JP6473778B2 - 光学的封止構造体 - Google Patents

光学的封止構造体 Download PDF

Info

Publication number
JP6473778B2
JP6473778B2 JP2017120827A JP2017120827A JP6473778B2 JP 6473778 B2 JP6473778 B2 JP 6473778B2 JP 2017120827 A JP2017120827 A JP 2017120827A JP 2017120827 A JP2017120827 A JP 2017120827A JP 6473778 B2 JP6473778 B2 JP 6473778B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
substrate
optical
sealing
transparent plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017120827A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017228779A (ja
Inventor
杜修文
辛宗憲
陳建儒
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kingpak Technology Inc
Original Assignee
Kingpak Technology Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kingpak Technology Inc filed Critical Kingpak Technology Inc
Publication of JP2017228779A publication Critical patent/JP2017228779A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6473778B2 publication Critical patent/JP6473778B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • H01L23/3114Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed the device being a chip scale package, e.g. CSP
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • H01L23/3121Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed a substrate forming part of the encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Description

本発明は、光学的封止構造体、特に、高い信頼性を有し、寸法の小さい光学的封止構造体に関する。
従来の画像センサ封止構造体を示す側部断面図である図1を参照する。画像センサ封止構造体10において、画像センサ素子12は、基板11上に実装されており、ワイヤ13及び基板11中のスルーホール14を介して外部回路(図示せず)に電気的に接続されている。フレーム層15は基板11上に配置されており、画像センサ素子12を取り囲んでいる。透明板16は、画像センサ素子12が、基板11、フレーム層15及びこの透明板16によって規定された空洞内に配置されるように、フレーム層15上に装着されている。封止層17は、基板11、フレーム層15及び透明板16を覆っている。
使用又は試験のために画像センサ封止構造体10が厳しい環境(高温及び高湿)に置かれたときに、蒸気や湿気がスルーホール14を通って空洞内にたやすく侵入し、画像センサ素子12の検出面や透明板16の下面に微小な水滴が形成される。このような状況の下で、画像センサ素子12の検出画像の質は、微小な水滴によって著しく悪影響を受ける。さらに、空洞内で浮遊している蒸気や湿気は、封止構造体内の電気的素子の電気的性能に悪影響を及ぼす。それゆえ、このような影響は光学ユニットの質と信頼性を著しく低下させ、画像センサ封止構造体10が製品の仕様や長期使用の要求を満足させることができなくなる。
さらに、従来の画像センサ封止構造体10の大きなパッケージサイズは、長年に亘って主要な関心事となっている。それゆえ、必要とされる材料の消費、製造工具の摩耗及びそれに伴うメンテナンス費用に起因して、製造原価を低減することができない。
また、画像センサ封止構造体10の封止層17が透明板16の上面の一部分を覆っているため、封止処理中に、封止材料が透明板16の上面を汚したり、品質を低下させたりする虞がある。それゆえ、画像センサ封止構造体10の異常動作が生じる可能性がある。
従って、上記の課題を解決するために、性能を低下させることなく、高い信頼性と小さな寸法を備えた光学的封止構造体が望まれる。
