JP5864126B2 - 発光素子パッケージ - Google Patents
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- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/62—Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
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Description
関するものである。
素子である。最近、発光ダイオードは輝度が徐々に増加するようになり、ディスプレイ用
光源、自動車用光源、及び照明用光源への使用が増加しており、蛍光物質を利用したり多
様な色の発光ダイオードを組合せることによって、効率の優れる白色光を発光する発光ダ
イオードも具現可能である。
びその製造方法を提供することにある。
に少なくとも1つの電極層、及び上記少なくとも1つの電極層の上に発光素子を含み、上
記電極層は熱拡散層及び上記熱拡散層の上に反射層を含み、上記熱拡散層は上記反射層の
厚さの少なくとも20倍の厚さで形成されている。
胴体の表面に絶縁層、上記絶縁層の上に複数の電極層、及び上記キャビティの内に配置さ
れ、上記複数の電極層のうち、少なくとも1層の上に搭載された発光素子を含み、上記複
数の電極層は熱拡散層及び上記熱拡散層の上に反射層を含み、上記熱拡散層は上記反射層
の厚さの少なくとも20倍の厚さで形成されている。
ージが搭載されたボード、及び上記発光素子パッケージの光出射経路に光学部材を含み、
上記各発光素子パッケージは、胴体、上記胴体の表面に絶縁層、上記絶縁層の上に少なく
とも1つの電極層、及び上記少なくとも1つの電極層の上に発光素子を含み、上記電極層
は熱拡散層及び上記熱拡散層の上に反射層を含み、上記熱拡散層は上記反射層の厚さの少
なくとも20倍の厚さで形成されている。
びその製造方法が得られる。
各層(膜)、領域、パッド、またはパターンの“上(on)”に、または“下(under)”
に形成されることと記載される場合において、“上(on)”と“下(under)”は、“直
接(directly)”または“他の層を介して(indirectly)”形成されることを全て含む。
また、各層の上または下に対する基準は、図面を基準として説明する。
は概略的に図示された。また、各構成要素のサイズは実際のサイズを全的に反映するもの
ではない。
実施形態を説明するに当たって、各層の図面の一例であり、図面に記載された部材の厚さ
に限定するものではない。
1のA−A側断面図である。
、第1及び第2電極層110、120、及び発光素子140を含む。
エハを有するウエハレベルパッケージ(wafer level package:WLP)を含むことがで
きる。上記胴体101はシリコン(Si)の以外の他の材料、例えば、アルミニウム(A
l)、アルミニウムナイトライド(AlN)、AlOx、PSG(photo sensitive glas
s)、サファイア(Al2O3)、ベリリウムオキサイド(BeO)、及びPCB(Print
ed Circuit Board)、各種樹脂などで形成され、実施形態はパッケージの製造効率及び放
熱効率に優れるシリコンをその例として説明する。
ングを遂行するようになるが、上記エッチング方法は、湿式エッチング(wet etching)
方法、乾式エッチング(dry etching)方法、レーザードリリング(laser drilling)方
法などが用いられ、また上記の方法のうち、2つ以上の方法を共に利用することもできる
。上記の乾式エッチング方法の代表的な方法には、深堀り反応性イオンエッチング(deep
reactive ion etching;deep RIE)方法がある。
05が形成され、上記キャビティ105は上部が開放された形態に形成され、例えばベー
スチューブ形態のリセス(凹部)、多角形リセス、または円形リセスのうち、いずれか1
形態に形成され、これに対して限定するものではない。上記キャビティ105の形成方法
は、マスクにパターニングした後、湿式エッチング液、例えば、KOH溶液、TMAH、
EDPのような異方性湿式エッチング溶液を使用して形成することができる。
ことができる。上記キャビティ105の側面103は上記キャビティ底面102に対し、
ほとんど垂直となるように形成されたり、所定の曲面に形成されるが、これに対して限定
するものではない。上記胴体101の側面部107は所定の角度に折り曲げられた構造ま
たは垂直な構造で形成される。上記胴体101の側面部107は、上記胴体101の上面
から第1角度に傾斜した上部側面と上記胴体の下面から第2角度に傾斜した下部側面を含
み、上記上部側面と下部側面は隅を形成するようになる。上記胴体101の側面部はパッ
ケージ材料の結晶特性によって所定角度にエッチングされるか、カッティング工程により
形成される。ここで、上記胴体101の側面部形状は、実施形態の技術的範囲内で多様に
変更可能であり、図面に提示された特徴に限定するものではない。
他の領域の厚さよりは薄く形成され、好ましくは最も薄い厚さで形成され、このような厚
さの差はエッチング方法によって変えることができる。
110、120が形成される。上記絶縁層130は、電極層110、120と上記胴体1
01との間を絶縁させる。上記絶縁層130は、上記電極層110、120より広い面積
をカバーすることによって、上記胴体101と他の伝導性物質との接触を遮断することが
できる。
ニウムオキサイド(AlOx)、シリコン窒化膜(Si3N4、SixNy、SiOxN
y等)、アルミナ(AlN)、サファイア(Al2O3)からなる群から少なくとも1つ
が選択されて形成される。
む。上記第1及び第2電極層110、120は多数の金属層を含み、熱伝導性、電気的特
性、光反射効率のための金属性材料及び厚さにより選択される。
は上記胴体101の他方の側に配置される。上記胴体101の一方の側と他方の側とは、
互いに反対側領域、または互いに対応する領域でありうる。
