JP5772335B2 - 画像形成装置及び方法及びプログラム並びにコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 - Google Patents

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Description

本発明は、画像を形成する画像形成装置及び方法及びプログラム並びにコンピュータ読み取り可能な記憶媒体に関する。
コピー機や、コピー、ファックス、プリンタなどの複数の機能を一つの筐体に収納した複合機(マルチファンクション装置(MFP:Multi Function Peripherals))等において、色ずれ補正や濃度補正などの画像調整は、中間転写ベルト上にトナーによるテストパターンを形成し、それをセンサで検出することにより行われている。テストパターンを検知する複数のセンサは、互いに主走査位置が異なる箇所に設置され、その各センサで検知できる中間転写ベルト上の位置にテストパターンが形成される。
また、画像調整の為に印刷動作ができない時間(ダウンタイム)を低減することが目的で、印刷と並行して主走査画像領域外の両端部にテストパターンを形成し、画像調整が行われている。
しかし、印刷と並行して主走査画像領域外の両端部にテストパターンを形成する上記の方法では、テストパターンを検知するためのセンサを画像領域外端部に配置する必要がある。そして、主走査幅の大きいテストパターンを形成する場合には、LD(レーザダイオード)走査光学系の光学特性保証領域外でLDを発光させなければならず、意図しない箇所への露光(フレア光)などにより、動作不具合や画像劣化を引き起こしてしまうという問題がある。
ここで、光学特性保証領域とは、走査するビームが感光体の狙いの領域に露光されることを保証した主走査方向の領域のことで、この範囲外では走査光学系のレンズ特性が保証されておらず、ビームを点灯させてしまうと意図しない箇所への露光が発生してしまうことになる。その意図しない露光が感光体で起こると、調整動作の失敗や画像劣化などの不具合が発生してしまう原因となり、その意図しない露光が同期検知板などのセンサで起こると、動作異常が発生してしまう原因となる。
なお、特許文献1には、画質調整によるダウンタイムを低減するために、画像端部のセンサに対してのみパターンを形成する方法が開示されている。また、特許文献2には、位置ずれ検知用パターンを確実に検知するために、大きな形状のパターンで大まかに補正する粗調を行ってから、小さな形状のパターンで細かく補正する微調を行う方法について開示されている。
しかし、特許文献1記載の技術は、画像形成と同時に画像領域外端部にパターンを形成し、画像領域内のセンサに対してパターンを形成しないものに過ぎないので、画像端部のセンサに対して形成するパターンが光学特性保証領域外になってしまう。つまり、光学特性保証領域外で光源が発光してしまう。特許文献2記載の技術でも、形成するパターンの大きさと検知センサの位置によっては、光学特性保証領域外で光源が発光してしまう。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、光学特性保証領域外で光源が発光することを抑制することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、複数の像担持体と、前記像担持体を帯電する帯電手段と、前記像担持体に潜像を形成する露光手段と、前記像担持体に形成された潜像をそれぞれ互いに異なる色のトナーからなる複数色のトナーで現像する現像手段と、前記像担持体に形成された像を、前記像担持体と対向する転写位置を移動する第2の像担持体上に重ね合わせて転写してカラー像を得る第1の転写手段と、前記第2の像担持体上に転写形成された像を転写材に転写する第2の転写手段と、前記第2の像担持体上に転写されるテストパターンを前記像担持体に形成するテストパターン形成手段と、主走査方向の相互に異なる位置のテストパターンを検知可能な複数のテストパターン検出手段と、テストパターンの検出結果によって画像形成条件を変える制御手段と、を備え、前記テストパターン形成手段は、テストパターンの主走査幅が光学特性保証領域端部からはみ出す場合には該テストパターン検出手段により検知可能な位置にテストパターンを形成せず、テストパターンの主走査幅が光学特性保証領域端部からはみ出さない場合には該テストパターン検出手段により検知可能な位置にテストパターンを形成することを特徴とする。
また、本発明は、複数の像担持体と、前記像担持体を帯電する帯電手段と、前記像担持体に潜像を形成する露光手段と、前記像担持体に形成された潜像をそれぞれ互いに異なる色のトナーからなる複数色のトナーで現像する現像手段と、前記像担持体に形成された像を、前記像担持体と対向する転写位置を移動する第2の像担持体上に重ね合わせて転写してカラー像を得る第1の転写手段と、前記第2の像担持体上に転写形成された像を転写材に転写する第2の転写手段と、前記第2の像担持体上に転写されるテストパターンを前記像担持体に形成するテストパターン形成手段と、主走査方向の相互に異なる位置のテストパターンを検知可能な複数のテストパターン検出手段と、テストパターンの検出結果によって画像形成条件を変える制御手段と、を備える画像形成装置で実行される画像形成方法であって、前記テストパターン形成手段が、テストパターンの主走査幅を決定する工程と、前記テストパターン形成手段が、テストパターンの主走査幅が光学特性保証領域端部からはみ出す場合には該テストパターン検出手段により検知可能な位置にテストパターンを形成せず、テストパターンの主走査幅が光学特性保証領域端部からはみ出さない場合には該テストパターン検出手段により検知可能な位置にテストパターンを形成する工程と、を含むことを特徴とする。