本発明の一態様に係る光学的封止構造体は、第1表面と前記第1表面とは反対側の第2表面を有する基板と;前記基板の前記第1表面上に形成され、前記基板上の空洞を取り囲むフレーム層と;前記基板の前記第1表面上に配置され、前記空洞内に実装された光学ユニットと;前記フレーム層の上縁の一部分の上に形成され、前記フレーム層の上縁の他の部分を露出させる接着層と;前記接着層の上に取り付けられ、前記光学ユニットの全域に広がり、前記接着層の外縁を越えて広がる透明板と;前記透明板の側縁及び前記接着層の外縁を覆い、前記透明板の前記第2表面及び前記フレーム層の上縁を部分的に覆う封止層とを含む。
本発明の他の態様に係る光学的封止構造体は、第1表面と前記第1表面とは反対側の第2表面を有する基板と;前記基板の前記第1表面上に形成され、前記基板上の空洞を取り囲むフレーム層と;前記基板の前記第1表面上に配置され、前記空洞内に実装された光学ユニットと;前記光学ユニットに電気的に接続された少なくとも1つのワイヤと;前記フレーム層の上に取り付けられ、前記空洞を覆う透明板と;前記透明板の側縁及び前記フレーム層の外縁を覆う封止層と;前記透明板と前記フレーム層の間に形成された接着層とを含む。前記基板の前記第1表面と前記第2表面とを接続する複数のスルーホールが、前記基板中に設けられている。前記基板の前記第1表面上の前記スルーホールの開口は、前記光学ユニット、前記フレーム層又は前記封止層の下に位置している。保護膜が、前記スルーホールの開口と前記光学ユニット、前記フレーム層又は前記封止層との間に形成されている。前記ワイヤは前記スルーホールと電気的に接続されている。前記透明板は前記接着層の外縁を越えて広がっている。
従来の画像センサ封止構造体を示す側部断面図。 本発明の一実施形態に係る光学的封止構造体を示す側部断面図。 本発明の他の実施形態に係る光学的封止構造体を示す側部断面図。 本発明のさらに他の実施形態に係る光学的封止構造体を示す側部断面図。 本発明のさらに他の実施形態に係る光学的封止構造体を示す側部断面図。 本発明のさらに他の実施形態に係る光学的封止構造体を示す側部断面図。 本発明のさらに他の実施形態に係る光学的封止構造体を示す側部断面図。 本発明のさらに他の実施形態に係る光学的封止構造体を示す側部断面図。 本発明のさらに他の実施形態に係る光学的封止構造体を示す側部断面図。 本発明のさらに他の実施形態に係る光学的封止構造体を示す側部断面図。 本発明の一実施形態に係る光学的封止構造体用の基板デザインを示す平面図。 図11Aの基板デザインに基づいて製造された光学的封止構造体を示す側面図。 本発明の他の実施形態に係る光学的封止構造体用の基板デザインを示す平面図。 図12Aの基板デザインに基づいて製造された光学的封止構造体を示す側面図。 本発明のさらに他の実施形態に係る光学的封止構造体用の基板デザインを示す平面図。 図13Aの基板デザインに基づいて製造された光学的封止構造体を示す側面図。
本発明について、以下の実施形態を参照しつつ、より具体的に説明する。以下の本発明の好適な実施形態の記載は、図示及び説明のみを目的としており、開示された正確な形状のみに限定したり、これら以外を排除したりすることは意図していない。また、本発明の利点は、以下の詳細な説明及び添付図面を精査することによって、当業者であれば容易に理解できるであろう。
本発明の一実施形態に係る光学的封止構造体を示す側部断面図である図2を参照する。光学的封止構造体20は、基板21と、光学ユニット22と、フレーム層25と、接着層28と、透明板26と、封止層27を含む。(例えばプラスチック基板などの)基板21は、第1表面211及び第2表面212を有し、これら2つの表面は互いに反対側に位置する。光学ユニット22は、接着層、接着剤、ダイボンディング・エポキシ又はその他の接着方法によって基板21の第1表面211に実装されている。光学ユニット22の機能面(検出面)221は、基板21から離れる方向、すなわち、透明板26の方を向いている。複数のパッド231が基板21の第1表面211上に配置されており、基板21の第2表面212上の(図示しない)はんだボール、ピン、リード線、パッド、配線又は電極に電気的に接続されている。光学ユニット22は、ワイヤ23を介してパッド231に電気的に接続されている。パッド231及びワイヤ23の数は、光学ユニット22からの検出信号を(図示しない)外部回路に送信したり、外部回路からの駆動信号を光学ユニット22に送信したりすることを可能にするために、実際の用途の要求に応じて決定される。この実施形態では、光学ユニット22は画像センサ素子であるが、これに限定されるものではない。ここで開示された封止構造体は、信頼性及び耐候性を向上させるために、湿度に敏感な光学ユニットに適用することができる。
フレーム層25は、基板21上に配置されており、周囲の影響から光学ユニット22を保護するために光学ユニット22を取り囲んでいる。フレーム層25及び基板21として、例えばプラスチックなどの同じ材料を用いることができる。あるいは、フレーム層25を形成するために、エラストマ部やシリコーンを用いてもよい。フレーム層25は、公知の接着方法のいずれかによって基板21の第1表面211に固定されていてもよい。この実施形態では、フレーム層25は積層膜31によって基板21の第1表面211に接着されている。
