JP5618903B2 - シルフェニレン構造及びシロキサン構造を有する重合体およびその製造方法 - Google Patents

シルフェニレン構造及びシロキサン構造を有する重合体およびその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5618903B2
JP5618903B2 JP2011115020A JP2011115020A JP5618903B2 JP 5618903 B2 JP5618903 B2 JP 5618903B2 JP 2011115020 A JP2011115020 A JP 2011115020A JP 2011115020 A JP2011115020 A JP 2011115020A JP 5618903 B2 JP5618903 B2 JP 5618903B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
formula
group
represented
carbon atoms
independently
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2011115020A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012241161A (ja
Inventor
菅生 道博
道博 菅生
和紀 近藤
和紀 近藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shin Etsu Chemical Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shin Etsu Chemical Co Ltd filed Critical Shin Etsu Chemical Co Ltd
Priority to JP2011115020A priority Critical patent/JP5618903B2/ja
Priority to US13/469,764 priority patent/US8796410B2/en
Priority to KR1020120052005A priority patent/KR101624768B1/ko
Priority to TW101118186A priority patent/TWI507451B/zh
Priority to EP20120168869 priority patent/EP2527388B1/en
Publication of JP2012241161A publication Critical patent/JP2012241161A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5618903B2 publication Critical patent/JP5618903B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G77/00Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule
    • C08G77/48Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule in which at least two but not all the silicon atoms are connected by linkages other than oxygen atoms
    • C08G77/54Nitrogen-containing linkages

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Silicon Polymers (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)

Description

本発明は、シルフェニレン構造及びシロキサン構造を有する重合体、及び該重合体の製造方法に関する。
近年の半導体のウエハサイズは大口径化、薄膜化が進んでおり、また電子部品の小型化、精密化により高度な機能を有する樹脂材料が求められている。シリコーン系材料は絶縁性、可とう性、耐熱性、及び透明性に優れるため、半導体装置や電子部品の為の樹脂材料として積極的に使用されている。
特許第3944734号公報には、シロキサン構造及びビスフェノール構造を有する高分子化合物及び該化合物を含有する光硬化性樹脂組成物が開示されている。特許第3944734号公報は、該高分子化合物は幅広い波長の光で露光でき、高弾性で透明性に優れた微細なパターンを形成することが可能であり、該高分子化合物を含有する樹脂組成物の硬化皮膜は、基板との密着性、耐熱性、電気絶縁性、及び強度に優れることを記載している。
また、特開2008−184571号公報には、下記式で示される繰り返し単位を有するシルフェニレン骨格含有高分子化合物及び該化合物を含有する光硬化性樹脂組成物が開示されている。
Figure 0005618903
[式中、R〜Rは同一でも異なっていてもよい炭素数1〜8の1価炭化水素基を示す。また、mは1〜100の整数であり、aは正数、bは0又は正数であり、0.5≦a/(a+b)≦1.0である。更に、Xは下記一般式で示される2価の有機基である。]
Figure 0005618903
特開2008−184571号公報は、上記高分子化合物を含有する光硬化性樹脂組成物が、各種フィルム特性や保護膜としての信頼性に優れた皮膜を形成することを記載している。
特許第3944734号公報 特開2008−184571号公報
本発明は、半導体装置及び電子部品のための樹脂材料として好適に使用することができる新規な重合体を提供する事を目的とする。
本発明者らは、種々検討した結果、シロキサン構造及びシルフェニレン構造を有する新規な重合体及びその製造方法を開発した。即ち本発明は、下記式(1−1)、(1−2)及び(1−3)で表される繰返し単位を含有し、テトラヒドロフランを溶出溶媒としてGPCで測定したポリスチレン換算の重量平均分子量が3,000から500,000である重合体及びその製造方法を提供する。
Figure 0005618903
式中、r、s及びtは正の整数であり、式(1−1)、式(1−2)及び式(1−3)で表される繰返し単位を構成する各単位の末端ケイ素原子が各同じ単位あるいは異なる単位のX、XまたはXの末端炭素原子と結合しており、式中、Rは、互いに独立に、炭素数1〜8の1価炭化水素基であり、Xは、互いに独立に、下記式(2)で示される2価の基であり、
Figure 0005618903
(式中、Zは、置換または非置換の、炭素数1〜15の2価炭化水素基であり、pは0又は1である。Rは、互いに独立に、炭素数1〜4のアルキル基又はアルコキシ基であり、qは0、1または2である)
は、互いに独立に、下記式(3)で示される2価の基であり、
Figure 0005618903
(式中、Rは水素原子、炭素数1〜8の1価炭化水素基、またはグリシジル基である)
は、互いに独立に、下記式(4)で示される2価の基であ
Figure 0005618903
(式中、Rは、互いに独立に、炭素数1〜8の1価炭化水素基であり、nは0〜100の整数である)。
本発明はシロキサン構造及びシルフェニレン構造を有する新規な重合体を提供する。該重合体は、半導体装置及び電子部品のための樹脂材料として好適に用いることができる。
図1は実施例1で調製した重合体のH−NMRチャートである。
本発明は、上記式(1−1)、式(1−2)及び式(1−3)で表される繰返し単位を含有し、テトラヒドロフランを溶出溶媒としてGPCで測定したポリスチレン換算の重量平均分子量が3,000から500,000、好ましくは5,000から200,000である重合体である。上記式(1−1)、式(1−2)及び式(1−3)において、r、s及びtは、式(1−1)、式(1−2)及び式(1−3)で表される繰返し単位を構成する各単位の繰返しの数を示す。r、s及びtは正の整数であり、重合体の重量平均分子量が3,000から500,000、好ましくは5,000から200,000となる数であればよく、好ましくは、0.05≦r/(r+s+t)≦0.8、0.1≦s/(r+s+t)≦0.7、及び0.05≦t/(r+s+t)≦0.8を満たす整数であり、更に好ましくは、0.1≦r/(r+s+t)≦0.6、0.2≦s/(r+s+t)≦0.5、及び0.1≦t/(r+s+t)≦0.7を満たす整数である。上記式(1−1)、式(1−2)及び式(1−3)で表される繰返し単位を構成する各単位は、各単位の末端ケイ素原子が各同じ単位あるいは異なる単位のX、XまたはXの末端炭素原子と結合している。各単位はランダムに結合していても、ブロック重合体として結合していてもよい。
上記式において、Rは、互いに独立に、炭素数1〜8、好ましくは1〜6 の1価炭化水素基であり、メチル基、エチル基、プロピル基、ヘキシル基、シクロヘキシル基、及びフェニル基などが挙げられる。中でもメチル基及びフェニル基が原料の入手の容易さから好ましい。
上記式(2)において、Rは、互いに独立に、炭素数1〜4、好ましくは1〜2のアルキル基又はアルコキシ基であり、メチル、エチル基、プロピル基、tert−ブチル基、メトキシ基、及びエトキシ基などが挙げられる。qは0、1または2であり、好ましくは0である。
上記式(2)において、Zは、置換または非置換の、炭素数1〜15の2価炭化水素基であり、炭素原子に結合している水素原子の一部または全部が、フッ素原子、塩素原子、臭素原子等のハロゲン原子で置換されているものであってもよい。好ましくは、Zは下記に示す基のいずれかより選ばれる2価の基である。pは0又は1である。
Figure 0005618903
上記式(3)において、Rは水素原子、炭素数1〜8、好ましくは1〜3の1価炭化水素基、またはグリシジル基である。1価炭化水素基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、及びシクロヘキシル基が挙げられる。
上記式(4)において、Rは、互いに独立に、炭素数1〜8、好ましくは1〜6の1価炭化水素基であり、メチル基、エチル基、プロピル基、ヘキシル基、シクロヘキシル基、及びフェニル基が挙げられる。中でもメチル基、及びフェニル基が原料の入手の容易さから好ましい。nは0〜100の整数、好ましくは0〜60の整数である。
上記式(1−1)、式(1−2)及び式(1−3)で表される繰返し単位を含有する重合体は下記式で表す事ができる。
Figure 0005618903
式中、R、R、R、R、Z、n、p、q、r、s及びtは上述の通りであり、繰返しを構成する各単位の末端ケイ素原子が各同じ単位あるいは異なる単位の末端炭素原子と結合しており、重合体の末端は脂肪族不飽和基またはケイ素原子に結合した水素原子である。
本発明はさらに、上記式(1−1)、式(1−2)及び式(1−3)で表される繰返し単位と、下記式(5)で表される単位、下記式(6)で表される単位、及び下記式(7)で表される単位の少なくとも1を有する重合体を提供する。
Figure 0005618903
Figure 0005618903
Figure 0005618903
上記式(1−1)、式(1−2)、式(1−3)で表わされる繰返し単位を構成する各単位と、式(5)で表わされる単位と、式(6)で表わされる単位と、及び式(7)で表わされる単位とは、各単位の末端ケイ素原子(式(6)及び式(7)で表される単位においては*印を付したケイ素原子)が各同じ単位あるいは異なる単位の末端炭素原子(式(6)及び式(7)で表される単位においては*印を付した炭素原子)と結合している。各単位はランダムに結合していても、ブロック重合体として結合していてもよい。上記式(5)において、Xは、互いに独立に、上記X、XまたはXで示される基であり、mは0〜100の整数、好ましくは1〜60の整数である。上記式(6)及び式(7)において、e、f、g、h、i及びjは0〜100の整数であり、好ましくは0から30である。但し、e+f+g≧3であり、e=f=0ではなく、h=i=0ではない。また、上記式(5)、式(6)及び式(7)においてRは上述の通りである。
本発明の重合体は、X、X及びXで示される基の合計モルに対して、X(即ち、上記式(2))で表される基を5モル%以上80モル%以下、好ましくは10モル%以上60モル%以下、X2(即ち、上記式(3))で表される基を10モル%以上70モル%以下、好ましくは20モル%以上50モル%以下、X(即ち、上記式(4))で表される基を5モル%以上80モル%以下、好ましくは10モル%以上70モル%以下で含有する。
本発明の重合体は、上記式(5)、式(6)及び式(7)で表わされる単位のうち1種、あるいは2種以上を有する事ができる。各単位の繰返しの数は、重合体の、GPCで測定されるポリスチレン換算の重量平均分子量が3,000から500,000、好ましくは5,000から200,000となる数であればよい。好ましくは、上記式(1−1)、式(1−2)及び式(1−3)で表される繰返し単位が有する繰返し数の合計(即ち、r+s+t)をa(aは正の整数)、上記式(5)で示される単位の繰返し数をb、上記式(6)で示される単位の繰返し数をc、上記式(7)で示される単位の繰返し数をdとした時に(b、c及びdは整数)、a、b、c及びdの合計に対するaの数が0.05≦a/(a+b+c+d)≦0.99、好ましくは0.2≦a/(a+b+c+d)≦0.98となる数であるのがよい。重合体が上記式(5)で示される単位を有する場合は、該単位の繰返しの数は0.01≦b/(a+b+c+d)≦0.95、好ましくは0.05≦b/(a+b+c+d)≦0.8となる数がよい。重合体が上記式(6)で示される単位を有する場合は、該単位の繰返しの数は0.01≦c/(a+b+c+d)≦0.8、好ましくは0.05≦c/(a+b+c+d)≦0.5となる数がよい。重合体が上記式(7)で示される単位を有する場合は、該単位の繰返しの数は0.01≦d/(a+b+c+d)≦0.8、好ましくは0.01≦d/(a+b+c+d)≦0.5となる数がよい。
本発明の重合体は上述した単位に加えて、更に下記に示す単位を含んでいてもよい。
Figure 0005618903
Figure 0005618903
式中、R、X、e、f、g、h、i、及びjは上述の通りであり、各単位の末端炭素原子(Xで示される基の末端にある炭素原子及び*印を付した炭素原子)は、上述した各単位の末端ケイ素原子(式(6)及び式(7)で表される単位においては*印を付したケイ素原子)と結合する。
上記式(1−1)、式(1−2)及び式(1−3)で表される繰返し単位と式(5)で表される単位を有する重合体は、例えば、下記式で示す事ができる。
Figure 0005618903
式中、R、R、R、R、Z、n、m、p、q、r、s、t及びbは上述の通りであり、繰返しを構成する各単位の末端ケイ素原子が各同じ単位あるいは異なる単位の末端炭素原子と結合しており、重合体の末端は脂肪族不飽和基またはケイ素原子に結合した水素原子である。
上記式(1−1)、式(1−2)及び式(1−3)で表される繰返し単位と、式(6)で表される単位を有する重合体は、例えば、下記式で示す事ができる。
Figure 0005618903
式中、R、R、R、R、Z、n、p、q、e、f、g、r、s、t及びcは上述の通りであり、繰返しを構成する各単位の末端ケイ素原子(式(6)で示される単位においては*印を付したケイ素原子)が各同じ単位あるいは異なる単位の末端炭素原子(式(6)で示される単位においては*印を付した炭素原子)と結合しており、重合体の末端は脂肪族不飽和基またはケイ素原子に結合した水素原子である。
上記式(1−1)、式(1−2)及び式(1−3)で表される繰返し単位と、式(7)で表される単位を有する重合体は、例えば、下記式で示す事ができる。
Figure 0005618903
式中、R、R、R、R、Z、n、p、q、h、i、j、r、s、t及びdは上述の通りであり、繰返しを構成する各単位の末端ケイ素原子(式(7)で示される単位においては*印を付したケイ素原子)が各同じ単位あるいは異なる単位の末端炭素原子(式(7)で示される単位においては*印を付した炭素原子)と結合しており、重合体の末端は脂肪族不飽和基またはケイ素原子に結合した水素原子である。
本発明は更に、上述した重合体の製造方法を提供する。
上記式(1−1)、式(1−2)及び式(1−3)で表される繰返し単位を有する重合体は、下記式(8)で表される化合物と、下記式(9)で表される化合物と、下記式(10)で表される化合物と、下記式(11)で表される化合物とを、金属触媒存在下で付加重合する工程を含む方法により製造する。
Figure 0005618903
(式中、Rは上述の通りである)
Figure 0005618903
(式中、Z、R、p及びqは上述の通りである)
Figure 0005618903
(式中、Rは上述の通りである)
Figure 0005618903
(式中、R及びnは上述の通りである)
上記式(11)で表わされる化合物としては下記のものが挙げられる。
Figure 0005618903
本発明は、さらに、上記式(8)で表される化合物と、上記式(9)で表される化合物と、上記式(10)で表される化合物と、上記式(11)で表される化合物と、並びに下記式(12)で表される化合物、下記式(13)で表される化合物、及び下記式(14)で表される化合物の少なくとも1とを金属触媒下に付加重合させる工程を含む方法を提供する。当該方法により、上記式(1−1)、式(1−2)及び式(1−3)で表される繰返し単位と、上記式(5)で表される単位、上記式(6)で表される単位、及び上記式(7)で表される単位の少なくとも1とを有する重合体を製造することができる。
Figure 0005618903
Figure 0005618903
Figure 0005618903
(式中、R、m、e、f、g、h、i及びjは上述の通りである)
上記式(13)で表わされる化合物としては下記のものが挙げられる。
Figure 0005618903
Figure 0005618903
Figure 0005618903
Figure 0005618903
上記式(14)で表わされる化合物としては下記のものが挙げられる。
Figure 0005618903
Figure 0005618903
Figure 0005618903
Figure 0005618903
金属触媒は、例えば、白金(白金黒を含む)、ロジウム、パラジウム等の白金族金属単体;HPtCl・xHO、HPtCl・xHO、NaHPtCl・xHO、KHPtCl・xHO、NaPtCl・xHO、KPtCl・xHO、PtCl・xHO、PtCl、NaHPtCl・xHO(式中、xは0〜6の整数が好ましく、特に0又は6が好ましい)等の塩化白金、塩化白金酸及び塩化白金酸塩;アルコール変性塩化白金酸(例えば、米国特許第3,220,972号に記載のもの);塩化白金酸とオレフィンとの錯体(例えば、米国特許第3,159,601号明細書、米国特許第3,159,662号明細書、及び米国特許第3,775,452号明細書に記載のもの);白金黒やパラジウム等の白金族金属をアルミナ、シリカ、カーボン等の担体に担持させたもの;ロジウム−オレフィン錯体;クロロトリス(トリフェニルホスフィン)ロジウム(所謂ウィルキンソン触媒);及び、塩化白金、塩化白金酸又は塩化白金酸塩とビニル基含有シロキサン(特にビニル基含有環状シロキサン)との錯体を使用することができる。
触媒の使用量は触媒量であればよく、白金族金属として、反応に供する原料化合物の総量に対して0.0001〜0.1質量%、好ましくは0.001〜0.01質量%であることが好ましい。付加反応は溶剤が存在しなくても実施可能であるが、必要に応じて溶剤を使用しても良い。溶剤としては、例えばトルエン、キシレン等の炭化水素系溶剤が好ましい。反応温度は、触媒が失活せず、かつ、短時間で重合の完結が可能である温度であればよく、例えば40〜150℃、特に60〜120℃が好ましい。反応時間は、重合物の種類及び量により適宜選択すればよく、例えば0.5〜100時間、特に0.5〜30時間が好ましい。溶剤を使用した場合には、反応終了後に減圧留去に供して溶剤を留去する。
反応方法は特に制限されるものではないが、例えば、式(8)で表わされる化合物と、式(9)で表わされる化合物と、式(10)で表わされる化合物と、式(11)で表わされる化合物とを反応させる場合、先ず、式(9)、式(10)及び式(11)で表わされる化合物を混合して加温した後、前記混合液に金属触媒を添加し、次いで式(8)で表される化合物を0.1〜5時間かけて滴下するのが良い。式(12)で表わされる化合物を反応させる場合には、式(8)で表される化合物と式(12)で表される化合物とを、別々にあるいは同時に、必要に応じで混合して、0.1〜5時間かけて滴下するのが良い。
式(13)で表される化合物及び式(14)で表される化合物を反応させる場合には、先ず、式(8)、式(9)、式(10)、及び式(11)で表わされる化合物と、必要に応じて式(12)で表わされる化合物とを付加重合に供し、0.5〜100時間、特に0.5〜30時間攪拌した後、得られた反応液中に式(13)で表される化合物、または式(14)で表される化合物を0.1〜5時間かけて滴下し、1〜10時間、特に2〜5時間攪拌するのが良い。式(8)〜(12)で表される化合物と、式(13)または(14)で表される化合物とを同時に反応させると生成物がゲル化するおそれがある。
各化合物の配合比は、上記式(8)、式(12)、式(13)、及び式(14)で表される化合物が有するヒドロシリル基のモル数の合計と、上記式(9)、式(10)、式(11)、式(13)、及び式(14)で表される化合物が有するアルケニル基のモル数の合計が、アルケニル基の合計モル数に対するヒドロシリル基の合計モル数が0.67〜1.67、好ましくは0.83〜1.25となるように配合するのがよい。重合体の重量平均分子量はo−アリルフェノールのようなモノアリル化合物、又は、トリエチルヒドロシランのようなモノヒドロシランやモノヒドロシロキサンを分子量調整剤として使用することにより制御することが可能である。
本発明の重合体は、半導体装置及び電子部品のための樹脂材料として好適に用いることができる。本発明の重合体を用いて樹脂材料を調製する方法は特に制限されるものではなく、従来公知の方法に従えばよい。樹脂材料としての使用態様は、例えば、半導体装置の製造に使用される封止剤あるいは接着剤;ダイオード、トランジスタ、IC、及びLSI等の電子部品表面の保護膜材料、例えば、半導体素子表面のジャンクションコート膜、パッシベーション膜及びバッファーコート膜;LSI等のα線遮蔽膜;多層配線の層間絶縁膜;プリントサーキットボードのコンフォーマルコート;イオン注入マスク;太陽電池の表面保護膜などが挙げられる。
以下、実施例を示して本発明をさらに説明するが、本発明は下記実施例に制限されるものではない。
実施例において、各重合体の重量平均分子量は、GPCカラム TSKgel Super HZM−H(東ソー社製)を用い、流量0.6ミリリットル/分、溶出溶媒テトラヒドロフラン、カラム温度40℃の分析条件で、単分散ポリスチレンを標準とするゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定した。また、各重合体の1H−NMR分析は、JNM−LA300WB(JEOL社製)を用い、測定溶媒として重クロロホルムを使用して実施した。
実施例1〜5において使用した化合物を以下に示す。
Figure 0005618903
Figure 0005618903
Figure 0005618903
Figure 0005618903
Figure 0005618903
Figure 0005618903
Figure 0005618903
Figure 0005618903
Figure 0005618903
[実施例1]
撹拌機、温度計、窒素置換装置及び還流冷却器を具備した3Lフラスコ内に、上記式(S−1)で示される化合物86.1g(0.2モル)、上記式(S−3)で示される化合物93.0g(0.5モル)、および上記式(S−5)で示される化合物66.9g(0.3モル)を加えた後、トルエン1300gを加え、70℃に加温した。その後、塩化白金酸トルエン溶液(白金濃度0.5wt%)1.0gを投入し、上記式(S−6)で示される化合物194.4g(1.0モル)を1時間かけて滴下した(ヒドロシリル基の合計モル数/アルケニル基の合計モル数=1/1)。滴下終了後、100℃まで加温し6時間熟成した後、反応溶液からトルエンを減圧留去して得られた生成物の構造をH−NMRを用いて解析したところ、下記式で示される重合体であった。H−NMRチャートを図1に示す。また、該重合体のGPCにより測定したポリスチレン換算の重量平均分子量は42,000であった。
Figure 0005618903
(式中、r/(r+s+t)=0.2、s/(r+s+t)=0.3、及びt/(r+s+t)=0.5であり、各単位の末端ケイ素原子が各同じ単位あるいは異なる単位の末端炭素原子と結合しており、重合体の片末端はアルケニル基であり、もう一方の末端はケイ素原子に結合している水素原子である)
[実施例2]
撹拌機、温度計、窒素置換装置及び還流冷却器を具備した3Lフラスコ内に上記式(S−1)で示される化合物71.8g(0.167モル)、上記式(S−4)で示される化合物333.3g(0.074モル)および上記式(S−5)で示される化合物14.9g(0.067モル)を加えた後、トルエン1150gを加え、70℃に加温した。その後、塩化白金酸トルエン溶液(白金濃度0.5wt%)1.0gを投入し、上記式(S−6)で示される化合物64.8g(0.333モル)を30分かけて滴下した(ヒドロシリル基の合計モル数/アルケニル基の合計モル数=1.08/1)。滴下終了後、100℃まで加温し、6時間熟成した後、反応溶液からトルエンを減圧留去して得られた生成物の構造をH−NMRを用いて解析したところ、下記式で示される重合体であった。GPCにより測定したポリスチレン換算の重量平均分子量は55,000であった。
Figure 0005618903
(式中、r/(r+s+t)=0.5、s/(r+s+t)=0.2、及びt/(r+s+t)=0.3であり、各単位の末端ケイ素原子が各同じ単位あるいは異なる単位の末端炭素原子と結合しており、重合体の片末端はアルケニル基であり、もう一方の末端はケイ素原子に結合している水素原子である)
[実施例3]
撹拌機、温度計、窒素置換装置及び還流冷却器を具備した3Lフラスコ内に上記式(S−2)で示される化合物61.8g(0.2モル)、上記式(S−3)で示される化合物93.0g(0.5モル)および上記式(S−5)で示される化合物66.9g(0.3モル)を加えた後、トルエン1000gを加え、70℃に加温した。その後、塩化白金酸トルエン溶液(白金濃度0.5wt%)1.0gを投入し、上記式(S−6)で示される化合物179.0g(0.92モル)および上記式(S−7)で示される化合物54.8g(0.075モル)を1時間かけて滴下した(ヒドロシリル基の合計モル数/アルケニル基の合計モル数=1/1)。滴下終了後、100℃まで加温し、6時間熟成した後、反応溶液からトルエンを減圧留去して得られた生成物の構造をH−NMRを用いて解析したところ、下記式で示される重合体であった。GPCにより測定したポリスチレン換算の重量平均分子量は52,000であった。
Figure 0005618903
(式中、r/(r+s+t+b)=0.2、s/(r+s+t+b)=0.3、t/(r+s+t+b)=0.4、及びb/(r+s+t+b)=0.1であり、各単位の末端ケイ素原子が各同じ単位あるいは異なる単位の末端炭素原子と結合しており、重合体の片末端はアルケニル基であり、もう一方の末端はケイ素原子に結合している水素原子である)
[実施例4]
撹拌機、温度計、窒素置換装置及び還流冷却器を具備した3Lフラスコ内に上記式(S−2)で示される化合物61.8g(0.2モル)、上記式(S−3)で示される化合物93.0g(0.5モル)および上記式(S−5)で示される化合物66.9g(0.3モル)を加えた後、トルエン1000gを加え、70℃に加温した。その後、塩化白金酸トルエン溶液(白金濃度0.5wt%)1.0gを投入し、上記式(S−6)で示される化合物179.0g(0.92モル)を1時間かけて滴下した。滴下終了後、100℃まで加温し、6時間熟成したのち、さらに上記式(S−8)で示される化合物26.8g(0.083モル)を1時間かけて滴下した(ヒドロシリル基の合計モル数/アルケニル基の合計モル数=1/1)。滴下終了後、100℃にて2時間熟成した後、得られた反応溶液からトルエンを減圧留去して得られた生成物の構造をH−NMRを用いて解析したところ、下記式で示される重合体であった。また、GPCにより測定したポリスチレン換算の重量平均分子量は66,000であった。
Figure 0005618903
(式中、r/(r+s+t+c)=0.2、s/(r+s+t+c)=0.3、t/(r+s+t+c)=0.4、及びc/(r+s+t+c)=0.1であり、各単位の末端ケイ素原子(括弧cで示される単位においては*印を付したケイ素原子)が各同じ単位あるいは異なる単位の末端炭素原子と結合しており、重合体の片末端はアルケニル基であり、もう一方の末端はケイ素原子に結合している水素原子である)
[実施例5]
撹拌機、温度計、窒素置換装置及び還流冷却器を具備した3Lフラスコ内に上記式(S−1)で示される化合物142.1g(0.33モル)、上記式(S−3)で示される化合物70.7g(0.38モル)および上記式(S−5)で示される化合物66.9g(0.3モル)を加えた後、トルエン1500gを加え、70℃に加温した。その後、塩化白金酸トルエン溶液(白金濃度0.5wt%)2.0gを投入し、上記式(S−6)で示される化合物190.5g(0.98モル)を1.5時間かけて滴下した。滴下終了後、100℃まで加温し、6時間熟成したのち、さらに上記式(S−9)で示される化合物6.8g(0.01モル)を0.1時間かけて滴下した(ヒドロシリル基の合計モル数/アルケニル基の合計モル数=1/1.03)。滴下終了後、100℃にて2時間熟成した後、得られた反応溶液からトルエンを減圧留去して得られた生成物の構造をH−NMRを用いて解析したところ、下記式で示される重合体であった。GPCにより測定したポリスチレン換算の重量平均分子量は50,000であった。
Figure 0005618903
(式中、r/(r+s+t+d)=0.32、s/(r+s+t+d)=0.29、t/(r+s+t+d)=0.37、及びd/(r+s+t+d)=0.01であり、各単位の末端ケイ素原子(括弧dで示される単位においては*印を付したケイ素原子)が各同じ単位あるいは異なる単位の末端炭素原子(括弧dで示される単位においては*印を付した炭素原子)と結合しており、重合体の片末端はアルケニル基であり、もう一方の末端はケイ素原子に結合している水素原子である)
本発明の重合体は半導体装置及び電子部品ための樹脂材料として好適に用いることができる。

Claims (7)

  1. 下記式(1−1)、(1−2)及び(1−3)で表される繰返し単位を含有し、テトラヒドロフランを溶出溶媒としてGPCで測定したポリスチレン換算の重量平均分子量が3,000から500,000である重合体
    Figure 0005618903
    式中、r、s及びtは正の整数であり、式(1−1)、式(1−2)及び式(1−3)で表される繰返し単位を構成する各単位の末端ケイ素原子が各同じ単位あるいは異なる単位のX、XまたはXの末端炭素原子と結合しており、式中、Rは、互いに独立に、炭素数1〜8の1価炭化水素基であり、Xは、互いに独立に、下記式(2)で示される2価の基であり、
    Figure 0005618903
    (式中、Zは、置換または非置換の、炭素数1〜15の2価炭化水素基であり、pは0又は1である。Rは、互いに独立に、炭素数1〜4のアルキル基又はアルコキシ基であり、qは0、1または2である)
    は、互いに独立に、下記式(3)で示される2価の基であり、
    Figure 0005618903
    (式中、Rは水素原子、炭素数1〜8の1価炭化水素基、またはグリシジル基である)
    は、互いに独立に、下記式(4)で示される2価の基であ
    Figure 0005618903
    (式中、Rは、互いに独立に、炭素数1〜8の1価炭化水素基であり、nは0〜100の整数である)。
  2. 式(2)において、Zが
    Figure 0005618903
    のいずれかより選ばれる基である、請求項1に記載の重合体。
  3. さらに下記式(5)で表される単位、下記式(6)で表される単位、及び下記式(7)で表される単位の少なくとも1を有する請求項1または2に記載の重合体
    Figure 0005618903
    Figure 0005618903
    Figure 0005618903
    (式中、Rは、互いに独立に、炭素数1〜8の1価炭化水素基であり、mは0〜100の整数であり、e、f、g、h、i及びjは0〜100の整数であり、但し、e+f+g≧3であり、e=f=0ではなく、h=i=0ではない。Xは、互いに独立に、上記X、XまたはXで示される基であり、上記式(1−1)、式(1−2)及び式(1−3)で表される繰返し単位を構成する各単位、及び上記式(5)で表される単位の末端ケイ素原子、及び上記式(6)及び式(7)で表される単位の*印を付したケイ素原子各同じ単位あるいは異なる単位の末端炭素原子(式(6)及び式(7)で表される単位においては*印を付した炭素原子)と結合している)。
  4. 、X及びXで示される基の合計モルに対して、Xで表される基を5モル%以上80モル%以下、Xで表される基を10モル%以上70モル%以下、Xで表される基を5モル%以上80モル%以下で含有する、請求項1〜3のいずれか1項に記載の重合体。
  5. 請求項1に記載の重合体を製造する方法であって、下記式(8)で表される化合物と、
    Figure 0005618903
    (式中、Rは、互いに独立に、炭素数1〜8の1価炭化水素基である)下記式(9)で表される化合物と、
    Figure 0005618903
    (式中、Zは、置換または非置換の、炭素数1〜15の2価炭化水素基であり、pは0又は1である。Rは、互いに独立に、炭素数1〜4のアルキル基又はアルコキシ基であり、qは0、1または2である)下記式(10)で表される化合物と、
    Figure 0005618903
    (式中、Rは水素原子、炭素数1〜8の1価炭化水素基、またはグリシジル基である)
    下記式(11)で表される化合物
    Figure 0005618903
    (式中、Rは、互いに独立に、炭素数1〜8の1価炭化水素基であり、nは0〜100の整数である)とを金属触媒存在下で付加重合する工程を含む製造方法。
  6. 請求項3に記載の重合体を製造する方法であって、下記式(8)で表される化合物と、
    Figure 0005618903
    (式中、Rは、互いに独立に、炭素数1〜8の1価炭化水素基である)下記式(9)で表される化合物と、
    Figure 0005618903
    (式中、Zは、置換または非置換の、炭素数1〜15の2価炭化水素基であり、pは0又は1である。Rは、互いに独立に、炭素数1〜4のアルキル基又はアルコキシ基であり、qは0、1または2である)下記式(10)で表される化合物と、
    Figure 0005618903
    (式中、Rは水素原子、炭素数1〜8の1価炭化水素基、またはグリシジル基である)下記式(11)で表される化合物と

    Figure 0005618903
    (式中、Rは、互いに独立に、炭素数1〜8の1価炭化水素基であり、nは0〜100の整数である)、並びに下記式(12)で表される化合物、下記式(13)で表される化合物、及び下記式(14)で表される化合物の少なくとも1
    Figure 0005618903
    Figure 0005618903
    Figure 0005618903
    (式中、Rは、互いに独立に、炭素数1〜8の1価炭化水素基であり、mは1〜100の整数である。e、f、g、h、i及びjは0〜100の整数であり、但し、e+f+g≧3であり、e=f=0ではなく、h=i=0ではない)
    とを金属触媒存在下で付加重合する工程を含む製造方法。
  7. 式(9)において、Zが
    Figure 0005618903
    のいずれかより選ばれる基である、請求項5または6に記載の、重合体の製造方法。
JP2011115020A 2011-05-23 2011-05-23 シルフェニレン構造及びシロキサン構造を有する重合体およびその製造方法 Active JP5618903B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011115020A JP5618903B2 (ja) 2011-05-23 2011-05-23 シルフェニレン構造及びシロキサン構造を有する重合体およびその製造方法
US13/469,764 US8796410B2 (en) 2011-05-23 2012-05-11 Polymer having silphenylene and siloxane structures, a method of preparing the same, an adhesive composition, an adhesive sheet, a protective material for a semiconductor device, and a semiconductor device
KR1020120052005A KR101624768B1 (ko) 2011-05-23 2012-05-16 실페닐렌 구조 및 실록산 구조를 갖는 중합체 및 이의 제조 방법, 접착제 조성물, 접착 시트 및 반도체 장치 보호용 재료, 및 반도체 장치
TW101118186A TWI507451B (zh) 2011-05-23 2012-05-22 具有矽伸苯基結構以及矽氧烷結構的聚合物及其製造方法、接著劑組成物、接著片與半導體裝置保護用材料以及半導體裝置
EP20120168869 EP2527388B1 (en) 2011-05-23 2012-05-22 Polymer having silphenylene and siloxane structures, a method of preparing the same, an adhesive composition, an adhesive sheet, a protective material for a semiconductor device, and a semiconductor device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011115020A JP5618903B2 (ja) 2011-05-23 2011-05-23 シルフェニレン構造及びシロキサン構造を有する重合体およびその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012241161A JP2012241161A (ja) 2012-12-10
JP5618903B2 true JP5618903B2 (ja) 2014-11-05

Family

ID=47463210

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011115020A Active JP5618903B2 (ja) 2011-05-23 2011-05-23 シルフェニレン構造及びシロキサン構造を有する重合体およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5618903B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5547685B2 (ja) * 2011-05-23 2014-07-16 信越化学工業株式会社 接着剤組成物、接着シート及び半導体装置保護用材料、並びに半導体装置
JP6466882B2 (ja) * 2016-04-27 2019-02-06 信越化学工業株式会社 樹脂組成物、樹脂フィルム、樹脂フィルムの製造方法、半導体装置の製造方法及び半導体装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4990546A (en) * 1990-03-23 1991-02-05 General Electric Company UV-curable silphenylene-containing epoxy functional silicones
JPH09302095A (ja) * 1996-05-10 1997-11-25 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd 硬化性組成物、成形体及び製造方法
JPH11130865A (ja) * 1997-08-29 1999-05-18 Dow Corning Toray Silicone Co Ltd ヒドロキシフェニル基含有シルフェニレン化合物、シルフェニレン変性有機樹脂
JP3829920B2 (ja) * 2001-08-06 2006-10-04 信越化学工業株式会社 オルガノシロキサン系高分子化合物及び光硬化性樹脂組成物並びにパターン形成方法及び基板保護用皮膜
JP3944734B2 (ja) * 2003-01-10 2007-07-18 信越化学工業株式会社 オルガノシロキサン系高分子化合物及び光硬化性樹脂組成物並びにパターン形成方法及び基板保護用皮膜
JP4347103B2 (ja) * 2004-03-22 2009-10-21 信越化学工業株式会社 硬化性シリコーン組成物
US7687587B2 (en) * 2004-11-19 2010-03-30 Dow Corning Corporation Silicone composition and cured silicone resin
JP2008143954A (ja) * 2006-12-06 2008-06-26 Jsr Corp イソシアヌル環含有重合体、その製造法およびそれを含有する組成物
JP4336999B2 (ja) * 2007-01-31 2009-09-30 信越化学工業株式会社 シルフェニレン骨格含有高分子化合物及び光硬化性樹脂組成物並びにパターン形成方法及び基板回路保護用皮膜
JP2010265372A (ja) * 2009-05-14 2010-11-25 Shin-Etsu Chemical Co Ltd 両末端モノメチルアリルイソシアヌル環封鎖オルガノポリシロキサン
JP2010265374A (ja) * 2009-05-14 2010-11-25 Shin-Etsu Chemical Co Ltd イソシアヌル環含有末端ハイドロジェンポリシロキサン
JP2010285517A (ja) * 2009-06-10 2010-12-24 Kaneka Corp 光硬化性組成物およびそれを用いた絶縁性薄膜および薄膜トランジスタ
JP5413340B2 (ja) * 2009-09-30 2014-02-12 信越化学工業株式会社 エポキシ基含有高分子化合物、これを用いた光硬化性樹脂組成物、パターン形成方法及び電気・電子部品保護用皮膜
JP5373736B2 (ja) * 2010-10-28 2013-12-18 信越化学工業株式会社 接着剤組成物及び接着剤シート、半導体装置保護用材料、及び半導体装置
JP5630451B2 (ja) * 2011-02-23 2014-11-26 信越化学工業株式会社 接着剤組成物及び接着性ドライフィルム
JP5623970B2 (ja) * 2011-04-22 2014-11-12 信越化学工業株式会社 樹脂積層体、及び半導体装置とその製造方法
JP5547685B2 (ja) * 2011-05-23 2014-07-16 信越化学工業株式会社 接着剤組成物、接着シート及び半導体装置保護用材料、並びに半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012241161A (ja) 2012-12-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4826160B2 (ja) 光素子封止用樹脂組成物
KR101480587B1 (ko) 신규 실페닐렌 골격 함유 실리콘형 고분자 화합물 및 그의 제조 방법
JP6613901B2 (ja) エポキシ変性シリコーン樹脂及びその製造方法、硬化性組成物及び電子部品
TW201538637A (zh) 加成硬化型聚矽氧組成物
JP2019199553A (ja) シルフェニレン骨格及びポリエーテル骨格を含むポリマー
WO2015163352A1 (ja) 硬化性樹脂組成物及びその硬化物
JP5139882B2 (ja) 感光性樹脂組成物及びこれを用いた樹脂層付き基材の製造方法
JP2014509668A5 (ja)
JP5858027B2 (ja) 硬化性組成物、硬化物および光半導体装置
JP6256775B2 (ja) シリコーン重合体の製造方法
JP5618903B2 (ja) シルフェニレン構造及びシロキサン構造を有する重合体およびその製造方法
JP3952194B2 (ja) シロキサン共重合体及びその製造方法並びにそれを用いた熱硬化性樹脂組成物
US5399651A (en) Adhesion promoting additives and low temperature curing organosiloxane compositions containing same
JP3983333B2 (ja) 付加反応硬化型オルガノポリシロキサン組成物
JP2005298606A (ja) 硬化性シロキサン系組成物
JP6452545B2 (ja) 硬化性シリコーン樹脂組成物及びその硬化物
WO2020203607A1 (ja) 両末端ラクタートシリル変性オルガノポリシロキサン及びその製造方法
JP2014185282A (ja) 新規シリコーン系重合体、それを用いた硬化性組成物および該重合体の製造方法
TW202112970A (zh) 加成硬化型矽氧組成物、硬化物及光半導體元件
JP5977866B2 (ja) 新規シリコーン系重合体
JP5977867B2 (ja) 新規シリコーン系重合体及び該重合体の製造方法
JP5762876B2 (ja) エポキシ樹脂用硬化剤、及び該エポキシ樹脂用硬化剤を含有するエポキシ樹脂組成物
JP2013231160A (ja) 硬化性組成物、硬化物および光半導体装置
JP2015127401A (ja) 熱硬化性樹脂組成物および樹脂封止型半導体装置
JP2015120929A (ja) 硬化性組成物、硬化膜、ポリシロキサンおよび光半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130626

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140121

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140205

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140327

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140912

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140916

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5618903

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150