また、本発明は、複数の像担持体と、前記像担持体を帯電する帯電手段と、前記像担持体に潜像を形成する露光手段と、前記像担持体に形成された潜像をそれぞれ互いに異なる色のトナーからなる複数色のトナーで現像する現像手段と、前記像担持体に形成された像を、前記像担持体と対向する転写位置を移動する第2の像担持体上に重ね合わせて転写してカラー像を得る第1の転写手段と、前記第2の像担持体上に転写形成された像を転写材に転写する第2の転写手段と、前記第2の像担持体上に転写されるテストパターンを前記像担持体に形成するテストパターン形成手段と、主走査方向の相互に異なる位置のテストパターンを検知可能な複数のテストパターン検出手段と、テストパターンの検出結果によって画像形成条件を変える制御手段と、を備える画像形成装置に、テストパターンの主走査幅を決定するステップと、テストパターンの主走査幅が光学特性保証領域端部からはみ出す場合には該テストパターン検出手段により検知可能な位置にテストパターンを形成せず、テストパターンの主走査幅が光学特性保証領域端部からはみ出さない場合には該テストパターン検出手段により検知可能な位置にテストパターンを形成するステップと、を実行させる。
本発明によれば、光学特性保証領域外で光源が発光することを抑制することができる。これにより、調整動作の失敗、画像劣化、動作異常の発生を抑制することができる。
図1は、本発明の実施の形態にかかる画像形成装置の構成を示すブロック図である。 図2は、図1の検出センサの内部の概略構成を示す図である。 図3は、検出センサの内部構成と共に、検出センサで検出したデータの処理を司る機能構成を示すブロック図である。 図4は、位置ずれ補正用パターン画像中のマークと、検出センサによるマークの検出信号の波形例とを示す図である。 図5は、検出センサによって走査される1組のマークを示す図である。 図6は、画像印刷と並行して補正用パターンを形成する場合の中間転写ベルト及び検知センサを示す図である。 図7−1は、補正用テストパターンが形成された中間転写ベルト及び検知センサを示す図である。 図7−2は、補正用テストパターンが形成された中間転写ベルト及び検知センサを示す図である。 図8−1は、補正用テストパターンが形成された中間転写ベルト及び検知センサを示す図である。 図8−2は、補正用テストパターンが形成された中間転写ベルト及び検知センサを示す図である。 図9−1は、補正用テストパターンが形成された中間転写ベルト及び検知センサを示す図である。 図9−2は、補正用テストパターンが形成された中間転写ベルト及び検知センサを示す図である。 図10は、本発明の実施の形態に係る色ずれ補正処理を示すフローチャートである。 図11は、本発明の実施の形態にかかる画像形成装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
以下に添付図面を参照して、この発明にかかる画像形成装置の最良な実施の形態を詳細に説明する。図1は、本発明の実施の形態にかかる画像形成装置の構成を示すブロック図である。この画像形成装置100は、例えば、ファクシミリ装置、印刷装置(プリンタ)、複写機、及び複合機を含む画像処理装置であり、半導体レーザ光源、ポリゴンミラーなどの光学要素を含む光学装置101と、例えば、ドラム状の感光体(「感光体ドラム」ともいう。)、帯電器、現像器などを含む像形成部102と、中間転写ベルトなどを含む転写部103を含んで構成される。
光学装置101は、レーザダイオード(LD)を含む半導体レーザ光源である複数の光源(図示省略)から放出された光ビームBMを、ポリゴンミラー110により偏向させ、fθレンズを含む走査レンズ111a,111bに入射させる。光ビームは、イエロー(Y)、ブラック(K)、マゼンタ(M)、シアン(C)の各色の画像に対応した数が発生されており、それぞれ走査レンズ111a,111bを通過した後、反射ミラー112y,112k,112m,112cで反射される。例えば、イエローの光ビームYは走査レンズ111aを透過して反射ミラー112yで反射されてWTLレンズ113yへ入射される。ブラック、マゼンタ、シアンの各色の光ビームK,M,Cについても同様なので説明を省略する。
WTLレンズ113y,113k,113m,113cは、それぞれ入射された各光ビームY,K,M,Cを整形した後、反射ミラー114y,114k,114m,114cへと各光ビームY,K,M,Cを偏向させる。各光ビームY,K,M,Cはさらに反射ミラー115y,115k,115m,115cで反射され、それぞれ露光のために使用される光ビームY,K,M,Cとして感光体ドラム(以下、「感光体」と略称する。)120y,120k,120m,120cへと像状照射される。
感光体120y,120k,120m,120cへの光ビームY,K,M,Cの照射は、上述したように複数の光学要素を使用して行われるため、感光体120y,120k,120m,120cに対する主走査方向及び副走査方向に関して、タイミング同期が行われている。以下、感光体120y,120k,120m,120cに対する主走査方向を、光ビームの走査方向として定義し、副走査方向を、主走査方向に対して直交する方向、すなわち、感光体120y,120k,120m,120cの回転する方向として定義する。
感光体120y,120k,120m,120cは、アルミニウムなどの導電性ドラム上に、少なくとも電荷発生層と電荷輸送層とを含む光導電層を備えている。光導電層は、それぞれ感光体120y,120k,120m,120cに対応して配設され、コロトロン、スコロトロン又は帯電ローラなどを含んで構成される帯電器122y,122k,122m,122cにより表面電荷が付与される。
各帯電器122y,122k,122m,122cによって感光体120y,120k,120m,120c上にそれぞれ付与された静電荷は、光ビームY,K,M,Cによりそれぞれ像状露光される。これにより、感光体120y,120k,120m,120cの被走査面上に静電潜像が形成される。
