JP6457390B2 - 電極の製造における銀ナノ粒子及び球形の銀ミクロ粒子を含む導電性ペースト - Google Patents

電極の製造における銀ナノ粒子及び球形の銀ミクロ粒子を含む導電性ペースト Download PDF

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Description

本発明は、特に電気デバイス、特に温度感受性の電気デバイス又は太陽電池、特にHIT(真性薄層をもつヘテロ接合)太陽電池の電極の製造における、銀ナノ粒子及び球形の銀ミクロ粒子を含む導電性ペーストに関する。特に、本発明は、ペースト、ペーストを調製するプロセス、前駆体、電気デバイスを製造するプロセス、及び電気デバイスを含むモジュールに関する。
電極は、太陽電池、表示画面、電子回路部品、又はそれらの部分のような、経済的に重要な電気デバイスの広い範囲の重要な部分である。特に重要なそのような電気デバイスの1つが太陽電池である。
太陽電池は、光起電力効果を利用して光エネルギーを電気に変換する装置である。太陽光発電は、持続可能であり、無公害の副生成物のみを生成するため、代替のグリーンエネルギー源である。従って、現在多くの研究が、連続的に材料及び生産費を低減しつつ、向上した効率性を備える太陽電池を開発することに充てられている。光が太陽電池に当たると、ごく少量の入射光が表面で反射し、残りが太陽電池に透過される。透過された光子は、通常、しばしば適切にドープされたケイ素のような、半導性物質から構成される太陽電池により吸収される。吸収された光子のエネルギーは、半導性物質の電子を励起し、電子正孔対を発生する。次いで、これらの電子正孔対は、pn接合によって分離され、太陽電池表面の導電性電極によって集められる。
太陽電池は、しばしばシリコンウェーハの形態で、たいていの場合、ケイ素に基づく。ここで、pn接合は、一般的に、いわゆるpn接合の双方の場合において与えられる、n型ドープシリコン基板を準備し、片面にp型ドープ層を施すこと、又はp型ドープシリコン基板を準備し、及び片面にn型ドープ層を施すことの何れかによって製造される。ドーパントの施された層の面は、一般的に、電池の前面として作用し、最初のドーパントを有するケイ素の反対側は裏面として作用する。n型及びp型太陽電池の双方は、可能性があり、産業的に利用される。両面の入射光を利用するように設計された電池は可能性があるが、それらの使用は、広範囲に使用されることがほとんどない。
入射光を太陽電池の前面に侵入させ、吸収させるため、前面電極は、一般的に、それぞれ「フィンガー」及び「バスバー」として知られる垂直の線の2組で配列される。そのフィンガーが前面を有する電気接点を形成し、バスバーがこれらのフィンガーを連結し、外部回路へ効果的に引き抜かれるように変える。フィンガー及びバスバーのこの配列が、焼成され固形の電極体となる導電性ペーストの形態で施されることは一般的である。背面電極も、しばしば、焼成され固形の電極体となる導電性ペーストの形態で施される。
太陽電池の製造への別のアプローチは、アモルファスシリコン層を含むことにより有利な電池特性を提供しようとすることである。HIT(真性薄層をもつヘテロ接合)太陽電池としても知られる、そのような電池は電子と正孔の再結合に伴う負の影響を低減させ得る。そのようなHIT電池のアモルファスな領域は、しばしば温度感受性である。HIT型電池のさらなる詳細、及び温度感受性の装置のために用いる低温硬化性ペーストのさらなる適用について、その全体を本願明細書に援用する、US 2013/0142963 A1を参照されたい。
HIT太陽電池にはよくあることだが、特に、その基板が温度感受性である場合に、基板へ電極を適用するための改良された方法に対する最新の技術についての必要性が存在する。
本発明は、一般的に、電極、特に、太陽電池又は温度感受性の装置、特にHIT太陽電池における電極に関する最新の技術で生じる問題のうちの少なくとも1つを克服する目的に基づく。
より具体的には、本発明は、さらに、有利な電池特性、特に有利なことに、低い電極ウェーハの比接触抵抗、高い機械的安定性、一般的にクラッキングと呼ばれる、それぞれ電極の電気伝導率に悪影響を及ぼす中断又は空隙のない連続的な電極、及び幅に対する高さの、高いアスペクト比を示す太陽電池の製造のための低温プロセスを提供する目的に基づく。
本発明の請求項を形成するカテゴリーの主題が、上述した目的のうちの少なくとも1つを達成することに貢献する。本発明の特定の実施形態を表す本発明の従属請求項の主題が、さらなる貢献をする。
[詳細な説明]
以下のペースト成分:
a.銀粒子、
b.ポリマー系;を含み
銀粒子が、約1nm〜約1μm未満の範囲に少なくとも第1の極大、及び約1μm〜約1mm未満の範囲に少なくともさらなる極大を有する粒径の多峯性分布を有し;
第1の極大と、さらなる極大との差が少なくとも約0.3μm、好ましくは少なくとも約0.5μm、より好ましくは少なくとも約1μmであり;
1μm〜1mmの範囲の直径を有する銀粒子の、少なくとも50wt%、好ましくは少なくとも約70wt%、より好ましくは少なくとも約90wt%が、球形であり;
ペーストの1つの実施形態において、銀粒子が二峰性の直径分布を有するペーストによって、上述した目的のうちの少なくとも1つを達成することに貢献される。
ペーストの1つの実施形態において、銀の直径分布が、約100〜約800nmの範囲、好ましくは約150〜約600nmの範囲、より好ましくは約200〜約500nmの範囲に少なくとも1つの極大を有する。
前記ペースト1つの実施形態において、銀の直径分布が、約1〜約10μmの範囲、好ましくは約1〜約5μmの範囲、最も好ましくは約1〜約3μmの範囲に少なくとも1つの極大を有する。
ペーストの1つの実施形態において、ポリマー系が熱硬化性系である。
ペーストの1つの実施形態において、熱硬化性系が少なくとも2つの不飽和基を有する架橋化合物を含む。
ペーストの1つの実施形態において、熱硬化性系がラジカル発生剤を含む。
ペーストの1つの実施形態において、架橋化合物が、ペーストの総重量に基づき、約1〜約10wt%の範囲、好ましくは約2〜約9wt%の範囲、より好ましくは約3〜約8wt%の範囲に存在する。
ペーストの1つの実施形態において、1nm〜1μm未満の範囲の直径を有する銀粒子の総重量と、1μm〜1mm未満の範囲の直径を有する銀粒子の総重量との比が、約1:1〜約10:1の範囲、好ましくは約2:1〜約8:1の範囲、より好ましくは約3:1〜約6:1の範囲である。
ペーストの1つの実施形態において、銀粒子の総重量が、ペーストの総重量に基づき、約60〜約95wt%の範囲、好ましくは約70〜約93wt%の範囲、より好ましくは約80〜約90wt%の範囲である。
ペーストの1つの実施形態において、架橋化合物がアクリレート、メタクリレート、又はそれらのうちの少なくとも1つに基づく。
ペーストの1つの実施形態において、架橋化合物が脂肪酸又はそれらの誘導体に基づく。
ペーストの1つの実施形態において、熱硬化性系が1つの不飽和基を有する化合物をさらに含む。
ペーストの1つの実施形態において、ポリマー系が熱可塑性ポリマー系であり、
熱可塑性ポリマー系が熱可塑性ポリマーを含む。
1つの実施形態において、熱可塑性ポリマーが、以下のパラメータの少なくとも1つ、好ましくは2以上、及びより好ましくは全てを示す:
a.約−120〜約110℃の範囲、好ましくは約−50〜約100℃の範囲、及びより好ましくは約20〜80℃の範囲のガラス転移温度;
b.ガラス転移温度より、少なくとも約5℃、好ましくは少なくとも約30℃、及び最も好ましくは約50℃高い融解温度;又は
c.約10,000〜約150,000g/molの範囲、好ましくは約10,000〜約100,000g/molの範囲、及びより好ましくは約11,000〜約80,000g/molの範囲の数平均分子量。
この実施形態の1つの態様において、パラメータa.及びb.の組合せが好ましい。
ペーストの1つの実施形態において、熱可塑性ポリマーが、熱可塑性ポリマー系の総重量に基づき、約5〜約45wt%の範囲、好ましくは約10〜約40wt%の範囲、より好ましくは約20〜約30wt%の範囲の量で熱可塑性ポリマー系において存在する。
ペーストの1つの実施形態において、熱可塑性ポリマーが、ポリエステル、アクリレートポリマー、フェノキシポリマーからなる群から選択され、好ましくはポリエステル又はアクリレートポリマーからなる群から選択され、より好ましくはポリエステルである。
ペーストの1つの実施形態において、ポリエステルがポリエステル骨格を含む。
ペーストの1つの実施形態において、ポリマー系が溶媒を含む。この実施形態1つの態様によると、有機溶媒が好ましい。
ペーストの1つの実施形態において、溶媒が、熱可塑性ポリマー系における非プロトン性極性溶媒、及び熱硬化性系におけるプロトン性極性溶媒である。
ペーストの1つの実施形態において、溶媒が酢酸塩部分を含む。
ペーストの1つの実施形態において、溶媒が、熱可塑性ポリマー系の総重量に基づき、少なくとも55wt%、好ましくは少なくとも約60wt%、より好ましくは少なくとも約65wt%の量で、熱可塑性ポリマー系に存在する。
ペーストの1つの実施形態において、溶媒が、ペーストの総重量に基づき約0.1〜7wt%の範囲、好ましくは約0.1〜約5wt%の範囲、より好ましくは約0.1〜約3wt%の範囲の量で、ペーストに存在する。
熱硬化性系の1つの実施形態において、熱硬化性系の総重量に基づき、それぞれ65wt%以下、好ましくは60wt%以下、より好ましくは55wt%以下の溶媒が、熱硬化性系に存在する。この実施形態の他の態様において、溶媒が熱硬化性系の総重量に基づき、それぞれ、約40〜約65wt%の範囲、及び好ましくは約45〜約60wt%の範囲の量で熱硬化性系に存在するのが好ましい。この実施形態のさらなる態様において、熱硬化性系の総重量に基づき、溶媒の約10wt%以下、好ましくは約5wt%以下、及びより好ましくは1wt%以下が、熱硬化性系に存在するのが好ましい。これらの熱硬化性系は「無溶媒(solvent free)」とされ得る。
ペーストの1つの実施形態において、ペーストの総重量に基づき、1wt%以下、好ましくは約0.5wt%以下、より好ましくは約0.3wt%以下の溶媒が熱硬化性系ペーストに存在する。この実施形態の他の態様において、溶媒が、熱硬化性系ペーストの総重量に基づき、それぞれ、約1〜約20wt%の範囲、及び好ましくは約5〜約15wt%の範囲の量で熱硬化性系ペーストに存在するのが好ましい。この実施形態のさらなる態様において、熱硬化性系ペーストの総重量に基づき、それぞれ、約2wt%以下、好ましくは約1wt%以下、及びより好ましくは0.5wt%以下の溶媒が、熱硬化性系ペーストに存在するのが好ましい。これらのペーストは「無溶媒」とされ得る。
本発明の1つの実施形態において、ペーストは、ペーストの総重量に基づき、約1wt%以下、好ましくは0.1wt%以下、より好ましくは約0.01wt%以下のガラスを含有する。ペーストは、最も好ましくは、ガラスを含有しない。
以下のペースト成分:
a.約1nm〜約1μm未満の範囲、好ましくは約100〜約800nmの範囲、より好ましくは約150〜約600nmの範囲、最も好ましくは約200〜約500nmの範囲の直径d50を有する銀粒子の第1の部分;
b.約1μm〜約1mm未満の範囲、好ましくは約1〜約10μmの範囲、より好ましくは約1〜約5μmの範囲、最も好ましくは約1〜約3μmの範囲の直径d50を有する銀粒子のさらなる部分;
c.ポリマー系
を組み合わせる工程を含む、ペーストの調製のためのプロセスによって、上述した目的のうちの少なくとも1つを達成することに貢献される。
ペーストの好ましい特徴に関する上記の実施形態は、また、ペーストの調製のためのプロセスにおけるペースト成分に、準用して適用する。
ペーストの調製のためのプロセスの1つの実施形態において、第1の部分の質量とさらなる部分の質量との比が、約1:1〜約10:1の範囲、好ましくは約2:1〜約8:1の範囲、より好ましくは約3:1〜約6:1の範囲である。
本発明に係るプロセスの1つの実施形態において、ポリマー系が、以下の成分を含む熱硬化性系である:
i.少なくとも2つの不飽和基を有する架橋化合物、
ii.ラジカル発生剤。
本発明に係るプロセスの1つの実施形態において、ポリマー系が、以下の系成分を含む熱可塑性系である:
i.熱可塑性ポリマー、
ii.溶媒。
本発明に係るプロセスにより得られたペーストによって、上述した目的のうちの少なくとも1つを達成することに貢献される。
以下の前駆体部分:
a.本発明に係るペースト、
b.基板
を含む前駆体によって、上述した目的のうちの少なくとも1つを達成することに貢献される。
本発明に係る前駆体の1つの実施形態において、基板が温度感受性である。
本発明に係る前駆体の1つの実施形態において、基板がシリコンウェーハである。本発明に係る前駆体の1つの実施形態において、基板がpn接合を含む。
本発明に係る前駆体の1つの実施形態において、基板が第1のシリコン層を含み、50wt%未満、好ましくは20wt%未満、より好ましくは10wt%未満の第1のシリコン層が結晶性である。この実施形態の1つの態様において、基板がさらなるシリコン層を含み、少なくとも50wt%、好ましくは少なくとも80wt%、より好ましくは少なくとも90wt%のさらなるシリコン層が結晶性である。この実施形態のさらなる態様において、少なくとも第1のシリコン層が、約1×1016cm−3以下、好ましくは約1×1014cm−3以下、より好ましくは約1×1012cm−3以下のドーパントレベルを有する。真性(ノンドープ)層は、好ましくはドーパントを含有しない。
本発明に係る前駆体の1つの実施形態において、基板が透明な導電層を含む。
本発明に係る前駆体の1つの実施形態において、透明な導電層が、導電性ポリマー、導電性のオキシドからなる群から選択される。
以下の工程:
i)本発明に係る前駆体を提供する工程;
ii)装置を得るために前駆体を加熱する工程
を少なくとも含む、太陽電池の製造のためのプロセスによって、上述した目的のうちの少なくとも1つを達成することに貢献される。
装置の製造のためのプロセスの1つの実施形態において、加熱する工程が、約70〜約250℃の範囲、好ましくは約100〜約230℃の範囲、及びより好ましくは約130〜約210℃の範囲の温度で実施される。
装置の製造のためのプロセスの1つの実施形態において、装置が太陽電池である。
本発明に係るプロセスにより得られた装置によって、上述した目的のうちの少なくとも1つを達成することに貢献される。
i)基板、ii)電極を装置の部分として少なくとも含み、
金属粒子が約1nm〜約1μm未満の範囲に少なくとも第1の極大、及び約1μm〜約1mm未満の範囲に少なくともさらなる極大を有する多峯性直径分布を有する電極に存在し;
第1の極大とさらなる極大とが、少なくとも約0.3μm離れ;
1μm〜1mm未満の範囲の直径を有する銀粒子の少なくとも50wt%が球形である装置によって、上述した目的のうちの少なくとも1つを達成することに貢献される。
少なくとも1つの本発明に係る装置、及び少なくともさらに別の装置を含むモジュールによって、上述した目的のうちの少なくとも1つを達成することに貢献される。
[基板]
本発明に係る好ましい基板は、少なくとも1つの電極が本発明に係るプロセスにより施される固形物品である。基板は、当業者にとっては周知であり、必要に応じて、いくつかの適用のうち1つに適合するように、基板を選択してもよい。基板は、好ましくは、特定用途に応じて接する電極基板の電気的及び/又は物理的特性を改良するために選択される。
基板は、単一の材料又は2以上の領域の異なる材料を含んでもよい。2以上の領域の異なる材料を含む、好ましい基板は、層状体(layer bodies)及び/又は被覆体(coated bodies)である。
好ましい基板材料は、半導体;有機材料、好ましくはポリマー;無機材料、好ましくは酸化物又はガラス;金属層である。基板材料は、絶縁体、好ましくはガラス、ポリマー、又はセラミック;半導体、好ましくはドープされたIV族又はIIIV族元素/二元化合物、又は有機半導体;又は導体、好ましくは金属化表面又は導電性ポリマー表面であってもよく、得られた装置の用途に依存する。本発明との関連で好ましい基板は、ウェーハ、好ましくはシリコンウェーハ、続いて説明されるように太陽電池の製造にとって好ましものである。
本発明に関して適用するさらに別の基板タイプは、US 2013/0142963 A1を参照されたい。本発明に関していくつかの好ましい電気デバイスは、RFID(無線周波数識別(radio frequency identification))装置;光起電性の装置、特に太陽電池;発光性装置、例えば、ディスプレイ、LED(発光ダイオード)、OLED(有機発光ダイオード);スマートパッケージング(smart packaging)装置;及びタッチスクリーン装置である。
本発明に係る好ましいウェーハは、電子正孔対を生じさせるために、高い効率で光を吸収でき、及び高い効率で境界面を越えて、好ましくはいわゆるpn接合境界を越えて、正孔と電子とを分離できる領域、特に太陽電池の領域である。
ウェーハは、適切にドープされた四価の元素、二元化合物、三元化合物、又は合金からなることが好ましい。本願明細書において、好ましい四価の元素は、ケイ素、Ge、又はSn、好ましくはケイ素である。好ましい二元化合物は、2以上の四価の元素の組合せ、第III族元素と第V族元素との二元化合物、第II族元素と第VI族元素との二元化合物、又は第IV族元素と第VI族元素との二元化合物である。好ましい四価の元素の組合せは、ケイ素、Ge、Sn、又はCから選択される2以上の元素、好ましくはSiCの組合せである。好ましい第III族元素と第V族元素との二元化合物は、GaAsである。ウェーハはケイ素に基づくのが、本発明において最も好ましい。ウェーハに最も好ましい材料として、ケイ素は、本願明細書の残り全体にわたって明示的に言及される。ケイ素が明示的に言及される以下の本文の項は、また、上記の他のウェーハ組成物に適用する。
太陽電池は、pn接合境界を提供するための、少なくとも1つのn型ドープ層、及び少なくとも1つのp型ドープ層を含むことが、本発明において、好ましい。
ドープシリコン基板は当業者にとっては周知である。ドープシリコン基板は、当業者に周知であり、本発明に好適であるとみなされる任意の方法で製造されてもよい。本発明においてシリコン基板の好ましいソースは、単結晶のケイ素、多結晶のケイ素、非晶質のケイ素、及び冶金法による高純度ケイ素(upgraded metallurgical silicon)であり、単結晶のケイ素又は多結晶のケイ素が最も好ましい。ドープシリコン基板を形成するためのドーピングは、シリコン基板の製造中にドーパントを添加するのと同時に実施されてもよく、又は次の工程において実施されてもよい。シリコン基板の製造に続くドーピングは、例えば、ガス拡散エピタキシーによって実施されてもよい。ドープシリコン基板は、また、容易に商業的に入手可能である。本発明に係る1つの選択肢として、ケイ素混合物にドーパントを添加することによるその形成と同時に、シリコン基板の最初のドーピングは実施されてもよい。本発明に係る1つの選択肢として、前面ドープ層、及びもし存在すれば背面の高ドープ層の塗布は、気相エピタキシーによって実施される。この気相エピタキシーは、好ましくは、約500℃〜約900℃の範囲、より好ましくは約600℃〜約800℃の範囲、及び最も好ましくは約650℃〜約750℃の範囲の温度、約2kPa〜約100kPaの範囲、好ましくは約10〜約80kPaの範囲、最も好ましくは約30〜約70kPaの範囲の圧力で実施される。これらの温度条件は、通常、HIT太陽電池に適用されない。
本発明の1つの実施形態において、ウェーハは、n型ドープ層及びp型ドープ層を含み、n型電池(図1a)又はp型電池(図1b)として知られているものを製造するために使用することができる。
本発明の別の実施形態において、ウェーハは1以上の非晶質層を含む。非晶質層及び真性層(ノンドープ層)は、好ましくは、電子正孔再結合の頻度を低減させるために採用され、このため、電池の電気的特性を改良する。ウェーハは少なくとも1つの、好ましくは少なくとも2つの、好ましくは2つのノンドープ非晶質層を含むのが好ましい。ウェーハは、少なくとも1つの、好ましくは少なくとも2つの、好ましくは2つの、ドープ非晶質層、好ましくは少なくとも1つのn型ドープ非晶質層、及び少なくとも1つのp型ドープ非晶質層を含むのが好ましい。非晶質層は、好ましくは、50%未満、好ましくは20%未満、より好ましくは10%未満が結晶性である層である。
この実施形態による好ましい層構造は、図2に示される。
シリコン基板がいくつかの形状、表面組織、及び大きさを示し得ることは当業者に周知である。その形状は、立方体状、ディスク状、ウェーハ状、及び不規則な多面体状等を含む様々な形状のうちの1つとなり得る。本発明において好ましい形状は、ウェーハが同様の、好ましくは同じ2つの次元と、他の2つの次元よりかなり小さい第三の次元とを有する立方体状となるウェーハである。本願明細書においてかなり小さいとは、好ましくは、少なくとも約100倍小さい。
様々な表面型が当業者に周知である。本発明において、粗い表面を有するシリコン基板が好ましい。基板の粗さを評価する1つの方法は、基板の総表面積と比較して小さい、好ましくは、総表面積の100分の1未満であり、実質的に平面である基板の下部表面に対する表面粗さパラメータを評価することである。表面粗さパラメータの値は、最小化平均二乗変位によって下部表面に最適化された平面上に下部表面を投影することで形成された理論的な表面の面積に対する下部表面の面積の比によって与えられる。表面粗さパラメータのより高い値ほど、より粗い、より不規則な表面を示し、表面粗さパラメータのより低い値ほど、より滑らかな、より平らな表面を示す。本発明において、シリコン基板の表面粗さは、好ましくは、これらに限定されないが、表面に対する光吸収及びフィンガーの接着を含むいくつかの要因の間の最適なバランスをもたらすように変性される。
シリコン基板の2つのより大きい次元は、結果として得られた太陽電池に求められる適用に合わせて変えられてもよい。本発明において、シリコンウェーハの好ましい厚さは、約0.5mm未満、より好ましくは約0.3mm未満、及び最も好ましくは約0.2mm未満にある。いくつかのウェーハは最小の約0.01mm以上の厚さを有する。
背面ドープ層と比較して前面ドープ層が薄いことが本発明において好ましい。また、前面ドープ層が約0.1〜約10μmの範囲、好ましくは約0.1〜約5μmの範囲、及び最も好ましくは約0.1〜約2μmの範囲にある厚さを有することが、本発明において好ましい。
高ドープ層は、背面ドープ層と任意のさらなる層との間のシリコン基板の背面に塗布されてもよい。そのような高ドープ層は、背面ドープ層と同じドーピング型であり、そのような層は一般的に+で示される(n型層がn型背面ドープ層に施され、p型層がp型背面ドープ層に施される)。この高ドープ背面層は、基板/電極界面の領域で、金属化を補助し、導電性の特性を改良するのに役立つ。高ドープ背面層が、もし存在するなら、約1〜約100μmの範囲、好ましくは約1〜約50μmの範囲、及び最も好ましくは約1〜約15μmの範囲の厚さを有するのが本発明において好ましい。
[ドーパント]
好ましいドーパントは、シリコンウェーハに添加される際、バンド構造内に電子又は正孔を導入することによってpn接合境界を形成するものである。これらのドーパントの同一性及び濃度が、pn接合のバンド構造プロファイルを調節し、光吸収及び電気伝導率プロファイルを必要に応じて定めるように特に選択されることが本発明において好ましい。本発明において好ましいp型ドーパントは、シリコンウェーハバンド構造に正孔を添加するものである。それは、当業者にとっては周知である。当業者に周知であり、本発明に好適であるとみなされる全てのドーパントはp型ドーパントとして採用されてもよい。本発明において好ましいp型ドーパントは、三価の元素、特に、周期表の第13族の元素である。本願明細書において、好ましい周期表の第13族元素は、これらに限定されないが、B、Al、Ga、In、Tl、又はそれらの少なくとも2種の組合せを含み、Bが特に好ましい。
本発明において好ましいn型ドーパントは、シリコンウェーハバンド構造に電子を加えるものである。それは当業者にとっては周知である。当業者に周知であり、本発明に好適であるとみなされる全てのドーパントは、n型ドーパントとして採用されてもよい。本発明において好ましいn型ドーパントは、周期表の第15族元素である。本願明細書において、好ましい周期表の第15族元素は、N、P、As、Sb、Bi、又はそれらの少なくとも2種の組合せを含み、Pが特に好ましい。
上記の通り、pn接合の種々のドーピングレベルは、得られた太陽電池の所望の特性を調節するために変更されてもよい。
本発明において、背面ドープ層には、好ましくは約1×1013〜約1×1018cm−3の範囲、好ましくは約1×1014〜約1×1017cm−3の範囲、最も好ましくは約5×1015〜約5×1016cm−3の範囲のドーパント濃度でわずかにドープされるのが好ましい。いくつかの市販の製品は、約1×1016のドーパント濃度を有する背面ドープ層を有する。
本発明において、高度にドープされた背面層には(もし存在するなら)、好ましくは約1×1017〜約5×1021cm−3の範囲、より好ましくは約5×1017〜約5×1020cm−3の範囲、及び最も好ましくは約1×1018〜約1×1020cm−3の範囲の濃度で高度にドープされるのが好ましい。
真性(ノンドープ)層には、約1×1016cm−3以下、好ましくは約1014cm−3以下、より好ましくは約1012cm−3以下のレベルのドーパントを有するのが好ましい。真性(ノンドープ)層は、好ましくはドーパントを含有しない。
[導電性ペースト]
本発明に係る好ましい導電性ペーストは、基板に塗布され得、加熱して、基板と物理的及び/又は電気的に接触する固形の電極体を形成するペーストである。ペーストの成分、及びその割合は、ペーストが接着性、及び印刷性のような所望の特性を有し、得られた電極が所望の電気的及び物理的特性を有するために、当業者によって選択され得る。金属粒子は、第一に得られた電極体が導電性となるために、ペーストに存在し得る。硬化及び接着をもたらすために、熱硬化性系が採用され得る。例えば、本発明に関して好ましい導電性のペーストの組成物は:
i)好ましくは少なくとも約50wt%、より好ましくは少なくとも約70wt%、及び最も好ましくは少なくとも約80wt%の、銀ナノ粒子及び球形の銀ミクロ粒子を含む、銀粒子;
ii)ポリマー系、
iii)好ましくは約0.01〜約22wt%の範囲、より好ましくは約0.05〜約15wt%の範囲、及び最も好ましくは約0.1〜約10wt%の範囲の添加剤;
を含んでもよく、
前記wt%は、導電性ペーストの総重量に基づき、合計100wt%になる。この実施形態の1つの態様において、1wt%以下、及び好ましくは0.5wt%以下の添加剤がペーストに存在し、より好ましくは添加剤を含まない。
本発明の1つの実施形態において、ポリマー系は、以下の成分:
a.熱硬化性系の総重量に基づき、好ましくは約10〜約99.999wt%の範囲、より好ましくは約20〜約99wt%の範囲、最も好ましくは約20〜約99wt%の範囲の架橋化合物;
b.熱硬化性系の総重量に基づき、好ましくは約0.0001〜約3wt%の範囲、より好ましくは約0.01〜約2wt%の範囲、最も好ましくは約0.01〜約1wt%の範囲のラジカル発生剤;
c.任意に、熱硬化性系の総重量に基づき、0wt%以上、好ましくは少なくとも約20wt%、より好ましくは少なくとも約30wt%の熱硬化性系の残りの質量を補充する、溶媒;
d.任意に、好ましくは約1〜約10wt%の範囲、より好ましくは約2〜約8wt%の範囲、最も好ましくは約4〜約5wt%の範囲のモノ−不飽和化合物
を含む熱硬化性系である。
本発明の別の実施形態において、ポリマー系は、以下の成分:
a.熱可塑性ポリマー;
b.溶媒
を含む熱可塑性系である。
導電性ペーストの印刷性を容易にするため、導電性ペーストの粘度が約5〜約50Pa・sの範囲、好ましくは約10〜約40Pa・sの範囲であるのが本発明において好ましい。
低温、好ましくは約250℃未満、より好ましくは約230℃未満、最も好ましくは約210℃未満で硬化されるペーストが好ましい。
それゆえ、1つの実施形態において、養生、硬化、及び接着機能が無機のガラス又はガラスフリットよりはむしろポリマー系によって促進されるのが好ましい。本発明の1つの実施形態において、ペーストは約1wt%以下、好ましくは約0.1wt%以下、より好ましくは約0.01wt%以下の無機のガラス又はガラスフリットを含有する。ペーストにそのようなガラスを含有しないのが好ましい。
[金属粒子]
本発明に関して好ましい金属粒子は、金属電気伝導性を示すもの、又は加熱するとすぐに、金属電気伝導性を示す物質を生じるものである。導電性ペーストに存在する金属粒子は、加熱し導電性ペーストが焼結されると形成される固形電極に金属電気伝導性を与える。効果的な接着に有利であり、高い電気伝導性及び低い接触抵抗を有する電極を生み出す金属粒子が好ましい。金属粒子は、当業者にとっては周知である。当業者に周知であり、本発明に好適であるとみなされる全ての金属粒子は、導電性ペーストにおける金属粒子として採用され得る。本発明に係る好ましい金属粒子は、金属、合金、少なくとも2種の金属の混合物、少なくとも2種の合金の混合物、又は少なくとも1種の金属と少なくとも1種の合金との混合物である。
本発明に係る金属粒子として採用され得る好ましい金属は、銀、銅、アルミニウム、亜鉛、パラジウム、ニッケル、又は鉛、及びそれらの少なくとも2種の混合物、好ましくは銀である。本発明に係る金属粒子として採用され得る好ましい合金は、銀、銅、アルミニウム、亜鉛、ニッケル、タングステン、鉛、及びパラジウムのリストから選択される少なくとも1種の金属を含有する合金、又は混合物若しくは2以上のそれらの合金である。
本発明に係る1つの実施形態において、金属粒子は、例えば銀でコートされた銅、1以上のさらなる異なる金属又は合金でコートされた金属又は合金を含む。
本発明に係る1つの実施形態において、金属粒子は銀である。本発明に係る別の実施形態において、金属粒子は銀とアルミニウムとの混合物を含む。
さらなる上述した成分への金属粒子の追加の成分として、形成された電極のより有利な電気接点、接着、及び電気伝導率に貢献する成分が、本発明において好ましい。当業者に公知であり、本発明に好適であるとみなされる全ての追加成分は、金属粒子に採用され得る。導電性ペーストが施される面に対する相補的なドーパントを示す、それらの追加の置換成分は、本発明において好ましい。n型ドープされたシリコン層と整合させる電極を形成する際、ケイ素中でn型ドーパントとして作用することができる添加剤が好ましい。本願明細書において、好ましいn型ドーパントは、第15族元素又は加熱するとそのような元素を生み出す化合物である。好ましい第15族元素は、本発明に係る本願明細書において、リン及びビスマスである。p型ドープされたシリコン層と整合させる電極を形成する際、ケイ素中でp型ドーパントとして作用することができる添加剤が好ましい。好ましいp型ドーパントは、第13族元素又は加熱するとそのような元素を生み出す化合物である。好ましい第13族元素は、本発明に係る本願明細書において、ホウ素及びアルミニウムである。
金属粒子が様々な形状、表面、大きさ、表面積対体積比、酸素含有量、及び酸化層を示し得ることは、当業者にとっては周知である。非常に多くの形状が当業者に公知である。いくつかの例は、球状、角ばった形状、細長状(棒又は針状)、及び扁平状(シート状)である。金属粒子は、また、異なる形状の粒子の組合せとして存在してもよい。製造される電極の電気接点、接着、及び電気伝導性に有利である、形状、又は形状の組合せを有する金属粒子が、本発明において好ましい。粒子の表面性を考慮せずにそのような形状を特性付ける1つの方法は、長さ、幅、及び厚さのパラメータを通してなされるものである。本発明に関して、粒子の長さは、粒子内に含まれる両端点の最長の空間変位ベクトルの長さによって与えられる。粒子の幅は、先に定義された粒子内に含まれる両端点の長さベクトルに垂直の最長の空間変位ベクトルの長さによって与えられる。粒子の厚さは、双方先に定義された、粒子内に含まれる両端点の長さベクトル及び幅ベクトルの双方に垂直の最長の空間変位ベクトルの長さによって与えられる。
本発明に関して好ましい均一な形状は球形である。以下において、球形の粒子が、長さ、幅、及び厚さの比率が1に近い、好ましくは約0.3〜約3の範囲、より好ましくは約0.5〜約2の範囲、最も好ましくは約0.8〜約1.2の範囲の粒子を示すために用いられるだろう。
1つの実施形態において、銀粒子の少なくとも50wt%、好ましくは少なくとも80wt%、より好ましくは少なくとも約90wt%が球形である。
1つの実施形態において、銀ミクロ粒子が球形である:直径約1μm〜約1mm未満の範囲の銀粒子の、少なくとも50wt%、好ましくは少なくとも約80wt%、より好ましくは少なくとも約90wt%が球形である。
1つの実施形態において、銀ナノ粒子は球形である:直径約1nm〜約1μm未満の範囲の銀粒子の、少なくとも50wt%、好ましくは少なくとも約80wt%、より好ましくは少なくとも約90wt%が球形である。
様々な表面型が当業者に公知である。効果的な焼結に有利であり、製造される電極の有利な電気接点及び電気伝導性を生み出す表面型は、本発明に係る金属粒子の表面型に有利である。
金属粒子の形状及び表面を特徴づけるための別の方法は、比表面積としても知られるその表面積対重量比によるものである。比表面積はBET方法を用いて測定できる。粒子の表面積対重量比の最も低い値は、滑らかな表面を有する球形により具現される。形状が均一でなく、不規則であるほど、その表面積対重量比は高くなるだろう。本発明に係る1つの実施形態において、高い比表面積比を有する金属粒子が好ましく、好ましくは約0.1〜約25m/gの範囲、より好ましくは約0.5〜約20m/gの範囲、及び最も好ましくは約1〜約15m/gの範囲である。本発明に係る別の実施形態において、低い比表面積を有する金属粒子が好ましく、好ましくは約0.01〜約10m/gの範囲、より好ましくは約0.05〜約5m/gの範囲、及び最も好ましくは約0.10〜約1m/gの範囲である。
金属粒子の直径分布は、電極において低い銀密度の領域の発生を低減するように選択されるのが本発明において好ましい。当業者は、結果として得た太陽電池の有利な電気的及び物理的特性を最適化するために、金属粒子の直径分布を選択してもよい。銀粒子には、銀ナノ粒子及び銀ミクロ粒子を含むのが、本発明において好ましく、従って、多峰性の直径分布を示す。
ペーストの調製のためのプロセスの1つの実施形態において、銀粒子は銀ナノ粒子と銀ミクロ粒子とを混合することによって調製される。
金属粒子は、表面コーティングと共に存在してもよい。当業者に公知であり、本発明に好適であるとみなされる如何なるそのようなコーティングも金属粒子に採用され得る。本発明に係る好ましいコーティングは、導電性ペーストの印刷、焼結、及びエッチング特性の改良を促進するコーティングである。もし、そのようなコーティングが存在するならば、何れの場合も金属粒子の総重量に基づき、約10wt%以下の、好ましくは約8wt%以下、最も好ましくは約5wt%以下に相当するコーティングが、本発明において好ましい。
本発明に係る1つの実施形態において、金属粒子は、導電性ペーストの約50wt%より高い、好ましくは約70wt%より高い、最も好ましくは約80wt%より高い割合で存在する。
[熱硬化性系]
本発明の1つの実施形態において、ポリマー系は熱硬化性系である。
本発明に関して好ましい熱硬化性系は、導電性ペーストの成分が溶液、エマルション、又は分散液の形態で存在し、電極を形成するための不可逆的な硬化又は養生を容易にすることを確実にする。好ましい熱硬化性系は、導電性ペースト内の成分の最適な安定性を提供し、効果的なライン印刷性を可能にする粘度を有する導電性ペーストを与えるものである。好ましい熱硬化性系は、光起電太陽電池のウェーハにおいて良好な接着を示す熱硬化性を生み出し、光起電太陽電池の長い動作時間の保証のために光起電太陽電池が動作される条件下で化学的に安定であり、光起電太陽電池の動作温度で溶融してはならず、及び光起電太陽電池の銀電極の電気伝導率を特に損なってはならない。
本発明に係る好ましい熱硬化性系は、成分として:
a.熱硬化性系の総重量に基づき、好ましくは約10〜約99.999wt%の範囲、より好ましくは約20〜約99wt%の範囲、最も好ましくは約20〜約99wt%の範囲の架橋化合物;
b.熱硬化性系の総重量に基づき、好ましくは約0.0001〜約3wt%の範囲、より好ましくは約0.01〜約2wt%の範囲、最も好ましくは約0.01〜約1wt%の範囲のラジカル発生剤;
c.任意に、熱硬化性系の総重量に基づき、0wt%以上、好ましくは少なくとも約20wt%、より好ましくは少なくとも約30wt%の熱硬化性系の残りの質量を補充する、溶媒;
d.任意に、好ましくは約1〜約10wt%の範囲、より好ましくは約2〜約8wt%の範囲、最も好ましくは約4〜約5wt%の範囲のモノ−不飽和化合物;
を含み、
前記wt%は、それぞれ熱硬化性系の総重量に基づき、合計100wt%になる。本発明に係る好ましい熱硬化性系は、導電性ペーストの印刷性の好ましい高いレベルが達成されることを可能にするものである。
熱硬化性系は、好ましくは、加熱すると不可逆的に養生する。それゆえ、全体として考慮される熱硬化性系、及び好ましくは個々の成分、とりわけa及びdも、硬度の熱的ヒステリシスを示すのが好ましい。1つの実施形態において、熱硬化性系は熱可塑性系ではない。別の実施形態において、成分a又はdのうちの少なくとも1つ、好ましくは成分a及びdの双方が熱可塑性ではない。
[架橋化合物]
本発明に関して好ましい架橋化合物は、熱硬化性の挙動に寄与する、好ましくは、養生条件下で不可逆的な硬化を容易にする化合物である。架橋化合物が、硬化/養生すると、連結された重合体のネットワークを形成するのが好ましい。好ましい硬化/養生条件は、以下:重合開始剤、好ましくはラジカル開始剤の存在、加熱、又は電磁放射線の1以上である。
架橋化合物は、好ましくは、少なくとも2つの不飽和二重結合、好ましくは炭素−炭素の二重結合を含む。
好ましい架橋化合物は、単量体、オリゴマー、又はポリマーとなり得る。オリゴマー又はポリマーにおいて、不飽和基は、主鎖に、又は置換基若しくは分枝鎖に存在してもよい。好ましい不飽和基は、アルケン基、ビニルエーテル基、エステル基、及びアルキン基、好ましくはアルケン又はアルキン、最も好ましくはアルケンである。好ましいエステル基は、アルキル若しくはヒドロキシルアクリレート若しくはメタクリレート、好ましくはメチル−、エチル−、ブチル−、2−エチルヘキシル−、若しくは2−ヒドロキシエチル−アクリレート、イソボルニルアクリレート、メチルメタクリレート、又はエチル−メタクリレート基である。他の好ましいエステル基は、シリコンアクリレートである。他の好ましいモノ−不飽和基は、アクリロニトリル−、アクリルアミド−、メタクリルアミド基、N−置換(メタ)アクリルアミド−、酢酸ビニル−のようなビニルエステル−、ビニルエーテル−、スチレン−、アルキル−若しくはハロスチレン−、n−ビニルピロリドン−、塩化ビニル−、又は塩化ビニリデン−基である。
本発明の1つの実施形態において、架橋ポリマーは少なくとも1つのエステル基を含む。この実施形態の1つの態様において、少なくとも1つの不飽和基は、エステルの酸側に存在する。この実施形態の別の態様において、少なくとも1つの不飽和基は、エステルのアルコール側に存在する。本願明細書において、好ましい不飽和カルボン酸は、アクリル酸、アクリル酸誘導体、好ましくはメタクリル酸、又は不飽和脂肪酸である。好ましい不飽和脂肪酸は、モノ−不飽和、又は多不飽和、好ましくはミリストレイン酸CH(CHCH=CH(CHCOOH、パルミトレイン酸CH(CHCH=CH(CHCOOH、サピエン酸CH(CHCH=CH(CHCOOH、オレイン酸CH(CHCH=CH(CHCOOH、エライジン酸CH(CHCH=CH(CHCOOH、バクセン酸CH(CHCH=CH(CHCOOH、リノール酸CH(CHCH=CHCHCH=CH(CHCOOH、リノエライジン酸CH(CHCH=CHCHCH=CH(CHCOOH、α−リノレン酸CHCHCH=CHCHCH=CHCHCH=CH(CHCOOH、アラキドン酸CH(CHCH=CHCHCH=CHCHCH=CHCHCH=CH(CHCOOH、エイコサペンタエン酸CHCHCH=CHCHCH=CHCHCH=CHCHCH=CHCHCH=CH(CHCOOH、エルカ酸CH(CHCH=CH(CH11COOH、又はドコサヘキサエン酸CHCHCH=CHCHCH=CHCHCH=CHCHCH=CHCHCH=CHCHCH=CH(CHCOOH、又はそれらの2以上となり得る。
本願明細書において、好ましい飽和カルボン酸は、脂肪酸、好ましくはC19COOH(カプリン酸)、C1123COOH(ラウリン酸)、C1327COOH(ミリスチン酸)C1531COOH(パルミチン酸)、C1735COOH(ステアリン酸)又はこれらの混合物である。不飽和アルキル鎖を有する、好ましいカルボン酸は、C1834(オレイン酸)及びC1832(リノール酸)である。
本願明細書において、好ましいアルコールは、モノアルコール、ジオール類、又はポリ−アルコール、好ましくは糖類であってもよい。好ましいアルコールはセルロース、グリコール、及びグリセロールである。
1つの実施形態において、架橋化合物は、好ましくはエステル基により鎖に結合される、置換成分を有するポリマー鎖からなる。好ましいポリマー骨格は、ポリアクリレート、ポリウレタン、ポリスチレン、ポリエステル、ポリアミド、及び糖類である。好ましい置換成分は、不飽和脂肪酸及びアクリレートである。
[モノ−不飽和化合物]
本発明に関して、好ましいモノ−不飽和化合物は、硬化時に熱硬化性物質のネットワークに組み込まれる。モノ−不飽和化合物は、好ましくは、熱硬化性物質のネットワークの密度を低減する。所望の適用へのそれらの特性を調整するため、及び硬化度のような特性、硬化に必要な条件、及び硬化により生じた熱硬化物質の密度を調整するため、熱硬化性系におけるモノ−不飽和化合物の使用は、当業者には公知である。好ましいモノ−不飽和化合物は、エステル、ビニルエーテル、アミド、及びビニル化合物であり、好ましくはエステルである。好ましいエステルは、アルキル若しくはヒドロキシル−アクリレート若しくはメタクリレート、好ましくはメチル−、エチル−、ブチル−、2−エチルヘキシル若しくは2−ヒドロキシエチル−アクリレート、イソボルニルアクリレート、メチルメタクリレート、又はエチルメタクリレートである。他の好ましいエステルは、シリコンアクリレートである。他の好ましいモノ−不飽和化合物は、アクリロニトリル、アクリルアミド、メタクリルアミド、N−置換(メタ)アクリルアミド、酢酸ビニルのようなビニルエステル、イソブチルビニルエーテルのようなビニルエーテル、スチレン、アルキル若しくはハロスチレン、N−ビニルピロリドン、塩化ビニル、又はビニリデン塩化物である。
[熱硬化性系における溶媒]
熱硬化性系における好ましい溶媒は、加熱中、かなりの程度まで除去される、好ましくは、加熱前と比較して少なくとも約80%まで減少した、好ましくは加熱前と比較して少なくとも約95%まで減少した、絶対質量で加熱後に存在するものである熱硬化性系の成分である。本発明に係る好ましい溶媒は、有利な粘度、印刷性、安定性、及び接着特性を有し、基板に有利な電気伝導率及び電気接点を有する電極を生み出す導電性ペーストを形成することを可能にするものである。溶媒は、当業者にとっては周知である。
当業者に公知であり、本発明に好適であるとみなされる全ての溶媒は、熱硬化性系における溶媒として採用されてもよい。本発明において、好ましい溶媒は、上記の通り達成される導電性ペーストの印刷適性を好ましい高いレベルにするものである。本発明において好ましい溶媒は、標準大気温度及び圧力(SATP)(298.15K、25℃、77°F)、100kPa(14.504psi、0.986atm)下で液体として存在し、好ましくは約90℃より高い沸点及び約−20℃より高い融点を有するものである。
本発明において好ましい溶媒は、極性又は非極性、プロトン性又は非プロトン性、芳香族又は非芳香族であり、この実施形態の1つの態様によれば、プロトン性極性溶媒が好ましい。本発明において好ましい溶媒は、モノ−アルコール、ジ−アルコール、ポリ−アルコール、モノ−エステル、ジ−エステル、ポリ−エステル、モノ−エーテル、ジ−エーテル、ポリ−エーテルであり、官能基のこれらの分類の少なくとも1種以上を含み、任意に、官能基の他の分類、好ましくは、環状基、芳香族基、不飽和結合、ヘテロ原子で置換される1以上の酸素原子を有するアルコール基、ヘテロ原子で置換される1以上の酸素原子を有するエーテル基、ヘテロ原子で置換される1以上の酸素原子を有するエステル基、及び上述の溶媒の2種以上の混合物を含む溶媒である。本願明細書において好ましいエステルは、好ましいアルキル成分がメチル、エチル、プロピル、ブチル、ペンチル、ヘキシル、及び高級アルキル基、又はそのようなアルキル基の2種の異なる組合せである、アジピン酸のジ−アルキルエステル、好ましくはアジピン酸ジメチル、及び2種以上のアジピン酸エステルの混合物である。本願明細書において好ましいエーテルは、ジエーテル、好ましいアルキル成分がメチル、エチル、プロピル、ブチル、ペンチル、ヘキシル、及び高級アルキル基、又はそのようなアルキル基の2種の異なる組合せである、好ましくはエチレングリコールのジアルキルエーテル、及び2種のジエーテルの混合物である。本願明細書において好ましいアルコールは、例えば、第一級、第二級、及び第三級アルコール、好ましくは第三級アルコール、テルピネオール及び好ましいその誘導体、又はアルコールの2種以上の混合物を含む。好ましい複数の異なる官能基を組み合わせる溶媒は、しばしば、テキサノールと呼ばれる、2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオールモノイソブチレート、及びその誘導体、しばしば、カルビトールとして知られる、2−(2−エトキシエトキシ)エタノール、及びそのアルキル誘導体、好ましくはメチル、エチル、プロピル、ブチル、ペンチル、及びヘキシルカルビトール、好ましくはヘキシルカルビトール、又はブチルカルビトール、及びそれらの酢酸塩誘導体、好ましくはブチル酢酸カルビトール、又は上述の少なくとも2種の混合物である。
[熱可塑性系]
本発明の1つの実施形態において、ポリマー系は熱可塑性系である。
本発明に関して好ましい熱可塑性系は、導電性ペーストの成分が溶液、エマルション、又は分散液の形態で存在し、加熱に際し固形電極の形成を容易にすることを確実にする。好ましい熱可塑性系は、導電性ペースト内の成分の最適な安定性を提供し、効果的なライン印刷性を可能にする粘度を有する導電性ペーストを与えるものである。
本発明において好ましい熱可塑性系は、成分として:
1.熱可塑性ポリマー;
2.溶媒
を含む。
本発明の1つの実施形態において、熱可塑性系が、加熱及び熱可塑性ポリマーの融解温度より低い如何なる温度に冷却する際、如何なる硬度の熱的ヒステリシスも示さないのが好ましい。
[熱可塑性ポリマー]
熱可塑性ポリマーは当業者にとっては周知であり、ペースト又は得られた電極の有利な特性、特に、ペーストの養生性能及び電極と基板との間の電気接点を高めるのに好適であるとみなされる如何なる熱可塑性ポリマーも、当業者は採用してもよい。好ましい熱可塑性ポリマーは、光起電太陽電池のウェーハにおいて良好な接着性を示し、光起電太陽電池の長い動作時間の保証のために光起電太陽電池が動作される条件下で化学的に安定であり、光起電太陽電池の動作温度で溶融してはならず、及び光起電太陽電池の銀電極の電気伝導率を特に損なってはならない。
好ましい熱可塑性ポリマーは、直鎖ホモ−及びコポリマーである。本発明に関して好ましい熱可塑性ポリマーは、以下のリスト:
PVB(ポリビニルブチラール);
PE(ポリエチレン);
PP(ポリプロピレン)、PS(ポリスチレン);
ABS(アクリロニトリル、ブタジエン及びスチレン共重合体);
PA(ポリアミド);
PC(ポリカーボネート);
ポリエステル、好ましくはBostik,Inc.製Vitel 2700B;
ポリアクリレート、好ましくはDow Chemical製Paraloid B44;
フェノキシポリマー、好ましくはInChem Corp製PKHH
から選択される1以上である。
[熱可塑性系における溶媒]
熱可塑性系における溶媒は、好ましくは、加熱中、かなりの程度まで除去される、好ましくは、加熱前と比較して少なくとも約80%まで減少した、好ましくは加熱前と比較して少なくとも約95%減少した、絶対質量で加熱後に存在するものである熱可塑性系の成分である。
本発明に係る好ましい溶媒は、有利な粘度、印刷性、安定性、及び接着特性を有し、基板に有利な電気伝導率及び電気接点を有する電極を生み出す導電性ペーストを形成することを可能にするものである。溶媒は、当業者にとっては周知である。当業者に公知であり、本発明に好適であるとみなされる全ての溶媒は、有機ビヒクルにおける溶媒として採用されてもよい。本発明において、好ましい溶媒は、上記の通り達成される導電性ペーストの印刷適性を好ましい高いレベルにするものである。本発明において好ましい溶媒は、標準大気温度及び圧力(SATP)(298.15K、25℃、77°F)、100kPa(14.504psi、0.986atm)下で液体として存在し、好ましくは約90℃より高い沸点及び約−20℃より高い融点を有するものである。
熱可塑性系の好ましい溶媒は、乏しい水素結合の溶媒、又は並みの水素結合の溶媒である。
好ましい乏しい水素結合の溶媒は、芳香族、脂肪族、又はハロゲン化溶媒である。好ましい乏しい水素結合の溶媒は、約8.5〜約12の範囲のHildebrandパラメータを有するもの、好ましくはベンゼン(Hildebrandパラメータ9.2)、モノクロールベンゼン(Hildebrandパラメータ9.5)、又は2−ニトロプロパン(Hildebrandパラメータ10.7)である。
好ましい並みの水素結合の溶媒は、エステル、エーテル、又はケトンを含む溶媒である。好ましい並みの水素結合の溶媒は、約8.3〜約10.5の範囲のHildebrandパラメータを有するもの、好ましくはTHF(テトラヒドロフラン、Hildebrandパラメータ9.8)、シクロヘキサノン(Hildebrandパラメータ9.9)、又は酢酸n−ブチル(Hildebrandパラメータ8.0)である。
また、以下が好ましい熱可塑性系のための溶媒である:
DMPU(1,3−ジメチル−3,4,5,6−テトラヒドロ−2(1H)−ピリミジノン)、iso−トリデカノール、ジクロロメタン、HMPT(ヘキサメチルホスホルアミド)、DMSO(ジメチルスルホキシド)、ジオキサン、メチルセロソルブ、酢酸セロソルブ、MEK(メチルエチルケトン)、アセトン、ニトロエタン、キシレン、トルエン、ソルベッソ(solvesso)、NMP(N−メチル−2−ピロリドン)、グリコールエーテル、グリコールエステル。
[導電性ペーストにおける添加剤]
本発明に関して好ましい添加剤は、それらから製造される電極の又は得られた太陽電池の導電性ペーストの性能を高めるのに貢献する、明示的に述べられた他の成分に加えて、導電性ペーストに添加される成分である。当業者に公知であり、本発明に好適であるとみなされる全ての添加剤は、導電性ペーストに添加剤として採用され得る。ビヒクルに存在する添加剤に加えて、また、添加剤が導電性ペーストに存在してもよい。本発明において好ましい添加剤は、チキソトロープ剤、粘度調整剤、乳化剤、安定剤、又はpH調整剤、増粘剤、若しくは分散剤、又はそれらの少なくとも2種の組合せである。
[ラジカル発生剤]
本発明の1つの実施形態において、ラジカル発生剤が、ペーストにさらに含まれている。ラジカル発生剤は、当業者にとっては周知であり、当業者は硬化、及び/又は接着のような有利な特性をもたらすのに好適であるラジカル発生剤を選択できる。頻繁に、架橋反応により、好ましくは、1分子あたり少なくとも2つの二重結合に基づき架橋され、好ましくは発生剤に引き起こされて、硬化及び接着が達成される。本発明に関して好ましいラジカル発生剤は、上述のポリマーにおいてラジカル連鎖反応、好ましくは架橋連鎖反応を起こすものである。好ましいラジカル発生剤は、過酸化物、好ましくは有機過酸化物;及びアゾ化合物、好ましくは有機アゾ化合物である。
本発明のさらなる実施形態において、熱硬化性系はラジカル発生剤を必要としない。熱硬化性プロセスを開始する代替手段は、加熱若しくは露光、又は他の電磁放射、例えば電子線放射若しくはUV照射を含む。
[太陽電池の前駆体]
太陽電池の前駆体によって、上述した目的のうちの少なくとも1つを達成することに貢献される。本発明に係る好ましい太陽電池の前駆体は、以下:
1.ウェーハ、好ましくはシリコンウェーハ、好ましくはHIT型ウェーハ、
2.本発明に係るペースト;
を含み、
ペーストがウェーハの少なくとも1つの面の上又は周りに配置される。ペーストは、シリコンウェーハと物理的な接触にあってもよく、あるいは、透明な導電層又は物理保護層のようなシリコンウェーハとペーストとの間に存在する、最外の1以上のさらなる層と接触してもよい。
本発明の1つの実施形態において、1以上のさらなるペーストが、本発明に係るペーストに加えて、ウェーハに存在する。
本発明の1つの実施形態において、前駆体はMWT電池への前駆体である。この実施形態において、ウェーハの前面及び背面を接続するチャネルが、好ましくは存在する。本発明に係るペーストは、好ましくは、チャネルの表面、又はその表面若しくはチャネル以外の表面、又は双方と接触する。
本発明の1つの実施形態において、太陽電池の前駆体は、n型太陽電池への前駆体である。この実施形態の1つの態様において、nドープ層に対応するウェーハの体積の割合は、p型層に対応するものより高い。この実施形態の別の態様において、時に太陽の当たる側と呼ばれる、ウェーハの前面は、p型ドープである。この実施形態の別の態様において、ウェーハの背面はn型ドープされる。
本発明の1つの実施形態において、太陽電池の前駆体は、p型太陽電池への前駆体である。この実施形態の1つの態様において、pドープ層に対応するウェーハの体積の割合は、n型層に対応するものより高い。この実施形態の別の態様において、時に太陽の当たる側と呼ばれる、ウェーハの前面は、n型ドープである。この実施形態の別の態様において、ウェーハの背面は、p型ドープされる。
HIT型太陽電池の前駆体は、本発明に関して好ましい。この実施形態の1つの態様において、ウェーハは、非晶質ケイ素の少なくとも1つの層を含む。好ましくは、非晶質ケイ素の少なくとも1つの層がn型ドープされる。好ましくは、非晶質ケイ素の少なくとも1つの層がp型ドープされる。好ましくは、非晶質ケイ素の少なくとも1つ、又は複数、好ましくは2つの層が、真性(ノンドープ)である。好ましくは、ウェーハは、好ましくはn型ドープ又はp型ドープされた、好ましくはn型ドープされた少なくとも1つの結晶性の層を含む。
太陽電池の前駆体の製造において、温度は低く、好ましくは100℃より下、より好ましくは約80℃より下、最も好ましくは約60℃より下に維持されるのが好ましい。
[太陽電池を製造するプロセス]
プロセス工程として以下:
i)上記のような、特に前述の実施形態のうち任意の組合せの太陽電池の前駆体を提供する工程;及び
ii)太陽電池を得るための太陽電池の前駆体を加熱する工程
を少なくとも含む太陽電池を製造するプロセスによって、上述した目的のうち1つを達成することに貢献される。
工程i)における温度は、100℃、好ましくは80℃、好ましくは60℃を超過しないのが好ましい。
[印刷]
それぞれの電極が、導電性ペーストを施し、次いで接着体を得るためにその導電性ペーストを加熱することによって提供されるのが本発明において好ましい。導電性ペーストは、これらに限定されないが、含浸、浸漬、鋳込み、滴下、注入、散布、ナイフコーティング、カーテンコーティング、ブラッシング、若しくは印刷、又はこれらの少なくとも2種の組合せを含む、当業者に公知であり、本発明に好適であるとみなされる如何なる方法でも施され得、好ましい印刷技術は、インクジェット印刷、スクリーン印刷、タンポン印刷、オフセット印刷、凸版印刷、若しくはステンシル印刷、又はそれらの少なくとも2種の組合せである。導電性ペーストが印刷、好ましくはスクリーン印刷によって施されるのが本発明において好ましい。スクリーンが約20〜約100μmの範囲、より好ましくは約30〜約80μmの範囲、及び最も好ましくは約40〜約70μmの範囲の直径を有する目開きを有するのが本発明において好ましい。太陽電池の前駆体の項において詳述するように、導電性ペーストは、本発明において説明される通りにチャネルに施すのが好ましい。前面及び背面電極を形成するために使用される導電性ペーストは、チャネルに使用されるペーストと同じであってもよいし異なっていてもよく、好ましくは異なるものであり、互いに同じ又は異なるものであってもよい。
印刷は、高温で実施されず、好ましくは100℃より低く、より好ましくは約80℃より低く、より好ましくは約50℃より低い温度で実施されるのが好ましい。
[加熱]
電極は、まず導電性ペーストを施し、次いで、固形の電極体を得るために前記導電性ペーストを加熱することにより形成されるのが本発明において好ましい。加熱は当業者にとっては周知であり、かつ当業者に公知であり、本発明に好適であるとみなされる如何なる方法でも実施できる。
本発明において、加熱のために設定される最高温度は、約250℃より低く、好ましくは約230℃より低く、より好ましくは約210℃より低い。約100℃と低い加熱温度が太陽電池を得るために採用されている。
前面及び背面における導電性ペーストの加熱は、同時又は順次、実施され得る。同時の加熱は、導電性ペーストが同様である場合、適切であり、好ましくは個々に、最適の加熱条件である。適切である場合、加熱は同時に実施されるのが本発明において好ましい。
[太陽電池]
本発明に係るプロセスより得られる太陽電池によって、上述した目的のうちの少なくとも1つを達成することに貢献される。本発明において、好ましい太陽電池は、電気エネルギー出力に変換する入射光の総エネルギーの割合に関して高い効率を有し、軽くて丈夫であるものである。
[反射防止コーティング]
本発明において、太陽電池の表面における電極より前に、反射防止コーティングが外層として、及びしばしば最外層として施されてもよい。本発明において好ましい反射防止コーティングは、表面によって反射される入射光の割合を減少させ、表面を通過してウェーハによって吸収される入射光の割合を増加させるものである。有利な吸収/反射比をもたらす反射防止コーティングは、採用された導電性ペーストによるエッチングに感受性があるが、その他の点では導電性ペーストの加熱に必要とされる温度に耐え、電極界面の近くで電子及び正孔の再結合を増加させることに貢献しないのが好ましい。当業者に公知であり、本発明に好適であるとみなされる全ての反射防止コーティングは採用されてもよい。本発明において好ましい反射防止コーティングは、SiN、SiO、Al、TiO、若しくはそれらの少なくとも2種の混合物、及び/又はそれらの少なくとも2層の組合せであり、特に、シリコンウェーハが採用される場合、SiNが特に好ましい。特にHIT電池に対して、金属酸化物は反射防止コーティングとして機能を果たし得る。好ましい酸化物は、酸化インジウムスズ(ITO)、フッ素ドープ酸化スズ(FTO)、又はドープ酸化亜鉛、好ましくは酸化インジウムスズである。
反射防止コーティングの厚さは、適切な光の波長に合わされる。本発明において、反射防止コーティングが約30〜約500nmの範囲、より好ましくは約50〜約400nmの範囲、及び最も好ましくは約80〜約300nmの範囲の厚さを有するのが好ましい。
[パッシベーション層]
本発明において、1以上のパッシベーション層が、電極の前、又はもし存在するなら反射防止層の前に、外層又は最外層として前面及び/又は裏面に施されてもよい。好ましいパッシベーション層は、電極界面の近くでの電子/正孔再結合の比率を減少させるものである。当業者に公知であり、本発明に好適であるとみなされる何れのパッシベーション層も採用されてもよい。本発明において、好ましいパッシベーション層は、窒化ケイ素、二酸化ケイ素、及び二酸化チタンであり、窒化ケイ素が最も好ましい。本発明において、パッシベーション層は約0.1nm〜約2μmの範囲、より好ましくは約1nm〜約1μmの範囲、及び最も好ましくは約5nm〜約200nmの範囲の厚さを有するのが好ましい。HIT電池は、真性のシリコン層がパッシベーション層として機能を果たすのが好ましい。反射防止コーティング及びパッシベーション層の機能は、少なくとも部分的に又は完全に1つの層に組み合わされてもよい。
[透明な導電層]
本発明に関して好ましい透明な導電層は、高い透明性及び電気伝導率を有するシリコンウェーハの上又は周りの層である。その層を通過した400nmの波長を有する光の伝送は、好ましくは約50%より上、より好ましくは約80%より上、最も好ましくは約90%より上である。その層の電気伝導率は、好ましくは約1×10−4Ω−1cm−1より上、より好ましくは約5×10−3Ω−1cm−1より上、最も好ましくは約5×10−2Ω−1cm−1より上である。
透明な導電層の厚さは、好ましくは約30〜約500nmの範囲、より好ましくは約50〜約400nmの範囲、最も好ましくは約80〜約300nmの範囲である。
透明な導電性の材料は、当業者にとっては周知であり、電気伝導性、透明性、及び接着性のような、太陽電池の有利な特性を改良するために、当業者は、材料を選択してもよい。好ましい材料は、酸化物、導電性ポリマー、又はカーボンナノチューブベースの導体、好ましくは酸化物である。好ましい酸化物は、酸化インジウムスズ(ITO)、フッ素ドープ酸化スズ(FTO)又はドープ酸化亜鉛、好ましくは酸化インジウムスズである。好ましい導電性ポリマーは、共役二重結合を有する有機化合物、好ましくはポリアセチレン、ポリアニリン、ポリピロール、若しくはポリチオフェン、若しくはそれらの誘導体、又はこれらの組合せである。
1つの実施形態において、太陽電池は前面において透明な導電層を有する。
[電極]
本発明の1つの実施形態において、ペーストの銀粒子の二峰性の分布が電極に存在する。この実施形態の個々の態様において、ペーストにおける銀の直径分布に関する個々の特徴は、電極に類似的に存在する。
[付加的な保護層]
太陽電池の主な機能に直接貢献する上記の層に加えて、さらなる層が機械的及び化学的な保護のために追加されてもよい。化学的な保護を提供するために、電池は封入されてもよい。封入は当業者に周知であり、かつ当業者に公知であり、本発明に好適であるとみなされる何れの封入も採用されてもよい。本発明において、しばしば透明な熱可塑性樹脂と呼ばれる、透明なポリマーが、もしこのような封入が存在するなら、封入材料として好ましい。本願明細書において、好ましい透明なポリマーは、例えば、ケイ素ゴム及びポリエチレン酢酸ビニル(PVA)である。
透明なガラスシートが、電池の表面に機械的な保護を提供するために、太陽電池の前面に付け足されてもよい。透明なガラスシートは、当業者にとっては周知であり、かつ当業者に公知であり、本発明に好適であるとみなされる如何なる透明なガラスシートも、太陽電池の前面の保護として採用されてもよい。
背面保護材が、機械的保護のために、太陽電池の裏面に付け足されてもよい。背面保護材は当業者に周知であり、かつ当業者に公知であり、本発明に好適であるとみなされる何れの背面保護材も、太陽電池の背面における保護として採用されてもよい。本発明において好ましい背面保護材は、良好な機械的特性及び耐候性を有するものである。本発明において好ましい背面保護材は、ポリフッ化ビニルの層を有するポリエチレンテレフタレートである。背面保護材が封入層の下に存在する(背面保護層及び封入の双方が存在する場合)のが、本発明において好ましい。
フレーム材は、機械的支持を与えるために太陽電池の外部に付け足されてもよい。フレーム材は当業者に周知であり、かつ当業者に公知であり、本発明に好適であるとみなされる何れのフレーム材も、フレーム材料として採用されてもよい。本発明において好ましいフレーム材はアルミニウムである。
[ソーラーパネル]
少なくとも、上記の通り、特に、前述した実施形態のうちの少なくとも1つに従って得られた太陽電池、及び少なくともさらに1つの太陽電池を含むモジュールによって、上述した目的のうちの少なくとも1つを達成することに貢献される。本発明において多数の太陽電池は、モジュールと呼ばれる集合的な配置を形成するために、空間的に及び電気的に接続され、配置され得る。本発明において好ましいモジュールは、いくつかの形態、好ましくはソーラーパネルとして知られる長方形表面の形態をとり得る。太陽電池を電気的に接続する多種多様な方法は、集合的な配置を形成するための、そのような電池を機械的に配置し、固定する多種多様な方法と同様に、当業者にとっては周知であり、かつ当業者に公知であり、本発明に好適であるとみなされるそのような如何なる方法も採用されてもよい。本発明において好ましい方法は、出力比に対して低質量、出力比に対して低容量、及び高い耐久性に至るものである。アルミニウムは、本発明に係る太陽電池の機械的な固定には好ましい材料である。
ここで、本発明は、ただ説明するためであり、本発明の範囲を制限すると見なさない図を使って説明される。
図1aは、太陽電池のための一般的なn型層配置の断面図を示し、図1bは、太陽電池のための一般的なp型層配置の断面図を示す。 図2は、太陽電池のための一般的なHIT型層配置の断面図を示す。 図3は、クラッキングのない電極線を示す。図3bはクラッキングを有する電極線を示す。 図4は、比接触抵抗を測定するための下記の試験方法のためのカット(cuts)の配置を示す。 図5は、銀粒子の存在を示す、処理済みのウェーハの例となる電子顕微鏡写真の断面図の一部を示す。 図6は、プラグ電極における銀粒子の例となる二峰性の直径分布を示す。
図1aは、太陽電池のための一般的なn型層配置の断面図を示す。前面側から開始すると、101は電極であり、好ましくはフィンガー(fingers)の形態、好ましくは本発明に係る方法による本発明に係るペーストから得られる。102は、抗反射層又はパッシベーション層のような、1以上の任意の層である。103は、pドープされた前面層、好ましくはシリコン層である。104は、nドープされた背面層、好ましくはシリコン層である。105は背面電極であり、好ましくは本発明に係る方法による本発明に係るペーストから得られる。
図1bは、太陽電池のための一般的なp型層配置の断面図を示す。前面側から開始すると、101は電極であり、好ましくはフィンガー(fingers)の形態、好ましくは本発明に係る方法による本発明に係るペーストから得られる。102は、抗反射層又はパッシベーション層のような1以上の任意の層である。104は、nドープされた前面層、好ましくはシリコン層である。103は、pドープされた背面層、好ましくはシリコン層である。105は背面電極であり、好ましくは本発明に係る方法による本発明に係るペーストから得られる。
図2は、太陽電池のための一般的なHIT型層配置の断面図を示す。101は電極であり、好ましくはフィンガー(fingers)の形態、好ましくは本発明に係る方法による本発明に係るペーストから得られる。201は、酸化インジウムスズのような、好ましくは透明な導電層を含む1以上の任意の層である。202は、ファーストドーピング(first doping)型、n型又はp型、好ましくはp型の非晶質前面層、好ましくはシリコン層である。203は、真性(ノンドープ)非晶質の前面層、好ましくはシリコン層である。204は、結晶性の層、好ましくはシリコン層、好ましくはn型ドープである。205は、真性(ノンドープ)非晶質の背面層である。206は、非晶質の前面層、好ましくはシリコン層、又は前記ファーストドーピング(first doping)型に対して反対のドーピング型、好ましくはn型ドープである。105は、背面電極、好ましくは本発明に係る方法による本発明に係るペーストから得られる。
図3aは、クラッキングのない太陽電池における一片を示す。401は基板表面である。402は電極片である。電極片402にクラックは存在しない。
図3bは、クラッキングを有する太陽電池における一片を示す。401は基板表面である。402は電極片である。クラック403は、電極片402に存在する。
図4は、比接触抵抗を測定するための下記の試験方法のための、ウェーハ420におけるフィンガーライン422に対するカット(cuts)421の位置を示す。
図5は、銀粒子の存在を示す処理済みのウェーハの例となる電子顕微鏡写真の断面図の一部を示す。銀含有に対応する領域601は、非銀含有に対応する領域602と対照的に、同定され、電極における粒子の直径分布を測定するための試験方法に挙げられたアルゴリズムに従って、減少した直径の円で満たされた。明瞭さの目的のために、図5は、フィッティングアルゴリズム(fitting algorithm)が、50μmから0.5μmまで減少させた直径で部分的に埋められた点で画像を示す。図5は、試験方法に従って分析された領域の例となる部分を示す(1mm)。
図6は、前記試験方法により測定されたプラグ電極における銀粒子の例となる二峰性の直径分布を示す。極大値801は、対応する分離Δが存在する。測定は0〜50μmの範囲において0.1μm間隔で実施された(明瞭さのため、グラフの低い直径部分のみ示される)。グラフは、頻度の合計が1であるように正規化される。
[試験方法]
本発明において、以下の試験方法が使用される。試験方法がない場合、本願の最先の出願日に最も近い、測定される特徴のためのISO試験方法が適用される。明確な測定条件がない場合、温度298.15K(25℃、77°F)及び絶対圧力100kPa(14.504psi、0.986atm)として標準大気温度及び圧力(SATP)が適用される。
[比表面積]
銀粒子の比表面積を測定するためのBET測定は、DIN ISO 9277:1995に従う。SMART方法(適応性の投与速度(Adaptive dosing Rate)を用いる吸蔵方法(Sorption Method))に従って動作するGemini 2360(Micromeritics製)が、測定に使用される。対照物質として、BAMから入手できるα酸化アルミニウムCRM BAM−PM−102(Bundesanstalt fur Materialforschung und −prufung)が使用される。溶接棒は、デッドボリュームを減らすために対照及びサンプルキュベットに加えられる。キュベットは、BET装置に取り付けられる。窒素ガスの飽和蒸気圧(N5.0)が測定される。サンプルは、溶接棒を有するキュベットが完全に充填され、デッドボリュームの最小が作成されるこのような量で、ガラスキュベット内に秤量される。サンプルは、乾燥するために80℃で2時間保管される。冷却後、サンプルの質量が記録される。サンプルを含有するガラスキュベットは、前記測定装置に取り付けられる。サンプルからガスを抜くために、ポンプに吸い込まれる物質がないような選択された排気速度で排気される。排気後のサンプルの質量は計算に使用される。デッドボリュームはヘリウムガス(He4.6)を用いて測定される。ガラスキュベットは、液体窒素槽を用いて77Kまで冷却される。吸着用の、77Kで0.162nmの分子断面積を有するN5.0が計算に使用される。5つの測定点の多点解析が実施され、得られた比表面積はm/gで示される。
[粘度]
粘度測定はThermo Fischer Scientific Corpを用いて実施された。「Haake Rheostress 600」は、地面板(ground plate)MPC60 Ti及びコーンプレート(cone plate)C 20/0,5° Ti、並びにソフトウェア「Haake RheoWin Job Manager 4.30.0」を備えた。距離をゼロポイント(zero point)に調整した後、測定に十分なペーストサンプルが、地面板(ground plate)に置かれた。コーン(cone)が、0.026mmの間隙距離で測定位置に移動され、及び過剰の材料がスパチュラを用いて除去された。サンプルは3分間で25℃に平衡化され、回転性の測定(rotational measurement)が開始した。せん断速度は48秒及び50の等距離の測定地点で0から20s−1まで増加し、さらに312秒及び156の等距離の測定地点で150s−1まで増加した。150s−1のせん断速度で60秒の待機時間後、せん断速度が312秒及び156の等距離の測定地点で150s−1から20s−1まで減少し、さらに48秒及び50の等距離の測定地点で0まで減少した。マイクロトルク補正(micro torque correction)、マイクロストレス調整(micro stress control)、及び質量慣性補正(mass inertia correction)が作動した。粘度は下方へのせん断ランプ(downward shear ramp)の100s−1のせん断速度での測定値として得られる。
[粒径の測定(d10、d50、d90、及び粉末の粒子分布)]
粒子の粒径測定は、ISO 13317−3:2001に従って実施される。X線透過式重力沈降法(X−ray gravitational technique)に従って動作するソフトウェアWin 5100 V2.03.01(Micromeritics製)を備えるSedigraph 5100が測定に用いられる。約400〜600mgのサンプルが50mlガラスのビーカーに秤量され、40mLのSedisperse P−11(Micromeritics製、約0.74〜0.76g/cm密度及び約1.25〜1.9mPa・sの粘度を有する)が懸濁液として加えられる。磁気撹拌子が懸濁液に加えられる。サンプルは、8分間、パワーレベル(power level)2で動作される超音波プローブSonifer 250(Branson製)を用いて分散され、懸濁液が同時に撹拌子で撹拌される。この前処理されたサンプルは、機器内に設置され、測定が始まる。懸濁液の温度が記録され(典型的な範囲24℃〜45℃)、この温度で分散溶液のために測定された粘度の算出データが使用される。サンプルの密度及び質量を用いる(銀について10.5g/cm)粒径分布関数が測定される。d50、d10、及びd90は、粒子分布関数から直接的に読み取れる。多峰性の大きさの評価のため、直径に対する質量頻度の分布プロットが生成され、ピーク極大がそれらから測定される。
[粒径測定(ペーストにおけるd10、d50、d90、及び粒子分布)]
ペーストにおける金属粒子の粒度分布の測定のため、以下の手順が続けられた。有機部分は、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ジクロロメタン、クロロホルム、ヘキサンのような溶媒を用いて溶媒抽出により除去される。これは、Soxhlet装置、又は当業者に公知の分離、沈降、及び濾過技術の組合せを用いて実施され得る。前記金属粒子を除いた無機部分は、塩酸等のような水性非酸化性酸を用いる処理の後、水性の水酸化ナトリウム、水酸化カリウム等のような塩基を用いる処理に続いて、水性フッ化水素酸を用いる処理により除去される。これは、Soxhlet装置、又は分離、沈降、及び濾過技術の組合せを用いて実施され得る。最後の工程において、残された金属粒子が、脱イオン水で洗浄され、乾燥される。得られた粉末の粒径は、上記粉末の説明の通り測定される。
[ドーパントレベル]
ドーパントレベルは、二次イオン質量分析を用いて測定される。
[接着性]
試験される太陽電池サンプルは市販の鑞着台M300−0000−0901(Somont GmbH製、ドイツ)に固定される。Bruker Spalekのはんだリボン(ECu+62Sn−36Pb−2Ag)がフラックス(flux)Kester 952S(Kester製)で被覆され、フィンガーライン又はバスバー上にはんだリボンをプレスする、12の加熱されたピンの力を加えることにより、試験されるフィンガーライン又はバスバーに接着される。加熱されたピンは、280℃の温度に設定され、サンプルが配置されるはんだ付けプレヒートパネル(preheat plate)は175℃の温度に設定される。室温まで冷却後、サンプルはGP Stable−Test Pro tester(GP Solar GmbH、ドイツ)に取り付けられる。電池表面に固定されたリボン部分と、引かれるリボン部分とが、45°の角度をなすように、リボンは、試験ヘッド(testing head)で固定され、100mm/sの速度で引かれる。バスバー/フィンガーを除去するのに必要とされる力は、単位ニュートンで測定される。このプロセスは、フィンガー/バスバーに沿って10の均等間隔点で接触が繰り返され、それぞれの端部で1回の測定を含む。その手段で、10の結果が得られる。
[走査型電子顕微鏡法(SEM)及びエネルギー分散型X線分析(EDX)]
太陽電池は、注目する領域が明らかになるようにカットされる。カットされたサンプルは、埋封材料で満たされた容器内に置かれ、注目する領域が上になるように向けられる。埋封材料として、EpoFix(Struers)が用いられ、説明書に従い混ぜられる。8時間、室温で養生した後、サンプルはさらに処理され得る。第1の工程において、サンプルは、250rpmで炭化ケイ素紙180−800(Struers)を用いて、Labopol−25(Struers)で研磨される。さらなる工程において、サンプルは、Retroforce−4、MD−Piano 220及びMD−Allegroクロス、及びDP−Spray P 3μmダイアモンドスプレーを備えたRotopol−2(全てStruers製)を用いて磨かれる。炭素層を有するコーティングは、カーボン糸0.27 g/m E419ECO(Plano GmbH製)を用い、2mbarの圧力でMed 010(Balzers)を用いて実施される。その試験は、20kVの加速電圧、及び約3×10−6mbarの圧力で、電界放射型電極を備えたZeiss Ultra 55(Zeiss)を用いて実施された。関連のある領域の画像が撮られ、画像解析ソフトウェアImageJ Version 1.46r(Wayne Rasbandによる、JAVA(登録商標)における画像処理及び解析、http://rsb.info.nih.gov/ij)を用いて解析された。銀粒子を同定するために、EDXにおいて約3.4keVでAg信号の強度(intense Ag signal)が用いられ、10の銀粒子を同定し、それらの10の粒子について平均SEMグレースケール強度が使用され、SEM画像からさらなる銀粒子を同定した。
[電極における銀の粒径]
電極により断面図が生成され、1mmの領域を有する電極内部からの3つの方形断面サンプルを提供するため、前述のSEM試験の項で説明した通り処理された。それぞれのサンプルについて、銀に対応する領域がSEMの項で説明した通り定義された。減少した直径の円は、以下のアルゴリズムに従って、画像上に描かれた:
1.画像上に0.01μm間隔の四角格子を重ねる。
2.それぞれの地点は、銀の領域に対応するか否かである。銀に対応するそれぞれの地点は、最初、円が割り当てられる。銀に対応しない地点は、円が割り当てられない。
3.50μmの直径で始める。
4.格子の左上の地点から開始し、一番上の列の左から右の地点を通して処理し、それぞれの地点について工程4a.を実行する。上から下の列へ続けて繰り返し、最終的に右下に到着すると、全ての地点が処理される。
4a.それぞれの地点に対して、もし、地点の現在の直径(初めは50μm)の半分に等しい距離の範囲内の全ての地点が、円に割り当てられることができる場合、次いで:
i.現在の格子点を中心とする現在の直径に等しい直径で円を描画する。
ii.円に割り当てることができないような地点から現在の直径の半分に等しい距離の範囲内の全ての地点に印を付ける。
iii.直径の現在の値(初めは、0に設定される)について、累積度数カウンターを1ずつ増加させる。
5.粒径の特定の値について全ての格子点を通して実施される際、直径に対して値を付けるための累積度数カウンターを記録し、現在の直径を0.1μmずつ減少させ、及び直径に対して値を付けるのに用いる工程4.を実施する。一度、工程4.が、直径の全ての値について50μmから0.1μmまで下げて完了されると、アルゴリズムは完了である。
一度、円描画アルゴリズムが実施されると、累積度数カウンターの値は、対応する直径の2乗で乗算されると質量度数分布(mass frequency distribution)によく合致し、最良適合曲線(best fit curve)は数値的な最小二乗回帰を用いるデータ及び計算される最大の位置に適合した。その結果は、3つのサンプルの平均として与えられた。もし、3つのサンプルの結果の標準偏差が平均値の15%より大きいなら、1つのさらなるサンプルが採用され、全てのサンプルの平均が与えられた。このプロセスは、標準偏差が平均値の15%未満となるまで繰り返された。
[比ライン抵抗率(Specific line resistivity)]
フィンガーの1cmのライン抵抗率(line resistivity)を、GP Solar社製のソフトウェアパッケージ「GP−4 Test 1.6.6 Pro」を備えた「GP4−Test.Pro」を用いて測定した。測定について、四端子測定法(4 point measuring principle)が適用された。それゆえ、2つの外部プローブは定電流(10mA)を適用し、2つの内部プローブは電圧を測定する。ライン抵抗率(line resistivity)は、Ω/cm単位で、オームの法則(Ohmic law)により減算される。測定された1cmのフィンガーラインの断面が、cyberTechnologies GmbH社製ソフトウェアパッケージ「Scan CT 7.6」を備えた「Cyberscan Vantage」(モデル2V4−C/5NVK)を用いて測定された。比ライン抵抗率は、μΩ・cm単位で、ライン抵抗率及び同じ1cmの養生されたフィンガーラインの断面の定量された値を用いて算出された。
[比接触抵抗]
22±1℃の温度で空調された室内で、測定前に全ての設備及び材料が平衡化される。HIT太陽電池の前面に養生された銀電極(ITOで組織化及び養生された)比接触抵抗を測定するために、GP Solar GmbH社製「GP−4 Test 1.6.6 Pro」ソフトウェアパッケージを備えた「GP4−Test Pro」が用いられる。この装置は四端子測定法(4 point measuring principle)を適用し、伝送長法(transfer length method)(TLM)により、比接触抵抗を評価する。比接触抵抗を測定するため、ウェーハの2つの1cm幅のストライプは、図4に示されるように、ウェーハの印刷されたフィンガーラインに垂直にカットされる。それぞれのストライプの正確な幅は0.05mmの精度を有するマイクロメーターで測定される。焼成された銀フィンガーの幅は、ストライプの3つの異なる点で、Keyence Corp社の、広範囲ズームレンズVH−Z100Rを備えたデジタル顕微鏡「VHX−600D」で測定された。それぞれのスポットにおいて、幅は、2点測定(2−pointmeasurement)により10回測定される。フィンガー幅の値は、30の全ての測定の平均である。互いに、フィンガー幅、ストライプ幅、及び印刷されたフィンガーの距離は、比接触抵抗を算出するためのソフトウェアパッケージにより用いられる。電流の測定は、14mAに設定する。接触する6の隣接したフィンガーラインに好適な多接点の測定ヘッド(part no. 04.01.0016)が導入され、6の隣接したフィンガーに接触させられる。その測定は、それぞれのストライプに均等に分散された5つの点で実施される。測定の開始後、ソフトウェアはストライプのそれぞれの点で比接触抵抗の値(mΩ・cm)を測定する。10点全ての平均が比接触抵抗の値として採用される。
[クラッキング]
印刷及び養生された銀ペーストラインは、100倍の倍率で、VH−Z100Rレンズを備えたKeyence VHX−600D顕微鏡(Keyence Deutschland GmbH製)を用いて、クラックについて光学的に観察された。フィンガーラインでクラックが発見された場合、ペーストは「−」と評価され、クラックを有さない場合「+」と評価された。クラックを有する及び有さない電池の例は、図3a及び3bに示される。
[分子量]
熱可塑性ポリマーの分子量は、GPC(ゲル透過クロマトグラフィ)の後、光散乱によって測定される。種々の熱可塑性ポリマーのために、適切なカラムの選択、溶離液、圧力、及び温度のようなGPC条件、2012年8月29日における特定の熱可塑性ポリマーに有効なDIN手順が適用されるだろう。もしDIN手順に反すると示されないのであるなら、PSS Polymer Standards Service GmbH製の市販のSECcurityオンライン多角度光散乱装置検出器SLD7000(B)は、光散乱による分子量の測定のために使用されるだろう。
ここで、本発明は、単に具体例を意図し、本発明の範囲を制限することと見なされない実施例を使って説明する。
[実施例1−ペーストの調製−熱硬化性]
Kenwood Major Titaniumミキサーを用いることにより、ペーストを、有機ビヒクル(表1)、フレーク状の銀粉末(Metalor Techologies製AC−4044、上記の試験方法に従ったピーク極大値1.8μm)又はより小さい球形のAg粉末(Dowa Electronics Materials CO.LTD.製TZ−A04、上記の試験方法に従ったピーク極大値0.3μm)又はより大きい球形の銀粉末(Ferro Electronic MaterialSystems製銀粉末11000−06、上記の試験方法に従ったピーク極大値1.5μm)、又はこれらの混合物、及びDCP(Sigma−Aldrich製、ジクミルペルオキシド)の適切な量の成分を均質化することで生成した。ペーストを、第1のギャップについて20μm及び第2のギャップについて10μmまでギャップが次第に減少する第1のギャップ120μm及び第2のギャップ60μmを有するステンレス鋼ロールを備える3−ロールミルExact 80 Eに、均質になるまで数回通した。
[熱硬化性系の組成]
Figure 0006457390
[ペーストの例]
Figure 0006457390
[実施例2−太陽電池の製造及び電池特性の測定]
ペーストを、Roth&Rau AGから入手できる単結晶のHIT太陽電池の前駆体に施した。ウェーハの寸法は、約156×156mmであった。使用する太陽電池をアルカリエッチングによりテクスチャ加工(textured)し、その表面にはITO(酸化インジウムスズ)層が存在した。実施例のペーストを、以下のスクリーンパラメータで設定された、半自動のスクリーンプリンタXI SL、EKRA Automatisierungssysteme(Asys Group製)を用いて、テクスチャ処理した(texturized)ITO層にスクリーン印刷した:290メッシュ、20μmワイヤー厚さ、18μmメッシュ上のエマルション、72フィンガー、60μmフィンガー開口(finger opening)、3バスバー、1.5mmバスバー幅。印刷されたパターンを有する装置を、印刷後オーブンにて10分間、200℃で養生した。
[電極の内容物の分析]
電極における銀の直径分布の極大値を、前記試験方法に従って測定した。表3で分かり得るように、約1.5μm及び約0.3μmでの極大値を、本発明の実施例で観察した。
[ペーストの性能]
Figure 0006457390
[実施例3−ペーストの調製−熱可塑性]
Kenwood Major Titaniumミキサーを用いることにより、ペーストを、熱可塑性ポリマー(1.ポリエステル:Bostik、Inc.製Vitel 2700B;2.アクリレート:Dow Chemical製Paraloid B44;3.フェノキシ:InChem Corp.製PKHH)及び有機溶媒として、Sigma Aldrich製ブチルカルビトールアセテート、並びに銀粒子(表5)(フレーク状の銀粉末(Metalor Techologies製AC−4044、上記の試験方法に従ったピーク極大値1.8μm)又はより小さい球形の銀粉末(Dowa Electronics Materials CO.LTD.製TZ−A04、上記の試験方法に従ったピーク極大値0.3μm)又はより大きい球形の銀粉末(Ferro Electronic Material Systems製銀粉末1 1000−06、上記の試験方法に従ったピーク極大値1.5μm)又はこれらの混合物)を含む、適切な量の有機ビヒクル(表4)を均質化することで生成した。
ペーストを、第1のギャップについて20μm及び第2のギャップについて10μmまでギャップが次第に減少する、120μm及び第2のギャップ60μmを有するステンレス鋼ロールを備える3−ロールミルExact 80 Eに、均質になるまで数回通した。
[熱可塑性ポリマー系の組成]
Figure 0006457390
[ペーストの例]
Figure 0006457390
[実施例4−太陽電池の製造及び電池特性の測定]
ペーストを、単結晶のHIT太陽電池の前駆体に施した。ウェーハの寸法は、156×156mmであった。使用する太陽電池をアルカリエッチングによりテクスチャ加工し、その表面にはITO(酸化インジウムスズ)層が存在した。実施例のペーストを、以下のスクリーンパラメータで設定された、半自動のスクリーンプリンタXI SL、EKRA Automatis−ierungssysteme(Asys Group製)を用いて、テクスチャ処理したITO層にスクリーン印刷した:290メッシュ、20μmワイヤー厚さ、18μmメッシュ上のエマルション、72フィンガー、60μmフィンガー開口、3バスバー、1.5mmバスバー幅。印刷されたパターンを有する装置を、印刷後オーブンにて10分間、200℃で養生した。
[電極の内容物の分析]
表6で分かり得るように、マイクロ及びナノ銀と組み合わせて施した全ての熱可塑性ポリマー系は、より大きい直径を有する銀フレークに比べて、良好な性能を有する光電池となる。
[ペーストの性能]
Figure 0006457390
101 前面電極
102 任意の前面層
103 p型ドープ層
104 n型ドープ層
105 背面電極
201 酸化インジウムスズのような任意の前面層
202 前面ドープ非晶質の層
203 前面真性非晶質の層
204 結晶性の層
205 背面真性非晶質の層
206 背面ドープ非晶質の層
401 基板表面
402 電極片
403 クラック
420 ウェーハ
421 カット
422 フィンガーライン
601 銀含有に対応する領域
602 非銀含有に対応する領域
801 直径分布における極大値

Claims (39)

  1. 以下の前駆体部分:
    a.ペースト、
    b.基板
    を含む前駆体であり、
    前記基板は、シリコンウェーハであり、
    前記ペーストは、以下のペースト成分:
    a.銀粒子、
    b.ポリマー系、を含み;
    前記銀粒子が、1nm〜1μm未満の範囲に少なくとも第1の極大、及び1μm〜1mm未満の範囲に少なくともさらなる極大を有する、粒径の多峯性分布を有し;
    前記第1の極大と、前記さらなる極大との差が少なくとも0.3μmであり;
    1μm〜1mmの範囲の直径を有する銀粒子の少なくとも50wt%が球形であり、
    1nm〜1μm未満の範囲の直径を有する銀粒子の質量と、1μm〜1mm未満の範囲の直径を有する銀粒子の質量との比が、1:1〜10:1の範囲である、前駆体
  2. 前記銀粒子が二峰性の直径分布を有する、請求項1に記載の前駆体
  3. 前記銀粒子の直径分布が、100〜800nmの範囲に少なくとも1つの極大を有する、請求項1又は2に記載の前駆体
  4. 前記銀粒子の直径分布が、1〜10μmの範囲に少なくとも1つの極大を有する請求項1〜3の何れか1項に記載の前駆体
  5. 前記ポリマー系が熱硬化性系である、請求項1〜4の何れか1項に記載の前駆体
  6. 前記熱硬化性系が少なくとも2つの不飽和基を有する架橋化合物を含む、請求項5に記載の前駆体
  7. 前記架橋化合物がアクリレートに基づく、請求項6に記載の前駆体
  8. 前記架橋化合物が脂肪酸又はその誘導体に基づく、請求項6又は7に記載の前駆体
  9. 前記架橋化合物が、前記ペーストの総重量に基づき1〜10wt%の範囲で存在する、請求項7又は8に記載の前駆体
  10. 前記熱硬化性系がラジカル発生剤を含む、請求項5〜9の何れか1項に記載の前駆体
  11. 前記ラジカル発生剤が過酸化物部分を含む、請求項10に記載の前駆体
  12. 前記熱硬化性系がモノ不飽和化合物を含む、請求項5〜11の何れか1項に記載の前駆体
  13. 前記ポリマー系が熱可塑性ポリマー系であり、
    前記熱可塑性ポリマー系が熱可塑性ポリマーを含む、請求項1〜12の何れか1項に記載の前駆体
  14. 前記熱可塑性ポリマーが以下のパラメータ:
    a.−120〜110℃の範囲のガラス転移温度;
    b.少なくとも前記ガラス転移温度より5℃高い融解温度;又は
    c.10,000〜150,000g/molの範囲の数平均分子量、のうちの少なくとも1つを示す、請求項13に記載の前駆体
  15. 前記熱可塑性ポリマーが、前記熱可塑性ポリマー系の総重量に基づき、5〜45wt%の範囲の量で前記熱可塑性ポリマー系に存在する、請求項13又は14に記載の前駆体
  16. 前記熱可塑性ポリマーが、ポリエステル、アクリレートポリマー、フェノキシポリマーからなる群から選択される、請求項13〜15の何れか1項に記載の前駆体
  17. 前記ポリエステルがポリエステル骨格を含む、請求項16に記載の前駆体
  18. 前記ポリマー系が溶媒を含む、請求項1〜17の何れか1項に記載の前駆体
  19. 前記溶媒が、熱可塑性ポリマー系における非プロトン性極性溶媒、及び熱硬化性系におけるプロトン性極性溶媒である、請求項18に記載の前駆体
  20. 前記溶媒が酢酸塩部分を含む、請求項18又は19に記載の前駆体
  21. 前記溶媒が、熱可塑性ポリマー系の総重量に基づき、少なくとも50wt%の量で熱可塑性ポリマー系に存在する、請求項18〜20の何れか1項に記載の前駆体
  22. 前記溶媒が、前記ペーストの総重量に基づき、0.1〜20wt%の範囲の量で前記ペーストに存在する、請求項18〜21の何れか1項に記載の前駆体
  23. 前記熱硬化性系の総重量に基づき、65wt%以下の溶媒が、前記熱硬化性系に存在する、請求項5〜12及び18〜20の何れか1項に記載の前駆体
  24. 前記ペーストの総重量に基づき、15wt%以下の溶媒が前記ペーストに存在する、請求項1〜12、18〜20、及び23の何れか1項に記載の前駆体
  25. 1nm〜1μm未満の範囲の直径を有する銀粒子の総重量の、1μm〜1mm未満の範囲の直径を有する銀粒子の総重量に対する比が、1〜9の範囲である、請求項1〜24の何れか1項に記載の前駆体
  26. 銀粒子の総重量が、前記ペーストの総重量に基づき、60〜95wt%の範囲である、請求項1〜25の何れか1項に記載の前駆体
  27. 前記ペーストの総重量に基づき、1wt%より多いガラスを含有しない、請求項1〜26の何れか1項に記載の前駆体
  28. 前記基板が温度感受性である、請求項1〜27の何れか1項に記載の前駆体。
  29. 前記基板がpn接合を含む、請求項28の何れか1項に記載の前駆体。
  30. 前記基板が第1のシリコン層を含み、
    前記第1のシリコン層の50wt%未満が結晶性である、請求項29の何れか1項に記載の前駆体。
  31. 前記基板がさらなるシリコン層を含み、
    前記さらなるシリコン層の少なくとも50wt%が結晶性である、請求項30に記載の前駆体。
  32. 前記基板が透明な導電層を含む、請求項31の何れか1項に記載の前駆体。
  33. 前記透明な導電層が、導電性ポリマー、導電性のオキシドからなる群から選択される請求項32に記載の前駆体。
  34. 装置を製造するためのプロセスであって、以下の工程:
    i)請求項33の何れか1項に記載の前駆体を提供する工程;
    ii)前記装置を得るために前駆体を加熱する工程
    を少なくとも含む、プロセス。
  35. 前記加熱する工程が70〜250℃の範囲の温度で実施される、請求項34に記載の装置を製造するためのプロセス。
  36. 前記装置が太陽電池である、請求項34又は35に記載のプロセス。
  37. 請求項3436の何れか1項に記載のプロセスによって得られた装置。
  38. i)基板、ii)電極を、装置の部分として少なくとも含み、
    前記基板は、シリコンウェーハであり、
    前記電極に存在する金属粒子が1nm〜1μm未満の範囲に少なくとも第1の極大、及び1μm〜1mm未満の範囲に少なくともさらなる極大を有する多峯性直径分布を有し;
    前記第1の極大と前記さらなる極大とが、少なくとも0.3μm離れ;
    1μm〜1mm未満の範囲の直径を有する銀粒子の少なくとも50wt%が球形であり、
    1nm〜1μm未満の範囲の直径を有する銀粒子の質量と、1μm〜1mm未満の範囲の直径を有する銀粒子の質量との比が、1:1〜10:1の範囲である装置。
  39. 請求項38に記載の少なくとも1つの装置、及び少なくともさらに別の装置を含む、モジュール。
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