JP4325412B2 - 発光装置及び発光装置の製造方法 - Google Patents

発光装置及び発光装置の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4325412B2
JP4325412B2 JP2004012720A JP2004012720A JP4325412B2 JP 4325412 B2 JP4325412 B2 JP 4325412B2 JP 2004012720 A JP2004012720 A JP 2004012720A JP 2004012720 A JP2004012720 A JP 2004012720A JP 4325412 B2 JP4325412 B2 JP 4325412B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
substrate
metal
emitting device
hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004012720A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005209763A (ja
Inventor
研二 滝根
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nichia Corp
Original Assignee
Nichia Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nichia Corp filed Critical Nichia Corp
Priority to JP2004012720A priority Critical patent/JP4325412B2/ja
Publication of JP2005209763A publication Critical patent/JP2005209763A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4325412B2 publication Critical patent/JP4325412B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/49105Connecting at different heights
    • H01L2224/49107Connecting at different heights on the semiconductor or solid-state body

Landscapes

  • Led Device Packages (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Description

本発明は、発光装置及び発光装置の製造方法に関するものである。
近年、高輝度、高出力の半導体発光素子や小型で高感度の発光装置が開発され種々の分野に利用されている。このような発光装置は、小型・軽量、低消費電力等の特徴をいかして、例えば、光プリンターヘッドの光源、液晶バックライト光源、各種メータの光源、各種読み取りセンサー等の種々の分野に利用されている。
例えば、このような発光装置の一例として、図6に示すような発光装置42がある。この発光装置は、凹部を有し、この凹部底面から引き出されたリード電極41が一体成形されたプラスチック製のパッケージ40を用いており、この凹部底面から露出されたリード電極41上に、発光素子としてLEDチップ43がダイボンドされている。また、LEDチップ43は、その表面に形成された各電極(図示せず)がパッケージ40に設けられたリード電極41に、金線44などによって電気的に接続されている。このように凹部内に配置されたLEDチップ43は透光性のモールド樹脂45によって封止されている。これにより、パッケージ内部に配置されたLEDチップやワイヤなどは水分、外力など外部環境から保護され、信頼性の高い発光装置が得られる。
通常、発光素子は、電力消費により熱を発する。上述したような構成の発光装置42は、発光素子から発生する熱を、リード電極41を介して基板側に逃している。
しかし、発光素子の出力を向上させるために発光装置42に大電流を投下すると、パッケージ40による放熱効果が十分でないため、発光素子の温度は上昇し、素子の動作速度や周囲に存在する樹脂の劣化等を引き起こすのみならず、発光効率が低下するという問題がある。また、リード電極41を折曲加工してパッケージ40の下面に引き出しているため、リード電極41の加工に伴うストレスがパッケージ40又はリード電極41自体にかかり、接触不良や断線等の不具合を招くことがある。さらに、リード電極41を折曲加工するため、パッケージ40にある程度の厚みが必要とされ、さらなる小型化、軽量化を図ることが困難になる。
また、図7に示すように、上面に凹部を有する基板50が用いられ、凹部の底面は熱発散パッド52で被覆されており、この露出した熱発散パッド52上に、LEDチップ51が搭載されてなる発光装置53が提案されている(例えば、特許文献1)。
このような発光装置50では、LEDチップ51は、熱発散パッド52上に直接載置されるため、熱発散効果を高めることができる。
特開平2003−31850号公報
しかし、最近では、高密度実装に対応するために、さらなる小型化・薄型化に加え、高性能及び高信頼性を有する発光装置が望まれており、これに応じてさらなる放熱性の向上を図り、発光装置の性能及び信頼性を確保することが要求されている。
