JP6426848B2 - 応力軽減mems構造及びパッケージ - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 40
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 32
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims description 17
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 claims description 8
- 238000009966 trimming Methods 0.000 claims description 8
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 5
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 5
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 32
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 5
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 239000007779 soft material Substances 0.000 description 3
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000699 topical effect Effects 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012858 packaging process Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000004549 pulsed laser deposition Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 1
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
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- B81B7/0032—Packages or encapsulation
- B81B7/0045—Packages or encapsulation for reducing stress inside of the package structure
- B81B7/0048—Packages or encapsulation for reducing stress inside of the package structure between the MEMS die and the substrate
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- B81C1/00—Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate
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- B81C1/00—Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate
- B81C1/00015—Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate for manufacturing microsystems
- B81C1/00261—Processes for packaging MEMS devices
- B81C1/00325—Processes for packaging MEMS devices for reducing stress inside of the package structure
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B81C—PROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
- B81C1/00—Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate
- B81C1/00436—Shaping materials, i.e. techniques for structuring the substrate or the layers on the substrate
- B81C1/00523—Etching material
- B81C1/00547—Etching processes not provided for in groups B81C1/00531 - B81C1/00539
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B2201/00—Specific applications of microelectromechanical systems
- B81B2201/02—Sensors
- B81B2201/0264—Pressure sensors
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81C—PROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
- B81C2201/00—Manufacture or treatment of microstructural devices or systems
- B81C2201/01—Manufacture or treatment of microstructural devices or systems in or on a substrate
- B81C2201/0101—Shaping material; Structuring the bulk substrate or layers on the substrate; Film patterning
- B81C2201/0128—Processes for removing material
- B81C2201/013—Etching
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
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- Pressure Sensors (AREA)
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Claims (25)