透明板26は、第1表面261及び第2表面262を有し、これらの表面は互いに反対側を向いている。第2表面262は光学ユニット22の方を向いている。透明板26は、フレーム層25に取り付けられており、光学ユニット22の全域に広がっている。言い換えれば、透明板26と光学ユニット22の間に隙間が形成されている。透明板26は、ガラス、レンズ又は光を透過させる板であってもよい。さらに、透明板26は、表面261及び262のいずれか一方又は両方がコーティングされていてもよい。透明板26にコーティングされた層として、反射防止(AR)層、赤外線(IR)透過層、赤外線遮断層及び紫外線(UV)遮断層を含む少なくとも1つの光学層を選択することができる。
接着層28は、例えばコーティングによってフレーム層25と透明板26の間に配置されている。接着層28の材料としては、ガラス上での接着効果に優れたガラス充填エポキシであってもよい。それによって、基板21の表面、フレーム層25、接着像28及び透明板26によって密閉された空洞35が規定され、光学ユニット22が空洞の内部に配置される。要約すれば、接着層28は、フレーム層25の内縁251を越えて内側には広がっていない。例えば、接着層28の内縁281がフレーム層25の内縁251と一直線に揃えられているか、又は、接着層28の内縁281がフレーム層25の内縁251と外縁252の間に位置している。このような設計は、接着層28の材料が空洞35内に流れ出て、内側のワイヤや素子に付着するのを防止する。透明板26は、接着層28の外縁282を越えて外側に広がっている。言い換えれば、接着層28の上縁は透明板26によって完全に覆われている。接着層28の高さD2とフレーム層25の高さD1の合計が空洞35の高さに等しいので、光学ユニット22の機能距離、すなわち透明板26の第1表面261と光学ユニット22の間の距離を、フレーム25の高さD1及び/又は接着層28の高さD2を正確に決定することによって、正しく設定することができる。製造者は、製造工程の複雑さやフレーム層25及び接着層28の縦横比に応じて、高さD1及びD2の一方又は両方を調節するようにしてもよい。機能距離を長くすることによって、透明板26の第1表面261上又は第2表面262上の粒子や汚染物質の影響を減少させることができるが、光学的封止構造体20又は空洞35の高さの増加は光学的封止構造体20の信頼性に悪影響を及ぼす可能性がある。
封止層27は、水蒸気又は湿気が空洞35の内部に侵入するのを遅延させるために、基板21の第1表面211の一部分の上に形成されている。封止層27の材料は成形用コンパウンド(化合物)である。封止層27の外縁272は、基板21の側縁213と一直線に揃えられており、一方、封止層27の内縁271は、透明板26の側縁263を完全に又はほぼ完全に覆うと共に、接着層28の外縁282及びフレーム層25の外縁252を完全に覆っている。封止層27の上縁273は、透明板26の第1表面261とほぼ同じ水平面である。接着層28の外縁282は、透明板26の側縁263及びフレーム層25の外縁252から後退している。言い換えれば、接着層28の内縁281と外縁282の間の距離は、接着層28の内縁281と透明板26の側縁263の間の距離よりも短く、また、接着層28の内縁281とフレーム層25の外縁252の間の距離よりも短い。そのため、封止層27の内縁271は、透明板26の側縁263、透明板26の第2表面262の一部分(すなわち、接着層28の外縁282と透明板26の側縁263の間の部分)、接着層28の外縁282、フレーム層25の上縁253の一部分(すなわち、接着層28の外縁282とフレーム層25の外縁252の間の部分)、及びフレーム層25の外縁252に接触し、且つ、接着されている。さらに、封止層27は、基板21の第1表面211の一部分(すなわち、フレーム層25の外縁252と基板21の側縁213との間の部分)に接触し、且つ、接着されている。そのため、封止層27とその他の層の間の異なる方向を有する接触面の全体の面積が増加している。封止層27と透明板26、接着層28及びフレーム層25との間の接触面に加えられる機械的な応力が分散され、より良い締め付け及び固定効果が得られる。本発明の他の態様によれば、封止層27の上縁273は、透明板26の第1表面261よりも高くはない。そのため、封止作業中に封止層27の材料が透明板26上に流れ、汚染によって透明板26の品質を低下させることが効果的に防止される。このような設計は、光学的封止構造体20の通常の動作を可能とし、また、封止作業後の洗浄ステップの困難さを減らすことを可能にする。さらに、透明板26の第1表面261よりも上に突出している部分を無くすことによって、封止層27を形成するために使用される材料の量が少なくなり、光学的封止構造体20の製造原価を低減することができる。
