JP5794222B2 - セラミック電子部品 - Google Patents
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Description
以下、本発明を実施した好ましい形態の一例について説明する。但し、下記の実施形態は、単なる例示である。本発明は、下記の実施形態に何ら限定されない。
セラミック材料:BaTiO3
焼き後のセラミック層の厚み(設計値):0.9μm
内部電極の材料:Ni
焼き後の内部電極の厚み(設計値):0.6μm
内部電極の合計枚数:45
焼成条件:1200℃で2時間保持
セラミック電子部品の容量:0.47μF
セラミック電子部品の定格電圧:4V
ガラスコート層15の厚み:5μm
ガラスコート層15に含まれる金属粉15a:Cu粉
Cu粉の平均粒子径:3μm
ガラスペースト中のガラス粉の主成分:ホウケイ酸ガラス
ガラスペースト中のガラスの軟化点:600℃
ガラス粉の平均粒子径:1μm
ガラスペーストの固形分中のCu粉末とガラス粉の比:50体積%/50体積%
熱処理の条件:680℃
めっき膜:ガラスコート層15の上に、Cu膜(厚み6μm)、Ni膜(厚み3μm)、Sn膜(厚み3μm)をこの順に形成。
コート層15における金属粉15aのアスペクト比が、それぞれ1、3.6、4.6、7.4、14.2であるセラミック電子部品1のサンプルをそれぞれ5つ作製した。各サンプルを製造するにあたり、Cuめっき膜の形成条件を、それぞれ、電流値3A、5Aにおいて、90分間とした場合のコート層15上のCuめっき膜の被覆率(%)を測定した。結果を表1に示す。
図14は、第2の実施形態に係るセラミック電子部品の略図的斜視図である。
図16は、第3の実施形態に係るセラミック電子部品の略図的断面図である。
図17は、第4の実施形態に係るセラミック電子部品の略図的斜視図である。
10…セラミック素体
10a…セラミック素体の第1の主面
10b…セラミック素体の第2の主面
10c…セラミック素体の第1の側面
10d…セラミック素体の第2の側面
10e…セラミック素体の第1の端面
10f…セラミック素体の第2の端面
10g…セラミック層
11…第1の内部電極
12…第2の内部電極
13…第1の電極端子
13a…第1の電極端子の第1の部分
13b…第1の電極端子の第2の部分
13c…第1の電極端子の第3の部分
13d…第1の電極端子の第4の部分
13e…第1の電極端子の第5の部分
13p…第1層
13q…第2層
13r…第3層
14…第2の電極端子
14a…第2の電極端子の第1の部分
14b…第2の電極端子の第2の部分
14c…第2の電極端子の第3の部分
14d…第2の電極端子の第4の部分
14e…第2の電極端子の第5の部分
15…コート層
15a…金属粉
15b…媒質
20…セラミックグリーンシート
21…導電パターン
22…マザー積層体
23…導電パターン
Claims (12)
- セラミック素体と、
前記セラミック素体内に設けられており、端部が前記セラミック素体の表面に露出している内部電極と、
前記セラミック素体の表面の前記内部電極が露出した部分の上を覆っており、金属粉が分散したガラス媒質または樹脂媒質からなるコート層と、
前記コート層の直上に設けられており、めっき膜により構成された電極端子と、
を備え、
前記コート層は、前記金属粉と前記ガラス媒質または前記樹脂媒質が固着されて一体化した複合膜であり、
前記金属粉は、前記内部電極と前記電極端子とを電気的に接続している導通パスを形成しており、
前記金属粉は、すべてが一体に焼結されておらず、前記ガラス媒質または前記樹脂媒質が前記金属粉の間を繋ぐように連続して存在しており、
前記コート層の厚み方向に沿った断面において、前記金属粉が細長形状であり、
前記導通パスを形成している前記金属粉の最大径が前記コート層の厚み以上である、セラミック電子部品。 - 前記金属粉は、フレーク状である、請求項1に記載のセラミック電子部品。
- 前記金属粉の最大径が前記コート層の厚みの1.5倍以上である、請求項1または2に記載のセラミック電子部品。
- 前記金属粉のアスペクト比が3.6以上である、請求項1〜3のいずれか一項に記載のセラミック電子部品。
- 前記導通パスの少なくとも一つは、前記コート層の厚み方向に沿って配された複数の前記金属粉が互いに接触することで形成されている、請求項1〜4のいずれか一項に記載のセラミック電子部品。
- 前記金属粉の主成分は、前記内部電極に主成分として含まれる金属と異なる、請求項1〜5のいずれか一項に記載のセラミック電子部品。
- 前記金属粉のコア部はCuからなる、請求項1〜6のいずれか一項に記載のセラミック電子部品。
- 前記コート層の厚みが1μm〜10μmである、請求項1〜7のいずれか一項に記載のセラミック電子部品。
- 前記コート層の厚み方向に沿った断面において、前記導通パスを構成している金属粉の表面形状が非直線状である、請求項1〜8のいずれか一項に記載のセラミック電子部品。
- 前記導通パスは、相対的に細い部分と、相対的に太い部分とを、それぞれ複数有する、請求項1〜9のいずれか一項に記載のセラミック電子部品。
- 前記めっき膜の前記コート層に接した部分がCuめっき膜またはNiめっき膜により構成されている、請求項1〜10のいずれか一項に記載のセラミック電子部品。
- 前記コート層におけるガラスまたは樹脂の割合が、35体積%以上である、請求項1〜11のいずれか一項に記載のセラミック電子部品。
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