JP5935884B2 - 巻芯及びロール - Google Patents

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Description

本発明は、接着テープを巻き取る巻芯及びこの巻芯に接着テープが巻き取られたロールに関する。
半導体装置の製造は、ウェハをチップに小片化し(ダイシングし)、この小片化したチップを基板等にボンディングすることにより行う。このような半導体装置の製造においては、ウェハをチップに小片化する(ダイシングする)際に小片化されたチップを支持するダイシングテープと、小片化されたチップを接着するためのダイボンディングフィルムと、が用いられている。
近年、このようなダイシングテープの機能とダイボンディングテープの機能とを合わせたダイシング・ダイボンディング一体型テープが開発されている(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1に記載されたダイシング・ダイボンディング一体型テープは、離型フィルム上にダイボンディングフィルムが積層されるとともに、ダイボンディングフィルム上にダイシングテープが積層されている。そして、ダイシングに用いるウェハリングと呼ばれるリングフレームにダイシングテープを接着させるために、ダイシングテープは、ダイボンディングフィルムを覆うように、ダイボンディングフィルムよりも大きく形成されている。
このようなダイシング・ダイボンディング一体型テープは、円筒状の巻芯に巻き取られた状態のロールとして、保管及び運搬される。
特開2007−002173号公報
しかしながら、上記のようなダイシング・ダイボンディング一体型テープは、離型フィルムにダイボンディングフィルム及びダイシングテープが積層された部分と、離型フィルムにダイシングテープのみが積層された部分との境界に、段差が生じる。また、離型フィルムにダイシングテープのみが積層された部分と、離型フィルムにダイボンディングフィルム及びダイシングテープの何れも積層されない部分との境界に、段差が生じる。
このため、ダイシング・ダイボンディング一体型テープを巻芯に巻き取ると、これらの段差がダイボンディングフィルム及びダイシングテープに転写されて、ダイボンディングフィルム及びダイシングテープに段差の転写痕が生ずるという問題がある。特に、ダイボンディングフィルムに転写痕が生じると、半導体ウェハとの間にボイドが生じて、半導体装置の信頼性が低下する可能性がある。
そこで、ダイシング・ダイボンディング一体型テープを巻芯に巻く巻取張力を低減することが考えられる。しかしながら、この巻取張力を低減すると、ロールを立てて保管及び運搬した場合に、ダイシング・ダイボンディング一体型テープの巻きズレが発生するという問題がある。
なお、ダイボンディングフィルムとダイシングテープとが1枚のフィルムに一体化されたダイシング・ダイボンディング一体型テープも研究開発されている。しかしながら、このようなダイシング・ダイボンディング一体型テープであっても、段差は生じるため、上記と同様の問題が生じる。
そこで、本発明は、転写痕が生じるのを抑制することができるとともに、接着テープの巻きズレを防止することができる巻芯及びロールを提供することを目的とする。
本発明に係る巻芯は、長尺の基材フィルムに接着剤層が基材フィルムの長手方向に沿って形成された接着テープを複数層に巻き取る円筒状の巻芯であって、巻芯の外径が、巻芯に接着テープが巻き取られた際に、巻芯の半径方向に隣接する接着テープの内側テープ部と外側テープ部との間において、巻芯の円周方向における接着剤層のズレ量が55mm以下となる寸法である。
本発明に係る巻芯によれば、接着テープを巻芯に巻くときの巻取張力を低減しなくても、巻芯に巻き取られた接着テープの内側テープ部と外側テープ部との間において、巻芯の円周方向における接着剤層のズレ量が55mm以下に抑えることができる。これにより、接着剤層に転写痕が生じるのを抑制することができるとともに、接着テープの巻きズレを防止することができる。特に、半導体装置の製造に用いられる接着テープは、接着剤層の中央部にウェハが貼り付けられ、接着剤層の周縁部にはウェハが貼り付けられない。このため、内側テープ部と外側テープ部との間において、巻芯の円周方向における接着剤層のズレ量が55mm以下に抑えられることで、ウェハが貼り付けられる接着剤層の中央部に転写痕が生じるのを抑制することができるとともに、接着テープの巻きズレを防止することができる。更には、巻芯から引き出した接着テープを用いて製造した半導体装置の信頼性を向上させることができる。
