JP6702767B2 - 直方体状の単結晶の製造方法および直方体状の単結晶、セラミックス、圧電素子、電子機器 - Google Patents

直方体状の単結晶の製造方法および直方体状の単結晶、セラミックス、圧電素子、電子機器 Download PDF

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Description

本発明はペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の製造方法に関する。また、本発明はニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶を用いたセラミックスの製造方法および該セラミックス、圧電素子、圧電装置および電子機器に関する。
ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムを主成分として含む配向圧電セラミックスの製造に用いるテンプレート粒子として、ニオブ酸ナトリウムの板状粒子とニオブ酸ナトリウムの直方体状の単結晶が知られている。
従前のニオブ酸ナトリウムのテンプレート粒子としては板状粒子が主流であり、その製造方法は二段階溶融塩法によるものであった。非特許文献1には二段階溶融塩法によるニオブ酸ナトリウム板状粒子の製法が開示されている。また、非特許文献2は二段階溶融塩法による板状粒子が多結晶体となるメカニズムが開示されている。
具体的には、二段階溶融塩法において合成プロセスの一段階目で作成されるビスマス層状化合物の板状粒子は、直方体状の単結晶が使用される。しかし合成プロセスの二段階目の反応であるビスマス層状構造からペロブスカイト構造への構造変化を伴うトポケミカル反応は、中間体であるビスマス層状化合物の板状粒子表面から内部に向けて進む。そのため、板状粒子表面の反応済み部分と、板状粒子内部の未反応部分との界面にビスマスを多く含む液相の境界層が形成され、境界層によってエピタキシーが喪失する。結果として板状粒子は直方体状の単結晶にならず、多結晶体となることが開示されている。
近年、ニオブ酸ナトリウムのテンプレート粒子として、形状が直方体状の単結晶であるものが注目されている。非特許文献3は、一段階溶融塩法によるニオブ酸ナトリウムの直方体状の単結晶の製法が開示されている。具体的には、所定のモル比に秤量された炭酸ナトリウム、塩化ナトリウム、酸化ニオブ、酸化ビスマスの混合粉末を充填した白金坩堝を1225℃で12時間保持した後、得られた生成物を温水中で複数回洗浄することで塩化ナトリウムを除去する。さらに250メッシュの篩により副生成物を除去することで、ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムの直方体状の単結晶が得られることが開示されている。非特許文献3に記載の一段階溶融塩法よると、ニオブ酸ナトリウムの直方体状の単結晶を作成する際は、従来の二段階溶融塩法による工程と同様に中間体としてビスマス層状化合物であるBi2.5Na3.5Nb18(m=5)を経由していた。中間体であるこのビスマス層状化合物の粒子が形成された後、トポケミカル反応によってニオブ酸ナトリウムが生成し、直方体状の単結晶が得られる。一段階溶融塩法での熱処理工程は一度であって酸洗浄が不要である。さらに、成長した直方体状の単結晶の表面は平滑である。
M.Caoら、"Ferroelectrics"2010年、404巻、39ページから44ページ S.F.Poteralaら、"Chemistry of Materials"2010年、22巻、2061ページから2068ページ K.Ishiiら、"Japanese Journal of Applied Physics"2013年、52巻、09KD04−1ページから09KD04−6ページ
二段階溶融塩法による板状粒子は、二度の熱処理と酸化ビスマスを取り除くための酸洗浄工程が必要である。さらに、成長した板状粒子は多結晶であり、表面凹凸が大きいため配向セラミックスを作成するためのテンプレート粒子として好ましくないという、工業生産の観点からも物質特性の観点からも様々な課題があった。
しかし、本願発明者が非特許文献3を参考に追試して、得られたニオブ酸ナトリウムの直方体状の単結晶の組成を測定したところ、ニオブ1モルに対するナトリウムのモル比は0.8未満であり、化学量論比から大きくはずれていた。そのため、従来の一段階溶融塩法によって作成されたニオブ酸ナトリウムの直方体状の単結晶をテンプレート粒子として用いると、ニオブ酸ナトリウム含有の配向セラミックスを作成すると、その組成が化学量論比からずれるという課題が生じていた。
本発明は、この様な課題を解決するためになされたものであり、ペロブスカイト構造を有し、ニオブに対するナトリウム欠損量が20%以下であるニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の製造方法である。さらに本発明は、該直方体状の単結晶を用いた配向セラミックスの製造方法と配向セラミックスを提供するものである。
また、本発明は前記配向セラミックスを用いた圧電素子、圧電装置、電子機器を提供することを目的とする。
上記課題を解決する本発明の製造方法は、ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の製造方法であって、
組成が一般式(1):Bi2.5Nam−1.5Nb3m+3(mは2以上の整数)で表現される複数の結晶から構成される粒子であって、前記粒子における前記mの平均値mが6よりも大きいニオブ酸ビスマスナトリウムと、ナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物との混合物1を1200℃以上1250℃以下で熱処理してペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムを含有する混合物2を得る工程と、前記混合物2から水溶性成分を除去する工程を有することを特徴とするニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の製造方法である。
上記課題を解決する本発明の直方体状の単結晶は、ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶であって、前記直方体状の単結晶がニオブ1モルに対して0.05モル以上0.15モル以下のビスマスを含有しており、前記ニオブ酸ナトリウムのNa/Nb比が0.82以上1.00以下であり、前記直方体の最長辺の長さ(Lmax)と最短辺の長さ(Lmin)の比Lmax/Lminが4.0≦Lmax/Lmin≦8.5の範囲であることを特徴とするニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶である。
また本発明のセラミックスは、前記直方体状の単結晶を含む成形体を焼成して得られたセラミックスである。
本発明の圧電素子は、第一の電極と、圧電材料部および第二の電極とを有する圧電素子であって、前記圧電材料部は前記セラミックスであることを特徴とする。
本発明の圧電装置は、前記圧電素子を備えており、かつ、前記圧電素子への電圧印加手段および前記圧電素子からの電力取出手段の少なくとも一方を有することを特徴とする。
また本発明の電子機器は、前記圧電素子を備えた電子機器である。
本発明によれば、ペロブスカイト構造を有し、ナトリウムの欠損量が20%以下であるニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の製造方法を提供することができる。また、ペロブスカイト構造でありニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶を提供することができる。さらに、前記直方体状の単結晶を用いた配向セラミックスの製造方法と配向セラミックスとを提供することができる。また本発明によれば、前記配向セラミックスを用いた圧電素子、および圧電装置を提供することができる。
ビスマス層状構造を有する(a)Bi2.5Na3.5Nb18、(b)Bi2.5Na4.5Nb21、(c)Bi2.5Na6.5Nb27の結晶構造を示す模式図である。(ビスマス層状構造におけるa軸方向からの投影図)(a)、(b)、および(c)は、擬ペロブスカイト層内でc軸に沿ってそれぞれ5つ、6つ、8つの酸素八面体を有するm=5、6、8の結晶である。 (a)本発明の直方体状の単結晶の製造フローと(b)従来の二段階溶融塩法による多結晶ニオブ酸ナトリウム粒子の製造フローである。 本発明の実施例3の直方体状の単結晶のX線回折図形である。 本発明の実施例3、4、14、19の直方体状の単結晶の走査電子顕微鏡写真である。 本発明の圧電素子の構成の一実施形態を示す概略図である。 本発明の圧電装置の一実施態様を示す概略図である。
