JP2014228474A5 - - Google Patents
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このような構成によれば、基準円の径を変更させるのに対応させて、複数の検出素子の各検出面が位置する円弧の曲率を変更することができる。例えば、分解能を高めたい場合には、基準円の径を大きくし、これに対応させて、複数の検出素子の各検出面が位置する円弧の曲率半径を大きくすることができる。一方、Ｘ線強度を高めたい場合には、基準円の径を小さくし、これに対応させて、複数の検出素子の各検出面が位置する円弧の曲率半径を小さくすることができる。このように、各種の分析態様に応じて、複数の検出素子の各検出面が位置する円弧の曲率を適切に変更し、精度よく分析を行うことができる。
このような構成によれば、基準球面の径を変更させるのに対応させて、複数の検出素子の各検出面が位置する球面の曲率を変更することができる。例えば、分解能を高めたい場合には、基準球面の径を大きくし、これに対応させて、複数の検出素子の各検出面が位置する球面の曲率半径を大きくすることができる。一方、Ｘ線強度を高めたい場合には、基準球面の径を小さくし、これに対応させて、複数の検出素子の各検出面が位置する球面の曲率半径を小さくすることができる。このように、各種の分析態様に応じて、複数の検出素子の各検出面が位置する球面の曲率を適切に変更し、精度よく分析を行うことができる。
特に、本実施形態では、ディフラクトメータ円Ｃの径を変更させるのに対応させて、複数の検出素子２１の各検出面２１ａが位置する円弧の曲率を変更することができる。例えば、分解能を高めたい場合には、ディフラクトメータ円Ｃの径を大きくし、これに対応させて、複数の検出素子２１の各検出面２１ａが位置する円弧の曲率半径を大きくすることができる。一方、Ｘ線強度を高めたい場合には、ディフラクトメータ円Ｃの径を小さくし、これに対応させて、複数の検出素子２１の各検出面２１ａが位置する円弧の曲率半径を小さくすることができる。このように、各種の分析態様に応じて、複数の検出素子２１の各検出面２１ａが位置する円弧の曲率を適切に変更し、精度よく分析を行うことができる。
特に、本実施形態では、ディフラクトメータ球Ｃ´の径を変更させるのに対応させて、複数の検出素子２１の各検出面２１ａが位置する球面の曲率を変更することができる。例えば、分解能を高めたい場合には、ディフラクトメータ球Ｃ´の径を大きくし、これに対応させて、複数の検出素子２１の各検出面２１ａが位置する球面の曲率半径を大きくすることができる。一方、Ｘ線強度を高めたい場合には、ディフラクトメータ球Ｃ´径を小さくし、これに対応させて、複数の検出素子２１の各検出面２１ａが位置する球面の曲率半径を小さくすることができる。このように、各種の分析態様に応じて、複数の検出素子２１の各検出面２１ａが位置する球面の曲率を適切に変更し、精度よく分析を行うことができる。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013110011A JP6127717B2 (ja) | 2013-05-24 | 2013-05-24 | Ｘ線分析装置 |
| CN201410063011.4A CN104181181B (zh) | 2013-05-24 | 2014-02-24 | X射线分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013110011A JP6127717B2 (ja) | 2013-05-24 | 2013-05-24 | Ｘ線分析装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2014228474A JP2014228474A (ja) | 2014-12-08 |
| JP2014228474A5 true JP2014228474A5 (ja) | 2015-12-17 |
| JP6127717B2 JP6127717B2 (ja) | 2017-05-17 |
Family
ID=51962404
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2013110011A Active JP6127717B2 (ja) | 2013-05-24 | 2013-05-24 | Ｘ線分析装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6127717B2 (ja) |
| CN (1) | CN104181181B (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106680865B (zh) * | 2017-03-08 | 2018-11-06 | 沈阳东软医疗系统有限公司 | 一种射线源组件的漏射线测试方法及设备 |
| JP2018169276A (ja) | 2017-03-29 | 2018-11-01 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線分析装置 |
| EP3425377B1 (en) * | 2017-07-05 | 2022-06-01 | Rigaku Corporation | X-ray detector and technique of controlling the x-ray detector |
| CN110618148B (zh) * | 2019-09-19 | 2021-07-06 | 西安交通大学 | 基于单色x射线单晶应力测量的调节装置及其方法 |
Family Cites Families (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL8300419A (nl) * | 1983-02-04 | 1984-09-03 | Philips Nv | Roentgen analyse apparaat. |
| JPH01285845A (ja) * | 1988-05-12 | 1989-11-16 | Fuji Electric Co Ltd | 回折ｘ線測定装置 |
| JPH01291148A (ja) * | 1988-05-17 | 1989-11-22 | Fuji Electric Co Ltd | 回折ｘ線測定装置 |
| JP2973566B2 (ja) * | 1991-04-25 | 1999-11-08 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線回折装置 |
| JPH05188019A (ja) * | 1991-07-23 | 1993-07-27 | Hitachi Ltd | Ｘ線複合分析装置 |
| JPH05281161A (ja) * | 1992-04-03 | 1993-10-29 | Mc Sci:Kk | Ｘ線回折装置 |
| JP3364042B2 (ja) * | 1995-04-13 | 2003-01-08 | 三菱重工業株式会社 | 高速ｘ線ｃｔシステムの検出器位置決め装置 |
| JPH0968507A (ja) * | 1995-08-31 | 1997-03-11 | Shimadzu Corp | Ｘ線回折装置 |
| US5724401A (en) * | 1996-01-24 | 1998-03-03 | The Penn State Research Foundation | Large angle solid state position sensitive x-ray detector system |
| JPH1114566A (ja) * | 1997-06-23 | 1999-01-22 | Rigaku Corp | Ｘ線回折測定及び蛍光ｘ線測定のためのｘ線装置 |
| JPH11258186A (ja) * | 1998-03-16 | 1999-09-24 | Kansai Shingijutsu Kenkyusho:Kk | Ｘ線による応力測定方法及び装置 |
| JP3703125B2 (ja) * | 1998-07-17 | 2005-10-05 | 株式会社リガク | Ｘ線装置及びｘ線測定方法 |
| JP2000258366A (ja) * | 1999-03-05 | 2000-09-22 | Rigaku Corp | 微小部ｘ線回折装置 |
| JP3548556B2 (ja) * | 2001-12-28 | 2004-07-28 | 株式会社リガク | Ｘ線回折装置 |
| KR20050019620A (ko) * | 2003-08-20 | 2005-03-03 | 삼성전자주식회사 | 마이크로 회절 시스템 및 이를 이용한 시료 분석방법 |
| JP2005121528A (ja) * | 2003-10-17 | 2005-05-12 | Rigaku Corp | ２次元イメージ素子及びそれを利用した２次元イメージ検出装置並びにｘ線分析装置 |
| CN100485373C (zh) * | 2004-07-14 | 2009-05-06 | 西南技术工程研究所 | 短波长x射线衍射测量装置和方法 |
| CN101175439B (zh) * | 2005-05-12 | 2010-05-26 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 执行超短扫描和对最新数据的更强加权的连续计算机层析成像 |
| CN101113961A (zh) * | 2006-07-27 | 2008-01-30 | 上海英迈吉东影图像设备有限公司 | 一种具有x射线背散射和断层扫描的成像系统 |
-
2013
- 2013-05-24 JP JP2013110011A patent/JP6127717B2/ja active Active
-
2014
- 2014-02-24 CN CN201410063011.4A patent/CN104181181B/zh active Active
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