- 第1面及び第2面を有するセンサーにして、前記第2面が前記第1面から離間して配され、前記第2面が、また、パッケージ面から離間して配され、前記第1面と前記パッケージ面の間に配される、センサーと、
第1及び第2支持部にして、前記第1及び第2支持部それぞれが閉じた構造を含み、前記第1支持部が、前記第2面の中央領域を周囲し、前記第2支持部が前記第1支持部を周囲する、第1及び第2支持部を備え、
前記第1及び第2支持部それぞれが前記第2面から前記パッケージ面に延び、
前記第1及び第2支持部それぞれが、前記第2面の一部のみの上に配され、またそこに動作可能に接続され、
前記第1及び第2支持部それぞれが、パッケージ−センサー相互作用により生じる応力を低減するように構成され、
前記第1及び第2支持部それぞれが、2つのサブ構成部分として、前記第2面から前記第2面と前記パッケージ面の間の所定位置まで延びる第1サブ構成部分、及び、前記所定位置から前記パッケージ面まで延びる第2サブ構成部分を備え、前記第1サブ構成部分の断面積が、前記第2サブ構成部分の断面積よりも小さい、システム。 - 前記第1及び第2支持部それぞれが中空シリンダー構造を備える、請求項1に記載のシステム。
- 前記第1及び第2支持部それぞれが、前記第2面の近傍の前記センサーの部分と同一の材料を含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記第2面、前記パッケージ面、及び前記第1及び第2支持部の間に配置された柔軟材料を更に備える、請求項1に記載のシステム。
- 前記第1及び第2支持部それぞれが、前記パッケージ面と同一の材料を含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記第1及び第2支持部の一方の幅が、前記第1及び第2支持部の他方の幅よりも小さい、請求項1に記載のシステム。
- 前記パッケージ面と前記第1及び第2支持部の少なくとも一つの間に封止材料が塗布される:前記封止材料は、気密シールを提供するように構成される、請求項1に記載のシステム。
- 前記第1及び第2支持部の少なくとも一つが前記パッケージ面にボンディングされる、請求項1に記載のシステム。
- 前記第1及び第2支持部それぞれが、前記第2面から離れるに応じて変化する断面積を有する;前記断面積が、前記第2面から離れるに応じて増加する、請求項1に記載のシステム。
- 前記シリンダー構造における閉じたカーブが円形ではない、請求項2に記載のシステム。
- 前記閉じたカーブのそれぞれが、複数のセクションを備え、前記複数のセクションの各セクションが、前記複数のセクションの別のセクションに1以上の箇所で接合される;前述の各セクションの傾斜が、前記1以上の箇所の少なくとも一つでの前記別のセクションの傾斜に等しくない、請求項10に記載のシステム。
- パッケージ−センサー相互作用に起因する応力が減じられたセンサーシステムを製造するための方法であって、当該方法が、
センサー構造の第2面及び第2面に配置される1以上の支持構造を形成するために、第1面を有するセンサー構造の構成部分の表面をエッチングすることを含む;前記第2面が、前記第1面から離れて配置される;前記第2面は、またパッケージ面から離れて配置され、前記第1面と前記パッケージ面の間に配される;前記1以上の支持構造は、パッケージ−センサー相互作用により生じる応力を低減するように構成され、
前記1以上の支持構造の各支持構造が、2つのサブ構成部分として、前記第2面から前記第2面と前記パッケージ面の間の所定位置まで延びる第1サブ構成部分、及び、前記所定位置から前記パッケージ面まで延びる第2サブ構成部分を備えるように、各支持構造をトリミングすることを更に含み、前記第1サブ構成部分の断面積が前記第2サブ構成部分の断面積よりも小さい、方法。 - 前記センサーシステムにおいて、前記1以上の支持構造の各支持構造が前記第2面から前記パッケージ面に延びるように、前記1以上の支持構造が構成される、請求項12に記載の方法。
- 前記構成部分がシリコン構成部分である、請求項12に記載の方法。
- 前記1以上の支持構造の第1支持構造が、前記第2面の中央領域を周囲する;及び、次の各支持構造が、先の支持構造を周囲する、請求項12に記載の方法。
- 前記1以上の支持構造の各支持構造が閉じた構造を備える、請求項15に記載の方法。
- 前記1以上の支持構造の各支持構造が中空シリンダー構造を備える、請求項15に記載の方法。
- 前記シリンダー構造における閉じたカーブが円形ではない、請求項17に記載の方法。
- 前記閉じたカーブのそれぞれが、複数のセクションを備え、前記複数のセクションの各セクションが、前記複数のセクションの別のセクションに1以上の箇所で接合される;前述の各セクションの傾斜が、前記1以上の箇所の少なくとも一つでの前記別のセクションの傾斜に等しくない、請求項18に記載の方法。
- 前記1以上の支持構造の各支持構造が、前記第2面から離間するようにある距離を延び、この距離が、前記第2面と前記パッケージ面の間の距離よりも小さい、請求項12に記載の方法。
- 前記1以上の支持構造の各支持構造が前記第2面から離れるに応じて変化する断面積を有するように、各支持構造をトリミングすることを更に含み、前記断面積が前記第2面から離れるに応じて増加する、請求項12に記載の方法。
- 前記1以上の支持構造の各支持構造が前記第2面から離れるに応じて変化する断面積を有するように、各支持構造をトリミングすることを更に含み、前記断面積が前記第2面から離れるに応じて減少する、請求項12に記載の方法。
- 前記第1及び第2支持部それぞれが、前記第2面から離れるに応じて変化する断面積を有する;前記断面積が、前記第2面から離れるに応じて減少する、請求項1に記載のシステム。
- 第1面及び第2面を有するセンサーにして、前記第2面が前記第1面から離間して配され、前記第2面が、また、パッケージ面から離間して配され、前記第1面と前記パッケージ面の間に配される、センサーと、
第1及び第2支持部にして、前記第1及び第2支持部それぞれが閉じた構造を含み、前記第1支持部が、前記第2面の中央領域を周囲し、前記第2支持部が前記第1支持部を周囲する、第1及び第2支持部を備え、
前記第1及び第2支持部それぞれが前記第2面から前記パッケージ面に延び、
前記第1及び第2支持部それぞれが、前記第2面の一部のみの上に配され、またそこに動作可能に接続され、
前記第1及び第2支持部それぞれが、パッケージ−センサー相互作用により生じる応力を低減するように構成され、
前記第1及び第2支持部それぞれが、2つのサブ構成部分:前記第2面から前記第2面と前記パッケージ面の間の所定位置まで延びる第1サブ構成部分、及び、前記所定位置から前記パッケージ面まで延びる第2サブ構成部分を備え、前記第1サブ構成部分の断面積が、前記第2サブ構成部分の断面積よりも大きい、システム。 - パッケージ−センサー相互作用に起因する応力が減じられたセンサーシステムを製造するための方法であって、当該方法が、