封止処理の後、光学的封止構造体20は、例えば自動車用の集積回路(ICs)に課せられるAEC−Q100試験などの温度サイクル試験を受けなければならない。機械適応力に関する信頼性試験の間、光学的封止構造体20は、長年に亘って接触面が剥がれることなく光学的封止構造体20が温度サイクルに耐えうるか否かを検査するために、−65℃から+150℃の間の温度サイクルを少なくとも1000サイクル被る。フレーム層25と基板2との間の上記積層膜31は、フレーム層25と基板21との間の層間剥離を防止するために、応力を吸収することができる。そのため、光学的封止構造体20の耐候性及び信頼性が効果的に高められる。
基板21の第1表面211上のパッド231、(図示しない)配線又は回路を、基板21の第2表面212上のはんだボール、ピン、リード線、パッド、配線又は電極に電気的に接続するために、複数の導電構造が第1表面211と第2表面212の間の基板21中に設けられている。例えば、複数のスルーホール/ビアホールがパッド231の付近に配置されている。本発明は、光学的封止構造体20をさらに改良する。本発明の他の実施形態に係る光学的封止装置を示す側部断面図である図3を参照する。基板21の第1表面211上のスルーホール24の開口は、光学ユニット22、フレーム層25、封止層27又は(図示しない)その他の素子の下に配列されている。積層膜31が設けられているときは、開口は積層膜31の下に配列されていてもよい。基板21の第1表面211上に巡らされ、スルーホール24に接触する配線232は、外部回路と光学的封止構造体の内側の構成部品との間で信号の送信を行うことができる。例えば、はんだマスクやはんだレジストなどの保護膜32は、酸化、腐食又は擦り傷から配線232を保護すると共に、狭い隙間で隔てられた複数のはんだ付けパッドの間にはんだブリッジが形成されることによって生ずる短絡を防止するために、配線232に対して塗布されている。スルーホールの数や位置はこの実施形態には限定されないことに注意するべきである。さらに、スルーホール24の開口を覆う光学ユニット22、フレーム層25、封止層27及び保護膜32は、空洞35内に水蒸気が拡散するのを遅延させることができる。そのため、光学的封止構造体の品質が長期間維持され、光学的封止構造体の耐候性及び信頼性が著しく高められる。
スルーホール24は、特定の要求を満たすように、充填剤241が充填されていてもよい。充填剤241は、導電性を高めるために、メッキされた銅のような導電性材料であってもよい。あるいは、充填剤241は、安定性を高めたり、空洞内への水蒸気の拡散を遅延させたりするためのはんだマスク又は樹脂であってもよい。基板21の第2表面212上のスルーホール24の開口は、様々なパッケージ、例えばボール・グリッド・アレイ(BGA)、リードレス・チップ・キャリア(LCC)、ランド・グリッド・アレイ(LGA)、クワッド・フラット・パッケージ(QFP)、クワッド・フラット・ノーリード(QFN)などに応じて、はんだボール、ピン、リード線、パッド、配線又は電極に接続されている。この実施形態におけるスルーホール24の構造は、以下の実施形態における光学的封止構造体に応用することができ、関連する説明は以下の実施形態において繰り返さない。
図4−10は、図2の光学的封止構造体の変形例を示す。変更箇所だけを図面を参照しつつ説明し、上記実施形態においてすでに説明した同様の構成要素については説明を省略する。2つ又はそれ以上の実施形態における変更は、多数の機能を有する光学的封止構造体を提供するために組み合わせることができることに注意すべきである。
図4において、複数の光学的微小構造体222が光学ユニット22の機能面(検出面)221上に配置されている。微小構造体222は、光学ユニット22の検出性能を高めるために、回折、集光又はキャリブレーションを行う。例えば、微小構造体222は微小レンズアレイを形成する。
図5において、封止層27’は、液体コンパウンドを硬化又は凝固させることによって形成されている。封止層27’は、非平面の上縁273’を有していてもよい。この断面において、封止層27’の上縁273’は、内縁271’(すなわち、透明板26の第1表面261と側縁263の間の交点)から俯角θで延びている。俯角θは、液体コンパウンドの粘着力と、液体コンパウンドと透明板26の接着力と、液体コンパウンドの量によって変化し、俯角θは5度乃至60度の範囲で変化する。
図6において、2以上の素子が空洞35内に配置されている。この実施形態では、光学ユニット22と回路素子42が積み重ねられている。例えば、光学ユニット22は画像センサ素子であり、回路素子42は画像信号処理(ISP)素子又はディジタル信号処理(DSP)素子である。複数のパッド231及び431が基板21の第1面211に配置されている。上側の光学ユニット22はワイヤ23を介してパッド231に電気的に接続され、一方、下側の回路素子42はワイヤ43を介してパッド431に電気的に接続されている。このような設計は、電子製品の大きさを小さくするために、マルチ・チップ・パッケージを可能にする。単一の封止構造体中に2以上の素子が一体化されているので、単一の封止構造体の体積は、分離された封止構造体の全体の体積よりも小さくなる。