上面の一方の側、第1側面部、及び底面一部まで延長できる。上記第2電極層120は、
上記キャビティ105の表面の他方の側、上記胴体101の上面の他方の側、第2側面部
、及び底面の一部まで延長できる。上記第1側面部は左側面領域であり、上記第2側面部
は右側面領域でありうる。
20の端部(P2)は第2リード端子に使用される。
レジストをコーティングし、露光、現像して選択領域を露出するようにパターニングして
マスクパターンを形成する。そして、上記第1及び第2電極層110、120は、マスク
パターンが形成されない領域にスパッタリング方法、メッキ方法(電解または無電解メッ
キ)、またはE−beam蒸着方法により選択的に蒸着し、リフトオフ(Lift off)して
形成することができ、これに対して限定するものではない。
、上記分離部145は上記第1電極層110と上記第2電極層120との間の領域であり
、上記キャビティ105から上記胴体101の上面まで延長できる。上記分離部145は
溝で形成され、上記溝には絶縁物質が配置される。上記分離部145の深さは上記第1電
極層110または上記第2電極層120の厚さと同一の深さで形成される。
はウェル領域と定義することができる。上記ドーピング領域は、上記胴体101の上面ま
たは/及び下面に不純物の注入または拡散工程により形成される。上記ドーピング領域は
上記胴体101と反対の極性を含み、例えばP型半導体であることがあり、これに対して
限定するものではない。ここで、上記胴体101はN型半導体でありうる。したがって、
上記のドーピング領域と上記胴体101はP−N接合またはP−N−P接合、N−P接合
、N−P−N接合のうち、少なくとも1つにより接合され、このような接合構造はツェナ
ーダイオードのような保護素子や定電流素子で具現できる。
される。
に配置される。以下、説明の便宜のために、上記発光素子140は第1電極層110の上
に配置された例として説明する。
センターに位置する。
れる。上記第1電極層110及び上記第2電極層120の領域は。反射領域とリード領域
とに分けられる。上記反射領域は、上記リード領域の反射率よりは高い反射率を有する領
域でありうる。上記反射領域の内にはボンディング領域を含む。上記電極層110、12
0において、反射領域の厚さは上記リード領域の厚さより薄い厚さで形成され、上記電極
層110、120において、ボンディング領域の厚さは上記反射領域よりは薄い厚さで形
成される。上記電極層110、120において、ボンディング領域と上記リード領域は同
一の金属積層構造で形成される。
ディング領域は第1領域(A1)でありうる。
の側面103、及び上記胴体101の上面一部(L1)まで延長できる。上記胴体101
の上面に露出された上記第2領域(A2)の幅(D1、D2)は例えば1μm以上に形成
されるが、これに対して限定するものではない。
面積は上記発光素子140の下面面積よりは広い面積で形成される。
発光素子140を上記第1電極層110にボンディングさせる。
れる。上記接合部材125は、ユーテクティックメタル(eutectic metal)であることが
あり、上記ユーテクティックメタルは、例えば、ゴールドティン(Au−Sn)、レッド
ティン(Pb−Sn)、インジウム(In)のうち、少なくとも1つを含むことができ、
このような物質は、例えばE−beam方法により形成される。
ップ、黄色LEDチップなどの可視光線領域帯のLEDチップ、または紫外線(UV)領
域帯のLEDチップからなることができ、このような発光素子140の種類や個数に対し
て限定するものではない。
x−yN(0≦x≦1、0≦y≦1、0≦x+y≦1)を含むことができる。上記化合物
半導体層は、第1導電型半導体層、活性層、第2導電型半導体層の順に積層された構造で
ありうる。上記半導体層の下には基板が配置され、上記基板はサファイアのような絶縁基
板または伝導性基板でありうる。上記基板は半導体層が成長された基板、または別途に付
着された基板でありうる。他の例として、上記半導体層の下には、オーミック層、反射層
、及び伝導性支持基板がさらに配置できる。上記伝導性支持基板を通じて電源が供給でき
る。
結される。上記発光素子140は、第1電極層110の上にボンディングされ、上記第2
電極層120にワイヤ142により連結される。上記発光素子140は、第1及び第2電
極層110、120にフリップ方式によりボンディングされるか、少なくとも2つのワイ
ヤにより各々連結され、これに対して限定するものではない。上記ワイヤ142の一端は
上記第2電極層110の反射層またはボンディング層でありうる。
る。上記第1電極層110の第1領域(A1)及び第3領域(A3)は、4層以上の金属
層に形成され、上記第1及び第2電極層110、120の第2領域(A2)は5層以上の
金属層に形成される。上記第2領域(A2)の積層構造は他の領域(A1、A3)の積層
構造よりは多い積層構造で形成され、例えば少なくとも1層より多い層を有することがで
きる。
成される。
7は反射領域、例えば、第2領域(A2)に形成される。
部材150はシリコンまたはエポキシのような透光性樹脂材料を含む。上記モールディン
グ部材150の表面は、凹形状、フラット形状、凸形状のうち、いずれか1つで形成され
る。上記モールディング部材150には少なくとも1種類の蛍光体が添加され、上記蛍光
体は、レッド蛍光体、グリーン蛍光体、及び黄色蛍光体を選択的に含むことができ、その
材質はYAG、TAG、シリケート(Silicate)、ナイトライド(Nitride)、オキシナ
イトライド(Oxynitride)系物質を選択的に含むことができる。
、上記モールディング部材150の上に凸または凹レンズの形状や、これらが混合した形
状で形成される。上記レンズは上記モールディング部材150と別途に形成されたり、上
記モールディング部材150と一体形成され、これに対して限定するものではない。上記
キャビティ105の上には少なくとも1種類の蛍光体を有する蛍光フィルムが配置され、
これに対して限定するものではない。