感光体120y,120k,120m,120cの被走査面上にそれぞれ形成された静電潜像は、現像スリーブ、現像剤供給ローラ、規制ブレードなどを含む現像器121y,121k,121m,121cによりそれぞれ現像される。これにより、感光体120y,120k,120m,120cの被走査面上に現像剤像が形成される。
感光体120y,120k,120m,120cの被走査面上に担持された各現像剤は、感光体120y,120k,120m,120cに対する1次転写ローラ132y,132k,132m,132cによって、搬送ローラ131a,131b,131cにより矢印Dの方向に移動する中間転写ベルト130上に転写される。
中間転写ベルト130は、感光体120y,120k,120m,120cの被走査面上からそれぞれ転写されたY,K,M,Cの現像剤を担持した状態で2次転写部へと搬送される。
2次転写部は、2次転写ベルト133と、搬送ローラ134a,134bとを含んで構成される。2次転写ベルト133は、搬送ローラ134a,134bにより矢印Eの方向に搬送される。2次転写部には、給紙カセットなどの用紙収容部Tから上質紙、プラスチックシートなどの受像材である用紙Pが搬送ローラ135により供給される。2次転写部は、2次転写バイアスを印加して、中間転写ベルト130上に担持された多色現像剤像を、2次転写ベルト133上に吸着保持された用紙Pに転写する。用紙Pは、2次転写ベルト133の搬送と共に定着装置136へと供給される。定着装置136は、シリコーンゴム、フッ素ゴムなどを含む定着ローラなどの定着部材137を含んで構成されており、用紙Pと多色現像剤像とを加圧加熱し、排紙ローラ138によって用紙Pを印刷物P’として画像形成装置100の外部へと排出する。
多色現像剤像を転写した後の中間転写ベルト130は、クリーニングブレードを含むクリーニング部139によって転写残現像剤が除去された後、次の像形成プロセスへと供給される。
搬送ローラ131aの近傍には、中間転写ベルト130上にカラー画像を形成させる際の画像形成条件を補正するためのパターン画像(「色ずれ補正用テストパターン画像」、「濃度補正用テストパターン画像」を含む。)を検出するための3個の検出センサ(「検知センサ」ともいう。)5a,5b,5cが設けられている。この検出センサ5a,5b,5cは、それぞれ公知の反射型フォトセンサを含む反射型検出センサを用いれば良い。各検出センサ5a,5b,5cによる検出結果に基づいて、基準色に対する各色のスキュー(傾き)、主走査レジストずれ量、副走査レジストずれ量及び主走査倍率誤差を含む各種のずれ量を算出し、その算出結果に基づいて画質調整に係る各種のずれ量を補正し、中間転写ベルト130上にカラー画像を形成させる際の画像形成条件(位置ずれ補正、濃度補正)を補正し、画像調整時のテストパターン画像の生成に係る各種の処理を実行する。
図2は、図1に示した各検出センサ5a,5b,5cの内部の概略構成を示す図である。各検出センサ5a,5b,5cの内部構成は共通であり、図2には、検出センサ5aについて図示をするが、各検出センサ5b,5cについても同じなのでそれらの説明は省略する。
検出センサ5aは、1つの発光部10aと、2つの受光部11a,12aと、集光レンズ13aとを有する。発光部10aは、光を発生する発光素子であり、例えば、赤外光を発生する赤外光LEDである。また、受光部11aは、例えば、正反射型受光素子であり、受光部12aは、例えば、拡散反射型受光素子である。
この検出センサ5aでは、発光部10aから発せられた光L1が、集光レンズ13aを透過した後、中間転写ベルト130のテストパターン(図示省略)に到達する。そして、その光の一部は、テストパターン形成領域やテストパターン形成領域のトナー層で正反射して正反射光L2になった後、集光レンズ13aを再透過して受光部11aに受光される。また、光の他の一部は、テストパターン形成領域やテストパターン形成領域のトナー層で拡散反射して拡散反射光L3となった後、集光レンズ13aを再透過して受光部12aに受光される。
なお、発光素子として、赤外光LEDに代えて、レーザ発光素子等を用いても良い。また、受光部11a,12a(正反射型受光素子、拡散反射型受光素子)としては、何れもフォトトランジスタを用いているが、フォトダイオードや増幅回路等からなるものを用いても良い。
図3は、画像形成装置100の検出センサ5a,5b,5cの内部構成と共に、画像形成装置100の制御部における検出センサ5a,5b,5cで検出したデータの処理を司る機能構成を示すブロック図である。画像形成装置100の検出センサ5a,5b,5cは、それぞれ発光部10a,10b,10cと受光部11a,11b,11c,12a,12b,12cを備えている。なお、図2で示した集光レンズ13a,13b,13cの図示を省略している。
画像形成装置100の制御部は、検出センサ5a,5b,5cで検出したデータの処理に係る機能部として、CPU1、ROM2、RAM3及びI/O(インプット/アウトプット)ポート4と、発光量制御部14a,14b,14c、増幅部(AMP)15a,15b,15c、フィルタ部16a,16b,16c、A/D(アナログ/デジタル)変換部17a,17b,17c、FIFO(First-In First-Out)メモリ部18a,18b,18c及びサンプリング制御部19a,19b,19cを備えている。
ROM2には、中間転写ベルト130にカラー画像を形成させる際の画像形成条件を補正する補正処理、中間転写ベルト130にパターン画像を形成する際の主走査方向の位置ずれ量を算出する位置ずれ量算出処理、パターン画像補正処理を含む各種の処理をするためにCPU1が実行する手順からなるプログラムをはじめ、この画像形成装置100を制御するための各種のプログラムが格納されている。