以下、本発明を実施するための形態について説明する。
以後、ニオブ1モルに対するナトリウムのモル比(ナトリウム/ニオブ)をNa/Nb比と称して適宜説明に用いる場合がある。
本発明は、ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の製造方法を提供するものである。このペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶には、ビスマスなどの金属元素成分が含有されていることがある。
(ペロブスカイト構造の説明)
本発明におけるニオブ酸ナトリウムはペロブスカイト構造(CaTiO構造)を有する。岩波理化学辞典 第5版(岩波書店 1998年2月20日発行)によれば、ペロブスカイト構造を有する金属酸化物は一般にABOの化学式で表現される。ペロブスカイト構造において、元素A、Bは各々イオンの形でAサイト、Bサイトと呼ばれる単位格子の特定の位置を占める。例えば、立方晶系の単位格子であれば、A元素は立方体の頂点、B元素は体心に位置する。O元素は酸素の陰イオンとして立方体の面心位置を占める。Aサイト元素は12配位であり、Bサイト元素は6配位である。A元素、B元素、O元素がそれぞれ単位格子の対称位置から僅かに座標シフトすると、ペロブスカイト構造の単位格子が歪み、正方晶、菱面体晶、斜方晶といった結晶系となる。本発明におけるペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムの結晶系は斜方晶であることが好ましい。
(「主成分」の説明)
本発明の直方体状の単結晶は、ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶を主成分とする。ここで主成分とは、直方体状の単結晶の構成相の中で、ニオブ酸ナトリウム相が50%より大きいこと、より好ましくは70%よりも大きいことを意味する。直方体状の単結晶でのニオブ酸ナトリウム相の割合は、例えば、直方体状の単結晶を粉砕して粉末エックス線回折測定を実施し、構成する結晶相の割合をリートベルト解析により求めることができる。また直方体状の単結晶の断面を透過電子顕微鏡で観察しても評価できる。低倍率(例えば1000倍)で観察される視野の電子線回折パターンを取得し、ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムに起因する回折を選択して暗視野法で結像する。すると、ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウム部分が明るく、ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムではない部分は暗い暗視野像が得られる。視野内での明部面積が50%以上よりも大きければ、ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムが直方体状の単結晶の主成分であると判断できる。
(「直方体状」の説明)
本発明のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶における「直方体状」の形状とは、1つの粒子に注目したとき、3辺の長さが等しい立方体状を含む平行六面体状の形状を意味している。その形状は面と面のなす角度が90°±10°の範囲にある。特に本発明では直方体状とはいわゆる板状を指していて、直方体の一部が欠損していたり、6つの面のいずれかに凹凸部を有していたりする形状も含む。本発明のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の主面(最も面積の大きな表面)は平滑であり、1μmよりも大きなステップを伴うテラスをもたない。主面はニオブ酸ナトリウムの(110)面もしくは(001)面に平行である(ペロブスカイト構造を有するニオブ酸ナトリウムの指数はICDD73−0803に基づく)。そのため、平滑なガラス板上にニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶を戴置し、エックス線回折測定(2θ−θスキャン)を実施すると、110回折もしくは004回折とその高次回折の強度が、その他の回折強度に比べて相対的に強くなる。直方体状の単結晶の形状の上での特徴は、直方体状の単結晶を走査電子顕微鏡や透過電子顕微鏡で観察することで判別できる。前記直方体状の単結晶は板状であるため、圧延法やドクターブレード法に代表されるテープキャスティングにより結晶配向を制御できる。
(単結晶の説明)
本発明のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶は、複数の単結晶粒子が凝集して構成される多結晶粒子ではない。ただし、本発明の直方体状の単結晶はビスマスもしくは酸化ビスマスの偏析および小角度粒界を内包する。また、立方晶相から低対称相(例えば正方晶相や斜方晶相)への相転移により発生するドメイン構造を内包していてもよい。本発明の直方体状の単結晶は高角度粒界を伴う多結晶体はほとんどない。本発明の直方体状の単結晶をテンプレート粒子として用いて配向圧電セラミックスを作成する際、複数の直方体状の単結晶からなる単結晶粉末を用いる。そのため、そのような直方体状の単結晶粉末を分析すると、寸法やアスペクト比、組成等は完全に均一ではなくある程度の幅(ばらつき)が発生することとなる。以下では、本発明のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶は、基板に接合しているエピタキシャル膜を含まないものとして説明する。
(本実施形態の製造方法)
本実施形態の製造方法は、一般式(1):Bi2.5Nam−1.5Nb3m+3(mは2以上の整数)で表現される複数の結晶から構成され、前記粒子における前記mの平均値mが6よりも大きいニオブ酸ビスマスナトリウムを用いる。好ましくはmは5以上8以下である。さらにこの化合物と、ナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物との混合物1を1200℃以上1250℃以下で熱処理してペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムを含有する混合物2を得る工程を備えている。その上で、前記混合物2から水溶性成分を除去する工程を備えている。
この上記mは、ビスマス層状化合物の擬ペロブスカイト層における、c軸方向に連なった酸素八面体の層数である。より好ましくは平均値mが6.4以上であり8.0以下である。
T.WatanabeらJOURNAL OF APPLIED PHYSICS 2006年 第100巻 051602頁によると、ビスマス層状化合物は、c軸に沿って擬ペロブスカイト層と酸化ビスマス層が交代的に積層した超格子構造を有する。他方、このビスマス層状構造を有する結晶の化学式は一般に(Bi2+(Am−13m+12−で表わされる。この一般式におけるAはNa、Sr2+、Ba2+、Pb2+、Ca2+、Bi3+等の1価、2価、あるいは3価のイオンである。またこの一般式におけるBはTi4+、V5+、Ta5+、Nb5+、Mo6+、W6+のような4価、5価、あるいは6価のイオンである。一般式におけるmは擬ペロブスカイト層でのBO八面体の数を表す値でもある。
ビスマス層状構造を有する化合物の一種であるニオブ酸ビスマスナトリウムは、一般式Bi 2.5 Na m−1.5 Nb 3m+3 (mは2以上の整数)で表わされる。例えばBi 2.5 Na 3.5 Nb 18 はm=5の材料である。なお、このニオブ酸ビスマスナトリウムの化学式を、上述のビスマス層状構造を有する結晶の化学式に対応させた場合は(Bi 2+ ((Bi 0.5/4 +Na 3.5/4 Nb 16 2+ と表わされる。
図1はビスマス層状構造を有するニオブ酸ビスマスナトリウムの結晶構造をそれぞれ表している。図1(a)はBi2.5Na3.5Nb18の結晶構造を表している。図1(b)はBi2.5Na4.5Nb21、図1(c)Bi2.5Na6.5Nb27の結晶構造を示す模式図である(ビスマス層状構造におけるa軸方向からの投影図)。
この化合物はc軸方向に連なった5つの酸素八面体を擬ペロブスカイト層に有する(図1(a)参照)。
ここで、一般式Bi2.5Nam−1.5Nb3m+3に対応してm=5,6,8のニオブ酸ビスマスナトリウムを一般式で表記して以下に例示する。
Bi2.5Na3.5Nb18=(Bi2+(Bi0.5Na3.5Nb162ーm=5
Bi2.5Na4.5Nb21=(Bi2+(Bi0.5Na4.5Nb192ーm=6
Bi2.5Na6.5Nb27=(Bi2+(Bi0.5Na6.5Nb252ーm=8
このように表記すると、mが1つ増えると、(Am−13m+12−で表わされる擬ペロブスカイト層に、ペロブスカイト構造のNaNbOの層が一つ挿入されると解釈できることがわかる。
