JP5570754B2 - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5570754B2 JP5570754B2 JP2009117906A JP2009117906A JP5570754B2 JP 5570754 B2 JP5570754 B2 JP 5570754B2 JP 2009117906 A JP2009117906 A JP 2009117906A JP 2009117906 A JP2009117906 A JP 2009117906A JP 5570754 B2 JP5570754 B2 JP 5570754B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- semiconductor substrate
- nsg
- layer
- interlayer insulating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
図4は、従来の半導体装置の一例を示す模式的な断面図である。
層間絶縁膜108には、半導体基板102の表面のアクティブ領域と配線112との間に、コンタクトホール116が厚さ方向に貫通して形成されている。コンタクトホール116の内面には、バリア膜115と一体をなすバリア膜117が被着されている。バリア膜117の内側には、タングステン(W)からなるコンタクトプラグ118が埋設されている。コンタクトプラグ118の上端は、バリア膜115を貫通して主配線層113に接続されている。
図5において、図4に示す各部に相当する部分には、それらの各部に付した参照符号と同一の参照符号を付している。
図5に示す半導体装置121では、半導体基板102上に積層される層間絶縁膜122が、半導体基板102側から順に、熱酸化膜123、HDP膜124、NSG膜125およびPSG(Phospho Silicate Glass)膜126を積層した4層構造を有している。
NSG膜は、CMPとの相性が良い。そのため、CMPによりNSG膜の表面を高い研磨レートで平坦化しても、NSG膜の表面を平坦性に優れた表面とすることができる。そのため、平坦な表面を有する層間絶縁膜を短時間で形成することができる。また、ゲッタリング層が金属イオンを捕獲する性質を有しているので、NSG膜上にPSG膜またはBPSG膜を形成しなくても、金属イオンによる半導体基板の汚染を防止することができる。よって、層間絶縁膜の厚さの増大を招くことなく、金属イオンによる半導体基板の汚染に対する長期信頼性を保証することができる。
ゲッタリング層の厚さが50nm以上であれば、ゲッタリング層が金属イオンの良好な捕獲性能を発揮することができる。
図1は、本発明の第1実施形態に係る半導体装置の模式的な断面図である。
半導体装置1は、半導体基板2を備えている。半導体基板2の少なくとも表層部は、たとえば、シリコンからなる。半導体基板2の表面には、フィールド酸化膜3が選択的に形成されている。半導体基板2の表層部には、フィールド酸化膜3が形成されていないアクティブ領域において、トランジスタなどを構成するP型またはN型の不純物拡散領域が選択的に形成されている。
下部電極4および上部電極5は、たとえば、ポリシリコンからなる。下部電極4および上部電極5の側面には、それぞれ、サイドウォール4A,5Aが形成されている。サイドウォール4A,5Aは、たとえば、酸化シリコンからなる。下部電極4は、アクティブ領域まで延び、半導体基板2の表面にゲート絶縁膜(図示せず)を挟んで対向するゲート電極を兼ねていてもよい。
半導体基板2上には、層間絶縁膜8が積層されている。半導体基板2の表面全域およびキャパシタ7は、層間絶縁膜8により被覆されている。層間絶縁膜8は、半導体基板2側から順に、熱酸化膜9、HDP膜10およびNSG膜11を積層した構造を有している。
熱酸化膜9およびHDP膜10は、酸化シリコンからなる。HDP膜10の厚さは、300〜600nm(3000〜6000Å)である。HDP膜10の表面から厚さ50〜100nm(500〜1000Å)の表層部は、リンがドーピングされることにより、金属イオン(とくに、可動イオン)を捕獲する性質を有するゲッタリング層12とされている。すなわち、ゲッタリング層12は、HDP膜10の表層部にPをドーピングすることにより、HDP膜10と一体に形成されている。
NSG膜11の表面上には、配線13が形成されている。配線13は、Al合金からなる主配線層14を上下から反射防止膜15とバリア膜16とで挟み込んだ構造を有している。
バリア膜16は、たとえば、チタン/窒化チタン/チタンの3層構造膜からなる。
層間絶縁膜8には、半導体基板2の表面のアクティブ領域と配線13との間に、複数のコンタクトホール17が厚さ方向に貫通して形成されている。各コンタクトホール17の内面には、バリア膜16と一体をなすバリア膜18が被着されている。バリア膜18の内側には、タングステンからなるコンタクトプラグ19が埋設されている。コンタクトプラグ19の上端は、バリア膜16を貫通して、配線13の主配線層14に接続されている。
半導体装置1の製造工程では、まず、半導体基板2の表面に、フィールド酸化膜3が形成される。フィールド酸化膜3は、たとえば、LOCOS(Local Oxidation of Silicon)法により形成することができる。次に、フィールド酸化膜3上に、キャパシタ7が形成される。キャパシタ7は、フォトリソグラフィおよびエッチングによるパターニング工程を含む公知の手法により形成することができる。
次に、図2Bに示すように、HDP−CVD法により、熱酸化膜9上に、HDP膜10が形成される。
次いで、図2Cに示すように、イオン注入法により、HDP膜10の表層部に、リンがドーピングされる。このときの注入エネルギーは、たとえば、30keVである。また、ドーズ量は、たとえば、4.0E15cm−2である。このリンのドーピングにより、HDP膜10の表層部がゲッタリング層12に変わる。
