JP6010811B2 - 吸着盤 - Google Patents
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Description
この状態で真空ポンプを作動させ、吸着盤と多孔質体との接触面に開口している全ての孔において同時に空気の吸引が開始させると、半導体ウエハと吸着盤とが接触している部分から吸着が始まる。これにより、吸引速度の差によって、撓んだ半導体ウエハを変形させる外力が生じ、半導体ウエハの内部応力に著しい偏りが生じてしまい、その結果、半導体ウエハが破損してしまう。
前記パッド部は、矩形形状を有しており、前記第2部分は、該パッド部の角に位置決めされている。
このような構成によれば、矩形の薄板をパッド部上の所定位置に、正確に位置決めすることができる。
前記パッド部は、円形形状を有しており、前記第2部分は、該パッド部の中央に位置決めされている。
前記パッド部の上面における前記第1部分と前記第2部分との面積比は、5:1乃至100:1である。
図1及び図2に示すように、吸着システムは、吸着盤1と、吸着盤に接続された真空源となるポンプ3とを備える。吸着盤1は、被吸着物である半導体ウエハ5が載置されるパッド部7と、パッド部7を保持するための保持部9とを備える。この吸着盤1は、ホース等の連結具11を介してポンプ3に接続されている。
図2及び図3に示すように、保持部9は、第1の円形凹み13の下方に連続的に設けられ、第1の円形凹み13よりも小径の第2の円形凹み15を備えている。第2の円形凹み15は、パッド部7を第1の円形凹み13に嵌めたときに、パッド部7によって覆われるようになっており、この第2の円形凹み15とパッド部7によって形成される空間17の天井は、パッド部7の下面7bによって構成される。
気体透過量は、一定の圧力下で、単位時間辺りに単位面積領域を通過する気体の量を示す。そしてこの気体透過量は、アルキメデス法により測定される多孔質カーボンの開気孔率[vol%]及び平均気孔径[μm]を調整することによって決定される。多孔質カーボンの開気孔率[vol%]及び平均気孔径[μm]を調整するためには、多孔質カーボンの製造工程のうちの加圧工程において、被成形体に加える圧力を調整する。
平均粒径20μmの自己焼結性炭素を型に入れて加圧するときの成形面圧を調整し、完成した成形体を非酸化雰囲気中で昇温速度30℃/hrで焼成することで開気孔率及び平均気孔率が異なる2つの多孔質カーボンを製造することができた。成形時の成形面圧を調整することによって得られる多孔質カーボンの例を以下の表1に示す。
半導体ウエハを吸着盤1に吸着させるためには、先ず、半導体ウエハ5を吸着盤1のパッド部7の上面に載置する。このとき、例えば半導体ウエハ5が円板形状のものであれば、半導体ウエハ5の中心とパッド部7の中心が一致するようにする。そしてこの状態でポンプ3を作動させると、ポンプ3に連結された連結具11を介して保持部9の空間17内の空気がポンプ3の方向に吸引される。
3 ポンプ
5 半導体ウエハ
7 パッド部
9 保持部
13 第1の円形凹み
15 第2の円形凹み
L 第1部分
H 第2部分
Claims (3)
- 真空源に接続されるように構成され、この真空源を作動させることによって板状の被吸着物を吸着するための吸着盤であって、
前記被吸着物が載置される上面、及び下面を有する多孔質なパッド部と、
前記パッド部を保持するための保持部とを備え、
前記パッド部は、前記パッド部の前記上面から前記下面の方向に所定の気体透過量を有する第1多孔質材料で形成されている第1部分と、前記パッド部の前記上面から前記下面の方向での気体透過量が、前記第1多孔質材料よりも多い第2多孔質材料で形成されている第2部分と有しており、
前記保持部は、前記パッド部を形成する前記第1多孔質材料の気孔及び前記第2多孔質材料の気孔を前記パッド部の前記下面側から前記真空源に直接接続するようになっており、
前記パッド部は矩形形状を有し、前記第2部分は該パッド部の角に位置決めされている、
ことを特徴とする吸着盤。 - 真空源に接続されるように構成され、この真空源を作動させることによって板状の被吸着物を吸着するための吸着盤であって、
前記被吸着物が載置される上面、及び下面を有する多孔質なパッド部と、
前記パッド部を保持するための保持部とを備え、
前記パッド部は、前記パッド部の前記上面から前記下面の方向に所定の気体透過量を有する第1多孔質材料で形成されている第1部分と、前記パッド部の前記上面から前記下面の方向での気体透過量が、前記第1多孔質材料よりも多い第2多孔質材料で形成されている第2部分と有しており、
前記保持部は、前記パッド部を形成する前記第1多孔質材料の気孔及び前記第2多孔質材料の気孔を前記パッド部の前記下面側から前記真空源に直接接続するようになっており、
前記パッド部は円形形状を有し、前記第2部分は該パッド部の中央に位置決めされている、
ことを特徴とする吸着盤。 - 前記パッド部の上面における前記第1部分と前記第2部分との面積比は、5:1乃至100:1である、
請求項1または2に記載の吸着盤。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011287381A JP6010811B2 (ja) | 2011-12-28 | 2011-12-28 | 吸着盤 |
PCT/JP2012/084109 WO2013100134A1 (ja) | 2011-12-28 | 2012-12-28 | 吸着盤 |
CN201280065051.1A CN104040709B (zh) | 2011-12-28 | 2012-12-28 | 吸附盘 |
KR1020147019782A KR20140117413A (ko) | 2011-12-28 | 2012-12-28 | 흡착반 |
TW101150931A TWI571350B (zh) | 2011-12-28 | 2012-12-28 | 吸著盤 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011287381A JP6010811B2 (ja) | 2011-12-28 | 2011-12-28 | 吸着盤 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013138056A JP2013138056A (ja) | 2013-07-11 |
JP6010811B2 true JP6010811B2 (ja) | 2016-10-19 |
Family
ID=48697611
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011287381A Active JP6010811B2 (ja) | 2011-12-28 | 2011-12-28 | 吸着盤 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6010811B2 (ja) |
