JP6438586B2 - アンテナ溝を備えた電子製品金属シェル、電子製品金属シェル製造方法 - Google Patents

アンテナ溝を備えた電子製品金属シェル、電子製品金属シェル製造方法 Download PDF

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Description

[関連出願の相互参照]
本出願は、2014年12月26日に中華人民共和国の国家知的所有権局(SIPO)に提出された中国特許出願第201410837112.2号の優先権および利益を主張するものであり、その全内容は参照により本明細書に組み込まれる。
本発明は、電子製品製造技術、特に、アンテナ溝を有する電子製品金属シェルおよびその製造方法に関する。
現在、シェルにより引き起こされる信号遮蔽の問題を解決するため、金属製の携帯電話のような電子製品は上側および下側の二つのアンテナスロットを備えたHTC ONE、側部アンテナスロットを備えたiPhone(登録商標) 5/5s等のように、ほとんど、携帯電話の後部カバー上におけるスロット法および射出成形を採用している。しかし、上述した電子製品金属シェル(たとえば金属製携帯電話の後部カバー)におけるアンテナスロットの作成および射出成形の方法は電子製品金属シェルの全体構造に損傷を引き起こし、電子製品金属シェルの外観の清潔さおよび連続性に影響を与える。その一方、電子製品金属シェル(たとえば金属製携帯電話の後部カバー)の目に見えるプラスチックは電子製品金属シェル全体の金属質感も損なう。
本開示は、電子製品金属シェルにおいてアンテナスロットの作成および射出成形の従来技術の方法が電子製品金属シェルの外観の清潔さおよび連続性に影響を与え、電子製品金属シェル全体の金属質感を損なうという問題を解決し、アンテナ溝を有する電子製品金属シェルおよびその製造方法を提供する。本開示の電子製品金属シェル上に形成されるアンテナ溝は肉眼では外観上において見えず、電子製品金属シェルの外観面の表面層は損なわれず、アルミニウムシェルの外観面は平坦で綺麗であり、電子製品金属シェルの外観の清潔さおよび連続性を維持し、電子製品金属シェル全体の金属質感を損なわない。
前述した目的を達するために本開示の第1の態様は、アンテナ溝を有する電子製品金属シェルを提供する。前記電子製品金属シェルは、金属層および硬質陽極酸化層を有し、前記硬質陽極酸化層は、前記金属層の表面上で覆われ、ステップは、前記電子製品金属シェルの第1の面上に形成され、前記ステップは、前記電子製品金属シェルの厚さ方向において前記金属層の第1の面に覆われる前記硬質陽極酸化層、および、前記金属層の一部を貫通し、前記アンテナ溝は前記ステップ内に配置され、前記厚さ方向において前記金属層の残存部分を貫通して前記金属層の第2の面上に覆われる前記硬質陽極酸化層の内側を露出させ、非導電材が前記アンテナ溝内に充てんされる。
本開示の第2の態様は、アンテナ溝を有する電子製品金属シェルの製造方法を提供する。方法は、(1)金属層に硬質陽極化成処理およびインク吹き付け処理を順に施し、硬質陽極酸化層およびインク層をそれぞれ形成し、(2)ステップ(1)の後に得られた製品の第1の面上にステップを形成し、前記ステップ内にアンテナ溝を形成し、前記ステップはステップ(1)の後に得られた記製品の厚さ方向において前記金属層の第1の面に覆われる前記硬質陽極酸化層、および、前記金属層の一部を貫通し、前記アンテナ溝は前記厚さ方向において前記金属層の残存部分を貫通して前記金属層の第2の面の上に覆われる前記硬質陽極酸化層の内側を露出させ、(3)ステップ(2)の後に得られた製品の前記インク層を除去し、前記アンテナ溝内に非導電材を充てんするステップを有する。
本開示の第2の態様の実施例は、電子製品金属シェルを提供する。電子製品金属シェルは、上述した方法により得られる。
本開示の電子製品金属シェル上に形成されるアンテナ溝は肉眼では外観上において見えず、電子製品金属シェルの外観面の表面層は損なわれず、アルミニウムシェルの外観面は平坦で綺麗であり、電子製品金属シェルの外観の清潔さおよび連続性を維持し、電子製品金属シェル全体の金属質感を損なわない。
本開示の実施例のこれらの態様および利点を以下の詳細な説明を参照して詳細に説明する。
本開示の実施例1のステップパターンに対応するインク層および硬質陽極酸化層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図 本開示の実施例1のステップを得るためにアルミニウム層の一部を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図 本開示の実施例1のアルミニウム溝スリットをラジウム彫刻し、アンテナ溝スリットに対応するインク層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図 本開示の実施例1のインク層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図 本開示の実施例1のインク層を形成した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図 本開示の実施例1のステップパターンをラジウム彫刻した後のアルミニウムシェルの図 本開示の実施例1のステップをエッチングした後のアルミニウムシェルの図 本開示の実施例1のアンテナ溝スリットをラジウム彫刻した後のアルミニウムシェルの図
本開示の実施例を詳細に説明する。記載する実施例は、本開示を全体として理解するための説明および事例である。実施例は本開示を制限しない。