本発明は、上記課題に鑑みなされたものであり、発光装置におけるさらなる放熱効果の向上を図り、高い信頼性を維持しながら低消費電力で高輝度に発光させることが可能な発光装置を提供することを目的とする。
本発明の発光装置は、上面に凹部を有する基板と、前記凹部底面に載置された発光素子とからなる発光装置であって、前記基板は、凹部底面に導電性及び/又は放熱性材料が埋設された貫通孔を少なくとも1個有し、かつ、凹部を含む上面及び下面に、それぞれ、前記貫通孔に埋設された導電性及び/又は放熱性材料と接触する金属パターンを備えており、前記発光素子は、前記金属パターン上に載置されてなることを特徴とする。
上記発光装置においては、発光素子が、貫通孔の上方の金属パターン直上に載置されていることが好ましい。
また、貫通孔は複数個形成されていてもよい。
さらに、基板の上面及び下面に形成された金属パターンは、それぞれ、少なくとも2つの電気的に分離されたパターンとして形成され、該2つの電気的に分離されたパターンが発光素子の一対の端子電極として機能するものであってもよい。
また、導電性及び/又は放熱性材料が、半田、金属ペースト、導電ペースト又は金属薄膜と樹脂との組み合わせ材料であってもよいし、金属パターンが、金、銅、ニッケル、クロム、銀もしくはこれら金属の合金の単層膜又は積層膜により形成されていてもよい。
本発明の発光装置の製造方法は、上面及び下面に金属薄膜が形成された第1基板に貫通孔を形成する工程、
該貫通孔内に導電性及び/又は放熱性材料を埋め込む工程、
前記第1基板の上面及び下面の金属薄膜をパターニングする工程、
凹部を構成する貫通孔が形成された第2基板を、前記第1基板上に張り合わせて上面に凹部を有する基板を形成する工程、
該上面に凹部を有する基板における凹部表面に金属薄膜を形成する工程、
得られた基板上に発光素子を実装する工程からなることを特徴とする。
本発明の発光装置によれば、基板上面に形成された金属パターン上に発光素子が載置されているために、発光素子によって生じた熱を、金属パターンを通して、基板上面側から、効率的に発散させることができる。加えて、金属パターンが貫通孔内に埋設された導電性及び/又は放熱性材料と接触しており、さらにこの貫通孔は、基板下面に形成された金属パターンと接触しているために、発光素子によって生じた熱が、貫通孔を伝わって、発光素子の実装部から直接基板下面の金属パターンを通して効率的に発散させることができる。しかも、貫通孔内には導電性及び/又は放熱性材料が埋設されているため、凹部内にモールドした場合であっても、モールド樹脂が貫通孔から漏れることがなく、信頼性の高い良好な発光装置を得ることができる。
また、発光素子が貫通孔上の金属パターン直上に載置されている場合には、発光素子が載置された箇所において、金属パターンを介して直接貫通孔内の導電性及び/又は放熱性材料に熱が伝わることとなり、基板の上下面からの放熱をより効率的に行うことができる。
さらに、貫通孔が複数個形成されている場合には、発光素子で発生した熱をさらに効果的に基板下面の金属パターンに伝えることができ、放熱効果をより顕著に発揮させることができる。
また、基板の上面及び下面に形成された金属パターンが、それぞれ、少なくとも2つの電気的に分離されたパターンである場合には、2つの電気的に分離されたパターンを、発光素子の一対の端子電極として機能させることができ、放熱のために形成した金属パターンと別個に端子電極を形成する必要がなく、より構造がシンプルで、安価な発光素子を得ることができる。しかも、従来のリード電極のように、屈曲加工が施されていないため、リード電極の加工に伴うストレスがパッケージやリード電極自体にかかることがなく、さらに、基板の貫通孔によって端子電極自体が保護されるために、接触不良や断線等の不具合を防止することができる。
さらに、導電性及び/又は放熱性材料が、金属又は合金、金属ペースト、導電ペースト又は金属薄膜と樹脂との組み合わせ材料である場合には、導電性を確保しながら放熱性を十分に発揮させることができるため、発光効率をより向上させることができ、発光装置の長寿命化を図ることができる。
また、金属パターンが、金、銅、ニッケル、クロム、銀、これら金属の合金の単層膜又は積層膜により形成されている場合には、放熱効率が良好であるとともに、導電性が良好であるために、より低消費電力化を図ることができ、高信頼性かつ高性能の発光装置を得ることが可能となる。
本発明の発光装置の製造方法によれば、発光素子が発生する熱を効率的に発散させることができ、高性能及び高信頼性の発光装置を、簡便な製造方法により実現することができ、製造コストの上昇を抑制し、安価な発光装置を製造することができる。
本発明の発光装置は、少なくとも基板と発光素子とから構成される。
基板は、上面に凹部を有する形状であれば、その種類、材料は特に限定されるものではなく、通常当該分野で用いられている基板のすべてを用いることができる。例えば、ガラス;ガラスエポキシ;セラミック、アルミナ;ポリエステル、ポリイミド、ポリビニルアルコール、アクリル等の樹脂基板;IMS基板、メタルコア基板、ホーロー基板等の金属系基板;等、種々のものを利用することができる。なお、上面の凹部は、平板状の基板の上面をくりぬくなどの加工を施すことにより形成してもよいし、平板状の基板の上に、貫通孔又は穴が形成された別の平板状の基板を貼り付けることにより形成してもよいし、これらを組み合わせて形成してもよい。