KR (1) | KR20140117413A (ja) |
CN (1) | CN104040709B (ja) |
TW (1) | TWI571350B (ja) |
WO (1) | WO2013100134A1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015136754A (ja) * | 2014-01-22 | 2015-07-30 | 日立金属株式会社 | 多孔質焼結板、これを用いた真空吸着パッド、及び多孔質焼結板の製造方法 |
JP2016012600A (ja) * | 2014-06-27 | 2016-01-21 | 京セラ株式会社 | 吸着用部材 |
CN105081971A (zh) * | 2015-08-31 | 2015-11-25 | 平凉市老兵科技研发有限公司 | 一种用于减薄机的转移吸盘 |
GB2557866A (en) * | 2015-10-19 | 2018-07-04 | Advanced Mfg Sheffield Limited | Apparatus and method for machining a thin-walled component |
JP6815138B2 (ja) * | 2016-09-06 | 2021-01-20 | 株式会社ディスコ | 吸引保持システム |
CN108247139A (zh) * | 2018-01-10 | 2018-07-06 | 宁波海蔓汽车科技有限公司 | 变速器齿轮去毛刺装置 |
CN108312090A (zh) * | 2018-04-03 | 2018-07-24 | 深圳市石金科技股份有限公司 | 一种真空石墨夹具 |
CN113130368B (zh) * | 2021-04-13 | 2024-09-24 | 南京中安半导体设备有限责任公司 | 气浮卡盘及晶圆几何参数测量装置 |
CN111874623B (zh) * | 2020-07-17 | 2022-08-26 | 苏州精濑光电有限公司 | 一种吸附机构及搬运装置 |
WO2023106859A1 (ko) * | 2021-12-08 | 2023-06-15 | 주식회사 기공기술 | 진공 척 |
CN114147504B (zh) * | 2021-12-14 | 2023-04-11 | 江苏集萃精凯高端装备技术有限公司 | 镜片固定装置及镜片的超精密车削加工方法 |
CN114857172A (zh) * | 2022-05-30 | 2022-08-05 | 北京半导体专用设备研究所(中国电子科技集团公司第四十五研究所) | 气浮支撑机构 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61252632A (ja) * | 1985-05-02 | 1986-11-10 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | ウエハとマスクとの密着方法 |
BR0117102A (pt) * | 2001-08-13 | 2004-08-17 | Gg21 Co Ltd | Método e sistema para registro e pesquisa de informação de posição do usuário |
JP2003273136A (ja) * | 2002-03-12 | 2003-09-26 | Seiko Epson Corp | ピックアップ装置、ピックアップ方法及び半導体装置の製造方法 |
JP2004014603A (ja) * | 2002-06-04 | 2004-01-15 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 吸着用チャック |
JP2004319885A (ja) * | 2003-04-18 | 2004-11-11 | Disco Abrasive Syst Ltd | チャックテーブル及び半導体ウェーハの研削方法 |
JP2005050855A (ja) * | 2003-07-29 | 2005-02-24 | Lintec Corp | 吸着搬送装置 |
TWM276650U (en) * | 2005-04-25 | 2005-10-01 | Grain Electronics Inc | Vacuum pad |
JP4703590B2 (ja) * | 2007-03-13 | 2011-06-15 | 京セラ株式会社 | 真空吸着装置及びそれを用いた吸着方法 |
JP4423357B1 (ja) * | 2008-10-24 | 2010-03-03 | 株式会社タンケンシールセーコウ | 真空吸着装置 |
CN201346752Y (zh) * | 2009-01-22 | 2009-11-18 | 华中科技大学 | 一种挠性印刷电路板专用真空吸盘 |
JP5297823B2 (ja) * | 2009-01-27 | 2013-09-25 | 日東電工株式会社 | 吸着固定用シートおよびその製造方法 |
-
2011
- 2011-12-28 JP JP2011287381A patent/JP6010811B2/ja active Active
-
2012
- 2012-12-28 WO PCT/JP2012/084109 patent/WO2013100134A1/ja active Application Filing
- 2012-12-28 TW TW101150931A patent/TWI571350B/zh active
- 2012-12-28 KR KR1020147019782A patent/KR20140117413A/ko not_active Application Discontinuation
- 2012-12-28 CN CN201280065051.1A patent/CN104040709B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI571350B (zh) | 2017-02-21 |
JP2013138056A (ja) | 2013-07-11 |
KR20140117413A (ko) | 2014-10-07 |
CN104040709B (zh) | 2016-08-24 |
WO2013100134A1 (ja) | 2013-07-04 |
CN104040709A (zh) | 2014-09-10 |
TW201343317A (zh) | 2013-11-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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R250 | Receipt of annual fees |
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