したがって、mはニオブ酸ビスマスナトリウム内での擬ペロブスカイト層におけるc軸方向の酸素八面体NbOの“層数”ととらえることもできる。
ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶は、中間体であるビスマス層状構造の化合物を経由し、トポケミカル反応によって生成される。本発明での中間体としてのビスマス層状構造の化合物には、ニオブ酸ビスマスナトリウムが相当する。トポケミカル反応前のニオブ酸ビスマスナトリウムは形状が直方体状の粒子であり、単結晶であることが好ましい。一般に単結晶は、結晶学的な方位だけではなく、組成も均一であるものを指すことが多いが、本発明のニオブ酸ビスマスナトリウムの直方体状の単結晶からなる粉末は、個々の単結晶に注目したとき内部においてはmが均一ではない。
ニオブ酸ビスマスナトリウムの直方体状の単結晶の内部に着目すると、結晶学的な方位は揃っているが、mは均一ではなく、つまり局所的には組成は均一ではない。ただし、ニオブ酸ビスマスナトリウムのa軸とb軸を区別しない。トポケミカル反応が完全に進む場合、ニオブ酸ビスマスナトリウム中のビスマスが全て結晶外に排出され、同時にナトリウムを結晶中に取り込んでナトリウムとニオブのモル比が1:1となり、ビスマス層状構造からペロブスカイト構造への構造変化を伴う。
なお、実際にはトポケミカル反応を完全に進行させることは困難である。トポケミカル反応を完全には進行させるためには、従来知られているように、トポケミカル反応温度を上げる、あるいは反応時間を長くすることなどが考えられる。しかし、このようなアプローチでは溶融塩法に用いる塩が高温で蒸発して無くなったり、粒子同士が焼結したりするためトポケミカル反応を完全に進行させることはむずかしい。そのため、Na/Nb比が1である直方体状の単結晶を得ることは困難であり、ナトリウムが著しく欠損した直方体状の単結晶になり易いことが知られている。
(ニオブ酸ナトリウムを含む直方体状の単結晶の製造方法)
本実施形態では以下説明するような特徴的な中間体を使用する。
中間体であるニオブ酸ビスマスナトリウムのmの平均値であるmの値が6.0以下である場合、得られるペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶のNa/Nb比は0.82よりも小さい値となる。
ニオブ酸ナトリウムを含む直方体状の単結晶のNa/Nb比は0.82以上1.00以下であることが望ましい。なぜなら、Na/Nb比が0.80未満の単結晶をテンプレート粒子として用いて配向セラミックスを作成すると、配向セラミックスの圧電性が低下する場合があるためである。例えば、原料粉末の5重量部にNa/Nb比が0.82よりも小さなニオブ酸ナトリウムを含む直方体状の単結晶をテンプレート粒子として用い、95重量部に不定形のニオブ酸ナトリウムとチタン酸バリウムを含むマトリックス粒子を用いて鉛を含まない圧電体である0.88NaNbO−0.12BaTiOの配向セラミックスを作成する。
この場合、仮にマトリックス粒子ではナトリウムが欠損していなくても、原料粉末全体ではナトリウムが化学量論組成よりも1%より多く欠損した組成となり、焼成工程でのナトリウムの揮発が発生するとさらにナトリウムの欠損量は大きくなる。ナトリウムを過剰に含有するマトリックス粒子の組成とすることで、テンプレート粒子のナトリウム欠損を補うことも想定されるが、選択的にナトリウムを過剰に供給することは困難である。一方、セラミックスのナトリウムの欠損が2%以内であれば、圧電性の低下は無視できるほど小さい。
配向セラミックスの組成分析には波長分散型蛍光X線分析装置を用いることができる。予めICP分析により濃度既知の標準試料を幾つか用意し、元素濃度と蛍光X線強度の検量線を作成して配向セラミックスの構成元素濃度を算出することができる。
以下説明するように、その組成比を実現するために本発明における中間体であるニオブ酸ビスマスナトリウムの平均値m は6.0よりも大きいことが望ましい。
ニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶におけるNa/Nb比をより1に近づけるべく増加させるためには、よりNa/Nb比の大きなニオブ酸ビスマスナトリウムを中間体に用いればよい。例えばm=5であるBi 2.5 Na 3.5 Nb 18 の場合、Na/Nb比は0.7であるが、m=6であるBi 2.5 Na 4.5 Nb 21 の場合、Na/Nb比は0.75と増加する。よって平均値m が大きなニオブ酸ビスマスナトリウムを中間体として用いることで、取り込むべきナトリウム量を低減でき、直方体状の単結晶のNa/Nb比を増加することができる。
mの平均値m を評価するためには、まず透過電子顕微鏡を用いてm(上述したようにニオブ酸ビスマスナトリウム内での層数に相当する)の分布を評価する。ニオブ酸ビスマスナトリウムのc軸に垂直な方位から電子線を入射し、透過電子顕微鏡によりニオブ酸ビスマスナトリウム結晶内の構造を観察する。mは格子像から直接評価することもできるし、酸化ビスマス層のc軸方向への層間距離から見積もることもできる。酸化ビスマス層間距離が約2.5nmであればmの値は5である。NbO 酸素八面体層数が1つ増えたり、1つ減ったりすると、1つの酸素八面体のc軸方向の寸法に相当する0.4nmだけ、それぞれ酸化ビスマス層の間隔が長くなったり短くなったりする(図1参照)。
したがってニオブ酸ビスマスナトリウムのc軸方向の酸化ビスマス層間距離から局所的な層数mを決めることができる。
一方で平均値m はある範囲内でのmの平均値である。平均値m の評価のためには、ニオブ酸ビスマスナトリウムのc軸長よりも十分長い範囲に存在する結晶のmから平均値m を算出しなければならない。ニオブ酸ビスマスナトリウムのc軸方向に沿って、50〜80nmの範囲であれば、10以上の酸化ビスマス層をまたぐこととなり、m の算出に適している。例えば、ニオブ酸ビスマスナトリウムのc軸に沿って約54nmの直線上に存在するニオブ酸ビスマスナトリウムのmを透過電子顕微鏡で評価する。約54nmの範囲でm=5の結晶が6つ、m=6の結晶が9つ、m=8の結晶が3つ存在すると、このニオブ酸ビスマスナトリウムのm は6となる。mが6や8である結晶の存在確率が増えると、ニオブ酸ビスマスナトリウムのm は大きくなる。非特許文献1によれば単一のmを有するニオブ酸ビスマスナトリウムとしては、m=2、4、5、6、8が知られている。観察像のデジタルデータが得られる場合には適当な画像処理プログラムあるいは評価プログラムを利用して平均値m を算出してもよい。
図2(a)は本発明のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の製造方法の概略を示したものである。図2(b)は非特許文献1等に記載された従来法によるニオブ酸ナトリウム粒子の製造方法を概略描いたものである。本発明の直方体状の単結晶の製造方法での熱処理は一度である。
(混合物1を得る工程の説明)
まず、ニオブの化合物、ナトリウムの化合物、ビスマスの化合物およびナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物の混合物を原料として、この原料を加熱し概ね1150℃〜1200℃まで昇温する。加熱した結果、ナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物が溶融し、その溶融状態になった塩の中で結晶が成長する(溶融塩法)。その結果、ニオブ酸ビスマスナトリウムとナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物との混合物1が得られる。
本発明の熱処理温度は、一般社団法人日本ファインセラミックスセンター製の共通熱履歴センサー(登録商標:リファサーモ)を用いて測定することができる。電気炉内で坩堝を設置する位置に共通熱履歴センサーを置き、指定の温度プロファイルで電気炉を運転する。ただし、共通熱履歴センサーは気化した塩化ナトリウムと反応して過剰に収縮するため、電気炉内の温度を測定する際には、原料粉末を電気炉に入れてはならない。共通熱履歴センサー(タイプLのリファサーモ)を用いて電気炉内温度と電気炉の設定温度を比較したところ、炉内温度は設定値±3℃の範囲内であった。
上記のニオブの化合物には五酸化二ニオブ(Nb)を用いることができる。ナトリウムの化合物には炭酸ナトリウム(NaCO)や炭酸水素ナトリウム(NaHCO)を用いることができる。ビスマスの化合物には三酸化二ビスマス(Bi)を用いることできる。これらの化合物を原料として用いることができる。原料はエタノールを用いた湿式混合により予め混合しておくと中間体が生成される反応が均一に進み好適である。
このビスマス原料、ナトリウム原料、およびニオブ原料は各元素のモル比がBi:Na:Nb=2.5x:m−1.5:m(mは6〜8、xは0.30〜0.90)となるように混合することが望ましい。mが6未満となるように原料の成分を調整すると、平均値mが6より大きくならない。
