JP6010569B2 - スパークプラグ - Google Patents
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Description
(1) 中心電極と、前記中心電極との間に間隙を設けて配置された接地電極と、を備えるスパークプラグであって、
前記中心電極と前記接地電極との少なくとも一方は前記間隙を形成するチップを有し、
前記チップは、Irを主成分とする金属母材と、一般式ABO3で示されるペロブスカイト構造を有する酸化物(Aは周期表の第2族元素から選択される少なくとも1種、Bは金属元素から選択される少なくとも1種)の少なくとも1種を含有する酸化物粒と、を有し、
前記チップの断面を観察したとき、前記酸化物粒の占める面積の割合が、1%以上13%以下であることを特徴とするスパークプラグである。
(2)前記金属母材はRhを含有し、前記チップに含有される前記酸化物粒の全数Nに対する前記金属母材の結晶粒界に存在する前記酸化物粒の数Mの比(M/N)が0.85以下である。
(3)前記(1)又は(2)のスパークプラグにおいて、前記金属母材の結晶粒の平均粒径が3〜150μmである。
(4)前記(1)〜(3)のいずれか一つのスパークプラグにおいて、前記酸化物粒の平均粒径が0.05〜30μmである。
(5)前記(1)〜(4)のいずれか一つのスパークプラグにおいて、前記金属母材はRhを1質量%以上35質量%以下含有する。
(6)前記(5)のスパークプラグにおいて、前記金属母材はRuを5質量%以上20質量%以下含有する。
(7)前記(1)〜(6)のいずれか一つのスパークプラグにおいて、前記金属母材はNiを0.4質量%以上3質量%以下含有する。
(8)前記(1)〜(7)のいずれか一つのスパークプラグにおいて、前記酸化物がSrZrO3、SrHfO3、BaZrO3、及びBaHfO3の少なくとも一種である。
(9)前記(1)〜(8)のいずれか一つのスパークプラグにおいて、前記チップは、円柱状であり、その直径Rが大きくとも1mmである。
(10)前記(1)〜(9)のいずれか一つのスパークプラグにおいて、前記チップの軸線を通る面で切断して得られる切断面において、前記チップと前記中心電極及び/又は前記接地電極とを溶融することにより形成された溶融部の、前記チップの一方の側面から他方の側面までの範囲における、前記チップと前記中心電極及び/又は前記接地電極との接合面を示す直線上での長さFと前記チップの前記軸線に直交する方向の長さLとの比(F/L)が0.6以上である。
チップ8,9の製造方法について、以下に説明する。チップ8,9は、ペロブスカイト構造を有する酸化物の粉末と金属粉末とを所定の配合割合で混合し、金型プレス成形、又はCIP成形、又は押出成形、又は射出成形等により成形した圧粉体を脱脂し、真空中或いは非酸化性ないし還元雰囲気下で焼結することで、例えば円柱状のチップ8,9を作製することができる。チップ8,9は、前記焼結体に、例えばサイジングによる塑性加工を行い、焼結密度の向上を図ってもよい。
<スパークプラグ試験体の作製>
チップは、次のようにして製造した。まず、表1及び表2に示す金属母材の組成と同じ配合割合で金属粉末を配合し、これに所定の割合で酸化物の粉末を混合して成形した圧粉体を、脱脂した後、真空中或いは非酸化性ないし還元雰囲気下で焼結することで、相対密度95%以上の円柱状のチップを作製した。
製造したスパークプラグ試験体を、試験用のエンジン(過給エンジン、初期放電電圧20kV以上、排気量660cc、3気筒)に取り付け、スロットル全開で、エンジン回転数6000rpmの状態を維持し、200時間運転を行う耐久試験を行った。中心電極及び接地電極母材の先端から0.5mmの温度を測定したところ、それぞれ950℃と1050℃であった。
実機耐久試験後の中心電極に接合されたチップの体積を、CTスキャン(東芝株式会社製 TOSCANER-32250μhd)で測定し、酸化物が含有されていないチップの消耗体積を1とした場合の各種チップの消耗体積割合(各種チップの消耗体積/酸化物が含有されていないチップの消耗体積)×100(%)を算出した。この算出値を消耗体積割合として以下の基準にしたがって評価した。結果を表1、図4及び表2に示す。
☆☆:消耗体積割合が55%以下のとき
☆:消耗体積割合が55%を超え60%以下のとき
◎:消耗体積割合が60%を超え65%以下のとき
○:消耗体積割合が65%を超え70%以下のとき
×:消耗体積割合が70%を超えるとき
金属母材の組成が、Irが68質量%、Rhが20質量%、Ruが11質量%、Niが1質量%であること、FE−SEMによる観察領域における酸化物粒の占める面積割合が5%であること、酸化物の粉末粒度、金属粉末と酸化物の粉末との圧粉体の焼結温度、焼結時間等を調整することにより、前記比(M/N)を変化させたチップを用いたこと以外は、試験No.1〜40と同様にして試験を行い、耐火花消耗性の評価を行った。結果を表3及び図5に示す。
金属母材の組成が、Irが68質量%、Rhが20質量%、Ruが11質量%、Niが1質量%であること、FE−SEMによる観察領域における酸化物粒の占める面積割合が5%であること、酸化物の粉末粒度、金属粉末と酸化物の粉末との圧粉体の焼結温度、焼結時間等を調整することにより、金属母材の結晶粒の大きさを変化させたチップを用いたこと以外は、試験No.1〜40と同様にして試験を行い、耐火花消耗性の評価を行った。結果を表4及び図6に示す。
金属母材の組成が、Irが68質量%、Rhが20質量%、Ruが11質量%、Niが1質量%であること、FE−SEMによる観察領域における酸化物粒の占める面積割合が5%であること、酸化物の粉末の粒度、金属粉末と酸化物の粉末との圧粉体の焼結温度、焼結時間等を調整することにより、酸化物粒の大きさを変化させたチップを用いたこと以外は、試験No.1〜40と同様にして試験を行い、耐火花消耗性の評価を行った。結果を表5及び図7に示す。
金属母材の組成が、Irが68質量%、Rhが20質量%、Ruが11質量%、Niが1質量%であること、FE−SEMによる観察領域における酸化物粒の占める面積割合が5%であること、円柱状のチップの径の長さを変化させたチップを用いたこと以外は、試験No.1〜40と同様にして試験を行い、耐火花消耗性の評価を行った。結果を表6及び図8に示す。
金属母材の組成が、Irが68質量%、Rhが20質量%、Ruが11質量%、Niが1質量%であること、FE−SEMによる観察領域における酸化物粒の占める面積割合が5%であること、チップの接地電極への溶接の程度を変化させたスパークプラグを用いたこと以外は、試験No.1〜40と同様にして試験を行い、耐火花消耗性の評価を行った。結果を表7及び図9に示す。
2 軸孔
3 絶縁体
4 中心電極
5 端子金具
6 主体金具
7 接地電極
8,9 チップ
10,11 シール体
12 抵抗体
13 鍔部
14 後端側胴部
15 先端側胴部
16 脚長部
17 ネジ部
18 ガスシール部
19 ガスケット
20 工具係合部
21 加締め部
22,23 パッキン
24 滑石
25 露出部
26 柱状部
27 外層
28 芯部
31 金属母材の結晶粒
32 酸化物粒
33 溶融部
G 火花放電間隙
Claims (9)
- 中心電極と、前記中心電極との間に間隙を設けて配置された接地電極と、を備えるスパークプラグであって、
前記中心電極と前記接地電極との少なくとも一方は前記間隙を形成するチップを有し、
前記チップは、Irを主成分とする金属母材と、一般式ABO3で示されるペロブスカイト構造を有する酸化物(Aは周期表の第2族元素から選択される少なくとも1種、Bは金属元素から選択される少なくとも1種)の少なくとも1種を含有する酸化物粒と、を有し、
前記チップの断面を観察したとき、前記酸化物粒の占める面積の割合が、1%以上13%以下であり、
前記金属母材はRhを含有し、前記チップに含有される前記酸化物粒の全数Nに対する前記金属母材の結晶粒界に存在する前記酸化物粒の数Mの比(M/N)が0.85以下であることを特徴とするスパークプラグ。 - 前記金属母材の結晶粒の平均粒径が3〜150μmであることを特徴とする請求項1に記載のスパークプラグ。
- 前記酸化物粒の平均粒径が0.05〜30μmである請求項1又は2に記載のスパークプラグ。
- 前記金属母材はRhを1質量%以上35質量%以下含有する請求項1〜3のいずれか一項に記載のスパークプラグ。
- 前記金属母材はRuを5質量%以上20質量%以下含有する請求項4に記載のスパークプラグ。
- 前記金属母材はNiを0.4質量%以上3質量%以下含有する請求項1〜5のいずれか一項に記載のスパークプラグ。
- 前記酸化物がSrZrO3、SrHfO3、BaZrO3、及びBaHfO3の少なくとも一種である請求項1〜6のいずれか一項に記載のスパークプラグ。
- 前記チップは、円柱状であり、その直径Rが大きくとも1mmである請求項1〜7のいずれか一項に記載のスパークプラグ。
- 前記チップの軸線を通る面で切断して得られる切断面において、前記チップと前記中心電極及び/又は前記接地電極とを溶融することにより形成された溶融部の、前記チップの一方の側面から他方の側面までの範囲における、前記チップと前記中心電極及び/又は前記接地電極との接合面を示す直線上での長さFと前記チップの前記軸線に直交する方向の長さLとの比(F/L)が0.6以上である請求項1〜8のいずれか一項に記載のスパークプラグ。
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