本開示の実施例の第1の態様において、電子製品金属シェルが設けられ、電子製品金属シェルは金属層3および硬質陽極酸化層1を有する。硬質陽極酸化層1は金属層の面で覆われる。ステップ4は、電子製品金属シェルの第1の面上に形成される。ステップは、電子製品金属シェルの厚さ方向において金属層の第1の面に覆われる硬質陽極酸化層および金属層の一部を貫通する。アンテナ溝5は、ステップ内に配置され、厚さ方向において金属層の残存部分を貫通し、金属層の第2の面に覆われる硬質陽極酸化層の内側を露出させる。非導電材はアンテナ溝に充てんされる。
本開示の実施例において、ステップ4は幅が約1.0〜5.0cm、深さが約0.1〜0.8mmの凹部を有する。たとえば、一つの実施例において凹部の深さは約0.3〜0.5mmである。
本開示の実施例において、電子製品金属シェルの第1の面と向かい合うアンテナ溝5の開口は上側開口として定義され、アンテナ溝5は上側開口がアンテナ溝の下側開口より大きい台形の断面構造を有する。上側開口は幅が約2〜5mm、たとえば約2mm〜5mmであり、下側開口の幅は約0.8〜1.4mm、たとえば約0.8〜1.2mmである。
本開示の実施例において、金属層3の厚さは約0.5〜1.5mm、たとえば約0.5〜0.6mmであり、硬質陽極酸化層1の厚さは約0.02〜0.06mm、たとえば約0.04〜0.06mmである。
本開示の実施例において、金属層3はアルミニウム合金層を含む。
本開示の実施例において、電子製品金属シェルは携帯電話金属シェルまたはタブレットコンピュータ金属シェルを含む。
本開示の実施例の第2の態様において、アンテナ溝を備えた電子製品金属シェルの製造方法を提供する。アンテナ溝を備えた電子製品金属シェルの製造方法は、以下のステップを有する。
ステップ(1)で、金属層に硬質陽極化成処理およびインク吹き付け処理を順に施し、硬質陽極酸化層およびインク層をそれぞれ形成する。
ステップ(2)で、ステップ(1)で得られた第1の製品の第1の面上にステップを形成し、ステップ内にアンテナ溝を形成する。ステップは、第1の製品の厚さ方向において金属層の第1の面上に覆われる硬質陽極酸化層および金属層の一部を貫通する。アンテナ溝は、厚さ方向において金属層の残存部分を貫通し、金属層の第2の面上に覆われる硬質陽極酸化層の内側を露出させる。
ステップ(3)で、ステップ(2)の後に第2の製品のインク層を除去し、アンテナ溝内に非導電材を充てんする。
本開示の実施例において、硬質陽極化成処理の工程に特別な限定はなく、技術的に共通して使用される硬質陽極化成処理である。実施例において、ステップ(1)の硬質陽極化成処理は、金属層にアルカリ性エッチング処理、スマット除去処理、酸化処理および封止処理を順に施し、アルカリ性エッチング処理、スマット除去処理、酸化処理および封止処理それぞれの後に洗浄する。本開示の実施例において、洗浄の方法に特別な限定はなく、たとえば脱イオン水による2〜3回の洗浄のように、技術的に共通して使用される洗浄方法である。
本開示の実施例において、アルカリ性エッチング処理の条件に特別な限定はなく、技術的にアルカリ性エッチング処理で共通して使用される条件である。たとえば、実施例において、アルカリ性エッチング処理は、摂氏約50〜70℃の温度で約1〜2分、水酸化ナトリウム、水酸化カリウムおよび水酸化リチウムから構成される群から選択される少なくとも一つを含む、約30〜60g/Lの濃度のエッチング液の条件で行われる。
本開示の実施例において、スマット除去処理の条件に特別な限定はなく、技術的にスマット除去処理で共通して使用される条件である。実施例において、スマット除去処理は摂氏約20〜30℃の温度で約1〜3分、硝酸水溶液を有するスマット除去液で、スマット除去液1Lにつき、硝酸は約130〜270gの含有量(濃度約65〜68wt%の濃度の硝酸が約200〜400mLとほぼ等価である)の条件で行われる。
本開示の実施例において、酸化処理の条件に特に限定はなく、技術的に酸化処理で共通して使用される条件である。実施例において、酸化処理の条件は摂氏約5〜12℃の温度で約30〜50分、正矩形波パルスのインパルス波形で約50〜90%のデューティ比率、約500〜1000Hzの周波数、約2〜7Admの電流密度、硫酸、シュウ酸/リンゴ酸の水溶液を有する酸化溶液で、酸化溶液1Lにつき、硫酸の含有量が約120〜220g、シュウ酸またはリンゴ酸の含有量が約8〜20gの条件で行われる。硫酸、シュウ酸/リンゴ酸の水溶液を有する酸化溶液は、硫酸およびシュウ酸を有する溶液、または硫酸およびリンゴ酸を有する溶液のことをいう。
本開示の実施例において、封止処理の条件は特に限定はなく、技術的に封止処理で共通して使用される条件である。実施例において、封止処理の条件は摂氏約20〜30℃で約2〜3分である。実施例において、シーリング材はニッケルフリーシーリング材、微量ニッケルシーリング材および重金属フリーシーリング材からなる群から選択される少なくとも一つを含む。当業者であれば想到し得るが、硬質陽極化成処理は封止処理後に洗浄処理を行い、洗浄処理後後の乾燥時に硬質陽極酸化層が形成される。乾燥の方法は特に限定はなく、技術的に共通して使用される方法である。たとえば、乾燥は摂氏約20〜30℃の温度で約5〜10分間、オイルフリー圧縮ガスで行われ、これは当業者には公知であるため、詳細な説明は省略する。
本開示の実施例において、インク層2は硬質陽極化成処理後に得られる製品の第1のおよび第2の面上に形成される。
本開示の実施例において、インク吹き付け処理の工程に特に限定はなく、技術的に共通して使用されるインク吹き付け処理である。実施例において、インク吹き付け処理はUVインクを吹き付けて厚さ約30〜60μmのインク層を形成し、摂氏約110〜120℃で約20〜30分間焼き、約1〜2分、紫外線に露光する。
本開示の実施例において、当業者であれば想到し得るが、電子製品金属シェルの第2の面は電子製品金属シェルを完成電子製品で組み立て時に空気に露出される電子製品金属シェルの面のことであり、第1の面は第2の面と反対側の電子製品金属シェルの面である。
また、本開示の実施例において、ステップ(2)のステップの形成は、ステップ(1)の後に得られる第1の製品の第1の面上にステップパターンを形成し、ステップパターンに対応するインク層および硬質陽極酸化層を除去し、ステップを得るために金属層の厚さ方向において金属層の一部を除去する。
本開示の実施例において、電子製品金属シェルの面上の破壊を低減するため、電子製品金属シェルの第2の面上に凸状マークが形成されないことを保証し、堅牢性および硬度をさらに向上させ、また、金属層の一部を除去後の金属層の残存部分は金属層の全体厚さの約20〜80%、好ましくは約20〜40%の厚さを有する。
本開示の実施例において、形成されるステップは幅が約1.0〜5.0cm、深さが約0.1〜0.8mmの凹部を有する。たとえば、凹部は深さ約0.3〜0.5mmを有する。
本開示の実施例において、ステップパターンはラジウム彫刻によりステップ(1)の後に得られる第1の製品の第1の面上に形成される。ラジウム彫刻の工程に特に限定はなく、技術的に共通して使用されるラジウム彫刻である。たとえば、ラジウム彫刻は当業者には公知であるラジウム彫刻機により行われるため、詳細な説明は省略する。
本開示の実施例において、金属層の一部はエッチングにより金属層の厚さ方向において除去される。エッチングの条件は特に限定はなく、技術的に共通して使用されるエッチングの条件である。あるいは、エッチングは酸エッチング液で行われる。酸エッチング液に特に限定はなく、技術的に共通して使用される酸エッチング液である。たとえば、本開示の実施例において、酸エッチング液は三塩化鉄型酸エッチング液、塩化銅型酸エッチング液または塩酸型酸エッチング液である。また、エッチングの条件は摂氏約20〜30℃の温度で約40〜50分間、三塩化鉄および塩酸を含む水溶液を有するエッチング液で、エッチング液は1Lにつき、三塩化鉄の含有量が約800〜1000g、塩酸の含有量が約35〜75g(約36〜38wt%の濃度の約100〜200mLの塩酸とほぼ等価である)である。当業者であれば想到し得るが、エッチングの時間は除去する必要がある金属層の厚さに関係し、除去する必要がある金属層の厚さが大きくなるとエッチングに必要な時間も長くなり、逆に、除去する必要がある金属層の厚さが小さくなるとエッチングに必要な時間も短くなる。
本開示の実施例において、ステップ(2)のステップ内のアンテナ溝の形成は、ステップ状にインクを吹き付け、ステップ内にアンテナ溝スリットを形成してアンテナ溝スリットに対応するインクを除去し、アンテナ溝スリットに対応する金属層を除去して金属層の第2の面上に覆われる硬質陽極酸化層の内側を露出させる。
本開示の実施例において、ステップ(2)ではインクの吹き付け方法に特に限定はなく、技術的に共通して使用されるインク吹き付け方法である。また、ステップ(2)においてインクの吹き付けは、UVインクを吹き付けて厚さ約30〜60μmのインク層を形成し、摂氏約110〜120℃の温度で約20〜30分焼き、約1〜2分、紫外線に露光する。
また、本開示の実施例において、ステップ(2)で形成されるアンテナ溝スリットは幅が約0.02〜0.1mmである。
また、本開示の実施例において、ステップ(2)でアンテナ溝スリットに対応する金属層はエッチングにより除去され、エッチングの条件は摂氏約20〜30℃の温度で約40〜50分、エッチング液は三塩化鉄および塩酸を含む水溶液を有し、エッチング液1Lにつき、三塩化鉄の含有量は約800〜1000g、塩酸の含有量は約35〜75gである。
本開示の実施例において、金属層は銅、マンガンのような他の金属不純物を有する。よって、本開示の実施例において、アンテナ溝を備えた電子製品金属シェルの製造方法はさらにエッチング後に洗浄し、洗浄後に黒膜を剥がして露出された黒不純物を除去し、再び洗浄する。洗浄の方法に特に限定はなく、技術的に共通して使用される洗浄方法であり、たとえば脱イオン水による2〜3回の洗浄である。
本開示の実施例において、電子製品金属シェルの第1の面に対応するアンテナ溝の開口は上側開口として定義され、アンテナ溝は上側開口がアンテナ溝の下側開口より大きい台形の断面構造を有する。金属層の一部を除去した後、金属層の残存部分が金属層の全体厚さの約20〜80%の厚さの場合、開口の幅は約2〜5mmであり、下側開口の幅は約0.8〜1.4mmである。金属層の残存部分が金属層の全体厚さの約20〜40%の厚さの場合、上側開口の厚さは約2〜3mmであり、下側開口の厚さは約0.8〜1.2mmである。
本開示の実施例において、当業者であれば想到し得るが、除去したインク層は電子製品金属シェルの面上に覆われる全体インク層を有する。インク層の除去方法に特に限定はなく、インク層が除去できる限り、技術的に共通して使用される方法である。また、インク層は中性ペンキ除去剤により除去してもよい。中性ペンキ除去剤に特に限定はなく、技術的に共通して使用される中性ペンキ除去剤であり、たとえば、中性ペンキ除去剤は溶剤型ペンキ除去剤、塩素化炭化水素型ペンキ除去剤および水溶性ペンキ除去剤からなる群から選択される少なくとも一つである。
