JP5976312B2 - ウェーハ保持装置 - Google Patents
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- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 claims description 37
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 22
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 12
- 230000009471 action Effects 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 120
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 51
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 30
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 14
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 13
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 2
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
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Landscapes
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Dicing (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
2 ウェーハ保持装置
21 テーブルユニット
27 圧力センサ(圧力検出手段)
28 報知部(報知手段)
51 洗浄水ノズル
52 エアノズル
71 保持テーブル
72 テーブルベース
73 押圧固定部材
75 ボルト
91 デバイス
92 粘着テープ
93 環状フレーム
711 保持面
712 外周部(外周囲繞部)
713 吸引孔
714 直線溝(溝)
716 切り欠け
Claims (3)
- 環状のフレームの内側に粘着テープを介して一体に支持されたウェーハを上面に保持するウェーハ保持装置であって、
前記ウェーハを保持する保持面を有し絶縁性材料で形成された保持テーブルと、前記保持テーブルを上面に支持するテーブルベースと、から構成され、
前記保持テーブルの前記保持面の外周部の複数箇所に吸引孔が形成され、前記吸引孔は吸引源に連通しており、
前記保持面は、前記吸引孔が形成された箇所以外に微細な凹凸が全面に形成され、前記保持面に前記粘着テープを介して前記ウェーハを載置した際には前記粘着テープ及び前記保持面の接触面積を小さくし、
前記保持面の前記吸引孔に連通しない複数の溝が、前記保持面の中心位置から径方向外側に延びるように前記保持面表面に形成され、前記保持面に前記粘着テープを介して前記ウェーハを載置した際に前記粘着テープの裏面に付着した水分が前記溝に毛細管現象により吸着される、ことを特徴とするウェーハ保持装置。 - 前記テーブルベースを回転可能に支持する回転駆動手段と、前記吸引孔と前記吸引源とを接続する配管中の圧力を検出する圧力検出手段と、前記保持テーブルの前記保持面が露呈した状態で前記圧力検出手段によって検出された圧力が所定値以上になった場合に報知をする報知手段とを備える、ことを特徴とする請求項1に記載のウェーハ保持装置。
- 前記テーブルベースを回転可能に支持する回転駆動手段を備え、
前記保持テーブルは、前記保持面の外周を囲繞し2以上の切り欠けを有する外周囲繞部と前記保持テーブルを前記テーブルベースに固定するための押圧固定部材とを有し、
前記押圧固定部材は前記外周囲繞部の前記切り欠けに係合し係合箇所でボルトで前記テーブルベースに締結され且つ外周囲繞部の上部を押圧して前記保持テーブルを前記テーブルベースに固定する、ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のウェーハ保持装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011281741A JP5976312B2 (ja) | 2011-12-22 | 2011-12-22 | ウェーハ保持装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011281741A JP5976312B2 (ja) | 2011-12-22 | 2011-12-22 | ウェーハ保持装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013131709A JP2013131709A (ja) | 2013-07-04 |
JP5976312B2 true JP5976312B2 (ja) | 2016-08-23 |
Family
ID=48909028
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011281741A Active JP5976312B2 (ja) | 2011-12-22 | 2011-12-22 | ウェーハ保持装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5976312B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6162568B2 (ja) * | 2013-10-17 | 2017-07-12 | 株式会社ディスコ | 研削装置及びウエーハの搬出方法 |
JP6397270B2 (ja) * | 2014-08-26 | 2018-09-26 | 株式会社ディスコ | 切削装置 |
JP7143024B2 (ja) * | 2018-08-28 | 2022-09-28 | 株式会社ディスコ | チャックテーブル及びウェーハの加工方法 |
JP7166729B2 (ja) * | 2018-12-11 | 2022-11-08 | 株式会社ディスコ | 被加工物の加工方法 |
JP7166730B2 (ja) * | 2018-12-11 | 2022-11-08 | 株式会社ディスコ | 被加工物の加工方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH019169Y2 (ja) * | 1986-03-25 | 1989-03-13 | ||
JP2009255242A (ja) * | 2008-04-18 | 2009-11-05 | Disco Abrasive Syst Ltd | 吸着装置、保持テーブル、搬送装置、ワーク加工装置及びワーク加工方法 |
JP4570054B2 (ja) * | 2009-10-13 | 2010-10-27 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置 |
JP5554617B2 (ja) * | 2010-04-12 | 2014-07-23 | 株式会社ディスコ | 保持テーブル |
-
2011
- 2011-12-22 JP JP2011281741A patent/JP5976312B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013131709A (ja) | 2013-07-04 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
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R250 | Receipt of annual fees |
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