図7において、光学ユニット22に電気的に接続されたパッド231は、基板21の第1表面211上ではなく、フレーム層25の上縁253上に配置されている。この実施形態では、接着層28の内縁281は、フレーム層25の内縁251とは一直線に揃えられていない。その代わりに、接着層28の内縁281は、フレーム層25の内縁251から後退しており、フレーム層25の上縁253の位置側の部分は接着層28によっては覆われていない。パッド231は、フレーム層25の上縁253の内側の部分に配置されている。この実施形態では、パッド231を(図示しない)内部回路又は外部回路と電気的に接続するために、(図示しない)スルーホール/ビアホールなどの追加の導電構造が、フレーム層25の内部に配列されている。マルチ・チップ・パッケージ構造では、それに対応する複数のパッド231が空洞53内に設けられている。他の応用例によれば、全てのパッド231が基板21の第1表面211上又はフレーム層25の上縁253上に配置されていてもよい。あるいは、一部のパッド231が基板21の第1表面211上に配置され、残りのパッド231がフレーム層25の上縁253上に配置されていてもよい。
図8において、光学的封止構造体は、フレーム層25の上縁253上に配置された、少なくとも1つの電源を備えていない構成要素51をさらに含む。電源を備えていない構成要素51は、封止層27’によって包み込まれ、保護されていてもよい。この実施形態では、電源を備えていない構成要素51を(図示しない)内部回路又は外部回路に電気的に接続するために、(図示しない)スルーホール/ビアホールなどの追加の導電構造が、フレーム層25の内部に配列されている。
図9において、透明板26’は、階段状に切断された縁263’を有している。封止層27’の内縁271’は、より良い締め付け及び固定効果が得られるように、封止層27’と透明板26’の間の接触面の面積を増加させるために、透明板26’の側縁263’を完全に又はほぼ完全に覆っている。そのため、光学的封止構造体の信頼性を高めるために、封止層27’は透明板26’に強固に接着されている。
図10において、接着層28の外縁282は、透明板26の側縁263及びフレーム層25の外縁252から後退している。言い換えれば、接着層28の内縁281と外縁282の間の距離は、接着層28の内縁281と透明板26の側縁263の間の距離よりも短く、また、接着層28の内縁281とフレーム層25の外縁252の間の距離よりも短い。上記のように、封止層57と透明板26及び/又は接着層28の間の接触面の応力は、より良い締め付け及び固定効果が達成されるように、分散される。このような状況の下で、封止材料の量をさらに少なくすることが可能である。フレーム層25を越える封止層57の一部分を縮小又は均一に削除してもよい。それによって、封止層57の外縁572はフレーム層25の外縁252と一直線に揃えられ、封止層57は基板21には接触していない。言い換えれば、封止層57の内縁571は、透明板26の側縁263、透明板26の第2表面262の一部分(接着層28の外縁282と透明板26の側縁263の間の部分)、接着層28の外縁282、フレーム層25の上縁253の一部分(接着層28の外縁282とフレーム層25の外縁252の間の部分)と接触し、接着されている。そのため、この設計は、光学的封止構造体全体の大きさを小さくし、封止材料の量を少なくすることを可能とする。封止構造体の最小化及び製造原価の低減という効果が達成される。
図3−10に示された特徴は、特定の位置に設けられたスルーホール、光学的微小構造体、封止層の非平面上縁、素子の積層構造、特定の位置に設けられたパッド、電源を有しない構成要素、及び封止材料を少なくするための階段状に切断された透明板及び封止層の縁を含み、図2の光学的封止構造体20を変形するために、単独で又は組み合わせて用いることができ、従って、本発明に係る現実の光学的封止構造体は、図面に示された正確な形状に限定されるものではない。
本発明の一実施形態に係る光学的封止構造体のために設計された基板の平面図を示す図11Aを参照する。フレーム層25は、基板21上にスルーホール、導電部材及び保護膜(はんだマスク)を形成した後、第1表面上に形成される。空洞35が形成される基板21の第1表面の部分は、フレーム層25から露出されている。複数のスロット65が空洞35の周囲に形成されている。光学ユニット及び/又は素子の実装、ワイヤボンディング工程、接着層の塗布及び透明板の取り付け後、封止層27’を形成するために、得られた構造物のうち透明板以外の部分に成形用コンパウンドが塗布される。封止層27’の上縁は、透明板の第1表面(上面)とほぼ同じ水平面か、又は、全ての隣接する2つの透明板の間に凹面を形成する。そして、はんだボール、ピン、リード線、パッド、配線又は電極が、光学的封止構造体のパッケージタイプに応じて、基板21の第2面(背面)の特定の位置に実装される。続いて、全体構造をそれぞれの光学的封止構造体に分離するために、スロット65に沿って分離工程が実行される。図11Bは、単一の光学的封止構造体を示す側面図である。側面から観察すると、封止層27’と角のフレーム層25のみが基板21上に見えるだけである。