上面の凹部の形状及び大きさは特に限定されるものではなく、例えば、平面形状は、円形、楕円形、多角形等、種々の形状とすることができる。また、断面形状は、矩形、底面よりも上面が大きいテーパー状、逆テーパー状等、種々の形状とすることができる。なかでも、光の取り出し効率を考慮して、底面よりも上面が大きい逆円錐台形状が好ましい。また、凹部の上面における面積は、2〜10mm程度、深さは、例えば、0.2〜0.8mm程度が挙げられる。なお、基板は、凹部底面、つまり最も薄い部分において、0.2〜0.8mm程度、凹部の上面、つまり最も厚い部分において、0.4〜1.6mm程度の厚みが挙げられる。これにより、発光装置の形成工程中及び発光装置としての十分な強度を確保することができるとともに、発光素子からの光の取り出しを効率的に行うことができる。
基板は、凹部底面に少なくとも1個の貫通孔を有している。また、2個以上の貫通孔を有していてもよい。貫通孔の大きさは特に限定されるものではなく、基板上に載置する発光素子よりも小さめ、例えば、凹部底面において0.03〜0.2mm程度の面積を有することが適当である。なお、貫通孔の形状は、例えば、平面形状が円形、楕円形、多角形等、種々の形状とすることができ、断面形状が矩形、テーパー状、逆テーパー状等、種々の形状とすることができる。なかでも、貫通孔に導電性及び/又は放熱性材料を埋設することを考慮して、矩形であることが好ましい。貫通孔が複数個形成される場合には、全ての貫通孔が同じ形状及び大きさでなくてもよい。
貫通孔内に埋設される導電性及び/又は放熱性材料とは、少なくとも放熱性又は導電性のいずれかを有している材料であって、好ましくは、放熱性と導電性との双方の機能を有している材料を意味する。なお、このような機能は、必ずしも1種類の材料で発揮するのみならず、2種以上の材料を貫通孔内で組み合わせて用いて発揮するものでもよい。導電性及び/又は放熱性材料の指標として、例えば、熱伝導率が10〜500W/m・k程度の材料が挙げられる。このような材料としては、金属又は合金、金属ペースト、導電ペースト又は金属薄膜と樹脂との組み合わせ材料等が挙げられる。具体的には、半田、アルミニウム、銅、銀、クロム、金等を単独又は組み合わせて含有する金属ペースト、これら金属の単層膜又は積層膜を貫通孔内面に形成し、この膜内にエポキシ樹脂、アクリル樹脂、シリコーン樹脂、ウレタン樹脂、ポリイミド樹脂、アクリレート樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリノルボルネン樹脂、変性シリコーン樹脂、非晶質ポリアミド樹脂、フッ素樹脂等を埋設したもの等が挙げられる。
また、基板の凹部を含む上面及び下面のそれぞれに、金属パターンが形成されている。金属パターンは、上面及び下面の双方において、それぞれ、貫通孔内に埋設された導電性及び/又は放熱性材料に接触しており、好ましくは、電気的に接続されている。両者の接触は、貫通孔を完全に覆うように金属パターンが配置しており、貫通孔に埋設された導電性及び/又は放熱性材料の上面又は下面の全面で行われることが好ましいが、導電性及び/又は放熱性材料の上面又は下面の一部のみが金属パターンと接触するのみでもよい。
金属パターンは、金属膜によって形成されるのであれば、その種類は特に限定されない。例えば、抵抗が低い材料、金、銅、ニッケル、クロム、銀、これら金属の合金の単層膜又は積層膜等が挙げられる。膜厚は特に限定されるものではなく、例えば、5〜50μm程度が挙げられる。パターンの平面形状は特に限定されるものではなく、発光素子の放熱及び発光素子の端子電極の双方の役割を適切に発揮し得るような形状であることが好ましい。
具体的には、基板の凹部を含む上面においては、凹部底面の一部の領域以外の全領域(凹部の底面の一部、側面及び上面)を被覆した1つのパターン;凹部底面の一部の領域以外の全領域を被覆した第1パターンと、凹部底面の一部の領域内に、第1パターンとは電気的に分離した第2パターンとの2つのパターン;凹部底面の一部の領域以外の全領域を被覆した第1パターンと、凹部底面の一部の領域内に、第1パターンとは電気的に分離した第2及び第3パターンとの3つのパターン(ただし、第2パターンと第3パターンとは電気的に分離されている)等が挙げられる。このようなパターンとすることにより、特に、発光素子の放熱性を良好にすることができる。
また、基板の下面においては、略全面を被覆する1つのパターン;電気的に分離された2つのパターン;電気的に分離された3つのパターン等が挙げられる。なお、パターンの形状及び大きさは、基板の大きさ、この発光装置を実装するための基板の配線パターン等によって、適宜変更することができる。このようなパターンとすることにより、特に、端子電極として表面実装が可能な配線パターンを得ることができる。
基板の上面又は下面の金属パターンは、基板の凹部底面に載置された発光素子の一対の電極に電気的に接続されることにより、基板の上面又は下面に引き出した一対の端子電極として機能させることができる。例えば、基板の上面及び下面に形成された金属パターンが、それぞれ、2つの電気的に分離されたパターンとして形成され、貫通孔が例えば2個形成されている場合には、この2つの電気的に分離されたパターン(上面において第1パターン、第2パターン;下面において第1パターン、第2パターン)は、貫通孔を通して、上面及び下面の第1パターン同士が電気的に接続され、上面及び下面の第2パターン同士が電気的に接続されることになる。よって、上面又は下面の第1パターンが第1の端子電極、上面又は下面の第2パターンが第2の端子電極として、一対の端子電極とすることができる。なお、一対の端子電極は、双方とも上面にあってもよいし、双方とも下面にあってもよいし、下面と上面にそれぞれ1つづつあってもよい。