堆積層21の形成後、図2Eに示すように、CMPにより、その堆積層21の表面が平坦化される。CMPは、半導体基板2のアクティブ領域上における堆積層21の厚さが所定の厚さ(たとえば、1000〜1200nm)になるまで続けられる。その結果、ゲッタリング層12上に、平坦な表面を有するNSG膜11が得られる。
以上のように、半導体装置1は、半導体基板2と、半導体基板2上に形成された層間絶縁膜8とを備えている。そして、層間絶縁膜8は、半導体基板2側から順に、HDP膜10、ゲッタリング層12およびNSG膜11が積層された構造を有している。ゲッタリング層12は、金属イオン、とくに可動イオンを捕獲する性質を有している。
ゲッタリング層12がHDP膜10と一体に形成される構造では、HDP膜10とゲッタリング層12とが別体に形成された構造と比較して、層間絶縁膜8の厚さを小さくすることができる。これにより、層間絶縁膜8に形成されるコンタクトホール17のアスペクト比を小さくすることができる。
図3は、本発明の第2実施形態に係る半導体装置の模式的な断面図である。
図3において、図1に示す各部に相当する部分には、それらの各部に付した参照符号と同一の参照符号を付している。そして、以下では、図3に示す構造について、図1に示す構造との相違点のみを説明し、同一の参照符号を付した各部の説明を省略する。
熱酸化膜33およびHDP膜34は、酸化シリコンからなる。HDP膜34の厚さは、300〜600nm(3000〜6000Å)である。
NSG膜36の表面は、平坦化されている。NSG膜36の厚さは、半導体基板2のアクティブ領域上において、たとえば、1000〜1200nm(10000〜12000Å)である。
なお、PSG膜35に代えて、BPSG膜がHDP膜34とNSG膜36との間に介在されてもよい。
また、図1に示す半導体装置1および図3に示す半導体装置31において、半導体基板2は、シリコンの単一層からなるものであってもよいし、シリコン基板上にシリコン層を積層(たとえば、エピタキシャル成長)させたものであってもよい。また、半導体基板2は、シリコン基板上に酸化シリコンからなるBOX(Buried Oxide)層およびシリコン層がこの順に積層された構造のSOI(Silicon On Insulator)基板であってもよい。さらにまた、半導体基板2は、シリコンカーバイド(SiC)などのシリコン以外の半導体材料からなるものであってもよい。
2 半導体基板
8 層間絶縁膜
9 熱酸化膜(シリコン酸化膜)
10 HDP膜(シリコン酸化膜)
11 NSG膜
12 ゲッタリング層
13 配線(金属配線)
31 半導体装置
32 層間絶縁膜
33 熱酸化膜(シリコン酸化膜)
34 HDP膜(シリコン酸化膜)
35 PSG膜(ゲッタリング層)
36 NSG膜
Claims (2)
- 半導体基板上に、高密度プラズマ化学的気相蒸着法によりシリコン酸化膜を形成する工程と、
前記シリコン酸化膜の表層部にリンをドーピングすることによりゲッタリング層を形成する工程と、
前記ゲッタリング層上に、化学的気相蒸着法によりNSG(None-doped Silicate Glass)膜を形成する工程と、
前記NSG膜の表面を、CMP(Chemical Mechanical Polishing)により平坦化する工程とを含む、半導体装置の製造方法。 - 前記ゲッタリング層の厚さが、50nm〜100nmである、請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009117906A JP5570754B2 (ja) | 2009-05-14 | 2009-05-14 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009117906A JP5570754B2 (ja) | 2009-05-14 | 2009-05-14 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010267804A JP2010267804A (ja) | 2010-11-25 |
JP5570754B2 true JP5570754B2 (ja) | 2014-08-13 |
Family
ID=43364529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009117906A Active JP5570754B2 (ja) | 2009-05-14 | 2009-05-14 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5570754B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014064873A1 (ja) * | 2012-10-22 | 2014-05-01 | シャープ株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP6174893B2 (ja) | 2013-04-16 | 2017-08-02 | ローム株式会社 | 半導体装置および半導体装置の製造方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63102325A (ja) * | 1986-10-20 | 1988-05-07 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JP2809018B2 (ja) * | 1992-11-26 | 1998-10-08 | 日本電気株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