当業者であれば想到し得るが、本開示の実施例において、アンテナ溝を備えた電子製品金属シェルの製造方法はさらに、インク層除去後で非導電材を充てんする前に第2の製品を洗浄、乾燥する。乾燥の方法に特に限定はなく、技術的に共通して使用される乾燥方法である。たとえば、乾燥は摂氏約80〜120℃の温度、約5〜10分の時間を有する条件で行われる。また、非導電材の充てんの方法に特に限定はなく、非導電材に特に限定はない。また、非導電材はUV接着剤、加熱硬化接着剤および低温硬化性接着剤からなる群から選択される少なくとも一つである。
本開示の実施例において、得られる電子製品金属シェルの外観を美しくするため、非導電材はステップ内に充てんされる。
本開示の例において、金属層はアルミニウム合金層を含む。
本開示の実施例において、電子製品金属シェルは携帯電話金属シェルまたはタブレットコンピュータ金属シェルを含む。
本開示の第3の態様により、上述した方法から得られる電子製品金属シェルを提供する。
後述する実施例は、さらに本開示を説明する。実施例は本開示を限定しない。
以下の実施例において、厚さ0.5mmのseries5のアルミニウム合金はFUJIAN NANPING ALUMINUM CO.,LTDから購入した。ニッケルフリー封止材、微量ニッケルシーリング材および重金属フリー封止材はSHENZHEN ODM TECHNOLOGY CO.,LTDから購入した。塩素化炭化水素ペンキ除去剤はDONGGUAN SIHUISURFACE PROCESSING TECHNOLOGY CO.,LTDから購入した。UV接着剤は日本ASEC会社から購入し、UV接着剤はAS−210604Cである。ラジウム彫刻機はSHENZHEN GDLASER TECHNOLOGY CO.,LTDから購入し、ラジウム彫刻機はFM20Dである。
本実施例は、電話のアンテナ溝を有するアルミニウムシェルおよび本開示のアルミニウムシェルの製造方法を説明する。
ステップ(1)のアルカリ性エッチング処理は、厚さ0.5mmのseries5アルミニウム層3を切断し、5×3.5cmの大きさのアルミニウム板を形成する。そして、アルミニウム板を摂氏60℃で1.5分、40g/Lの濃度の水酸化ナトリウム溶液でアルカリ性エッチング処理を施し、アルミニウム板を脱イオン水により2回洗浄する。
ステップ(2)のスマット除去処理は、ステップ(1)で得られたアルミニウム板に摂氏25℃で2分、スマット除去溶液(スマット除去液1Lにつき濃度65wt%の濃縮硝酸を300mL)でスマット除去処理を施し、アルミニウム板を脱イオン水で2回洗浄する。
ステップ(3)の酸化処理は、ステップ(2)で得られたアルミニウム板を酸化槽に置き、硬質酸化処理を行う。硬質酸化処理は正矩形波パルスで摂氏10℃、デューティ比率50%、周波数800Hzおよび電流密度2A/dmで40分行い(酸化溶液1Lにつき、98wt%の硫酸の含有量が200g、シュウ酸の含有量が15g、その他は水)、アルミニウム板を脱イオン水で2回洗浄する。
ステップ(4)の封止処理は、ステップ(3)で得られたアルミニウム板を摂氏25℃で2.5分、ニッケルフリーシーリング材で封止し、アルミニウム板は脱イオン水で2回洗浄し、アルミニウム板を摂氏25℃でオイルフリー圧縮ガスにより乾燥させ、厚さ35μmの硬質陽極酸化層1を得る。
ステップ(5)のインク吹き付け処理は、UVインクをステップ(4)で得られたアルミニウム板の面上に吹き付けて厚さ50μmのインク層2を形成し、アルミニウム板を摂氏115℃で25分焼き、1.5分、紫外線に露光する。
ステップ(6)は、ラジウム彫刻機によりステップ(5)で得られたアルミニウム板の第1の面上にラジウム彫刻してステップパターンに対応するインク層および硬質陽極酸化層を除去する。そして、アルミニウム板を摂氏25℃で45分、エッチング液(1Lのエッチング液につき、三塩化鉄六水和物の含有量が900g、37wt%塩酸の含有量が150mL、その他は水)でエッチングしてアルミニウム板の厚さ方向においてアルミニウム層の部分(0.3mm)を除去して幅2.5cm、深さ0.3mmのステップ4を得る。そして、アルミ板を脱イオン水で2回洗浄し、露出された黒不純物層を剥がし、アルミニウム板を脱イオン水で再び2回洗浄する。
ステップ(7)は、UVインクをステップ上に吹き付けて厚さ40μmのインク層を形成し、アルミ板を摂氏115℃で25分焼き、紫外線に1.5分露出させる。そして、幅0.06mmのアンテナ溝スリットをステップ内でラジウム彫刻してアンテナ溝スリットに対応するインク層を除去し、アルミニウム溝スリットに対応するアルミニウム層を摂氏25℃で35分、エッチング液(エッチング1Lにつき、三塩化鉄六水和物の含有量が900g、37wt%の塩酸の含有量が150mL、残りが水)でエッチングする。観察により、アルミニウム板の第2の面上に覆われる硬質陽極酸化層の内側が露出される。そして、アルミニウム板を脱イオン水により2回洗浄し、露出された黒不純物層を剥がし、アルミニウム板を脱イオン水により再び2回洗浄する。そして、上側開口がアンテナ溝の下側開口より大きい台形の断面構造を有するアンテナ溝が得られ、上側開口の幅は3mm、下側開口の幅は1.2mmである。
ステップ(8)は、アルミニウム板の後部面上のインク層を塩素化炭化水素溶剤ペンキ除去剤により除去し、アルミ板を脱イオン水により2回洗浄し、摂氏100℃で7分焼く。
ステップ(9)は、UV接着剤をアンテナ溝内に充てんする。
