JP6127717B2 - X線分析装置 - Google Patents
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Description
また、基準円の径を変更させるのに対応させて、複数の検出素子の各検出面が位置する円弧の曲率を変更することができる。例えば、分解能を高めたい場合には、基準円の径を大きくし、これに対応させて、複数の検出素子の各検出面が位置する円弧の曲率半径を大きくすることができる。一方、X線強度を高めたい場合には、基準円の径を小さくし、これに対応させて、複数の検出素子の各検出面が位置する円弧の曲率半径を小さくすることができる。このように、各種の分析態様に応じて、複数の検出素子の各検出面が位置する円弧の曲率を適切に変更し、精度よく分析を行うことができる。
2 検出器
3 移動分析機構
11 X線焦点
12 X線距離変更機構
21 検出素子
21a 検出面
22 基板
22a 段差面
23 検出距離変更機構
24 基板変形機構
S 試料
A 中心
A´ 中心
C ディフラクトメータ円
C´ ディフラクトメータ球
Claims (8)
- 試料にX線を照射するためのX線源と、
複数の検出素子を有し、試料において回折したX線を各検出素子で検出する検出器と、
前記X線源及び前記検出器を、試料を中心とする基準円上で相対移動させて分析を行うための移動分析機構とを備え、
前記複数の検出素子の各検出面が、前記基準円に沿って円弧上に位置しており、
前記複数の検出素子を相対移動させることにより、前記複数の検出素子の各検出面が位置する円弧の曲率を変更するための円弧曲率変更機構と、
前記X線源及び前記検出器を相対移動させることにより、試料に対する前記X線源及び前記検出器の距離を同一に保ちながら、前記基準円の径を変更するための基準円変更機構とをさらに備え、
前記円弧曲率変更機構は、前記基準円変更機構により前記基準円の径を変更させるのに対応させて、変更された前記基準円の曲率に対応するように、前記複数の検出素子の各検出面が位置する円弧の曲率を変更することを特徴とするX線分析装置。 - 前記複数の検出素子の各検出面が、前記基準円の中心を向いていることを特徴とする請求項1に記載のX線分析装置。
- 前記検出器は、フレキシブル基板上に前記複数の検出素子を1列に配置することにより構成されており、
前記フレキシブル基板を湾曲させることにより、前記複数の検出素子の各検出面が、前記基準円に沿って円弧上に位置していることを特徴とする請求項2に記載のX線分析装置。 - 前記基準円変更機構は、前記X線源及び前記検出器を同期させて移動させることにより、試料に対する前記X線源及び前記検出器の距離を同一に保つことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載のX線分析装置。
- 試料にX線を照射するためのX線源と、
複数の検出素子を有し、試料において回折したX線を各検出素子で検出する検出器と、
前記X線源及び前記検出器を、試料を中心とする基準球面上で相対移動させて分析を行うための移動分析機構とを備え、
前記複数の検出素子の各検出面が、前記基準球面に沿って球面上に位置しており、
前記複数の検出素子を相対移動させることにより、前記複数の検出素子の各検出面が位置する球面の曲率を変更するための球面曲率変更機構と、
前記X線源及び前記検出器を相対移動させることにより、試料に対する前記X線源及び前記検出器の距離を同一に保ちながら、前記基準球面の径を変更するための基準球面変更機構とをさらに備え、
前記球面曲率変更機構は、前記基準球面変更機構により前記基準球面の径を変更させるのに対応させて、変更された前記基準球面の曲率に対応するように、前記複数の検出素子の各検出面が位置する球面の曲率を変更することを特徴とするX線分析装置。 - 前記複数の検出素子の各検出面が、前記基準球面の中心を向いていることを特徴とする請求項5に記載のX線分析装置。
- 前記検出器は、フレキシブル基板上に前記複数の検出素子を格子状に配置することにより構成されており、
前記フレキシブル基板を湾曲させることにより、前記複数の検出素子の各検出面が、前記基準球面に沿って球面上に位置していることを特徴とする請求項6に記載のX線分析装置。 - 前記基準球面変更機構は、前記X線源及び前記検出器を同期させて移動させることにより、試料に対する前記X線源及び前記検出器の距離を同一に保つことを特徴とする請求項5〜7のいずれか一項に記載のX線分析装置。
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