この場合、本発明は、巻芯の外径が、巻芯に巻き取られた接着テープの少なくとも10層目まで、内側テープ部と外側テープ部との間において、巻芯の円周方向における接着剤層のズレ量が55mm以下となる寸法であるものとすることができる。
接着テープを巻芯に巻き重ねていくと、接着テープの半径が大きくなっていく。このため、接着テープが長いと、巻芯の近くで接着剤層のズレ量が55mmに抑えられても、巻芯から半径方向に離れていくと接着剤層のズレ量が55mmを超える場合がある。一方、同一の巻取張力を掛けて接着テープを巻芯に巻き取ると、半径方向内側に向かうほど巻芯に巻き取られた接着テープに作用する張力が大きくなるため転写痕の問題が大きくなるが、半径方向外側に向かうほど巻芯に巻き取られた接着テープに作用する張力が小さくなるため転写痕の問題が発生しない。そこで、このように、少なくとも10層目まで、内側テープ部と外側テープ部との間において、巻芯の円周方向における接着剤層のズレ量を55mm以下に抑えるように巻芯の外径を設定することで、接着テープの長さに拘わらず、転写痕が生じるのを抑制することができるとともに、接着テープの巻きズレを防止することができる。
更に、本発明は、接着テープに形成される接着剤層のピッチをPとした場合に、巻芯の外周長が、(P−55)mm以上(P+55)mm以下であるものとすることができる。
このように、巻芯の外周長を設定することで、接着剤層の1ピッチを約1巻きとして、1枚の接着剤層を約1周で巻芯に巻き付けることができる。このため、巻芯の外径を大きくし過ぎることなく、内側テープ部と外側テープ部との間において、接着剤層のズレ量を上述した範囲にすることができる。
また、本発明は、接着テープの接着剤層が、基材フィルム上に形成される第一接着剤層と、第一接着剤層よりも面積が大きく第一接着剤層を覆って基材フィルム上に形成される第二接着剤層と、を有し、巻芯の外径が、巻芯に接着テープが巻き取られた際に、内側テープ部と外側テープ部との間において、第一接着剤層の周縁と第二接着剤層の周縁とが重ならない寸法であるものとすることができる。
一方、本発明は、接着テープの接着剤層は、基材フィルム上に形成される第二接着剤層と、第二接着剤層よりも面積が小さく外周から第二接着剤層が露出するように第二接着剤層上に形成される第一接着剤層と、を有し、巻芯の外径は、巻芯に接着テープが巻き取られた際に、内側テープ部と外側テープ部との間において、第一接着剤層の周縁と第二接着剤層の周縁とが重ならない寸法であるものとすることもできる。
このように巻芯の外径を設定すれば、巻芯に巻き取られた接着テープの内側テープ部と外側テープ部との間において、第一接着剤層の周縁と第二接着剤層の周縁との重なりが防止される。このため、接着テープを巻芯に巻くときの巻取張力を低減しなくても、第一接着剤層に転写痕が生じるのを抑制することができるとともに、接着テープの巻きズレを防止することができる。特に、半導体装置の製造に用いられる接着テープは、第一接着剤層にウェハが貼り付けられ、第一接着剤層を覆う第二接着剤層にはウェハが貼り付けられない。このため、内側テープ部と外側テープ部との間において、第一接着剤層の周縁と第二接着剤層の周縁との重なりが防止されることで、ウェハが貼り付けられる第一接着剤層に転写痕が生じるのを抑制することができるとともに、接着テープの巻きズレを防止することができる。これにより、巻芯から引き出した接着テープを用いて製造した半導体装置の信頼性を向上させることができる。
この場合、本発明は、巻芯の外径が、巻芯に巻き取られた接着テープの少なくとも10層目まで、内側テープ部と外側テープ部との間において、第一接着剤層の周縁と第二接着剤層の周縁とが重ならない寸法であるものとすることができる。
このように、少なくとも10層目まで、内側テープ部と外側テープ部との間において第一接着剤層の周縁と第二接着剤層の周縁との重なりが防止されるように巻芯の外径を設定することで、上述した理由と同様な理由により、接着テープの長さに拘わらず、ウェハが貼り付けられる第二接着剤層に転写痕が生じるのを抑制することができるとともに、接着テープの巻きズレを防止することができる。
また、本発明は、巻芯の外径が、100mm以上であるものとすることができる。
このように、巻芯の外径を100mm以上とすることで、接着テープを巻芯に巻くときの巻取張力を低減しなくても、巻芯に巻き取られた接着テープに作用する張力を小さくすることができる。これにより、接着剤層に転写痕が生じるのを抑制することができるとともに、接着テープの巻きズレを防止することができる。
本発明に係るロールは、長尺の基材フィルムに複数の接着剤層が基材フィルムの長手方向に沿って形成された接着テープが円筒状の巻芯に複数層に巻き取られたロールであって、巻芯の外径が、巻芯に接着テープが巻き取られた際に、巻芯の半径方向に隣接する接着テープの内側テープ部と外側テープ部との間において、接着剤層の巻芯の円周方向における重なり長さが55mm以下となる寸法である。
本発明に係るロールによれば、接着テープを巻芯に巻くときに巻取張力を低減していなかったとしても、巻芯に巻き取られた接着テープの内側テープ部と外側テープ部との間において、巻芯の円周方向における接着剤層のズレ量が55mm以下に抑えられている。このため、接着剤層に転写痕が生じるのを抑制することができるとともに、接着テープの巻きズレを防止することができる。特に、半導体装置の製造に用いられる接着テープは、接着剤層の中央部にウェハが貼り付けられ、接着剤層の周縁部にはウェハが貼り付けられない。このため、内側テープ部と外側テープ部との間において、巻芯の円周方向における接着剤層のズレ量が55mm以下に抑えられていることで、ウェハが貼り付けられる接着剤層の中央部に転写痕が生じるのを抑制することができるとともに、接着テープの巻きズレを防止することができる。これにより、巻芯から引き出した接着テープ用いて製造した半導体装置の信頼性を向上させることができる。
本発明によれば、転写痕が生じるのを抑制することができるとともに、接着テープの巻きズレを防止することができる。
実施形態に係るロールの斜視図である。 接着テープを引き延ばした状態を示した平面図である。 図2に示すIII−III線における断面図である。 実施形態に係る巻芯の斜視図である。 巻芯に巻かれた接着テープの概略展開図である。 接着テープの他の例を示す断面図である。 接着テープの他の例を示す断面図である。
以下、図面を参照して、本発明に係る巻芯及びロールの好適な実施形態について詳細に説明する。なお、全図中、同一又は相当部分には同一符号を付すこととする。
図1は、実施形態に係るロールの斜視図である。図1に示すように、本実施形態に係るロール1は、接着テープ2が円筒状の巻芯3に複数層に巻き取られたものである。
図2は、接着テープを引き延ばした状態を示した平面図である。図3は、図2に示すIII−III線における断面図である。図2及び図3に示すように、接着テープ2は、長尺の離型フィルム21に、第一接着剤層22及び第二接着剤層23で構成される接着剤層24と、支持層25と、が積層された構造となっている。
第一接着剤層22は、ダイボンディングフィルムとして機能する層である。すなわち、第一接着剤層22は、半導体ウェハに貼り付けられて、ダイシングにより小片化された半導体チップをダイパッドに接着・固定するものである。このため、第一接着剤層22は、円形の薄いフィルム状に形成されている。第一接着剤層22に含まれる接着剤の組成としては、特に制限されるものではないが、例えば、エポキシ系樹脂、アクリル系樹脂、フェノール系樹脂、ポリイミド系樹脂、シリコン樹脂等を使用することができる。
第一接着剤層22の層厚Aは、例えば、1μm以上250μm以下とすることができ、好ましくは5μm以上200μm以下とすることができる。
第一接着剤層22の直径φBは、例えば、ダイシング対象の半導体ウェハの直径よりも大きく、かつ、ウェハリングの内径よりも小さくなっている。なお、ウェハリングの内径は、ダイシング対象の半導体ウェハの直径よりも大きくなっている。半導体ウェハへの接着を確実に行う観点からは、第一接着剤層22の直径φBは、ダイシング対象の半導体ウェハの直径よりも20mm以上大きいことが好ましい。例えば、ダイシング対象の半導体ウェハの直径が12インチ(300mm)であり、ウェハリングの内径が350mmである場合には、第一接着剤層22の直径φBは、例えば300mm以上350mm以下とすることができ、好ましくは310mm以上330mm以下とすることができ、更に好ましくは319mm以上321mm以下とすることができる。
る。
第二接着剤層23は、ダイシングテープとして機能する層である。すなわち、第二接着剤層23は、ダイシング時に半導体ウェハを支持するとともに、ウェハリングを接着固定するものである。このため、第二接着剤層23は、第一接着剤層22を覆うことができる第一接着剤層22よりも面積の大きい円形の薄いフィルム状に形成されている。第二接着剤層23としては、特に制限されるものではないがダイシングテープとして従来公知のものを使用することができる。第二接着剤層23に含まれる接着剤の組成としては、ウェハリングから剥離しないような粘着力を有するものであれば如何なるものであってもよい。第二接着剤層23に含まれる接着剤の組成としては、例えば、塩素化ポリプロピレン樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、エポキシ樹脂、ポリエチレン、ポリプロピレン、エチレン−プロピレン共重合体、ポリブテン−1、ポリ−4−メチルペンテン−1、エチレン−酢酸ビニル共重合体、エチレン−アクリル酸エチル共重合体、エチレン−アクリル酸メチル共重合体、エチレン−アクリル酸共重合体、アイオノマー、スチレン−エチレン−ブテン若しくはペンテン系共重合体、ポリアミド−ポリオール共重合体等、及びこれらの混合物等を使用することができる。
第二接着剤層23の層厚Cは、例えば、1μm以上250μm以下とすることができ、好ましくは5μm以上200μm以下とすることができる。
第二接着剤層23の直径φDは、ウェハリングの内径よりも大きくなっている。ウェハリングへの接着を確実に行う観点からは、第二接着剤層23の直径φDは、ウェハリングの内径よりも十分に大きいことが好ましい。例えば、ウェハリングの内径が350mmである場合には、第二接着剤層23の直径φDは、例えば360mm以上375mm以下とすることができ、好ましくは365mm以上375mm以下とすることができ、更に好ましくは369mm以上371mm以下とすることができる。
そして、接着剤層24は、第一接着剤層22が第二接着剤層23に完全に覆われて第二接着剤層23から露出しないように、第一接着剤層22と第二接着剤層23とが同心円状に積層されている。このため、第一接着剤層22の全面が離型フィルム21に接着されており、第一接着剤層22の全外周を囲むように第二接着剤層23の周縁部が離型フィルム21に接着されている。また、接着剤層24の周縁部の厚みは、第二接着剤層23の厚みCとなっており、接着剤層24の中央部の厚みは、第一接着剤層22の厚みAと第二接着剤層23の厚みCとを足し合わせた厚み(A+C)となっている。
第二接着剤層23の外縁と第一接着剤層22の外縁との半径方向における離間距離Eは、例えば、30mm以上とすることができ、好ましくは30mm以上80mm以下とすることができ、更に好ましくは20mm以上30mm以下とすることができる。
このように構成される接着剤層24は、離型フィルム21に複数枚形成されており、各接着剤層24は、離型フィルム21の短手方向中央部において、離型フィルム21の長手方向に沿って一定のピッチ(間隔)で配置されている。
離型フィルム21の長手方向に隣接する接着剤層24の離間距離Fは、例えば0mm以上18mm以下とすることができ、好ましくは5mm以上15mm以下とすることができ、更に好ましくは6.5mm以上10.5mm以下とすることができる。
離型フィルム21の長手方向における接着剤層24のピッチPは、好ましくは376.5mm以上379.5mm以下とすることができる。なお、このピッチPは、接着剤層24の直径φDと、離型フィルム21の長手方向に隣接する接着剤層24の離間距離Fと、を足し合わせた値である。
支持層25は、接着テープ2を巻芯3に巻き取った際に、接着剤層24への巻き後の転写を低減するものである。支持層25は、離型フィルム21の短手方向中央部以外の部分において接着剤層24の周囲を囲むように形成されている。また、支持層25は、離型フィルム21の長手方向に連続的又は断続的に延びている。支持層25としては、特に制限されるものではないが、例えば第二接着剤層23と同じ組成のものを用いることができる。
支持層25の層厚Gは、特に限定されるものではないが、接着剤層24への転写の発生を抑制する観点から、接着剤層24の最大層厚(A+C)と同等かそれ以上とすることができる。
支持層25の接着剤層24の周囲を囲む支持層25の内径φHは、第二接着剤層23の直径φDよりも大きくなっている。例えば、第二接着剤層23の直径φDが370mmである場合には、支持層25の内径φHは、例えば371mm以上385mm以下とすることができ、好ましくは373mm以上380mm以下とすることができ、更に好ましくは376mm以上378mm以下とすることができる。
離型フィルム21は、接着剤層24を接着支持して巻芯3に巻き取るためのものである。離型フィルム21としては、特に制限されるものではないが、例えば、ポリエステルフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリイミドフィルム、ポリエーテルイミドフィルム、ポリエーテルナフタレートフィルム、ポリメチルペンテンフィルム等の基材フィルムを使用することができる。これらの基材フィルムに対して、必要に応じてプライマー塗布、UV処理、コロナ放電処理、研磨処理、エッチング処理等の表面処理を行ってもよい。
離型フィルム21の厚さJは、例えば10μm以上200μm以下とすることができ、好ましくは20μm以上150μm以下とすることができる。
離型フィルム21の短手方向の幅Kは、第二接着剤層23の直径φDよりも大きくなっている。例えば、第二接着剤層23の直径φDが370mmである場合には、離型フィルム21の短手方向の幅Kは、例えば380mm以上410mm以下とすることができ、好ましくは385mm以上400mm以下とすることができ、更に好ましくは388mm以上392mm以下とすることができる。
第二接着剤層23の中心を通って離型フィルム21の短手方向に延びる直線上における離型フィルム21の短手方向両端縁と第二接着剤層23との離間距離Lは、例えば5mm以上15mm以下とすることができ、好ましくは7mm以上13mm以下とすることができ、更に好ましくは8mm以上12mm以下とすることができる。なお、この離間距離Lは、離型フィルム21の短手方向両端縁と第二接着剤層23との最短距離となる。
図4は、実施形態に係る巻芯の斜視図である。図4に示すように、巻芯3は、円筒状に形成されている。巻芯3の組成は、特に制限されるものではないが、例えば、PS樹脂、PE樹脂、ABS樹脂等のプラスチックを使用することができる。
ここで、図5を参照して、巻芯3の外径M及び外周長Oについて説明する。外径Mは、巻芯3の外周の直径である。外周長Oは、巻芯3の外周の円周長であって、外周M×πにより求められる。
図5は、巻芯に巻かれた接着テープの概略展開図である。なお、図5では、左右方向(矢印方向)が巻芯3の円周方向となる。図4及び図5に示すように、巻芯3の外径Mは、巻芯3に接着テープ2が複数層に巻き取られた際に、巻芯3に巻き取られた接着テープ2の少なくとも10層目まで、巻芯3の半径方向に隣接する接着テープ2の内側テープ部2aと外側テープ部2bとの間において、巻芯3の円周方向における接着剤層24のズレ量Nが55mm以下となる寸法となっている。なお、内側テープ部2aは、巻芯3の半径方向において、外側テープ部2bの内側(下層側)に隣接して配置される部分であり、外側テープ部2bは、巻芯3の半径方向において、内側テープ部2aの外側(上層側)に隣接して配置される部分である。この場合、接着剤層24の中央部への転写痕の発生を抑制する観点から、巻芯3の外径Mは、このズレ量Nが25mm以下となる寸法であることが好ましく、このズレ量Nが15mm以下となる寸法であることが更に好ましい。
例えば、接着剤層24のピッチPが378mmである場合を考える。この場合、1ピッチを約1巻きとする巻芯3では、巻芯3の外周長Oを323mm(378mm−55mm)以上433mm(378mm+55mm)以下とすることで、巻芯3の円周方向における接着剤層24のズレ量Nを55mm以下とすることができる。換言すると、巻芯3の外径Mを323/πmm(約103mm)以上433/πmm(約138mm)以下とすることで、巻芯3の円周方向における接着剤層24のズレ量Nを55mm以下とすることができる。なお、複数ピッチを約1巻きとする巻芯3の外周長O及び外径Mについては、単純な計算により求めることができるため、ここでの説明を省略する。
上述したように、半導体装置の製造に用いられる接着テープ2は、接着剤層24の中央部に配置される第一接着剤層22に半導体ウェハが貼り付けられ(ラミネートされ)、接着剤層24の周縁部に配置される第二接着剤層23には半導体ウェハが貼り付けられない。そこで、このように巻芯3の外径M及び外周長Oを設定することで、接着テープ2を巻芯3に巻くときの巻取張力を低減しなくても、内側テープ部2aと外側テープ部2bとの間において、巻芯3の円周方向における接着剤層24のズレ量Nを55mm以下、25mm以下又は15mm以下に抑えることができる。このため、半導体ウェハが貼り付けられる接着剤層24の中央部に転写痕が生じるのを抑制することができるとともに、接着テープ2の巻きズレを防止することができる。これにより、巻芯3から引き出した接着テープ2を用いて製造した半導体装置の信頼性を向上させることができる。
ところで、接着テープ2を巻芯3に巻き重ねていくと、接着テープ2の半径が大きくなっていく。このため、接着テープ2が長いと、巻芯3の近くで接着剤層24のズレ量Nが55mm以下、25mm以下及び15mm以下に抑えられても、巻芯3から半径方向に離れていくと接着剤層24のズレ量Nが55mm、25mm及び15mmを超える場合がある。一方、同一の巻取張力を掛けて接着テープ2を巻芯3に巻き取ると、半径方向内側に向かうほど巻芯3に巻き取られた接着テープ2に作用する張力が大きくなるため転写痕の問題が大きくなるが、半径方向外側に向かうほど巻芯3に巻き取られた接着テープ2に作用する張力が小さくなるため転写痕の問題が発生しない。
そこで、少なくとも10層目まで、内側テープ部2aと外側テープ部2bとの間において、巻芯3の円周方向における接着剤層24のズレ量Nを55mm以下、25mm以下及び15mm以下に抑えるように巻芯3の外径を設定することで、接着テープ2の長さに拘わらず、転写痕が生じるのを抑制することができるとともに、接着テープ2の巻きズレを防止することができる。
この場合、上述した具体例に代表されるように、接着剤層24のピッチPをPとした場合に、巻芯3の外周長Oを、(P−55)mm以上(P+55)mm以下、(P−25)mm以上(P+25)mm以下及び(P−15)mm以上(P+15)mm以下とすることで、接着剤層の1ピッチを約1巻きとして、1枚の接着剤層24を約1周で巻芯3に巻き付けることができる。このため、巻芯3の外径を大きくし過ぎることなく、内側テープ部2aと外側テープ部2bとの間において、接着剤層24のズレ量Nを上述した範囲にすることができる。
また、第一接着剤層22への転写痕の発生を抑制する観点からは、巻芯3の外径Mは、巻芯3に接着テープ2が巻き取られた際に、内側テープ部2aと外側テープ部2bとの間において、第一接着剤層22の周縁22aと第二接着剤層23の周縁23aとが重ならない寸法であることが好ましい。
例えば、第一接着剤層22の直径φBが320mm、第二接着剤層23の直径φDが370mm、接着剤層24のピッチPが378mmである場合を考える。この場合、巻芯3の円周方向における第一接着剤層22の周縁22aと第二接着剤層23の周縁23aとの離間距離Eは、25mmとなる。そこで、1ピッチを約1巻きとする巻芯3では、巻芯3の外周長Oを353mm(378mm−25mm)よりも大きく403mm(378mm+25mm)よりも小さい寸法とすることで、内側テープ部2aと外側テープ部2bとの間において、第一接着剤層22の周縁22aと第二接着剤層23の周縁23aとが重なるのを防止することができる。換言すると、巻芯3の外径Mを353/πmm(約112mm)よりも大きく403/π(約128mm)mmよりも小さい寸法とすることで、内側テープ部2aと外側テープ部2bとの間において、第一接着剤層22の周縁22aと第二接着剤層23の周縁23aとが重なるのを防止することができる。なお、複数ピッチを約1巻きとする巻芯3の外周長O及び外径Mについては、単純な計算により求めることができるため、ここでの説明を省略する。
このように、巻芯3の外周長O及び外径Mを設定することで、巻芯3に巻き取られた接着テープ2の内側テープ部2aと外側テープ部2bとの間において、第一接着剤層22の周縁と第二接着剤層23の周縁との重なりが防止される。このため、接着テープ2を巻芯3に巻くときの巻取張力を低減しなくても、半導体ウェハが貼り付けられる第一接着剤層22に転写痕が生じるのを抑制することができるとともに、接着テープ2の巻きズレを防止することができる。これにより、巻芯3から引き出した接着テープ2を用いて製造した半導体装置の信頼性を向上させることができる。
また、接着テープ2の巻きずれを抑制する観点から、巻芯3の外径Mを、100mm以上であることが好ましい。この場合、140mm以下であることが好ましく、130mm以下であることが更に好ましく、120mm以下であることが特に好ましい。
