JP6517391B1 - 診断装置及び診断方法 - Google Patents
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Abstract
Description
次に、第2の実施形態を図面に基づいて説明する。第1の実施形態と同一又は同等の構成については、同等の符号を用いるとともに、その説明を省略又は簡略する。
上記実施形態では、CPU51が、データDE1〜DE62及びデータADE1〜ADE62の最小値を指標として、データDE1〜DE62と、データADE1〜ADE62のマッチングを行うこととした。これに限らず、データDE1〜DE62及びADE1〜ADE62の最大値(データDE4,ADE1)を指標として、データDE1〜DE62と、データADE1〜ADE62のマッチングを行ってもよい。この場合にも、補正値CV1〜CV62を算出することができる。
上記実施形態では、CPU51が、データDE1〜DE62及びデータADE1〜ADE62の最小値或いは最大値を指標として、データDE1〜DE62と、データADE1〜ADE62のマッチングを行うこととした。これに限らず、データDE1〜DE62及びデータADE1〜ADE62の最小値及び最大値の双方を指標として、データDE1〜DE62と、データADE1〜ADE62のマッチングを行ってもよい。
上記実施形態では、CPU51が、データDE1〜DE62及びデータADE1〜ADE62の最小値或いは最大値を指標として、データDE1〜DE62と、データADE1〜ADE62のマッチングを行うこととした。これに限らず、データDE1〜DE62とデータADE1〜ADE62それぞれの差分DF1〜DF62を演算し、演算した結果にもとづいてマッチングを行ってもよい。
11 トラス
12 ケーシング
13 ガイド
14 手摺ベルト
21,22,31 スプロケット
23 移動チェーン
25 踏み段
30 駆動装置
33 駆動チェーン
33a 基準プレート
40 制御装置
50 制御装置
51 CPU
52 主記憶部
53 補助記憶部
54 操作パネル
55 インタフェース部
56 バス
60 駆動ユニット
100 制御系
101 診断装置
101a 記憶手段
101b 演算手段
101c 特定手段
101d 補正手段
101e 評価手段
331 内側プレート
331a 開口
332 外側プレート
332a 開口
333 ピン
334 シール
335 ローラ
F1,F2 フロア
P1〜P3 軸
S1〜S3 センサ
S1〜S4 センサ
Claims (18)
- ピンによって相互に回転可能に接続される複数のプレートからなるチェーンに沿って配置され、前記ピンの通過に同期して値が変化する第1信号を出力する第1センサと、
前記チェーンに沿って、前記第1センサから前記チェーンのピッチの整数倍の距離隔てて配置され、前記ピンの通過に同期して値が変化する第2信号を出力する第2センサと、
前記第1信号が変化するタイミングと、前記第2信号が変化するタイミングとの差を示す差分情報を時系列的に記憶する記憶手段と、
前記第1センサと前記第2センサとの間のセンサ間距離が変化したときに、前記センサ間距離が変化する前に記憶された第1差分情報と、前記センサ間距離が変化した後に記憶された第2差分情報とを比較して、前記センサ間距離の変化に起因する前記第1差分情報に対する前記第2差分情報の誤差を演算する演算手段と、
前記演算手段によって演算された前記誤差に基づいて、前記第2差分情報を補正する補正手段と、
を備える診断装置。 - 前記第1差分情報及び前記第2差分情報は、
前記チェーンの前記ピンのうちの基準となる基準ピンに対応する差分を示す単位情報と、前記基準ピン以外の前記ピンに対応する差分を含む複数の単位情報からなる請求項1に記載の診断装置。 - 前記第1差分情報と前記第2差分情報とを比較して、前記第1差分情報を構成する前記単位情報と、前記第2差分情報を構成する前記単位情報との対応関係を特定する特定手段を備え、
演算手段は、
前記特定手段によって対応関係が特定された前記第1差分情報の前記単位情報と、前記第2差分情報の前記単位情報と、の差を前記誤差として算出する請求項2に記載の診断装置。 - 前記基準ピンに設けられる被検出体と、
前記被検出体を検出する第3センサと、
を備え、
前記特定手段は、
前記第3センサの検出結果に基づいて、前記対応関係を特定する請求項3に記載の診断装置。 - 前記特定手段は、
前記第1差分情報それぞれの前記単位情報の特徴量と、前記第2差分情報の前記単位情報それぞれの特徴量と、に基づいて、前記第1差分情報を構成する前記単位情報と、前記第2差分情報を構成する前記単位情報との前記対応関係を特定する請求項3に記載の診断装置。 - 前記特定手段は、
前記第1差分情報の前記単位情報の最小値と、前記第2差分情報の前記単位情報の最小値と、を前記特徴量として用いる請求項5に記載の診断装置。 - 前記特定手段は、
前記第1差分情報の前記単位情報の最大値と、前記第2差分情報の前記単位情報の最大値と、を前記特徴量として用いる請求項5に記載の診断装置。 - 前記特定手段は、
前記第1差分情報の前記単位情報の最小値及び最大値と、前記第2差分情報の前記単位情報の最小値及び最大値と、を前記特徴量として用いる請求項5乃至7のいずれか一項に記載の診断装置。 - 前記特定手段は、
前記第1差分情報の前記単位情報と、前記第2差分情報の前記単位情報とに、それぞれ順番に番号を付与し、
前記第1差分情報の最大の前記単位情報の番号と、最少の前記単位情報の番号の差と、前記第2差分情報の最大の前記単位情報の番号と、最少の前記単位情報の番号の差と、の比較結果に基づいて、前記第1差分情報を構成する前記単位情報と、前記第2差分情報を構成する前記単位情報との前記対応関係を特定する請求項8に記載の診断装置。 - 前記特定手段は、
前記第1差分情報の前記単位情報と、前記第2差分情報の前記単位情報との相関値に基づいて、前記第1差分情報を構成する前記単位情報と、前記第2差分情報を構成する前記単位情報との前記対応関係を特定する請求項5に記載の診断装置。 - 前記特定手段は、
前記第1差分情報の前記単位情報それぞれと、前記第2差分情報の前記単位情報それぞれとの残差に基づいて、前記第1差分情報を構成する前記単位情報と、前記第2差分情報を構成する前記単位情報との前記対応関係を特定する請求項10に記載の診断装置。 - 前記特定手段は、
前記残差の絶対値の和に基づいて、前記第1差分情報を構成する前記単位情報と、前記第2差分情報を構成する前記単位情報との前記対応関係を特定する請求項11に記載の診断装置。 - 前記特定手段は、
前記残差の偏差に基づいて、前記第1差分情報を構成する前記単位情報と、前記第2差分情報を構成する前記単位情報との前記対応関係を特定する請求項12に記載の診断装置。 - 前記補正手段は、
前記第1差分情報の前記単位情報それぞれと、前記単位情報に対応する前記第2差分情報の前記単位情報それぞれの差分の平均値を、前記第2差分情報の前記単位情報それぞれから減算することで、前記第2差分情報の前記単位情報を補正する請求項3乃至13のいずれか一項に記載の診断装置。 - 前記第1差分情報の前記単位情報と、前記補正手段によって補正された前記第2差分情報の前記単位情報と、を比較して、前記補正手段による補正結果を評価する評価手段を備える請求項2乃至14のいずれか一項に記載の診断装置。
- 前記評価手段は、
少なくとも3組以上の前記第1差分情報の前記単位情報と前記第2差分情報の前記単位情報と、を比較して、前記補正結果を評価する請求項15に記載の診断装置。 - 前記補正手段は、
前記センサ間距離の変化が通知されたときに、前記第2差分情報を補正する請求項1乃至16のいずれか一項に記載の診断装置。 - ピンによって相互に回転可能に接続される複数のプレートからなるチェーンに沿って配置され、前記ピンの通過に同期して値が変化する第1信号を出力する第1センサと、前記チェーンに沿って、前記第1センサから前記チェーンのピッチの整数倍の距離隔てて配置され、前記ピンの通過に同期して値が変化する第2信号を出力する第2センサと、を用いた診断方法であって、
前記第1信号が変化するタイミングと、前記第2信号が変化するタイミングとの差を示す差分情報を時系列的に記憶する工程と、
前記第1センサと前記第2センサとの間のセンサ間距離が変化したときに、前記センサ間距離が変化する前に記憶された第1差分情報と、前記センサ間距離が変化した後に記憶された第2差分情報とを比較する工程と、
前記センサ間距離の変化に起因する前記第1差分情報に対する前記第2差分情報の誤差を演算する工程と、
演算された前記誤差に基づいて、前記第2差分情報を補正する工程と、
を含む診断方法。
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