センサー構造の第2面及び第2面に配置される1以上の支持構造を形成するために、第1面を有するセンサー構造の構成部分の表面をエッチングすることを含む;前記第2面が、前記第1面から離れて配置される;前記第2面は、またパッケージ面から離れて配置され、前記第1面と前記パッケージ面の間に配される;前記1以上の支持構造は、パッケージ−センサー相互作用により生じる応力を低減するように構成され、
前記1以上の支持構造の各支持構造が、2つのサブ構成部分として、前記第2面から前記第2面と前記パッケージ面の間の所定位置まで延びる第1サブ構成部分、及び、前記所定位置から前記パッケージ面まで延びる第2サブ構成部分を備えるように、各支持構造をトリミングすることを更に含み、前記第1サブ構成部分の断面積が前記第2サブ構成部分の断面積よりも大きい、方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US14/616,017 US9499393B2 (en) | 2015-02-06 | 2015-02-06 | Stress relief MEMS structure and package |
US14/616,017 | 2015-02-06 | ||
PCT/US2016/013613 WO2016126405A1 (en) | 2015-02-06 | 2016-01-15 | Stress relief mems structure and package |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018505064A JP2018505064A (ja) | 2018-02-22 |
JP6426848B2 true JP6426848B2 (ja) | 2018-11-21 |
Family
ID=56564504
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017536959A Expired - Fee Related JP6426848B2 (ja) | 2015-02-06 | 2016-01-15 | 応力軽減mems構造及びパッケージ |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9499393B2 (ja) |
EP (1) | EP3253708A4 (ja) |
JP (1) | JP6426848B2 (ja) |
KR (1) | KR102003945B1 (ja) |
CN (1) | CN107207244B (ja) |
SG (2) | SG10201906105RA (ja) |
TW (1) | TWI664137B (ja) |
WO (1) | WO2016126405A1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9676614B2 (en) | 2013-02-01 | 2017-06-13 | Analog Devices, Inc. | MEMS device with stress relief structures |
US10167189B2 (en) | 2014-09-30 | 2019-01-01 | Analog Devices, Inc. | Stress isolation platform for MEMS devices |
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Family Cites Families (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
2016
- 2016-01-15 JP JP2017536959A patent/JP6426848B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2016-01-15 EP EP16746948.5A patent/EP3253708A4/en not_active Withdrawn
- 2016-01-15 WO PCT/US2016/013613 patent/WO2016126405A1/en active Application Filing
- 2016-01-15 SG SG10201906105RA patent/SG10201906105RA/en unknown
- 2016-01-15 CN CN201680009186.4A patent/CN107207244B/zh active Active
- 2016-01-15 KR KR1020177024738A patent/KR102003945B1/ko active IP Right Grant
- 2016-01-15 SG SG11201704442UA patent/SG11201704442UA/en unknown
- 2016-01-29 TW TW105102939A patent/TWI664137B/zh not_active IP Right Cessation
- 2016-10-19 US US15/297,661 patent/US9850123B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI664137B (zh) | 2019-07-01 |
JP2018505064A (ja) | 2018-02-22 |
SG10201906105RA (en) | 2019-08-27 |
US9850123B2 (en) | 2017-12-26 |
US20160229688A1 (en) | 2016-08-11 |
KR102003945B1 (ko) | 2019-07-25 |
TW201636297A (zh) | 2016-10-16 |
EP3253708A1 (en) | 2017-12-13 |
KR20170109669A (ko) | 2017-09-29 |
US9499393B2 (en) | 2016-11-22 |
US20170036906A1 (en) | 2017-02-09 |
CN107207244A (zh) | 2017-09-26 |
WO2016126405A1 (en) | 2016-08-11 |
EP3253708A4 (en) | 2018-08-01 |
SG11201704442UA (en) | 2017-06-29 |
CN107207244B (zh) | 2020-01-03 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180615 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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