JP5618510B2 - 光学材料および光学素子 - Google Patents
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Description
θg,F=0.6438−0.001682νd (式1)
θg,F(B)=0.6438−0.001682νd (式1)
前記光学材料の屈折率が1.65以上1.92未満、アッベ数(νd)が15以上22未満であり、かつ前記光学材料の2次分散特性θg,F(A)と、下記式(1)で表される2次分散特性θg,F(B)との差であるΔθg,F=θg,F(A)−θg,F(B)が、0.05以上0.13未満であることを特徴とする。
θg,F(B)=0.6438−0.001682νd (式1)
アッベ数[νd]=(nd−1)/(nF−nC)
2次分散特性[θg,F]=(ng−nF)/(nF−nC)
但し、ngはg線である波長435.8nmにおける屈折率、nFはF線である波長486.1nmにおける屈折率、ndはd線である波長587.6nmにおける屈折率、nCはC線である波長656.3nmにおける屈折率を表す。
本発明に係る光学材料は、原料が樹脂単独系の樹脂組成物からなる第一の光学材料と、原料が樹脂単独系に金属酸化物微粒子を含有する樹脂組成物にからなる第二の光学材料からなる。
以下、本発明に係る第一の光学材料について説明する。
本発明に係る第一の光学材料は、スルフィド基、スルフォン基、スルフォキシド基、チオール基およびチオエステル基を分子内に1種類以上有する硫黄含有化合物と、フルオレン骨格を有するフルオレン化合物とを重合させた樹脂組成物を有する光学材料であって、前記光学材料に含有される前記硫黄含有化合物の含有量は30重量%以上85重量%以下であり、前記フルオレン化合物の含有量は15重量%以上70重量%以下であり、前記光学材料の屈折率が1.65以上1.92未満、アッベ数(νd)が15以上22未満であり、かつ前記光学材料の2次分散特性θg,F(A)と、下記式(1)で表される2次分散特性θg,F(B)との差であるΔθg,F=θg,F(A)−θg,F(B)が、0.05以上0.13未満であることを特徴とする。
g,F(B)=0.6438−0.001682νd (式1)
(硫黄含有化合物)
本発明の光学材料に含有される硫黄含有化合物としては、スルフィド基、スルフォン基、スルフォキシド基、チオール(メルカプタン)基およびチオエステル基を分子内に1種類以上有する化合物からなる。特にそれらの化合物中、光若しくは熱等のエネルギー硬化性樹脂とするために、アクリル基、ビニル基、エポキシ基等の重合性官能基を有していることが好適である。
本発明の光学材料に含有されるフルオレン骨格を有するフルオレン化合物としては、アクリル基、ビニル基、エポキシ基等の重合性官能基を有していることが好適である。それらの化合物の中で、下記の化学式(1)および化学式(2)に示される様な重合性官能基を有する化合物が望ましい。またこれらの重合体でもよい。これらの化合物は1種類のみで使用することもできるし、2種類以上を併用して使用することもできる。
本発明の光学材料を構成する樹脂組成物には、必要に応じて架橋剤を添加することもできる。それにより耐熱性、機械特性、弾性率、反応性等を調整可能である。その際、光学特性の変化を考慮して添加することが必要である。また、本発明の光学材料を用いて成形体を成形するために、種々の離型剤等を添加することが好ましい。
本発明の光学材料に含有される硫黄含有化合物の含有量は、30重量%以上85重量%以下、好ましくは45重量%以上75重量%以下の範囲が望ましい。選択する硫黄含有化合物の分子構造(種類)によるが、硫黄含有化合物の含有量が85重量%よりも多いと、主に黄変の原因となり透過率が低下することがある。含有量が30重量%よりも少ないと、所望の光学特性、特にΔθg,Fが最終的に得られなくなる。
本発明の光学材料には、硫黄含有化合物およびフルオレン化合物を重合するためにエネルギー重合開始剤が用いられる。エネルギー重合開始剤としては、光重合開始剤、熱重合開始剤が用いられる。なお、光重合開始剤と熱重合開始剤を併用して使用することもできる。
次に、第一の光学材料の製造方法について説明する。代表して、光によるラジカル生成機構を利用する光重合可能な樹脂成分等を含有する場合を示す。
以下、本発明に係る第二の光学材料について説明する。
本発明に係る第二の光学材料は、スルフィド基、スルフォン基、スルフォキシド基、チオール基およびチオエステル基を分子内に1種類以上有する硫黄含有化合物と、フルオレン骨格を有するフルオレン化合物とを重合させた樹脂組成物、及び金属酸化物微粒子を含有する光学材料であって、
前記光学材料の屈折率が1.65以上1.92未満、アッベ数(νd)が15以上22未満であり、かつ前記光学材料の2次分散特性θg,F(A)と、下記式(1)で表される2次分散特性θg,F(B)との差であるΔθg,F=θg,F(A)−θg,F(B)が、0.05以上0.13未満であることを特徴とする。
g,F(B)=0.6438−0.001682νd (式1)
本発明の第二の光学材料に含有される金属酸化物微粒子としては、具体的にはチタン酸化物、ニオブ酸化物、タンタル酸化物、タングステン酸化物から選ばれる1種以上を挙げることができる。具体的には、TiO2、NbO、Nb2O5、Ta2O5、WO3等が挙げられる。
また、必要に応じて金属酸化物微粒子は、Si、Ti、Sn、Zr、Al等との複合酸化物微粒子とすることも出来る。また金属酸化物微粒子は、最終的に必要な特性に応じて1種類のみで使用することもできるし、2種類以上を併用して使用することもできる。なお、以下の説明において、「金属酸化物微粒子」を「微粒子」とも称する。
金属酸化物微粒子を分散させる分散溶媒としては、トルエン、ベンゼン、キシレン等の芳香族炭化水素、エタノール、イソプロパノール等のアルコール類、シクロヘキサン等の脂環式炭化水素、酢酸エチル、酢酸ブチル等の酢酸エステル類、アセトン、メチルエチルケトン等のケトン類、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N―メチル―2―ピロリドン等のアミド系、ヘキサン、オクタン等の脂肪族炭化水素、ジエチルエーテル、ブチルカルビトール等のエーテル類、ジクロロメタン、四塩化炭素等のハロゲン化炭化水素等の有機溶媒が挙げられるが、これらに限定されるものではない。用いる微粒子の親和性、表面処理剤、分散剤の親和性に合わせて分散溶媒を選択することができ、また有機溶媒は1種類のみで使用することもできるし、分散性を損なわない範囲において2種類以上を併用して使用することもできる。
また、本発明において金属酸化物微粒子を凝集しないよう均一に分散させるために表面処理剤、分散剤(界面活性剤)を用いるのが好適である。一般に表面処理剤、分散剤を用いて微粒子を溶媒、樹脂等に分散する場合、添加する表面処理剤、分散剤の種類、添加量、分子量、極性、親和性等によって全く異なった分散状態を示すことが知られている。本発明に使用する表面処理剤、分散剤としては顔料の誘導体や樹脂型や活性剤型のものを好適に用いることができる。ここで表面処理剤、分散剤としては、カチオン系、弱カチオン系、ノニオン系あるいは両性界面活性剤が有効である。特にポリエステル系、ε−カプロラクトン系、ポリカルボン酸塩、ポリリン酸塩、ハイドロステアリン酸塩、アミドスルホン酸塩、ポリアクリル酸塩、オレフィンマレイン酸塩共重合物、アクリル−マレイン酸塩共重合物、アルキルアミン酢酸塩、アルキル脂肪酸塩、脂肪酸ポリエチレングリコールエステル系、シリコーン系、フッ素系を用いることができるが、本発明においてはアンモニアおよび有機アミン類から選択される少なくとも一種の塩基系のものを用いることが好適である。具体的にはディスパービックシリーズ(ビッグケミー・ジャパン社製)の中ではディスパービック161、162、163、164、ソルスパースシリーズ(ゼネガ社製)の中ではソルスパース3000、9000、17000、20000、24000、41090あるいはTAMNシリーズ(日光ケミカル社製)の中ではTAMN−15等のアルキルアミンのPO若しくはEO変成物がある。
次に、第二の光学材料の製造方法について説明する。代表して、光によるラジカル生成機構を利用する光重合可能な樹脂成分等を含有する場合を示す。
本発明の第二の光学材料は、光学特性の変化の要求に際して、金属酸化物の超微粒子を添加することにより所望の屈折率、アッベ数、2次分散特性を変化させることが可能である。本発明にかかる光学材料の樹脂組成の樹脂組成物において樹脂単独系においては高屈折率、低アッベ数、高2次分散特性を示すため、金属酸化物微粒子に依存した前記所望の特性を向上させるためにより少ない微粒子添加量で足り得る。また金属酸化物微粒子を添加する前記有機樹脂自身の屈折率が充分高いことから、本発明における使用微粒子との屈折率差をより狭くすることができるため、金属酸化物微粒子と樹脂の屈折率差起因の光学散乱の影響をより小さいものとすることができる。また、得られた光学材料により成形された光学素子は環境信頼性にも優れるものである。
成形体の屈折率nd、アッベ数νd、2次分散特性θg,Fの値および関係を、表2および図4(a)、図4(b)に示す。本実施例における2次分散特性θg,Fと、前述の(式1)における2次分散特性θg,Fとの差をΔθg,Fとすると、前述の光学材料15乃至17のΔθg,Fは、0.09≦Δθg,F≦0.13の範囲である。また、屈折率ndは、1.76≦nd≦1.92の範囲であり、アッベ数νdは、15≦νd≦18の範囲である。
硫黄含有化合物としてMPV(ビス(4―ビニルチオフェニル)スルフィド)に光ラジカル重合開始剤として2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニル−プロパン−1−オンを3重量%添加し、相溶させ、光学材料18を得た。
化学式1に示す化合物に光ラジカル重合開始剤として2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニル−プロパン−1−オンを3重量%添加し、相溶させ、光学材料19を得た。
比較例2で得られた光学材料19に、実施例2で調整したTiO2微粒子分散スラリを実施例2と同様に添加し、光学材料19に対し、TiO2微粒子の体積割合が5体積%、10体積%、15体積%になるように調整した光学材料20、21、22を得た。
なお、内部透過率と光学散乱率は、以下のようにして測定した。
(1)内部透過率
成形体の内部透過率は、図6に示す様に、実施例1において説明したガラス基板上に成形された膜厚1mmの成形体を、ガラス基板と一緒に測定した。この測定値からガラス基板による透過率の変化分を除いた値が成形体の内部透過率となる。
成形体の内部透過率(%)=T5/(n01t×n12t×n20t)
ただし、
n01tは、成形体と空気の界面における透過率係数であり、
n01t=((n1―1)/(n1+1))^2
n12tは、成形体とガラス基板の界面における透過率係数であり、
n12t=((n2−n1)/(n2+n1))^2
n20tは、ガラス基板と空気の界面における透過率係数であり、
n20t=((1―n2)/(1+n2))^2
成形体の光学散乱率は、実施例1において説明したガラス基板上に成形された膜厚1mmの成形体を、U−4000(日立製作所製)を用いて、波長370nmから800nmの光を照射してガラス基板と一緒に測定した。この測定値からガラス基板による光学散乱率の変化分を除いた値が成形体の光学散乱率となる。すなわち、成形体の光学散乱率=測定散乱率―(ガラス基板の散乱率×成形体の測定透過率/ガラス基板の測定透過率)となる。
屈折率に関しては、1.75以上を◎、1.65以上1.75未満を○、1.55以上1.65未満を△、1.55未満を×とした。アッベ数に関しては、18未満を◎、18以上22未満を○、22以上26未満を△、26以上を×とした。2次分散特性に関しては、Δθg,Fが、0.09以上を◎、0.05以上0.09未満を○、0.03以上0.05未満を△、0.03未満を×とした。
上記3つの値において、◎、○、△、×の内、最も優位性の低い記号を光学特性判断として記載した。すなわち、一つ×が有ると総合評価は×、×がなく、一つ△が有ると総合評価は△、×と△がなく、一つ○が有ると総合評価は○、全て◎の場合の総合評価は◎である。
また、光学散乱率の判断は、波長400nmにおける散乱率が6%未満を○、6%以上を×とした。
31 平板金型
41 ガラス基板
51 スペーサ
61 成形体
71 紫外線
Claims (9)
- スルフィド基、スルフォン基、スルフォキシド基、チオール基およびチオエステル基を分子内に1種類以上有する硫黄含有化合物と、フルオレン骨格を有するフルオレン化合物とを重合させた樹脂組成物を有する光学材料であって、
前記光学材料に含有される前記硫黄含有化合物の含有量は30重量%以上85重量%以下であり、前記フルオレン化合物の含有量は15重量%以上70重量%以下であり、
前記光学材料の屈折率が1.65以上1.92未満、アッベ数(νd)が15以上22未満であり、かつ前記光学材料の2次分散特性θg,F(A)と、下記式(1)で表される2次分散特性θg,F(B)との差であるΔθg,F=θg,F(A)−θg,F(B)が、0.05以上0.13未満であることを特徴とする光学材料。
θg,F(B)=0.6438−0.001682νd (式1) - スルフィド基、スルフォン基、スルフォキシド基、チオール基およびチオエステル基を分子内に1種類以上有する硫黄含有化合物と、フルオレン骨格を有するフルオレン化合物とを重合させた樹脂組成物、及び金属酸化物微粒子を含有する光学材料であって、
前記光学材料の屈折率が1.65以上1.92未満、アッベ数(νd)が15以上22未満であり、かつ前記光学材料の2次分散特性θg,F(A)と、下記式(1)で表される2次分散特性θg,F(B)との差であるΔθg,F=θg,F(A)−θg,F(B)が、0.05以上0.13未満であることを特徴とする光学材料。
θg,F(B)=0.6438−0.001682νd (式1) - 前記金属酸化物微粒子が、チタン酸化物、ニオブ酸化物、タンタル酸化物、タングステン酸化物から選ばれる1種以上からなることを特徴とする請求項2に記載の光学材料。
- 前記金属酸化物微粒子の含有量が、光学材料の総体積に対して1体積%以上50体積%以下であることを特徴とする請求項2または3に記載の光学材料。
- 前記金属酸化物微粒子の平均粒径が30nm以下で、かつメディアン径D95が30nm以下であることを特徴とする請求項2乃至4のいずれか一項に記載の光学材料。
- 前記硫黄含有化合物は、ビス(4−ビニルチオフェニル)スルフィド、ビス(4−メタクリロイルチオフェニル)スルフィド、p−ビス〔β−(メタ)アクリロイルオキシエチルチオ〕キシリレン、4,4′−ビス〔β−(メタ)アクリロイルオキシエチルチオ〕ジフェニルスルホン、1,4−ジメルカプトベンゼン、1,3−ジメルカプトベンゼン、ビス(4−メルカプトフェニル)スルフィド、ビス(4−メルカプトフェニル)エーテル、2,2−ビス(4−メルカプトフェニル)プロパン、のいずれかを有することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の光学材料。
- 前記硫黄含有化合物は、ビス(4−ビニルチオフェニル)スルフィドを有することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の光学材料。
- 請求項1乃至8のいずれかに記載の光学材料を硬化して得られた光学素子であって、膜厚が1mmの時の波長430nmの光に対する光学散乱率が、6.0%以下であることを特徴とする光学素子。
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