CPU1は、受光部11a,11b,11cからの検知信号を適切なタイミングでモニタしており、搬送ベルト及び発光部10a,10b,10cの劣化等が起こっても確実に検知ができるように、発光量制御部14a,14b,14cによって発光量を制御しており、受光部11a,11b,11cからの受光信号のレベルが常に一定になるようにしている。RAM3は、例えば、NVRAMであり、各種のパラメータも記憶する。
次に、図3を参照しながら、検出センサ5a,5b,5cで検出されたデータの処理について説明する。CPU1は、RAM3を作業領域としてROM2に格納されているプログラムを実行し、後に詳述するテストパターン画像の検出時に、I/Oポート4を介して発光量制御部14a,14b,14cを制御し、検出センサ5a,5b,5cのそれぞれの発光部10a,10b,10cから所定の光量の光ビームをそれぞれ照射する。
まず、検出センサ5aの発光部10aから発せられた光ビームについて説明すると、その光ビームはテストパターン画像に照射され、その反射光を検出センサ5aの受光部11a,12aがそれぞれ受光する。受光部11a,12aは、それぞれ受光した光ビームの光量に応じたデータ信号を増幅部15aへ送る。増幅部15aは、そのデータ信号増幅してフィルタ部16aへ送る。フィルタ部16aは、増幅部15aの出力信号の内のライン検知の信号成分のみを通過させてA/D変換部17aへ送る。A/D変換部17aは、フィルタ部16aの出力信号をアナログデータからデジタルデータに変換する。そして、サンプリング制御部19aは、A/D変換部17aで変換されたデジタルデータをサンプリングしてFIFOメモリ部18aに格納する。
上述と同様にして、検出センサ5bの受光部11b,12bから得られたデータ信号について、サンプリングされたデジタルデータがFIFOメモリ部18bに格納され、検出センサ5cの受光部11c,12cから得られたデータ信号について、サンプリングされたデジタルデータがFIFOメモリ部18cに格納される。
このようにしてテストパターン画像の検出が終了した後、FIFOメモリ部18a,18b,18cにそれぞれ格納されているデジタルデータを、I/Oポート4を介してデータバスによりCPU1及びRAM3にロードし、CPU1は、ROM2に格納されているプログラムを実行することにより、その各データについて所定の演算処理を行い、中間転写ベルト130にカラー画像を形成させる際の画像形成条件を補正する補正処理、中間転写ベルト130にパターン画像を形成する際の主走査方向の位置ずれ量を算出する位置ずれ量算出処理、パターン画像補正処理を含む各種の処理を実行する。
このように、CPU1とROM2とが、画像形成装置100の全体の動作を制御すると共に、検出センサ5a,5b,5cで検出されたデータの処理を司る制御手段として機能し、補正手段、位置ずれ量算出手段、パターン画像補正手段の機能を果たす。また、パターン画像補正手段を無効にする手段の機能も果たす。
次に、テストパターン画像として位置ずれ補正用パターン画像を用いた場合について説明する。図4は、位置ずれ補正用パターン画像中のマークと、検出センサによるマークの検出信号の波形例とを示す図である。
位置ずれ補正用パターン画像は、正反射光用の位置合わせのための所定のパターンのマークの集合であり、1組のマーク30は、図4に示すように、Y,K,M,Cの順に形成された横線パターン(「水平パターン」ともいう。)と斜め線パターン(「斜めパターン」ともいう。)とを含む。このようなマーク30を副走査方向に8組並べたものを、各検出センサ5a,5b,5cに対応させて主走査方向に3列並べることで、位置ずれ補正用パターン画像とする。
横線パターンは、感光体120y,120k,120m,120cの主走査方向に対して横向きで所定幅と所定長を持った4本の横向きパターンである。斜め線パターンは、感光体120y,120k,120m,120cの主走査方向に対して所定の傾斜角(例えば、45°)を持たせて所定幅と所定長を持った4本の斜め向きパターンである。この位置ずれ補正用パターン画像は、感光体120y,120k,120m,120cにそれぞれY,K,M,Cの色に対応する8組×3列分の横線パターン及び斜め線パターンを形成し、中間転写ベルト130上に転写することで、図4に示すような配置で中間転写ベルト130上に形成する。
図4に示す一点鎖線31a,31b,31cは、それぞれ各検出センサ5a,5b,5cの中心部が中間転写ベルト130上の副走査方向に走査する軌跡を示している。図4では、各検出センサ5a,5b,5cの中心部が位置ずれ補正用パターン画像の中心部を通過している理想の軌跡の例を示している。
なお、図4には、中間転写ベルト130上に、中間転写ベルト130の搬送方向の先頭からY,K,M,Cの順に並ぶように横線パターン及び斜め線パターンを形成した例を示したが、横線パターン及び斜め線パターンのそれぞれの色の並びは他の並びにしても良い。
そして、中間転写ベルト130上に形成された位置ずれ補正用パターン画像の3列のマーク列を、それぞれ主走査方向に並べられた検出センサ5a,5b,5cによって検出する。
図4に示す波形140は、検出センサ5aが図4に示した位置ずれ補正用パターン画像のマーク30を検出したときの検出レベル(検出信号)の変化例を示している。なお、他の検出センサ5b,5cについても同様の波形が得られるので、図示を省略する。
検出センサ5a,5b,5cは、横線パターンと斜め線パターン以外の部分では中間転写ベルト130を検出するので、例えば、中間転写ベルト130が白色の場合、その検出レベルを基準レベルとすると、色付きの横線パターンと斜め線パターンの箇所では検出レベルが低下する。
図4の破線141で示すスレッシュホールド電圧レベル(電圧値)は、中間転写ベルト130の汚れなどで検出レベルが低下した場合でも、このスレッシュホールド電圧値を超えてレベル低下がみられた箇所を横線パターン又は斜め線パターンと検出するための閾値である。
検出センサ5a,5b,5cによって位置ずれ補正用パターン画像の8組分の各横線パターンと各斜め線パターンの位置を検出し、その検出結果に基づいて基準色(例えば、ブラック:K)に対する他の色(イエロー:Y、シアン:C、マゼンタ:M)のスキュー、主走査レジストずれ量、副走査レジストずれ量及び主走査倍率誤差を計測する。この計測値に基づいて、検出センサ5a,5b,5cの中心位置と位置ずれ補正用パターン画像の中心位置とのずれ量を求め、次回の位置ずれ補正用パターン画像の形成時に参照する位置ずれ量として記憶する。また、スキュー、主走査レジストずれ量、副走査レジストずれ量及び主走査倍率誤差の各種のずれ量の補正値を求めることができる。
さらに、検出センサ5a,5b,5cによって3列分のマーク列を検出し、その各検出結果の平均値を算出すれば、その算出結果からスキュー、副走査レジストずれ、主走査レジストずれ及び主走査倍率誤差のずれ量を求めることにより、各色のずれ量を精度良く求めることができ、そのずれ量を補正することによって各色のずれが極めて少ない高画質の画像を形成できる。
各種の位置ずれ量、補正量の算出及び補正の実行命令は、図示を省略した公知の補正量算出部により行われる。そして、検出の終わった位置ずれ補正用パターン画像は、図1のクリーニング部139によって除去される。
図4の位置ずれ補正用パターン画像を検出したときの各種位置ずれ量の具体的な算出方法について図5を用いて説明する。図5は、検出センサ5aと検出センサ5aによって走査される1組のマークを示す図である。ここでは、検出センサ5aによって位置ずれ補正用パターン画像のマークを検出する場合で説明するが、他の検出センサ5b,5cについても同様に行う。
検出センサ5aは、位置ずれ補正用パターン画像の横線パターン及び斜め線パターンを、予め決められた一定のサンプリング間隔で検出し、図3のCPU1へ通知する。CPU1は、検出センサ5aから横線パターン及び斜め線パターンの検出の通知を次々と受け取ると、検出の通知の間隔とサンプリング時間間隔とに基づいて各横線パターン間及び各横線パターンとそれぞれ対応する斜め線パターンとの間の距離を算出する。このようにして、1組のマーク30中の同じ色の各横線パターン間と各横線パターンとそれぞれ対応する斜め線パターンとの間の長さを求め、その求めた各々の長さを比較することによって各種の位置ずれ量を算出することができる。
まず、副走査レジストずれ量(副走査方向の色ずれ量)の算出では、横線パターンを使用し、基準色(K)と対象色(Y,M,C)の各パターンとの間隔値(y1,m1,c1)を算出し、予め記憶させておいた理想の間隔値(y0,m0,c0)と比較し、(間隔値y1−理想の間隔値y0)、(間隔値m1−理想の間隔値m0)、(間隔値c1−理想の間隔値c0)から基準色(K)に対する対象色(Y,M,C)の位置ずれ量を算出できる。
また、主走査レジストずれ量(主走査方向の色ずれ量)の算出では、まず、K,Y,M,Cの各色の横線パターンと斜め線パターンとの間隔値(y2,k2,m2,c2)を算出する。その算出した間隔値を用いて、基準色(K)の間隔値と非基準色の間隔値との差分値を算出する。その差分値が主走査方向の位置ずれ量に相当する。これは、斜め線パターンを、主走査方向に対して所定の角度だけ傾斜させているため、主走査方向にずれを生じている場合、横線パターンとの間隔が他の色についての間隔よりも広がったり狭まったりするためである。すなわち、ブラックとイエロー、ブラックとマゼンタ、ブラックとシアンの主走査方向の位置ずれ量は、(間隔値k2−間隔値y2)、(間隔値k2−間隔値m2)、(間隔値k2−間隔値c2)で求められる。このようにして、副走査方向及び主走査方向のレジストずれ量を取得することができる。
さらに、各検出センサ5a,5b,5cの異なるもの同士の検出結果に基づいてスキューと主走査倍率誤差についても求めることができる。まず、スキュー成分の算出では、検出センサ5aと検出センサ5cでそれぞれ検出される副走査レジストずれ量の差分を算出することで取得することができる。また、倍率誤差偏差の算出では、検出センサ5aと検出センサ5b、検出センサ5bと検出センサ5cのそれぞれの主走査レジストずれ量の差分を算出することで取得することができる。そして、上述のようにして取得した各種の位置ずれ量に基づいて、中間転写ベルト130にカラー画像を形成させる際の画像形成条件を補正する補正処理を実行する。
補正処理としては、例えば、位置ずれ量がほぼ一致するように感光体120y,120k,120m,120cに対する光ビームY,K,M,Cの発光タイミングを調整することにより行う。また、光ビームを反射する図示を省略した反射ミラーの傾きを調整することにより行うこともできる。反射ミラーの傾きの調整は、図示を省略したステッピングモータを駆動させて行う。なお、画像データを変更することによって位置ずれ量を補正することもできる。このようにして、副走査方向及び主走査方向のレジストずれ量を取得することができる。
図6は、画像印刷と並行して補正用パターンを形成する場合の中間転写ベルト130及び検知センサ5a,5b,5cを示す図である。画像印刷と並行して補正用テストパターンを形成する場合、複数のテストパターン検知センサのうち、1つ以上を印刷画像の主走査方向の画像領域外端部に配置する必要がある。図6では、3つの検知センサ5a,5b,5cのうち、左右2箇所の検知センサ5a,5cを画像領域外端部に配置している構成である。なお、画像印刷と並行して補正用テストパターンを形成しない画像形成装置の場合は、画像領域内での調整値を取得するため、複数の検知センサ全てを印刷画像領域内に配置している場合が多い。
図7−1、図7−2は、補正用テストパターンの主走査幅を変更する場合の中間転写ベルト130及び検知センサ5a,5b,5cを示す図である。補正用テストパターンの主走査幅は、調整実行タイミングなどで変更する場合がある。図7−1、図7−2では、色ずれ補正時の、微調と粗調の例を示す。図7−1に示す微調は色ずれが小さいと想定される場合に実施され、より高い精度での色ずれ補正を目的とする場合の調整である。この場合、形成するテストパターンの主走査幅は想定する色ずれに応じて小さくすることができ、各色の横線パターン及び斜め線パターンで構成されるマークをセンサごとに複数形成することにより高い精度での調整を行う。
それに対し、図7−2に示す粗調は色ずれが大きいと想定される場合に実施され、精度の高い色ずれ補正を目的としておらず、大きな色ずれが発生している場合でも確実に色ずれ調整を行うことを目的としている。この場合、形成するパターンの主走査幅は想定する色ずれに応じて大きくしなければならず、各色の横線パターン及び斜め線パターンで構成されるマークをセンサごとに1組又は微調時よりも少ない組数形成する。微調と粗調は前回色ずれ補正実行時からの温度変化、経過時間、印刷枚数等に応じてどちらを実施するかが決められる。
図6に示す検知センサ構成且つ図7−1、図7−2の様にテストパターンの主走査幅を変更する場合に、装置ごとに設定されている光学特性保証領域外でLDが発光してしまう恐れがある。ここで、光学特性保証領域とは、走査するビームが感光体の狙いの領域に露光されることを保証した主走査方向の領域のことで、この範囲外では走査光学系のレンズ特性が保証されておらず、ビームを点灯させてしまうと意図しない箇所への露光が発生してしまうことになる。その意図しない露光が感光体で起こると調整動作の失敗や画像劣化などの不具合が発生してしまう原因となり、その意図しない露光が同期検知板などのセンサで起こると動作異常が発生してしまう原因となる。
そこで、本実施の形態の画像形成装置は、形成するテストパターンの主走査幅に応じてテストパターンを形成する対象のセンサを変更する。図8−1、図8−2は、補正用テストパターンの主走査幅を変更する場合の中間転写ベルト130及び検知センサ5a,5b,5cを示す図である。図8−1に示すテストパターンの主走査幅の小さい色ずれ微調時には、全てのセンサに対応する位置にテストパターンを形成しており、一方、図8−2に示すテストパターンの主走査幅の大きい色ずれ粗調時には、光学特性保証領域よりはみ出してしまうテストパターンを形成しない。
ここで、各検知センサに対してテストパターンを形成するか否かは、「テストパターンの主走査幅:a」と「センサ中心から光学特性保証領域端部までの主走査距離:b」と「想定の色ずれ量:c」から、(a/2+c)≧bとなる場合は該検知センサに対応する位置にテストパターンを形成せず、(a/2+c)<bの場合はテストパターンを形成するという様な条件により判定することができる。ここで、「想定の色ずれ量:c」とは、テストパターン生成時に、想定している最大の色ずれ量(=テストパターンの移動量)であり、走査ビーム光学系の特性(1℃あたりの露光ビームの主走査位置変化量)と前回色ずれ補正時からの温度変化を乗算することにより決定される値である。また、この判断を主走査方向の両端に配置される検知センサに対してのみ行うことで、判定に要する処理回数を最小限にすることができる。
図9−1、図9−2は、検知センサを3つより多く備える場合に、補正用テストパターンの主走査幅に応じてテストパターンを形成する場所を変更する本実施の形態の変形例を示す図である。図9−1、図9−2では、図中左から右に向かって、検知センサ5a,5d,5b,5e,5cの5つの検知センサが配置されている。色ずれ微調時は、図9−1に示すように、検知センサ5a,5b,5cに対応する位置にテストパターンを形成し、色ずれ粗調時には、図9−2に示すように、検知センサ5d,5b,5eに対応する位置にテストパターンを形成することで、光学特性保証領域外でのLD発光を防止することができる。
図10は、本実施の形態に係る色ずれ補正処理を示すフローチャートである。CPU1は、ステップS12として、検知センサ5aに関して、(a/2+c)<bであるか否かを判定する。CPU1は、ステップS12で(a/2+c)<bである(Yes)と判定したら、ステップS14として、検知センサ5aに対するテストパターン形成を制御するフラグをONにする。
CPU1は、ステップS12で(a/2+c)<bではない(No)と判定したら又はステップS14を実行したら、ステップS16として、検知センサ5bに関して、(a/2+c)<bであるか否かを判定する。CPU1は、ステップS16で(a/2+c)<bである(Yes)と判定したら、ステップS18として、検知センサ5bに対するテストパターン形成を制御するフラグをONにする。
CPU1は、ステップS16で(a/2+c)<bではない(No)と判定したら又はステップS18を実行したら、ステップS20として、検知センサ5cに関して、(a/2+c)<bであるか否かを判定する。CPU1は、ステップS20で(a/2+c)<bである(Yes)と判定したら、ステップS22として、検知センサ5cに対するテストパターン形成を制御するフラグをONにする。
CPU1は、ステップS20で(a/2+c)<bではない(No)と判定したら又はステップS22を実行したら、ステップS24として、テストパターン形成を制御するフラグをONにした検知センサに対応する位置にテストパターンを形成する。テストパターンが形成された位置に対応する検知センサは、ステップS26として、テストパターンを検知する。CPU1は、ステップS28として、ステップS26で検知されたテストパターンに基づいて色ずれ補正量を算出する。
本実施の形態によれば、微調、粗調などの条件に応じてテストパターンの主走査幅を決定し、該主走査幅に応じて、検知センサ5a,5b,5cに対応する位置にテストパターンを形成するか否かを選択的に切り替えることができる。これにより、光学特性保証領域外でビームが点灯してしまうことを抑制することができる。従って、調整動作の失敗、画像劣化、動作異常等を抑制することができる。
図11は、本実施の形態にかかる画像形成装置のハードウェア構成を示すブロック図である。本図に示すように、この画像形成装置100は、コントローラ10とエンジン部(Engine)60とをPCI(Peripheral Component Interface)バスで接続した構成となる。コントローラ10は、画像形成装置100全体の制御と描画、通信、図示しない操作部からの入力を制御するコントローラである。エンジン部60は、PCIバスに接続可能なプリンタエンジンなどであり、たとえば白黒プロッタ、1ドラムカラープロッタ、4ドラムカラープロッタ、スキャナまたはファックスユニットなどである。なお、このエンジン部60には、プロッタなどのいわゆるエンジン部分に加えて、誤差拡散やガンマ変換などの画像処理部分が含まれる。
コントローラ10は、CPU1と、ノースブリッジ(NB)13と、システムメモリ(MEM−P)12と、サウスブリッジ(SB)14と、ローカルメモリ(MEM−C)17と、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)16と、ハードディスクドライブ(HDD)18とを有し、ノースブリッジ(NB)13とASIC16との間をAGP(Accelerated Graphics Port)バス15で接続した構成となる。また、MEM−P12は、ROM(Read Only Memory)2と、RAM(Random Access Memory)3と、をさらに有する。
CPU1は、画像形成装置100の全体制御をおこなうものであり、NB13、MEM−P12およびSB14からなるチップセットを有し、このチップセットを介して他の機器と接続される。
NB13は、CPU1とMEM−P12、SB14、AGP15とを接続するためのブリッジであり、MEM−P12に対する読み書きなどを制御するメモリコントローラと、PCIマスタおよびAGPターゲットとを有する。
MEM−P12は、プログラムやデータの格納用メモリ、プログラムやデータの展開用メモリ、プリンタの描画用メモリなどとして用いるシステムメモリであり、ROM2とRAM3とからなる。ROM2は、プログラムやデータの格納用メモリとして用いる読み出し専用のメモリであり、RAM3は、プログラムやデータの展開用メモリ、プリンタの描画用メモリなどとして用いる書き込みおよび読み出し可能なメモリである。
SB14は、NB13とPCIデバイス、周辺デバイスとを接続するためのブリッジである。このSB14は、PCIバスを介してNB13と接続されており、このPCIバスには、ネットワークインターフェース(I/F)部なども接続される。
ASIC16は、画像処理用のハードウェア要素を有する画像処理用途向けのIC(Integrated Circuit)であり、AGP15、PCIバス、HDD18およびMEM−C17をそれぞれ接続するブリッジの役割を有する。このASIC16は、PCIターゲットおよびAGPマスタと、ASIC16の中核をなすアービタ(ARB)と、MEM−C17を制御するメモリコントローラと、ハードウェアロジックなどにより画像データの回転などをおこなう複数のDMAC(Direct Memory Access Controller)と、エンジン部60との間でPCIバスを介したデータ転送をおこなうPCIユニットとからなる。このASIC16には、PCIバスを介してFCU(Facsimile Control Unit)30、USB(Universal Serial Bus)40、IEEE1394(the Institute of Electrical and Electronics Engineers 1394)インターフェース50が接続される。操作表示部20はASIC16に直接接続されている。
MEM−C17は、コピー用画像バッファ、符号バッファとして用いるローカルメモリであり、HDD(Hard Disk Drive)18は、画像データの蓄積、プログラムの蓄積、フォントデータの蓄積、フォームの蓄積を行うためのストレージである。
AGP15は、グラフィック処理を高速化するために提案されたグラフィックスアクセラレーターカード用のバスインターフェースであり、MEM−P12に高スループットで直接アクセスすることにより、グラフィックスアクセラレーターカードを高速にするものである。
なお、本実施の形態の画像形成装置で実行されるプログラムは、ROM等に予め組み込まれて提供される。本実施の形態の画像形成装置で実行されるプログラムは、インストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルでCD−ROM、フレキシブルディスク(FD)、CD−R、DVD(Digital Versatile Disk)等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録して提供するように構成してもよい。
さらに、本実施の形態の画像形成装置で実行されるプログラムを、インターネット等のネットワークに接続されたコンピュータ上に格納し、ネットワーク経由でダウンロードさせることにより提供するように構成しても良い。また、本実施の形態の画像形成装置で実行されるプログラムをインターネット等のネットワーク経由で提供または配布するように構成しても良い。
本実施の形態の画像形成装置で実行されるプログラムは、上述した各部(制御手段)を含むモジュール構成となっており、実際のハードウェアとしてはCPU(プロセッサ)が上記ROMからプログラムを読み出して実行することにより上記各部が主記憶装置上にロードされ、上記各部が主記憶装置上に生成されるようになっている。
