JP2014021242A - 画像形成装置及び画像形成方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】画像形成処理と並行して作成されたテストパターンの検知結果に基づいて色ずれ補正等の画像調整を行う場合に、画像調整の補正精度を向上させる。
【解決手段】画像形成装置100は、感光体120y〜120cにそれぞれ異なる色の現像が行われ、中間転写ベルト130に重ね合わせて転写されてカラー像が形成される。中間転写ベルト130上には、画像形成領域内及び画像形成領域外の複数の検知位置にテストパターンが形成される。画像調整を行う場合に、すべての検知位置にテストパターンを形成して画像調整を行う第一調整モード又は一部の検知位置にテストパターン形成して画像調整を行う第二調整モードを設定し、第一調整モードの異なるテストパターンの間の検知差を算出して記憶し、第二調整モードにおいて検知差を用いて画像調整を行う。
【選択図】図1
【解決手段】画像形成装置100は、感光体120y〜120cにそれぞれ異なる色の現像が行われ、中間転写ベルト130に重ね合わせて転写されてカラー像が形成される。中間転写ベルト130上には、画像形成領域内及び画像形成領域外の複数の検知位置にテストパターンが形成される。画像調整を行う場合に、すべての検知位置にテストパターンを形成して画像調整を行う第一調整モード又は一部の検知位置にテストパターン形成して画像調整を行う第二調整モードを設定し、第一調整モードの異なるテストパターンの間の検知差を算出して記憶し、第二調整モードにおいて検知差を用いて画像調整を行う。
【選択図】図1
Description
本発明は、色ずれ補正等の画像プロセス制御を行う画像形成装置及び画像形成方法に関する。
従来より、複写機、ファクシミリ、プリンタ等の画像形成装置では、電子写真方式の画像形成処理が行われている。電子写真方式の画像形成処理では、感光体に静電潜像を形成し、形成された静電潜像をトナーにより現像し、現像化されたトナー像を記録媒体に転写して画像形成される。こうした画像形成処理では、感光体や転写ベルト上の印刷領域外にテストパターンを作成し、その反射率のデータから濃度や位置情報を類推して画像濃度や画像位置等に関する画像形成処理条件を制御する方法が知られている。このような画像形成処理条件の制御(画像プロセス制御)では、作成されたテストパターンの読取処理が終了した後、作成したテストパターンは記録媒体に転写されないため、ベルトクリーナー等のクリーニング処理により除去されたり、テストパターンのトナーを回収して再利用される。
テストパターンを作成して画像プロセス制御を行う方法としては、例えば、特許文献1には、調整制御に伴うダウンタイムが生産性を損ない、ユーザビリティを低下させるのを回避することが目的で、記録材の搬送間隔を大きくすることで先行する記録材の後端とこれに後続する記録材の先端との間に対応する領域に調整用のトナー像を形成する第1のモードと、調整用のトナー像を所定サイズの記録材の搬送領域に対して搬送方向に直交する方向に外れた領域に対応する領域に形成する第2のモードと、を搬送方向に直交する記録材幅方向の記録材サイズに応じて選択可能な画像形成装置が記載されている。また、特許文献2には、画像形成領域外に作成したテストパターンの検知結果に基づいて画像プロセス条件補正値を求め、求められた補正値を用いて実行用の画像プロセス条件を算出し、画像形成領域内に作成したテストパターンの検知結果に基づいて参照用の画像プロセス条件を算出し、算出された参照用の画像プロセス条件に基づいて実行用の画像形成プロセス条件が適切であるか否かを判定する画像形成装置が記載されている。
特許文献1の画像形成装置では、色ずれ補正や濃度補正などの画像調整を行う場合に、画像形成処理と並行して画像形成領域外でテストパターンを形成し、テストパターンを検出することでリアルタイムで補正を行うようにしている。しかし、画像形成処理と並行してテストパターンを形成する場合、画像形成領域外でしかテストパターンを形成できないため、画像形成領域内での色ずれ量を直接検知することができず、画像形成領域内での色ずれ補正が不十分となる問題がある。特許文献2では、画像形成領域内に形成したテストパターンの検知結果に基づいて実行用の画像プロセス条件が適切か判定しているが、画像形成領域外に形成したテストパターンの検出結果に基づいて実行用の画像プロセス条件を算出しているため、色ずれ補正等の画像調整では、補正精度を十分向上させることが難しい。
そこで、本発明は、画像形成処理と並行して作成されたテストパターンの検知結果に基づいて色ずれ補正等の画像調整を行う場合に、画像調整の補正精度を向上させることを目的とする。
そこで、本発明は、画像形成処理と並行して作成されたテストパターンの検知結果に基づいて色ずれ補正等の画像調整を行う場合に、画像調整の補正精度を向上させることを目的とする。
本発明に係る画像形成装置は、複数の像担持体と、帯電した前記像担持体のそれぞれを露光して潜像を形成する光照射部と、前記像担持体に形成された潜像をそれぞれ互いに異なる色の現像剤からなる複数色の現像剤で現像する像形成部と、前記像担持体にそれぞれ形成された像を、前記像担持体と対向する転写位置を移動する中間転写体上に重ね合わせて転写してカラー像を得る第1転写部と、前記中間転写体上に転写形成された像を転写材に転写する第2転写部と、前記転写材に画像形成処理を行うように各部を制御するとともに前記像担持体にそれぞれ形成されて前記中間転写上に転写されるテストパターンを複数の検知位置に形成する制御部と、前記テストパターンを検知するテストパターン検知部とを備え、前記制御部は、すべての前記検知位置の前記テストパターンを形成して画像調整を行う第一調整モード又は一部の前記検知位置の前記テストパターンを形成して画像調整を行う第二調整モードを設定する調整モード設定部と、前記第一調整モードの前記テストパターンに対する前記テストパターン検知部の検知結果に基づいて異なる前記テストパターンの間の検知差を算出して記憶する算出部と、第二調整モードにおいて前記検知差を用いて画像調整を行う調整部とを備える。
本発明は、上記の構成を有することで、すべての検知位置のテストパターンの検知結果に基づいて異なるテストパターンの間の検知差を算出して、一部の検知位置のテストパターンの検知結果に基づいて画像調整する揚合に検知差を用いて画像調整を行うので、画像調整の補正精度を向上させることができる。
図1は、本発明に係る実施形態に関する概略構成図である。画像形成装置100は、半導体レーザ光源、ポリゴンミラー等の光学要素を含む光照射部101と、例えば、像担持体である感光体ドラムのような感光体、帯電装置、現像装置等を含む像形成部102と、中間転写ベルト等を含む転写部103を備えている。そして、光照射部101、像形成部102及び転写部103が、画像形成手段とテストパターン形成手段の機能を備えている。
画像形成装置100としては、例えば、ファクシミリ装置、印刷装置(プリンタ)、複写機及びこれらを組み合わせた複合機といった装置が挙げられる。
光照射部101は、レーザダイオード(Laser Diode;以下LDと略称する)を含む半導体レーザ光源である複数の光源(図示省略)から放出された光ビームBMを、ポリゴンミラー110により偏向させ、fθレンズを含む走査レンズ111a及び111bに入射させる。光ビームは、イエロー(Y)、ブラック(K)、マゼンタ(M)及びシアン(C)の各色の画像に対応した複数の光源から放出され、それぞれ走査レンズ111a及び111bを通過した後、反射ミラー112y〜112cで反射される。
光照射部101は、レーザダイオード(Laser Diode;以下LDと略称する)を含む半導体レーザ光源である複数の光源(図示省略)から放出された光ビームBMを、ポリゴンミラー110により偏向させ、fθレンズを含む走査レンズ111a及び111bに入射させる。光ビームは、イエロー(Y)、ブラック(K)、マゼンタ(M)及びシアン(C)の各色の画像に対応した複数の光源から放出され、それぞれ走査レンズ111a及び111bを通過した後、反射ミラー112y〜112cで反射される。
イエローに対応する光ビームYは、走査レンズ111aを通過して反射ミラー112yで反射されてWTLレンズ113yに入射される。ブラック、マゼンタ及びシアンの各色に対応する光ビームK、光ビームM及び光ビームCについても、光ビームYと同様にWTLレンズ113k〜113cに入射される。WTLレンズ113y〜113cは、それぞれ入射された各光ビームY〜Cを整形した後、反射ミラー114y〜114cに向かうように各光ビームY〜Cを偏向させる。反射ミラー114y〜114cで反射された各光ビームY〜Cは、さらに反射ミラー115y〜115cで反射され、感光体ドラム(以下「感光体」と略称する)120y〜120cにそれぞれ像状照射されて露光処理が行われる。
感光体120y〜120cに対する光ビームY〜Cの露光処理では、上述したように複数の光学要素を使用して行われ、感光体120y〜120cの回転動作タイミングに同期して主走査方向及び副走査方向に照射して静電潜像が形成される。なお、以下の説明では、感光体120y〜120cに対する主走査方向を光ビームの走査方向とし、副走査方向を主走査方向に対して直交する方向、すなわち、感光体120y〜120cの回転する方向と定義する。
感光体120y〜120cは、アルミニウムなどの導電性ドラム上に、少なくとも電荷発生層及び電荷輸送層とを含む光導電層が形成されている。光導電層は、それぞれ感光体120y〜120cに対応して配設され、帯電装置122y〜122cにより表面電荷が付与される。こうした帯電装置としては、コロトロン、スコロトロン、帯電ローラ等が用いられる。帯電装置122y〜122cによって感光体120y〜120c上にそれぞれ付与された静電荷は、光ビームY〜Cによりそれぞれ露光され、帯電装置122y〜122cによる帯電処理面上に静電潜像が形成される。
感光体120y〜120cの被走査面上にそれぞれ形成された静電潜像は、現像スリーブ、現像剤供給ローラ、規制ブレード等を含む現像装置121y〜121cによりそれぞれ現像され、感光体120y〜120cの被走査面上に各色の現像剤像が形成される。感光体120y〜120cの被走査面上に担持された各色の現像剤像は、搬送ローラ131a〜131cにより矢示Dの方向に移動する中間転写ベルト130上に転写される。1次転写ローラ132y〜132cが、それぞれ感光体120y〜120cに対向して配設されている。この例では、中間転写体である中間転写ベルト130及び1次転写ローラ132y〜132cが1次転写部に相当する。感光体120y〜120cと1次転写ローラ132y〜132cとの間に中間転写ベルト130が通過する際に、各色の現像剤像が順次重なり合うように転写されて多色現像剤像が形成される。そして、中間転写ベルト130の搬送方向は、感光体120y〜120cの副走査方向と一致するように設定されている。中間転写ベルト130は、感光体120y〜120cの被走査面上からそれぞれ転写された各色の現像剤像を担持した状態で2次転写部へ搬送される。
2次転写部は、2次転写ベルト133と、搬送ローラ134a及び134bとを含んで構成される。2次転写ベルト133は、搬送ローラ134a及び134bにより矢示Eの方向に搬送される。2次転写部には、給紙カセット等の用紙収容部Tから上質紙、プラスチックシート等の転写材である用紙Pが搬送ローラ135により供給される。2次転写部では、2次転写バイアスを印加して、中間転写ベルト130上に担持された多色現像剤像を2次転写ベルト133上に吸着保持された用紙Pに転写する。多色現像剤像が転写された用紙Pは、2次転写ベルト133により定着装置136へ搬送される。
定着装置136は、シリコーンゴム、フッ素ゴム等を含む定着ローラを備える定着部材137を含んで構成されており、用紙P及び多色現像剤像を加圧加熱して定着処理し、排紙ローラ138によって用紙Pを印刷物P’として画像形成装置100の外部へ排出する。
中間転写ベルト130は、多色現像剤像を用紙Pに転写した後、クリーニングブレードを含むクリーニング部139によって表面に残留する現像剤が除去された後、次の像形成プロセスを行うために搬送される。
中間転写ベルト130は、多色現像剤像を用紙Pに転写した後、クリーニングブレードを含むクリーニング部139によって表面に残留する現像剤が除去された後、次の像形成プロセスを行うために搬送される。
搬送ローラ131aの近傍には、中間転写ベルト130上に形成されたカラー画像を形成させる際の画像形成処理条件を補正するためのテストパターンを検知する複数の検知センサ5a〜5cが設けられている。テストパターンとしては、例えば、色ずれ補正用テストパターン及び濃度補正用テストパターンといったものが挙げられる。
検知センサ5a〜5cは、それぞれ公知の光反射型フォトセンサ等の検知センサを用いることができる。検知センサ5a〜5cによりそれぞれ検知された検知結果に基づいて、テストパターンを用いた画像調整が行われる。例えば、基準色に対する各色のスキュー(傾き)、主走査レジストずれ量、副走査レジストずれ量及び主走査倍率誤差を含む各種のずれ量を算出し、その算出結果に基づいて画像調整に関する各種のずれ量を補正する。そして、こうして求められたずれ量に基づいて、中間転写ベルト130上にカラー画像を形成させる際の画像形成処理条件(色ずれ補正、濃度補正等)が補正される。
図2は、検知センサ5aに関する概略構成図である。なお、検知センサ5a〜5cの内部構成は共通であるので、検知センサ5b及び5cについては説明を省略する。検知センサ5aは、1つの発光部10aと、2つの受光部11a及び12aと、集光レンズ13aを有する。発光部10aは、光を照射する発光素子であり、例えば、赤外光を発生する赤外光LED、レーザ発光素子等が用いられる。この例では、受光部11aは、正反射型受光素子であり、受光部12aは、拡散反射型受光素子である。受光部11a及び12aとしては、いずれも公知のフォトトランジスタを用いることができ、またフォトダイオード及び増幅回路等を備えた受光素子を用いることもできる。
検知センサ5aでは、発光部10aから照射された光L1が、集光レンズ13aを透過した後、中間転写ベルト130のテストパターン(図示省略)に到達する。そして、光L1の一部は、テストパターン形成領域及びテストパターンを形成する現像剤層で正反射して正反射光L2となり、集光レンズ13aを再透過して受光部11aで受光される。光L1のテストパターン形成領域に対する入射角度と受光部11aに入射する正反射光L2のテストパターン形成領域に対する反射角度は等しくなるように設定されている。そのため、受光部11aは、正確に正反射光L2を受光することができる。
また、光L1の一部は、テストパターン形成領域及びテストパターンを形成する現像剤層で拡散反射して拡散反射光L3となり、集光レンズ13aを再透過して受光部12aで受光される。
また、光L1の一部は、テストパターン形成領域及びテストパターンを形成する現像剤層で拡散反射して拡散反射光L3となり、集光レンズ13aを再透過して受光部12aで受光される。
図3は、検知センサの検知したデータを処理するブロック構成図である。テストパターン検知部である検知センサ5a〜5cは、それぞれ発光部10a〜10cと受光部11a〜11c及び12a〜12cを備えている。画像形成装置100の制御部は、検知センサ5a〜5cで検知したデータの処理に関する機能部として、CPU1、ROM2、RAM3、インプット・アウトプット(I/O)ポート4、発光量制御部14a〜14c、増幅部(AMP)15a〜15c、フィルタ部16a〜16c、アナログ・デジタル(A/D)変換部17a〜17c、ファーストイン・ファーストアウト(First−In First−Out:FIFO)メモリ部18a〜18c、及び、サンプリング制御部19a〜19cを備えている。
ROM2には、画像形成装置100をCPU1が制御するために必要な各種のプログラムが格納されている。そして、中間転写ベルト130にカラー画像を形成させる際の画像形成処理条件を補正する補正処理、テストパターンの主走査方向のずれ量を算出するずれ量算出処理、算出されたずれ量に基づく調整処理を含む各種の処理に関するプログラムも格納されている。
また、CPU1は、必要に応じてROM2からプログラムを読み出して画像形成装置100の全体制御を行う。そして、CPU1は、中間転写ベルト130及び発光部10a〜10cの劣化等が生じても確実に検知ができるように、発光量制御部14a〜14cにより発光量を制御する。そして、CPU1は、受光部からの受光信号のレベルが常に一定になるように制御して、受光部11a〜11cからの検知信号を適当なタイミングでモニタする。このように、CPU1及びROM2は、画像形成装置全体の動作を制御する制御部として機能する。
また、CPU1は、必要に応じてROM2からプログラムを読み出して画像形成装置100の全体制御を行う。そして、CPU1は、中間転写ベルト130及び発光部10a〜10cの劣化等が生じても確実に検知ができるように、発光量制御部14a〜14cにより発光量を制御する。そして、CPU1は、受光部からの受光信号のレベルが常に一定になるように制御して、受光部11a〜11cからの検知信号を適当なタイミングでモニタする。このように、CPU1及びROM2は、画像形成装置全体の動作を制御する制御部として機能する。
書込制御部20は、出力周波数を非常に細かく設定できる装置、例えば、VCO(Voltage Controlled Oscillator)を用いたクロッタジェネレータ等を備えており、設定した出力周波数を画像クロックとして用いて書込制御を行う。書込み制御部20は、コントローラ22から送信された画像データを画素クロックに基づいてLD点灯制御部21に出力し、画像データに応じてLDの点灯を制御することで感光体に画像を書き込むようになっている。コントローラ22からは、画像データとともにテストパターンに対応する所定のパターンデータが出力されるようになっており、CPU1からの書込制御信号に基づいて、後述するように、画像形成領域内及び画像形成領域外の検知位置に対応して配置されるテストパターンの書込みが行われる。
次に、図3を参照しながら、検知センサ5a〜5cで検知されたデータの処理について説明する。CPU1は、RAM3を作業領域としてROM2に格納されているプログラムを実行し、後述するテストパターンを検知する際に、I/Oポート4を介して発光量制御部14a〜14cを制御し、検知センサ5a〜5cのそれぞれの発光部10a〜10cから所要の光量の光ビームをそれぞれ照射する。
まず、検知センサ5aの発光部10aから光ビームがテストパターンに照射され、その反射光が検知センサ5aの受光部11a及び12aでそれぞれ受光される。受光部11a及び12aは、それぞれ受光した光ビームの光量に応じた検知データの信号を増幅部15aへ送信する。検知データの信号は、増幅部15aで増幅されてフィルタ部16aへ送信され、フィルタ部16aでライン検知データの信号成分のみを通過させてA/D変換部17aへ送信される。A/D変換部17aでは、検知データがアナログデータからデジタルデータに変換される。そして、A/D変換部17aで変換されたデジタルデータは、サンプリング制御部19aでサンプリングしてFIFOメモリ部18aに格納される。
まず、検知センサ5aの発光部10aから光ビームがテストパターンに照射され、その反射光が検知センサ5aの受光部11a及び12aでそれぞれ受光される。受光部11a及び12aは、それぞれ受光した光ビームの光量に応じた検知データの信号を増幅部15aへ送信する。検知データの信号は、増幅部15aで増幅されてフィルタ部16aへ送信され、フィルタ部16aでライン検知データの信号成分のみを通過させてA/D変換部17aへ送信される。A/D変換部17aでは、検知データがアナログデータからデジタルデータに変換される。そして、A/D変換部17aで変換されたデジタルデータは、サンプリング制御部19aでサンプリングしてFIFOメモリ部18aに格納される。
検知センサ5bについても、検知センサ5aの場合と同様に、受光部11b及び12bから送信された検知データの信号について、サンプリングされたデジタルデータを生成してFIFOメモリ部18bに格納する。検知センサ5cについても、検知センサ5aの場合と同様に、受光部11c及び12cから送信された検知データの信号について、サンプリングされたデジタルデータを生成してFIFOメモリ部18cに格納する。こうして、テストパターンの検知が終了した後、格納された検知データは、I/Oポート4及びデータバスを介してCPU1及びRAM3にロードされ、CPU1は、所定の演算処理を行って色ずれ調整量を求める。
CPU1は、テストパターンの検知結果から求めた調整量に基づき、書き込み開始タイミングの設定や画素クロック周波数の変更等の処理を行うために書込制御部20に対してその設定を行う。
CPU1は、テストパターンの検知結果から求めた調整量に基づき、書き込み開始タイミングの設定や画素クロック周波数の変更等の処理を行うために書込制御部20に対してその設定を行う。
図4は、テストパターンを用いた画像調整を行うための機能ブロック構成図である。制御部200は、テストパターン形成部200a、算出部200b、調整部200c及び調整モード設定部200dを備えている。テストパターン形成部200aは、後述するように、画像形成領域内及び画像形成領域外の検知位置に所定のテストパターンを形成する。算出部200bは、テストパターン検知部201から送信されるテストパターンの検知結果に基づいてテストパターンの各種ずれ量を算出する。また、画像形成領域内の検知位置のテストパターンと画像形成領域外の検知位置のテストパターンとの間の位置ずれを示す検知差を算出して記憶部202に記憶する。
調整部200cは、算出されたずれ量及び記億された検知差に基づいて画像調整を行う。調整モード設定部200dは、画像形成領域内及び画像形成領域外の検知位置にテストパターンを形成して画像調整を行う第一調整モード又は画像形成領域外の検知位置にテストパターンを形成して画像調整を行う第二調整モードを設定する。そして、設定した調整モードに合わせてテストパターンを形成するように制御し、設定した調整モードに対応してずれ量を調整する。制御部200は、調整したずれ量に合わせて画像形成条件を補正して、光照射部101、像形成部102及び転写部103を制御し、画像形成処理を行う。
図5は、位置ずれ調整用のテストパターンに関する説明図である。図5(a)は、位置ずれ調整用テストパターンの検知結果に関する波形例であり、図5(b)は、位置ずれ調整用テストパターン中の1組のマークを示す図である。図6は、図5に示す位置ずれ調整用テストパターンの検知結果に基づくずれ量の算出に関する説明図である。
位置ずれ調整用テストパターンは、正反射光用の位置合わせのための所定のパターンを備えたマークであり、図5(b)に示すように、Y、K、M及びCの各色の順に形成された横線パターン及び斜線パターンを1組(図中に符号30で示す部分)とし、8組分を副走査方向に配列し、検知センサ5a〜5cに対応させて3列分からなるテストパターンとなっている。
横線パターンは、感光体120y〜120cの主走査方向X1に沿って所定幅と所定長に形成された各色の4本の直線状パターンであり、斜線パターンは、感光体120y〜120cの主走査方向X1及び副走査方向X2に対して所定の傾斜角(例えば、45°)で所定幅と所定長に形成された各色の4本の斜線状パターンである。
位置ずれ調整用テストパターンは、正反射光用の位置合わせのための所定のパターンを備えたマークであり、図5(b)に示すように、Y、K、M及びCの各色の順に形成された横線パターン及び斜線パターンを1組(図中に符号30で示す部分)とし、8組分を副走査方向に配列し、検知センサ5a〜5cに対応させて3列分からなるテストパターンとなっている。
横線パターンは、感光体120y〜120cの主走査方向X1に沿って所定幅と所定長に形成された各色の4本の直線状パターンであり、斜線パターンは、感光体120y〜120cの主走査方向X1及び副走査方向X2に対して所定の傾斜角(例えば、45°)で所定幅と所定長に形成された各色の4本の斜線状パターンである。
位置ずれ調整用テストパターンは、感光体120y〜120cにそれぞれY〜Cの色に対応する8組分の横線パターン及び斜線パターンを形成し、中間転写ベルト130上に転写して組み合わせることによって、図5に示す配列のように形成する。図5(b)では、検知センサ5a〜5cの中心が中間転写ベルト130上の副走査方向X2を移動する軌跡を一点鎖線31a〜31cで示しており、図5(b)に示すように、一点鎖線31a〜31cが位置ずれ調整用テストパターンの中心を通過する場合に、位置ずれのない理想の軌跡となる。
なお、図5及び図6では、中間転写ベルト130上に、副走査方向X2(中間転写ベルト130の搬送方向)の上流側からY、K、M、Cの順に横線パターン及び斜線パターンを配列した例を示したが、横線パターン及び斜線パターンの色の順番は、適宜変更することが可能で、他の順番で配列するようにしてもよい。
なお、図5及び図6では、中間転写ベルト130上に、副走査方向X2(中間転写ベルト130の搬送方向)の上流側からY、K、M、Cの順に横線パターン及び斜線パターンを配列した例を示したが、横線パターン及び斜線パターンの色の順番は、適宜変更することが可能で、他の順番で配列するようにしてもよい。
中間転写ベルト130上に形成された位置ずれ調整用のテストパターンの3列のマーク列を、主走査方向に配列された検知センサ5a〜5cによって検知する。図5(a)に示す波形は、検知センサ5a〜5cの検知結果うち1つの波形が描かれているが、他の検知結果の波形も同様の波形が得られるので、図示を省略する。検知センサ5a〜5cは、横線パターンと斜線パターン以外の部分では中間転写ベルト130の表面を検知するので、例えば、中間転写ベルト130の表面が白色の場合、その検知レベルを基準レベルとすれば、各色で形成される横線パターン及び斜線パターンの箇所では、図5(a)に示すように、検知レベルが低下するようになる。図5(a)では、破線で示すスレッシュホールド電圧レベル(電圧値)Vthが設定されている。そのため、中間転写ベルト130の汚れなどで検知レベルが低下した場合でも、スレッシュホールド電圧値Vthよりレベル低下が検知された位置を横線パターン又は斜線パターンの位置として検知すれば、検知精度を向上させることができる。
検知センサ5a〜5cによって位置ずれ調整用テストパターンの8組分の各横線パターンと各斜線パターンの位置を検知し、その検知結果に基づいて基準色(図6では、ブラック:K)に対する他の色(イエロー:Y,シアン:C,マゼンタ:M)のスキュー、主走査レジストずれ量、副走査レジストずれ量及び主走査倍率誤差を算出する。算出値に基づいて、検知センサ5a〜5cの中心位置と位置ずれ調整用テストパターンの中心位置とのずれ量を求め、次回の位置ずれ調整用テストパターン形成時に参照する位置ずれ量として記憶する。また、スキュー、主走査レジストずれ量、副走査レジストずれ量及び主走査倍率誤差の各種のずれ量の調整値を求めることができる。
さらに、検知センサ5a〜5cによって3列分のマーク列を検知し、各検知結果の平均値を算出すれば、算出結果からスキュー、副走査レジストずれ、主走査レジストずれ及び主走査倍率誤差のずれ量を求めることにより、各色のずれ量を精度良く求めることができる。そして、各色のずれ量をこのように調整することによって各色のずれが極めて少ない高画質の画像が形成できる。各種のずれ量、調整量の算出及び調整量に基づく画像形成処理の補正処理の実行命令は、調整モード設定部200dにより行われる。そして、検知された位置ずれ調整用テストパターンは、図1のクリーニング部139によって除去される。
次に、位置ずれ調整用テストパターンを検知したときの各種ずれ量の具体的な算出方法について図6を用いて説明する。なお、図6では、検知センサ5aによって位置ずれ調整用テストパターンを検知する場合について説明するが、他の検知センサ5b及び5cについても同様である。
検知センサ5aは、位置ずれ調整用テストパターンのマーク列を、予め決められた一定のサンプリング時間間隔で検知し、図3で説明したように、検知結果をCPU1に送信する。CPU1は、検知センサ5aから検知結果を受信すると、検出結果及びサンプリング時間間隔に基づいて横線パターンの各色の間隔並びに横線パターンとそれぞれ対応する色の斜線パターンとの間隔の長さを算出する。このように間隔値を算出して、各間隔値を比較することで各種のずれ量を算出することができる。
検知センサ5aは、位置ずれ調整用テストパターンのマーク列を、予め決められた一定のサンプリング時間間隔で検知し、図3で説明したように、検知結果をCPU1に送信する。CPU1は、検知センサ5aから検知結果を受信すると、検出結果及びサンプリング時間間隔に基づいて横線パターンの各色の間隔並びに横線パターンとそれぞれ対応する色の斜線パターンとの間隔の長さを算出する。このように間隔値を算出して、各間隔値を比較することで各種のずれ量を算出することができる。
まず、副走査レジストずれ量(副走査方向の色ずれ量)の算出では、横線パターンの検知データを用いて、基準色(K)のパターンと対象色のY、M、Cの各パターンとの間の間隔値(y1、m1、c1)を算出し、予め記憶させておいた初期設定の間隔値(y0、m0、c0)と比較する。そして、検知した間隔値及び初期設定の間隔値の差分(y1−y0、m1−m0、c1−c0)を基準色(K)に対するY、M、Cの各色の副走査レジストずれ量とすることができる。
また、主走査レジストずれ量(主走査方向の色ずれ量)の算出では、まず、K〜Cの各色の横線パターン及び斜線パターンの間隔値(y2、k2、m2、c2)を算出する。算出したこれらの間隔値を用いて、基準色(K)の間隔値とそれ以外の色の間隔値との差分を算出する。すなわち、KとYとの間隔値の差分(k2−y2)、KとMとの間隔値の差分(k2−m2)及びKとCとの間隔値の差分(k2−c2)が算出される。斜線パターンは、主走査方向に対して所定の角度だけ傾斜しているため、主走査方向にずれを生じている場合、横線パターンとの間の間隔が基準となる色の間隔よりも広がったり狭まったりするため、これらの差分を主走査レジストずれ量とすることができる。
スキュー及び主走査倍率誤差についても、検知センサ5a〜5cの検出結果を組み合せて求めることができる。スキューについては、検知センサ5a及び5cの検知結果から算出される副走査レジストずれ量の差分を算出することで取得することができる。主走査倍率誤差については、検知センサ5aと5b、検知センサ5bと5cのそれぞれの主走査レジストずれ量の差分を算出することで取得することができる。
そして、こうして算出した各種のずれ量に基づいて、ずれ量の調整処理が行われる。ずれ量がなくなるように調整することが理想であるが、後述するように、走査線の曲がり特性に応じて画質劣化が最小限となるようにずれ量の調整処理が行われる。ずれ量の調整に基づいて、中間転写ベルト130にカラー画像を形成させる際の画像形成処理条件を補正する画像補正処理を実行する。補正処理としては、例えば、ずれ量に対応して感光体120y〜120cに対する各色に対応した光ビームY〜Cの発光タイミングを補正することにより行うことができる。また、光ビームを反射する反射ミラーの傾きを調整することにより行うこともできる。反射ミラーの傾きの調整には、反射ミラーに取り付けたステッピングモータを駆動して行う。また、画像データ自体を変更することによってずれ量の調整に合わせた補正を行うこともできる。
図7は、画像形成領域内及び画像形成領域外の検知位置にテストパターンを形成する場合の説明図である。この例では、中間転写ベルト130に形成された多色現像剤像である画像Gの間にテストパターンを形成している。画像Gを連続形成中に色ずれ調整等の画像調整を行う場合には、画像形成処理する用紙の間隔いわゆる紙間にテストパターンを形成して行う。しかし、通常の動作では、こうした紙間がテストパターンを形成するのに十分な間隔が確保できないため、紙間を広げてテストパターンの形成を行っているが、画像形成処理の効率が低下してしまう。一方で、画像Gを形成する画像形成領域H内の検知センサに対してもテストパターンを形成することができるので、色ずれ補正精度を向上させることが可能となる。このように、主走査方向の画像形成領域内とそれに対応する検知センサに対してテストパターンを形成して行う画像調整処理は、上述した紙間だけではなく、画像形成処理終了後又は装置の電源投入直後といったタイミングで行うこともできる。
図8は、画像形成領域外の検知位置にテストパターンを形成する場合の説明図である。この例では、画像形成領域外の検知位置にテストパターンを形成するので、画像形成処理と並行してテストパターンを形成することができる。画像形成処理と並行してテストパターンを形成する場合、検知センサのうち少なくとも1つを画像Gの主走査方向の画像形成領域外に配置する。この例では、3つの検知センサ5a〜5cのうち、左右2箇所の検知センサ5a及び5cを画像形成領域外に配置している。画像形成処理と並行してテストパターンを形成して画像調整を行う場合、画像調整を実行する際に画像形成処理を停止する、いわゆるダウンタイムを発生させることがなく、画像形成処理の効率性を低下させない利点がある。その反面、画像形成領域外での検知センサの検知結果しか得られないため、画像形成領域内での検知センサの検知結果に基づく場合に比べて画像調整の精度が低下する。
本発明では、図7に示す画像形成領域内及び画像形成領域外の検知位置のテストパターンに基づく検知センサの検知結果による第一調整モードと、図8に示す画像形成領域外の検知位置のテストパターンに基づく検知センサの検知結果による第二調整モードを設定し、第一調整モード実行時にテストパターンの検知差、特に画像形成領域外及び画像形成領域内の検知位置のテストパターンの間の位置ずれを示す検知差を算出して記憶しておき、第二調整モード実行時に、記憶したテストパターンの検知差を用いて画像形成条件を調整することで、画像形成処理の補正精度を向上させることができる。
また、これら2つの調整モードは、画像形成処理した処理枚数及び装置内温度の変化に基づいて行うように設定する。第一調整モードは、前回の実行時から100枚処理した場合又は10℃の温度変化があった場合に行い、第二調整モードは、前回の実行時から50枚処理した場合又は5℃の温度変化があった場合に行うように設定する。第二調整モードは、画像形成処理の効率を低下させることがないので、第一調整モードよりも、頻繁に行うことで、画像形成処理の効率を低下させることなく画像調整を行って画像形成処理の補正精度を向上させることが可能となる。
図9は、光ビームの走査線の曲がり成分に関する説明図である。画像形成処理では主走査方向に光ビームを走査させて行うが、図1に示す光学系111〜113の特性により副走査方向に湾曲した特性、いわゆる走査線の曲がりが生じる。初期の曲がり成分は、装置の組み立て時に補正されて出荷される。しかし、温度変化などの装置環境変化や装置自体の状態に変化が生じると、走査線の曲がり特性も変化してしまう。図9では、特性A及び特性Bとして、それぞれ異なる方向への曲がり特性が示されている。異なる色で特性A及び特性Bの曲がり特性が生じると、色ずれが大きくなって画質劣化の原困となる。
図10は、走査線の曲がりによる副走査方向の色ずれに関する説明図である。図9に示す特性A及び特性Bの曲がり成分をブラック(Bk)及びマゼンタ(Ma)でそれぞれ生じている場合を例示している。図7に示すように、画像形成領域内及び画像形成領域外の検知位置にテストパターンを形成する場合、画像形成領域外の検知位置に形成されたテストパターンに対応する検知センサ5a及び5cの検知結果に基づく副走査レジストずれ量の調整では、状態1に示すように曲がった走査線の両側が一致するように調整される。そのため、画像形成領域内では副走査方向の色ずれが画像に顕著に現れてしまう。それに対して、本発明では、曲がり成分による画像形成領域内及び画像形成領域外の検知センサの検知結果に基づく検知差を記憶しておき、記憶した検知差により画像形成領域内においても副走査レジストの色ずれの調整を行うことができる。そのため、状態2に示すように、画像形成領域内の副走査方向の色ずれが画像に与える影響を最小限にとどめることが可能となる。
図11は、テストパターンの検知差を算出する方法に関する説明図であり、図12は、算出された検知差を使用して副走査方向のずれ量を算出する方法に関する説明図である。
図7に示すように、複数の検知センサのすべてに対応してテストパターンを形成して画像調整を行う場合には、各検知センサの検知結果に基づいてテストバターンの間の検知差を算出して記憶しておく。テストパターンを検知する場合、テストパターンが検知センサの検知位置に搬送されるタイミングより前にある程度余裕をもって検知動作が開始される。検知動作開始後テストパターンが検知されるまでのサンプリング回数に基づいてテストパターンの位置が検知される。例えば、中間転写ベルトの搬送速度が100mm/s、検知センサのサンプリング周波数が100kHzに設定されている場合には、テストパターンの検知動作開始位置から10000回サンプリングが実施されてテストパターンが検知されたとすると、検知動作開始位置からテストパターンの検知位置までの長さは以下の通り算出される。
(1/100kHz)×10000回×100mm/s=10mm
図7に示すように、複数の検知センサのすべてに対応してテストパターンを形成して画像調整を行う場合には、各検知センサの検知結果に基づいてテストバターンの間の検知差を算出して記憶しておく。テストパターンを検知する場合、テストパターンが検知センサの検知位置に搬送されるタイミングより前にある程度余裕をもって検知動作が開始される。検知動作開始後テストパターンが検知されるまでのサンプリング回数に基づいてテストパターンの位置が検知される。例えば、中間転写ベルトの搬送速度が100mm/s、検知センサのサンプリング周波数が100kHzに設定されている場合には、テストパターンの検知動作開始位置から10000回サンプリングが実施されてテストパターンが検知されたとすると、検知動作開始位置からテストパターンの検知位置までの長さは以下の通り算出される。
(1/100kHz)×10000回×100mm/s=10mm
そして、図11に示すように、検知センサ5a〜5cについて、テストパターンの検知動作開始位置Sからテストパターンの検知位置までの長さをそれぞれ、La〜Lcとすると、テストパターンの検知差Lは、以下の式により算出される。
L=(La十Lc)/2−Lb
検知差Lをすべての色について算出して各色の走査線曲がり量としてRAMに記憶しておく。
L=(La十Lc)/2−Lb
検知差Lをすべての色について算出して各色の走査線曲がり量としてRAMに記憶しておく。
記憶しておいたテストパターンの検知差Lは、画像形成領域外の検知位置に形成したテストパターンを検知して画像調整を行う場合に用いる。図12では、図8と同様に、画像形成処理と並行して画像形成領域外の検知位置にテストパターンを形成し、検知センサ5a及び5cによりテストパターンを検知する場合を示している。この例では、検知センサ5a及び5cにより検知動作開始位置Sからテストパターンまでの実際の長さがLa’及びLc’と算出された場合、図10に示すように、予め算出されたテストパターンの検知差Lを用いて、長さを(La’十L/2)及び(Lc’+L/2)に補正して副走査方向のずれ量を算出する。
このように、走査線の曲がり成分も考慮して副走査方向のずれ量を算出することで、画像形成領域内の副走査方向の色ずれが画像に与える影響を最小限にとどめることが可能となる。なお、検知した長さを補正する場合に、検知差Lの半分の長さをそれぞれ加算しているが、必要に応じて別の算出方式で補正を行うこともできる。
このように、走査線の曲がり成分も考慮して副走査方向のずれ量を算出することで、画像形成領域内の副走査方向の色ずれが画像に与える影響を最小限にとどめることが可能となる。なお、検知した長さを補正する場合に、検知差Lの半分の長さをそれぞれ加算しているが、必要に応じて別の算出方式で補正を行うこともできる。
図13は、テストパターンの検知差を算出する別の方法に関する説明図であり、図14は、算出された検知差を使用して副走査方向のずれ量を算出する別の方法に関する説明図である。
この例では、図7に示すように、複数の検知センサのすべてに対応してテストパターンを形成して画像調整を行う場合に、各検知センサの基準色とそれ以外の色との間の間隔を算出し、算出された間隔について間隔差を算出して検知差として記憶しておく。図13では、検知センサ5a〜5cについて基準色(K;ブラック)に対する他の色(M;マゼンタ)のテストパターンの間隔Da〜Dcを算出する。テストパターンの間隔は、図11で説明したように、中間転写ベルトの搬送速度、検知センサのサンプリング周波数及び基準色と他の色とのテストパターンのサンプリング回数差に基づいて算出される。そして、図11で説明した場合と同様に、算出されたテストパターンの間隔Da〜Dcにより、テストパターンの間隔差Dは、以下の式により算出される。
D=(La十Lc)/2−Db
図13では、マゼンタ(M)について例示しているが、シアン(C)及びイエロー(Y)についても同様に間隔差を算出し、各色の走査線曲がり量による基準色との間のテストパターンの間隔差としてRAMに記憶しておく。
この例では、図7に示すように、複数の検知センサのすべてに対応してテストパターンを形成して画像調整を行う場合に、各検知センサの基準色とそれ以外の色との間の間隔を算出し、算出された間隔について間隔差を算出して検知差として記憶しておく。図13では、検知センサ5a〜5cについて基準色(K;ブラック)に対する他の色(M;マゼンタ)のテストパターンの間隔Da〜Dcを算出する。テストパターンの間隔は、図11で説明したように、中間転写ベルトの搬送速度、検知センサのサンプリング周波数及び基準色と他の色とのテストパターンのサンプリング回数差に基づいて算出される。そして、図11で説明した場合と同様に、算出されたテストパターンの間隔Da〜Dcにより、テストパターンの間隔差Dは、以下の式により算出される。
D=(La十Lc)/2−Db
図13では、マゼンタ(M)について例示しているが、シアン(C)及びイエロー(Y)についても同様に間隔差を算出し、各色の走査線曲がり量による基準色との間のテストパターンの間隔差としてRAMに記憶しておく。
記憶しておいたテストパターンの間隔差Dは、画像形成領域外に形成したテストパターンを検知して画像調整を行う場合に用いる。図14では、画像形成処理と並行して画像形成領域外にテストパターンを形成し、検知センサ5a及び5cによりテストパターンを検知する場合を示している。この例では、検知センサ5a及び5cにより基準色と他の色との間のテストパターンの間隔の長さがDa’及びDc’と算出された場合、図13に示すように、予め算出されたテストパターンの間隔差Dを用いて、副走査方向のずれ量を
{(Da’十Dc’)/2十D}/2
で算出して補正する。このように、走査線の曲がり成分も考慮して副走査方向のずれ量を算出することで、画像形成領域内の副走査方向の色ずれが画像に与える影響を最小限にとどめることが可能となる。なお、副走査方向のずれ量を補正する場合に、上述した算出式以外の方式で補正を行うこともできる。
{(Da’十Dc’)/2十D}/2
で算出して補正する。このように、走査線の曲がり成分も考慮して副走査方向のずれ量を算出することで、画像形成領域内の副走査方向の色ずれが画像に与える影響を最小限にとどめることが可能となる。なお、副走査方向のずれ量を補正する場合に、上述した算出式以外の方式で補正を行うこともできる。
図15は、テストパターンに基づいて画像調整を行う場合の処理フローである。まず、上述したように、画像調整を行う調整モードを設定するか判定する(S1)。調整モードとしては、画像形成領域内及び画像形成領域外の検知位置にテストパターンを形成する第一調整モード又は画像形成領域外の検知位置にテストパターンを形成する第二調整モードが設定される。第一調整モードは、画像形成領域内の検知位置にテストパターンを形成するため、画像形成処理の効率を低下させることから、第二調整モードよりも低い頻度で行われる。例えば、装置の電源投入直後、印刷ジョブの終了後、所定枚数の画像形成処理後、装置内の温度変化に対応して第一調整モードを設定する。第二調整モードは、画像形成処理の効率に影響しないため適宜実行すればよく、所定枚数の画像形成処理後又は装置内の温度変化に対応して設定することができる。また、調整モードは利用者が必要に応じて設定可能にすることもできる。
調整モードを設定する場合(S1;YES)、設定された調整モードに対応してテストパターンの形成処理が行われる(S2)。そして、形成されたテストパターンに対応して検知センサによる検知処理が行われて(S3)、テストパターンのずれ量の算出処理が行われる(S4)。第一調整モードの場合には、画像形成領域内及び画像形成領域外の検知位置のテストパターンの検知差が算出されて記憶される。算出されたずれ量及び検知差に基づいてずれ量の調整が行われ(S5)、第二調整モードの場合には、算出されたずれ量及び記憶された検知差に基づいてずれ量の調整が行われる。以後、次回の調整モードが設定されるまで、ずれ量の調整に基づいて画像形成処理条件が変更されて画像形成処理が行われる。調整モードが設定されない場合(S1;NO)には、そのまま終了する。
1・・・CPU、2・・・ROM、3・・・RAM、4・・・I/Oポート、5a〜5c・・・検知センサ、10a〜10c・・・発光部、11a〜11c・・・受光部、12a〜12c・・・受光部、13a〜13c・・・集光レンズ、14a〜14c・・・発光量制御部、15a〜15c・・・増幅部、16a〜16c・・・フィルタ部、17a〜17c・・・A/D変換部、18a〜18c・・・FIFOメモリ部、19a〜19c・・・サンプリング制御部、20・・・書込制御部、21・・・LD点灯制御部、22・・・コントローラ、100・・・画像形成装置、101・・・光照射部、102・・・像形成部、103・・・転写部、130・・・中間転写ベルト。
Claims (8)
- 複数の像担持体と、帯電した前記像担持体のそれぞれを露光して潜像を形成する光照射部と、前記像担持体に形成された潜像をそれぞれ互いに異なる色の現像剤からなる複数色の現像剤で現像する像形成部と、前記像担持体にそれぞれ形成された像を、前記像担持体と対向する転写位置を移動する中間転写体上に重ね合わせて転写してカラー像を得る第1転写部と、前記中間転写体上に転写形成された像を転写材に転写する第2転写部と、前記転写材に画像形成処理を行うように各部を制御するとともに前記像担持体にそれぞれ形成されて前記中間転写上に転写されるテストパターンを複数の検知位置に形成する制御部と、前記テストパターンを検知するテストパターン検知部とを備え、
前記制御部は、すべての前記検知位置の前記テストパターンを形成して画像調整を行う第一調整モード又は一部の前記検知位置の前記テストパターンを形成して画像調整を行う第二調整モードを設定する調整モード設定部と、前記第一調整モードの前記テストパターンに対する前記テストパターン検知部の検知結果に基づいて異なる前記テストパターンの間の検知差を算出して記億する算出部と、第二調整モードにおいて前記検知差を用いて画像調整を行う調整部とを備える画像形成装置。 - 請求項1に記載の画像形成装置において、複数の前記検知位置は、画像形成領域内及び画像形成領域外に配置されており、前記算出部は、画像形成領域内の前記検知位置の前記テストパターンと画像形成領域外の前記検知位置の前記テストパターンとの間の検知差を算出する画像形成装置。
- 請求項2に記載の画像形成装置において、前記算出部は、画像形成領域外の前記検知位置の前記テストパターンの検知結果の平均値と画像形成領域内の前記検出位置の前記テストパターンの検知結果との差分を前記検知差として算出する画像形成装置。
- 請求項2又は3に記載の画像形成装置において、前記制御部は、前記第二調整モードにおいて画像形成領域外の前記検知位置の前記テストパターンを画像形成処理と並行して形成する画像形成装置。
- 請求項2から4のいずれかに記載の画像形成装置において、前記制御部は、前記第一調整モードにおいて画像形成領域内の前記検知位置の前記テストパターンを画像形成処理する画像と画像との間の領域に形成する画像形成装置。
- 請求項1から5のいずれかに記載の画像形成装置において、前記調整モード設定部は、前記第一調整モードを前記第二調整モードよりも低い頻度で行う画像形成装置。
- 請求項1から6のいずれかに記載の画像形成装置において、前記算出部は、各色の前記テストパターンの間の位置ずれに関するずれ量を算出し、前記調整部は、前記第二調整モードにおいて前記検知差により前記ずれ量を補正して画像調整する画像形成装置。
- 複数の像担持体を帯電させて露光することで潜像を形成し、前記像担持体に形成された潜像をそれぞれ互いに異なる色の現像剤からなる複数色の現像剤で現像して中間転写体上に重ね合わせて転写してカラー像を形成し、前記中間転写体上に転写形成されたカラー像を転写材に転写する画像形成方法であって、
前記像担持体にそれぞれ形成されて前記中間転写上の複数の検知位置に転写されるテストパターンについてすべての検知位置に形成して画像調整を行う第一調整モード又は一部の検知位置に形成して画像調整を行う第二調整モードを設定し、前記第一調整モードの前記テストパターンの検知結果に基づいて異なる前記テストパターンの間の検知差を算出して記憶し、前記第二調整モードにおいて前記検知差を用いて画像調整を行う画像形成方法。
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JP2014021242A true JP2014021242A (ja) | 2014-02-03 |
Family
ID=50196180
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JP2012159049A Pending JP2014021242A (ja) | 2012-07-17 | 2012-07-17 | 画像形成装置及び画像形成方法 |
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Cited By (3)
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---|---|---|---|---|
US9471021B2 (en) | 2014-06-11 | 2016-10-18 | Ricoh Company, Ltd. | Apparatus and method for forming image |
JP2017030288A (ja) * | 2015-08-05 | 2017-02-09 | コニカミノルタ株式会社 | 画像形成装置及びプログラム |
JP2020008763A (ja) * | 2018-07-10 | 2020-01-16 | 東芝テック株式会社 | 画像形成装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009169031A (ja) * | 2008-01-15 | 2009-07-30 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
JP2010107539A (ja) * | 2008-10-28 | 2010-05-13 | Panasonic Corp | カラー画像形成装置 |
JP2011064825A (ja) * | 2009-09-15 | 2011-03-31 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
JP2012018262A (ja) * | 2010-07-07 | 2012-01-26 | Sharp Corp | カラー画像形成装置 |
-
2012
- 2012-07-17 JP JP2012159049A patent/JP2014021242A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009169031A (ja) * | 2008-01-15 | 2009-07-30 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
JP2010107539A (ja) * | 2008-10-28 | 2010-05-13 | Panasonic Corp | カラー画像形成装置 |
JP2011064825A (ja) * | 2009-09-15 | 2011-03-31 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
JP2012018262A (ja) * | 2010-07-07 | 2012-01-26 | Sharp Corp | カラー画像形成装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9471021B2 (en) | 2014-06-11 | 2016-10-18 | Ricoh Company, Ltd. | Apparatus and method for forming image |
JP2017030288A (ja) * | 2015-08-05 | 2017-02-09 | コニカミノルタ株式会社 | 画像形成装置及びプログラム |
JP2020008763A (ja) * | 2018-07-10 | 2020-01-16 | 東芝テック株式会社 | 画像形成装置 |
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