本発明の他の実施形態に係る光学的封止構造体のために設計された基板の平面図を示す図12Aを参照する。基板21上にスルーホール、導電部材及び保護膜(はんだマスク)を形成した後、空洞35を取り囲むように第1表面上にフレーム層25が形成され、各フレーム層25の間の基板21の第1表面の部分に、何にも覆われていない空間66が形成される。光学ユニット及び/又は素子の実装、ワイヤボンディング工程、接着層の塗布及び透明板の取り付け後、封止層27’を形成するために、得られた構造物のうち透明板以外の部分に成形用コンパウンドが塗布される。封止層27’の上縁は、透明板の第1表面(上面)とほぼ同じ水平面か、又は、全ての隣接する2つの透明板の間に凹面を形成する。そして、はんだボール、ピン、リード線、パッド、配線又は電極が、光学的封止構造体のパッケージタイプに応じて、基板21の第2面(背面)の特定の位置に実装される。続いて、全体構造をそれぞれの光学的封止構造体に分離するために空間66に沿って分離工程が実行される。図12Bは、単一の光学的封止構造体を示す側面図である。側面から観察すると、封止層27’のみが基板21上に見えるだけである。
本発明のさらに他の実施形態に係る光学的封止構造体のために設計された基板の平面図を示す図13Aを参照する。基板21上にスルーホール、導電部材及び保護膜(はんだマスク)を形成した後、第1表面上にフレーム層25が形成される。空洞35が形成される基板21の第1表面211の部分は、フレーム層25から露出されている。光学ユニット及び/又は素子の実装、ワイヤボンディング工程、接着層の塗布及び透明板の取り付け後、封止層57を形成するために、得られた構造物のうち透明板以外の部分に成形用コンパウンドが塗布される。封止層57の上縁は、透明板の第1表面(上面)とほぼ同じ水平面か、又は、全ての隣接する2つの透明板の間に凹面を形成する。そして、はんだボール、ピン、リード線、パッド、配線又は電極が、光学的封止構造体のパッケージタイプに応じて、基板21の第2面(背面)の特定の位置に実装される。続いて、全体構造をそれぞれの図10の光学的封止構造体と同様の光学的封止構造体に分離するために、分離工程が実行される。図13Bは、単一の光学的封止構造体を示す側面図である。封止層57はフレーム層25を覆っているが、基板21とは接していない。フレーム層25の外縁は、基板21の側縁と一直線に揃えられている。
図11A−13Aにおける基板のレイアウトは、説明のためにのみ例示されたものであって、光学的封止構造体の数はこれらの実施形態に限定されるものではないことに注意すべきである。光学的封止構造体の数は、実際の設計や処理能力に応じて調節してもよい。
要するに、本発明によれば、透明板の側縁、接着層の外縁及びフレーム層の外縁は平面を構成せず、接着層のそばに凹部が形成される。このような設計は、封止層の接着効果を高くすることができる。接着効果が高くなることにより、本発明は、封止材料をさらに少なくすることを探求することを可能にする。一方、本発明によれば、内部構成要素の効果を阻害しないように、光学的封止構造体の内部の空洞への水蒸気の侵入を低減させる。そのため、本発明は、優れた信頼性と耐候性を備えた小型の光学的封止構造体を提供することができる。
この明細書は、現時点で最も実際的であり、好ましい実施形態であると思われるものの観点で記載されているけれども、本発明は記載された実施形態に限定されるものではないことを理解されるべきである。一方、添付された特許請求の範囲に含まれる様々な変形や類似の配置をカバーすることを意図しており、特許請求の範囲は、それらの変形や類似の構成を包含するように、最も広く解釈することは許容されるべきである。
この出願は、出願番号62/352,608号を有する2016年6月21日付で米国に出願された先の出願、出願番号62/353,154号を有する2016年6月22日付で米国に出願された先の出願、及び出願番号201710067651.6を有する2017年2月7日に中国に出願された先の出願に基づく優先権主張を無条件に伴っており、これらの出願の内容は、参考資料としてここに合体される。
21 基板
211 (基板の)第1表面
212 (基板の)第2表面
213 (基板の)側縁
22 光学ユニット
221 機能面(検出面)
23、43 ワイヤ
231、431 パッド
24 スルーホール
241 充填剤
25 フレーム層
251 (フレーム層の)内縁
252 (フレーム層の)外縁
253 (フレーム層の)上縁
26 透明板
261 (透明板の)第1表面
262 (透明板の)第2表面
263、263’ (透明板の)側縁
27、27’、57 封止層
271、571 (封止層の)内縁
272 (封止層の)外縁
273、273’ (封止層の)上縁
28 接着層
281 (接着層の)内縁
282 (接着層の)外縁
31 積層膜
32 保護膜
35 空洞
65 スロット
66 空間
D1 フレーム層の高さ
D2 接着層の高さ

Claims (10)

  1. 第1表面と前記第1表面とは反対側の第2表面を有する基板と;
    前記基板の前記第1表面上に形成され、前記基板上の空洞を取り囲むフレーム層と;
    前記基板の前記第1表面上に配置され、前記空洞内に実装された光学ユニットと;
    前記フレーム層の上縁の一部分の上に形成され、前記フレーム層の上縁の他の部分を露出させる接着層と;
    前記接着層の上に取り付けられ、前記光学ユニットの全域に広がり、前記接着層の外縁を越えて広がり、第1表面と前記第1表面とは反対側で、且つ、前記光学ユニットの方を向いた第2表面を有する透明板と;
    前記透明板の側縁及び前記接着層の外縁を覆い、前記透明板の前記第2表面及び前記フレーム層の上縁を部分的に覆う封止層と、
    を備えたことを特徴とする光学的封止構造体。
  2. 前記封止層の外縁は、前記フレーム層の外縁と一直線に揃えられていることを特徴とする請求項1に記載の光学的封止構造体。
  3. 前記封止層は、さらに前記フレーム層の外縁を完全に覆うと共に、前記基板の前記第1表面を部分的に覆い、前記封止層の外縁は、前記基板の側縁と一直線に揃えられていることを特徴とする請求項1に記載の光学的封止構造体。
  4. 前記封止層の上縁は、前記封止層の内縁から俯角を有するように延びており、前記俯角は5度乃至60度の範囲内であることを特徴とする請求項1に記載の光学的封止構造体。
  5. 前記光学ユニットの電気的に接続された少なくとも1つのワイヤと;
    前記少なくとも1つのワイヤと電気的に接続され、前記基板の前記第1表面上又は前記フレーム層の前記上縁の露出された部分に配置された少なくとも1つのパッドと;
    をさらに有することを特徴とする請求項1に記載の光学的封止構造体。
  6. 前記基板の前記第1表面と前記第2表面を電気的に接続する複数のスルーホールが前記基板中に設けられており、前記基板の前記第1表面上の前記スルーホールの開口は、前記光学ユニット、前記フレーム層又は前記封止層の下に位置しており、前記スルーホールの開口と前記光学ユニット、前記フレーム層又は前記封止層との間に保護膜が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の光学的封止構造体。
  7. 前記透明板は階段状に切断された縁を有し、前記封止層は前記透明板の階段状に切断された縁を覆うことを特徴とする請求項1に記載の光学的封止構造体。
  8. 第1表面と前記第1表面とは反対側の第2表面を有する基板と;
    前記基板の前記第1表面上に形成され、前記基板上の空洞を取り囲むフレーム層と;
    前記基板の前記第1表面上に配置され、前記空洞内に実装された光学ユニットと;
    前記光学ユニットに電気的に接続された少なくとも1つのワイヤと;
    前記フレーム層の上に取り付けられ、前記空洞を覆う透明板と;
    前記透明板の側縁及び前記フレーム層の外縁を覆う封止層と;
    前記透明板と前記フレーム層の間に形成された接着層と;
    を含む光学的封止構造体であって、
    前記基板の前記第1表面と前記第2表面とを接続する複数のスルーホールが前記基板中に設けられ、前記基板の前記第1表面上の前記スルーホールの開口は、前記光学ユニット、前記フレーム層又は前記封止層の下に位置し、保護膜が、前記スルーホールの開口と前記光学ユニット、前記フレーム層又は前記封止層との間に形成され、前記ワイヤは前記スルーホールと電気的に接続され、前記透明板は前記接着層の外縁を越えて広がっていることを特徴とする光学的封止構造体。
  9. 前記保護膜ははんだマスクであることを特徴とする請求項8に記載の光学的封止構造体。
  10. 前記スルーホールは、導電性材料、はんだマスク又は樹脂で充填されていることを特徴とする請求項8に記載の光学的封止構造体。
JP2017120827A 2016-06-21 2017-06-20 光学的封止構造体 Active JP6473778B2 (ja)

Applications Claiming Priority (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201662352608P 2016-06-21 2016-06-21
US62/352,608 2016-06-21
US201662353154P 2016-06-22 2016-06-22
US62/353,154 2016-06-22
CN201710067651.6A CN107527928B (zh) 2016-06-21 2017-02-07 光学组件封装结构
CN201710067651.6 2017-02-07

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017228779A JP2017228779A (ja) 2017-12-28
JP6473778B2 true JP6473778B2 (ja) 2019-02-20

Family

ID=60748148

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017120827A Active JP6473778B2 (ja) 2016-06-21 2017-06-20 光学的封止構造体

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP6473778B2 (ja)
CN (1) CN107527928B (ja)
TW (1) TWI648848B (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115903300A (zh) * 2021-08-18 2023-04-04 庆鼎精密电子(淮安)有限公司 背光板及其制作方法
CN113691229B (zh) * 2021-08-25 2023-11-28 北京超材信息科技有限公司 声学装置封装结构
CN115241297B (zh) * 2022-09-23 2023-01-31 江苏长电科技股份有限公司 芯片封装结构及其制作方法
CN115527957B (zh) * 2022-11-29 2023-03-24 江苏长电科技股份有限公司 空腔封装结构及封装方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6384473B1 (en) * 2000-05-16 2002-05-07 Sandia Corporation Microelectronic device package with an integral window
US6603183B1 (en) * 2001-09-04 2003-08-05 Amkor Technology, Inc. Quick sealing glass-lidded package
EP1357605A1 (en) * 2002-04-22 2003-10-29 Scientek Corporation Image sensor semiconductor package with castellation
CN1577875A (zh) * 2003-07-29 2005-02-09 许程翔 水平控制的影像感测晶片封装结构及其封装方法
TWM264648U (en) * 2004-10-21 2005-05-11 Chipmos Technologies Inc Image sensor package
CN1921126A (zh) * 2005-08-25 2007-02-28 矽格股份有限公司 光传感器封装结构
TWI349983B (en) * 2007-11-07 2011-10-01 Advanced Semiconductor Eng Memes package structure
TW201104850A (en) * 2009-07-29 2011-02-01 Kingpak Tech Inc Image sensor package structure with large air cavity
TW201104747A (en) * 2009-07-29 2011-02-01 Kingpak Tech Inc Image sensor package structure
TWI511243B (zh) * 2009-12-31 2015-12-01 Xintec Inc 晶片封裝體及其製造方法
JP2012069851A (ja) * 2010-09-27 2012-04-05 Sony Corp 固体撮像装置の製造方法及び固体撮像装置
CN103021598B (zh) * 2011-09-26 2016-05-25 聚鼎科技股份有限公司 过电流保护元件
JP5875821B2 (ja) * 2011-09-30 2016-03-02 太陽インキ製造株式会社 感光性樹脂組成物、その硬化皮膜およびプリント配線板
TWI540709B (zh) * 2012-12-28 2016-07-01 群豐科技股份有限公司 光電封裝體及其製造方法
JP6221299B2 (ja) * 2013-03-28 2017-11-01 日本電気株式会社 気密封止体及び気密封止方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW201810634A (zh) 2018-03-16
CN107527928B (zh) 2020-04-07
JP2017228779A (ja) 2017-12-28
TWI648848B (zh) 2019-01-21
CN107527928A (zh) 2017-12-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10170508B2 (en) Optical package structure
JP6473778B2 (ja) 光学的封止構造体
CN107742630B (zh) 影像感测器封装结构
US7872360B2 (en) Semiconductor device and method of manufacturing the same
TWI551198B (zh) 具散熱功能之印刷電路板結構
US11125734B2 (en) Gas sensor package
KR100825784B1 (ko) 휨 및 와이어 단선을 억제하는 반도체 패키지 및 그제조방법
JP6239147B2 (ja) 半導体パッケージ
TWI428995B (zh) 板上縮小封裝
CN107611147B (zh) 多芯片塑胶球状数组封装结构
KR20110122242A (ko) 반도체 패키지 및 그 제조방법
KR100829613B1 (ko) 반도체 칩 패키지 및 그 제조 방법
EP2884242B1 (en) Sensor Package And Manufacturing Method
US9281243B2 (en) Chip scale package structure and manufacturing method thereof
JPH04357858A (ja) 半導体装置
JP2012089898A (ja) 半田ボール及び半導体パッケージ
KR20130102405A (ko) 플립 칩 패키지 및 그의 제조 방법
JP6494723B2 (ja) 半導体パッケージ
TWI423405B (zh) 具載板之封裝結構
TW201330220A (zh) 具凹槽之封裝結構及其製造方法
JP3446695B2 (ja) 半導体装置
KR20100066941A (ko) 인쇄회로기판 및 이를 이용한 반도체 패키지
TWI449149B (zh) 具金屬元件之封裝結構
KR20070079654A (ko) 플립 칩 본딩용 인쇄회로기판 및 그를 이용한 볼 그리드어레이 패키지 제조 방법
JPH04352459A (ja) 半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180327

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180611

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180904

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20181203

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190122

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190128

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6473778

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250