)方法により希望する領域に蛍光体が含まれたシリコンジェルまたは透光性に優れるエポ
キシを形成することができる。
側面部をエッチングし、絶縁層130を形成する。上記絶縁層130の上にマスクパター
ンを配置した後、電極層110、120を形成する。上記第1電極層110の上に発光素
子140を搭載し、第2電極層120にワイヤでボンディングする。以後、上記キャビテ
ィ105にモールディング部材150でモールディングする。このような胴体101をパ
ッケージ単位でカッティングする。上記カッティング面は、上記第1及び第2電極層11
0、120が形成される側面部の以外の領域を選択的に利用することができる。
散層112、バリア層113、ボンディング層114、接着層116、及び反射層117
を含む。
1、熱拡散層112、バリア層113、及びボンディング層114の積層構造で形成され
る。上記電極層110、120の第2領域(A2)は、シード層111、熱拡散層112
、バリア層113、ボンディング層114、接着層116、及び反射層117を含む。
2は上記シード層111の上に形成され、上記バリア層113は上記熱拡散層112の上
に形成され、上記ボンディング層114は上記バリア層113の上に形成される。また、
上記接着層116は上記ボンディング層114と上記反射層117との間に形成される。
、チタニウム(Ti)、クロム(Cr)、及びタンタリウム(Ta)を含み、接着層と定
義することができる。上記シード層111は約900ű200Åの厚さで形成される。
たはこれらの合金を選択的に含むことができる。ここで、上記シード層111が多層構造
の場合、その厚さはより厚く形成される。
Cu)で形成され、その厚さは10〜50μmで形成され、好ましく30μm±2μm程
度に形成される。
や胴体の表面に一層近く形成される。
5%以上に厚く形成され、このような厚さは垂直方向、例えば胴体厚さ方向への熱抵抗は
増加させ、水平方向、例えば胴体の厚さに垂直方向への熱拡散速度は増加される。
ーボンナノチューブなどで形成される。
定数Kを導入すれば、熱拡散層112の熱伝導(qx)は、次の通りである。
Aは熱伝導面積(m2)、
△xは拡散層の厚さ(m)、
kは熱伝導率(w/mK)、
T1、T2は物体の表面と裏面温度(K)、である。
)は比例し、熱伝導面積に反比例する。上記熱拡散層112の厚さが増加すれば、上記熱
拡散層112での熱抵抗は増加し、上記熱拡散層112の熱抵抗が増加すれば、垂直方向
(縦方向)よりは水平方向(横方向)への熱拡散速度が増加し、上記水平方向の熱拡散速
度が増加すれば、上記熱拡散層112の有効放熱面積を増加させることができる。上記の
熱拡散層112の有効放熱面積の増加は、熱伝導面積(A)を増加させることができ、こ
れはパッケージの全体熱抵抗を低下させることができる。
位であるので、約1000倍の差が発生し、また熱拡散層112の材料が熱伝導の良いC
uのような材質であるので、上記熱拡散層112の厚さが厚くなることより、水平方向へ
の有効放熱面積がより増えるように誘導することができる。したがって、上記熱拡散層1
12の厚さが厚くなれば、上記熱拡散層112を通じて水平方向に熱が速く拡散されて有
効放熱面積及び熱伝導面積がより広くなる効果が得られる。
放熱面積が実質的に10倍程度増加する効果がある。上記熱拡散層112の有効放熱面積
を考慮して上記熱拡散層112の厚さを設定することによって、上記熱拡散層112での
最大、最適の放熱効果が得られる。
記サブシード層はAuまたはCuで形成される。ここで、上記シード層の積層構造はCr
/Auや、Cr/Cu、Ti/Au、Ta/Cu、Ta/Ti/Cuなどの構造をなすこ
とができる。ここで、上記シード層111と上記熱拡散層112との間のサブシード層は
6000ű500Å程度に形成される。
の環境で上記熱拡散層112による上記ボンディング層114の電気的特性の減少を遮断
する。上記バリア層113は、白金(Pt)、ニッケル(Ni)などを利用することがで
き、3000ű500Åの厚さで形成される。
14はメッキ層、例えば金(Au)で形成され、約5000±500Åの厚さで形成され
る。
上には接合部材125が形成される。上記接合部材125は、例えばユーテクティックボ
ンディングのための層であり、上記ボンディング層114に接合され、この時の接合効率
は上記ボンディング層114の表面粗さによって変えることができる。即ち、上記ボンデ
ィング層114の表面粗さが大きければ大きいほど、接合界面に空気の流入により熱伝導
率が低下するので、表面粗さを低下させることによって、熱伝導率を改善させることがで
きる。実施形態は、上記ボンディング層114の表面粗さはメッキ方式により形成される
上記ボンディング層114により30nm以下に抑制させることができる。
113はNi、ボンディング層114はAuの場合、Cr/Au/Cu/Ni/Au、C
r/Cu/Cu/Ni/Au、Ti/Au/Cu/Ni/Au、Ta/Cu/Cu/Ni
/Au、Ta/Ti/Cu/Cu/Ni/Auなどの積層構造で選択的に使用することが
できる。上記積層構造には、上記に開示された熱拡散層112の厚さを10〜50μmに
形成して、全体金属層の熱抵抗を低下させることができる。
接着層116及び反射層117の積層構造をさらに含む。上記接着層116は隣接した2
つの金属の間の接合のために形成され、チタニウム(Ti)、クロム(Cr)、タンタリ
ウム(Ta)などで使用することができ、900ű100Åの厚さで形成される。この
ような接着層116は形成しないことがある。
ために反射度に優れる金属または合金、例えばアルミニウム(Al)、銀(Ag)、アル
ミニウム合金、銀合金のうちから選択的に含むことができる。上記反射層117の反射率
は可視光線帯域に対し、少なくとも70%以上、好ましくは90%以上になることができ
る。上記反射層117は、図2のキャビティ105の底面及び側面に形成されるので、光
反射効率を改善させることができる。上記反射層117は、1500±300Å程度に形
成される。
の厚さは10〜50μmの厚さで形成される。上記熱拡散層112の厚さは上記電極層1
10、120厚さの50%以上、好ましくは85%以上でありうる。上記熱拡散層112
の厚さは上記反射層117厚さより数十倍、例えば20倍以上の厚さで形成される。上記
熱拡散層112の厚さは上記ボンディング層114の厚さより少なくとも66倍厚く形成
される。
厚さより少なくとも20倍程度厚く形成される。また、上記熱拡散層112は、上記反射
層117の厚さより少なくとも20倍厚く形成される。上記のような熱拡散層112の厚
さによって有効放熱面積を増加させることができるので、放熱効率と共に発光素子の電気
的な信頼性を改善することができる。
熱面積はキャビティ105の底面及びその側面、胴体の上面まで拡張できる。上記熱拡散
層112の有効放熱面積が増加すれば、上記発光素子140から発生した熱は上記熱拡散
層112に沿って水平方向に速く拡散されるので、電極層110、120の全表面で効果
的に放熱することができる。
上記発光素子140は光を放出する。上記放出された光は上記モールディング部材105
を通じて外部に放出される。
相対的に高い材質の熱拡散層112を配置し、上記熱拡散層112の厚さを他の層に比べ
て相対的に厚く形成することによって、熱拡散効率を増加させることができる。
子140から発生した熱を垂直方向に伝達することより水平方向に速く拡散させることが
できる。上記電極層110、120の厚さを増加させる場合、上記電極層110、120
自体の熱抵抗は上記電極層の厚さに比例して増加され、上記電極層110、120の熱抵
抗が増加すれば、上記電極層110、120の表面での水平方向への熱拡散が所定割合で
増加される。
進行する第1熱流量(F1)と垂直方向に進行する第2熱流量(F2)とに表すことがで
きる。上記第1熱流量(F1)及び上記第2熱流量(F2)は上記電極層110、120
により変わることができる。実施形態は、上記電極層110、120での水平方向への熱
伝達効率を増加させることによって、上記電極層110、120での第1熱流量(F1)
は上記第2熱流量(F2)より大きいことがあり、これは、電極層110、120での有
効放熱面積を増加させることができる。また、上記電極層110、120の水平方向に伝
えられる第1熱流量(F1)は上記電極層110、120から他の材質、例えば胴体10
1に伝えられる第2熱流量(F2)よりは大きくなるので、電極層110、120で放熱
に寄与する有効放熱面積を増加させることができる。これによって、上記電極層110、
120は水平方向への熱拡散を増加させて放熱に寄与する表面積、即ち、有効放熱面積が
増加することによって、上記電極層110、120とシリコン材質の胴体101での放熱
効率が改善できる。
から上記胴体の上面の電極層まで拡散される。即ち、上記電極層110、120の有効放
熱面積は増加される。また、上記電極層110、120に伝導された熱は上記胴体101
を通じて伝導されることで、上記胴体101の有効放熱面積も増加できるようになる。こ
れによって、発光素子パッケージの放熱効率は、上記のような電極層110、120及び
上記胴体101での有効放熱面積の増加によって改善されることができる。
ング層のラフネスは約28nm程度であり、上記熱拡散層の厚さは0.6μmの条件であ
る。この時の熱抵抗(TR:Thermal resistance)は13.2K/Wであって、チップ抵
抗(R1)が小さいが、熱拡散層の抵抗(R3)が相対的に大きくなって、全体熱抵抗の
改善効果が小さい。ここで、チップ抵抗はチップの活性層の以下の構造物の抵抗値となる
ことができる。
ボンディング層のラフネス(表面粗さ)は約28nm程度であり、上記熱拡散層の厚さは
0.6μmの条件である。この時の熱抵抗は8.5K/Wであって、第1例(C1)に比
べて第1抵抗(R1)は増加するが、第2抵抗(R2)及び第3抵抗(R3)は相対的に
減少して、全体熱抵抗の改善効果がある。上記第1抵抗(R1)はチップ抵抗であって、
活性層の下の全ての層の抵抗値であり、第2抵抗(R2)はダイアタッチ(Die attach)
抵抗値であり、第3抵抗(R3)はパッケージのボンディング層から胴体及びボード基板
(例:MCPCB)で発生した抵抗値でありうる。このような熱抵抗の改善は上記熱拡散
層の厚さの増加を通じて水平方向への熱拡散を誘導して有効放熱面積を増加させることに
よって、パッケージ全体の熱抵抗を改善させることができる。
ボンディング層のラフネスは約11nm程度であり、上記熱拡散層の厚さは30μmの条
件である。この時の熱抵抗は6.5K/Wであって、第2例(C2)に比べて第1抵抗(
R1)及び第3抵抗(R3)が減少して、全体熱抵抗の改善効果がある。
ッチ方式によりボンディングすることで、有効発光面積を増加させることができる。これ
によって、熱伝導面積が増加して、熱拡散層の抵抗、チップ抵抗、及びダイアタッチ抵抗
を低下させることができ、全体的な電極層の熱抵抗を改善させることができるので、放熱
効率をさらに高めることができる。
するに当たって、第1実施形態と同一の部分に対しては第1実施形態を参照し、重複説明
は省略する。
01、絶縁層130、130A、複数の電極層110、120、発光素子140、リード
電極110A、120A、及びビア構造160、161を含む。
層を形成せずに胴体が露出された形態である。
記リード電極110A、120Aは上記胴体101の下の絶縁層130Aの下に形成され
る。
ルーホール160の内にビア161が形成された構造であり、上記ビア161は上記胴体
101と絶縁物質により絶縁された構造である。
々連結させることによって、電源経路を提供する。
うに、熱拡散層112を形成することによって、有効放熱面積と熱伝導面積を通じてパッ
ケージの熱抵抗を低下させることができるので、垂直方向の第2熱流量(F2)よりは水
平方向の第1熱流量(F1)を大きくして、パッケージでの放熱効率を改善することがで
きる。
するに当たって、第1実施形態と同一の部分に対しては第1実施形態を参照し、重複説明
は省略する。
A、絶縁層130、複数の電極層110、120、発光素子140、リード電極P1、P