次に、ビスマス原料の組成比に関係する値xについて説明する。xは1未満の数でありxは0.30〜0.90であることが好ましい。xが1であると直方体状の単結晶が得られない。より好ましくは、xが1/3(=0.33)以上であり0.60以下である。xが1/3未満では1辺が1μm前後の立方体状粒子が多く混入することがある。一方、xが0.6より多くなると直方体状の単結晶どうしが凝集して粗大な粒を形成することがある。いずれの場合にせよ、立方体状粒子や粗大粒子は篩やデカンテーションにより取り除くことができるが、直方体状の単結晶の収率が低下するために産業上好ましくはない。
ナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物は溶融塩法における塩、およびナトリウムの供給源として用いられる。ナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物とは、塩化ナトリウム、フッ化ナトリウム、臭化ナトリウム、ヨウ化ナトリウムの少なくとも一つ、もしくは、前記ナトリウムハロゲン化物とその他のアルカリ金属ハロゲン化物(例えばフッ化カリウム、塩化カリウム、臭化カリウム、ヨウ化カリウム、フッ化リチウム、塩化リチウム、臭化リチウム、ヨウ化リチウム)の混合物である。カリウムもしくはリチウムのハロゲン化物を用いる場合、直方体状の単結晶がカリウムやリチウムを含有するため、これらの元素を除去したい場合はナトリウムハロゲン化物のみを用いる。毒性やコストの観点から、ナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物には塩化ナトリウムが好適に用いられる。
また、水への溶解度の高い塩は容易に水洗で取り除けるため工業生産上一層好適である。
塩化ナトリウムは800℃付近で溶け、他の原料は液体状の塩化ナトリウム中で輸送され原料間の反応が促進される。いわば“塩化ナトリウムの海”の中で、原料から中間体であるニオブ酸ビスマスナトリウムの結晶が成長し、ニオブ酸ビスマスナトリウムと塩化ナトリウムとの混合物1が得られる。
上述のことから、溶融塩法を実行する場合には、原料に対して十分な量の塩が存在する必要がある。上述の例を挙げると塩である塩化ナトリウムが少なすぎると、ニオブ酸ビスマスナトリウムの原料であるNaCO、BiそしてNbがいわゆる固相反応してしまい、板状粒子は成長しない。
中間体であるニオブ酸ビスマスナトリウムを生成するにあたり、原料であるニオブ、ナトリウム、ビスマスの化合物の総重量に対するナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物の重量は1.0倍以上であることが好ましい。ナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物の重量が原料の重量の1.0倍未満であると、直方体状のニオブ酸ビスマスナトリウムが得られないおそれがある。一方でナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物の重量が多すぎると、中間体であるニオブ酸ビスマスナトリウムの原料粉末の割合が塩に対して少なくなってしまうため生産効率が悪く、好ましくない。ニオブ酸ビスマスナトリウム原料の重量に対するナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物の重量は1.0倍以上10倍以下であり、好ましくは1.0倍以上3.0倍以下である。
例えば、ニオブ酸ビスマスナトリウムの原料の総重量を16g、塩化ナトリウムを40gとすると、塩/原料=2.5の重量比となる。前述したm=5の例に当てはめれば、塩化ナトリウムは中間体であるビスマス層状構造のニオブ酸ビスマスナトリウムに対して100倍以上のモル数で存在することになる。その結果、以下説明するトポケミカル反応において塩化ナトリウムが消費される場合でも十分なナトリウム元素の供給源となりえる。
(坩堝の材質)
ニオブ酸ビスマスナトリウム原料とナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物の混合物を加熱するための容器には、各種坩堝を用いることができる。ニオブ酸ビスマスナトリウムの原料粉末と化学反応を起こすおそれの少ない材質の坩堝が好ましく、たとえば白金製の坩堝を用いることができる。安価なアルミナ製の坩堝を用いる場合、アルミナはビスマスを吸収するため、ニオブ酸ビスマスナトリウム原料中のビスマス量を坩堝壁の吸収量に応じて調整する必要がある。
(混合物2を得る工程の説明)
ニオブ酸ビスマスナトリウムとナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物との混合物1を、1200℃以上1250℃以下で熱することでペロブスカイト構造を有するニオブ酸ナトリウムを含有する混合物2が得られる。
混合物1を1200℃以上1250℃以下の温度で、代表的には30分から最大で24時間保持する。このような熱処理によりトポケミカル反応が生じ、ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶を得る。そのためには、1200℃から1250℃の温度範囲で混合物1を保持し、一定量の熱量を与える必要がある。なお、1200℃までの昇温速度が著しく小さい場合は、必要な保持時間を短くすることが可能である。
このような熱処理を経ることによって、ビスマス層状構造のニオブ酸ビスマスナトリウムがペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムへと構造変化する。構造変化を起こすためには熱処理温度は1200℃以上である。しかし1250℃よりも高くなるとナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物が蒸発してしまうため好ましくない。好適には1200℃以上1250℃以下の温度範囲で、30分から12時間の保持が好ましい。熱処理の間、必ずしも温度は一定である必要はなく、緩やかに上昇してもかまわない。温度の上昇速度の好ましい範囲は、5〜20℃/時であり、より好ましくは10℃/時である。緩やかに上昇させると構造変化を徐々に進行し、非直方体状の単結晶の生成を抑制することができる。
(直方体状の単結晶を得る工程の説明)
熱処理を終えたら冷却を行い、得られた混合物2から水溶性成分を除去する。具体的には混合物2の入った坩堝ごと水中に1〜3時間保持することで混合物2から水溶性成分を溶かし出す。水溶性成分を速やかに除去するため、水温は40℃以上で撹拌しておくことが好ましい。水溶性成分を除去するために、水を交換しては本工程を数回繰り返す(水洗)。
水溶性成分を除去した後、更に不要な粗大粒子を取り除くために水中に残った固形物を篩にかける。例えば目開きが50〜200ミクロンの篩を用いることができる。また微細な粒子が混入する場合は、デカンテーションにより上澄みに含まれる1μm以下の微細粒子を除去することができる。以上の工程により、混合物2から水溶性成分と粗大粒子や微細粒子を取り除き、直方体状の単結晶が得られる。
必要に応じて、さらに塩酸や硝酸を用いて直方体状の単結晶を洗浄することで、直方体状の単結晶内のビスマスを低減できるが、必須の工程ではない。
ニオブ酸ビスマスナトリウムとナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物との混合物1を作成した後、高温の混合物1に対して冷却工程を挟まずに坩堝をさらに加熱して熱処理を連続して行うと、工程が簡略化されるため好ましい。平均値m を評価するためには、ニオブ酸ビスマスナトリウムが形成される1150℃から1200℃に達した段階で坩堝を冷却する。坩堝中の水溶性成分を温水洗浄により除去することでニオブ酸ビスマスナトリウムの粒子を取り出してm を評価する。
(反応性テンプレート粒子法による配向セラミックスの製法)
反応性テンプレート粒子法により配向セラミックスを作成する場合、形状異方性を有するテンプレート粒子と、テンプレート粒子よりも大きさが小さく、かつ形状異方性を有さないマトリックス粒子の混合物が作成される。この混合物と適当な可塑剤、バインダ、有機溶剤等を混合し、スラリーや粘土状の成形体を作成し、ドクターブレード法や圧延法によって成形体を作成する。テンプレート粒子は形状異方性を有するため、成形体の作成工程で被成形体に与えられるせん断力等によって成形体中で特定の方位に配向する。
成形体内部では配向したテンプレート粒子が分散しており、テンプレート粒子の周囲はマトリックス粒子により充填されている。一般的にテンプレート粒子は板状であって、直方体状であったり、円板状であったりする。一粒のテンプレート粒子に着目すると、その最も面積の広い表面は、数μm角から数十μm角か、それに相当する面積を有する。マトリックス粒子は不定形であって、100nmから数百nm前後の粒子が用いられる。このような成形体を焼成すると、テンプレート粒子の結晶学的な方位情報を引きついだ粒成長が生じ、配向セラミックスが得られる。
(直方体状の単結晶におけるビスマスの含有量)
本発明の直方体状の単結晶は、ニオブ酸ナトリウムとニオブ酸ナトリウム1モルに対して0.05モル以上0.15モル以下のビスマスを含有する。以後本発明においてニオブ酸ナトリウムのニオブ1モルに対するビスマスのモル比(ビスマス/ニオブ)をBi/Nb比と称する。直方体状の単結晶がビスマスを含有していると、ニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶をテンプレートとして用いて配向セラミックスを作成する際、ビスマスが助剤としてはたらき直方体状の単結晶を起点とする結晶成長が促される。より好ましいビスマスの含有量は0.05モル以上0.10モル以下である。
ビスマスが0.15モルよりも多く含まれる場合、配向セラミックスに拡散したビスマスが不純物として配向セラミックスの特性に悪影響を与える。
(アスペクト比)
本実施形態のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶に関しては以下の特徴がある。すなわち、直方体の最長辺長(L max )と最短辺長(L min )のアスペクト比L max /L min の値が4.0≦L max /L min ≦8.5の範囲である。
圧延法によって配向セラミックスを作成する際、Lmaxが4未満であると、ニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の方位制御が困難となる。そのため配向度の高い配向セラミックスが得られない。
本発明のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶のアスペクト比L max /L min が8.5よりも大きくなる場合、ニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の形状異方性が大きいため方位制御は容易である。一方でニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の大きさが著しく大きくなり、配向セラミックスの焼結性が低下する。また、マトリックス粒子に対するテンプレート粒子の重量比が一定である場合、ニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶が大きくなるほど、原料粉末中に加えられるニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の数が減る。そのため、配向セラミックスの配向度が低下する。そのため、アスペクト比L max /L min は4.0以上8.5以下である。L max /L min は走査電子顕微鏡によってニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の粒子のL max およびL min を測定して算出する。L max /L min の平均値は任意の5〜15個のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の粒子のL max /L min から算出する。L max /L min の平均値も前述と同様の範囲が好ましい。
前記直方体状の単結晶のL max が5μm以上30μm以下であることが好ましい。L max がこの範囲であると、配向セラミックスの密度を低下させない範囲で高配向度を達成することができる。より好ましいL max は5μm以上20μm以下であり、さらにこのましくは9.4μm以上20μm以下である。
前記直方体状の単結晶のLminが1μm以上4μm以下であることが好ましい。Lminがこの範囲であると、配向セラミックスの密度を低下させない範囲で高配向度を達成することができる。
(ロットゲーリングファクター:LGF)
セラミックスの配向度はロットゲーリングファクター(LGF)で定量評価することができる。ロットゲーリングファクターの算出法は、対象とする結晶面から回折されるエックス線のピーク強度を用いて、式1により計算する。
F=(ρ−ρ)/(1−ρ) (式1)
ここで、ρは無配向セラミックス試料のエックス線の回折強度(I)を用いて計算され、(001)配向した正方晶結晶の場合、全回折強度の和に対する、(00l)面の回折強度の合計の割合として、式2により求める。
ρ=ΣI(00l)/ΣI(hkl) (式2)
(h、k、lは整数である。)
ρは配向セラミックス試料のエックス線の回折強度(I)を用いて計算され、(001)配向した正方晶結晶の場合、全回折強度の和に対する、(00l)面の回折強度の合計の割合として、上式2と同様に式3により求める。
ρ=ΣI(00l)/ΣI(hkl) (式3)
セラミックスの配向度の指標としてロットゲーリングファクターを算出するために、銅管球を用いたX線回折測定を行い、2θが20から70°の範囲に現れる回折線の強度をロットゲーリングファクターの算出に用いる。
本発明の直方体状の単結晶を用いることで、配向セラミックスを作成することができる。例えば圧電セラミックスに適用すると、無配向圧電セラミックスよりも圧電性能の優れる配向圧電セラミックスを提供することができる。ロットゲーリングファクターが大きいほど、配向圧電セラミックスの電気機械結合係数は大きくなり好ましい。尚、前述の0.88NaNbO−0.12BaTiOのように、結晶構造がペロブスカイト構造であって、正方晶系に属する結晶の場合、本発明の直方体状の単結晶をテンプレート粒子に用いるとよい。そうすることによって、(100)/(001)配向した配向セラミックスが得られる。ロットゲーリングファクターの算出時には、a軸とc軸の区別をせず、全回折強度の和に対する(h00)面と(00l)面の回折強度の合計の割合として算出する。同様に、斜方晶系に属するペロブスカイト構造の材料の場合は、全回折強度の和に対する、(h00)面と(0k0)面と(00l)面の回折強度の合計の割合として算出する。
(圧電素子)
以下に本発明の配向圧電セラミックスを用いた圧電素子について説明する。
図5は本発明の圧電素子の構成の一実施形態を示す概略図である。本発明に係る圧電素子は、第一の電極1、配向圧電セラミックスを含む圧電材料部2および第二の電極3を少なくとも有する圧電素子である。前記圧電材料部2が本発明の配向圧電セラミックスである。
本発明に係る配向圧電セラミックスは、少なくとも第一の電極と第二の電極を有する圧電素子にすることにより、その圧電特性を評価できる。
前記第一の電極および第二の電極は、厚み5nmから10μm程度の導電層よりなる。
その材料は特に限定されず、圧電素子に通常用いられているものであればよい。例えば、Ti、Pt、Ta、Ir、Sr、In、Sn、Au、Al、Fe、Cr、Ni、Pd、Ag、Cuなどの金属およびこれらの化合物を挙げることができる。前記第一の電極および第二の電極は、これらのうちの1種からなるものであっても2種以上の混合物あるいは合金であってもよく、あるいはこれらの2種以上を積層してなるものであってもよい。また、第一の電極と第二の電極が、それぞれ異なる材料であってもよい。
前記第一の電極と第二の電極の製造方法は限定されず、金属ペーストの焼き付けにより形成しても良いし、スパッタ、蒸着法などにより形成してもよい。また第一の電極と第二の電極とも所望の形状にパターニングして用いてもよい。
(分極処理)
前記圧電素子は一定方向に分極軸が揃っているものであると、より好ましい。分極軸が一定方向に揃っていることで前記圧電素子の圧電定数は大きくなる。
前記圧電素子の分極方法は特に限定されない。分極処理は大気中で行ってもよいし、シリコーンオイル中で行ってもよい。
分極をする際の温度は60℃から150℃の温度が好ましいが、圧電素子を構成する配向圧電セラミックスの組成によって最適な条件は多少異なる。
分極処理をするために印加する電界は、600V/mmから2.0kV/mmが好ましい。
本発明の配向圧電セラミックスは、液体吐出ヘッド、モータなどに加え、超音波振動子、圧電アクチュエータ、圧電センサ、強誘電メモリ、発電装置等の圧電装置に用いることができる。
本発明の圧電装置は、図6に示すように、本発明の圧電素子を備えており、前記圧電素子への電圧印加手段および電力取出手段の少なくとも一方を有している。「電力取出」とは、電気エネルギーを採取する行為、および、電気信号を受信する行為のいずれであっても良い。あるいは図6(c)に示すように、本発明の電子機器は前記圧電素子を備えている構成であってもよい。
以下に実施例を挙げて本発明の直方体状の単結晶の製造方法、および直方体状の単結晶をより具体的に説明するが、本発明は、以下の実施例により限定されるものではない。
(比較例1)
比較のため二段階溶融塩法による板状ニオブ酸ナトリウムの合成について以下説明する。本比較例は上述の事項を踏まえると、一般式Bi2.5Nam−1.5Nb3m+3(mは2以上の整数)で表現されるニオブ酸ビスマスナトリウムとして、m=5に相当するニオブ酸ビスマスナトリウムを使用する場合に相当する。
まず、酸化ビスマス(Bi)、炭酸ナトリウム(NaCO)、単斜晶酸化ニオブ(Nb)をそれぞれモル比で5:7:10の比率になるように秤量して混合した。混合粉末に対して等重量のエタノールを加えてスラリー状とし、直径10mmのジルコニアボールを用いて12時間かけてボールミルを実施した(湿式混合および粉砕)。スラリーからジルコニアボールを取り除いた後、スラリーを乾燥させてエタノールを除去した。乾燥した混合粉末を目開き250ミクロンの篩を通して原料粉末を得た。原料粉末の重量に対して2.5倍重量の塩化ナトリウム(NaCl)を加えて混合した。具体的には16gの原料粉末に対して40gの塩化ナトリウムを加えた。
原料粉末と塩化ナトリウムの混合物を容量50mlの白金坩堝に充填した。白金坩堝には同じく白金性の蓋をした。電気炉中で白金坩堝を室温から1100〜1190℃まで300℃/時間の速度で昇温して3〜6時間保持した後に室温まで冷却した。
電気炉から取り出した白金坩堝を80℃の蒸留水(温水)中に浸漬し、3時間程度放置して水溶性成分の大部分を取り除いた。坩堝内の生成物は互いに凝集していない板状粒子状になっており、坩堝から温水中に流し出すことができた。白金坩堝内に生成物が付着している場合は、洗瓶などを用いて水を吹きかけて残留物を温水中に流しだした。水溶性成分を一層取りのぞくため、生成物を容器底部に沈殿させた後、温水の上澄みを廃棄し、容器に新たな温水をくわえて、プロペラのついた撹拌機を用いて3時間以上撹拌した。撹拌の後、水分を蒸発させてビスマス層状構造を有する中間体板状粒子を得た。
得られた中間体板状粒子のモル数を概算するため、中間体板状粒子が全てBi2.5Na3.5Nb18であると仮定して、中間体板状粒子のモル数を算出した。中間体板状粒子のモル数に対して1.3倍のモル数の炭酸ナトリウム(NaCO)を加えた。さらに、中間体板状粒子と炭酸ナトリウムの混合粉末に対して1.5倍重量の塩化ナトリウムを加えて白金坩堝に充填した。坩堝は電気炉中で920〜1020℃まで加熱した後、3〜6時間保持した(熱処理)。冷却した後、中間体板状粒子を作成したときと同じ要領で生成物を温水洗浄し(水洗)、水溶性成分を除去したあと、希塩酸に12時間浸して酸化ビスマスを除去した(酸洗浄)。上記温水洗浄と酸洗浄工程を再度実施した。
生成物から水溶性成分と酸化ビスマスを除去して得られた粒子は板状であった。X線回折によって板状粒子の構成相を評価したところ、ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムであった。また走査電子顕微鏡を用いて得られた板状粒子を観察したところ、面と面のなす角度が90°±10°の範囲にある平行六面体状ではない粒子が多く観察された。さらに詳細に板状粒子を透過電子顕微鏡で観察すると、板状粒子はさらに薄い板状結晶の集合体(多結晶体)であり、単結晶ではないことがわかった。
(比較例2)
比較例1と同様であるが、今度はm=8の場合での二段階溶融塩法による板状ニオブ酸ナトリウムの合成について説明する。
酸化ビスマス(Bi)、炭酸ナトリウム(NaCO)、単斜晶酸化ニオブ(Nb)をそれぞれモル比で5:13:16の比率になるように秤量して混合した。以降の手順は比較例1と同様の手法で板状粒子を得た。比較例1と同様に板状粒子は直方体状ではなかった。板状粒子を走査電子顕微鏡で観察すると、板状粒子表面には1μm以上のステップがあった。板状粒子はさらに薄い板状結晶が層状に連なった集合体であり、単結晶ではないことがわかった。
以下、一段階溶融塩法による直方体状の単結晶の合成について説明する。
まず酸化ビスマス(Bi)、炭酸ナトリウム(NaCO)、単斜晶酸化ニオブ(Nb)をそれぞれモル比でAx:B:Cになるように秤量して直方体状の単結晶の合成を行った。前記Axは化学量論比Aに対する仕込み量比xの乗算を示している。xは 0から1の間の数字である。例えば、A=5でx=0.3の場合は、Ax=1.5となる。
xが1の場合、原料組成はニオブ酸ビスマスナトリウムの化学量論組成と等しくなり、ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムへの構造変化が進みにくい。トポケミカル反応を促進するため、xは1よりも小さくした。比較例3〜8、及び実施例1から21について、原料粉末のモル比、用いた塩、原料と塩の重量比、熱処理温度、熱処理時間、使用した坩堝の材質を表1にまとめた。本実施例の一段階溶融塩法での坩堝の温度プロファイルは、室温から熱処理温度まで一定の速度で昇温する工程と、熱処理温度で一定時間保持する工程と、室温まで炉内で冷却する工程で構成される。
以下の比較例3、実施例3、および17について、ICP分析により測定した直方体状の単結晶のNa/Nb比、Bi/Nb比、ニオブ酸ビスマスナトリウムのmを表2に示す。比較例3、実施例2、3、16および17について、走査電子顕微鏡により測定したLmax、Lminおよびアスペクト比Lmax/Lminを表3に示す。
(比較例3)
従来の一段階溶融塩法により板状ニオブ酸ナトリウム粒子の作製を行った。本比較例はm=5の場合に相当する。
酸化ビスマス(Bi)、炭酸ナトリウム(NaCO)、酸化ニオブ(Nb)をそれぞれモル比で5x:7:10(x=1/3)の比率になるように秤量して混合した。混合粉末に対して等重量のエタノールを加えてスラリー状とし、直径10mmのジルコニアボールを用いて12時間かけてボールミルを実施した(湿式混合および粉砕)。スラリーからジルコニアボールを取り除いた後、スラリーを乾燥させてエタノールを除去した。乾燥した混合粉末を目開き250ミクロンの篩を通して原料粉末を得た。原料粉末の重量に対して2.5倍重量の塩化ナトリウム(NaCl)を加えて混合した。具体的には16gの原料粉末に対して40gの塩化ナトリウムを加えた。
原料粉末と塩化ナトリウムの混合物を容量50mlの白金坩堝に充填した。白金坩堝には同じく白金性の蓋をした。電気炉中で白金坩堝を1225℃まで300℃/時の速度で昇温して6時間保持した。その後に室温まで冷却した。
電気炉から取り出した白金坩堝を容器内で80℃の蒸留水(温水)中に浸漬し、3時間程度放置した後、白金坩堝を温水から取り出した。白金坩堝内に生成物が残留している場合は、洗瓶等を用いて水を吹きかけて残留物を温水中に流し出した。生成物を容器底部に沈殿させた後、温水の上澄みを廃棄し、容器に新たな温水を加えて、プロペラのついた撹拌機を用いて3時間以上撹拌した。撹拌後、再び容器を放置して生成物を沈殿させた。温水の上澄みを廃棄し、容器に新たな温水を加えて、プロペラのついた撹拌機を用いて再度3時間以上撹拌した。
二度目の撹拌の後、生成物を温水ごと目開き71ミクロンのメッシュを通して粗大な粒子を除去した。さらに蒸留水を用いてデカンテーションを2〜3回行い、上澄みに含まれる沈降速度の遅い微細粒子を取り除いた。その後蒸留水を蒸発させて板状粒子を得た。
走査電子顕微鏡、および透過電子顕微鏡を用いて板状粒子を評価したところ、板状粒子はニオブ酸ナトリウムを主成分(80%以上)とする直方体状の単結晶であった。しかし、ICP分析によりNa/Nb比及びBi/Nb比を測定したところ、それぞれ0.77及び0.11であった。
また平均値mを評価するため、1200℃に到達した直後に加熱を中断し、上記手順により坩堝内の生成物を取り出した。生成物を走査電子顕微鏡で観察したところ、生成物は板状の粒子であった。また、板状粒子の断面を透過電子顕微鏡で観察したところ、板状粒子はニオブ酸ビスマスナトリウムであった。酸化ビスマス層間の距離を測りmを算出したところ、mは5〜8の範囲で分布しており、その平均値mは6であった。走査電子顕微鏡により比較例3の直方体状の単結晶を観察したところ、任意に選んだ6つの単結晶のLmaxは13.0μm以上17.5μm以下であり、Lminは4.1μm以上5.5μm以下であった。アスペクト比(Lmax/Lmin)は3.0〜3.9であり、平均すると3.4であった。
(実施例1から4)
上述の比較例を踏まえ、以下では本実施形態にかかる実施例について順を追って説明する。
なお実施例1から4は平均値m>6の場合に相当する。
酸化ビスマス(Bi)、炭酸ナトリウム(NaCO)、酸化ニオブ(Nb)をそれぞれモル比で5x:9:12(x=0.6、0.5、0.4、0.3)の比率になるように秤量して混合した。以降は比較例3と同じ生成手順で板状粒子を得た。
実施例1はx=0.6、すなわち酸化ビスマス(Bi)のモル比は3.0である。
xが0.4〜0.6である場合、つまり実施例1、2,3のサンプルにて得られた板状粒子は直方体状の単結晶であるニオブ酸ナトリウムであった。ICP分析により実施例3の直方体状の単結晶の組成を評価したところ、Na/Nb比は0.82であり、Bi/Nb比は0.095であった。これは比較例3と比べNbに対するNaの欠損の度合いが小さいという好ましいものであった。
実施例1から4についてmを検証した。1200℃に到達した直後に加熱を中断し、比較例3記載の手順により坩堝内の粒子を取り出し断面を観察したところ、生成物は板状のニオブ酸ビスマスナトリウムであった。透過電子顕微鏡により酸化ビスマス相関の距離を測り、平均値mを算出した。ニオブ酸ビスマスナトリウムの粒子はmが5〜8の範囲のさまざまな粒子が見出された。その平均値mは6.4であった。
走査電子顕微鏡により実施例2の直方体状の単結晶を観察したところ、8個の単結晶のLmaxは12.9〜18.0μmであり、Lminは2.9〜3.9μmであった。アスペクト比(Lmax/Lmin)は4.2〜5.5であり、平均すると4.8であった。走査電子顕微鏡により実施例3の直方体状の単結晶を観察したところ、11個の単結晶のLmaxは12.1〜20.0μmであり、Lminは2.2〜3.7μmであった。アスペクト比(Lmax/Lmin)は4.4〜7.1であり、平均すると5.7であった。
比較例3の試料に対し、実施例2及び実施例3の試料のLminが4μm未満と小さく、Lmax/Lminおよびその平均値は4以上と大きかった。
実施例3の試料についてICP分析によりNa/Nb比及びBi/Nb比を測定したところ、それぞれ0.82及び0.095であった。
直方体状の単結晶を平らなガラス板状にキャストしてX線回折を実施したところ、ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムのhh0回折と00l回折(hおよびlは自然数)のみが観察された。さらに、最も面積の大きな面は(110)もしくは(001)面であることがわかった。その結果を図3に示した。
xが0.3である時(実施例4)、本発明の直方体状の単結晶が得られたが、同時に5μm以下の立方体状のニオブ酸ナトリウム粒子が混入した。立方体状粒子は直方体状粒子よりも小さいため、分級により取り除くことは可能であり実用には問題はない。ただし実施例4ではニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の収率は実施例1〜3よりも低かった。
(実施例5から8)
本実施例は平均値m>6の場合に相当する。ニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶を作成するにあたって、熱処理温度依存性を以下のように調べた。保持温度以外は実施例3と同様の手法でニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶を作成した。1200℃から1235℃の範囲で保持温度を変化させても直方体状の単結晶を得ることができた。
(比較例4)
実施例5〜8における保持温度より下げ、保持温度が1150℃とした。保持温度を実施例5〜8のサンプルに比べて下げたこと以外は実施例5〜8と同様の手法で直方体状の単結晶を作成した。得られた粒子はニオブ酸ビスマスナトリウムが主相であり、好ましくなかった。
(実施例9)
本実施例は平均値m>6の場合に相当する。
ナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物として、塩化ナトリウム90重量%に対してフッ化ナトリウムを10重量%加えた混合物を塩とし、その他は実施例3と同様の手法で直方体状の単結晶を作成した。塩が塩化ナトリウムとフッ化ナトリウムの混合物であってもニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶を得ることができた。
(実施例10と11、比較例5)
原料粉に対する塩化ナトリウムの重量を1.5倍、1.0倍、0.5倍とし、その他は実施例3と同様の手法でニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶を作成した。原料粉末に対する塩の重量比が1.0、1.5倍でもあってもニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶を得ることができたが、0.5倍の時(比較例5)はニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶を得ることができなかった。
(実施例12、比較例6)
熱処理工程において生じるトポケミカル反応に対する反応時間について以下のように比較検討した。1225℃での保持時間を12時間(実施例12)、0時間(比較例6、室温から坩堝を加熱して1225℃に達したら直ちに冷却を開始)とし、その他は実施例3と同様の手法で直方体状の単結晶を作成した。1225℃での保持時間が12時間の実施例12では、実施例3同様にニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶を得ることができた。一方で、保持時間が0時間の比較例6では、ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムが主成分である直方体状の単結晶は得られなかった。
(実施例13)
白金坩堝ではなく、アルミナ製坩堝(未使用)を用いることと、ナトリウム原料やニオブ原料に対するビスマス原料のモル比が大きい以外は実施例3と同様の手法で直方体状の単結晶を作成した。ビスマスを吸収する性質があるアルミナに坩堝の材質を変更しても、出発原料中のビスマス量を多めに調整すればニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶をえることができた。
(実施例14から19)
本実施例はm=8、平均値m>6の場合に相当する。
酸化ビスマス(Bi )、炭酸ナトリウム(Na CO )、単斜晶酸化ニオブ(Nb )をそれぞれモル比で5x:13:16(x=0.8〜0.3)の比率になるように秤量して混合した。例えば実施例14はx=0.80であり、酸化ビスマス(Bi )のモル比は4.0であり、実施例15の酸化ビスマスのモル比は3.5である。
以降は実施例3と同様の手法で直方体状の単結晶を作成した。xが0.4〜0.6である場合、得られた板状粒子は直方体状の単結晶であるニオブ酸ナトリウムであった。
ICP分析により実施例17のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の組成を評価したところ、Na/Nb比は0.87であり、Bi/Nb比は0.11であった。透過電子顕微鏡により酸化ビスマス層間の距離を測り、mを算出したところmは5〜8の範囲で分布しており、その平均値mは約7であった。
走査電子顕微鏡により実施例16の直方体状の単結晶を観察したところ、任意に選んだ5個の単結晶のLmaxは11.1μm以上15.2μm以下であり、Lminは1.8μm以上3.1μm以下であった。アスペクト比(Lmax/Lmin)は4.3〜7.3であり、平均すると5.6であった。走査電子顕微鏡により実施例17の直方体状の単結晶を観察したところ、任意に選んだ15個の単結晶のLmaxは9.4μm以上17.4μm以下であり、Lminは1.8μm以上3.4μm以下であった。アスペクト比(Lmax/Lmin)は4.0〜8.5であり、平均すると5.7であった。
xが0.8である時(実施例14)、本発明の直方体状の単結晶が得られたが、同時に直方体状の単結晶の凝集体が混入した。凝集体は直方体状粒子よりも大きいため、分級により取り除くことは可能であるが、実施例14では直方体状の単結晶の収率が実施例15〜18よりも低かった。
xが0.3である時(実施例19)、本発明のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶が得られたが、同時に5μm以下の立方体状のニオブ酸ナトリウム粒子が多数混入した。立方体状粒子は直方体状粒子よりも小さいので、分級することは可能であるが、実施例19では直方体状の単結晶の収率が実施例15〜18よりも低かった。
(実施例20、21、及び比較例7)
熱処理温度以外は実施例17と同様の手法で直方体状の単結晶を作成した。1235℃から1250℃の範囲で保持温度を変化させても直方体状の単結晶を得ることができた。しかし、熱処理温度が1260℃である比較例7では、坩堝内には焼結体が残留しており、水溶成分の除去作業を行った後も直方体状の単結晶は得られなかった。
(配向セラミックスの作成)
(比較例8)比較例1で得られた板状粒子をテンプレート粒子として用いて88NaNbO−12BaTiOの配向セラミックスを作成した。配向セラミックスは圧延法にて作成した。始めに、ポリビニルブチラール17.5重量%、キシレン46.5重量%、1−ブタノール31重量%、フタル酸ジブチル2.5重量%、流動パラフィン2.5重量%を混合してバインダ溶液を作成した。原料粉末にはマトリックス粒子として粒径約100nmのNaNbOとBaTiO粉末を用い、焼結助剤として粒径1〜5μmのCuO粉末を加えた。テンプレート粒子とマトリックス粒子の合計重量の5%をテンプレート粒子とした。マトリックス粒子であるNaNbOとBaTiOのモル比は0.83:0.12であり、マトリックス粒子にテンプレート粒子を加えると、NaNbOとBaTiOのモル比が0.88:0.12になるように秤量した。CuOはNaNbOとBaTiOの合計モル数1に対して0.0075モルとした。原料粉末にバインダ溶液、およびキシレン−ブタノールの混合溶液を加えて撹拌してスラリー状とし、適度に溶媒を蒸発させてスラリーを粘土状にした。得られた粘土状試料を圧延することにより成形体を作成した。圧延法は、平行なギャップを有する二つのローラー間を粘土状試料を追加させて実施した。ローラーの間隔は3mmから初め、ローラー間隔が1mmに至るまで、徐々に間隔を狭めては圧延を実施した。得られた成形体は乾燥室の中で最大90℃になるまで一週間かけて徐々に温度を上げ、成形体が含んでいた揮発成分を除去した。その後80℃でWIP処理を施し、適当な形状に切断したのちに電気炉内で焼成した。
焼成工程では、まず室温から450℃に至るまで最大でも24℃/時の速度で昇温し、その後1000℃まで300℃/時で昇温して1時間保持したのち、更に1200℃まで300℃/時で昇温して6時間保持したのちに炉内で冷却した。焼結体のロットゲーリングファクターを評価したところ、60%よりも小さかった。また組成分析の結果、ニオブに対してナトリウムが2%よりも多く欠損していた。
(比較例9)
比較例8と同じ手法で88NaNbO−12BaTiOの配向セラミックスを作成した。ただし、テンプレート粒子には比較例3で得られた板状粒子を用いた。焼結体のロットゲーリングファクターを評価したところ、60%よりも小さかった。また組成分析の結果、ニオブに対してナトリウムが2%よりも多く欠損していた。
(実施例22〜実施例32)
実施例3もしくは実施例17により得られた直方体状の単結晶を用い、比較例9と同じ手法で88NaNbO−12BaTiO(実施例22〜26、30、31)、90NaNbO−10BaTiO(実施例27、28、32)、91NaNbO−9BaTiO(実施例29)のセラミックスを作成した。ただし、テンプレート粒子とマトリックス粒子の割合、添加物の種類と濃度が異なる。添加物にMnを加える場合は、原料粉末にMn粉末を用いた。作成条件と得られた配向セラミックスの組成、ロットゲーリングファクターを表4にまとめる。本発明の板状粒子を用いることで、得られた配向セラミックスのロットゲーリングファクターは70%よりも大きくなり、またニオブに対するナトリウムの欠損も2%よりも小さくなった。尚、組成分析は、焼結体の表裏をそれぞれ約200ミクロン研削した後に、波長分散型蛍光X線により評価した。
その結果、以下のセラミクスが得られた。すなわち、下記一般式(1)で表わされる金属酸化物と、前記金属酸化物1molに対して、0.1mol%以上0.4mol%以下のBiと、前記金属酸化物1molに対して、0.1mol%以上0.75mol%以下のCuもしくはMnを含むセラミックスである。
一般式(1)((NaBa1−y)(NbTi1−y)O
(式中、0.87≦x≦0.90、0.88≦y≦0.91、0.98≦x/y≦1.0)
次に本発明の圧電素子を作製した。
(圧電素子)
前記、ロットゲーリングファクターが80%よりも大きな88NaNbO −12BaTiO 配向セラミックスの表裏両面を研磨した後、表裏両面にDCスパッタリング法により厚さ400nmの金電極を形成した。なお、電極と圧電材料の間には、密着層として厚さ30nmのチタンからなる層を成膜した。この電極付きの圧電材料を切断加工し、10mm×2.5mm×0.5mmの短冊状の素子を作製した。
この素子を、表面温度が100℃から150℃のホットプレート上に設置し、両電極間に1.5kV/mmの電界を30分間印加して、分極処理した。こうして、電極に狭持された部分の配向セラミックスが電極面と垂直に残留分極を有する本発明の圧電素子を得た。
本発明の直方体状の単結晶の製造方法によると、ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶が得られる。直方体状の単結晶はテンプレート粒子として配向セラミックスの作成に利用することができる。従来の二段階溶融塩法よりも簡便な一段階溶融塩法によってナトリウム欠損を抑制した直方体状の単結晶を作成することが可能である。ニオブ酸ナトリウムを成分として含む圧電セラミックスの配向制御に利用し、圧電性能を飛躍的に高めることが可能である。

Claims (13)

  1. ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶であって、前記直方体状の単結晶が前記ニオブ酸ナトリウム1モルに対して0.05モル以上0.15モル以下のビスマスを含有しており、前記直方体状の単結晶のNa/Nb比が0.82以上1.00以下であり、前記直方体の最長辺長(Lmax)と最短辺長(Lmin)の比Lmax/Lminが4.0≦Lmax/Lmin≦8.5の範囲であることを特徴とするニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶。
  2. 前記Lmaxが9.4μm以上20μm以下であることを特徴とする請求項1に記載のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶。
  3. 請求項1又は2に記載のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶を含む成形体を焼成して得られたセラミックス。
  4. 請求項3に記載のセラミックスは、(110)面もしくは(001)面に配向していることを特徴とするセラミックス。
  5. 第一の電極、圧電材料部および第二の電極を有する圧電素子であって、前記圧電材料部を構成する圧電材料が請求項4に記載のセラミックスである圧電素子。
  6. 請求項5に記載の圧電素子を備え、かつ、該圧電素子への電圧印加手段および前記圧電素子からの電力取出手段の少なくとも一方を有する圧電装置。
  7. 請求項5に記載の圧電素子を備えた電子機器。
  8. ペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の製造方法であって、
    組成が一般式(1):Bi2.5Nam−1.5Nb 3m+3(mは2以上の整数)で表現される複数の結晶から構成される粒子であって、前記粒子における前記mの平均値m が6よりも大きいニオブ酸ビスマスナトリウムと、ナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物との混合物1を1200℃以上1250℃以下で熱処理してペロブスカイト構造のニオブ酸ナトリウムを含有する混合物2を得る工程と、
    前記混合物2から水溶性成分を除去する工程、
    を有することを特徴とするニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の製造方法。
  9. 前記混合物1における、前記ニオブ酸ビスマスナトリウムに対する前記ナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物の重量が1.0倍以上であって10倍以下であることを特徴とする請求項8に記載のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の製造方法。
  10. 前記mは、ビスマス層状構造である前記ニオブ酸ビスマスナトリウムにおけるc軸方向の酸素八面体の層数であることを特徴とする請求項8又は9に記載のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の製造方法。
  11. 前記平均値m が6.4以上であり8.0以下であることを特徴とする請求項8乃至10のいずれか1項に記載のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の製造方法。
  12. 前記ナトリウム含有アルカリ金属ハロゲン化物とは塩化ナトリウムであることを特徴とする請求項8乃至11のいずれか1項に記載のニオブ酸ナトリウムを主成分とする直方体状の単結晶の製造方法。
  13. 請求項8乃至12のいずれか1項に記載の直方体状の単結晶の製造方法によって直方体状の単結晶を得る工程と、該直方体状の単結晶を使用して成形体を得る工程と、該成形体を焼成してセラミックスを得る工程とを有するセラミックスの製造方法。
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