JPH0851156A (ja) * | 1994-05-31 | 1996-02-20 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JP3509510B2 (ja) * | 1997-11-05 | 2004-03-22 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
JPH11238799A (ja) * | 1998-02-24 | 1999-08-31 | Nec Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
JP3141937B2 (ja) * | 1998-05-22 | 2001-03-07 | 日本電気株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
KR100610436B1 (ko) * | 2003-12-23 | 2006-08-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 게이트 산화막의 열화 억제 방법 |
-
2009
- 2009-05-14 JP JP2009117906A patent/JP5570754B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010267804A (ja) | 2010-11-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI708328B (zh) | 半導體結構、積體晶片及形成溝渠電容器的方法 | |
KR102378471B1 (ko) | 반도체 메모리 소자 및 그 제조 방법 | |
KR101815527B1 (ko) | 반도체 소자 및 그 제조 방법 | |
US8633520B2 (en) | Semiconductor device | |
US8053341B2 (en) | Method for fabricating semiconductor device | |
US8823088B2 (en) | Semiconductor device with buried gate and method for fabricating the same | |
KR100799125B1 (ko) | 캐패시터를 구비한 반도체 소자의 제조방법 | |
TWI726705B (zh) | 半導體裝置及其製造方法 | |
US20120193714A1 (en) | Soi substrate, method of manufacturing the soi substrate, semiconductor device, and method of manufacturing the semiconductor device | |
JP2002289689A (ja) | 半導体集積回路装置とその製造方法 | |
JP2015231025A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
US7649218B2 (en) | Lateral MOS transistor and method for manufacturing thereof | |
JP2014135311A (ja) | 半導体装置 | |
JP5570754B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
US20100035402A1 (en) | Method for manufacturing semiconductor device | |
KR100790267B1 (ko) | 반도체 소자의 트랜지스터 및 그 제조방법 | |
TWI821859B (zh) | 包括硬遮罩結構的半導體裝置 | |
WO2022041981A1 (zh) | 半导体结构及半导体结构的制造方法 | |
KR20120085360A (ko) | 게이트 구조물, 게이트 구조물 형성 방법 및 이를 이용한 반도체 소자 제조 방법 | |
CN104716029B (zh) | 半导体器件的制作方法 | |
TWI811783B (zh) | 半導體結構的形成方法 | |
KR100432788B1 (ko) | 반도체 소자의 제조방법 | |
JP2009147161A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
KR100922546B1 (ko) | 반도체 소자 및 이를 위한 제조 방법 | |
CN117476466A (zh) | 底部介质隔离的制备方法、半导体结构、器件及电子设备 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120508 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131107 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131114 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140109 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140612 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140625 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5570754 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |