形例に限られるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲において種々の構成で実現できる。例えば、発明の概要の欄に記載した各形態中の技術的特徴に対応する実施形態、実施例、変形例中の技術的特徴は、先述の課題の一部又は全部を解決するために、あるいは、先述の効果の一部又は全部を達成するために、適宜、差し替えや、組み合わせを行うことができる。その技術的特徴が本明細書中に必須なものとして説明されていなければ、適宜、削除できる。変更例としては、例えば、以下のようなものが該当する。
上述した実施形態では、凹部の先端(前端)が、軸線の方向において最大外径部が設けられた領域(図2、図3で示す領域AR1)の中心位置よりも先端側(前側)となっていたが、上述した実施形態又は上述した実施形態を変更したいずれの例においても、凹部の先端(前端)が、軸線の方向において最大外径部が設けられた領域(図2、図3で示す領域AR1)の中心位置よりも後端側であってもよい。
上述した実施形態又は上述した実施形態を変更したいずれの例においても、最大外径部の範囲(領域AR1)の全体にわたって凹部が形成されていたが、軸線の方向における最大外径部の範囲の少なくとも一部に凹部が設けられていればよい。
また、凹部における円筒面部の内径は、図2や図3のような大きさに限定されず、これよりも大きくても小さくてもよい。
図2で示す第1態様の構成において拡径部を省略し、円筒面部が中心電極の後端まで達しているような構成であってもよく、図2で示す第1態様の構成において小径部を省略し、円筒面部の先端(前端)が凹部の先端(前端)となるような構成であってもよい。
上述した実施形態又は上述した実施形態を変更したいずれの例においても、凹部の先端(前端)は、軸線の方向において少なくとも最大外径部の後端よりも先端側(前側)にあればよく、最大外径部Bの先端(前端)よりも先端側(前側)であっても後端側であってもよく、縮径部の先端(前端)よりも先端側(前側)であっても後端側であってもよい。
上述した実施形態又は上述した実施形態を変更したいずれの例においても、図4〜図6のように構成を変更し得る。なお、図4〜図6で示すスパークプラグ301,401,501は、図2で示す第1態様のスパークプラグ1の領域Z(貫通孔3A内の領域のうち、抵抗体63の先端(前端)から段部13の先端(前端)付近までの領域)の構成を、図4〜図6のそれぞれで示す領域Zの構成に置き換えた点のみが第1態様のスパークプラグ1と異なり、それ以外は第1態様のスパークプラグ1と同様である。図4〜図6のスパークプラグ301,401,501は、中心電極及び導電性シール材の構成が第1態様のスパークプラグ1と異なり、中心電極及び導電性シール材以外の構成は第1態様のスパークプラグ1と同一となっている。よって、スパークプラグ301,401,501において中心電極及び導電性シール材以外の構成については、第1態様のスパークプラグ1と同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
図4で示す変形例1のスパークプラグ301は、中心電極304において鍔部44の後方側に筒状部が設けられておらず、鍔部44の後端が中心電極304の後端となっている。このような構成のものにおいて、鍔部44の後端から先端側(前側)に向かって続く凹部346が形成されている。この例では、鍔部44の後端から所定範囲にわたって一定の内径を有する円筒面部348が形成され、円筒面部348よりも先端側(前側)に小径部347が形成されている。このような構成のものにおいて、凹部346内に導電性シール材61が充填されている。
図5で示す変形例2のスパークプラグ501は、中心電極404の後端部付近(鍔部44の後方側に配置された部分)が非筒状部として構成され、後方側に突出した形態をなしている。凹部446は、中心電極404の後端よりも少し前側の位置から先端側(前側)に向かって凹んだ形状をなし、鍔部44の後端から所定範囲にわたって一定の内径を有する円筒面部448が形成され、円筒面部448よりも先端側(前側)に小径部447が形成されている。このような構成のものにおいて、凹部446内に導電性シール材61が充填されている。
図6で示す変形例3のスパークプラグ501は、中心電極504において鍔部44の後方側に筒状部が設けられておらず、鍔部44の後端が中心電極504の後端となっている。このような構成のものにおいて、鍔部44の後端から先端側(前側)に向かって続く凹部546が形成されている。この例では、鍔部44の後端から所定範囲にわたって拡径部549が形成され、拡径部549の先端側(前側)には、一定の内径を有する円筒面部548が形成されている。このような構成のものにおいて、凹部546内に導電性シール材61が充填されている。
1,201,301,401,501…スパークプラグ
3…絶縁体
3A…貫通孔
4,204,304,404,504…中心電極
5…端子金具
7…主体金具
8…接地電極
11…第1孔部
12…第2孔部
13…段部
13A…テーパ部
42…軸部
44…鍔部
44A…縮径部
44B…最大外径部
46,246,346,446,546…凹部
47,347,447…小径部
49,549…拡径部
61…第1シール層(導電性シール材)
63…抵抗体
CL…軸線

Claims (9)

  1. 自身の先端側に接地電極が接続される筒状の主体金具と、
    第1孔部と前記第1孔部より内径の大きい第2孔部とが段部を介して連なる形態をなす貫通孔を備え、前記貫通孔が軸線の方向に沿って延びる絶縁体と、
    前記第2孔部内に配置され、前記段部に支持される鍔部と、前記鍔部から前記第1孔部側に延びる軸部と、を備え、前記絶縁体よりも熱膨張率が大きい中心電極と、
    前記第2孔部内に配置され、自身の先端が前記中心電極の後端から離れて配置される抵抗体と、
    前記中心電極よりも熱膨張率が小さく、前記第2孔部内において少なくとも前記中心電極と前記抵抗体との間に充填される導電性シール材と、
    を備えるスパークプラグであって、
    前記中心電極は、自身の後端側から先端側に向かって続く凹部を有し、
    前記凹部は、前記軸線の方向において前記鍔部の最大外径部の位置に少なくとも設けられ、
    前記導電性シール材は、前記中心電極の後端から前記凹部内に入り込んでおり、
    前記軸線を通るいずれの平面方向で切断した切断面でも、前記軸線の方向における前記鍔部の最大外径部の位置において、前記鍔部の外径βに対する前記凹部の内径αの割合α/βが40%以上である
    スパークプラグ。
  2. 自身の先端側に接地電極が接続される筒状の主体金具と、
    第1孔部と前記第1孔部より内径の大きい第2孔部とが段部を介して連なる形態をなす貫通孔を備え、前記貫通孔が軸線の方向に沿って延びる絶縁体と、
    前記第2孔部内に配置され、前記段部に支持される鍔部と、前記鍔部から前記第1孔部側に延びる軸部と、を備え、前記絶縁体よりも熱膨張率が大きい中心電極と、
    前記第2孔部内に配置され、自身の先端が前記中心電極の後端から離れて配置される抵抗体と、
    前記中心電極よりも熱膨張率が小さく、前記第2孔部内において少なくとも前記中心電極と前記抵抗体との間に充填される導電性シール材と、
    を備えるスパークプラグであって、
    前記中心電極は、自身の後端側から先端側に向かって続く凹部を有し、
    前記凹部は、前記軸線の方向において前記鍔部の最大外径部の位置に少なくとも設けられ、
    前記導電性シール材は、前記中心電極の後端から前記凹部内に入り込んでおり、
    前記段部は、前記第1孔部に近づくにつれて内径が次第に小さくなるテーパ部を有し、
    前記鍔部の先端側の表面が、前記テーパ部の表面と接触し、
    前記凹部の先端は、前記テーパ部の先端よりも前記第1孔部側にある
    スパークプラグ。
  3. 前記段部は、前記第1孔部に近づくにつれて内径が次第に小さくなるテーパ部を有し、
    前記鍔部の先端側の表面が、前記テーパ部の表面と接触し、
    前記凹部の先端は、前記テーパ部の先端よりも前記第1孔部側にある
    請求項に記載のスパークプラグ。
  4. 自身の先端側に接地電極が接続される筒状の主体金具と、
    第1孔部と前記第1孔部より内径の大きい第2孔部とが段部を介して連なる形態をなす貫通孔を備え、前記貫通孔が軸線の方向に沿って延びる絶縁体と、
    前記第2孔部内に配置され、前記段部に支持される鍔部と、前記鍔部から前記第1孔部側に延びる軸部と、を備え、前記絶縁体よりも熱膨張率が大きい中心電極と、
    前記第2孔部内に配置され、自身の先端が前記中心電極の後端から離れて配置される抵抗体と、
    前記中心電極よりも熱膨張率が小さく、前記第2孔部内において少なくとも前記中心電極と前記抵抗体との間に充填される導電性シール材と、
    を備えるスパークプラグであって、
    前記中心電極は、自身の後端側から先端側に向かって続く凹部を有し、
    前記凹部は、前記軸線の方向において前記鍔部の最大外径部の位置に少なくとも設けられ、
    前記導電性シール材は、前記中心電極の後端から前記凹部内に入り込んでおり、
    前記導電性シール材は、前記鍔部の外周面と前記貫通孔の内周面との間に入り込んでおり、
    前記凹部は、自身の先端が前記導電性シール材において前記中心電極の外側に配置される部分の先端よりも前記軸線の方向において前記接地電極側に配置されている
    スパークプラグ。
  5. 前記導電性シール材は、前記鍔部の外周面と前記貫通孔の内周面との間に入り込んでおり、
    前記凹部は、自身の先端が前記導電性シール材において前記中心電極の外側に配置される部分の先端よりも前記軸線の方向において前記接地電極側に配置されている
    請求項1から請求項3のいずれか一項に記載のスパークプラグ。
  6. 自身の先端側に接地電極が接続される筒状の主体金具と、
    第1孔部と前記第1孔部より内径の大きい第2孔部とが段部を介して連なる形態をなす貫通孔を備え、前記貫通孔が軸線の方向に沿って延びる絶縁体と、
    前記第2孔部内に配置され、前記段部に支持される鍔部と、前記鍔部から前記第1孔部側に延びる軸部と、を備え、前記絶縁体よりも熱膨張率が大きい中心電極と、
    前記第2孔部内に配置され、自身の先端が前記中心電極の後端から離れて配置される抵抗体と、
    前記中心電極よりも熱膨張率が小さく、前記第2孔部内において少なくとも前記中心電極と前記抵抗体との間に充填される導電性シール材と、
    を備えるスパークプラグであって、
    前記中心電極は、自身の後端側から先端側に向かって続く凹部を有し、
    前記凹部は、前記軸線の方向において前記鍔部の最大外径部の位置に少なくとも設けられ、
    前記導電性シール材は、前記中心電極の後端から前記凹部内に入り込んでおり、
    前記鍔部は、前記最大外径部よりも先端側に、前記軸部に近づくにつれて外径が次第に小さくなる縮径部を有し、
    前記凹部は、前記軸線の方向において前記縮径部の後端よりも前記軸部側に、前記最大外径部での最大内径よりも内径が小さい小径部を有する
    スパークプラグ。
  7. 前記鍔部は、前記最大外径部よりも先端側に、前記軸部に近づくにつれて外径が次第に小さくなる縮径部を有し、
    前記凹部は、前記軸線の方向において前記縮径部の後端よりも前記軸部側に、前記最大外径部での最大内径よりも内径が小さい小径部を有する
    請求項1から請求項5のいずれか一項に記載のスパークプラグ。
  8. 自身の先端側に接地電極が接続される筒状の主体金具と、
    第1孔部と前記第1孔部より内径の大きい第2孔部とが段部を介して連なる形態をなす貫通孔を備え、前記貫通孔が軸線の方向に沿って延びる絶縁体と、
    前記第2孔部内に配置され、前記段部に支持される鍔部と、前記鍔部から前記第1孔部側に延びる軸部と、を備え、前記絶縁体よりも熱膨張率が大きい中心電極と、
    前記第2孔部内に配置され、自身の先端が前記中心電極の後端から離れて配置される抵抗体と、
    前記中心電極よりも熱膨張率が小さく、前記第2孔部内において少なくとも前記中心電極と前記抵抗体との間に充填される導電性シール材と、
    を備えるスパークプラグであって、
    前記中心電極は、自身の後端側から先端側に向かって続く凹部を有し、
    前記凹部は、前記軸線の方向において前記鍔部の最大外径部の位置に少なくとも設けられ、
    前記導電性シール材は、前記中心電極の後端から前記凹部内に入り込んでおり、
    前記凹部の後端側には、後端に近づくにつれて内径が次第に大きくなる拡径部が設けられている
    スパークプラグ。
  9. 前記凹部の後端側には、後端に近づくにつれて内径が次第に大きくなる拡径部が設けられている
    請求項1から請求項7のいずれか一項に記載のスパークプラグ。
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