このように、巻芯3の外径Mを100mm以上とすることで、接着テープ2を巻芯3に巻くときの巻取張力を低減しなくても、巻芯3に巻き取られた接着テープ2に作用する張力を小さくすることができる。これにより、接着剤層24に転写痕が生じるのを抑制することができるとともに、接着テープ2の巻きズレを防止することができる。
一方、巻芯3の外径Mを140mm以下、130mm以下及び120mm以下とすることで、ロール1の運搬性及び保管性を向上させることができる。
以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。
例えば、上記実施形態において、離型フィルムに積層される接着剤層は、第一接着剤層と第二接着剤層との2層のものとして説明したが、図6に示す接着テープ2’の接着剤層24’のように、1層のものであってもよい。この接着剤層24’は、例えば、第一接着剤層のみであってもよく、第二接着剤層のみであってもよく、第一接着剤層と第二接着剤層とが一体化した1層のものであってもよい。これによっても、上記実施形態と同様の作用効果を奏することができる。
また、上記実施形態において、離型フィルムに積層される接着剤層は、第一接着剤層の上層に第二接着剤層を積層されるものとして説明したが、図7に示す接着テープ2”の接着剤層24”のように、第二接着剤層23”の上層に第一接着剤層22”が積層されるものであってもよい。この場合、第二接着剤層23”は、基材フィルム21上に形成され、第一接着剤層22”は、第二接着剤層23”よりも面積が小さく外周から第二接着剤層23”が露出するように第二接着剤層23”上に形成される。そして、巻芯の外径は、巻芯に接着テープ2”が巻き取られた際に、内側テープ部と外側テープ部との間において、第一接着剤層22”の周縁と第二接着剤層23”の周縁とが重ならない寸法とする。これによっても、上記実施形態と同様の作用効果を奏することができる。
また、上記実施形態において、接着剤層のズレ量の条件、及び、第一接着剤層の周縁と第二接着剤層の周縁との重なりの条件を、巻芯に巻き取られた接着テープの少なくとも10層目までとして説明したが、これを、巻芯に巻き取られた接着テープの10層目未満としてもよい。
また、上記実施形態において、接着テープは、ダイボンディングフィルムとして機能する第一接着剤層と、ダイシングテープとして機能する第二接着剤層と、を有するダイシング・ダイボンディング一体型テープであるものとして説明したが、各接着剤層は使用目的などに応じて適宜選択することができる。
次に、本発明の実施例について説明する。なお、本発明は以下に説明する実施例に限定されるものではない。
[実施例1]
接着テープには、日立化成工業株式会社製、商品名「FH−4013シリーズ」のダイシング・ダイボンディング一体型テープを用いた。第一接着剤層には、直径が320mm、層厚が135μmのダイボンディングフィルムが形成されており、第二接着剤層には、直径が370mm、層厚が120μmのダイシングテープが形成されていた。また、第一接着剤層の外縁と第二接着剤層の外縁との離間距離が25mm、接着剤層のピッチが378mmであった。
巻芯として、ABS樹脂により、外径が100mm、外周長が314mmのABS樹脂巻芯を作製した。接着剤層の1ピッチを約1巻きとして、作成した巻芯に上述した接着テープを巻き取り、ロールを作成した。接着テープを巻芯に巻くときの巻取張力を、18N、20N、22Nとした。
巻芯に巻き取られた接着テープは、少なくとも10層目まで、内側テープ部と外側テープ部との間において、巻芯の円周方向における接着剤層のズレ量が42.6mm以下となった。
そして、作成したロールを2週間冷蔵保管した後、温度60℃、速度10mm/secでラミネートを行い、転写痕の評価と巻きズレの評価とを行った。転写痕の評価は、転写痕に由来するボイドが生じた場合をCとし、転写痕に由来するボイドが生じなかった場合をAとした。巻きズレの評価は、巻きズレが生じなかった場合をAとし、巻きズレが問題ない程度に発生した場合をBとし、巻きズレが生じた場合をCとした。評価結果を下記の表1に示す。
[実施例2]
巻芯の外径を114mmとした他は、実施例1と同じ条件とした。
巻芯に巻き取られた接着テープは、少なくとも10層目まで、内側テープ部と外側テープ部との間において、巻芯の円周方向における接着剤層のズレ量が1.1mm以下となった。
そして、実施例1と同様に、転写痕の評価と巻きズレの評価とを行った。評価結果を下記の表1に示す。
[実施例3]
巻芯の外径を120mmとした他は、実施例1と同じ条件とした。
巻芯に巻き取られた接着テープは、少なくとも10層目まで、内側テープ部と外側テープ部との間において、巻芯の円周方向における接着剤層のズレ量が16.8mm以下となった。
そして、実施例1と同様に、転写痕の評価と巻きズレの評価とを行った。評価結果を下記の表1に示す。
[比較例]
巻芯の外径を84.0mmとした他は、実施例1と同じ条件とした。
なお、外径が84.0mmの巻芯は、市場で一般的に使用されている大きさのものである。
巻芯に巻き取られた接着テープは、少なくとも10層目まで、内側テープ部と外側テープ部との間において、巻芯の円周方向における接着剤層のズレ量が89.1mm以下となった。
そして、実施例1と同様に、転写痕の評価と巻きズレの評価とを行った。評価結果を下記の表1に示す。
表1に示すように、比較例では、巻取張力を18Nにまで下げないと転写痕が発生したが、実施例1〜3の何れも、巻取張力を22Nにまで上げても転写痕が発生しなかった。しかも、比較例では、転写痕の発生を抑制するために巻取張力を18Nにまで下げると巻きズレが発生したが、実施例1〜3の何れも、巻取張力を18Nにまで下げても巻きズレが殆ど発生しなかった。これは、実施例1〜3が、巻芯の外径を比較例に対して大きくしたことにより、接着シートの巻き数が減ったことによるものと思われる。
Figure 0005935884
1…ロール、2…接着テープ、2a…内側テープ部、2b…外側テープ部、3…巻芯、21…離型フィルム(基材フィルム)、22…第一接着剤層、22a…第一接着剤層の周縁、23…第二接着剤層、23a…第二接着剤層の周縁、24…接着剤層、25…支持層。

Claims (7)

  1. 長尺の基材フィルムに接着剤層が前記基材フィルムの長手方向に沿って形成された接着テープと、前記接着テープを複数層に巻き取る円筒状の巻芯と、を備えるロールであって、
    前記巻芯の外径が、前記巻芯に前記接着テープが巻き取られた際に、前記巻芯の半径方向に隣接する前記接着テープの内側テープ部と外側テープ部との間において、前記巻芯の円周方向における前記接着剤層のズレ量が55mm以下となる寸法である、
    ロール
  2. 前記巻芯の外径は、前記巻芯に巻き取られた前記接着テープの少なくとも10層目まで、前記内側テープ部と前記外側テープ部との間において、前記巻芯の円周方向における前記接着剤層のズレ量が55mm以下となる寸法である、
    請求項1に記載のロール
  3. 前記接着テープに形成される前記接着剤層のピッチをPとした場合に、
    前記巻芯の外周長は、(P−55)mm以上(P+55)mm以下である、
    請求項1又は2に記載のロール
  4. 前記接着テープの前記接着剤層は、前記基材フィルム上に形成される第一接着剤層と、前記第一接着剤層よりも面積が大きく前記第一接着剤層を覆って前記基材フィルム上に形成される第二接着剤層と、を有し、
    前記巻芯の外径は、前記巻芯に前記接着テープが巻き取られた際に、前記内側テープ部と前記外側テープ部との間において、前記第一接着剤層の周縁と前記第二接着剤層の周縁とが重ならない寸法である、
    請求項1〜3の何れか一項に記載のロール
  5. 前記接着テープの前記接着剤層は、前記基材フィルム上に形成される第二接着剤層と、前記第二接着剤層よりも面積が小さく外周から前記第二接着剤層が露出するように前記第二接着剤層上に形成される第一接着剤層と、を有し、
    前記巻芯の外径は、前記巻芯に前記接着テープが巻き取られた際に、前記内側テープ部と前記外側テープ部との間において、前記第一接着剤層の周縁と前記第二接着剤層の周縁とが重ならない寸法である、
    請求項1〜3の何れか一項に記載のロール
  6. 前記巻芯の外径は、前記巻芯に巻き取られた前記接着テープの少なくとも10層目まで、前記内側テープ部と前記外側テープ部との間において、前記第一接着剤層の周縁と前記第二接着剤層の周縁とが重ならない寸法である、
    請求項4又は5に記載のロール
  7. 前記巻芯の外径が、100mm以上である、
    請求項1〜6の何れか一項に記載のロール
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