金属パターンの上であって、基板の上面における凹部底面には、発光素子が載置されている。また、発光素子は、貫通孔の上方の金属パターン上に形成することが好ましい。これにより、発光素子によって発生した熱が、基板上面の金属パターンのみならず、直接貫通孔内に埋設された導電性及び/又は放熱性材料に、続いて、基板下面の金属パターンに効率的に伝わり、放熱効率が向上する。
なお、基板の上面に形成された凹部底面に貫通孔が1個のみ形成されている場合には、上述したように、その貫通孔の上方に発光素子が載置されていることが好ましい。また、貫通孔が2個以上形成されている場合には、貫通孔の1個が発光素子の下方に配置していることが好ましい。ただし、いずれの場合においても、貫通孔は少なくとも発光素子の近傍に、つまり、発光素子によって発生した熱を貫通孔から発散させることができる位置に配置していればよい。
本発明の発光装置における発光素子は、当該分野で公知のものの全てを包含する。例えば、LEDチップ、レーザーダイオード等が挙げられる。これらは、当該分野で公知の方法により作製されたものであり、公知の構成を有していればよい。
具体的には、ZnSeやGaNなど種々の半導体を用いたものが挙げられる。なかでも、蛍光物質を効率良く励起できる短波長が発光可能な窒化物半導体(InAlGa1−X−YN、0≦X、0≦Y、X+Y≦1)を用いたものが好ましい。また、この窒化物半導体には、任意に、ボロンやリンを含有させてもよい。なお、半導体の材料やその混晶度によって発光波長を適宜調整することができる。発光素子を構成する半導体は、MIS接合、pin接合やpn接合などを有するホモ構造、ヘテロ構造あるいはダブルへテロ構成のものでもよい。また、発光層を量子効果が生ずる薄膜に形成した単一量子井戸構造や多重量子井戸構造としてもよい。
窒化物半導体を使用する場合、発光素子を形成するための基板にはサファイア、スピネル、SiC、Si、ZnO及びGaN等の材料が挙げられる。結晶性の良い窒化物半導体を量産性よく形成させるためにはサファイア基板を用いることが好ましい。なお、サファイア基板上には、GaN、AlN、GaAlN等のバッファ層が形成されていてもよい。このサファイア基板上にMOCVD法などを用いて窒化物半導体を形成させることができる。
特に、窒化物半導体を使用したpn接合を有する発光素子の一例として、バッファ層上に、n型窒化ガリウムで形成した第1のコンタクト層、n型窒化アルミニウム・ガリウムで形成させた第1のクラッド層、窒化インジウム・ガリウムで形成した活性層、p型窒化アルミニウム・ガリウムで形成した第2のクラッド層、p型窒化ガリウムで形成した第2のコンタクト層を順に積層させたダブルへテロ構成等が挙げられる。p型層上に金属層を積層した後、半導体用基板を除去してもよい。
本発明の発光装置においては、発光素子は、1つの基板の凹部底面に1つのみ載置されていてもよいが、2つ以上の発光素子が載置されていてもよいし、発光素子のほかに、例えば、ツェナーダイオード、コンデンサ等の保護素子が組み合わせられていてもよい。これらの保護素子は、当該分野で公知のものの全てを利用することができる。
本発明の発光装置の製造方法においては、上面及び下面に金属薄膜が形成された第1基板に貫通孔を形成する工程、この貫通孔内に導電性及び/又は放熱性材料を埋め込む工程、第1基板の上面及び下面の金属薄膜をパターニングする工程、凹部を構成する貫通孔が形成された第2基板を、第1基板上に張り合わせて上面に凹部を有する基板を形成する工程、上面に凹部を有する基板における凹部表面に金属薄膜を形成する工程、得られた基板上に発光素子を搭載し、ワイヤボンディングする工程からなる。これらの工程は、必ずしもこの順に行わず、順序が前後してもよいし、各工程の前後に別の工程が行われてもよい。
上面及び下面に金属薄膜が形成された第1基板は、基板の上面及び下面に、電解めっき、スパッタ法、真空蒸着法等の種々の方法を利用して金属薄膜を形成することにより得ることができる。また、市販のものを利用してもよい。
第1基板に貫通孔を形成する方法は、フォトリソグラフィ及びエッチング工程、ドリルによる穿孔等の公知の方法を利用することができる。
また、貫通孔内に導電性及び/又は放熱性材料を埋め込む際には、(i)まず、貫通孔の内側に金属等による薄膜を形成し、その後、金属ペーストや樹脂等を充填してもよいし、(ii)貫通孔上に金属膜を形成することにより貫通孔をこの金属膜で埋設し、その後、貫通孔以外の領域に形成された金属膜を除去してもよいし、(iii)金属ペースト又は導電ペースト等を直接貫通孔に充填してもよい。金属膜の形成及び金属ペースト等の充填は、当該分野で公知の方法を利用することができる。
金属薄膜をパターニングする方法は、フォトリソグラフィ及びエッチング工程等の公知の方法を利用することができる。
第2基板の第1基板への張り合わせは、特に限定されることなく、例えば、エポキシ樹脂、アクリル樹脂等の公知の接着剤を用いて行うことができる。
凹部表面に金属薄膜を形成する方法としては、特に限定されるものではないが、例えば、電解めっき法が挙げられる。このめっき法では、条件及びめっき液の種類を変えることにより、積層膜を形成してもよい。なお、積層膜の場合には、1層目を形成した後、パターニングを行い、さらに2層目を形成してもよく、必ずしも、積層膜の全てが同じパターンで形成されなくてもよい。このように凹部表面に金属薄膜を形成することにより、この金属薄膜が、凹部底面において所定の形状にパターニングされていた金属薄膜と一体化し、金属パターンを構成することができる。
基板に発光素子を搭載し、ワイヤボンディングする方法は、当該分野で通常用いられる方法を利用して行うことができる。