2、及びレンズ150Aを含む。
れて、光の指向角を調節するようになる。
イボンディングされた後にパッケージングされ、指示装置、照明装置、表示装置などの光
源に使用される。また、上記各実施形態は、各実施形態に限定されず、上記に開示された
他の実施形態に選択的に適用され、各実施形態に限定するものではない。
するに当たって、第1実施形態と同一の部分に対しては第1実施形態を参照し、重複説明
は省略する。
の突起118を含み、上記複数の突起118は上記発光素子140から放出された光を効
果的に反射させることができる。上記電極層110、120の突起118は上記キャビテ
ィ105の内に配置され、これに対して限定するものではない。
材150との結合力を改善させることができる。
例えば反射層117から突出される。他の例として、上記電極層110、120の他の層
または絶縁層130の表面にラフな突起を形成して、上記電極層110、120の表面に
突起118が形成されるようにすることができる。
領域107、108はウェル領域と定義することができる。上記ドーピング領域107、
108は上記胴体101の互いに異なる領域に配置され、不純物の注入または拡散工程に
より形成される。上記ドーピング領域107、108は上記胴体101と反対の極性を含
み、例えばP型半導体であることがあり、これに対して限定するものではない。ここで、
上記胴体101はN型半導体でありうる。
10に連結され、第2ドーピング領域108は第2電極層120に連結される。したがっ
て、上記のドーピング領域107、108、上記胴体101、及び上記電極層110、1
20の連結構造は、P−N接合、P−N−P接合、N−P接合、N−P−N接合のうち、
少なくとも1つにより接合され、このような接合構造はツェナーダイオードのような保護
素子や定電流素子で具現されることができる。
有する発光構造物235、保護層240、複数の伝導層250、支持部材260、絶縁層
290、及び電極211を含む。
D(Light Emitting Diode)で具現されることができ、上記LEDは、青色、緑色、また
は赤色のような光を放出する可視光線帯域のLEDまたはUV LEDであって、実施形
態の技術的範囲の内で多様に具現できる。
半導体層230を含む。
族元素の化合物半導体、例えば、GaN、AlN、AlGaN、InGaN、InN、I
nAlGaN、AlInN、AlGaAs、GaP、GaAs、GaAsP、AlGaI
nPなどから選択される。上記第1導電型がN型半導体の場合、上記第1導電型ドーパン
トはSi、Ge、Sn、Se、TeのようなN型ドーパントを含む。上記第1導電型半導
体層210は、単層または多層で形成され、これに対して限定するものではない。
ーン212のような光抽出構造や、電流拡散と光抽出のために透明電極層と絶縁層などが
選択的に形成され、これに対して限定するものではない。
ント濃度が異なるか、厚さが互いに異なるか、化合物の組成式が互いに異なることがある
。
で形成され、その材質は、GaN、InN、AlN、InGaN、AlGaN、InAl
GaN、SiO2、SiOx、SiN2、SiNx、SiOxNy、または金属物質から
なる群から選択される。上記超格子構造は互いに異なる少なくとも2層を交互に繰り返し
て少なくとも2周期を有して形成され、例えば、InGaN/GaNのような積層構造を
含む。上記超格子構造の各層は数Å以上の厚さで形成される。
ッド、または上記パッドに連結された分岐構造の電極パターンを含むことがあり、これに
対して限定するものではない。上記電極211は、上面にラフネスパターンが形成され、
これに対して限定するものではない。上記第1導電型半導体層210の上面のうち、上記
電極211が形成される面はフラットに形成され、これに対して限定するものではない。
Ti、Al、In、Ta、Pd、Co、Ni、Si、Ge、Ag、Cu、及びAuのうち
、いずれか1つまたは複数の物質を混合して単層または多層で形成することができる。上
記電極211は第1導電型半導体層210とのオーミック接触、金属層間の接着性、反射
特性、伝導性特性などを考慮して上記物質などから選択される。
で形成され、また量子線(Quantum wire)構造、量子点(Quantum dot)構造で形成され
ることもできる。上記活性層220は3族−5族元素の化合物半導体材料を用いて井戸層
と障壁層の周期、例えば、InGaN井戸層/GaN障壁層の周期、InGaN井戸層/
AlGaN障壁層の周期、またはInGaN井戸層/InGaN障壁層の周期で形成され
、これに対して限定するものではない。
1、0≦x+y≦1)の組成式を有する量子井戸層とInxAlyGa1−x−yN(0
≦x≦1、0≦y≦1、0≦x+y≦1)の組成式を有する障壁層を含んで形成される。
上記導電型クラッド層は窒化物系半導体で形成されることもできる。上記障壁層のバンド
ギャップは上記井戸層のバンドギャップより高く、上記導電型クラッド層のバンドギャッ
プは上記障壁層のバンドギャップより高いことがある。
ントがドーピングされた3族−5族元素の化合物半導体、例えば、GaN、AlN、Al
GaN、InGaN、InN、InAlGaN、AlInN、AlGaAs、GaP、G
aAs、GaAsP、AlGaInPなどから選択される。上記第2導電型がP型半導体
の場合、上記第2導電型ドーパントはMg、ZnのようなP型ドーパントを含む。上記第
2導電型半導体層220は単層または多層で形成され、これに対して限定するものではな
い。
らに含むことができ、上記第3導電型半導体層は上記第2導電型半導体層と反対の極性を
有することができる。また、上記第1導電型半導体層210がP型半導体層であり、上記
第2導電型半導体層230がN型半導体層で具現されることもできる。これによって、上
記発光構造物235は、N−P接合、P−N接合、N−P−N接合、及びP−N−P接合
構造のうち、少なくとも1つを含むことができる。
数の伝導層250が形成される。以下、説明の便宜のために発光構造物235の最下層は
第2導電型半導体層230を一例として説明する。
ル領域はチップサイズの境界であるチップ周り領域となる。上記保護層240の上面の外
側は外部に露出されるか、他の物質、例えば絶縁層290により覆われることができる。
また、上記保護層240の上面はラフネスまたはパターンが形成され、このような保護層
240及びそのラフネスまたはパターンはチャンネル領域での光抽出効率を改善させるこ
とができる。または、上記ラフネスまたはパターンは上記保護層240の上面の外側に上
記保護層240と異なる物質または屈折率の異なる物質を有するラフネスまたはパターン
が形成される。上記ラフネスまたはパターンは、3族−5族化合物半導体、例えば、Ga
N、AlN、AlGaN、InGaN、InN、InAlGaN、AlInN、AlGa
As、GaP、GaAs、GaAsP、AlGaInPなどであって、アイソレーション
エッチングにより形成される第2導電型半導体を用いて形成される。
外側に接触される。ここで、上記D1は数〜数十μm以内であり、チップサイズによって
変えることができる。
、またはフレーム形状などのパターンで形成される。上記保護層240は連続的なパター
ン形状または不連続的なパターン形状を含むことができる。
化物、透光性窒化物、または透光性絶縁層の材質のうちから選択される。上記保護層24
0は、例えばITO(indium tin oxide)、IZO(indium zinc oxide)、IZTO(i
ndium zinc tin oxide)、IAZO(indium aluminum zinc oxide)、IGZO(indium
gallium zinc oxide)、IGTO(indium gallium tin oxide)、AZO(aluminum zi
nc oxide)、ATO(antimony tin oxide)、GZO(gallium zinc oxide)、SiO2
、SiOx、SiOxNy、Si3N4、Al2O3、TiO2から選択的に形成される
。
約2.1程度であり、GaN屈折率は約2.4であって、上記第2導電型半導体層230
を通じて保護層240に入射された光は外部に抽出され、この場合、光抽出効率を改善さ
せることができる。
トが発生することを防止し、高湿に強いLEDを提供することができる。上記保護層24
0を透光性物質で使用する場合、レーザースクライビング時に照射されるレーザーが透過
されることによって、チャンネル領域でレーザーによって金属物質の破片の発生を防止す
るので、発光構造物235の側壁での層間短絡の問題を防止することができる。
記第1伝導層251の間の間隔を離隔させることができる。上記保護層240は、0.0
2〜5μmの厚さで形成され、上記厚さはチップサイズによって変更しうる。
1伝導層251は第2導電型半導体層230にオーミック接触され、その材質はITO、
IZO(In−ZnO)、GZO(Ga−ZnO)、AZO(Al−ZnO)、AGZO
(Al−Ga ZnO)、IGZO(In−Ga ZnO)、IrOx、RuOx、RuO
x/ITO、Ni/IrOx/Au、及びNi/IrOx/Au/ITOのような伝導性
酸化物を選択的に用いて多層で形成したり、IZO/Ni、AZO/Ag、IZO/Ag
/Ni、AZO/Ag/Niなどで積層することができる。
y、Si3N4、Al2O3、TiO2のうちから選択された物質がさらに形成されるこ
とができ、第1伝導層251と第2導電型半導体層230との間に配置される。
き、また、上記第1伝導層251は上記保護層240の下面の一部を覆う構造で形成され
、例えば、上記保護層240の下面の一部に上記保護層240の幅の80%以下に形成さ
れる。
上記保護層240の下まで延長できる。上記第1伝導層251は、反射金属、または/及
びシード金属を含むことができ、上記シード金属はメッキ工程のために使われる。これに
よって、上記第1伝導層251は、オーミック層、シード層、反射層のような層が選択的
に形成され、これに対して限定するものではない。
Pt、Au、Hf、及びこれらの選択的な組合により構成された物質を選択的に用いて単
層または多層で形成される。
バリア金属またはボンディング金属などを含み、例えば、Ti、Au、Sn、Ni、Cr
、Ga、In、Bi、Cu、Ag、またはTaのうち、少なくとも1つを含むことができ
る。
0が接合される。上記第3伝導層253を形成せず、上記第2伝導層252に上記支持部
材260をメッキやシートなどで付着させることができる。
)、モリブデン(Mo)、銅−タングステン(Cu−W)、キャリアウエハ(例:Si、
Ge、GaAs、ZnO、SiC、SiGe、GaN等)などで具現されることができる
。
層110と電気的に連結され、上記電極211は上記ワイヤ142により上記第2電極層
120と電気的に連結される。上記支持部材260から上記第1電極層110に伝導され
た熱は上記胴体101の厚さ方向よりは上記胴体101の側面方向に一層速く伝導される
ことで、放熱効率を改善させることができる。これによって、発光素子140の信頼性を
改善させることができる。
。上記絶縁層290は、下端は上記保護層240の上に部分接触されたり、完全に覆う形
態に形成される。上記絶縁層290は、屈折率が上記化合物半導体の屈折率(例:GaN
:2.4)よりは低い絶縁物質、例えば、SiO2、SiOx、SiOxNy、Si3N
4、Al2O3、TiO2などで形成される。
実施形態による発光素子パッケージは、光源としてライトユニットに適用される。上記
ライトユニットは複数の発光素子パッケージがアレイ(配列)された構造を含み、図9及
び図10に図示された表示装置、図11に図示された照明装置を含み、照明灯、信号灯、
車両前照灯、電光板などが含まれる。
板1041に光を提供する発光モジュール1031と、上記導光板1041の下に反射部
材1022と、上記導光板1041の上に光学シート1051と、上記光学シート105
1の上に表示パネル1061と、上記導光板1041、発光モジュール1031、及び反
射部材1022を収納するボトムカバー1011とを含むことができるが、これに限定さ
れるものではない。
51は、ライトユニット1050と定義することができる。
は透明な材質からなり、例えば、PMMA(polymethyl metaacrylate)のようなアクリ
ル樹脂系列、PET(polyethylene terephthlate)、PC(poly carbonate)、COC
(cycloolefin copolymer)、及びPEN(polyethylene naphthalate)樹脂のうちの1
つを含むことができる。
窮極的には表示装置の光源として作用する。
ら直接または間接的に光を提供することができる。上記発光モジュール1031は、ボー
ド1033と上記に開示された実施形態による発光素子パッケージ100を含み、上記発
光素子または発光素子パッケージ100は、上記ボード1033の上に所定間隔でアレイ
される。即ち、上記ボード1033の上には発光素子がチップまたはパッケージ形態にア
レイされる。
d Circuit Board)でありうる。但し、上記ボード1033は一般PCBだけでなく、メ
タルコアPCB(MCPCB:Metal core PCB)、軟性PCB(FPCB:Flexible PCB
)などを含むこともでき、これに対して限定するものではない。上記発光素子パッケージ
100は、上記ボトムカバー1011の側面または放熱プレートの上に搭載される場合、
上記ボード1033は除去できる。ここで、上記放熱プレートの一部は上記ボトムカバー
1011の上面に接触される。
される出射面が上記導光板1041と所定距離離隔するように搭載され、これに対して限
定するものではない。上記発光素子パッケージ100は、上記導光板1041の一側面で
ある入光部に光を直接または間接的に提供することができ、これに対して限定するもので
はない。
2は、上記導光板1041の下面に入射された光を反射させて上に向かうようにすること
によって、上記ライトユニット1050の輝度を向上させることができる。上記反射部材
1022は、例えば、PET、PC、PVCレジンなどで形成されるが、これに対して限
定するものではない。上記反射部材1022は、上記ボトムカバー1011の上面である
ことがあり、これに対して限定するものではない。
射部材1022などを収納することができる。このために、上記ボトムカバー1011は
上面が開口されたボックス(box)形状を有する収納部1012が備えられ、これに対し
て限定するものではない。上記ボトムカバー1011はトップカバーと結合され、これに
対して限定するものではない。
圧出成形などの工程を用いて製造される。また、上記ボトムカバー1011は熱伝導性の
良い金属または非金属材料を含むことができ、これに対して限定するものではない。
の第1及び第2基板、そして第1及び第2基板の間に介された液晶層を含む。上記表示パ
ネル1061の少なくとも一面には偏光板が付着され、このような偏光板の付着構造に限
定するものではない。上記表示パネル1061は、光学シート1051を通過した光によ
り情報を表示する。このような表示装置1000は、各種の携帯端末機、ノートブックコ
ンピュータのモニター、ラップトップコンピュータのモニター、テレビなどに適用できる
。
置され、少なくとも一枚の透光性シートを含む。上記光学シート1051は、例えば拡散
シート、水平及び垂直プリズムシート、及び輝度強化シートのようなシートのうち、少な
くとも1つを含むことができる。上記拡散シートは入射される光を拡散させ、上記水平ま
たは/及び垂直プリズムシートは入射される光を表示領域に集光させ、上記輝度強化シー
トは損失される光を再使用して輝度を向上させる。また、上記表示パネル1061の上に
は保護シートが配置され、これに対して限定するものではない。
041、及び光学シート1051を含むことができ、これに対して限定するものではない
。
発光素子パッケージ100がアレイされたボード1120、光学部材1154、及び表示
パネル1155を含む。
義することができる。上記ボトムカバー1152、少なくとも1つの発光モジュール11
60、及び光学部材1154は、ライトユニットと定義することができる。上記ボード1
120の上には発光素子がチップまたはパッケージ形態にアレイされる。
定するものではない。
ムシート、及び輝度強化シートなどのうち、少なくとも1つを含むことができる。上記導
光板は、PC材質またはPMMA(Polymethyl methacrylate)材質からなることができ
、このような導光板は除去できる。上記拡散シートは、入射される光を拡散させ、上記水
平及び垂直プリズムシートは入射される光を表示領域に集光させ、上記輝度強化シートは
損失される光を再使用して輝度を向上させる。
設置された発光モジュール1530と、上記ケース1510に設置され、外部電源から電
源が提供される連結端子1520とを含むことができる。
材質または樹脂材質で形成される。
実施形態による発光素子または発光素子パッケージ100を含むことができる。上記発光
素子パッケージ100は、複数個がマトリックス形態または所定間隔で離隔してアレイさ
れる。上記ボード1532の上には発光素子がチップまたはパッケージ形態にアレイされ
る。
ば、一般印刷回路基板(PCB:Printed Circuit Board)、メタルコア(Metal Core)
PCB、軟性(Flexible)PCB、セラミックPCBなどを含むことができる。
率的に反射されるカラー、例えば白色、銀色などのコーティング層となることができる。
。上記発光素子パッケージ100の各々は少なくとも1つのLED(Light Emitting Dio
de)チップを含むことができる。上記LEDチップは、赤色、緑色、青色、または白色の
有色光を各々発光する有色発光ダイオード、及び紫外線(UV:Ultra Violet)を発光す
るUV発光ダイオードを含むことができる。
ジ100の組合を有するように配置される。例えば、高演色性(CRI)を確保するため
に、白色発光ダイオード、赤色発光ダイオード、及び緑色発光ダイオードを組合せて配置
することができる。
給することができる。上記連結端子1520は、ソケット方式により外部電源に螺合され
るが、これに対して限定するものではない。例えば、上記連結端子1520は、ピン(pi
n)形態に形成されて外部電源に挿入されたり、配線により外部電源に連結されることも
できる。
00だけでなく、他の実施形態のパッケージ100A、100Bを適用することができ、
このようなパッケージ及びそのモジュールは、指示装置、照明装置、表示装置などに適用
される時、放熱効率による信頼性を改善させることができる。
るステップ、上記絶縁層の上に、シード層、熱拡散層、バリア層、及びボンディング層の
順に形成するステップ、上記ボンディング層の第2領域の上に接着層及び上記接着層の上
に反射層を形成するステップ、及び上記ボンディング層の第1領域の上に発光素子をボン
ディングし、上記第2領域のうち、上記第1領域から電気的に離隔した一部領域の反射層
に発光素子を電気的に連結するステップを含み、上記熱拡散層は銅材質を含み、10〜5
0μmの厚さを含む。
明を限定するのでない。本発明の本質的な特性を逸脱しない範囲内で、多様な変形及び応
用が可能であることが同業者にとって明らかである。例えば、実施形態に具体的に表れた
各構成要素は変形して実施することができ、このような変形及び応用にかかわる差異点も
、特許請求の範囲で規定する本発明の範囲に含まれるものと解釈されるべきである。
形態に含まれ、必ず1つの実施形態のみに限定されるのではない。延いては、各実施形態
で例示された特徴、構造、効果などは、実施形態が属する分野の通常の知識を有する者に
より他の実施形態に対しても組合または変形されて実施可能である。したがって、このよ
うな組合と変形に関連した内容は本発明の範囲に含まれることと解釈されるべきである。
Claims (13)
- 上部が開放されたキャビティを有する胴体と、
前記胴体の表面にある絶縁層と、
前記絶縁層の上にある少なくとも1つの電極層と、
前記少なくとも1つの電極層の上にある発光素子と、
前記キャビティに形成されたモールディング部材と、を含み、
前記電極層は熱拡散層及び前記熱拡散層の上に反射層を含み、前記熱拡散層は前記反射層の厚さより少なくとも20倍さらに厚い厚さを含み、
前記電極層は、
表面粗さを含むボンディング層と、
前記ボンディング層と前記反射層との間にある接着層と、
前記熱拡散層と前記反射層との間にあるバリア層と、
前記熱拡散層と前記絶縁層との間にあるシード層と、を含み、
前記少なくとも1つの電極層は第1電極層及び第2電極層を含み、前記発光素子は、前記第1電極層のボンディング層の上に配置され、前記第1電極層及び前記第2電極層に電気的に連結され、
前記反射層は該反射層の表面に突出した複数の突起を含み、
前記複数の突起は、前記キャビティ内に配置されて前記発光素子から放出された光を反射して、前記モールディング部材と結合され、
前記電極層は前記キャビティ内で互いに異なる積層構造を有し、
前記熱拡散層の厚さは10〜50μmを含み、
前記熱拡散層の厚さは前記電極層の厚さの85%以上に形成され、
前記電極層は前記絶縁層の厚さより少なくとも20倍厚い厚さを有し、
前記電極層は前記発光素子を起点に水平方向への熱拡散速度が前記胴体に伝えられる垂直方向への熱拡散速度より高いことを特徴とする、発光素子パッケージ。 - 前記ボンディング層の厚さは5000±500Åであることを特徴とする、請求項1に記載の発光素子パッケージ。
- 前記電極層は、発光素子が配置され、少なくとも4層の金属層を有する第1領域と、
前記第1領域の外側に少なくとも6層の金属層を有する第2領域と、を含み、
前記発光素子と前記第1電極層のボンディング層の第2領域との間に接合部材を含み、
前記接着層及び前記反射層は、前記ボンディング層の第1領域の上に配置されることを特徴とする、請求項1に記載の発光素子パッケージ。 - 前記反射層は前記キャビティの底面及び側面に配置され、
前記第1電極層と前記第2電極層との間に配置され、前記キャビティから胴体の上面まで延長された分離部を含むことを特徴とする、請求項3に記載の発光素子パッケージ。 - 前記熱拡散層は前記反射層より前記胴体の表面にさらに近接するように配置されることを特徴とする、請求項1乃至4のうち、いずれか1項に記載の発光素子パッケージ。
- 前記熱拡散層は前記ボンディング層の厚さより少なくとも66倍さらに厚い厚さを有することを特徴とする、請求項1乃至5のうち、いずれか1項に記載の発光素子パッケージ。
- 前記シード層は多層構造に形成されることを特徴とする、請求項1乃至6のうち、いずれか1項に記載の発光素子パッケージ。
- 前記熱拡散層は銅(Cu)を含み、30μm±2μmの厚さで形成されることを特徴とする、請求項5乃至7のうち、いずれか1項に記載の発光素子パッケージ。
- 前記熱拡散層は、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、金(Au)、及び銀(Ag)のグループのうちの少なくとも1つを含み、前記反射層は、アルミニウム、銀、アルミニウム合金、銀合金のうちの少なくとも1つを含むことを特徴とする、請求項1乃至7のうち、いずれか1項に記載の発光素子パッケージ。
- 前記発光素子は、
第1導電型半導体層、活性層及び第2導電型半導体層を含む発光構造物と、
前記第1導電型半導体層の上にある第1電極と、
前記第2導電型半導体層の下にある複数の伝導層と、
前記複数の伝導層の下に配置され、前記第1電極層と電気的に連結される伝導性の支持部材と、を含むことを特徴とする、請求項1乃至9のうち、いずれか1項に記載の発光素子パッケージ。 - 前記胴体はシリコン系列の伝導性材質を含むことを特徴とする、請求項10に記載の発光素子パッケージ。
- 前記胴体には前記胴体の上面から前記胴体の下面まで貫通される少なくとも1つのビア部材を含むことを特徴とする、請求項11に記載の発光素子パッケージ。
- 前記ボンディング層の表面粗さは30nm以下であることを特徴とする、請求項10または11に記載の発光素子パッケージ。
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