JP6681150B2 - 固体撮像装置およびその製造方法ならびにカメラ - Google Patents
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Description
Claims (20)
- 画素領域と、前記画素領域から信号を読み出すための回路が配置された周辺回路領域とを有し、前記画素領域が光電変換素子および第1MOSトランジスタを含み、前記周辺回路領域が第2MOSトランジスタを含む固体撮像装置の製造方法であって、
半導体基板の上に前記第1MOSトランジスタのゲート電極および前記第2MOSトランジスタのゲート電極を形成する工程と、
前記第1MOSトランジスタのゲート電極および前記第2MOSトランジスタのゲート電極が形成された前記半導体基板を覆うように窒化物を含む第1絶縁膜を形成する工程と、
前記第1絶縁膜の一部によって前記第2MOSトランジスタの前記ゲート電極の側面にサイドスペーサが形成されるように、前記画素領域をマスクした状態で前記周辺回路領域における前記第1絶縁膜をエッチングする第1エッチング工程と、
前記周辺回路領域をマスクした状態で前記画素領域における前記第1絶縁膜の前記窒化物をエッチングする第2エッチング工程と、
前記第1エッチング工程および前記第2エッチング工程の後に、前記光電変換素子、前記第1MOSトランジスタの前記ゲート電極、前記第2MOSトランジスタの前記ゲート電極、および、前記サイドスペーサを覆うように窒化物を含む第2絶縁膜を形成する工程と、を含むことを特徴とする固体撮像装置の製造方法。 - 前記第2エッチング工程は、前記第1エッチング工程の後に実施され、
前記製造方法は、前記第1エッチング工程と前記第2エッチング工程との間において、前記周辺回路領域の前記第2MOSトランジスタのソースおよびドレインを形成するための不純物の注入を行う工程と、
前記不純物の注入の後に、前記第2MOSトランジスタにシリサイド層を形成する工程と、を含む、
ことを特徴とする請求項1に記載の固体撮像装置の製造方法。 - 前記第2絶縁膜を覆うように層間絶縁膜を形成する工程と、
前記第2絶縁膜をエッチングストッパとして前記層間絶縁膜を部分的にエッチングすることによって前記層間絶縁膜に開口を形成し、
更に、前記開口を通して前記第2絶縁膜をエッチングすることによって、前記層間絶縁膜および前記第2絶縁膜にコンタクトホールを形成する工程と、
を更に含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の固体撮像装置の製造方法。 - 前記第1MOSトランジスタは、前記光電変換素子の半導体領域を主電極として有するトランジスタであり、
前記第2エッチング工程は、前記第1絶縁膜の一部によって前記第1MOSトランジスタの前記ゲート電極の前記半導体領域の側の側面にサイドスペーサが形成されるように実施される、
ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の固体撮像装置の製造方法。 - 前記第1絶縁膜は、第1絶縁層と第2絶縁層とを含み、前記第2エッチング工程では、前記第1絶縁層をエッチングストッパとして前記第2絶縁層をエッチングする、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の固体撮像装置の製造方法。 - 前記第1絶縁膜を形成する工程では、前記第1絶縁膜は、窒化物を含む第1絶縁層と、前記第1絶縁層と前記半導体基板との間に位置する酸化物を含む第2絶縁層と、を含み、
前記第1エッチング工程では、前記画素領域をマスクした状態で、前記周辺回路領域において前記半導体基板が露出するように前記第1絶縁層および前記第2絶縁層をエッチングし、
前記第2エッチング工程では、前記周辺回路領域をマスクした状態で、前記光電変換素子の上において前記第2絶縁層が露出するように前記第1絶縁層をエッチングし、
前記第2絶縁膜を形成する工程では、前記第2絶縁膜と前記光電変換素子との間に前記第2絶縁層が位置するように前記第2絶縁膜を形成する、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の固体撮像装置の製造方法。 - 前記第2絶縁膜は、20nmから80nmの範囲内の厚さを有すること、および/または、
前記第2絶縁膜は、前記光電変換素子の上において反射防止膜として機能するように構成されることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の固体撮像装置の製造方法。 - 前記第2絶縁膜は、前記光電変換素子からの距離が50nm以下となるように形成される、
ことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の固体撮像装置の製造方法。 - 前記第1絶縁膜を形成する工程と前記第2絶縁膜を形成する工程の間に、前記半導体基板の上に窒化シリコン膜を形成しない、
ことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の固体撮像装置の製造方法。 - 画素領域と、前記画素領域から信号を読み出すための回路が配置された周辺回路領域とを有し、前記画素領域が光電変換素子および第1MOSトランジスタを含み、前記周辺回路領域が第2MOSトランジスタを含む固体撮像装置であって、
前記光電変換素子が設けられた半導体基板と、
前記半導体基板の上に配置された前記第1MOSトランジスタのゲート電極の上面、前記半導体基板の上に配置された前記第2MOSトランジスタのゲート電極の上面および前記光電変換素子を覆う、窒化物を含む第1膜と、
前記第1膜と前記半導体基板との間に配置され、前記第1MOSトランジスタの前記ゲート電極の側面を覆うサイドスペーサと、
前記第1MOSトランジスタの前記ゲート電極の、前記上面、前記第1MOSトランジスタの前記側面のうちのソース側の第1側面および前記第1MOSトランジスタの前記側面のうちのドレイン側の第2側面のそれぞれと、前記第1膜との間に設けられた酸化シリコン膜と、
前記第1膜を覆う第2膜と、
前記第1膜および前記第2膜に設けられたコンタクトホールを通して前記第1MOSトランジスタの主電極に接続されたコンタクトプラグと、
前記第1膜および前記第2膜に設けられたコンタクトホールを通して前記第2MOSトランジスタの主電極に接続されたコンタクトプラグと、を備え、
前記酸化シリコン膜と前記第1MOSトランジスタの前記ゲート電極の前記上面、前記第1側面および前記第2側面との間に窒化物を有さず、
前記第1膜と前記第1MOSトランジスタの前記ゲート電極の前記上面との間に窒化物を有しない、
ことを特徴とする固体撮像装置。 - 前記第1膜と前記光電変換素子との間に窒化物を有しない、
ことを特徴とする請求項10に記載の固体撮像装置。 - 複数の画素が配列された画素領域と、前記画素領域から信号を読み出すための回路が配置された周辺回路領域とを有し、前記画素領域が光電変換素子および第1MOSトランジスタを含み、前記周辺回路領域が第2MOSトランジスタを含む固体撮像装置であって、
半導体基板の上に配置された前記第1MOSトランジスタのゲート電極、前記半導体基板の上に配置された前記第2MOSトランジスタのゲート電極および前記半導体基板に設けられた前記光電変換素子を覆う、窒化物を含む第1膜と、
前記第1膜と前記半導体基板との間に配置され、前記第1MOSトランジスタの前記ゲート電極の側面を覆うサイドスペーサと、
前記第1MOSトランジスタの前記ゲート電極の上面と前記第1膜との間に設けられた酸化シリコン膜と、
前記第1膜を覆う第2膜と、
前記第1膜および前記第2膜に設けられたコンタクトホールを通して前記第1MOSトランジスタの主電極に接続された第1コンタクトプラグと、
前記第1膜および前記第2膜に設けられたコンタクトホールを通して前記第2MOSトランジスタの主電極に接続された第2コンタクトプラグと、を備え、
前記第1膜のうちの前記半導体基板の表面に沿って前記光電変換素子を覆う部分から、前記光電変換素子までの窒素濃度が10原子%未満である、
ことを特徴とする固体撮像装置。 - 前記第2膜の材料は酸化シリコンであり、
前記第1膜は前記第2膜および前記酸化シリコン膜と接しており、
前記第1コンタクトプラグは、前記第1膜および前記第2膜と接しており、
前記第2コンタクトプラグは、前記第1膜および前記第2膜と接している、
ことを特徴とする請求項12に記載の固体撮像装置。 - 前記第2MOSトランジスタの少なくとも一部分に設けられ、前記第1膜で覆われたシリサイド層を更に備え、前記第1膜が前記シリサイド層に接している、
ことを特徴とする請求項10乃至13のいずれか1項に記載の固体撮像装置。 - 前記第1MOSトランジスタの前記ゲート電極の前記側面を覆う前記サイドスペーサを第1のサイドスペーサとして、前記第2MOSトランジスタの前記ゲート電極の側面に設けられた第2のサイドスペーサを更に備え、
前記第1MOSトランジスタの少なくとも一方の主電極における前記第1のサイドスペーサによって覆われていない部分の不純物濃度は、前記第2MOSトランジスタの少なくとも一方の主電極における第2の前記サイドスペーサによって覆われていない部分の不純物濃度よりも低い、
ことを特徴とする請求項10乃至14のいずれか1項に記載の固体撮像装置。 - 前記画素領域は、前記第1MOSトランジスタに接続され、前記光電変換素子で発生した電荷をフローティングディフュージョンに転送する転送MOSトランジスタを含み、
前記転送MOSトランジスタのゲート電極の前記光電変換素子の側の側面に設けられた第3のサイドスペーサをさらに備え、
前記第1膜は前記第3のサイドスペーサを覆うことを特徴とする請求項10乃至14のいずれか1項に記載の固体撮像装置。 - 前記第1側面を覆う前記サイドスペーサは窒化物を含み、前記サイドスペーサの前記窒化物と前記第1側面との間に前記酸化シリコン膜が位置する、
ことを特徴とする請求項10又は11に記載の固体撮像装置。 - 前記第1膜は、前記光電変換素子の上において反射防止膜として機能するように構成されていること、および/または
前記第1膜は、20nmから80nmの範囲内の厚さを有し、前記光電変換素子と前記第1膜との距離が50nm以下である、
ことを特徴とする請求項10乃至17のいずれか1項に記載の固体撮像装置。 - 前記光電変換素子と前記第1膜との間に前記酸化シリコン膜が位置し、
前記光電変換素子と前記第1膜との距離が20nm以下である、
ことを特徴とする請求項10乃至18のいずれか1項に記載の固体撮像装置。 - 請求項10乃至19のいずれかに記載の固体撮像装置と、
前記固体撮像装置から出力される信号を処理する処理部と、
を備えることを特徴とするカメラ。
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