なお、本発明の発光装置の製造方法においては、上記工程の全てを行った後、封止樹脂を基板上に充填することが好ましい。これにより、発光素子からの光の色相、光度、指向特性、演色性等を調整することができ、光の取り出し効率を向上させることができ、さらに湿気や酸化による発光素子の劣化を防止することができる。
以下に、本発明の発光装置を図面に基づいて詳細に説明する。
実施の形態1
この実施の形態の発光装置を図1に示す。また、この発光装置10を構成する基板上面の金属パターンの形状を図2(a)に、基板下面の金属パターンの形状を図2(b)にそれぞれ示す。
この発光装置10は、ガラスエポキシによって形成された厚さ0.3〜0.5mm程度の基板1の上に、接着剤層2によって、テーパー形状の貫通孔(傾斜角度:45°程度、凹部底面となる部分の直径:2〜2.5mm程度)が形成された厚さ0.3〜0.5mm程度のガラスエポキシからなる基板4が貼り合わせられて構成された基板5を利用して形成されている。
この基板5の凹部底面において、底面の直径方向に3個の貫通孔6、7、8が形成されている。底面の略中央の貫通孔7は、他の2個の貫通孔6、8よりも若干大きめに形成されている。貫通孔7及び6、8の大きさは、例えば、直径0.4〜0.6mm程度及び0.2〜0.4mm程度である。貫通孔6、7、8の内側には、めっきによる銅薄膜9が形成され、その内部には金属ペースト18が埋設されている。例えば、銀ペーストの熱伝導率は25W/m・k程度である。金属ペースト18としては、銀ペーストや銅ペースト等を使用することができる。
基板5の凹部を含む上面には、図2(a)に示すように、3つ金属パターン11、12、13が形成されている。1つの金属パターン11は、基板5の凹部底面の一部を除いて、上面の略全面にわたって形成されている。また、他の金属パターン12、13は、凹部底面の一部において、金属パターン11と、例えば、0.05〜0.2mm程度離間することにより、それぞれ電気的に分離し、かつ貫通孔6、8をそれぞれ覆うように形成されている。
金属パターン11、12、13は、それぞれ、膜厚10〜15μm程度のめっきによる銅薄膜の上に、電解めっきによるNi−Ag膜(Ni厚3μm以上、Ag厚3μm以上)が形成された積層膜により形成されている。
基板5の下面には、図2(b)3つの金属パターン14、15、16が形成されている。各金属パターン14、15、16は、それぞれ電気的に分離するように配置しており、貫通孔6、7、8と、それぞれ1対1で電気的に接続している。
また、基板5の凹部底面には、発光素子17が載置されており、発光素子17における一対の電極が、凹部底面に形成された金属パターン12、13にそれぞれワイヤ19によりボンディングされている。
さらに、発光素子17が載置された基板5の凹部には、蛍光体を含有したシリコーン樹脂からなる封止樹脂3により封止されている。
このような発光装置10は、以下のように形成することができる。
まず、平坦な基板1の上面及び下面に、標準的なめっき技術により銅薄膜を形成する。
次いで、基板1の所定の領域に、フォトリソグラフィ及びエッチング工程により、貫通孔6、7、8を形成する。
さらに、貫通孔6、7、8が形成された基板1を上述した標準的なめっき技術によりめっきし、貫通孔6、7、8内に銅薄膜9を形成する。その後、内面に銅薄膜9が形成された貫通孔6、7、8内に、金属ペースト18を、貫通孔6、7、8表面が基板5の凹部底面と略面一になる程度に充填する。
続いて、基板1の上面に形成された銅薄膜を、例えばフォトリソグラフィ及びエッチング工程により、所定の形状にパターニングする。なお、この際のパターニングによって、基板1上に基板4を張り合わせる領域の銅薄膜を除去しておく。また、基板1の下面において、銅薄膜を、例えばフォトリソグラフィ及びエッチング工程により、所定の形状にパターニングする。
その後、所定の貫通孔が形成された基板4を、接着剤層2を介して、基板1上に張り合わせ、発光素子17を載置するための基板5を形成する。
次いで、所定形状のレジストパターンを、基板5の上面及び下面に形成し、上述した標準的なめっき技術により、銅薄膜を形成し、続いて、Ni−Ag薄膜を銅薄膜上に積層して、基板5の上面及び下面に、金属パターン11〜16を形成する。
上記工程とは別に、標準的な発光素子の形成技術により表面実装(SMD)型の発光素子17、例えば、活性層として単色性発光ピークが可視光である475nmのIn0.2Ga0.8N半導体を有する窒化物半導体発光素子を形成する。
まず、洗浄したサファイア基板上にTMG(トリメチルガリウム)ガス、TMI(トリメチルインジウム)ガス、窒素ガス及びドーパントガスをキャリアガスと共に流し、MOCVD法で窒化物半導体を成膜する。ドーパントガスとしてSiHとCpMgを切り替えることによってn型窒化物半導体やp型窒化物半導体となる層を形成する。これにより、サファイア基板上に、アンドープの窒化物半導体であるGaN層、Siドープのn型コンタクト層となるn型GaN層、アンドープの窒化物半導体であるGaN層、多重量子井戸構造の活性層(バリア層となるGaN層、井戸層となるInGaN層を1ペアとして5ペア積層し、最後にバリア層となるGaN層を積層)、Mgドープのp型クラッド層であるAlGaN層、Mgドープのp型コンタクト層であるp型GaN層を順次積層する。
次いで、エッチングによりサファイア基板上の窒化物半導体に同一面側で、p型コンタクト層およびn型コンタクト層の各表面を露出させる。次に、p型コンタクト層上にRh、Zrをターゲットとしたスパッタリングを行い、拡散電極を設ける。
さらに、W、Pt、Auをターゲットとしたスパッタリングを行い、拡散電極およびn型コンタクト層の一部に対し、それぞれW/Pt/Auの順に積層させp側台座電極とn側台座電極を同時に形成する。
得られた半導体ウェハにスクライブラインを引いた後、外力により分割させ発光素子17を形成する。
金属パターン11〜16を形成された基板5の凹部底面に、発光素子17をダイボンドして搭載し、p側台座電極及びn側台座電極と、金属パターン12、13とを、それぞれワイヤボンディングして電気的に接続する。
さらに、基板5の凹部に、蛍光体を含有したシリコーン樹脂からなる封止樹脂3をポッティングにより注入し、凹部が略平坦になる程度まで充填し、発光装置10を完成する。
この実施の形態における発光装置10は、上述したような構成により、発光素子17から発生した熱が発光素子17直下の金属パターン11に伝わり、金属パターン11に沿って、発光装置10の上面の略全面から発散させることができ、放熱効率が向上する。また、発光素子17の熱は、発光素子17の下方の貫通孔を伝わって、基板5の下面の金属パターン15により発散され、放熱効率がより向上する。
さらに、基板5上面の凹部の側面が傾斜しており、凹部表面に、反射効率の良好な金属パターン11が形成されているため、これらがリフレクタとして機能し、発光素子17からの光の取り出し効率が向上する。
また、発光素子17における一対の電極が、発光素子17の近傍に形成された金属パターン13、12に接続され、さらに、これら金属パターン13、12が貫通孔6、8を通して、基板5の下面の金属パターン14、16に電気的に接続されているために、これら金属パターン14、16が端子電極として機能し、この発光装置10を実装基板に表面実装することが可能となる。
さらに、封止樹脂19を基板の凹部に封止する際に、貫通孔は導電性及び/又は放熱性材料である金属ペースト18により完全に塞がれているために、封止樹脂19が基板の下面に漏れることなく、製造歩留まりが良好となる。
また、従来のように、基板5の上面から下面へ、折曲によって端子電極が加工されていないために、基板5や端子電極自体にストレスがかからず、信頼性の高い発光装置を得ることができる。しかも、端子電極自体が貫通孔によって保護される形態となるために、断線等の不具合を防止することができる。
さらに、発光装置の製造方法においては、上述したような非常に放熱性が向上し、信頼性及び性能において向上した発光装置を、簡便な方法により、製造コストの上昇と招くことなく実現することができる。
実施の形態2
この実施の形態の発光装置は、図3(a)、(b)に示すように、発光素子17の下方における貫通孔7に代えて、発光素子17の近傍に貫通孔26、27を形成した以外、実施の形態1の発光装置10と同様である。
このように、発光素子17の下方でなくても、近傍に貫通孔を設けることにより、さらに貫通孔の数を増やすことにより、放熱効果を良好にすることができる。
実施の形態3
この実施の形態の発光装置は、図4(a)、(b)に示すように、基板5上面の金属パターン12が金属パターン11と合体して金属パターン21を構成することにより、基板5上面に2つの電気的に分離された金属パターン21、13が配置された点、貫通孔28として、貫通孔8よりも若干大きくなり、位置が若干移動した点、さらに、基板5の下面において、貫通孔7と貫通孔28とが同じ金属パターン35に電気的に接続された点以外は、実質的に、実施の形態1の発光装置10と同様である。
このように、発光素子17の一対の電極において、一方は上面の金属パターン13、貫通孔6及び下面の金属パターン14と接続され、一方の端子電極が金属パターン14とし、他方は、上面の金属パターン21と接続され、他方の端子電極が金属パターン21とする構成とすることにより、実装を、表面実装のみならず、基板上下において自由に行うことができる。
また、貫通孔28が大きいことに起因してより放熱効果を向上させることができる。
実施の形態4
この実施の形態の発光装置は、図5(a)、(b)に示すように、発光素子17の下方における貫通孔7に代えて、発光素子17の近傍に貫通孔29を形成した以外、実施の形態3の発光装置と同様である。
このように、発光素子17の一対の電極において、一方は上面の金属パターン13、貫通孔6及び下面の金属パターン14と接続され、一方の端子電極が金属パターン14とし、他方は、上面の金属パターン21と接続され、他方の端子電極が金属パターン21とする構成とすることにより、実装を、表面実装のみならず、基板上下において自由に行うことができる。
また、貫通孔が発光素子17の下方に形成されていなくても、貫通孔28、29が大きいことに起因してより放熱効果を向上させることができる。
本発明の発光装置及びその製造方法は、バックライト光源、ディスプレイ、照明、車両用ランプ等の各種光源に利用することができる。
本発明における実施の形態1の発光素子の実施形態を示す断面図である。 (a)は図1の発光素子における基板上面の金属パターンを示す平面図であり、(b)は基板下面の金属パターンを示す平面図である。 (a)は実施の形態2の発光素子における基板上面の金属パターンを示す平面図であり、(b)は基板下面の金属パターンを示す平面図である。 (a)は実施の形態3の発光素子における基板上面の金属パターンを示す平面図であり、(b)は基板下面の金属パターンを示す平面図である。 (a)は実施の形態4の発光素子における基板上面の金属パターンを示す平面図であり、(b)は基板下面の金属パターンを示す平面図である。 従来の発光素子を示す断面図である。 従来の別の発光素子を示す断面図である。
符号の説明
1 基板
2 接着剤層
3 封止樹脂
4 基板
5 基板
6、7、8、26、27、28、29 貫通孔
9 銅薄膜
10 発光装置
11、12、13、14、15、16、35、36 金属パターン
17 発光素子
18 金属ペースト
19 ワイヤ

Claims (7)

  1. 上面に凹部を有する基板と、前記凹部底面に載置された発光素子とを備えた発光装置であって、
    前記基板は、その下面および前記凹部の底面に配置された金属パターンを備え、前記凹部の底面に開口する貫通孔を有しており、
    前記貫通孔は、その内面に金属膜を備え、その内部に放熱性材料が埋設されており、前記放熱性材料は、前記金属パターンと接触し、
    前記発光素子は、前記凹部の底面に配置された金属パターンに載置されていることを特徴とする発光装置。
  2. 前記発光素子が、貫通孔の上方の金属パターンの上に載置されてなる請求項1に記載の発光装置。
  3. 貫通孔が複数個形成されてなる請求項1又は2に記載の発光装置。
  4. 前記凹部の底面および前記基板の下面に形成された金属パターンは、それぞれ、少なくとも2つの電気的に分離されたパターンとして形成され、該2つの電気的に分離されたパターンが発光素子の一対の端子電極として機能する請求項1〜3のいずれか1つに記載の発光装置。
  5. 放熱性材料が、金属又は合金、金属ペースト、導電ペースト又は金属薄膜と樹脂との組み合わせ材料である請求項1〜4のいずれか1つに記載の発光装置。
  6. 金属パターンが、金、銅、ニッケル、クロム、銀もしくはこれら金属の合金の単層膜又は積層膜により形成されてなる請求項1〜5のいずれか1つに記載の発光装置。
  7. 貫通孔を有する第1の基板の上面及び下面に金属薄膜を形成する工程と、
    該貫通孔の内面に金属膜を形成し、さらに該貫通孔の内部に放熱性材料を埋め込む工程と、
    前記第1基板の上面及び下面の金属薄膜をパターニングする工程と、
    貫通孔を有する第2基板を、前記第1基板上に張り合わせて上面に凹部を有する基板を形成する工程と、
    該上面に凹部を有する基板における凹部表面に金属薄膜を形成する工程と、
    得られた基板上に発光素子を実装する工程を有することを特徴とする発光装置の製造方法。
JP2004012720A 2004-01-21 2004-01-21 発光装置及び発光装置の製造方法 Expired - Fee Related JP4325412B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004012720A JP4325412B2 (ja) 2004-01-21 2004-01-21 発光装置及び発光装置の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004012720A JP4325412B2 (ja) 2004-01-21 2004-01-21 発光装置及び発光装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005209763A JP2005209763A (ja) 2005-08-04
JP4325412B2 true JP4325412B2 (ja) 2009-09-02