なお、上記実施の形態では、本発明の画像形成装置を、コピー機能、プリンタ機能、スキャナ機能およびファクシミリ機能のうち少なくとも2つの機能を有する複合機に適用した例を挙げて説明したが、複写機、プリンタ、スキャナ装置、ファクシミリ装置等の画像形成装置であればいずれにも適用することができる。
1 CPU
2 ROM
3 RAM
5a,5b,5c 検知センサ
100 画像形成装置
101 光学装置
102 像形成部
103 転写部
120y,120k,120m,120c 感光体
130 中間転写ベルト
特開2009−169031号公報 特開平11−102098号公報

Claims (6)

  1. 複数の像担持体と、
    前記像担持体を帯電する帯電手段と、
    前記像担持体に潜像を形成する露光手段と、
    前記像担持体に形成された潜像をそれぞれ互いに異なる色のトナーからなる複数色のトナーで現像する現像手段と、
    前記像担持体に形成された像を、前記像担持体と対向する転写位置を移動する第2の像担持体上に重ね合わせて転写してカラー像を得る第1の転写手段と、
    前記第2の像担持体上に転写形成された像を転写材に転写する第2の転写手段と、
    前記第2の像担持体上に転写されるテストパターンを前記像担持体に形成するテストパターン形成手段と、
    主走査方向の相互に異なる位置のテストパターンを検知可能な複数のテストパターン検出手段と、
    テストパターンの検出結果によって画像形成条件を変える制御手段と、を備え、
    前記テストパターン形成手段は、テストパターンの主走査幅が光学特性保証領域端部からはみ出す場合には該テストパターン検出手段により検知可能な位置にテストパターンを形成せず、テストパターンの主走査幅が光学特性保証領域端部からはみ出さない場合には該テストパターン検出手段により検知可能な位置にテストパターンを形成することを特徴とする画像形成装置。
  2. 前記テストパターン形成手段は、テストパターンの主走査幅をa、前記テストパターン検出手段の中心から光学特性保証領域端部までの主走査距離をb、色ずれ想定量をcとするとき、(a/2+c)≧bである場合には該テストパターン検出手段により検知可能な位置にテストパターンを形成せず、(a/2+c)<bである場合には該テストパターン検出手段により検知可能な位置にテストパターンを形成することを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。
  3. 前記テストパターン形成手段は、前記複数のテストパターン検出手段のうち主走査方向両端部に配置された2つのテストパターン検出手段に対して、テストパターンを形成するか否かの判定を行うことを特徴とする請求項2に記載の画像形成装置。
  4. 複数の像担持体と、
    前記像担持体を帯電する帯電手段と、
    前記像担持体に潜像を形成する露光手段と、
    前記像担持体に形成された潜像をそれぞれ互いに異なる色のトナーからなる複数色のトナーで現像する現像手段と、
    前記像担持体に形成された像を、前記像担持体と対向する転写位置を移動する第2の像担持体上に重ね合わせて転写してカラー像を得る第1の転写手段と、
    前記第2の像担持体上に転写形成された像を転写材に転写する第2の転写手段と、
    前記第2の像担持体上に転写されるテストパターンを前記像担持体に形成するテストパターン形成手段と、
    主走査方向の相互に異なる位置のテストパターンを検知可能な複数のテストパターン検出手段と、
    テストパターンの検出結果によって画像形成条件を変える制御手段と、を備える画像形成装置で実行される画像形成方法であって、
    前記テストパターン形成手段が、テストパターンの主走査幅を決定する工程と、
    前記テストパターン形成手段が、テストパターンの主走査幅が光学特性保証領域端部からはみ出す場合には該テストパターン検出手段により検知可能な位置にテストパターンを形成せず、テストパターンの主走査幅が光学特性保証領域端部からはみ出さない場合には該テストパターン検出手段により検知可能な位置にテストパターンを形成する工程と、
    を含むことを特徴とする画像形成方法。
  5. 複数の像担持体と、
    前記像担持体を帯電する帯電手段と、
    前記像担持体に潜像を形成する露光手段と、
    前記像担持体に形成された潜像をそれぞれ互いに異なる色のトナーからなる複数色のトナーで現像する現像手段と、
    前記像担持体に形成された像を、前記像担持体と対向する転写位置を移動する第2の像担持体上に重ね合わせて転写してカラー像を得る第1の転写手段と、
    前記第2の像担持体上に転写形成された像を転写材に転写する第2の転写手段と、
    前記第2の像担持体上に転写されるテストパターンを前記像担持体に形成するテストパターン形成手段と、
    主走査方向の相互に異なる位置のテストパターンを検知可能な複数のテストパターン検出手段と、
    テストパターンの検出結果によって画像形成条件を変える制御手段と、を備える画像形成装置に、
    テストパターンの主走査幅を決定するステップと、
    テストパターンの主走査幅が光学特性保証領域端部からはみ出す場合には該テストパターン検出手段により検知可能な位置にテストパターンを形成せず、テストパターンの主走査幅が光学特性保証領域端部からはみ出さない場合には該テストパターン検出手段により検知可能な位置にテストパターンを形成するステップと、
    を実行させるためのプログラム。
  6. 請求項5に記載のプログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
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