本実施例において、ステップパターンに対応するインク層および硬質陽極酸化層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図を図1に示し、ステップを得るためにアルミニウム層の一部を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図を図2に示し、アルミニウム溝スリットをラジウム彫刻し、アンテナ溝スリットに対応するインク層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図を図3に示し、インク層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図を図4に示し、インク層を形成した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図を図5に示し、ステップパターンをラジウム彫刻した後のアルミニウムシェルの図を図6に示し、ステップをエッチングした後のアルミニウムシェルの図を図7に示し、アンテナ溝スリットをラジウム彫刻した後のアルミニウムシェルの図を図8に示す。
本実施例によりアルミニウムシェル上に形成されたアンテナ溝は肉眼では外観上で見えず、アルミニウムシェルの外観面の表面層を損なわず、アルミニウムシェルの外観面は平坦で綺麗であり、これは電話本体の外観の清潔さおよび連続性を維持し、電話本体全体の金属質感を損なわない。
本実施例は、電話のアンテナ溝を有するアルミニウムシェルおよび本開示のアルミニウムシェルの製造方法を説明する。
ステップ(1)のアルカリ性エッチング処理は、厚さ0.5mmのseries5アルミニウム層3を切断し、5×3.5cmの大きさのアルミニウム板を形成する。そして、アルミニウム板を摂氏50℃で2分、30g/Lの濃度の水酸化カリウム溶液でアルカリ性エッチング処理を施し、アルミニウム板を脱イオン水により2回洗浄する。
ステップ(2)のスマット除去処理は、ステップ(1)で得られたアルミニウム板に摂氏20℃で1分、スマット除去溶液(スマット除去液1Lにつき濃度65wt%の濃縮硝酸を400mL)でスマット除去処理を施し、アルミニウム板を脱イオン水で2回洗浄する。
ステップ(3)の酸化処理は、ステップ(2)で得られたアルミニウム板を酸化槽に置き、硬質酸化処理を行う。硬質酸化処理は正矩形波パルスで摂氏5℃、デューティ比率50%、周波数500Hzおよび電流密度2A/dmで50分行い(酸化溶液1Lにつき、98wt%の硫酸の含有量が220g、シュウ酸の含有量が20g、その他は水)、アルミニウム板を脱イオン水で2回洗浄する。
ステップ(4)の封止処理は、ステップ(3)で得られたアルミニウム板を摂氏20℃で3分、微量ニッケルシーリング材で封止し、アルミニウム板は脱イオン水で2回洗浄し、アルミニウム板を摂氏25℃でオイルフリー圧縮ガスにより乾燥させ、厚さ40μmの硬質陽極酸化層1を得る。
ステップ(5)のインク吹き付け処理は、UVインクをステップ(4)で得られたアルミニウム板の面上に吹き付けて厚さ40μmのインク層2を形成し、アルミニウム板を摂氏110℃で30分焼き、1分、紫外線に露光する。
ステップ(6)は、ラジウム彫刻機によりステップ(5)で得られたアルミニウム板の第1の面上にラジウム彫刻してステップパターンに対応するインク層および硬質陽極酸化層を除去する。そして、アルミニウム板を摂氏20℃で50分、エッチング液(1Lのエッチング液につき、三塩化鉄六水和物の含有量が800g、37wt%塩酸の含有量が100mL、その他は水)でエッチングしてアルミニウム板の厚さ方向においてアルミニウム層の部分(0.4mm)を除去して幅2.5cm、深さ0.4mmのステップ4を得る。そして、アルミ板を脱イオン水で2回洗浄し、露出された黒不純物層を剥がし、アルミニウム板を脱イオン水で再び2回洗浄する。
ステップ(7)は、UVインクをステップ上に吹き付けて厚さ30μmのインク層を形成し、アルミ板を摂氏110℃で30分焼き、紫外線に1分露出させる。そして、幅0.02mmのアンテナ溝スリットをステップ内でラジウム彫刻してアンテナ溝スリットに対応するインク層を除去し、アルミニウム溝スリットに対応するアルミニウム層を摂氏20℃で35分、エッチング液(エッチング1Lにつき、三塩化鉄六水和物の含有量が800g、37wt%の塩酸の含有量が100mL、残りが水)でエッチングする。観察により、アルミニウム板の第2の面上に覆われる硬質陽極酸化層の内側が露出される。そして、アルミニウム板を脱イオン水により2回洗浄し、露出された黒不純物層を剥がし、アルミニウム板を脱イオン水により再び2回洗浄する。そして、上側開口がアンテナ溝の下側開口より大きい台形の断面構造を有するアンテナ溝が得られ、上側開口の幅は2mm、下側開口の幅は0.8mmである。
ステップ(8)は、アルミニウム板の後部面上のインク層を塩素化炭化水素溶剤ペンキ除去剤により除去し、アルミ板を脱イオン水により2回洗浄し、摂氏80℃で10分焼く。
ステップ(9)は、UV接着剤をアンテナ溝内に充てんする。
本実施例において、ステップパターンに対応するインク層および硬質陽極酸化層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、ステップを得るためにアルミニウム層の一部を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、アルミニウム溝スリットをラジウム彫刻し、アンテナ溝スリットに対応するインク層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、インク層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、インク層を形成した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、ステップパターンをラジウム彫刻した後のアルミニウムシェルの図、ステップをエッチングした後のアルミニウムシェルの図、アンテナ溝スリットをラジウム彫刻した後のアルミニウムシェルの図は実施例1で示した図と同じである。
本実施例によりアルミニウムシェル上に形成されたアンテナ溝は肉眼では外観上で見えず、アルミニウムシェルの外観面の表面層を損なわず、アルミニウムシェルの外観面は平坦で綺麗であり、これは電話本体の外観の清潔さおよび連続性を維持し、電話本体全体の金属質感を損なわない。
本実施例は、タブレットコンピュータのアンテナ溝を有するアルミニウムシェルおよび本開示のアルミニウムシェルの製造方法を説明する。
ステップ(1)のアルカリ性エッチング処理は、厚さ0.5mmのseries5アルミニウム層3を切断し、5×3.5cmの大きさのアルミニウム板を形成する。そして、アルミニウム板を摂氏70℃で1分、60g/Lの濃度の水酸化カリウム溶液でアルカリ性エッチング処理を施し、アルミニウム板を脱イオン水により2回洗浄する。
ステップ(2)のスマット除去処理は、ステップ(1)で得られたアルミニウム板に摂氏30℃で3分、スマット除去溶液(スマット除去液1Lにつき濃度65wt%の濃縮硝酸を200mL)でスマット除去処理を施し、アルミニウム板を脱イオン水で2回洗浄する。
ステップ(3)の酸化処理は、ステップ(2)で得られたアルミニウム板を酸化槽に置き、硬質酸化処理を行う。硬質酸化処理は正矩形波パルスで摂氏12℃、デューティ比率90%、周波数1000Hzおよび電流密度7A/dmで30分行い(酸化溶液1Lにつき、98wt%の硫酸の含有量が120g、シュウ酸の含有量が8g、その他は水)、アルミニウム板を脱イオン水で2回洗浄する。
ステップ(4)の封止処理は、ステップ(3)で得られたアルミニウム板を摂氏30℃で2分、微量ニッケルシーリング材で封止し、アルミニウム板は脱イオン水で2回洗浄し、アルミニウム板を摂氏25℃でオイルフリー圧縮ガスにより乾燥させ、厚さ50μmの硬質陽極酸化層1を得る。
ステップ(5)のインク吹き付け処理は、UVインクをステップ(4)で得られたアルミニウム板の面上に吹き付けて厚さ60μmのインク層2を形成し、アルミニウム板を摂氏120℃で20分焼き、2分、紫外線に露光する。
ステップ(6)は、ラジウム彫刻機によりステップ(5)で得られたアルミニウム板の第1の面上にラジウム彫刻してステップパターンに対応するインク層および硬質陽極酸化層を除去する。そして、アルミニウム板を摂氏30℃で40分、エッチング液(1Lのエッチング液につき、三塩化鉄六水和物の含有量が1000g、37wt%塩酸の含有量が200mL、その他は水)でエッチングしてアルミニウム板の厚さ方向においてアルミニウム層の部分(0.35mm)を除去して幅2.5cm、深さ0.35mmのステップ4を得る。そして、アルミ板を脱イオン水で2回洗浄し、露出された黒不純物層を剥がし、アルミニウム板を脱イオン水で再び2回洗浄する。
ステップ(7)は、UVインクをステップ上に吹き付けて厚さ60μmのインク層を形成し、アルミ板を摂氏120℃で20分焼き、紫外線に2分露出させる。そして、幅0.1mmのアンテナ溝スリットをステップ内でラジウム彫刻してアンテナ溝スリットに対応するインク層を除去し、アルミニウム溝スリットに対応するアルミニウム層を摂氏30℃で30分、エッチング液(エッチング1Lにつき、三塩化鉄六水和物の含有量が1000g、37wt%の塩酸の含有量が200mL、残りが水)でエッチングする。観察により、アルミニウム板の第2の面上に覆われる硬質陽極酸化層の内側が露出される。そして、アルミニウム板を脱イオン水により2回洗浄し、露出された黒不純物層を剥がし、アルミニウム板を脱イオン水により再び2回洗浄する。そして、上側開口がアンテナ溝の下側開口より大きい台形の断面構造を有するアンテナ溝が得られ、上側開口の幅は2.5mm、下側開口の幅は1.0mmである。
ステップ(8)は、アルミニウム板の後部面上のインク層を塩素化炭化水素溶剤ペンキ除去剤により除去し、アルミ板を脱イオン水により2回洗浄し、摂氏120℃で5分焼く。
ステップ(9)は、UV接着剤をアンテナ溝内に充てんする。
本実施例において、ステップパターンに対応するインク層および硬質陽極酸化層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、ステップを得るためにアルミニウム層の一部を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、アルミニウム溝スリットをラジウム彫刻し、アンテナ溝スリットに対応するインク層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、インク層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、インク層を形成した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、ステップパターンをラジウム彫刻した後のアルミニウムシェルの図、ステップをエッチングした後のアルミニウムシェルの図、アンテナ溝スリットをラジウム彫刻した後のアルミニウムシェルの図は実施例1で示した図と同じである。
本実施例によりアルミニウムシェル上に形成されたアンテナ溝は肉眼では外観上で見えず、アルミニウムシェルの外観面の表面層を損なわず、アルミニウムシェルの外観面は平坦で綺麗であり、これは電話本体の外観の清潔さおよび連続性を維持し、電話本体全体の金属質感を損なわない。
実施例の方法は、ステップ(6)を除いて実施例1に類似しており、アルミニウム板を摂氏25℃で20分、エッチング液(1Lのエッチング液につき、三塩化鉄六水和物の含有量が900g、37wt%塩酸の含有量が150mL、その他は水)でエッチングしてアルミニウム板の厚さ方向においてアルミニウム層の部分(0.1mm)を除去してステップ4を得る。
本実施例において、ステップパターンに対応するインク層および硬質陽極酸化層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、ステップを得るためにアルミニウム層の一部を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、アルミニウム溝スリットをラジウム彫刻し、アンテナ溝スリットに対応するインク層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、インク層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、インク層を形成した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、ステップパターンをラジウム彫刻した後のアルミニウムシェルの図、ステップをエッチングした後のアルミニウムシェルの図、アンテナ溝スリットをラジウム彫刻した後のアルミニウムシェルの図は実施例1で示した図と同じである。形成されるステップは幅が2.5cm、深さが0.1mmであり、アルミニウム溝の上側開口は幅5mm、アンテナ溝の下側開口は幅1.4mmである。
本実施例によりアルミニウムシェル上に形成されたアンテナ溝は肉眼では外観上で見えず、アルミニウムシェルの外観面の表面層を損なわず、アルミニウムシェルの外観面は平坦で綺麗であり、これは電話本体の外観の清潔さおよび連続性を維持し、電話本体全体の金属質感を損なわない。
実施例の方法は、ステップ(6)を除いて実施例1に類似しており、アルミニウム板を摂氏25℃で15分、エッチング液(1Lのエッチング液につき、三塩化鉄六水和物の含有量が900g、37wt%塩酸の含有量が150mL、その他は水)でエッチングしてアルミニウム板の厚さ方向においてアルミニウム層の部分(0.05mm)を除去してステップ4を得る。
本実施例において、ステップパターンに対応するインク層および硬質陽極酸化層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、ステップを得るためにアルミニウム層の一部を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、アルミニウム溝スリットをラジウム彫刻し、アンテナ溝スリットに対応するインク層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、インク層を除去した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、インク層を形成した後のアルミニウムシェルの断面構造概略図、ステップパターンをラジウム彫刻した後のアルミニウムシェルの図、ステップをエッチングした後のアルミニウムシェルの図、アンテナ溝スリットをラジウム彫刻した後のアルミニウムシェルの図は実施例1で示した図と同じである。形成されるステップは幅が2.5cm、深さが0.05mmであり、アルミニウム溝の上側開口は幅6mm、アンテナ溝の下側開口は幅1.6mmである。
本実施例によりアルミニウムシェル上に形成されたアンテナ溝は肉眼では外観上で見えず、アルミニウムシェルの外観面の表面層を損なわず、アルミニウムシェルの外観面は平坦で綺麗であり、これは電話本体の外観の清潔さおよび連続性を維持し、電話本体全体の金属質感を損なわない。
アンテナ溝の上側開口およびアンテナ溝の下側開口の幅がより小さいと、アルミニウムシェルの堅固性および硬度がより良好であることは当業者であれば想到し得る。実施例1を実施例4および5と比較することにより、ステップ(6)においてアルミニウム層の一部を除去した後、残りのアルミニウム層の厚さがアルミニウム層の全体厚さの約20〜40%の場合、エッチング後に形成されるアンテナ溝の上側開口および下側開口の幅は明らかに低減され、アルミニウムシェルの堅固性および硬度を効果的に向上することができる。
(試験例)
実施例1〜5から得られたアルミニウムシェルに信号遮蔽試験を受けた。試験方法は、二つの導電位置を見えないアンテナ溝によりそれぞれ分離されるアルミニウムシェルの二つの部分でラジウム彫刻し、二つの導電位置の間の導電率を試験した。実施例1〜5の全ての試験結果は、二つの導電位置の間の非導電性を示した。したがって、電子製品金属セルの外観の清潔さおよび連続性を維持し、電子製品金属シェル本体の金属質感を損なわないだけではなく、電子製品金属シェル本体の信号遮蔽問題も解決する。
以上、実施例を詳細に説明したが、当業者であれば、上記実施例は本開示に限定されず、各種の簡単な変形例は技術的思想および本開示の原理の範疇内において行われ、これらの全ての簡単な変形例は本開示の範疇であることは想到し得る。
また、上述した実施例において説明した技術的特徴は、矛盾することなく、適切な方法で組み合わせ、不要な繰り返しを回避するため、さまざまな可能な組み合わせの方法は本開示において説明しない。
また、本開示のさまざまな各実施形態も本開示の思想および原理から逸脱することなく組み合わせることも可能であり、これも本開示の内容であると了解される。
1………硬質陽極酸化層
2………インク層
3………金属層、アルミニウム層
4………ステップ
5………アンテナ溝

Claims (14)

  1. アンテナ溝を有する電子製品金属シェルであって、
    前記電子製品金属シェルは、金属層および硬質陽極酸化層を有し、
    前記硬質陽極酸化層は、前記金属層の表面上で覆われ、
    ステップは、前記電子製品金属シェルの第1の面上に形成され、
    前記ステップは、前記電子製品金属シェルの厚さ方向において前記金属層の第1の面に覆われる前記硬質陽極酸化層、および、前記金属層の一部を貫通し、
    前記アンテナ溝は前記ステップ内に配置され、前記厚さ方向において前記金属層の残存部分を貫通して前記金属層の第2の面上に覆われる前記硬質陽極酸化層の内側を露出させ、
    非導電材が前記アンテナ溝内に充てんされることを特徴とする電子製品金属シェル。
  2. 前記ステップは、幅が1.0〜5.0cmおよび深さが0.1〜0.8mmの凹部を有することを特徴とする請求項1に記載の電子製品金属シェル。
  3. 前記電子製品金属シェルの第1の面と向かい合う前記アンテナ溝の開口は上側開口として定義され、前記アンテナ溝は前記上側開口が前記アンテナ溝の下側開口より大きい台形の断面構造を有し、前記上側開口は幅が2〜5mmであり、前記下側開口の幅は0.8〜1.4mmであることを特徴とする請求項1または2に記載の電子製品金属シェル。
  4. 前記金属層の厚さは0.5〜1.5mmであり、前記硬質陽極酸化層の厚さは0.02〜0.06mmであることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の電子製品金属シェル。
  5. (1)金属層に硬質陽極化成処理およびインク吹き付け処理を順に施し、硬質陽極酸化層およびインク層をそれぞれ形成し、
    (2)ステップ(1)の後に得られた製品の第1の面上にステップを形成し、前記ステップ内にアンテナ溝を形成し、前記ステップはステップ(1)の後に得られた記製品の厚さ方向において前記金属層の第1の面に覆われる前記硬質陽極酸化層、および、前記金属層の一部を貫通し、前記アンテナ溝は前記厚さ方向において前記金属層の残存部分を貫通して前記金属層の第2の面の上に覆われる前記硬質陽極酸化層の内側を露出させ、
    (3)ステップ(2)の後に得られた製品の前記インク層を除去し、前記アンテナ溝内に非導電材を充てんするステップを有することを特徴とするアンテナ溝を有する電子製品金属シェルの製造方法。
  6. ステップ(2)において、前記ステップの形成は、ステップ(1)の後に得られた前記製品の前記第1の面上にステップパターンを形成し、前記ステップパターンに対応する前記インク層および前記硬質陽極酸化層を除去し、前記金属層の厚さ方向において前記金属層の一部を除去して前記ステップを得ることを特徴とする請求項5に記載の方法。
  7. 前記金属層の一部を除去した後、前記金属層の前記残存部分の厚さは前記金属層の全体厚さの20〜80%であることを特徴とする請求項6に記載の方法。
  8. 前記金属層の前記一部は、エッチングにより前記金属層の前記厚さ方向において除去され、前記エッチングは20〜30℃の温度で40〜50分、1Lにつき、三塩化鉄の含有量が800〜1000g、および、塩酸の含有量が35〜75gである、三塩化鉄および塩酸を有する水溶液を有するエッチング液で行われることを特徴とする請求項6に記載の方法。
  9. ステップ(2)において、前記ステップ内の前記アンテナ溝の形成は、前記ステップ上にインクを吹き付け、前記ステップ内にアンテナ溝スリットを形成して前記アンテナ溝スリットに対応する前記インクを除去し、前記アンテナ溝スリットに対応する前記金属層を除去して前記金属層の前記第2の面上に覆われる前記硬質陽極酸化層の前記内側を露出させることを特徴とする請求項5乃至8のいずれかに記載の方法。
  10. インクの吹き付けは、UVインクを吹き付けて厚さ30〜60μmのインク層を形成し、110〜120℃で20〜30分焼き、1〜2分、紫外線に露光することを特徴とする請求項9に記載の方法。
  11. 形成された前記アンテナ溝スリットは、幅が0.02〜0.1mmであることを特徴とする請求項9に記載の方法。
  12. 前記アンテナ溝スリットに対応する前記金属層はエッチングにより除去され、前記エッチングは20〜30℃の温度で40〜50分、1Lにつき、三塩化鉄の含有量が800〜1000g、および、塩酸の含有量が35〜75gである、三塩化鉄および塩酸を有する水溶液を有するエッチング液で行われることを特徴とする請求項9に記載の方法。
  13. ステップ(1)において、前記硬質陽極化成処理は、前記金属層にアルカリ性エッチング処理、スマット除去処理、酸化処理および封止処理を順に施し、前記アルカリ性エッチング処理、前記スマット除去処理、前記酸化処理および前記封止処理それぞれの後に洗浄することを特徴とする請求項5乃至12のいずれかに記載の方法。
  14. ステップ(1)において、前記インク吹き付け処理は、UVインクを吹き付けて厚さ40〜60μmのインク層を形成し、110〜120℃で20〜30分焼き、1〜2分、紫外線に露光することを特徴とする請求項5乃至13のいずれかに記載の方法。
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