Family

ID=34899017

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004012720A Expired - Fee Related JP4325412B2 (ja) 2004-01-21 2004-01-21 発光装置及び発光装置の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4325412B2 (ja)

Families Citing this family (49)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4699043B2 (ja) * 2005-02-21 2011-06-08 株式会社 大昌電子 基板の製造方法
KR100643475B1 (ko) * 2005-09-28 2006-11-10 엘지전자 주식회사 광 모듈 및 그 제조 방법
JP2007115874A (ja) * 2005-10-20 2007-05-10 Toyoda Gosei Co Ltd 接合用パターンの構造、その形成方法及び発光装置
JP4857709B2 (ja) * 2005-10-25 2012-01-18 日亜化学工業株式会社 発光装置
JP5214128B2 (ja) * 2005-11-22 2013-06-19 シャープ株式会社 発光素子及び発光素子を備えたバックライトユニット
KR100714749B1 (ko) 2006-03-21 2007-05-04 삼성전자주식회사 발광 소자 패키지 모듈 및 이의 제조 방법
US7365407B2 (en) * 2006-05-01 2008-04-29 Avago Technologies General Ip Pte Ltd Light emitting diode package with direct leadframe heat dissipation
KR100820529B1 (ko) * 2006-05-11 2008-04-08 엘지이노텍 주식회사 발광 장치 및 그 제조방법, 면 발광 장치
WO2007141827A1 (ja) * 2006-05-30 2007-12-13 Fujikura Ltd. 発光素子実装用基板、光源、照明装置、表示装置、交通信号機、及び発光素子実装用基板の製造方法
WO2007138677A1 (ja) * 2006-05-30 2007-12-06 Fujikura Ltd. 発光素子実装用ホーロー基板及び光源装置
JP4894354B2 (ja) * 2006-05-31 2012-03-14 豊田合成株式会社 発光装置
EP2023413A1 (en) * 2006-05-31 2009-02-11 Sanyo Electric Co., Ltd. Electronic component and method for manufacturing same
US20090314534A1 (en) * 2006-06-15 2009-12-24 Yoichi Matsuoka Electronic component
KR100765239B1 (ko) 2006-09-30 2007-10-09 서울반도체 주식회사 단결정 실리콘 재질의 발광 다이오드 패키지
KR100730771B1 (ko) * 2006-10-11 2007-06-21 주식회사 쎄라텍 발광소자용 패키지
US7808013B2 (en) * 2006-10-31 2010-10-05 Cree, Inc. Integrated heat spreaders for light emitting devices (LEDs) and related assemblies
JP5350658B2 (ja) * 2007-03-30 2013-11-27 シャープ株式会社 発光素子
KR100855065B1 (ko) * 2007-04-24 2008-08-29 삼성전기주식회사 발광 다이오드 패키지
JP2008282830A (ja) * 2007-05-08 2008-11-20 Opt Design:Kk プリント基板構造
US20090032829A1 (en) * 2007-07-30 2009-02-05 Tong Fatt Chew LED Light Source with Increased Thermal Conductivity
KR100929690B1 (ko) * 2007-08-22 2009-12-03 한솔엘씨디 주식회사 엘이디 패키지
JP2009123824A (ja) * 2007-11-13 2009-06-04 Denki Kagaku Kogyo Kk 発光素子パッケージおよびそれを実装した発光装置
JP2009123823A (ja) * 2007-11-13 2009-06-04 Denki Kagaku Kogyo Kk 発光素子パッケージおよびそれを実装した発光装置
JP2009267279A (ja) * 2008-04-30 2009-11-12 Showa Denko Kk 発光装置、表示装置
JP5450854B2 (ja) * 2008-06-24 2014-03-26 シャープ株式会社 発光装置
JP5345363B2 (ja) 2008-06-24 2013-11-20 シャープ株式会社 発光装置
JP2010021400A (ja) * 2008-07-11 2010-01-28 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 放熱特性に優れたプリント配線基板
JP2010050367A (ja) * 2008-08-25 2010-03-04 Panasonic Corp 発光装置
JP5354997B2 (ja) * 2008-08-29 2013-11-27 京セラ株式会社 発光装置用基板、発光装置用基板を用いた発光装置及び発光装置を用いた照明装置
US7923739B2 (en) 2009-06-05 2011-04-12 Cree, Inc. Solid state lighting device
US8598602B2 (en) 2009-01-12 2013-12-03 Cree, Inc. Light emitting device packages with improved heat transfer
KR101051489B1 (ko) * 2009-03-17 2011-07-25 주식회사 두성에이텍 발광 다이오드 유닛의 제조 방법과, 이 방법에 의하여 제조된 발광 다이오드 유닛
KR101077479B1 (ko) 2009-05-20 2011-10-27 주식회사 두성에이텍 발광 다이오드 유닛의 제조 방법과, 이 방법에 의하여 제조된 발광 다이오드 유닛
US8860043B2 (en) 2009-06-05 2014-10-14 Cree, Inc. Light emitting device packages, systems and methods
US9111778B2 (en) 2009-06-05 2015-08-18 Cree, Inc. Light emitting diode (LED) devices, systems, and methods
TW201117428A (en) * 2009-11-12 2011-05-16 Ind Tech Res Inst Method of manufacturing light emitting diode packaging
JP2011176303A (ja) * 2010-01-29 2011-09-08 Asahi Glass Co Ltd 発光素子搭載用基板およびその製造方法
US8269244B2 (en) 2010-06-28 2012-09-18 Cree, Inc. LED package with efficient, isolated thermal path
US8610140B2 (en) 2010-12-15 2013-12-17 Cree, Inc. Light emitting diode (LED) packages, systems, devices and related methods
KR101778151B1 (ko) * 2011-01-28 2017-09-26 엘지이노텍 주식회사 발광소자 패키지
TW201251140A (en) 2011-01-31 2012-12-16 Cree Inc High brightness light emitting diode (LED) packages, systems and methods with improved resin filling and high adhesion
CN103348496A (zh) * 2011-02-07 2013-10-09 克利公司 用于发光二极管(led)发光的部件和方法
KR101847938B1 (ko) * 2011-03-14 2018-04-13 삼성전자주식회사 발광소자 패키지 및 그 제조 방법
EP2827394A4 (en) * 2012-03-15 2015-04-08 Panasonic Ip Man Co Ltd LED SUBSTRATE, LED MODULE AND LED BULB
KR101516371B1 (ko) * 2013-12-26 2015-05-11 에이비엠 주식회사 접합 홈을 구비하는 칩 원판 및 이를 봉지하기 위한 봉지부재
JP6964421B2 (ja) * 2017-03-23 2021-11-10 ローム株式会社 半導体発光装置
CN107527978A (zh) * 2017-08-15 2017-12-29 江苏稳润光电科技有限公司 一种大功率紫外led真空封装器件及其制造方法
CN107567181A (zh) * 2017-09-08 2018-01-09 苏州晶品新材料股份有限公司 一种金属填充的陶瓷基板制备方法
WO2022176451A1 (ja) * 2021-02-19 2022-08-25 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 半導体装置、半導体装置の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005209763A (ja) 2005-08-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4325412B2 (ja) 発光装置及び発光装置の製造方法
US9553243B2 (en) Light emitting device
JP5864126B2 (ja) 発光素子パッケージ
JP6101001B2 (ja) 発光素子パッケージ及びこれを具備した照明システム
US9520383B2 (en) Light emitting device package and lighting system
US7521863B2 (en) Light emitting device and method for producing the same
JP4773755B2 (ja) チップ型半導体発光素子
KR101072193B1 (ko) 발광소자, 발광소자 제조방법, 및 발광소자 패키지
JP2008523578A (ja) 半導体発光装置、発光モジュール及び照明装置
JP2012515440A (ja) 複数配列された発光素子のパッケージ
JP2001168398A (ja) 発光ダイオード及び製造方法
JP2007073575A (ja) 半導体発光装置
JP2004172636A (ja) 発光ダイオード及び製造方法
KR20130014255A (ko) 발광 소자, 발광 소자 제조방법 및 조명 시스템
JPH11121797A (ja) チップ型半導体発光装置
KR101896683B1 (ko) 발광 모듈 및 이를 구비한 조명 시스템
KR101146659B1 (ko) 광 패키지 및 그 제조 방법
JP2007243057A (ja) 発光装置
KR20130060638A (ko) 발광 소자, 이를 포함하는 발광 소자 패키지, 및 이를 포함하는 조명 시스템
KR20120044112A (ko) 발광 소자 패키지 및 조명 시스템
KR20120058350A (ko) 발광 소자
JP2007088088A (ja) 発光装置
KR20140096185A (ko) 발광 다이오드 패키지 및 그 제조 방법
KR20130028290A (ko) 발광소자 패키지 및 조명 장치
KR20140095887A (ko) 발광 다이오드 패키지

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061005

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20081205

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081216

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090213

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20090213

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090519

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090601

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120619

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4325412

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120619

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120619

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130619

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130619

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees