JP6019809B2 - 絶縁電線及びそれを用いたコイル - Google Patents
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Description
R2は芳香族ジアミンからアミノ基を除いた2価の基であり、前記芳香族ジアミンは、4,4'−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニルが含まれている。
R2は芳香族ジアミンからアミノ基を除いた2価の基である。
本実施の形態に係る絶縁電線10は、導体1の周囲に形成された分子中にイミド構造を含む樹脂からなる第1絶縁皮膜2と、該第1絶縁皮膜2の直上に形成された第2絶縁皮膜3と、の少なくとも2層を有する絶縁被覆11を備え、第2絶縁皮膜3はイミド濃度[M1]/[M2]が15%以上36%以下であり、高温の環境下においても高い部分放電開始電圧を有することを特徴とする。
攪拌機、還流冷却管、窒素流入管、および温度計を備えたフラスコに、ピロメリット酸無水物(PMDA、分子量:218)と4,4’−ジアミノジフェニルエーテル(ODA、分子量:200)を等モルとなるように配合し、固形分濃度が15mass%となるようにN−メチル−2−ピロリドン(NMP)を配合した後、室温で12時間反応し、樹脂塗料Aを得た。
攪拌機、還流冷却管、窒素流入管、および温度計を備えたフラスコに、4,4’−オキシジフタル酸二無水物(ODPA、分子量:310)と4,4’−ジアミノジフェニルエーテル(ODA、分子量:200)を等モルとなるよう配合し、固形分濃度が15mass%となるようにN−メチル−2−ピロリドンを配合した後、室温で12時間反応し、樹脂塗料2を得た。
攪拌機、還流冷却管、窒素流入管、および温度計を備えたフラスコに、ピロメリット酸無水物(PMDA、分子量:218)と2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン(BAPP、分子量:410)を等モルとなるよう配合し、固形分濃度が15mass%となるようにN−メチル−2−ピロリドンを配合した後、室温で12時間反応し、樹脂塗料3を得た。
銅導体上に樹脂塗料Aを塗布、焼付けを繰り返して、膜厚0.040mmの絶縁皮膜を有する比較例1の絶縁電線を得た。
部分放電開始電圧測定は、次の手順で行った。得られた絶縁電線を500mmに切り出し、ツイストペアの絶縁電線の試料を10個作製し、端部から10mmの位置まで絶縁皮膜を削って端末処理部を形成した。測定は、端末処理部に電極を接続し、25℃−湿度50%、あるいは180℃および220℃の雰囲気で、50Hzの電圧を10〜30V/sで昇圧させながら、ツイストペアの絶縁電線に10pCの放電が毎秒50回発生する電圧まで昇圧していった。これを3回繰り返しそれぞれの値の平均値を部分放電開始電圧とした。
作製した絶縁電線から採取した約10cmの長さの試験片を、120℃の温度の恒温槽中に30分間放置した後、デシケータ中で冷却し、乾燥状態の試験片とした。また、採取した約10cm長さの試験片を、温度25℃、湿度50%の恒温槽中に3時間放置し、吸湿状態の試験片とした。その後、これら乾燥状態あるいは吸湿状態の試験片の、端末部分の絶縁被覆を先端から約5mmまで除去し、TIG溶接装置にて電流80Aで0.3秒の条件で端末部分をそれぞれ溶接した。そのときの外観を電子顕微鏡で観察し、絶縁被覆の剥がれ、発泡の無いものを「○」(合格)、絶縁被覆の剥がれ、発泡が見られるものを「×」(不合格)とした。
2 第1絶縁皮膜
3 第2絶縁皮膜
10 絶縁電線
11 絶縁被覆
Claims (3)
- 導体と、前記導体の周囲に設けられた絶縁被覆と、を備えた絶縁電線であって、
前記絶縁被覆は、前記導体の周囲に、ポリイミド樹脂からなる第1絶縁皮膜と、
前記第1絶縁皮膜の周囲に、下記化1で表される繰返し単位を有し、イミド濃度が15.7%以上29.5%以下であるポリイミド樹脂からなる第2絶縁皮膜と、を有することを特徴とする絶縁電線。
R2は芳香族ジアミンからアミノ基を除いた2価の基であり、前記芳香族ジアミンは、4,4'−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニルが含まれている。 - 前記第2絶縁皮膜は、その皮膜厚さが前記絶縁被覆の全体の厚さに対して80%以上100%未満である請求項1記載の絶縁電線。
- 請求項1又は2に記載の絶縁電線を用いて形成されたことを特徴とするコイル。
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