JP5595001B2 - 投影光学系、露光装置及びデバイス製造方法 - Google Patents

投影光学系、露光装置及びデバイス製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5595001B2
JP5595001B2 JP2009232865A JP2009232865A JP5595001B2 JP 5595001 B2 JP5595001 B2 JP 5595001B2 JP 2009232865 A JP2009232865 A JP 2009232865A JP 2009232865 A JP2009232865 A JP 2009232865A JP 5595001 B2 JP5595001 B2 JP 5595001B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical system
magnification
mirror
projection optical
plano
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2009232865A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011082311A5 (ja
JP2011082311A (ja
Inventor
清司 深見
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2009232865A priority Critical patent/JP5595001B2/ja
Priority to TW099128858A priority patent/TWI437267B/zh
Priority to CN2010102979545A priority patent/CN102033315B/zh
Priority to KR1020100093681A priority patent/KR101476871B1/ko
Publication of JP2011082311A publication Critical patent/JP2011082311A/ja
Publication of JP2011082311A5 publication Critical patent/JP2011082311A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5595001B2 publication Critical patent/JP5595001B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/2002Exposure; Apparatus therefor with visible light or UV light, through an original having an opaque pattern on a transparent support, e.g. film printing, projection printing; by reflection of visible or UV light from an original such as a printed image
    • G03F7/2008Exposure; Apparatus therefor with visible light or UV light, through an original having an opaque pattern on a transparent support, e.g. film printing, projection printing; by reflection of visible or UV light from an original such as a printed image characterised by the reflectors, diffusers, light or heat filtering means or anti-reflective means used
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70225Optical aspects of catadioptric systems, i.e. comprising reflective and refractive elements
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70275Multiple projection paths, e.g. array of projection systems, microlens projection systems or tandem projection systems
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/027Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
    • H01L21/0271Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers
    • H01L21/0273Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers characterised by the treatment of photoresist layers
    • H01L21/0274Photolithographic processes

Description

本発明は、投影光学系、露光装置及びデバイス製造方法に関する。
半導体デバイスやフラットパネルディスプレイ(FPD)などのデバイスは、フォトリソグラフィ工程を経て製造される。フォトリソグラフィ工程は、マスクやレチクルと呼ばれる原版のパターンをレジストと呼ばれる感光剤が塗布されたガラスプレートやウエハなどの基板に投影し該基板を露光する露光工程を含む。FPDの製造においては、一般的には、反射鏡を含む投影光学系を有する露光装置が使用されている。このような露光装置を用いて基板を露光する場合、基板に多層を焼き付けることによって、また、原版が多数回使用されて伸縮を生じることによって、倍率誤差が発生することがある。
特許文献1には、ガラス基板などの比較的大画面の被露光体を露光する投影光学系が開示されている。特許文献1には、物体面側から順に、第1平面反射ミラー、凹面鏡、凸面鏡、凹面鏡、第2平面反射ミラーを有し、物体面と第1平面反射ミラーとの間および第2平面反射ミラーと像面との間に1枚ずつ平行平板が配置された投影光学系が開示されている。ただし、特許文献1中で平行平板は"光学薄体"と記載されている。投影光学系は、特許文献1内に図で説明があるように、物体面から上側平行平板を通過する光線、及び下側平行平板を通過して像面に到る光線のうち主光線が各々平行であるいわゆる両テレセントリック光学系を形成している。更には、露光工程毎に倍率誤差が発生するため、特定のパターンにて倍率誤差を検出する検出系と、検出結果に基づいて走査方向と直交する方向に該平行平板を湾曲させ、線形的な倍率変化を発生させる機構も開示されている。
一般に倍率誤差が発生するとき、走査方向及びその直交方向の2方向で共に拡大若しくは縮小することが多い。このような場合のうち、走査方向及びその直交方向で同じ倍率変化が発生する場合、その倍率変化を以後「等方倍率変化」と称する。このような等方倍率変化を発生できる光学系として平凸レンズと平凹レンズの組み合わせた光学系が特許文献2に開示されている。即ち、概略等しい曲率半径を持たせた平凸、平凹レンズを凸面と凹面をわずかな空気間隔を隔てて平行に対向させ、前述の露光光学系内にて平行平板が置かれた位置に配置するのである。このとき、凸面と凹面の間隔をわずかに増減することで等方倍率変化を発生させることが出来る。更にこの方式によって倍率変化を10ppm程度発生させた場合でも、非点収差の発生が皆無に等しい。
特開平8―306618号公報 特開昭62−35620号公報
ところが、湾曲した平行平板を投影光学系の光路中に配すると倍率を補正することができるが、非点収差が新たに発生することがわかった。例えば、下側平行平板を走査方向の倍率補正に使用する場合、拡大するためには上面がふくらみ、下面が窪んだ湾曲を走査方向に与え直交する方向には平面のままとなるような変形を与えることになる。このとき、走査方向に直交する方向の屈折力は変化しないが走査方向には負の屈折力が生じる。このため、走査方向の線像(以後V線)の結像位置は、そのままである走査直交方向の線像(以後H線)より光学系から遠くに離れた位置つまりは下側に結像するようになる。発明者の計算では、走査方向に10ppm拡大される(像が1.00001倍になる)とき、HV線の非点収差は約5μm(H線が下)になる。さらに、特許文献1に記載されているように上側平行平板を走査方向に直交する方向の倍率補正に使用した場合、像面側で拡大するためには上方に向かって窪んだ湾曲を走査方向と直交する方向に与える。このとき、結像系の側から物体面側を見ると、走査方向の屈折力は変化しないが走査方向と直交する方向には正の屈折力が生じ、走査方向と直交する方向には倍率が縮小されV線がH線より結像系に近い側に結像するようになる。これを順方向に物体面側から像面側への結像に光線を追跡し直すと、横収差である倍率は反転し、走査方向と直交する方向の倍率は拡大となり、縦収差である結像位置は保存されH線はV線に対し光学系から遠い位置、つまりは下側に結像する。まとめると、上側平行平板で走査方向直交する方向の倍率を拡大にするとH線が下になる非点収差が発生し、同様に下側平行平板で走査方向の倍率を拡大にするとH線が下になる非点収差が発生する。
特許文献1には記載されていないが、倍率変化を発生させる機構による湾曲方向を2枚の平行平板で直交させ、例えば上側平行平板を走査方向と直交する方向の倍率補正に使い、下側平行平板を走査方向の倍率補正に使うことも考え得る。こうすれば、倍率誤差を二方向でより精密に合わせ得るため、高精度なパターン位置合わせが可能となる。ところが、2枚の平行平板を用いて走査方向及びその直交方向の倍率を同時に増大させると、両者の非点収差が強め合う関係になっていることが判った。また、2枚の平行平板を用いて2方向の倍率をともに縮小する場合でも、非点収差の発生方向は逆になるが、上下平行平板で発生する非点収差同士が強めあうことに変わりは無い。逆に走査方向と走査方向と直交する方向の一方で拡大され他方で縮小される場合、非点収差の発生方向が逆となり非点収差がキャンセルされることも判った。
一方、特許文献2に記載の等方倍率変化を発生できる光学系は、等方にしか倍率を補正できない。しかし、実際に発生し補正したい倍率変化は走査方向、走査方向と直交する方向に一様で無いことが圧倒的に多い。そのため、この光学系を用いて倍率を補正する方式は実用に供されていなかった。
本発明は、非点収差の発生を抑制しつつ、互いに直交する2方向における倍率を独立して補正しうる投影光学系を提供することを目的とする。
本発明は、物体面側から順に、第1鏡、第1凹面鏡、凸面鏡、第2凹面鏡及び第2鏡が前記物体面から像面に至る光路に配置され投影光学系であって、前記物体面と前記第1鏡との間の光路に配置され、当該光路に沿う第1方向と直交する第2方向における前記投影光学系の倍率を補正する第1光学系と、前記第2鏡と前記像面との間の光路に配置され、前記第1方向及び前記第2方向と直交する第3方向における前記投影光学系の倍率を補正する第2光学系と、前記物体面と前記第1鏡との間の光路又は前記第2鏡と前記像面との間の光路に配置され、前記第2方向及び前記第3方向において同じ倍率で前記投影光学系の倍率を補正する第3光学系と、制御部と、を備え、前記投影光学系の前記第2方向における倍率の補正されるべき量をA、前記投影光学系の前記第3方向における倍率の補正されるべき量をBとし、前記第3光学系による前記投影光学系の前記第2方向及び前記第3方向における倍率の補正量をCとするとき、前記補正されるべき量Aと前記補正されるべき量Bとは互いに異なり、前記制御部は、前記補正量Cが(A+B)/2となるように前記第3光学系を制御し、前記第1光学系による前記第2方向における倍率の補正量が(A−B)/2となるように前記第1光学系を制御し、前記第2光学系による前記第3方向における倍率の補正量が(B−A)/2となるように前記第2光学系を制御する、ことを特徴とする。
本発明によれば、非点収差の発生を抑制しつつ、互いに直交する2方向における倍率を独立して補正しうる投影光学系を提供することができる。
実施例1の露光装置の構成を概略的に示す図である。 実施例2の露光装置の構成を概略的に示す図である。
以下、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態を説明する。
[実施例1]
図1を参照しながら実施例1の露光装置について説明する。実施例1の露光装置は、照明系ILと、投影光学系POと、投影光学系POの物体面OPに配置されたレチクル(原版)9を走査する原版駆動機構(不図示)と、投影光学系POの像面IPに配置された基板19を走査する基板駆動機構(不図示)とを備える。照明系ILは、例えば、光源LS、第1コンデンサーレンズ3、フライアイレンズ4、第2コンデンサーレンズ5、スリット規定部材6、結像光学系7、平面ミラー8を含みうる。光源LSは、例えば、水銀ランプ1と、楕円ミラー2とを含みうる。スリット規定部材6は、原版9の照明範囲(即ち、原版9を照明するスリット形状光の断面形状)を規定する。結像光学系7は、スリット規定部材6によって規定されるスリットを物体面に結像させるように配置されている。平面ミラー8は、照明系ILにおいて光路を折り曲げる。投影光学系POは、物体面OPに配置される原版9のパターンを像面IPに配置される基板19に投影し、これにより基板19が露光される。投影光学系POは、等倍結像光学系、拡大結像光学系および縮小結像光学系のいずれとしても構成されうる。しかし、投影光学系POは、等倍結像光学系として構成されることが好ましく、物体面側及び像面側で主光線が平行即ち物体面及び像面の双方において両テレセントリック性を有している。
投影光学系POは、物体面OPから像面IPに至る光路に、物体面側から順に配置された第1平面鏡13、第1凹面鏡14、凸面鏡15、第2凹面鏡16、第2平面鏡17を有する。物体OPと第1平面鏡13との間の光路と第2平面鏡17と像面IPとの間の光路とは平行である。第1平面鏡13の鏡面を含む平面と第2平面鏡17の鏡面を含む平面とは、互いに90度の角度をなす。第1平面鏡13と第2平面鏡17とは、一体的に形成されていてもよい。第1凹面鏡14と第2凹面鏡16とは、一体的に構成されてもよい。投影光学系POは、物体面OPと第1平面鏡13との間の光路に配置された1枚の平行平板10を備える。この平行平板10は、物体面OPと第1平面鏡13との間の光路に沿う第1方向(Z方向)と直交する第2方向(y方向)における投影光学系の倍率を補正する第1光学系を構成している。投影光学系POは、また、第2平面鏡17と像面の間の光路に配置された1枚の平行平板18を備える。この平行平板18は、第1方向(Z方向)及び第2方向(y方向)と直交する第3方向(x方向)における投影光学系の倍率を補正する第2光学系を構成している。2枚の平行平板10,18は、平行平板10がy方向の倍率補正、平行平板18がx方向の倍率補正を可能にするよう、平行平板10,18を湾曲させる機構(不図示)を備えている。y方向は例えば走査方向であり、x方向は走査方向と直交する方向でありうる。2枚の平行平板10,18を湾曲させる方向は互いに逆方向であってもよい。
投影光学系POは、また、物体面と第1平面鏡13の間の光路に、概略等しい曲率半径を持たせた凸球面と凹球面を5〜20mm程度の空気間隔を隔てて平行に対向させた平凸レンズ11及び平凹レンズ12を有する。平凸レンズ11及び平凹レンズ12は、図中Z方向の間隔を微小に変化させられる機構(不図示)を備え、投影光学系の等方倍率補正を可能ならしめている。平凸レンズ11及び平凹レンズ12は、第1方向及び第2方向において同じ倍率で投影光学系の倍率を補正する第3光学系を構成している。平凸レンズ11及び平凹レンズ12それぞれの厚み及び間隔は、空間に保持したとき自重変形を起こさない範囲で、かつ空間保持機構、上下駆動機構が構成出来る範囲で任意である。平凸レンズ11及び平凹レンズ12が屈折率1.475近辺の合成石英の場合、平凸レンズ11の凸面、平凹レンズ12の凹面の曲率半径を47000mm程度にし、平凸レンズ11と平凹レンズ12との間隔を1mm移動すると、倍率が約10ppm変化できる。しかしながら、平凸レンズ11の凸面、平凹レンズ12の凹面の曲率半径は、基準高さ位置に置かれた平凸レンズ11及び平凹レンズ12を通った像の大きさが2枚のレンズが無かった時と全く同じになるよう微小に変化させる必要がある。第1光学系(平行平板10)と第2光学系(平行平板18)と第3光学系(平凸レンズ11及び平凹レンズ12)は、制御部Cによって制御される。なお、平凸レンズ11および平凹レンズ12の凸面および凹面は互いに逆であってもよい。
等方に倍率を補正する第3光学系と、x、y方向の1方向に倍率を補正する第1及び第2光学系を組み合わせて投影光学系POの倍率を補正する場合に、倍率補正に伴う非点収差を0にし得る理由を以下に説明する。今、投影光学系のy方向及びx方向における倍率の補正されるべき量をそれぞれA(ppm)及びB(ppm)とし、等方に倍率を補正する第3光学系によるy方向及びx方向における倍率の補正量をC(ppm)とする。第3光学系によるy方向及びx方向における倍率の補正量Cを(A+B)/2とすると、第1光学系10に求められるy方向の倍率の補正量は{A−(A+B)/2}=(A−B)/2となる。また、第2光学系18に求められるx方向における倍率の補正量は{B−(A+B)/2}=(B−A)/2となる。すなわち、第1光学系10と第2光学系18による倍率の補正量は、プラスマイナスが反転する結果となる。前述したように2枚の平行平板10,18による拡大縮小の方向が逆であるならば、2枚の平行平板10,18によって発生する非点収差がキャンセルしあう。また、平凸レンズ11及び平凹レンズ12とを組み合わせた等方に倍率を補正する第3光学系は、非点収差を発生しない。したがって、非点収差を生じさせること無く、y方向及びx方向(例えば走査方向及びその直交方向)において投影光学系の倍率を独立して補正しうる。
上記の例では、第3光学系による倍率の補正量Cを(A+B)/2とし、非点収差を発生しないようにした。しかし、第3光学系による倍率の補正量Cをy方向の補正されるべき量Aとx方向の補正されるべき量Bとの間の量とすれば、非点収差は若干発生してしまうものの、非点収差の発生を抑制しつつx、y方向の倍率を独立して制御できる。この場合、第1光学系10による補正量(A−C)と第2光学系18による補正量(B−C)との正負は必ず逆となる。したがって、第1光学系10による倍率の補正によって発生する非点収差と第2光学系18による倍率の補正によって発生する非点収差とは互いにキャンセルしあうので、非点収差の発生を抑制できる。
[実施例2]
図2を参照しながら実施例2の露光装置について説明する。図2では、照明系ILが省略されているが、実際には、実施例2も実施例1と同様に照明系ILを備えている。実施例1では、第1光学系及び第2光学系として第1方向(Z方向)に変形可能な平行平板10、18を用いた。実施例2では、第1光学系及び第2光学系として、複数のシリンドリカルレンズを有し当該複数のシリンドリカルレンズの前記第1方向における間隔を変更可能なシリンドリカルレンズ系をそれぞれ使用している。また、実施例1では、第3光学系として、平凸レンズ11と平凹レンズ12とを有し平凸レンズ11と平凹レンズ12との第1方向(Z方向)の間隔を変更可能な光学系を用いた。実施例2では、第3光学系として、凹球面(又は凸球面)と平面とを有し第1方向(Z方向)に沿って駆動可能な平凹レンズ(又は平凸レンズ)12'を用いる。
実施例2では、シリンドリカルレンズ21及び22(又は23及び24)の間隔を変化させることでx方向又はy方向における倍率を補正する。x方向における倍率を補正する一方のシリンドリカルレンズ系は、シリンドリカルレンズ21とシリンドリカルレンズ22とで構成される。シリンドリカルレンズ21は、上面が平面、下面がx方向に曲率を持った凹シリンドリカル面であって、シリンドリカルレンズ22の上面まで5〜20mm程度の空気間隔を持つ。シリンドリカルレンズ22は、上面がx方向に曲率を持った凸シリンドリカル面、下面が凸球面であって、上面に凹球面、下面に平面を有する平凹レンズ12'の上面まで5〜20mm程度の空気間隔を持つ。シリンドリカルレンズ22に対して、シリンドリカルレンズ21をZ方向に駆動(上下)することでx方向の倍率を補正する。平凹レンズ12'をZ方向に駆動(上下)することでx方向及びy方向に等方に倍率を補正する。
実施例2では、走査方向であるy方向の倍率を補正するために、平行平板の代わりに、シリンドリカルレンズ23とシリンドリカルレンズ24とを組み合わせたシリンドリカル系を備える。シリンドリカルレンズ23は、上面に平面、下面に走査方向に曲率を持った凹シリンドリカル面を有し、シリンドリカルレンズ24の上面まで5〜20mm程度の空気間隔を持つ。シリンドリカルレンズ24は、上面に走査方向に曲率を持った凸シリンドリカル面、下面に平面を有し、シリンドリカルレンズ23を上下することでy方向の倍率が補正できる。シリンドリカルレンズ21,22,23,24それぞれの厚み及び間隔は空間に保持したとき自重変形を起こさない範囲で、かつ空間保持機構、上下駆動機構が構成出来る範囲で任意である。シリンドリカル面は、屈折率が1.475近辺の合成石英の場合、曲率半径を47000mm程度にすると、1mmの移動で倍率を約10ppm変化するができる。しかしながら、各シリンドリカル面及び球面は基準高さ位置に置かれた3枚を通った像の大きさが3枚のレンズが無かった時と全く同じになるよう微小に変化させる必要がある。なお、シリンドリカル面の凹面および凸面と、球面の凹面および凸面とは互いに逆であってもよい。
実施例2では、実施例1に比べて厚みの厚いレンズ群が光路中に配置されるため軸上色収差が発生する。そこで、軸上色収差を補正するためにレンズ15'が凸面鏡15の前に追加して配置される。走査方向であるy方向又はその直交方向のx方向における倍率を補正するために、実施例1では湾曲可能な平行平板を、実施例2では駆動可能なシリンドリカルレンズ系を用いた。しかし、走査方向の倍率と走査方向と直交する方向の倍率との一方を補正するために平行平板を、他方を補正するためにシリンドリカルレンズ系をと、平行平板とシリンドリカルレンズ系とを物体側、像側に分離して配置すれば組み合わせて使用することが出来る。また実施例1及び実施例2では等倍結像光学系での例を開示したが、物体面側及び像面側でテレセントリックな光学系ならば結像倍率が等倍以外でも同じ効果を得られるのは明らかである。なお、両テレセントリックでなければ、平行平板またはシリンドリカルレンズ系による補正で、露光領域内において不均一なコマ収差等が発生してしまう。しかし、実施例1及び2では、投影光学系として両テレセントリックである光学系を使用しているため、平行平板またはシリンドリカルレンズ系による補正で、露光領域内で均一な球面収差がわずかに発生するのみである。
[実施例3]
本発明の好適な実施形態のデバイス製造方法は、例えば、半導体デバイス、FPDのデバイスの製造に好適である。前記方法は、感光剤が塗布された基板を、上記の露光装置を用いて露光する工程と、前記露光された基板を現像する工程とを含みうる。さらに、前記デバイス製造方法は、他の周知の工程(酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージング等)を含みうる。

Claims (6)

  1. 物体面側から順に、第1鏡、第1凹面鏡、凸面鏡、第2凹面鏡及び第2鏡が前記物体面から像面に至る光路に配置され投影光学系であって、
    前記物体面と前記第1鏡との間の光路に配置され、当該光路に沿う第1方向と直交する第2方向における前記投影光学系の倍率を補正する第1光学系と、
    前記第2鏡と前記像面との間の光路に配置され、前記第1方向及び前記第2方向と直交する第3方向における前記投影光学系の倍率を補正する第2光学系と、
    前記物体面と前記第1鏡との間の光路又は前記第2鏡と前記像面との間の光路に配置され、前記第2方向及び前記第3方向において同じ倍率で前記投影光学系の倍率を補正する第3光学系と、
    制御部と、
    を備え、
    前記投影光学系の前記第2方向における倍率の補正されるべき量をA、前記投影光学系の前記第3方向における倍率の補正されるべき量をBとし、前記第3光学系による前記投影光学系の前記第2方向及び前記第3方向における倍率の補正量をCとするとき、前記補正されるべき量Aと前記補正されるべき量Bとは互いに異なり、
    前記制御部は、前記補正量Cが(A+B)/2となるように前記第3光学系を制御し、前記第1光学系による前記第2方向における倍率の補正量が(A−B)/2となるように前記第1光学系を制御し、前記第2光学系による前記第3方向における倍率の補正量が(B−A)/2となるように前記第2光学系を制御する、
    ことを特徴とする投影光学系。
  2. 前記物体面及び前記像面の双方においてテレセントリック性を有することを特徴とする請求項1に記載の投影光学系。
  3. 前記第1光学系と前記第2光学系とは、前記第1方向に湾曲可能な平行平板と、複数のシリンドリカルレンズを有し当該複数のシリンドリカルレンズの前記第1方向における間隔を変更可能なシリンドリカルレンズ系との少なくともいずれかを含む、ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の投影光学系。
  4. 前記第3光学系は、平凸レンズ及び平凹レンズを有し前記平凸レンズと前記平凹レンズとの前記第1方向における間隔を変更可能な光学系と、前記第1方向に沿って駆動可能な平凹レンズ又は平凸レンズと、のいずれかを含む、ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の投影光学系。
  5. 請求項1乃至請求項のいずれか1項に記載の投影光学系を用いて前記物体面に配置されたレチクルのパターンを前記像面に配置された基板に投影し前記基板を露光する、ことを特徴とする露光装置。
  6. デバイスを製造する方法であって、
    請求項に記載の露光装置を用いて基板を露光する工程と、
    前記露光された基板を現像する工程と、
    を含むデバイス製造方法。
JP2009232865A 2009-10-06 2009-10-06 投影光学系、露光装置及びデバイス製造方法 Active JP5595001B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009232865A JP5595001B2 (ja) 2009-10-06 2009-10-06 投影光学系、露光装置及びデバイス製造方法
TW099128858A TWI437267B (zh) 2009-10-06 2010-08-27 A projection optical system, an exposure apparatus, and a device manufacturing method
CN2010102979545A CN102033315B (zh) 2009-10-06 2010-09-27 投影光学系统、曝光装置和器件制造方法
KR1020100093681A KR101476871B1 (ko) 2009-10-06 2010-09-28 투영 광학계, 노광 장치 및 디바이스 제조 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009232865A JP5595001B2 (ja) 2009-10-06 2009-10-06 投影光学系、露光装置及びデバイス製造方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2011082311A JP2011082311A (ja) 2011-04-21
JP2011082311A5 JP2011082311A5 (ja) 2012-11-08
JP5595001B2 true JP5595001B2 (ja) 2014-09-24

Family

ID=43886431

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009232865A Active JP5595001B2 (ja) 2009-10-06 2009-10-06 投影光学系、露光装置及びデバイス製造方法

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP5595001B2 (ja)
KR (1) KR101476871B1 (ja)
CN (1) CN102033315B (ja)
TW (1) TWI437267B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019132907A (ja) * 2018-01-29 2019-08-08 キヤノン株式会社 投影光学系、露光装置及び物品の製造方法
KR20230000964A (ko) 2021-06-25 2023-01-03 캐논 가부시끼가이샤 투영 광학계, 노광 장치, 및 물품 제조 방법

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102012205096B3 (de) * 2012-03-29 2013-08-29 Carl Zeiss Smt Gmbh Projektionsbelichtungsanlage mit mindestens einem Manipulator
CN104335117B (zh) * 2012-06-04 2016-09-07 应用材料公司 光学投影阵列曝光系统
JP6041541B2 (ja) * 2012-06-04 2016-12-07 キヤノン株式会社 露光装置及びデバイス製造方法
JP6410406B2 (ja) * 2012-11-16 2018-10-24 キヤノン株式会社 投影光学系、露光装置および物品の製造方法
JP6386896B2 (ja) * 2014-12-02 2018-09-05 キヤノン株式会社 投影光学系、露光装置、および、デバイス製造方法
JP6896404B2 (ja) * 2016-11-30 2021-06-30 キヤノン株式会社 露光装置及び物品の製造方法
JP7357488B2 (ja) * 2019-09-04 2023-10-06 キヤノン株式会社 露光装置、および物品製造方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6235620A (ja) * 1985-08-09 1987-02-16 Canon Inc 光学倍率補正装置
JP3445021B2 (ja) * 1995-04-28 2003-09-08 キヤノン株式会社 光学装置
JP3884098B2 (ja) * 1996-03-22 2007-02-21 株式会社東芝 露光装置および露光方法
JP2002329651A (ja) * 2001-04-27 2002-11-15 Nikon Corp 露光装置、露光装置の製造方法、及びマイクロデバイスの製造方法
JP3465793B2 (ja) * 2002-10-24 2003-11-10 株式会社ニコン 投影露光装置及び投影露光方法
JP4195674B2 (ja) * 2004-03-31 2008-12-10 株式会社オーク製作所 投影光学系および投影露光装置
JP2006337528A (ja) * 2005-05-31 2006-12-14 Fujifilm Holdings Corp 画像露光装置
JP5118407B2 (ja) * 2007-07-31 2013-01-16 キヤノン株式会社 光学系、露光装置及びデバイス製造方法
JP2009098467A (ja) * 2007-10-18 2009-05-07 Adtec Engineeng Co Ltd 露光装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019132907A (ja) * 2018-01-29 2019-08-08 キヤノン株式会社 投影光学系、露光装置及び物品の製造方法
JP7005364B2 (ja) 2018-01-29 2022-01-21 キヤノン株式会社 投影光学系、露光装置、物品の製造方法及び調整方法
KR20230000964A (ko) 2021-06-25 2023-01-03 캐논 가부시끼가이샤 투영 광학계, 노광 장치, 및 물품 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
CN102033315B (zh) 2012-12-12
CN102033315A (zh) 2011-04-27
TW201118419A (en) 2011-06-01
KR101476871B1 (ko) 2014-12-26
TWI437267B (zh) 2014-05-11
KR20110037857A (ko) 2011-04-13
JP2011082311A (ja) 2011-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5595001B2 (ja) 投影光学系、露光装置及びデバイス製造方法
JP4491382B2 (ja) リソグラフィ装置、デバイス製造方法およびペリクルを有するマスク
KR20100006533A (ko) 투영 광학계, 노광 장치 및 디바이스 제조 방법
JP2004029625A (ja) 投影光学系、露光装置及び露光方法
JP2005340605A (ja) 露光装置およびその調整方法
JP2008292801A (ja) 露光装置および方法
JP6015930B2 (ja) 露光方法及び露光装置、並びにデバイス製造方法
KR101445426B1 (ko) 노광 장치 및 디바이스 제조 방법
CN110095946B (zh) 投影光学系统、曝光装置以及物品的制造方法
JP2010073835A (ja) 露光装置及びデバイス製造方法
JP2010210760A (ja) 投影光学系、露光装置及びデバイス製造方法
JP5118407B2 (ja) 光学系、露光装置及びデバイス製造方法
JP2010257998A (ja) 反射投影光学系、露光装置、及びデバイスの製造方法
TWI658333B (zh) Exposure device, exposure method, and article manufacturing method
CN112445082B (zh) 曝光装置以及物品制造方法
JP2004031808A (ja) 露光装置の投影光学系、該投影光学系を備えた露光装置及び該露光装置を用いた露光方法
WO2018043423A1 (ja) 照明光学系、リソグラフィ装置、及び物品製造方法
JP2006078631A (ja) 投影光学系及びそれを有する露光装置
JP2006210623A (ja) 照明光学系及びそれを有する露光装置
JP2014110408A (ja) 露光方法、露光装置および物品の製造方法
JP2006078592A (ja) 投影光学系及びそれを有する露光装置
JP5632685B2 (ja) 露光装置及びデバイス製造方法
JP2010135479A (ja) 走査型投影露光装置
CN113917789A (zh) 成像光学系统、曝光装置和制品制造方法
CN115524936A (zh) 投影光学系统、曝光装置以及物品的制造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120921

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120921

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131021

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131025

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140307

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140502

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140704

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140805

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5595001

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151